XJ4810图示仪使用说明
实验一常用仪器的使用（示波器、万用表）
实验⼀常⽤仪器的使⽤（⽰波器、万⽤表）实验⼀、常⽤电⼦仪器仪表使⽤模拟电⼦技术实验中，常⽤的电⼦仪器仪表主要有双踪⽰波器、低频信号发⽣器、低频交流毫伏表、直流稳压电源、万⽤表等。
这些仪器仪表的主要⽤途以及与实验电路的联系如图所⽰。
⼀、实验⽬的初步了解常⽤电⼦仪器的功能与使⽤⽅法；掌握⽤⽰波器获取稳定波形并测量有关参数的⽅法。
2、会⽤万⽤表测试晶体⼆极管、三极管；学习使⽤半导体特性图⽰仪测试晶体管的⽅法。
⼆、实验仪器双踪⽰波器： GOS620；函数信号发⽣器：SG1651；交流毫伏表： SG2172；直流稳压电源： SS1792C；数字万⽤表： MS8222D 半导体特性图⽰仪：XJ4810或XJ4820三、实验内容及步骤1、⽤交流毫伏表测量低频信号发⽣器输出的正弦信号电压：将低频信号发⽣器（或称信号源）的输出端接⾄交流毫伏表输⼊端（注意：两仪器必须“共地”）。
将信号源波形选择置“正弦”，频率调为“ 1kHz”，输出衰减先置于“0dB”，调节“输出幅度”旋钮，使LED数字表头指⽰值V S 为 11V 左右（峰—峰值）。
然后，将毫伏表量程由最⼤档位100V逐级切换为10V档，观察该表读数，使读数为4V。
依次按下信号源“输出衰减”⾄20dB、40dB、60dB,并相应调整毫伏表量程。
分别记录毫伏表读数，结果填⼊下表：2、⽤⽰波器观察波形将⽰波器“ Y1轴输⼊”端接信号源输出端（两仪器仍必须“共地”），参照附录I.2中有关GOS620双踪⽰波器观察波形的⽅法，调节“Y1灵敏度”，“X灵敏度”及“触发⽅式，触发电平”等旋钮，使荧光屏上得到⼀稳定的正弦波。
保＝ 4V，依次改变f S为：100Hz、1kHz、10kHz、100kHz，并适当持信号源VS调整X轴扫描速度，观察所测波形。
3、⽤⽰波器测量波形的周期和幅度将频率为 1kHz、幅度为3V左右的正弦信号送⼊⽰波器输⼊端。
将⽰波器扫描开关“T/cm”上的微调旋钮置“校准”位置，此时，“T/cm”的指⽰值即为屏幕上横向每格（1cm）代表的时间，再观察被测波形⼀个周期在屏幕⽔平轴上占据的格数，即可得信号周期T wT w ＝T/cm×格数调节⽰波器 Y通道的灵敏度开关“V/cm”，使屏幕上的波形⾼度适中，此时，“V/cm”的指⽰值即为屏幕上纵向每格代表的电压值，再观察波形的⾼度（峰—峰）在屏幕纵轴上占据的格数，即可得信号幅度V （峰—峰）：V （峰—峰）＝V/cm×格数注意：被测信号若经⽰波器 10:1探头输⼊，测得的电压值再乘10，才是实际值。
晶体管特性图示仪教程详解
检查放大器增益 检查阶梯信号
阶梯信号
9.3.4 测试特性前各开关、旋钮 位置选取
由管型确定的旋钮位置 1 集电极扫描信号。“极性”开关：用来改变
扫描电源对地的极性。 2 基极阶梯信号。“极性”开关：根据被测 管的
不同类型，可以改变阶梯信号的正负极性。
与管型无关的扳键、旋钮 阶梯作用，置于重复位置；级/秒为200级/s；级/族 为
测试台 将测试选择位于中间位置，接地开关置于需要的位
9.3.5 测试前注意事项
要对被测管的主要直流参数有一个大概的了解 和估计，特别要了解被测管的集电极最大允许 耗散功率PCM、最大允许电流ICM和击穿电压 BUCEO、BUCBO、ＢUEBO。 选择好扫描和阶梯信号的极性，以适应不同管 型和测试项目的需要。 根据所测参数或被测管允许的集电极电压，选 择合适的扫描电压范围。 对被测管进行必要的估算。 在进行ICM的测试时，一般采用单簇为宜，以 免损坏被测管。
置“簇”时，通过电子开关自动地交替显示左右二簇特性曲线。 使
用时“级∕簇”应置于适当位置，以利于观察。二簇特性曲线比 较
时，请勿误用单簇按键。 零电压、零电流。被测管未测之前，应先调整阶梯信号
的起始级在零电平的位置。
按下“零电流”键时，被测半导体管的基极处于开路状态， 就能 测量ICEO特性。
