扫描电子显微镜SEM
扫描电镜SEM

扫描电子显微镜(Scanning Electronic Microscopy, SEM)扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
扫描电镜的优点是,①有较高的放大倍数,20-20万倍之间连续可调;②有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;③试样制备简单。
目前的扫描电镜都配有X 射线能谱仪装置,这样可以同时进行显微组织性貌的观察和微区成分分析,因此它是当今十分有用的科学研究仪器。
电子束与固体样品的相互作用扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。
通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得对是试样表面性貌的观察。
具有高能量的入射电子束与固体样品的原子核及核外电子发生作用后,可产生多种物理信号如下图所示。
电子束和固体样品表面作用时的物理现象一、背射电子背射电子是指被固体样品原子反射回来的一部分入射电子,其中包括弹性背反射电子和非弹性背反射电子。
弹性背反射电子是指倍样品中原子和反弹回来的,散射角大于90度的那些入射电子,其能量基本上没有变化(能量为数千到数万电子伏)。
非弹性背反射电子是入射电子和核外电子撞击后产生非弹性散射,不仅能量变化,而且方向也发生变化。
非弹性背反射电子的能量范围很宽,从数十电子伏到数千电子伏。
从数量上看,弹性背反射电子远比非弹性背反射电子所占的份额多。
背反射电子的产生范围在100nm-1mm深度,如下图所示。
电子束在试样中的散射示意图背反射电子产额和二次电子产额与原子序束的关系背反射电子束成像分辨率一般为50-200nm(与电子束斑直径相当)。
背反射电子的产额随原子序数的增加而增加(右图),所以,利用背反射电子作为成像信号不仅能分析新貌特征,也可以用来显示原子序数衬度,定性进行成分分析。
二、二次电子二次电子是指背入射电子轰击出来的核外电子。
扫描电子显微镜及能谱仪SEM

扫描电子显微镜及能谱仪SEM扫描电子显微镜及能谱仪SEM扫描电子显微镜及能谱仪SEM是一种强大的实验仪器,它能够帮助我们开启微观世界的大门,从而深入了解物质在最基本层面的性质和结构。
本文将在以下几个方面对SEM及其应用进行介绍。
一、扫描电子显微镜SEM的原理扫描电子显微镜SEM是一种采用电子束的显微镜,通过高能电子束与样品相互作用,透过扫描线圈产生扫描信号,实现对样品表面形貌的观察和获取高清晰度的图像。
SEM和光学显微镜有很大的不同,光学显微镜是使用光来观察物质的显微镜,而SEM则是使用电子来观察物质。
扫描电子显微镜SEM的工作原理主要分为以下三个步骤:1、获得高能电子束:扫描电子显微镜SEM内部有个电子枪,电子枪发射出的电子经过加速器的加速器和聚焦极的聚焦,成为高能电子束。
2、扫描样品表面:高能电子束射向样品表面,样品表面反弹回来的电子信号被SEM仪器捕获。
3、产生扫描信号:把从样品表面反弹回来的电子信号进行放大,形成显微图像。
二、能谱仪的原理能谱仪是SEM中的重要组成部分,它可以检测电子在样品中的反应和监测样品中所含的化学元素,以及相应元素的含量。
能谱仪的工作原理是通过检测样品产生的X射线来分析样品组成,电子束与样品相互作用,产生一系列的X射线能量峰值。
每个元素都有不同能级的电子,其X射线产生的能量也分别对应不同的峰值。
因此,通过表征能谱仪所发现的不同X射线能量峰的位置和强度,可以确定样品中所含元素。
