检具能力指数CgCgk
Cgcgk技术
精心整理一、引言检具(读数式量规、读数式检验夹具、综合检测仪等)的生产供应商将按用户要求设计制造的检具成品交付用户时，双方对于采用什么方法及指标来评定检具质量，以及如何判定检具是否合格，确定检具误差有多大等问题往往存在不一致之处，不同的用户常常也会提出不同的验收要求、方法及指标。
为此，本文介绍四种常用的检具随机误差的验收评定方法及指标，并对各种方法的适用性进行分析讨论。
二、四种评定方法介绍1.评定方法1在等精度测量条件下，可采用n次测量结果的最大差值(即极差值)作为误差评定指标。
即n次等精度测量值分别为L1、L2、…、L n，其中最大测量值为L max,最小测量值为L min,则n次测量值的极差值W n=L max-L min。
采用极差法进行评定时，一般取n=10,W n≤T/10(T为工件被检项目公差)。
2.评定方法2采用测量能力指数C g值或C g K值作为评定指标，计算公式为Cg=KT/6S(1)C g K=Cg-｜XE-｜/3S(2)式中K——缩小系数，一般取K=0.2KT——允许的测量结果分布宽度6S——实际达到的测量结果分布宽度T——工件被检项目公差X E——样件的实际尺寸——平均测量值S——标准偏差，X i——第i次测量值n——测量次数采用C g值或C g K值进行能力检验评定时应注意以下事项：(1)进行能力检验前应将检具调整到完好状态。
(2)进行能力检验时，被测件应为检具随带的校准件。
若无校准件，则可采用符合受检工序尺寸和精度要求的加工零件。
(3)检验应按该检具的规定操作方法进行，同一被测件应以相同的安装方法及安装方向重复安装测量50次，将每次测量数据记录于检验表中以计算C g值或C g K值。
(4)在能力检验过程中不允许对检具的任何部位进行调整，若检具在检验过程中发生故障，则检验应重新开始。
(5)对一般检具进行C g值计算，对关键检具进行C g K值计算。
(6)按式(1)、(2)计算得到测量能力指数，通常当C g≥1.33或C g K≤2时可视为该检具合格。
Cg cgk技术资料
精心整理一、引言检具(读数式量规、读数式检验夹具、综合检测仪等)的生产供应商将按用户要求设计制造的检具成品交付用户时，双方对于采用什么方法及指标来评定检具质量，以及如何判定检具是否合格，确定检具误差有多大等问题往往存在不一致之处，不同的用户常常也会提出不同的验收要求、方法及指标。
为此，本文介绍四种常用的检具随机误差的验收评定方法及指标，并对各种方法的适用性进行分析讨论。
二、四种评定方法介绍1.评定方法1在等精度测量条件下，可采用n次测量结果的最大差值(即极差值)作为误差评定指标。
即n次等精度测量值分别为L1、L2、…、L n，其中最大测量值为L max,最小测量值为L min,则n次测量值的极差值W n=L max-L min。
采用极差法进行评定时，一般取n=10,W n≤T/10(T为工件被检项目公差)。
2.评定方法2采用测量能力指数C g值或C g K值作为评定指标，计算公式为Cg=KT/6S(1)C g K=Cg-｜XE-｜/3S(2)式中K——缩小系数，一般取K=0.2KT——允许的测量结果分布宽度6S——实际达到的测量结果分布宽度T——工件被检项目公差X E——样件的实际尺寸——平均测量值S——标准偏差，X i——第i次测量值n——测量次数采用C g值或C g K值进行能力检验评定时应注意以下事项：(1)进行能力检验前应将检具调整到完好状态。
(2)进行能力检验时，被测件应为检具随带的校准件。
若无校准件，则可采用符合受检工序尺寸和精度要求的加工零件。
(3)检验应按该检具的规定操作方法进行，同一被测件应以相同的安装方法及安装方向重复安装测量50次，将每次测量数据记录于检验表中以计算C g值或C g K值。
(4)在能力检验过程中不允许对检具的任何部位进行调整，若检具在检验过程中发生故障，则检验应重新开始。
(5)对一般检具进行C g值计算，对关键检具进行C g K值计算。
(6)按式(1)、(2)计算得到测量能力指数，通常当C g≥1.33或C g K≤2时可视为该检具合格。
cgk的合格范围
cgk的合格范围摘要：一、CGK合格范围的概述二、CGK合格范围的具体内容1.几何参数2.表面粗糙度3.尺寸精度4.形状和位置精度5.动态性能6.静态性能三、CGK合格范围的应用领域四、如何提高CGK合格率1.工艺改进2.设备更新3.加强检测4.人员培训五、结论正文：一、CGK合格范围的概述CGK（Cylindrical Gage Block Kinematic）合格范围是指在精密测量过程中，测量设备、测量方法和测量环境等因素对测量结果的影响程度。