(2)左右测试插座插孔：插上专用插座，可测试F1、F2型管座 的功率晶体管。
(2) Y轴增益。校正Y轴增益用。
(3)Y轴选择（电流∕度）开关。具有22挡四种 偏转作用的开关。可以进行集电极电流、基 极电压、基极电流和外接的不同转换。
(4)电流∕度×0.1倍率指示灯。灯亮仪器表示进 入电流∕度×0.1倍工作状态。
X轴部分
XJ4810型图示仪故障分析与维修三例
向 超 差 （ 正 一 负 ） ， 可参 照 解 决 偏转 因数 负 超 一 时 均 轴
差 的方 法 予 以解 决 。
例 二 ： 、 轴 偏 转 因数 同时 出现 负 超 差 ｙ
图 １ Ｘ轴 放 大 器 局 部 图
１故 障现 象 ．
此 时 的 轴 放 大 器 处 在 一 种 放 大 量 不 足 的 工 作 状 态 。据 此 情 况 ， 析 判 断放 大 器 不存 在 硬 伤 （ 器 件 损 分 元 坏 ） 而 应 是 由软 伤 （ 器 件 值 变 ） ， 元 引起 的 。 比如 轴 增
超 过± ％ ） ３ 。
２故 障 分 析 及 解 决 办 法 ．
、
ｙ 放 大 器 的 电 路 结 构 基 本 相 同 ， 时 ｙ 放 轴 此 轴
调 节 增 益 电位 器 １ １ 解 决 不 了 Ｗ 仍 轴 偏 转 因 数 超 差 问
题 时 ， 过 调节 新 接 人 的４７ Ｑ电位 器 即 可解 决 问题 。 通 ．ｋ
超差 。
解 决 方 法 一 ： Ｒ ５ 称 值 为 １ ｋ ， 更 换 一 新 精 若 ４标 ２Ｄ ，
解 决 此类 问题 的 经验 方 法 ， 参 考 。 供 例一 ： 偏 转 因数 负 超 差 轴
１故 障现 象 ．
密 电 阻 ， 图 示 仪 校 准 仪 对 图 示 仪 重 新 校 准 ， 节 增 用 调
ｈ ｐ ／ ｖ，ｃ ｉ ｊ ｏ ． ｔ ： ￣ ｈ ａ ． ｒ ｃ ｔ／ ｖ ｎ １ ｎ ｗ ｃ
１３ １
维普资讯
技术篇 Ｉ检定、 使用与调修
无 异常 ， 返 回分 别 检查 、 轴 放大 器 ， 再 ｙ 查找 故 障点 。 检
查 发 现校 准 电压 、 个 低 压 供 电 电源 数 值 正 常 ， 波 管 各 示
用晶体管特性图示仪测试晶体管主要参数
用晶体管特性图示仪测试晶体管主要参数一．实验目的掌握晶体管特性图示仪测试晶体管的特性和参数的方法。
二．实验设备（1）XJ4810晶体管特性图示仪（2）QT 2晶体管图示仪（3）3DG6A 3DJ7B 3DG4三．实验原理1．双极型晶体（以3DG4NPN 管为例）输入特性和输出特性的测试原理（1）输入特性曲线和输入电阻i R ，在共射晶体管电路中，输出交流短路时，输入电压和输入电流之比为i R ，即＝常数CE V B BEi I V R ∂∂= （1.1）它是共射晶体管输入特性曲线斜率的倒数。
例如需测3DG 4在V CE ＝10时某一作点Q 的R 值，晶体管接法如图1.1所示。
各旋扭位置为峰值电压%80% 峰值电压范围0～10V 功耗电阻50Ω X 轴作用基极电压1V/度 Y 轴作用 阶梯选择μ20A/极 级/簇10 串联电阻10K 集电极极性 正（+）把X 轴集电极电压置于1V/度，调峰值电压为10V ，然后X 轴作用扳回基极电压0.1V/度，即得CE V ＝10V 时的输入特性曲线。
这样可测得图1.2：V CE V B BEi I V R 10=∆∆= （1.2）根据测得的值计算出i R 的值图1.1晶体管接法 图1.2输入特性曲线 （2）输出特性曲线、转移特性曲线和β、FE h在共射电路中，输出交流短路时，输出电流和输入电流增量之比为共射晶体管交流电流放大系数β。
在共射电路中，输出端短路时，输出电流和输入电流之比为共射晶体管直流电流放大系数FE h 。
晶体管接法如图1.1所示。