三、SEM的应用1、矿物学SEM被广泛应用于矿物学研究中,因为它能够提供很高的图像分辨率。
将样品与高能电子束相互作用可使样品表面反射的电子被收集,从而形成高分辨率的矿物学图像。
2、材料科学在材料科学中,SEM被用于表面形貌研究以及微观结构解析。
通过SEM可以获取材料的内部结构和力学特性,为材料研发和工业应用提供了有力支持。
3、医学SEM在医学领域也有极为重要的应用,例如用于人体组织医学研究。
SEM可以提供高质量且精细的人体组织图像,进一步促进了医学领域的研究和治疗。
扫描电子显微镜

扫描电子显微镜扫描电子显微镜是一种强大的工具,它可以帮助科学家观察到物质的更小的细节和结构。
本文将介绍扫描电子显微镜的原理、应用、发展历程以及未来发展趋势。
原理扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscopy,SEM)是一种利用扫描电子束与物体相互作用而获得形貌和微区组织信息的显微分析仪器。
扫描电子显微镜的工作原理是,将高能电子轰击样品表面,使其表面电子被激发,发射出大量的二次电子。
这些二次电子被探测器接收并转换成负电荷信号,在特定条件下被扫描成像。
应用扫描电子显微镜广泛应用于多个领域,包括材料科学、生命科学、化学和地质学等。
以下是该技术在这些领域中的应用:•材料科学:用于获取材料的形貌、结构以及表面性质等信息。
•生命科学:用于观察细胞、细胞器、细胞表面的超微结构和蛋白质等生物分子的形态和结构。
•化学:用于观察化学反应过程表面形貌、结构的变化以及材料结构的演化过程等。
•地质学:用于研究各种矿物、岩石和地层等,以了解地质演化过程。
发展历程1950年,发明了透射式电子显微镜,但它只能用于真空环境下的样品。
1956年,Helmut Ruska和Max Knoll发明了扫描电子显微镜。
该技术能够在空气中观察样品,并获得更高的象素分辨率。
1965年, Hitachi公司普及了第一台商用扫描电子显微镜S-800。
自此以后,扫描电子显微镜技术得到了快速的发展。
未来发展趋势随着技术的发展,扫描电子显微镜的应用场景不断扩大。
今后,该技术将越来越多地应用于纳米材料和微细加工领域。
同时,随着计算机技术的发展,扫描电子显微镜将会实现更高的自动化和智能化,成为更加强大的工具。
结论扫描电子显微镜是一款横跨多个领域应用的重要科学工具,其在材料科学、生命科学、化学和地质学等领域均有广泛的应用。
虽然该技术已经发展多年,但随着技术和计算机技术的不断进步,扫描电子显微镜将会越来越强大,为人们探索科学世界提供更加强大的支持。
扫描电镜sem

扫描电镜(SEM)简介扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是一种利用电子束对样品表面进行扫描的显微镜。
相比传统的光学显微镜,SEM具有更高的分辨率和更大的深度视野,使得它成为材料科学、生命科学和物理科学等领域中常用的研究工具。
SEM通过利用电子多次反射,将样品表面的形貌细节放大数千倍,可以观察到微观结构,比如表面形态、粗糙度、纳米级颗粒等。
SEM通常需要真空环境下操作,因为电子束在大气压下很快会失去能量而无法达到高分辨率。
工作原理SEM的工作原理可以简单地分为以下几步:1.电子发射:SEM中,通过热发射或场发射的方式产生电子束。
这些电子被加速器加速,形成高速的电子流。
电子束的能量通常在10-30 keV之间。
2.样品照射:电子束通过一个聚焦系统照射到样品表面。
电子束与样品原子发生相互作用,从而产生各种现象,比如电子散射、透射和反射。