CGK合格范围是衡量测量设备性能和测量方法准确性的重要指标，对于保证测量结果的可靠性具有重要意义。
二、CGK合格范围的具体内容1.几何参数：包括圆柱度、圆锥度、平行度等，这些参数直接影响到测量结果的准确性。
2.表面粗糙度：表面粗糙度对测量设备的磨损和测量精度产生影响，因此需要控制在一定范围内。
3.尺寸精度：尺寸精度是指测量设备的长度、直径等尺寸参数的准确度，对于保证测量结果的一致性至关重要。
4.形状和位置精度：包括圆柱形、球形等形状的精度和位置精度，这些参数影响到测量结果的稳定性和重复性。
5.动态性能：动态性能是指测量设备在运行过程中的稳定性和响应速度，对于提高测量效率和减少误差具有重要意义。
6.静态性能：静态性能主要包括测量设备的承载能力、刚度和抗干扰能力等，这些性能直接关系到测量结果的准确性和可靠性。
三、CGK合格范围的应用领域CGK合格范围广泛应用于航空航天、汽车制造、电子产品等领域，对于保证这些行业的产品质量和生产效率具有重要意义。
此外，CGK合格范围还应用于科研、计量和检验等领域，为各种测量任务提供可靠的技术支持。
四、如何提高CGK合格率1.工艺改进：通过优化加工工艺和热处理工艺，提高测量设备的精度和稳定性。
2.设备更新：定期更新测量设备，引入具有更高精度、更稳定性能的新型测量设备。
3.加强检测：对测量设备进行定期检测，及时发现并解决潜在问题，确保测量设备的正常运行。
检具能力指数Cg-Cgk
检具能力指数Cg-CgkCg= (Tgo- Tgu)/6S=Tg/6SCgk=min (Tgo-Xbar)或(Xbar-Tgu) /3S式中Cg——量检具重复精度能力系数Cgk——量检具准确精度能力系数Tgo——控制上限Tgu——控制下限Xbar——测量值的平均值S——测量值的标准偏差图中：To为零件公差上限Tu为零件公差下限Tm为零件公差中心Ta为被测零件的实际尺寸T=To-Tu, T为零件公差△X=Ta-Tm Tm=1/2(To+Tu)Tgo=Ta+1/2×λ×（To-Tu）=1/2(To+Tu) +△X+1/2λ×（To-Tu）=1/2×To×（1+λ）+1/2×Tu×（1-λ）+△X Tgu=Ta-1/2×λ×（To-Tu）=1/2(To+Tu) +△X-1/2λ×（To-Tu）=1/2×To×（1-λ）+1/2×Tu×（1+λ）+△X λ一般取0.15～0.20（现取0.20）××Tu+△X××Tu+△X×（To-Tu）＝0.2×T此主题相关图片如下：Cgk 是用于评价一个测量设备的测量能力是否和被测产品的公差要求相匹配的方法。
进行Cgk 分析的方法是：1：让一个操作者用这个测量设备在一个标准测试样品上的同一点连续测量25 次；2：用这组数据计算出标准差和平均偏移值；3：确定被测产品的公差范围；4：用公式计算出Cgk（可能各公司的公式会不同）。
下面是一个计算的图示：此主题相关图片如下：上面那个我转的例子是在某一论坛(忘记了)发现的,应该有问题此主题相关图片如下：。
cg cgk介绍
有关MSA及偏倚研究和量具能力的Cg/Cgk研究问题的答复(2014-09-14 18:03:40)转载▼分类：质量工具与方法标签：cg——量具重复精度能力系数cgk——量检具准确精度能力系数Cgk 是用于评价一个测量设备的测量能力是否和被测产品的公差要求相匹配的方法。
进行Cgk分析的方法是：1：让一个操作者用这个测量设备在一个标准测试样品上的同一点连续测量25 次；2：用这组数据计算出标准差和平均偏移值；3：确定被测产品的公差范围；4：用公式计算出Cgk（可能各公司的公式会不同）。
cgcgkmsa测量系统分析有网友询问有关MSA及偏倚研究和量具能力的Cg/Cgk研究方面的两个问题，现将相应答复分享给感兴趣同仁，以供参考。
问题一：有人说，如果产品的Ppk是很充分的比如大于2.0的时候，就可以忽略MSA的影响，我听了非常震惊和困惑，因为我们一直听到的都是MSA是SPC的基础，如果测量系统就有偏差的话，测量结果很可能失真，也就极有可能造成Ppk大于2.0的假象，您认为呢？我的答复：我对你的困惑表示理解。
我们需要借助测量系统对过程的稳定性和过程能力两个方面进行评价和监控。