旋扭位置如下：峰值电压范围10V 峰值电压%80% 功耗电阻250Ω X 轴集电极电压1V/度 Y 轴集电极电流2mA/度 阶梯选择μ20A/度 集电极极性 正（+）得到图1.3所示共射晶体管输出特性曲线，由输出特性曲线上读出V V CE 5=时第2、4、6三根曲线对应的C I ，B I 计算出交流放大系数BC I I ∆∆=β （1.3） FE h >β主要是因为基区表面复合等原因导致小电流β较小造成的，β、FE h 也可用共射晶体管的转移特性（图1.4）进行测量只要将上述的X 轴作用开关拨到“基极电流或基极源电压”即得到共射晶体管的转移特性。
扫频仪与晶体管特性图示仪分析
¡ 宽带检 波
¡ 扫频输 出
图6—2 扫频测量法测量幅频特性曲线原理框图
6.1.2 扫频仪常用的基本概念及分类
· 1．常用的基本概念 1 扫频宽度 扫频所覆盖的频率范围内最高频率 与最低频率之差。 2 中心频率 位于显示频谱宽度中心的频率。 3 频偏 调频波中的瞬时频率与中心频率的差。 4 调制非线性 指在屏幕显示平面内产生的频率 线性误差，表现为扫描信号的频率分布不均匀。
· 6.2.2 使用方法 BT3型频率特性测试仪的面板图如图6—7所示。
图6-7 BT3型频率特性测试仪的面板图
· (1)“电源、辉度”：电源开关及波形亮度调节旋钮。 · (2)“聚焦”：波形清晰度的调节旋钮。 · (3)“标尺亮度”：坐标刻度的亮度调节旋钮。 · (4)“鉴频”：置于“＋”时，荧光屏上显示正方向的幅频特性；置于“－”时， 显示负方向的幅频特性。 · (5)“Y轴位置”：波形作上下移动调节旋钮。 · (6)“Y轴衰减”：分1、10、100三档，与“Y轴增益”旋钮配合使用，对波形幅 度进行调节。 · (7)“Y轴增益”：波形幅度的调节旋钮。 · (8)“Y轴输入”：输入从被测电路取出的检测信号。 · (9) “频标选择”：分1MHz，10MHz和“外接”三档。观测低频信号时，用1MHz 频标，观测高频信号时，用10MHz频标，若均不适用，则可以采用外接频标。 · (10) “频标幅度”：频标信号的幅度调节旋钮。 · (11)“外接频标输入”：外部频标信号的输入端，与其配合，“频标选择”旋钮 须打到“外接”档。 · (12)“扫频电压输出”：扫频信号的输出端，可接输出探头。 · (13) “波段”：与“中心频率”旋钮配合使用，扫寻被测波形。 · (14)“中心频率”：与“波段”旋钮配合使用，扫寻被测波形。 · (15)“输出衰减”：输出扫频信号电压的幅度调节旋钮。 · (16)“频率偏移”：波形宽度调节旋钮。
10_项目十_晶体管特性图示仪
第二任务 晶体管特性图示仪的使用
• 10）聚焦：调节旋钮使观点最清晰。 • （11）荧光屏；示波管屏幕，外有坐标刻度盘。 • （12）辅助聚焦：与聚焦钮配合使用，使光点最清晰。 • （13）Y轴选择（电流/度）开关：具有22挡四种偏转作用的开关。可以进行
集电极电流、基极电压、基极电流和外接的不同转换。 • （14）电流/度×0.1倍率指示灯：灯亮时，仪器进入电流/度0.1倍工作状态 • （15）垂直位移及电流/度倍率开关：调节迹线在垂直方向上的位移。旋钮拉
校正的目的。
第二任务 晶体管特性图示仪的使用
• （19）X轴位移：调节迹线在水平方向上的位移。 • （20）X轴选择（电压/度）开关：可以进行集电极电压、基极电流、
基极电压和外接四种功能的转换，共17挡。 • （21）级/簇调节：在0～10的范围内可连续调节阶梯信号的级数。 • （22）调零调节：测试前应先调整阶梯信号的起始及零电平的位置。
• 二、 晶体管特性图示仪的工作原理
•
要在一个坐标系中显示出晶体管的特性曲线，必须测出
两个参数，虽然不同的特性曲线的参数不同，但其基本原理
是相同的。下面以测量三极管的共发射极电路的输出特性曲
线为例进行介绍。
•
三极管的共发射极电路的输出特性曲线是表示晶体管集
-射间的电压Uce变化时，集电极电流Ic如何随之变化的曲线
获得，电压每秒钟脉动100次，电压每脉动一次可以做一
次来回的两次扫描，则每秒钟就可作200次扫描，图线基
本做到亮度平稳而不闪烁。如图10-1所示
• 图10-1 工频电压经全波整流后的波形图
•