3.信号检测:样品与电子束发生相互作用后,产生的信号会被探测器捕获。
常见的SEM信号检测器包括二次电子检测器和反射电子检测器。
这些探测器可以测量电子信号的强度和性质。
4.信号处理和图像生成:SEM通过对探测到的信号进行处理和放大,生成图像。
这些图像可以显示出样品表面的微观结构和形貌。
应用领域SEM在许多科学领域中都有广泛的应用。
以下是一些常见的应用领域:材料科学SEM可以用于研究材料的结构和形态。
它可以观察微观缺陷、晶体结构、纳米颗粒等材料细节。
这对于材料工程师来说非常重要,可以帮助他们改进材料的性能和开发新的材料。
生命科学SEM可以用于观察生物样品的微观结构。
比如,它可以观察细胞的形态、细胞器的分布和细胞表面的纹理。
这对于生物学家来说非常重要,可以帮助他们了解生物体的结构和功能。
纳米科学SEM在纳米科学领域中也有广泛的应用。
通过SEM可以对纳米材料进行表面形貌和结构的观察。
它可以显示出纳米结构的细节,帮助科学家研究纳米颗粒的组装、层析和相互作用等现象。
SEM扫描电子显微镜

线扫描分析:
电子探针
将谱仪〔波、能〕固定在所要测量的某一元素特征X射线信 号〔波长或能量〕的位置,把电子束沿着指定的方向作直线轨 迹扫描,便可得到这一元素沿直线的浓度分布状况。转变位置 可得到另一元素的浓度分布状况。
面扫描分析〔X射线成像〕:
电子束在样品外表作光栅扫描,将谱仪〔波、能〕固定在 所要测量的某一元素特征X射线信号〔波长或能量〕的位置,此 时,在荧光屏上得到该元素的面分布图像。转变位置可得到另 一元素的浓度分布状况。也是用X射线调制图像的方法。
征X射线,分析特征X射线的波长〔或能量〕可知元素种类; 分析特征X射线的强度可知元素的含量。
➢ 其镜筒局部构造和SEM一样,检测局部使用X射线谱仪。
电子探针
X射线谱仪是电子探针的信号检测系统,分为: 能量分散谱仪〔EDS〕,简称能谱仪,用来测定X射线特征能量。 波长分散谱仪〔WDS〕,简称波谱仪,用来测定特征X射线波长。
对于纤维材料,用碳胶成束的粘接在样品台上即 可。
样品制备
粉末样品:留意粉末的量,铺开程度和喷金厚度。 粉末的量:用刮刀或牙签挑到双面导电胶〔2mm宽,8mm长〕,
均匀铺开,略压紧,多余的轻叩到废物瓶,或用洗耳球吹, 后者易污染。 铺开程度:粉末假设均匀,很少一点足矣,否则易导致粉末在 观看时剥离外表。喷金集中在外表,下面样品易导电性不佳, 观看比照度差,建议承受分散方式。
定量分析精度不如波谱仪。
电子探针
波谱仪
➢ 波谱仪主要由分光晶体和X射线检测系统组成。 ➢ 依据布拉格定律,从试样中发出的特征X射线,经过确定晶面间距的晶
体分光,波长不同的特征X射线将有不同的衍射角。通过连续地转变θ, 就可以在与X射线入射方向呈2θ的位置上测到不同波长的特征X射线信 号。 ➢ 依据莫塞莱定律可确定被测物质所含有的元素 。
扫描电子显微镜(SEM)简介

完成观察后,关闭扫描电子显微镜主机和计 算机,清理样品台,保持仪器整洁。
注意事项
样品求
确保样品无金属屑、尘埃等杂质,以 免损坏镜体或影响成像质量。
避免过载
避免长时间连续使用仪器,以免造成 仪器过载。
保持清洁
定期清洁扫描电子显微镜的镜头和样 品台,以保持成像清晰。
操作人员要求
操作人员需经过专业培训,了解仪器 原理和操作方法,避免误操作导致仪 器损坏或人员伤害。
操作方式
有些SEM需要手动操作,而有 些型号则具有自动扫描和调整 功能。
适用领域
不同型号的SEM适用于不同的领 域,如材料科学、生物学等,选
择时应考虑实际应用需求。
04
SEM的操作与注意事项
操作步骤
01
02
03
开机与预热
