禁带宽度

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实验14 禁带宽度的测量

实验14 禁带宽度的测量

实验十四 禁带宽度的测量应物0903 蔡志骏 u200910207 张文杰 u200910205一、实验目的1、学习紫外分光光度计的工作原理和使用方法。

2、学习用紫外分光光度计测量薄膜样品的透射(吸收)光谱3、能根据吸收光谱推算出材料的光学禁带宽度。

二、实验原理1、禁带宽度的涵义(1)、禁带宽度表示晶体中公有化电子所不能具有的能量范围 (2)、禁带支付表示价键束缚的强弱 2、允许的带间直接跃迁在跃迁过程中波矢改变量0k ∆=,这种跃迁为允许带间直接跃迁。

这种跃迁满足g g E ω=如果假定仅讨论导带底以上价带顶以下较小的能量范围内光吸收过程,对于导带与价带都是抛物线的并且非简并的情况有()()1412210gE cmαωω-≈⨯-吸收系数与能量的关系服从1/2次方律。

3、禁戒的带间直接跃迁在一些情况中,0k = 的跃迁被选择定则1L ∆=±禁止,而0k ≠的跃迁允许,这种跃迁为禁戒的直接跃迁。

虽然在0k = 徙的跃迁几率为0,但是0k ≠处仍存在一定的的跃迁几率,且跃迁几率正比于2k ,此时的吸收系数为()()411.310gE cmωαωω--=⨯由上式可知吸收系数主要由3/2次方律决定4、导带底和价带顶位于波矢空间不同位置的带间直接跃迁和间接跃迁这种情况是指导带底的最低能量状态和价带的最高能量状态不在k空间同一位置而发生直接跃迁。

(1)、当g p E E ω>- 时,只能伴随着声子的吸收过程,吸收系数为()()2exp 1g p p B c E E E k T αωαω-+=⎛⎫- ⎪⎝⎭(2)、对于g p E E ω>+ 时,既可伴随着声子的发射,也可伴随着声子的吸收。

其中伴随一个声子发射的吸收光谱为()()21exp g p e p B c E E E k T ωαω--=⎛⎫- ⎪⎝⎭以上两式表明间接跃迁系数与入射光子的能量有二次方关系。

5、透射率、吸光度与吸收系数之间的关系吸光度A 与透射率T 的关系为1lgA T=光吸收规律()0exp I I x α=-α为吸收系数,x 为光的传播距离,根据朗伯—比尔定律,A 正比于α。

