测定半导体二极管的伏安特性

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二极管的伏安特性曲线实验报告

二极管的伏安特性曲线实验报告

二极管的伏安特性曲线实验报告实验报告实验名称:二极管的伏安特性曲线实验实验目的:1. 理解半导体材料的特性2. 理解二极管的基本结构和工作原理3. 掌握二极管的伏安特性曲线及其应用实验原理:二极管是一种半导体元器件,由p型半导体和n型半导体构成。

p型半导体具有正电荷载流子(空穴),n型半导体具有负电荷载流子(电子)。

当p型半导体接触n型半导体时,形成p-n结,随着外加正向电压的增加,p-n结区域中的空穴和电子被推向p区和n区,p-n结中的电阻变小,形成导通状态;当外加反向电压增加时,p-n结中的电阻增大,形成截止状态。

实验步骤:1. 将二极管连接在电路实验板上,通过万用表测量二极管的端子正向电压和反向电压;2. 在电源电压恒定条件下,分别改变二极管的正向电压和反向电压,记录相应的电路电流值;3. 根据实验数据,绘制二极管的伏安特性曲线图。

实验结果:通过实验数据,绘制出了二极管的伏安特性曲线,曲线呈现出明显的“S”型。

当正向电压为0.6-0.7V时,二极管开始导通,电路电流急剧增加;反向电压逐渐增加时,电路电流基本保持稳定。

二极管的正向导通电压和反向击穿电压分别为0.6-0.7V和80-100V。

实验分析:由伏安特性曲线可知,当二极管处于正向电压时,p-n结中的空穴和电子呈现出向前方向移动的趋势,形成电流;而当二极管处于反向电压时,p-n结中的电费载流子被压缩,在p-n结中形成尖锐的电场,电子与空穴受到强烈的吸引而向内流动,从而产生少量的逆向电流。

实验结论:通过本次实验,我们得到了二极管的伏安特性曲线图,理解并掌握了二极管的基本结构和工作原理,这对我们深入理解半导体材料和电子元器件的特性及其应用具有重要意义。

测量半导体二极管的伏安特性

测量半导体二极管的伏安特性
使用合适的测量工具
选择合适的电流表、电压表进行测量,避免因测量工具选择不当导 致测量误差或损坏仪器。
异常情况的处理和应急措施
遇到异常情况应立即停止实验
如发现仪器故障、电路短路、电流过大等情况,应立即切断电源,保护仪器和人身安全。
掌握基本的急救措施
在实验过程中,如发生触电、火灾等紧急情况,应掌握基本的急救措施,如心肺复苏、灭 火等。
定期检查实验设备
定期对实验设备进行检查和维护,确保设备正常运转,防止因设备故障引发意外事故。
THANKS
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详细描述
当正向电压施加在二极管上时,PN结内的电子和空穴受到电场作用而分离,形成正向电流。当反向电压施加时 ,由于空间电荷区的存在,电流被阻止。在一定温度下,二极管的伏安特性呈指数关系,表现为正向导通电压随 电流增大而增大,反向击穿电压随温度升高而增大。
02
CATALOGUE
伏安特性测量原理
伏安特性的定义
确保电源安全
使用可靠的电源,避免使用破损或老化的电源线 ,确保电源接地良好。
避免电磁干扰
在实验过程中,应尽量减少周围环境中可能产生 电磁干扰的设备,如手机、微波炉等。
操作过程中的安全注意事项
遵循操作规程
按照规定的步骤进行实验操作,避免因操作不当引发意外事故。
注意观察仪器状态
在实验过程中,应时刻关注仪器的工作状态,如发现异常应及时停 止实验并检查。
伏安特性的分析
正向特性分析
分析正向伏安特性曲线,研究二极管在 正向偏置下的电流随电压的变化规律, 了解其正向导通电阻、正向电压降等参 数。
VS
反向特性分析
分析反向伏安特性曲线,研究二极管在反 向偏置下的电流随电压的变化规律,了解 其反向截止电流、反向击穿电压等参数。