首先打开电源,启动计算 机,并打开扫描电子显微 镜主机。预热约30分钟, 确保仪器稳定。
场发射电子源利用强电场作用下的金属尖端产生电子,具有高亮度、低束流的优点, 但需要保持清洁和稳定的尖端环境。
聚光镜
聚光镜是扫描电子显微镜中的重 要组成部分,它的作用是将电子 束汇聚成细束,并传递到样品表
面。
聚光镜通常由两级组成,第一级 聚光镜将电子束汇聚成较大直径 的束流,第二级聚光镜进一步缩
小束流直径,提高成像质量。
生态研究
环境SEM技术可以应用于生态研究中, 例如观察生物膜、土壤结构等,为环 境保护和治理提供有力支持。
THANKS
感谢观看
样品放置
将样品放置在样品台上, 确保样品稳定且无遮挡物。
调整工作距离
根据样品特性,调整工作 距离(WD)至适当位置, 以确保最佳成像效果。
操作步骤
SEM(扫描电子显微镜)的原理

SEM(扫描电子显微镜)的原理
SEM是一种通过高能电子束扫描样品表面并利用其所产生的
信号来形成图像的显微镜。
其原理是利用电子束与样品表面交互所产生的各种信号(如二次电子、反射电子、散射电子、背散射电子等)作为样品表面形貌信息的载体,经过放大和成像后形成对样品表面形貌的图像。
具体来说,SEM的主要原理包括:
1. 高能电子束的产生
SEM使用的电子束通常由热阴极或场发射型阴极产生。
电子
从阴极中发射出来后,经过加速管加速到几千伏至数十万伏的高能电子束。
2. 电子束的聚焦
SEM使用电磁聚焦系统将电子束聚焦到非常小的点上,从而
实现高分辨率成像。
聚焦系统通常由多组圆柱形或双凸透镜组成。
3. 样品表面的交互
高能电子束照射样品表面时,会与样品表面相互作用,产生各种不同的信号。
这些信号包括二次电子、反射电子、散射电子、背散射电子等,它们可以提供关于样品表面形貌、成分和结构的信息。
4. 信号的检测和处理
SEM的检测系统通常由二次电子检测器、反射电子检测器、消旋极检测器等多种类型的检测器组成。
这些检测器负责收集和处理样品表面产生的各种信号,经过放大和成像等处理后,成为最终的SEM图像。
综上所述,SEM主要通过高能电子束和样品表面信号的交互来实现图像的成像和分析。
它能够观察到样品表面微观结构的形貌、成分和表面化学性质等信息,具有广泛的应用价值。
利用扫描电子显微镜获取材料表面形貌信息

利用扫描电子显微镜获取材料表面形貌信息扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,SEM)是一种用于观察和分析材料表面形貌的高分辨率显微镜。
利用其高能电子束和探测器,SEM可以提供高放大倍率和出色的表面清晰度,为研究人员提供详细的材料表面形貌信息。
本文将介绍扫描电子显微镜的原理,操作方法以及其在材料科学中的应用。
首先,让我们来了解一下扫描电子显微镜的工作原理。
SEM采用的是电子束扫描观察的原理。
它通过在材料上扫描射出高能电子束,当电子束与样品表面相互作用时,会发生多种与电子互作用的物理现象,如散射、逸出电子和背散射等。
SEM探测器将这些信号转换成图像,并以高分辨率的方式显示在显示器上。
此外,SEM还可以利用特殊的探头扫描电子显微镜,通过测量振荡电势,进一步获得材料的表面化学成分分布。
接下来,我们将介绍如何操作扫描电子显微镜来获取材料表面形貌信息。
首先,样品需要被制备成适合SEM观察的形式。
通常情况下,需要将样品表面进行金属或碳层涂覆,以增加导电性,然后将样品固定在SEM样品支架上。
样品准备的质量直接影响着SEM观察结果的准确性和可靠性,因此样品制备过程一定要严格控制。
接下来,将样品装载到SEM的样品舱中,关闭操作室门,开始抽真空。
