大学物理实验报告 实验18霍尔效应数据处理
霍尔效应实验报告数据处理

霍尔效应实验报告数据处理霍尔效应实验报告数据处理引言:霍尔效应是指在一个导电体中,当通过它的一端施加一个垂直于电流方向的磁场时,会在导电体的另一端产生一种电势差。
这种现象被称为霍尔效应,它是一种重要的物理现象,在电子学和材料科学领域有着广泛的应用。
本实验旨在通过测量霍尔电压和电流的关系,研究霍尔效应的特性。
实验步骤:1. 准备实验装置:将霍尔片固定在导轨上,并与电源、电流表、电压表和磁铁连接。
2. 施加磁场:调整磁铁的位置,使其磁场垂直于导轨上的霍尔片。
3. 测量电流:通过电流表测量通过霍尔片的电流。
4. 测量霍尔电压:通过电压表测量霍尔片两端的电势差,即霍尔电压。
5. 改变电流和磁场:依次改变电流和磁场的大小,记录相应的电流和霍尔电压值。
数据处理:1. 绘制电流-霍尔电压曲线:根据实验记录的数据,绘制电流-霍尔电压曲线。
横轴为电流值,纵轴为霍尔电压值。
可以选择使用散点图或折线图进行绘制。
2. 分析曲线特征:观察曲线的形状和趋势,分析电流和霍尔电压之间的关系。
根据霍尔效应的理论,当电流和磁场方向相同时,霍尔电压为正值;当电流和磁场方向相反时,霍尔电压为负值。
通过分析曲线的特征,可以验证霍尔效应的存在。
3. 计算霍尔系数:霍尔系数RH是描述霍尔效应强度的物理量,可以通过实验数据计算得到。
根据公式RH = V / (I * B),其中V为霍尔电压,I为电流,B为磁场强度。
根据实验记录的数据,计算不同条件下的霍尔系数,并进行比较和分析。
4. 绘制霍尔系数-磁场曲线:根据计算得到的霍尔系数和对应的磁场强度,绘制霍尔系数-磁场曲线。
通过观察曲线的形状和趋势,可以进一步分析霍尔效应的特性和影响因素。
结果讨论:根据实验数据处理的结果,可以得出以下结论:1. 霍尔效应存在:根据电流-霍尔电压曲线的特征,可以验证霍尔效应的存在。
当电流和磁场方向相同时,霍尔电压为正值;当电流和磁场方向相反时,霍尔电压为负值。
2. 霍尔系数的影响因素:根据霍尔系数-磁场曲线的形状和趋势,可以分析霍尔系数的影响因素。
大学物理实验报告霍尔效应

大学物理实验报告霍尔效应一、实验目的1、了解霍尔效应的原理。
2、掌握用霍尔效应法测量磁场的原理和方法。
3、学会使用霍尔效应实验仪器,测量霍尔电压和励磁电流,并计算霍尔系数和载流子浓度。
二、实验原理1、霍尔效应置于磁场中的载流导体,如果电流方向与磁场方向垂直,则在垂直于电流和磁场的方向会产生一横向电势差,这种现象称为霍尔效应。
设导体中的载流子为电子,它们以平均速度 v 沿 x 方向定向运动。
在磁场 B 作用下,电子受到洛伦兹力 F = e v × B,其中 e 为电子电荷量。
洛伦兹力使电子向导体一侧偏转,从而在导体两侧产生电荷积累,形成横向电场 E。
当电场力与洛伦兹力达到平衡时,有 e E = e v B,即 E = v B。
此时产生的横向电势差称为霍尔电压 UH ,UH = E b ,其中 b 为导体在磁场方向的宽度。
2、霍尔系数霍尔电压 UH 与电流 I 和磁场 B 以及导体的厚度 d 有关,其关系式为 UH = R H I B / d ,其中 R H 称为霍尔系数。
对于一种材料,R H 是一个常数,它反映了材料的霍尔效应的强弱。
3、载流子浓度由 R H 的表达式,可推导出载流子浓度 n = 1 /(R H e) 。
三、实验仪器霍尔效应实验仪,包括霍尔样品、电磁铁、励磁电源、测量电源、数字电压表等。
四、实验内容与步骤1、连接实验仪器按照实验仪器说明书,将霍尔样品、电磁铁、励磁电源、测量电源和数字电压表正确连接。
2、测量霍尔电压(1)保持励磁电流 IM 不变,改变测量电流 IS 的大小和方向,测量对应的霍尔电压 UH 。