测量半导体二极管的伏安特性

测量半导体二极管的伏安特性
实验 线性与非线性元件 伏安特性的测定
实验目的
1、了解电学实验常用仪器的规格、性能,学习它们的使用方法。 2、学习电学实验的基本操作规程和连接电路的一般方法。 3、掌握电阻元件伏安特性的测量方法,用伏安法测电阻。 4、了解系统误差的修正方法,学会作图法处理实验数据。
实验原理
利用欧姆定律求导体电阻的方法称为伏安法,它是测 量电阻的基本方法之一。为了研究材料的导电性,通 常作出其伏安特性曲线,了解它的电压与电流的关系。 伏安特性曲线是直线的元件称为线性元件,伏安特性 曲线不是直线的元件称为非线性元件,这两种元件的 电阻都可以用伏安法测量。
半导体二极管是一种常用的非线性电子元件,两个电极 分别为正极、负极。二极管的主要特点是单向导电性, 其伏安特性曲线如图(b)所示。其特点是:在正向电流 和反向电压较小时,伏安特性呈现为单调上升曲线;在 正向电流较大时,趋近为一条直线;在反向电压较大时, 电流趋近极限值 ,叫做反向饱和电流。 IS
实验仪器
(a) 线性元件的伏安特性
(b)非线性元件的伏安特性
伏安法 电流表内接法
V R I
RmA V Vx VmA R Rx RmA Rx 1 Ix Ix R x
电流表外接法
Vx Vx Rx 1 R I I x IV 1 1 Rx 1 Rx RV RV
0.55
0.60
0.65
0.70
3.测量小灯泡灯丝伏安特性
Ui(V) I(mA)
0.2
0.4
0.6
0.8
2
5
6.3
注意事项
l、为保护直流稳压电源,接通与断开电源前均需先使其输 出为零,然后再接通或断开电源开关。输出调节旋钮的 调节必须轻、缓。 2、更换测量内容前,必须使电源输出为零,然后再逐渐增 加至需要值.否则元件将会损坏。 3、在设计测量电学元件伏安特性的线路时,必须了解待测 元件的规格,使加在它上面的电压和通过的电流均不超 过额定值。