当真空达到要求后,可以开始调整SEM的参数,如电子束加速电压、工作距离和探测器的选择等。
一旦调整完毕,可以将电子束聚焦在样品表面并开始扫描。
同时,可以调整探测器的位置和参数,以获得不同深度的信息。
最后,观察和记录SEM图像,并进一步分析和处理图像数据,以获得材料表面的形貌和结构信息。
扫描电子显微镜在材料科学中有着广泛的应用。
首先,SEM可以用于研究微观结构和形貌。
通过观察样品的表面形貌,可以获得材料的纹理、粗糙度、颗粒大小等信息,帮助研究人员了解材料的制备过程和性能。
其次,SEM还可以帮助分析材料的化学成分分布。
通过能谱仪等设备,可以测量样品表面的元素分布情况,从而研究材料的成分和相对丰度。
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物镜用于聚焦, 是决定最终电 子探针直径的 重要透镜。物 镜若有瑕疵, 就无法形成很 细的电子探针, 之前的所有努 力也都会前功 尽弃。因此, 所有的电镜厂 家都在努力制 作性能优良的 物镜。
阴极荧光
可以通过固体的电子能带理论来解释阴极发光现象。 这些材料的特点是具有一个所有的电子能态都被占 据满的价带和一个空的导带;价带和导带之间有一 能量间隔为Egap的禁带。当高能束电子在这种材料 中受到非弹性散射时,充满价带的电子可以提升到 导带,使得价带留下空穴,而导带多出一个电子, 形成电子-空穴对。当没有偏压使得电子-空穴分离, 电子和空穴可能复合,与Egap相等的多余能量以光 子的形式释放出来。由于带间隔是严格确定的,所 以光子携带特征能量。
你爱,或者不爱 课就在这儿 不多不少
你来,或者不来 教室就在这儿 不喜不悲
你听,或者不听 我都在这儿 不离不弃
但愿,我的努力 能让这门课 走进你的心里
默然 寂静
相爱 欢喜
简介
• 扫描电子显微镜的简称为扫描电镜,英文缩写为 SEM (Scanning Electron Microscope)。SEM与电子 探针(EPMA)的功能和结构基本相同,但SEM一 般不带波谱仪(WDS)。它是用细聚焦的电子束轰 击样品表面,通过电子与样品相互作用产生的二次 电子、背散射电子等对样品表面或断口形貌进行观 察和分析。现在SEM都与能谱(EDS)组合,可以 进行成分分析。所以,SEM也是显微结构分析的主 要仪器,已广泛用于材料、冶金、矿物、生物学等 领域。
• 原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量传 递给核外另一电子并打出,脱离原子变为二次电 子,这种二次电子叫做俄歇电子。因每一种原子 都有自己特定的壳层能量,所以它们的俄歇电子 能量也各有特征值,能量在50-1500eV范围内。 俄歇电子是由试样表面极有限的几个原子层中发 出的,这说明俄歇电子信号适用与表层化学成分 分析。
500~5000nm 100~1000nm
5~50nm 1nm
背散射电子 特征X射线
俄歇电子 二次电子
连续X射线
背散射电子空间分辨率 X射线的分辨率
背散射电子
• 受固体样品散射反射回来的那部分电子,占入射 电子的30%左右。
• 由两部分组成,一部分为弹性背散射电子,另一 部分为与原子核、核电子发生多次非弹性碰撞而 形成的电子。
胜利孳生了仇恨,因为被征服者不快乐,这也是下一次胜利的种子。
扫描电子显微分析
Scanning Electron Microscopy (SEM)
AlphaGo
Qusetions
为什么使用SEM? SEM的原理?
SEM的信号? SEM的电子源的分类?
EDS中分析方法有哪几种?