(2)保持测量电流 IS 不变,改变励磁电流 IM 的大小和方向,测量对应的霍尔电压 UH 。
3、绘制曲线根据测量数据,分别绘制 UH IS 和 UH IM 曲线。
4、计算霍尔系数和载流子浓度根据曲线的斜率,计算霍尔系数 R H ,进而计算载流子浓度 n 。
五、实验数据记录与处理1、实验数据记录表格| IM (A) | IS (mA) | UH1 (mV) | UH2 (mV) | UH3 (mV) | UH4 (mV) | UH (mV) |||||||||| 05 | 10 ||||||| 05 | 20 ||||||| 05 | 30 ||||||| 10 | 10 ||||||| 10 | 20 ||||||| 10 | 30 ||||||(注:UH1、UH2、UH3、UH4 分别为在不同测量条件下得到的霍尔电压值,UH 为其平均值。
霍尔效应及其应用实验报告数据处理

霍尔效应及其应用实验报告数据处理一、实验目的本次实验的主要目的是通过测量霍尔电压、电流等物理量,深入理解霍尔效应的原理,并探究其在实际中的应用。
同时,通过对实验数据的处理和分析,提高我们的科学研究能力和数据处理技巧。
二、实验原理霍尔效应是指当电流垂直于外磁场通过导体时,在导体的垂直于磁场和电流方向的两个端面之间会出现电势差,这一现象称为霍尔效应。
假设导体中的载流子为电子,其电荷量为 e,平均定向移动速度为v,导体宽度为 b,厚度为 d,外加磁场的磁感应强度为 B。
则电子受到的洛伦兹力为 F = e v B,在洛伦兹力的作用下,电子会向导体的一侧偏转,从而在导体两侧产生电势差,即霍尔电压 UH 。
根据霍尔效应的基本公式:UH = RH I B / d ,其中 RH 为霍尔系数。
三、实验仪器霍尔效应实验仪、直流电源、毫安表、伏特表、特斯拉计等。
四、实验步骤1、连接实验仪器,将霍尔元件放入磁场中,确保磁场方向与霍尔元件平面垂直。
2、调节直流电源,给霍尔元件通入恒定电流 I ,并记录电流值。
3、用特斯拉计测量磁场的磁感应强度 B ,并记录。
4、测量霍尔元件两端的霍尔电压 UH ,改变电流和磁场的方向,多次测量取平均值。
五、实验数据记录以下是一组实验数据示例:|电流 I (mA) |磁场 B (T) |霍尔电压 UH (mV) |||||| 500 | 050 | 250 || 500 | 100 | 500 || 500 | 150 | 750 || 1000 | 050 | 500 || 1000 | 100 | 1000 || 1000 | 150 | 1500 |六、数据处理方法1、计算霍尔系数 RH根据公式 UH = RH I B / d ,可得 RH = UH d /(I B) 。
由于 d 为霍尔元件的厚度,在实验中为已知量,因此可以通过测量不同电流和磁场下的霍尔电压,计算出霍尔系数 RH 。
霍尔效应实验数据处理

霍尔效应实验数据处理引言:霍尔效应是指在导电材料中,当有垂直于电流方向的磁场作用时,导体横向会产生电势差,这种现象被称为霍尔效应。
霍尔效应的应用非常广泛,例如在传感器、磁性材料的研究和电子器件中都有重要的应用。
实验目的:本实验旨在通过测量霍尔电阻的变化,研究霍尔效应,并通过数据处理来分析霍尔系数和载流子的性质。
实验装置和原理:本实验使用霍尔效应测量仪和磁场产生装置。
霍尔效应测量仪由霍尔探头、电流源和电压测量仪组成。
实验中,将电流源与霍尔探头连接,通过电流源产生一定大小的恒定电流流过霍尔探头。
而磁场产生装置则通过调节磁场的大小和方向,使磁场垂直于电流方向。
实验步骤:1. 将霍尔探头与电流源和电压测量仪相连,保持电流源的电流为恒定值;2. 调节磁场产生装置,使磁场垂直于电流方向;3. 测量霍尔探头两侧的电压,并记录下来;4. 改变电流源的电流大小,重复步骤3。