在晶体管Uce的作用下，集电极电流Ic将随之发生变
化，其大小可通接在集电极上的电阻进行调节。
半导体管特性图示仪的使用和晶体管参数测量
半导体管特性图示仪的使用和晶体管参数测量一、实验目的1、了解半导体特性图示仪的基本原理2、学习使用半导体特性图示仪测量晶体管的特性曲线和参数。
二、预习要求1、阅读本实验的实验原理，了解半导体图示仪的工作原理以及XJ4810 型半导体管图示仪的各旋钮作用。
2、复习晶体二极管、三极管主要参数的定义。
三、实验原理（一）半导体特性图示仪的基本工作原理任何一个半导体器件，使用前均应了解其性能，对于晶体三极管，只要知道其输入、输出特性曲线，就不难由曲线求出它的一系列参数，如输入、输出电阻、电流放大倍、漏电流、饱和电压、反向击穿电压等。
但如何得到这两组曲线呢？最早是利用图4-1 的伏安法对晶体管进行逐点测试，而后描出曲线，逐点测试法不仅既费时又费力，而而且所得数据不能全面反映被测管的特性，在实际中，广泛采用半导体特性图示仪测量的晶体管输入、输出特性曲线。
图4-1 逐点法测试共射特性曲线的原理线路用半导体特性图示仪测量晶体管的特性曲线和各种直流参量的基本原理是用图4-2（a）中幅度随时间周期性连续变化的扫描电压UCS代替逐点法中的可调电压EC，用图4-2（b）所示的和扫描电压UCS的周期想对应的阶梯电流iB来代替逐点法中可以逐点改变基极电流的可变电压EB，将晶体管的特性曲线直接显示在示波管的荧光屏上，这样一来，荧光屏上光点位置的坐标便代替了逐点法中电压表和电流表的读数。
1、共射输出特性曲线的显示原理当显示如图4-3 所示的NPN 型晶体管共发射极输出特性曲线时，图示仪内部和被测晶体管之间的连接方式如图4-4 所示. T是被测晶体管,基极接的是阶梯波信号源,由它产生基极阶梯电流ib 集电极扫描电压UCS直接加到示波器(图示仪中相当于示波器的部分,以下同)的X轴输入端,,经X轴放大器放大到示波管水平偏转板上集电极电流ic经取样电阻R得到与ic成正比的电压,UR=ic,R加到示波器的Y轴输入端,经Y轴放大器放大加到垂直偏转板上.子束的偏转角与偏转板上所加电压的大小成正比,所以荧光屏光点水平方向移动距离代表ic的大小,也就是说,荧光屏平面被模拟成了uce-ic 平面.图4-4 输出特性曲线显示电路输出特性曲线的显示过程如图4-5 所示当t=0 时, iB =0 ic=0 UCE =0 两对偏转板上的电压均为零,设此时荧光屏上光点的位置为坐标原点。
XJ4810图示仪使用说明.pdf
文档简介晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础，以半导体器件为测量对象的电子仪器。
用它可以测试晶体三极管（NPN型和PNP型）的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性；测试各种反向饱和电流和击穿电压，还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。
下面以XJ4810型晶体特性图示仪为例介绍晶体管图示仪的使用方法。
图A-23XJ4810型半导体管特性图示仪7.1XJ4810型晶体管特性图示仪面板功能介绍XJ4810型晶体管特性图示仪面板如图A-23所示：1.集电极电源极性按钮，极性可按面板指示选择。
2.集电极峰值电压保险丝：1.5A。
3.峰值电压%：峰值电压可在0～10V、0～50V、0～100V、0～500V之连续可调，面板上的标称值是近似值，参考用。
4.功耗限制电阻：它是串联在被测管的集电极电路中，限制超过功耗，亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。
5.峰值电压范围：分0～10V/5A、0～50V/1A、0～100V/0.5A、0～500V/0.1A四挡。