我 的 课
历史回顾
• 扫描电镜的概念最早是由德国的Knoll在1935年提出 • 1938年Von Ardenne在透射电镜上加了个扫描线圈做
出了扫描透射显微镜(STEM). • 第一台SEM是1942年由Hill制成 • 1955年扫描电镜的研究取得较显著的突破,成像质量 有明显提高,并在1959年制成了第一台分辨率为10纳 米的扫描电镜。 • 第一台商业制造的扫描电镜是Cambridge Scientific
电子在磁场中运动,当电子运动方向与磁感应强度方向不平行时,将产生一个与运动方 向垂直的力(洛仑兹力)使电子运动方向发生偏转。
下图是一个电磁线圈。当电子沿线圈轴线运动时,电子运动方向与磁感应强度方向
一致,电子不受力,以直线运动通过线圈;当电子运动偏离轴线时,电子受磁场力的作用, 运动方向发生偏转,最后会聚在轴线上的一点。电子运动的轨迹是一个圆锥螺旋曲线 。
• 高分辨率SEM使用的电子枪是场发射电子枪 (Field Emission Electron Gun:FE电子枪)。 它利用的是在金属表面加以强电场时所产生的场
发射现象,实际的结构见图,阴极用细钨丝制成,
在钨丝上焊接相同的单晶钨,其尖端曲率半径为 100 nm左右,被称为发射体,在发射体对面设置 的金属板(引出电极)上施加数kV的正电圧时, 由于隧道效应,从发射体中就会发射电子,如果
问题
• 几种信号? • 几种常用? • 几种有用的信号?
电子与物质作用
电子与物质相互作用
电子与固体样品的相互作用
• 相互作用的区域明显随原子序数改变,从低序数 的“梨”形到高序数的“半球”形;
• 电子束能量越大,穿过特定的长度后保持的能量 越大,穿透的深度越大;根据Rutheford模型,电 子在样品中的弹性散射面与其能量的平方成反比。
在金属板(引出电极)的中央处开一小孔,电子
束会从孔中流出,因此在其下方设置的电极(加
速电极)上加以电圧,就能够获得一定能量的电
子束,为了产生场发射现象,发射体的尖端必须 保持清洁,需要设置在10-8Pa左右的超高真空中。
3肖特基发射电子枪
• 是利用在加热的金属表面外加高电场产生的肖特基 (Schottky emission)效应的电子枪,结构如图所示, 阴极(发射体)是ZrO/W,采用尖端曲率半径为几百 nm的钨单晶体,并镀上了ZrO覆盖层,ZrO覆盖层大 大地降低了功函数,因而在1800K左右较低阴极温度 下能发射很大的电流,如图31所示,为了屏蔽从发射 体中发射出热电子,在被叫做抑制电极的电极上加负 电圧。由于肖特基发射电子枪部分设置在10-7Pa左右 的超高真空中,发射体能保持高温,不吸附气体,因 此具有电子束流稳定度高的特点。
与场发射电子枪相比,肖特基发射电子枪的电子束
能量发散度稍大,但能获取大的探针电流,这一特点
适合于在观察形貌的同时进行各种分析,这种电子枪
有时也因为方便被称作热阴极场发射电子枪或热场发 射电子枪。
电子枪性能比较
电磁透镜
• 在电子枪的后方设置透镜,能够调节电子束的直径。SEM 需要很细的电子束。图中,在电子枪的后方设置了聚光镜 和物镜的两级透镜,从电子枪中发射出的电子束经过两级 透镜的聚焦形成电子探针。增强聚光镜的透镜作用,电子 探针以b/a的比例变细,如果减弱的话,电子探针则变粗。 此外,在聚光镜与物镜之间,设置开了小孔的薄金属板即 “光阑”。通过聚光镜的电子束撞到光阑后,有一部分的 电子束能通过小孔到达物镜。增大聚光镜的励磁电流,光 阑上的电子束会大大地发散开来,只有一小部分的电子束 能通过,所以到达物镜的电子数(包括探针电流)将会减 少。相反,减弱聚光镜的励磁电流,光阑上的电子束并不 会发生很大的发散,大部分的电子束通过光阑,到达物镜 的电子数很多。也就是说,调节聚光镜的励磁电流可以改 变电子探针的直径和探针电流。