常见物质禁带宽度

常见物质禁带宽度

常见物质禁带宽度
常见物质的禁带宽度是指固体材料中电子能级的能量范围,在这个范围内电子是不允许存在的,称为禁带。

以下是一些常见物质的禁带宽度范围:
1. 金属:金属的禁带宽度为0 eV,即没有禁带,所以金属的导电性非常好。

2. 绝缘体:绝缘体的禁带宽度较大,通常在2 eV以上。

绝缘体中,禁带内没有自由电子可以传导电流,因此绝缘体是不导电的物质。

3. 半导体:半导体的禁带宽度介于金属和绝缘体之间,通常在0.2-2 eV之间。

这种禁带宽度使得半导体在一定条件下既能够传导电流,又具有一定的绝缘性质。

半导体的导电性可以通过掺杂或施加外部电场来调节。

4. 光学材料:对于光学材料(如晶体、玻璃等),禁带宽度决定了其在可见光波段内的吸收和透过性质。

禁带宽度越大,材料对可见光的吸收越小,透明度越高。

介电常数和禁带宽度

介电常数和禁带宽度

介电常数和禁带宽度1.引言1.1 概述概述部分的内容:介电常数和禁带宽度是固体材料性质中的两个重要概念。

介电常数描述了材料在外电场作用下的响应能力,它反映了材料的极化能力和电容性质。

禁带宽度则是固体材料中电子能级的能量区域,这个区域内电子是禁止存在的,因此也被称为能带间隙。

禁带宽度的大小决定了材料的导电性质和光学性能。

介电常数和禁带宽度是材料科学和电子工程领域中的重要研究对象,对于设计和开发新材料、电子器件和光学器件都具有重要意义。

了解介电常数和禁带宽度的定义、特征和影响因素,可以帮助我们深入理解材料的性质,并为材料的应用提供科学依据。

本文将首先介绍介电常数的定义和意义,包括极化能力和电容性质的解释,以及介电常数的测量方法和单位。

接着,将探讨影响介电常数的因素,包括材料的化学成分、结晶结构和温度等。

然后,将重点介绍禁带宽度的定义和特征,包括导带和价带的区别,以及禁带宽度与材料的导电性质和光学性能的关系。

最后,将总结介电常数和禁带宽度之间的关系,并展望未来的研究方向。

通过对介电常数和禁带宽度的深入研究,我们可以更好地理解材料的电子结构和性质,为材料的设计合成和应用提供理论基础。

同时,这也有助于我们探索新的材料和器件,开展前沿科学研究,推动材料科学和电子工程领域的发展。

1.2 文章结构文章结构部分的内容包括对整篇文章的主要内容和章节分布进行简要介绍。

在这篇文章中,主题是介电常数和禁带宽度。

文章的结构可按照以下方式进行安排:1. 引言部分:介绍文章的背景和引入介电常数和禁带宽度的概念。

2. 正文部分:这是文章的核心部分,主要分为两个小节:2.1 介电常数:首先讨论介电常数的定义和意义,接着探讨影响介电常数的因素。

2.2 禁带宽度:首先介绍禁带宽度的定义和特征,然后探讨影响禁带宽度的因素。

3. 结论部分:总结介电常数和禁带宽度的关系,并提出未来的研究方向。

通过这样的章节分布,读者可以清晰地了解文章的内容结构和逻辑顺序,从而更好地理解介电常数和禁带宽度的相关知识。

fto禁带宽度

fto禁带宽度

FTO禁带宽度简介FTO(Fundamental Transition Edge)是一种超导材料,具有特殊的电学性质。

在超导材料中,存在一个称为禁带的能量范围,在该范围内无法传导电流。

FTO禁带宽度指的是超导材料中禁带的能量范围大小。

FTO禁带宽度在材料科学和电子工程领域中具有重要意义。

研究和了解FTO禁带宽度可以帮助我们设计和优化各种器件,如超导电子器件、光伏器件等。

超导材料与禁带超导材料是一类在低温下表现出无电阻和完全磁通排斥效应的特殊材料。

当温度降低到某个临界温度以下时,超导材料会进入超导态。

在超导态下,电流可以在材料中无阻碍地流动,并且磁场会被完全排斥。

与普通金属不同,超导体在低温下具有一个称为禁带的能量范围,该范围内不能传导电流。

这个禁带被称为FTO禁带。

超导材料的禁带宽度决定了能够通过材料的电子能量范围。

FTO禁带宽度的测量方法测量FTO禁带宽度的方法有多种,下面介绍两种常用的方法:1. 电导率测量法这是一种通过测量材料的电导率来确定FTO禁带宽度的方法。

在低温下,超导材料中存在一个临界电流密度,当电流密度超过该值时,材料会失去超导性。

通过测量不同温度下的电导率和临界电流密度,可以确定FTO禁带宽度。

2. 光谱测量法光谱测量法是另一种常用的测量FTO禁带宽度的方法。

通过照射不同频率和强度的光束到超导材料上,可以观察到材料对光的吸收和反射情况。

根据吸收和反射谱线,可以确定FTO禁带宽度。

影响FTO禁带宽度的因素FTO禁带宽度受多种因素影响,以下是一些常见因素:1. 温度温度是影响FTO禁带宽度的重要因素。

随着温度的升高,FTO禁带宽度会逐渐减小。

当温度超过临界温度时,材料会失去超导性。

2. 材料成分超导材料的成分对FTO禁带宽度有很大影响。