有能力的过程不一定是稳定的过程，也就是说，即使Ppk大于2，也仅表示过程有能力，但相对来说过程本身的离散程度（即过程变异）比较小，这时为监控过程的稳定性（即通过控制图判断过程是否处于统计受控状态），对测量系统所导致的测量变异更敏感。
MSA 的目的是研究测量系统所测量的结果中呈现的变异，以此来评估测量系统的质量。
如果测量结果呈现的变异太大，可能会导致我们对过程的评价和监控做出错误的判断。
问题二：有人说，Cg/Cgk研究可以代替偏倚研究，经过分析，我发现Cg/Cgk分析结果比较简单明了，我也很想将Cg/Cgk推广到我们公司，因为我的理解不够深入，所以请您给我讲讲Cg/Cgk是否的确优于偏倚呢？我的答复：目前德系的公司更喜欢用量具能力指数Cg/Cgk基于被测特性的公差要求通过多次重复测量标准件来评价测量系统中量具的偏倚和测量标准件时的重复性是否可以接受，只有Cg/Cgk 满足要求（如：Cg>=1.33、Cgk>=1.33）时才进一步通过测量生产件进行GRR（测量系统重复性和再现性）研究。
CGK CMK PPK CPK能力指数说明
Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍CgK, Cmk, Ppk, Cpk应用技术Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍CpkCgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍CgK, Cmk, Ppk, Cpk评级标准涉及Cp评价等级要求值状态处理方案A级 1.33≤Cp 稳定可考量缩小规格B级 1.0＜Cp ≤1.33 一般必须加以注意，维持C 级0.83＜Cp ≤1.0 危险检讨规格及作业标准D级Cp≤0.83 极差停机，重新调整后生产Cp=(Usl-Lsl)/6s; 单边Cp=Cpk=Cpu=Cpl=规格容许差/3s注：Cp 值越大，分布数据接近，但也有可能偏于中心值的分布规格U-L 中心值M密度高-----低u 密集命中密度高分散命中密度低密集命中密度高，但偏离大规格宽松，须缩小提高设备精度或放宽规格修改中心值，缩小规格范围Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍结束语：1. 通过以上各种能力指数的分析，可以针对工作需要选用或并用多种工具，了解4M等因素或制程能力，确保生产品质是否在掌握范围？2. 任何一种统计工具都要灵活运用，不可极端采纳。
3. 目前管制线一般采用+3s～-3s，直通率为99.73%作为基准线，来做SPC管制线以上报告，仅供参考。
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一、引言检具(读数式量规、读数式检验夹具、综合检测仪等)的生产供应商将按用户要求设计制造的检具成品交付用户时，双方对于采用什么方法及指标来评定检具质量，以及如何判定检具是否合格，确定检具误差有多大等问题往往存在不一致之处，不同的用户常常也会提出不同的验收要求、方法及指标。
为此，本文介绍四种常用的检具随机误差的验收评定方法及指标，并对各种方法的适用性进行分析讨论。
二、四种评定方法介绍1.评定方法1在等精度测量条件下，可采用n次测量结果的最大差值(即极差值)作为误差评定指标。
即n次等精度测量值分别为L1、L2、…、Ln，其中最大测量值为Lmax,最小测量值为Lmin,则n次测量值的极差值Wn =Lmax-Lmin。
采用极差法进行评定时，一般取n=10,Wn≤T/10(T为工件被检项目公差)。
2.评定方法2采用测量能力指数Cg 值或CgK值作为评定指标，计算公式为Cg=KT/6S (1)CgK=Cg-｜XE-｜/3S (2)式中K——缩小系数，一般取K=0.2KT——允许的测量结果分布宽度6S——实际达到的测量结果分布宽度T——工件被检项目公差XE——样件的实际尺寸——平均测量值S——标准偏差，Xi——第i次测量值n——测量次数采用Cg 值或CgK值进行能力检验评定时应注意以下事项：(1)进行能力检验前应将检具调整到完好状态。
(2)进行能力检验时，被测件应为检具随带的校准件。
若无校准件，则可采用符合受检工序尺寸和精度要求的加工零件。
(3)检验应按该检具的规定操作方法进行，同一被测件应以相同的安装方法及安装方向重复安装测量50次，将每次测量数据记录于检验表中以计算Cg 值或CgK值。