物理实验讲义实验半导体二极管伏安特性的研究

物理实验讲义实验半导体二极管伏安特性的研究

物理实验讲义实验半导体二极管伏安特性的研究实验目的:1.了解半导体二极管的结构和原理;2.研究半导体二极管的伏安特性。

实验器材:1.半导体二极管2.直流电源3.万用表4.电阻箱5.连线电缆6.示波器实验原理:半导体二极管是一种特殊的二极管,其结构由P型半导体和N型半导体组成。

在P型半导体的一侧注入少量杂质,形成少数载流子浓度高的区域,称为PN结。

PN结的一个端口称为阳极,另一个端口称为阴极。

在正向偏置情况下,电流可从P端流向N端,此时二极管呈现低阻态,称为正向导通。

而在反向偏置情况下,电流几乎无法通过二极管,此时二极管呈现高阻态,称为反向截止。

伏安特性是研究电流和电压之间关系的曲线。

通过研究半导体二极管的伏安特性,可以了解其正向导通和反向截止特性,以及其在电子电路中的应用。

实验步骤:1.将半导体二极管连接在电路板上。

2.将直流电源正极连接至二极管的阳极,负极连接至二极管的阴极。

3.用万用表测量二极管的两端电压,记录下实验数据。

4.调节直流电源的电压,逐渐增大,记录下不同电压下的电流值。

5.将直流电源正极连接至二极管的阴极,负极连接至二极管的阳极。

6.重复步骤3-5,记录下反向偏置下的电流和电压数据。

7.根据所得数据,绘制半导体二极管的伏安特性曲线。

实验注意事项:1.操作过程中要遵守安全操作规程,确保实验安全进行。

2.实验过程中应注意测量仪器的精度和准确性,保持测量值的可靠性。

3.实验结束后,关闭所有电源并清理实验现场。

实验结果分析:根据所得数据绘制的伏安特性曲线,可以得出以下结论:1.在正向偏置区域,随着电压的增加,电流逐渐增大,二极管呈现低阻态,即正向导通。

2.在反向偏置区域,随着电压的增加,电流基本保持在很小的范围内,二极管呈现高阻态,即反向截止。

实验拓展:1.研究不同类型(如硅、锗)的半导体二极管的伏安特性,并比较它们之间的差异。

2.分析伏安特性曲线并计算二极管的串联电阻、导通电压等参数。

实验1线性和非线性元件伏安特性测定

实验1线性和非线性元件伏安特性测定

2. 实验内容和步骤
3.接线图
实验13.异步电动机继电控制的基本电路
2.实验内容和步骤 3.接线图
2. 实验内容和步骤
3.接线图
1.实验原理
测量电容两端电压随时间变化的曲线 (P.22图6-4取消,电路中的电阻用电阻箱)
用示波器只能测电压,不能测电流。
用示波器测量电流曲线的方法:从电阻 上测电压,再换算成电流。
实验7.研究LC元件在直流电路和交流电 路中的特性
1.实验原理 2.实验内容和步骤 3.接线图
1. 实验原理
线性电感元件上的电压、电流关系为 线性电容元件上的电压和电流关系为
解放电过程的微分方程
U c(t)

U e (t t0)/ 0
观测方法:用函数信号发生器输入连续 的方波(包括正负阶跃),通过示波器 观测波形,测量时间常数
实验内容:四个电路,每个电路两组参 数,在坐标纸上绘制8张输出波形图;用 示波器测量第一个电路第一组参数的时 间常数(从充电曲线和放电曲线中任选 一条曲线测量)
(a)含源一端口网络
(b)用戴维南定理等效替代 图3-1等效电源定理
(c)用诺顿定理等效替代
2. 实验内容和步骤
3.接线图
实验4.电压源与电流源的等效变换
1.实验原理 2.实验内容和步骤 3.接线图
1. 实验原理
电流源是除电压源以外的另一种形式的电源,它可以给外电路提供电 流。电流源可分为理想电流源和实际电流源(实际电流源通常简称电流 源),理想电流源可以向外电路提供一个恒值电流,不论外电路电阻的大 小如何。理想电流源具有两个基本性质:第一,它的电流是恒值的,而与 其端电压的大小无关;第二,理想电流源的端电压并不能由它本身决定, 而是由与之相联接的外电路确定的。理想电流源的伏安特性曲线如图4-1所 示。

半导体二极管的伏安特性

半导体二极管的伏安特性
硅管0.5V 死区电压约为
锗管0.1V
正向 特性
0 反向
特性 锗管
正向 特性
0 反向特性 死区
电压 硅管
模拟电子技术
1 半导体二极管及其应用 (3) 有压降
导通后(即uD大于死区电压后)
iD 正向 特性
即 uD升高, iD急剧增大
反向 特性
O uD
模拟电子技术
1 半导体二极管及其应用
管压降uD 约为
模拟电子技术
1 半导体二极管及其应用
热击穿: PN结被烧坏,造成二极管的永久性损坏。
根据反向击穿 的机理不同:
齐纳击穿 雪崩击穿
模拟电子技术
模拟电子技术
iD
正向特性
死区 电压
O
uD
击穿电压 U(BR)
反向特性
模拟电子技术
1 半导体二极管及其应用
击穿的类型: 根据击穿可逆性分为
电击穿 热击穿
电击穿: 二极管发生反向击穿后,如果
a. 功耗 PD( = |UDID| ) 不大。 b. PN结的温度小于允许的最高结温 c. 降低反向电压,二极管仍能正常工作。
1 半导体二极管及其应用
1.2 半导体二极管
1.2.1 半导体二极管的结构和类型 1.2.2 半导体二极管的伏安特性
模拟电子技术
1 半导体二极管及其应用 1.2.2 半导体二极管的伏安特性
半导体二极管两端电压uD与流过它的 电流iD之间的关系称为伏安特性
uD
iD
模拟电子技术
1 半导体二极管及其应用
硅管0.6~0 .8V 锗管0.2~0.3V
估算时取管压降uD
硅管---0.7V 锗管---0.3V
模拟电子技术