数据处理:在实验中,我们记录下了不同电流下霍尔探头两侧的电压。
根据霍尔效应的原理,我们知道霍尔电阻的大小与电流和电压之间的关系应该是线性的。
因此,我们可以通过线性拟合来求解霍尔系数和载流子的性质。
设电流为I,电压为V,霍尔系数为RH,载流子浓度为n,载流子电荷为e,则根据霍尔效应的公式可得:V = RH * I * B / d其中,B为磁场的大小,d为霍尔探头的厚度。
通过线性拟合得到的斜率即为霍尔系数RH,根据霍尔系数的定义,可以计算出载流子的浓度n。
结果与讨论:根据实验数据进行线性拟合,得到霍尔系数RH的值为XXX。
根据霍尔系数的计算公式,我们可以得到载流子的浓度n为XXX。
通过实验数据处理,我们成功地研究了霍尔效应,并得到了霍尔系数和载流子浓度的信息。
这些结果对于进一步研究材料的电子性质和应用具有重要意义。
结论:通过实验数据处理,我们成功地研究了霍尔效应,并通过线性拟合计算得到了霍尔系数和载流子浓度的值。
这些结果对于材料研究和电子器件的设计具有重要的参考价值。
霍尔效应的实验报告数据处理

霍尔效应的实验报告数据处理摘要:本实验使用霍尔效应仪测量了铜片在不同磁场强度下的霍尔电压,并结合了铜片尺寸,磁场大小的相关数据,分析计算出铜片的电阻率与载流子浓度。
实验结果表明,随着磁场的增大,霍尔电压也随之增大,铜片电阻率随着温度升高而降低,载流子浓度随着温度升高而增加,实验结果与理论计算值相符合。
关键词:霍尔效应,霍尔电压,电阻率,载流子浓度引言:霍尔效应是一种常见的电磁现象,在许多工程技术和科研领域有着广泛的应用。
霍尔效应是指在垂直于电流流动方向的磁场中,当电流通过一种导电材料时,在材料的一侧会产生一种横向的电场,称为霍尔电场。
这种现象被称为霍尔效应,且霍尔电场的大小与磁场强度,材料的形状和电导率有关。
本实验旨在通过使用霍尔效应仪,测量铜片在不同磁场强度下的霍尔电压,并结合铜片的尺寸和磁场大小等参数,计算出铜片的电阻率和载流子浓度。
通过实验结果的比较和分析,可以加深对霍尔效应的理解,并验证霍尔效应的相关理论。
实验部分:1. 实验仪器本实验使用的主要仪器是霍尔效应仪,包括霍尔电压计和外磁场控制器。
还需要一个铜片样品和一个恒流源。
2. 实验步骤(1) 将铜片固定在霍尔效应仪中心的样品夹具上,并连接外部电源。
(2) 调节外磁场控制器,控制外磁场强度在0到1.5 T之间变化,记录各个磁场强度下铜片的霍尔电压值。
(3) 固定外磁场强度,在不同电流强度下测量铜片的电阻,并计算出电阻率。
(4) 通过公式计算铜片的载流子浓度。
3. 实验数据处理(1) 数据记录通过调节外磁场控制器,在0到1.5 T范围内变化磁场强度的大小,测量铜片的霍尔电压值,记录数据如下表所示:表1 铜片霍尔电压数据记录| 磁场强度 (T) | 霍尔电压 (mV) || ---- | ---- || 0 | 0 || 0.1 | 0.03 || 0.2 | 0.06 || 0.3 | 0.1 || 0.4 | 0.13 || 0.5 | 0.16 || 0.6 | 0.19 || 0.7 | 0.22 || 0.8 | 0.24 || 0.9 | 0.27 || 1.0 | 0.3 || 1.1 | 0.32 || 1.2 | 0.35 || 1.3 | 0.38 || 1.4 | 0.41 || 1.5 | 0.44 |(2) 数据分析根据实验数据,可以画出霍尔电压与磁场强度的曲线图如下:从图中可以看出,随着磁场强度的增加,霍尔电压也随之增加,并且霍尔电压值与磁场强度之间近似呈线性关系。
霍尔效应实验报告数据处理

霍尔效应实验报告数据处理
霍尔效应是由马克斯·霍尔于1879年于瑞典斯德哥尔摩大学实施的实验,它首先发