(4)在能力检验过程中不允许对检具的任何部位进行调整，若检具在检验过程中发生故障，则检验应重新开始。
(5)对一般检具进行Cg 值计算，对关键检具进行CgK值计算。
(6)按式(1)、(2)计算得到测量能力指数，通常当Cg ≥1.33或CgK≤2时可视为该检具合格。
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一、引言检具(读数式量规、读数式检验夹具、综合检测仪等)的生产供应商将按用户要求设计制造的检具成品交付用户时，双方对于采用什么方法及指标来评定检具质量，以及如何判定检具是否合格，确定检具误差有多大等问题往往存在不一致之处，不同的用户常常也会提出不同的验收要求、方法及指标。
为此，本文介绍四种常用的检具随机误差的验收评定方法及指标，并对各种方法的适用性进行分析讨论。
二、四种评定方法介绍1.评定方法1在等精度测量条件下，可采用n次测量结果的最大差值(即极差值)作为误差评定指标。
即n次等精度测量值分别为L1、L2、…、Ln，其中最大测量值为Lmax,最小测量值为Lmin ,则n次测量值的极差值Wn=Lmax-Lmin。
采用极差法进行评定时，一般取n=10,Wn≤T/10(T为工件被检项目公差)。
2.评定方法2采用测量能力指数Cg 值或CgK值作为评定指标，计算公式为Cg=KT/6S (1)C g K=Cg-｜XE-｜/3S (2)式中K——缩小系数，一般取K=0.2KT——允许的测量结果分布宽度6S——实际达到的测量结果分布宽度T——工件被检项目公差XE——样件的实际尺寸——平均测量值S——标准偏差，Xi——第i次测量值n——测量次数采用Cg 值或CgK值进行能力检验评定时应注意以下事项：(1)进行能力检验前应将检具调整到完好状态。
(2)进行能力检验时，被测件应为检具随带的校准件。
若无校准件，则可采用符合受检工序尺寸和精度要求的加工零件。
(3)检验应按该检具的规定操作方法进行，同一被测件应以相同的安装方法及安装方向重复安装测量50次，将每次测量数据记录于检验表中以计算Cg值或CgK值。
(4)在能力检验过程中不允许对检具的任何部位进行调整，若检具在检验过程中发生故障，则检验应重新开始。
(5)对一般检具进行Cg 值计算，对关键检具进行CgK值计算。
(6)按式(1)、(2)计算得到测量能力指数，通常当Cg ≥1.33或CgK≤2时可视为该检具合格。
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＝１/2×To×(１+λ）+１/2×Tu×(１－λ）+△X
Ｔgu＝Ｔa-１/２×λ×（To-Tu）
=1/2(To＋Tｕ) +△X－1/２λ×（To－Tu)
=1/2×Ｔｏ×（１-λ)+１/2×Tｕ×(1+λ)＋△Ｘ
λ一般取0.１5~0.2０（现取0.20）
Cgk——量检具准确精度能力系数
Ｔｇo——控制上限
Tgｕ——控制下限
Ｘbａｒ——测量值的平均值
S——测量值的标准偏差
图中：
To为零件公差上限
Ｔu为零件公差下限
Ｔm为零件公差中心
Ta为被测零件的实际尺寸
T＝To-Ｔu, T为零件公差
△X=Ta-TｍTm=1/2(Tｏ+Tu)
Ｔｇo=Ta＋据计算出标准差和平均偏移值;
３：确定被测产品的公差范围;
4:用公式计算出Cgk(可能各公司的公式会不同)。下面是一个计算的图示:
ﻫ 此主题相关图片如下:ﻫ
上面那个我转的例子是在某一论坛(忘记了)发现的,应该有问题
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Ｔgo=0.６×Ｔｏ+0.4×Tu＋△X
Ｔgu=0.４×Ｔｏ+0.6×Tu+△X
Tｇ=Ｔgｏ－Tgｕ=0.２×（Ｔo－Tu）=０.2×T
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Cgｋ是用于评价一个测量设备的测量能力是否和被测产品的公差要求相匹配的方法。进行Cｇk分析的方法是:
1：让一个操作者用这个测量设备在一个标准测试样品上的同一点连续测量25次;
检具能力指数Cg-Cgk
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Ｃg=(Tgo－Tgｕ)/６S=Tg/6S
Cgk＝mｉｎ(Tgｏ-Xbar）或(Xｂａr－Tｇｕ）/３S
式中Ｃg——量检具重复精度能力系数