二极管伏安特性曲线实验报告

二极管伏安特性曲线实验报告

二极管伏安特性曲线实验报告实验名称:二极管伏安特性曲线实验报告实验目的:通过对二极管的伏安特性进行测量,了解二极管的基本特性和工作原理。

实验器材:二极管、直流电源、万用表、电阻箱实验原理:二极管是一种半导体元件,具有单向导电性。

二极管正向导通电压较低,反向击穿电压较高。

在正向电压下,二极管两端间的电流与电压之间的关系可以用伏安特性曲线表示。

伏安特性曲线是指在不同电流下,二极管正向电压与两端电压之间的关系。

实验步骤:1. 将二极管连接在直流电源的正极与万用表的红色表笔之间,将直流电源的负极与万用表的黑色表笔之间连接一个小电阻,相当于串联一个电阻作为二极管的负载。

2. 通过调节直流电源的输出电压,从 0V 开始逐渐增加正向电压,每增加 0.1V 记录一组电压和电流数值,直到二极管正向电流较大时停止测量。

3. 将直流电源的极性反向,继续测量二极管反向电压下的电流和电压数值。

实验结果:正向电流(mA)正向电压(V)反向电流(uA)反向电压(V)0 0.00 0 0.000.2 0.10 0 0.101.0 0.20 0 0.205.0 0.30 0 0.3010.0 0.40 0 0.4030.0 0.50 0 0.5050.0 0.60 0 0.6070.0 0.70 0 0.7080.0 0.80 0 0.8090.0 0.90 0 0.90100.0 1.00 2.5 1.00150.0 1.10 27.1 1.10200.0 1.20 204.3 1.20250.0 1.30 614.7 1.30300.0 1.40 3485.8 1.40350.0 1.50 22382.9 1.50实验分析:根据伏安特性曲线,当二极管正向电压超过其正向击穿电压时,电流会急剧增加。

在正向电流较小时,正向电压与电流呈线性关系。

但当正向电流达到一定值时,二极管会进入饱和状态,使电流增加速度变慢,且电压变化范围也会明显缩小。

半导体伏安特性曲线

半导体伏安特性曲线

测定半导体二极管伏安特性的实验方案实验原理1电路连接方式要同时测量流过二极管的电流I和其两端的电压U,电路有两种连线方式,即电流表的内接和外接:当R X »r A(电流表内阻)时,宜采用电流表内接如图2(b);当R X «r V(电压表内阻)时,宜采用电流表外接如图2(a);当R X »r A,R X «r V时,两种接法均可以。

无论采用哪种接法,由于电表本身存在内阻,会使得测量电流或电压值出现系统误差(即电表的接入误差),当正向导通时二极管的内阻很小,所以采用外接法;当测量反向特性时二极管的内阻很大,所以用内接法。

二极管具有单向导电性,当正向电压较小时,二极管电阻较大,对硅管约为数百欧,此时正向电流很小,当电压超过一定数值(即导通电压,对硅管约为0.7V左右)后,二极管电阻变得很小,对硅管约为几十欧,此后随着电压的微小增加,正向电流将急剧增加,为了不损坏二极管,实验时,应注意其正向电流不能超过该二极管的额定正向电流I max。

而测量反向特性时要注意工作电压应不超过最高反向工作电压U RM。

2控制电路由于硅二极管正向电流变化范围很大,R阻值取值小些,作为细调用;R'阻值取大些,作为粗调用。

由于二极管正向导通时电阻很小,为了减少系统误差就用外接法,而加反向电压时,二极管相当于大电阻,所以用内接法。

(a)外接法(b)内接法图2 二极管伏安特性曲线的测定3.电源、电压表量程及变阻器的选择(1)电源电压:稳压电源输出E<3V(正向特性),反向特性电压可达几十伏,故应选择可调的稳压电源。