• 是一种无损的分析方法,结合扫描电镜可提供与 形貌相关的高空间分辨率光谱结果,是纳米结构 和体材料的独特分析工具。利用阴极荧光谱,可 以在进行表面形貌分析的同时,研究半导体材料 的发光特性,尤其适合于各种半导体量子肼、量 子线、量子点等纳米结构的发光性能的研究。
• 阴极荧光谱通常作为扫描电子显微镜的一个附件 。比如场发射扫描电子显微镜,通常会配备一套 阴极荧光探头,以充分扩展仪器功能。
• 其能量大于50eV,绝大多数背散射电子能量损失 小于10% 。
• 电子产率η
二次电子
• 二次电子是指入射电子轰击出来的核外电子。由 于原子核和外层价电子间的结合能很小,当原子 的核外电子从入射电子获得了大于相应的结合能 的能量后,可脱离原子成为自由电子。如果这种 散射过程发生在比较接近样品表层处,那些能量 大于材料逸出功的自由电子可从样品表面逸出, 变成真空中的自由电子,即二次电子。其中价电 子约占90%。
短线圈磁场中的电子运动显示了电磁透镜聚焦成像的基本原理。实际电磁透镜中为
了增强磁感应强度,通常将线圈置于一个由软磁材料(纯铁或低碳钢)制成的具有内环形间 隙的壳子里。 电子在磁场中运动,当电子运动方向与磁感应强度方向不平行时,将产生一 个与运动方向垂直的力(洛仑兹力)使电子运动方向发生偏转。
下图是一个电磁线圈。当电子沿线圈轴线运动时,电子运动方向与磁感应强度方向一致 ,电子不受力,以直线运动通过线圈;当电子运动偏离轴线时,电子受磁场力的作用,运动 方向发生偏转,最后会聚在轴线上的一点。电子运动的轨迹是一个圆锥螺旋曲线。
• 电子光学系统(镜筒) • 偏转系统 • 信号检测放大系统 • 图像显示和记录系统 • 电源系统 • 和真空系统、电磁聚光镜、光栏、样品室等部件组 成。
• 作用:获得扫描电子束,作为使样品产生各种物 理信号的激发源。
电子源
• 电子枪是电子束的产生系统,图2是热发射电子枪 的构造图。将细(0.1 mm左右)钨丝做成的灯丝 (阴极)进行高温加热(2800K左右)后,会发 射热电子,此时给相向设置的金属板(阳极)加 以正高圧(1~30kV),热电子会汇集成电子束 流向阳极,若在阳极中央开一个孔,电子束会通 过这个孔流出,在阴极和阳极之间,设置电极并 加以负电圧,能够调整电子束的电流量,在这个 电极(被称为韦氏极)的作用下,电子束被细聚 焦,最细之处被称为交叉点(Crossover),成为实 际的光源(电子源),其直径为15~20μm。
Instruments公司在1965年制造的Mark I “Steroscan”。 • 1978年做出了第一台具有可变压强的商业制造的扫描
电镜
现状
• 目前扫描电镜的发展方向是采用场发射枪的高分 辨扫描电镜和可变压强的环境扫描电镜(也称可 变压扫描电镜)。
• 目前的高分辨扫描电镜可以达到1-2纳米,部分高 端高分辨扫描电镜已具有0.4纳米的分辨率。
扫描电镜中主要信号的信息深度
• 俄歇电子1nm (0.5-2 nm) • 二次电子5-50 nm • 背散射电子50-500 nm • X射线0.1-1μm
入射电子束和物质作用,可以 激发出原子的内层电子。外层 电子向内层跃迁过程中所释放 的能量,可能以X光的形式放 出,即产生特征X射线,也可 能又使核外另一电子激发成为 自由电子,这种自由电子就是 俄歇电子[1]。对于一个原子来 说,激发态原子在释放能量时只 能进行一种发射:特征X射线 或俄歇电子。原子序数大的元 素,特征X射线的发射几率较 大,原子序数小的元素,俄歇 电子发射几率较大,当原子序 数为33时,两种发射几率大致 相等。因此,俄歇电子能谱适 用于轻元素的分析。