不同元素的组合和比例会导致不同的禁带宽度。

通过调整材料成分,可以改变FTO禁带宽度,从而优化材料的性能。

3. 杂质和缺陷杂质和缺陷也会影响FTO禁带宽度。

禁带宽度-计算方法

禁带宽度-计算方法

Y Axis Title
Y Axis Title
F
0.00030
0.00025
0.00020 0.00015
(Ahv)1/2/10000
0.00010
0.00005
2.90
0.00000
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
X Axis Title
F
30000
25000
20000 15000
由UV-vis 光谱求样品的Eg
一 半导体禁带求导公式
h C(hv Eg )2 h C(hv Eg )1/2
通常(ahv) ½是有单位的,(eV)1/2.cm-1/2
或(eV)1/2.cm-1/2。
由上述公式可知,(ahv)1/2 和(ahv) 2 只与hv成线性关系,能用于估算Eg。
F
0.030
0.025
0.020 0.015
(Ahv)1/2/100
0.010
0.005
2.90
0.000
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
X Axis Title
F
300
250
200
(Ahv)1/2*100
150
100
50
2.90
0
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
X Axis Title
0.5
2.90
0.0
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0

禁带宽度名词解释

禁带宽度名词解释

禁带宽度名词解释
禁带宽度(带宽)是描述信号在传输过程中能够被传输的距离和速度的名词。

在数字通信中,禁带宽度是指信号在传输时能够被压缩到最小长度的位数。

禁带宽度通常用符号"bw"表示,其单位是位/秒(bit/s)。

在数字通信中,通常使用小波变换等算法来压缩信号,压缩后的最小长度就是禁带宽度。

禁带宽度越宽,信号被压缩后能够传输的距离就越远。

禁带宽度与信号的频谱有关。

频谱是指信号在不同频率上的强度分布,禁带宽度是指信号在频谱中能够被压缩到最小长度的频谱范围。

在数字通信中,通常使用频谱带宽(B band width)来表示禁带宽度。

例如,如果使用的小波变换算法的带宽是20%,那么该算法的禁带宽度就是20% × B band width。

禁带宽度还可以用于数字信号处理中的压缩算法。

例如,哈夫曼编码和熵编码等都依赖于禁带宽度。

禁带宽度越宽,压缩算法的效果就越好。

禁带宽度在数字通信中扮演着重要的角色。

掌握禁带宽度的基本概念和计算方法对于从事数字通信领域的人员非常重要。

禁带宽度

禁带宽度

禁带宽度(Band gap)是指一个能带宽度(单位是电子伏特(ev)),固体中电子的能量是不可以连续取值的,而是一些不连续的能带,要导电就要有自由电子存在,自由电子存在的能带称为导带(能导电),被束缚的电子要成为自由电子,就必须获得足够能量从而跃迁到导带,这个能量的最小值就是禁带宽度。

例如:锗的禁带宽度为0.66ev;硅的禁带宽度为1.12ev;砷化镓的禁带宽度为1.46ev;氧化亚铜的禁带宽度为2.2eV。

禁带非常窄的一般是金属,反之一般是绝缘体。

半导体的反向耐压,正向压降都和禁带宽度有关。

编辑本段禁带宽度的物理意义禁带宽度是半导体的一个重要特征参量,其大小主要决定于半导体的能带结构,即与晶体结构和原子的结合性质等有关。

半导体价带中的大量电子都是价键上的电子(称为价电子),不能够导电,即不是载流子。

只有当价电子跃迁到导带(即本征激发)而产生出自由电子和自由空穴后,才能够导电。

空穴实际上也就是价电子跃迁到导带以后所留下的价键空位(一个空穴的运动就等效于一大群价电子的运动)。

因此,禁带宽度的大小实际上是反映了价电子被束缚强弱程度的一个物理量,也就是产生本征激发所需要的最小能量。

Si的原子序数比Ge的小,则Si的价电子束缚得较紧,所以Si的禁带宽度比Ge的要大一些。

GaAs的价键还具有极性,对价电子的束缚更紧,所以GaAs 的禁带宽度更大。

GaN、SiC等所谓宽禁带半导体的禁带宽度更要大得多,因为其价键的极性更强。

Ge、Si、GaAs、GaN和金刚石的禁带宽度在室温下分别为0.66eV、1.12 eV、1.42 eV、3.44 eV和5.47 eV。

金刚石在一般情况下是绝缘体,因为碳(C)的原子序数很小,对价电子的束缚作用非常强,价电子在一般情况下都摆脱不了价键的束缚,则禁带宽度很大,在室温下不能产生出载流子,所以不导电。