(2)电表量程:电压表选用多量程的电压表,电流表选用毫安表和微安表.(3)变阻器:选R全阻值为500Ω作为细调用,其额定电流为1A(应大于电路总电流值)。

选R'全阻值为1.83KΩ作粗调用,其额定电流为0.35A (应大于0.1A)。

实验步骤1、测定二极管正向伏安特性曲线(1).用万用表0Ω(×100或×1K档)判断二极管的正反向。

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测定半导体二极管的伏安特性1 背景知识1.1 电子器件的伏安特性电子器件的伏安特性是指流过电子器件的电流随器件两端电压的变化特性,测定出电子器件的伏安特性,对其性能了解与其实际应用具有重要意义。

在生产和科研中,可用晶体管特性图示仪自动测绘其曲线,在现代实验技术中,可用传感器及计算机进行测定给出测量结果。

如果手头没有现成的自动测量仪器,提出应用电流表和电压表进行人工测量的方法,进行应急的测量是很有用的。

1.2 半导体二极管半导体二极管是具有单向导电性的非线性电子元件,其电阻值与工作电流(或电压)有关。

二极管的单向导电性就是PN结的单向导电性:PN结正向偏置时,结电阻很低,正向电流甚大(PN结处于导通状态);PN结反向偏置时,结电阻很高,反向电流很小(PN结处于截止状态),这就是PN结的单向导电性。

(正向偏置);(反向偏置)。

二极管的结构:半导体二极管是由一个PN结,加上接触电极、引线和管壳而构成。

按内部结构的不同,半导体二极管有点接触和面接触型两类,通常由P区引出的电极称为阳极,N区引出的电极称为阴极。

二极管的伏安特性及主要参数:二极管具有单向导电性,可用其伏安特性来描述。

所谓伏安特性,就是指加到二极管两端的电压与流过二极管的电流的关系曲线,如下图所示。

这个特性曲线可分为正向特性和反向特性两个部分。

图1 二极管的伏安特性曲线(1)正向特性当二极管加上正向电压时,便有正向电流通过。

但是,当正向电压很低时,外电场还不能克服PN结内电场对多数载流子扩散运动所形成的阻力,故正向电流很小,二极管呈现很大的电阻。

当正向电压超过一定数值(硅管约0.5V,锗管约0.2V)以后,内电场被大大削弱,二极管电阻变得很小,电流增长很快,这个电压往往称为阈电压UTH(又称死区电压:0-U0)。

二极管正向导通时,硅管的压降一般为0.6-0.7V,锗管则为0.2-0.3V。

导通以后,在二极管中无论流过多大的电流(当然是允许范围之内的电流),在极管的两端将始终是一个基本不变的电压,我们把这个电压称为二极管的“正向导通压降”。

(2)反向特性二极管加上反向电压时,由于少数载流子的漂移运动,形成很小的反向电流。

反向电流有两个特性:一是它随随温度的增加而增长得很快,这是由于少数载流子的数量随随温度增加而按指数规律迅速增长的缘故;二是在反向电压不超过某一范围时,反向电流不随反向电压改变而达到饱和,故这个电流IBO称为反向饱和电流。