当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时，须先将峰值电压调到零值，换挡后再按需要的电压逐渐增加，否则容易击穿被测晶体管。
AC挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描，以便能同时显示器件正反向的特性曲线。
6.电容平衡：由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容，都将形成电容性电流，因而在电流取样电阻上产生电压降，造成测量误差。
为了尽量减小电容性电流，测试前应调节电容平衡，使容性电流减至最小。
7.辅助电容平衡：是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称，而再次进行电容平衡调节。
8.电源开关及辉度调节：旋钮拉出，接通仪器电源，旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。
9.电源指示：接通电源时灯亮。
10.聚焦旋钮：调节旋钮可使光迹最清晰。
11.荧光屏幕：示波管屏幕，外有座标刻度片。
12.辅助聚焦：与聚焦旋钮配合使用。
13.Y轴选择（电流/度）开关：具有22挡四种偏转作用的开关。
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3.7 XJ4810半导体管特性图示仪概述：XJ4810型半导体管特性图示仪，是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并可测量其静态参数的测试仪器。
本仪器主要由下列几个部分组成：Y轴放大器及X轴放大器；阶梯信号发生器；集电极扫描发生器；主电源及高压电源部分。
本仪器是继JT－l型晶体管特性图示仪后的开发产品。
它继承JT－l的优点，并有了较大的改进与提高，与其它半导体管特性图示仪相比，具有以下特点：1．本仪器采用全晶体管化电路、体积小、重量轻、携带方便。
2．增设集电极双向扫描电路及装置，能同时观察二级管的正反向输出特性曲线、简化测试手续。
3．配有双簇曲线显示电路，对于中小功率晶体管各种参数的配对，尤为方便。
4．本仪器专为工作于小电流超β晶体管测试提供测试条件，最小阶梯电流可达0.2μA／级。
5．本仪器还专为测试二级管的反向漏电流采取了适当的措施，使测试的反向电流I R 达20nA／div 。
6．本仪器配上扩展装置—XJ27100“场效应管配对测试台”可对国内外各种场效应对管和单管进行比较测试。
7．本仪器配上扩展装置—XJ27101“数字集成电路电压传输特性测试台”，可测试COMS，TTL数字集成电路的电压传输特性。
XJ4810型半导体管特性图示仪，功能操作方便，它对于从事半导体管机理的研究及半导体在无线电领域的应用，是一个必不可少的测试工具。
一、主要技术指标（l）Y轴编转因数：集电极电流范围：10μA∕div～500毫安／div，分15档，误差≤±3％；二极管反向漏电流：0.2μA∕div～5μA∕div分5档2μA∕div～5μA∕div 误差不超过±3%基极电流或基极源电压：0.05V／div，误差≤±3％；外接输入：0.1V／div，误差≤±3％；偏转倍率：×0.1 误差不超过±（10%±10nA）（2）X轴偏转因数：集电极电压范围：0.05～50V∕div，分10档，误差≤±3％；基极电压范围：0.05～1V∕div，分5档，误差≤±3％；基极电流或基极源电压：0.05V∕div，误差≤±3％；外接输入：0.05V∕div，误差≤±3％。
（3）基极阶梯信号：阶梯电流范围：0.2μA～50mA∕级，分17档, 误差≤±7％．；阶梯电压范围：0.05～1V ／级，分5档，误差≤±5％； 串联电阻：0、10K Ω、1M Ω，分 3档； 每族级数：1～10连续可变； 每秒级数：200；极性：正、负 分2档。
（4）集电极扫描信号：表3.7.1功耗限制电阻：0～500K Ω，分11档，误差≤±10％； （5）电源：交流 220V ±10％，50Hz ±20Hz 。