不过,在数百度的高温下也同样呈现出半导体的特性,因此可用来制作工作温度高达500oC以上的晶体管。

半导体物理学中的禁带宽度与载流子浓度关系研究

半导体物理学中的禁带宽度与载流子浓度关系研究

半导体物理学中的禁带宽度与载流子浓度关系研究半导体物理学是研究半导体材料的性质和行为的学科。

其中一个重要的概念是禁带宽度。

禁带宽度是指在能带图中,价带与导带之间的能量差。

载流子浓度是指在半导体材料中的自由电子和空穴的数量。

禁带宽度与载流子浓度之间的关系在半导体物理学中被广泛研究。

首先,我们来看一下禁带宽度对载流子浓度的影响。

在固定温度下,禁带宽度越大,载流子浓度越低。

这是因为禁带宽度越大,价带与导带之间的能量差越大,需要更多的能量才能使载流子跃迁到导带中。

所以在禁带宽度较大的半导体材料中,载流子很难被激发到导带中,导致载流子浓度较低。

另一方面,当禁带宽度较小时,载流子浓度相对较高。

这是因为禁带宽度较小,价带与导带之间的能量差较小,载流子更容易跃迁到导带中。

因此,在禁带宽度较小的半导体材料中,载流子的浓度较高。

此外,禁带宽度与载流子浓度之间的关系还与温度有关。

随着温度的升高,禁带宽度会减小,载流子浓度会增加。

这是因为高温下,原子振动增强,电子和空穴的跃迁变得更加容易。

因此,载流子浓度会随着温度的升高而增加。

在应用中,研究禁带宽度与载流子浓度的关系对于设计和制造半导体器件至关重要。

例如,硅材料通常具有较大的禁带宽度,因此在制造电子器件时可以避免不必要的载流子激发。

而对于一些光电器件,如光电二极管和太阳能电池等,需要选择具有较小禁带宽度的半导体材料,以便更容易激发载流子。

综上所述,禁带宽度与载流子浓度之间存在着密切的关系。

禁带宽度较大的半导体材料具有较低的载流子浓度,而禁带宽度较小的半导体材料则具有较高的载流子浓度。

此外,温度的变化也会影响这种关系。

对于半导体器件的设计和制造来说,了解和研究禁带宽度与载流子浓度的关系是非常重要的,可以帮助优化器件的性能并满足不同的应用需求。

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Burstein–Moss effect(布尔斯坦-莫斯效应),由泡 利不相容原理引起的,当在半导体中掺杂其他元素时, 其带隙改变,价带顶和导带内未占据能态的能量间隔改 变。 未掺杂的半导体,费米能级位于导带底之下,施主占据 态(价带顶)之上。 n型掺杂时由于费米能级向上移动进入导带中,当吸收 光子时,位于价带顶的电子只能被激发到费米能级上部 的能态,因为费米能级下边(导带底)的能量状态已被 占据。而使带隙变大,即发生蓝移。 P型掺杂时,费米能级向下移动靠近价带顶,光学跃迁 发生在费米能级和价带之间,而不再是价带和导带之间。 所以使带隙减小,即发生红移。 本征ZnO是n型半导体,银锂共掺杂ZnO的带隙减小(红移),可能是因 为掺杂使自由载流子(空穴)浓度增大,费米能级向下移动到导带底之下, 靠近价带顶,吸收跃迁发生在价带和费米能级之间,所以带隙减小。
Williamson–Hall (W–H) plot:
λ is the wavelength of the X-rays, θi is the diffraction angle, βi is the total integral breadth of the ith Bragg reflection positioned at 2θi , ε is the elastic strain, D isthe grain size .
W–H model 和 Scherrer formula的不同: 1.谢乐公式用测量的衍射宽度计算晶粒尺寸,忽略了晶格缺陷和其他原因 引起的衍射峰增宽,会导致得到的晶粒尺寸偏小。D=kλ/βcosθ。 2. W–H model is considering the combined effects of domain and lattice deformation,which produce final line broadening β. (考虑晶粒尺寸和 晶格变形的综合影响得到最终的谱线增宽β),比谢乐公式精确。 The final line broadening:β=βgrain size +βlattice distortion。 (假设仪器的影响可以忽略) 由晶体缺陷和变形引起的应变ε导致谱线增宽:βlattice distortion=ε/tanθ。