当加二极管的反向电压过高时,反向电流突然急剧增大,二极管失去单向导电性,这种现象称为电击穿,这个电压URB称为反向击穿电压。

发生击穿的原因是外加的强电场强制地把原子的外层价电子拉出来使载流子数目急剧上升。

而处于强电场中的载流子又因获得很大的能量,而将其它价电子撞击出来,产生更多的载流子,如此连锁反应,使反向电流迅速增大,这种现象称为雪崩击穿。

因此,当二极管的反向电压接近或超过击穿电压URB,又没有适当的限流措施时,将会因电流大,电压高而使管子造成永久性的损坏。

(3)主要参数1、最大整流电流IOM最大整流电流是指二极管能够允许通过的最大正向平均电流值。

当电流超过这个允许值时,二极管会因过热而烧坏,使用时务必注意。

2、反向击穿电压URB与最高反向工作电压URMURB是指二极管反向击穿时的电压值。

击穿后,其反向电流剧增,二极管的单向导性被破坏,甚至管子因过热而烧坏。

一般手册上给出的最高反向击穿电压URM约为反向击穿电压的一半或三分之二,经确保管子安全运行。

3、最大反向电流IRM它是指在二极管上加最高反向工作电压时的反向电流值。

IRM愈小,则管子的单向导电性能愈好。

硅管的反向电流较小,常在1μА以下。

锗管的反向电流较大,一般为硅管的几十倍到几百倍。

2 主要实验器材直流稳压电源(0 ~30 V)直流电压表各种规格的直流电流表变阻器【设计目的与要求】设计目的1、了解二极管的特性和参数;2、了解二极管的安全使用方法;3、学习利用伏安法测定二极管的特性及参数。

设计要求1、设计测量电路分别设计出测定二极管正反向特性的测量电路。

2、选择实验仪器包括确定电源电压的大小、电表量程、选择控制电路所用变阻器的规格等。

3、设计主要实验步骤4、设计实验数据记录表格5、进行特性测量,确定二极管特性并提交实验报告测定半导体二极管伏安特性的实验方案【实验原理】1 电路连接方式要同时测量流过二极管的电流I和其两端的电压U,电路有两种连线方式,即电流表的内接和外接:当RX »rA(电流表内阻)时,宜采用电流表内接如图2(b);当RX «rV(电压表内阻)时,宜采用电流表外接如图2(a);当RX »rA,RX «rV时,两种接法均可以。

无论采用哪种接法,由于电表本身存在内阻,会使得测量电流或电压值出现系统误差(即电表的接入误差),当正向导通时二极管的内阻很小,所以采用外接法;当测量反向特性时二极管的内阻很大,所以用内接法。

二极管具有单向导电性,当正向电压较小时,二极管电阻较大,对硅管约为数百欧,此时正向电流很小,当电压超过一定数值(即导通电压,对硅管约为0.7V左右)后,二极管电阻变得很小,对硅管约为几十欧,此后随着电压的微小增加,正向电流将急剧增加,为了不损坏二极管,实验时,应注意其正向电流不能超过该二极管的额定正向电流I ma x。

而测量反向特性时要注意工作电压应不超过最高反向工作电压URM。

2 控制电路由于硅二极管正向电流变化范围很大,R阻值取值小些,作为细调用;R'阻值取大些,作为粗调用。

由于二极管正向导通时电阻很小,为了减少系统误差就用外接法,而加反向电压时,二极管相当于大电阻,所以用内接法。

(a)外接法(b)内接法图2 二极管伏安特性曲线的测定3.电源、电压表量程及变阻器的选择(1)电源电压:稳压电源输出E<3V(正向特性),反向特性电压可达几十伏,故应选择可调的稳压电源。

(2)电表量程:电压表选用多量程的电压表,电流表选用毫安表和微安表.(3)变阻器:选R全阻值为500Ω作为细调用,其额定电流为1A(应大于电路总电流值)。

选R'全阻值为1.83KΩ作粗调用,其额定电流为0.35A(应大于0.1A)。

【实验步骤】1、测定二极管正向伏安特性曲线(1).用万用表0Ω(×100或×1K档)判断二极管的正反向。

(2).按图2(a)连好电路,接通电源,给二极管加正向电压,选好毫安表和电压表量程,缓慢调节R及R',注意观察I、U变化情况,由此确定I、U的节范围和测量取点情况。

(3)由I、U变化情况可知,在0~0.6V区间,电流变化缓慢,取点可稀疏些,每隔0.1V 测一点;在0.6V以后,电流迅速变化,取点应密集一些,每隔0.02V测一点,直至电流不超过I ma x=100mA为止。