视在功率：非测试状态时 约50V A ，最大功率 约80V A 二、仪器原理框图和工作原理XJ4810型半导体管特性图示仪由以下几部分组成：1．阶梯信号发生器。
2．X 轴、Y 轴放大器。
3．集电极电源。
4．二簇电子开关。
5．低压电源供给。
6．高频高压电源及示波管控制电路。
1． 仪器原理框图如图3.7.1所示。
图中虚线框中“测试台”上插有两个被测三极管，由电子开关将基极阶梯信号轮流送给两个管子，可同时观察其特性曲线。
如果只测一个管，可选左簇或右簇，基极阶梯信号不经过电子开关，直接送入被测管的基极。
下面以使用本仪器测试“晶体二极管伏安特性”和“晶体三极管输出特性”为例，介绍仪器的工作原理。
2． 二极管伏安特性的测试原理电流∕度移位X轴作用控制单元Y轴作用控制单元'.图3.7.1 XJ4810型半导体管特性图示仪原理框图流过二极管的电流I 与二极管两端电压U 的函数关系称为“二极管伏安特性”。
本仪器通过显示“伏安特性曲线”来定量显示被测二极管的“伏安特性”。
由图3.7.2（a ）二极管伏安特性曲线（正向区）可知，当我们将二极管两端的电压U 由0逐渐增大时，二极管中的电流I 会按照“二极管方程”的规律逐渐增大。
二极管方程：)1e(I I TU US -= 式中：在环境温度为300K 时，U T ≈26mV 。
将这一过程重复进行称为“电压扫描”。
扫描的原点可根据特性曲线所在的象限用本仪器“X 轴作用”和“Y 轴作用”的“移位”旋钮调整在示波器屏幕的左下角或右上角。
当测量二极管正向特性曲线时，由于曲线位于第一象限，所以应将原点调整至屏幕左下角。
（而反向特性曲线位于第三象限，应将原点调整至右上角，并将扫描电压极性选择为“－”。
）二极管两端的电压U 的值经“X 轴放大器”放大后，控制示波器光点在X 轴方向的运动。
当电压由0逐渐增大时，光点从最左边的原点处向右水平移动，光迹的长度与电压值成正比。
同时，用流过二极管的电流I 的值（需变换成电压）经“Y 轴放大器”放大后，来控制示波器光点在Y 轴方向的运动。
当电流由0 逐渐增大时，光点由最下边的原点处向上垂直运动，光迹的长度与电流成正比。
两者的共同作用就会使示波器的光点在在屏面上显示出二极管的伏安特性曲线，并可根据示波管上的刻度定量读出电压、电流的数据。
测试二极管伏安特性曲线时，仪器工作原理如图3.7.2（b ）所示。
（1）将“测试选择”的按键全部凸出（关），被测二极管插入测试台左侧“E ”和“C ”插孔中，这时二极管没有加电；当其它选项调节好后，再将“测试选择”的“左”按下，进行加电测量。
（2）测试二极管时，基极“阶梯信号”不起作用。
加在被测二极管上的电压由“集电极扫描信号”单元提供。
“集电极扫描信号”单元输出的是频率为100Hz 的脉动直流电压，波形如( a )图3.7.2 二极管特性曲线测试原理的正电压或 的负电压，由“极性”旋钮控制，可选“＋”或“－”；电压的峰值由“峰值电压范围”选择，可选“0～10伏”或“0～100伏”，再由“峰值电压”旋钮细调，可产生上述范围之间的任意值。
注意：测量半导体器件一般选择“0～20”，而“0～200”用来测试器件的反向击穿电压。
“功耗限制电阻”串连在电路中起保护作用，避免过大电流流过被测管。
测量二极管时，调节XJ4810的“集电极扫描单元”的控制旋钮，使“极性”为“＋”，“峰值电压范围”为“0～10V ”，“峰值电压”先旋为“0”，正式测量时加大到所需值。
“功耗限制电阻”在测量大电流二极管时可选几Ω或几十Ω，小电流管可选几十Ω至几K Ω。
（3）“X 轴作用”用来选择X 轴放大器的测量对象和X 轴放大器放大倍数，当扳至“集电极电压”0.1“伏∕度”时，输入的测量对象是测试台“C ”、“E ”之间的电压——即二极管两端的电压值U ，X 轴方向每格代表0.1伏。