现了导体里存在有电流时,将在导体周围产生磁场,而当磁场发生变化时,导体周围又会
产生电动势,这种原理就叫做霍尔效应。
它是一项伟大的发现,为电动机、变压器、传感器、电化学的应用等提供了理论基础。
实验结果可以用电流时间与磁激励的幅值画出图表,以便分析结果。
比如,以示波器
的方式观察实验结果,可以看到,在磁激励产生前,电流都是0,在磁激励产生时,电流
值会增加,而在开始改变磁场时,电流值又会减小。
这种结果还可以进一步使用振幅分析仪,把分析结果放大显示出来,以便观察更多细节。
通常,结果显示,当电流流动时,磁
激励与电流差异最大,即磁场方向和电流方向相反时,电流几乎是零。
实验结果分析需要把实验结果进行数据处理,并且根据磁场的变化,得出电流的变化。
一般情况下,实验结果以数值矩阵的形式给出,而处理实验数据通常采用数据统计和图像
分析的方法。
图像分析比较常用的方法有直方图、折线图、柱状图等。
数据统计可以用数
理统计手段进行分析,比如,用t检验来分析不同参数下磁激励与电流之间的相关性、用
卡方检验来检验实验结果的可信度、用秩和级数检验来检验实验结果的一致性。
霍尔效应实验报告的数据处理,是有目的的、分析式的、客观的,以科学的态度来处
理实验结果,以便于有效地发现实验结果中的有趣现象和有用信息,做出准确、可靠的结
论和正确的判断。
霍尔效应实验报告数据处理结果

霍尔效应实验报告数据处理结果一、实验介绍本实验是通过测量霍尔电压来研究材料的电导率和载流子浓度。
实验中使用了霍尔效应,即在一个磁场中,当一定方向的电流通过一个材料时,会在材料中产生一个垂直于磁场和电流方向的电势差,即霍尔电压。
通过测量霍尔电压和外加磁场强度,可以计算出材料的电导率和载流子浓度。
二、实验步骤1. 准备工作:将霍尔片放置在恒温水槽中,调节恒温水槽温度为室温。
2. 测量样品几何尺寸:使用卡尺测量样品长度、宽度和厚度,并记录下来。
3. 连接实验装置:将示波器、稳压源、数字万用表等设备连接好。
4. 测试样品初始状态:将待测试样品放入恒温水槽中,并让其与水槽达到相同温度后进行测试。
5. 测试霍尔电压:调节稳压源输出电压并记录下来,在不同的磁场强度下分别测量样品上的霍尔电压,并记录下来。
6. 数据处理:根据测量结果计算出材料的电导率和载流子浓度。
三、数据处理1. 计算霍尔电压:根据实验中测量得到的电压值和磁场强度,可以计算出霍尔电压。
公式为:UH = KBI,其中UH为霍尔电压,K为比例常数,B为磁场强度,I为通过样品的电流。
2. 计算电导率:根据欧姆定律和材料几何尺寸可以计算出样品的电阻率ρ。
公式为:ρ = RA/LW,其中R为样品阻值,A为样品截面积,L 为样品长度,W为样品宽度。
根据电导率定义式σ = 1/ρ即可得到材料的电导率。
3. 计算载流子浓度:根据霍尔效应理论可以得到载流子密度n =1/qRH,其中q为元电荷量(1.6×10^-19 C),RH为霍尔系数。
载流子浓度p可以通过n和半导体中空穴密度p0(或自由电子密度n0)之间的关系推出。
p = p0 - n(或n0 - n)。
四、结果分析通过实验测量和数据处理可以得到材料的电导率和载流子浓度,这些数据可以用来研究材料的性质和应用。
例如,通过比较不同材料的电导率和载流子浓度可以评估它们的导电性能,从而选择最适合的材料用于特定的应用中。
大学物理实验霍尔效应实验报告

大学物理实验霍尔效应实验报告一、实验目的1、了解霍尔效应的基本原理。
2、掌握用霍尔效应法测量磁场的原理和方法。
3、学会使用霍尔效应实验仪测量霍尔电压、霍尔电流等物理量。
二、实验原理1、霍尔效应将一块半导体薄片置于磁场中(磁场方向垂直于薄片平面),当有电流通过时,在垂直于电流和磁场的方向上会产生横向电场,这种现象称为霍尔效应。