(4)实验数据记录表格U(V)2 测定二极管的反向特性曲线(1)按图2(b)连好电路,接通电源,给二极管反向电压,选好微安表和电压表量程,缓慢调节R及R',注意观察I、U变化情况。

(2)慢慢增加二极管两端的电压,使U从0开始,每隔1V读下微安表对应的读数I,直到U接近URM。

(3)实验数据记录表格二极管伏安特性的测定张超(集美大学物理实验中心361021)摘要本文介绍利用电压表和电流表直接测定二极管正反向特性的方法,并给出2CP10型二极管的正反向伏安特性曲线及主要参数的测量结果。

关键词二极管伏安特性伏安法1 引言半导体器件具有体积小,重量轻,寿命长,工作可靠性高等优点,半导体技术是信息时代的推动力并且已经成为高新技术的核心。

测量晶体二极管的方法很多,比如可以用万用表来判断二极管的好坏。

本实验是在实验室的条件下用伏安法测量二极管的特性。

2 原理电路图(a)正向偏置(b)反向偏置二极管正向导通时可以流过较大的电流,因此要选用微安表,而反向偏置时要分两段考虑,首先是击穿前的变化趋势,在这一阶段电流随电压的变化很不明显而且是微安级的,然后被击穿,这时电流随电压的变化非常明显,只要电压稍微变化一点电流就急剧变化到微安级,所以在测反向特性时要根据情况改变电流表。

【实验结果及分析】1、测定二极管正向伏安特性曲线表1 二极管正向伏安特性I(mA)U(V)I(mA)U(V) 0.100 0.200 0.300 0.400 0.500 0.600 0.620 0.640I(mA) 0.00 0.20 0.30 0.50 0.80 2.50 3.80 5.30U(V)0.660 0.680 0.700 0.720 0.740 0.760 0.780I(mA)7.80 11.80 15.00 24.00 36.50 58.00 96.302、测定二极管的反向特性曲线表2 二极管的反向特性二极管的伏安特性图3 分析3.1 正向特性曲线曲线OAB段是正向特性曲线,OA段的电压被称为死区电压,在这一范围内电流随电压的变化很小,属于高阻区,二极管还没有完全导通;AB段是二极管导通后的变化情况,一开始电流随电压的变化以较快的速度增加,但当到达B点以后虽然电压只有微小的变化,电流的变化却极快,反过来说不管电流怎样增加电压都基本不变,这就是所谓的“正向导通压降”。

3.2 反向特性曲线曲线OCDE段是反向特性曲线,它表示二极管承受反向电压时的情形,在曲线OC段,随着加在二极管上的电反向电压的增加反向电流虽然变化很小几乎为零,但还是略有增加。

CD段表示当反向电压继续增加时,反向电流几乎保持不变也就是电流达到饱和状态用IBO 表示。

当继续增加二极管的反向电压流经二极管的反向电流就大大增加了(DE段),甚至增加到U(V)-1.00 -2.00 -3.00 -4.00 -5.00 -6.00 -7.00 -9.00 -11.00 -13.00I(mA)0.0050 0.0065 0.0070 0.0075 0.0078 -0.0100 -0.0182 -0.304 -0.364 -0.684U(V)-17.00 -18.00 -19.00 -19.50 -20.00 -20.50 -20.80 -21.10 -21.40 -21.60I(mA)-0.684 -0.684 -2.154 -2.950 -5.000 -8.150 -12.34 -17.26 -23.44 -29.23U(V) -21.70 -21.80A) -35.64 -43.55某一数值时(E点)反向电流突然剧增,若继续增加电压就会出现击穿现象,到最后甚至会损坏二极管。

3.3 讨论二极管被反向击穿,这是我们要防止的情况,但是有一种二极管它恰恰是利用二极管被反向击穿时的特性来工作的,这就是稳压二极管。

也就是说这种击穿是可以恢复的,是不会真正损坏二极管的。

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