（4）“Y 轴作用”用来选择Y 轴放大器的测量对象和Y 轴放大器的放大倍数，当扳至“集电极电流”1“毫安∕度”，输入的测量对象是“电流采样电阻”两端的电压值——与流过二极管的电流值对应，Y 轴方向每格代表1毫安。
“电流采样电阻”的作用是将集电极电流I 转换为示波器所需的电压值。
（5）如上所述设置好测量条件后，将测试台的“测试选择”开关扳向“晶体管A ”侧，并将峰值电压由0逐渐加大，便可观测到二极管的伏安特性曲线的正向区；如果要观察二极管的反向区曲线，可将二极管反插或将“集电极扫描信号”的“极性”扳向“－”。
3． 三极管输出特性测量用图3.7.3（b ）所示的“三极管输出特性曲线”可描述出三极管的集电极输出特性。
由三极管的输出特性曲线可以测得三极管的电流放大倍数β、饱和压降U CES 、集电极输出电阻r ce 和集电极击穿电压BV CE0 ，因此是十分有用的。
在测试三极管输出特性时，首先要保持被测三极管的基极电流I B 为某个固定不变的值图3.7.3 基极阶梯信号与集电极扫描电压工作原理10μA∕级基极阶梯电流集电极扫描电压每周期2次集电极扫描0～10VIcV'IB 1IB 2IB 3IB 4IB 5IB 6IB 7abcdeIB 0aaaaabcdeY轴作用 mA∕divX轴作用 V∕div(a)(b)（例如20μA ），以集电极电压U CE 作为变量，从0逐渐增大，逐点记录集电极电流I C 的值，绘出U CE 和I C 关系曲线，得到在此I B 条件下（本例I B =20μA ）的一条输出特性曲线；然后，改变I B 的值，重复以上的操作可绘出另一I B 条件下的输出特性曲线。
由于U CE —I C 曲线是以I B 为条件绘出的，所以I B 被称为“参变量”。
在本仪器中，上述测量步骤是连续、重复进行的，输入基极的电流I B 是一种阶梯形扫描电流，波形如图3.7.3（a ）所示，由0开始，以某个固定值（由“基极阶梯信号”设定，例如10μA ，仪器标志为：“0.01mA ∕级”）逐级增大，图中每族曲线为8级。
以每一级I B 为参变量绘一条输出特性曲线（对应每级I B ，集电极电压扫描一次），这样将会得到以I B 为“参变量”的输出特性曲线族（实际上所谓的“输出特性曲线”都是指输出特性曲线族）。
将集电极电压U CE 输入X 轴放大器放大后，控制示波管的水平扫描；将集电极电流I C 经取样电阻变换为电压后，送Y 轴放大器，控制示波管的垂直扫描，便可在示波管屏面上产生“输出特性曲线”。
根据示波管屏面的方格，可以定量测得三极管的有关参数。
上述集电极电压V CE 变化的过程过程可以表示为：c a 'b b a 2B 1B 0B 0B I I I I −→−−→−−→−−→− 。
箭头上是I B 值。
在I B ＝I B0时，集电极电压V CE 由0升高，控制示波器光点在示波器屏面上绘出一条曲线；当VCE 升高至b 时，IB 增加一级，变为I B1，V CE 开始下降，在屏面上绘出I B ＝I B1的曲线；当V CE 降至0时，I B 再增大一级，V CE 又开始升高至c 点，绘出第3条曲线，……依此类推，绘完8条曲线后，I B 降至0，并重复上述过程。
用XJ4810测试晶体管输出特性曲线时，工作原理见图3.7.1 。
（1）“测试选择”按钮全部凸出，位于“关”，平时将被测三极管插入测试台左边插座，三极管的管脚要插正确，如果要比较两个管子的特性曲线，可在左右插座各插入一个管子。
以下为设置测试条件，根据测试要求设置。
（2）“集电极扫描信号”： “峰值电压范围”选“0～10V ”； “极性”选“＋”；“功耗限制电阻”位于“500”；“峰值电压”位于0，测试时，再逐渐加大至所需值。
（3）“基极阶梯信号”： “极性”选“＋”； “阶梯作用”选“重复”； “级∕秒”选“200”；“阶梯选择”的“mA ∕级”选0.01（即输出为阶梯电流，每级阶梯为10μA ）； “级∕族”用来设置一族曲线的条数，即阶梯电流的级数，一般可根据显示的稳定情况，选4～10级，级数较大会造成显示闪动，观察不方便。