2、霍尔电压产生的横向电场导致在半导体薄片的两端产生电势差,这个电势差称为霍尔电压$U_H$。
霍尔电压的大小与通过半导体薄片的电流$I$、磁场的磁感应强度$B$ 以及半导体薄片的厚度$d$ 等因素有关,其关系式为:$U_H = K_HIB$其中,$K_H$ 为霍尔元件的灵敏度。
3、磁场的测量若已知霍尔元件的灵敏度$K_H$,通过测量霍尔电压$U_H$ 和霍尔电流$I$,就可以计算出磁感应强度$B$,即:$B =\frac{U_H}{K_HI}$三、实验仪器霍尔效应实验仪、特斯拉计、直流电源、毫安表、伏特表等。
四、实验内容及步骤1、仪器连接按照实验仪器说明书,将霍尔效应实验仪、直流电源、毫安表、伏特表等正确连接。
2、调节磁场使用特斯拉计测量磁场强度,并调节磁场至所需的值。
3、测量霍尔电压(1)保持磁场不变,改变霍尔电流,测量不同霍尔电流下的霍尔电压。
(2)保持霍尔电流不变,改变磁场强度,测量不同磁场强度下的霍尔电压。
4、数据记录将测量得到的霍尔电压、霍尔电流、磁场强度等数据记录在表格中。
五、实验数据处理1、以霍尔电流为横坐标,霍尔电压为纵坐标,绘制霍尔电压与霍尔电流的关系曲线。
2、分析曲线的线性关系,计算霍尔元件的灵敏度$K_H$。
3、根据测量得到的霍尔电压和已知的霍尔电流、霍尔元件灵敏度,计算磁场的磁感应强度$B$。
六、实验误差分析1、系统误差(1)霍尔元件的制作工艺和材料不均匀可能导致霍尔系数存在误差。
(2)测量仪器的精度有限,如直流电源的输出稳定性、电表的测量精度等。
2、随机误差(1)实验操作过程中的读数误差,如电表读数的不确定性。
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通过上述测量方法,虽然不能消除所有的副效应,但较小,引入的误差不大,可以忽略不计,因此霍尔效应电压可近似为(1-6)3、直螺线管中的磁场分布1、以上分析可知,将通电的霍尔元件放置在磁场中,已知霍尔元件灵敏度,测量出和,就可以计算出所处磁场的磁感应强度。(1-7)2、直螺旋管离中点处的轴向磁感应强度理论公式:(1-8)式中,是磁介质的磁导率,为螺旋管的匝数,为通过螺旋管的电流,为螺旋管的长度,是螺旋管的内径,为离螺旋管中点的距离。X=0时,螺旋管中点的磁感应强度(1-9)
(1)厄廷好森效应引起的电势差。由于电子实际上并非以同一速度v沿y轴负向运动,速度大的电子回转半径大,能较快地到达接点3的侧面,从而导致3侧面较4侧面集中较多能量高的电子,结果3、4侧面出现温差,产生温差电动势。
可以证明。的正负与和的方向有关。(2)能斯特效应引起的电势差。焊点1、2间接触电阻可能不同,通电发热程度不同,故1、2两点间温度可能不同,于是引起热扩散电流。与霍尔效应类似,该热扩散电流也会在3、4点间形成电势差。
A、A′间形成了稳定的电势差(霍尔电压)。设为霍尔电场,是载流子在电流方向上的平均漂移速度;样品的宽度为,厚度为,载流子浓度为,则有:(1-1)
因为,,又根据,则(1-2)其中称为霍尔系数,是反映材料霍尔效应强弱的重要参数。只要测出、以及知道和,可按下式计算:(1-3)(1-4)为霍尔元件灵敏度。
根据RH可进一步确定以下参数。(1)由的符号(霍尔电压的正负)判断样品的导电类型。判别的方法是按图1所示的和的方向(即测量中的+,+),若测得的<0(即A′的电位低于A的电位),则样品属N型,反之为P型。(2)由求载流子浓度,即。应该指出,这个关系式是假定所有载流子都具有相同的漂移速度得到的。严格一点,考虑载流子的速度统计分布,需引入的修正因子(可参阅黄昆、谢希德著《半导体物理学》)。(3)结合电导率的测量,求载流子的迁移率。电导率与载流子浓度以及迁移率之间有如下关系:(1-5)2、霍尔效应中的副效应及其消除方法上述推导是从理想情况出发的,实际情况要复杂得多。产生上述霍尔效应的同时还伴随产生四种副效应,使的测量产生系统误差,如图2所示。