Williamson–Hall
Plot
Williamson–Hall (W–H) plot was applied to calculate the grain size and microstrains contained in the samples from the XRD line broadening。
the plots of (αhν) 2 vs.hv of the AZO, ANZO (1), ANZO (2) and 010eV/cm)2
60
40
Ag:Li=1:1 Ag:Li=1:2 Ag:Li=1:5 Ag:Li=1:10 Ag:Li=1:20 Ag:Li=0 pure ZnO
microstrains ε是拟合直线的斜率, 纵轴的截距是1/D.
以(αhʋ)2为纵轴,hʋ为横轴做曲线,将线性部分延长, 与横轴的交点就是Eg。作图步骤: 1.求吸收系数α, 2.求入射光子能量hʋ=hc/λ, h=4.13567×10-15 eV · s, c=3×1017nm/s,λ是和透射率T对应的波长,单位:nm。 hʋ=1240.7/ λ,(eV) 3.求(αhʋ)2
20
0 2.3 2.4 2.5 2.6 2.7 2.8 2.9 3.0 3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 3.6 3.7 3.8 3.9 4.0
pure ZnO 3.47
Ag:Li =0 3.24
Ag:Li= 1:20 3.246
Ag:Li= 1:10 3.157
hv( eV)
Ag:Li= 1:5 3.063
禁带宽度
求光学带宽Eg
Tauc relationship:
C is a constant for a direct transition, h is Planck’s constant, and ʋ is the frequency of the incident photon.
the absorption coefficient : α = (1/d) ln(1/T),单位:cm-1 T is the transmittance, 单位:1 d is the film thickness,单位:cm.
金属中的费米能级是导带中自由电子填充的最高能级。 对于本征半导体和绝缘体,因为价带填满了电子,占 据率为100%,导带是空的,费米能级位于禁带中间。 对于n型半导体,导带中有较多的电子(多数载流 子),费米能级靠近导带底;掺入施主杂质的浓度越 高,费米能级越靠近导带底,或进入导带。 对于p型半导体,价带中有较多的自由空穴(多数载 流子),则费米能级在价带顶之上,并靠近价带顶; 同时,掺入受主杂质的浓度越高,费米能级越靠近价 带顶。
Ag:Li= 1:2 3.15
Ag:Li= 1: 1 3.22
B
Transmittance (%)
80
f e d c b a Pure ZnO
40
0 400 600
Wavelength (nm)
80
B
Transmittance (%)
f e d c b a Pure ZnO
40
360
400
Wavelength (nm)
第二种求Eg的方法:
其中:h=4.13567×10-15 eV · s, c=3×1017nm/s λmax是透射率的一阶导数(dT/dλ)的最大值对应的波长。
可以在origin里将透射率图谱进行微分,得到 dT/dλ曲线,通 过工具—拣峰命令,找到最大值对应的λmax。
对Eg变化的分析
Eg变小,吸收边缘向长波方向移动,光学带宽发生红移。 Eg变大,吸收边向短波方向移动,为蓝移。 在半导体物理中,通常把形成共价键的价电子所占据的能带 称为价带,而把价带上面自由电子占据的能带称为导带。被 束缚的电子要成为自由电子,就必须获得足够能量从而跃迁 到导带,这个能量的最小值就是禁带宽度。禁带宽度指导带 中最低能级(导带底)和价带最高能级(价带顶)的能量间 隔。 费米能级: 绝对零度下,电子占据的最高能级就是费米能级。在非绝对 零度时,电子可以占据高于EF的若干能级,这时费米能级是 占据几率等于50%的能级。
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