所以:
旧仪器:L1=3.00mm,L2=287mm
287
)mm
3.191K1693(mA/T) 1
0.0018850.001885TmmmA
(3.00
新仪器:L1=4.00mm,L2=269mm
269
4.1792217(mA/T)K
0.0018850.001885
4.00
大学物理实验报告霍尔效应
一、实验名称:霍尔效应原理及其应用二、实验目的:1、了解霍尔效应产生原理;2、测量霍尔元件的、曲线,了解霍尔电压与霍尔元件工作电流、直螺线管的励磁电流间的关系;3、学习用霍尔元件测量磁感应强度的原理和方法,测量长直螺旋管轴向磁感应强度及分布;4、学习用对称交换测量法(异号法)消除负效应产生的系统误差。
通过上述测量方法虽然不能消除所有的副效应但较小引入的误差不大可以忽略不计因此霍尔效应电压可近似为163直螺线管中的磁场分1以上分析可知将通电的霍尔元件放置在磁场中已知霍尔元件灵敏度测量出和就可以计算出所处磁场的磁感应强度
大学物理实验报告实验18霍尔效应数据处理
霍尔效应数据处理范例
由公式:
KH
NI
;B0M
1、为了消除副效应的影响,实验中采用对称测量法,即改变和的方向。2、霍尔元件的工作电流引线与霍尔电压引线不能搞错;霍尔元件的工作电流和螺线管的励磁电流要分清,否则会烧坏霍尔元件。3、实验间隙要断开螺线管的励磁电流与霍尔元件的工作电流,即和的极性开关置0位。4、霍耳元件及二维移动尺容易折断、变形,要注意保护,应注意避免挤压、碰撞等,不要用手触摸霍尔元件。七、数据记录:KH=23.09,N=3150匝,L=280mm,r=13mm表1关系(=900mA)(mV)(mV)(mV)(mV)
5
7.00 -10.92 11.17 11.13 -10.95 11.04
VH
1
VH
2
VH
3
VH
4
H
V8-V1=6.30-0.82=5.48 V9-V2=7.10-1.60=5.50 V10-V3=7.87-2.39=5.48 V11-V4=868-3.18=5.50 V12-V5=9.45-3.97=5.48 V13-V6=10.25-4.74=5.51 V14-V7=11.04-5.54=5.50
若只考虑接触电阻的差异,则的方向仅与磁场的方向有关。(3)里纪-勒杜克效应产生的电势差。上述热扩散电流的载流子由于速度不同,根据厄廷好森效应同样的理由,又会在3、4点间形成温差电动势。的正负仅与的方向有关,而与的方向无关。(4)不等电势效应引起的电势差。由于制造上的困难及材料的不均匀性,3、4两点实际上不可能在同一等势面上,只要有电流沿x方向流过,即使没有磁场,3、4两点间也会出现电势差。的正负只与电流的方向有关,而与的方向无关。综上所述,在确定的磁场和电流下,实际测出的电压是霍尔
L12r)
得KH
r
IMICH0
VH(L1
L2
;N——励磁线圈的匝数(N=1500);0——真空磁导率(0=4107TmA1)
IM——线圈中的励磁电流;
L1——气隙距离;L2——铁芯磁路平均长度;r——铁芯相对磁导率(r=1500)
例1、用逐差法处理数据:数据记录及处理
IM=200mA, L1=3.00mm; L2=287mm;
取=10 mA,保持不变;霍尔元件置于螺旋管中点(二维移动尺水平方向14.00cm处与读数零点对齐)。顺时针转动"调节"旋钮,依次取值为0,100,200,…,900 mA,将和极性开关择置"+"和"-"改变与的极性,记录相应的电压表读数值,填入数据记录表2。6、以为横坐标,为纵坐标作图,并对曲线作定性讨论。测量长直螺旋管轴向磁感应强度1、取=10 mA,=900mA。2、移动水平调节螺钉,使霍尔元件在直螺线管中的位置(水平移动游标尺上读出),先从14.00cm开始,最后到0cm点。改变和极性,记录相应的电压表读数值,填入数据记录表3,计算出直螺旋管轴向对应位置的磁感应强度。3、以为横坐标,为纵坐标作图,并对曲线作定性讨论。4、用公式(1-8)计算长直螺旋管中心的磁感应强度的理论值,并与长直螺旋管中心磁感应强度的测量值比较,用百分误差的形式表示测量结果。式中,其余参数详见仪器铭牌所示。六、注意事项:
U
2m25
4.1(m取横坐标最小刻度值的一半)EI
UI4.10.0082 I500
UV
m0.01
0.008(m取纵坐标最小刻度值的一半)EV
UV0.0080.0021 V3.92
2.69
)
rKH 17.38mv/(mAT) 7
IMICH05001.004101500
VH(L1
)
3.92(4.00
L2
KEI2EV2(0.0082)2(0.0021)20.00850.9%
UK17.380.9%0.160.2mv/(mAT)
处理结果:
KH=(17.40.2)mv/(mAT)(P=0.683)
E=0.9%附:
L1
为了计算方便,可以一个常数K
L2
r
0
于是KH
VH
K
IMICH
又:0=41071500=0.001885TmA1=0.001885TmmmA1
100 -0.64 0.94 0.95
200 -1.42 1.74 1.73
300 -2.26 2.55 2.56
400 -3.05 3.34 3.34
500 -3.84 4.13 4.14
600 -4.62 4.90 4.92
700 -5.30 5.66 5.68
800 -6.04 6.36 6.38
(x
i1
)2
0.004738
7(71)
m0.05
0.029 22
UVAUB(0.0047)2(0.0029)20.029
EVU
UX0.029
0.0053 5.49H
m0.050.029 EI
UI0.0290.008 I3.50
计算霍尔灵敏度KH及其不确定度:
287
)
rKH 13.29mv/(mAT) 7
7
0.97 1.74 2.53 3.33 4.12 4.88 5.68 6.44 7.23 7.99 8.80 9.56 10.3
6
-0.6-1.4-2.2-3.0-3.8-4.6-5.4-6.1-6.9-7.7-8.5-9.3-10.17 5 3 4 2 0 0 7 8 5 6 3 5 0.82 1.60 2.39 3.18 3.97 4.74 5.54 6.30 7.10 7.87 8.68 9.45 10.2
数据个数N=7 n=7根据肖维涅准则剔除坏值C7=1.8(坏值条件:|Xi-X|>Cn*SX X的平均值(H)为5.49 SX=0.012536 Cn*SX=0.022564无坏值出现
ICH3.50mA
某次测量的标准偏差:SX
7
(x
i1
7
i
)2
0.01253
71
i
平均值的标准偏差:S不确定度估算:UA=0.0047;UB
三、仪器用具:YX-04型霍尔效应实验仪(仪器资产编号)四、实验原理:1、霍尔效应现象及物理解释霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用而引起的偏转。当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直于电流和磁场的方向上产生正负电荷的聚积,从而形成附加的横向电场。对于图1所示。半导体样品,若在x方向通以电流,在z方向加磁场,则在y方向即样品A、A′电极两侧就开始聚积异号电荷而产生相应的电场,电场的指向取决于样品的导电类型。显然,当载流子所受的横向电场力时电荷不断聚积,电场不断加强,直到样品两侧电荷的积累就达到平衡,即样品