原子力显微镜操作规程及注意事项

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原子力显微镜操作指南说明书

原子力显微镜操作指南说明书

原子力显微镜操作指南说明书一、引言原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)是一种常用的纳米级表面形貌分析仪器,可以帮助研究人员观察和测量材料表面的原子尺度形貌和力学性质。

本操作指南旨在为用户提供一份详细的操作说明,以确保正确高效地使用原子力显微镜。

二、仪器准备1. 确保原子力显微镜在使用前已经安装并固定好,且所需元器件已经连接好。

2. 将显微镜放置在平稳的工作台上,并使用水平仪进行调平。

3. 确保显微镜及其附件的电源已连接,并确保电源的稳定供应。

三、样品制备1. 选择适当的样品进行测试,并确保样品表面光洁、干净。

2. 若样品表面有杂质或污染物,可使用丙酮或乙醇等有机溶剂进行清洗,并在清洗后使用氮气吹干样品。

3. 使用相应工具将样品固定在样品台上,并确保样品尽量水平。

四、仪器校准1. 打开计算机,启动原子力显微镜控制软件。

2. 点击校准选项,进行谐振频率的校准,校准完成后点击保存。

3. 在校准选项中,进行扫描范围的设定和校正,确保扫描范围符合实际需求。

4. 根据实际需求选择扫描速率,并进行相应的校准。

五、观察模式选择1. 根据实验目的和样品类型,选择适当的观察模式,如接触式、非接触式或是磁力场模式等。

2. 在控制软件中进行相应模式的选择和设定,并进行相关参数的校准。

六、样品加载1. 将样品台上的样品放置在显微镜的扫描区域内,并确保样品与扫描探针之间有适当的距离。

2. 使用显微镜控制软件调整样品位置,使样品处于扫描范围的中心位置。

七、扫描设置1. 在控制软件中进行扫描参数的设定,如扫描速度、扫描区域和像素等。

2. 根据实际需要进行微调,以获得更清晰、准确的扫描图像。

八、开始扫描1. 点击显微镜控制软件中的开始扫描按钮,观察并记录扫描过程中的图像。

2. 如果需要连续扫描多个区域,可设定好相应参数后连续进行扫描。

九、数据处理1. 扫描完成后,将数据从控制软件中导出,并进行必要的数据处理和分析。

原子力显微镜的使用与维护

原子力显微镜的使用与维护

原子力显微镜的使用与维护简介:原子力显微镜(Atomic Force Microscope,简称AFM)是一种使用原子力来测量物体表面形态和力的高分辨率显微镜。

它的应用涉及到许多领域,如材料科学、纳米技术和生物医学等。

在本文中,我们将着重介绍原子力显微镜的使用和维护。

一、原子力显微镜的使用1. 样品准备在使用原子力显微镜之前,首先需要准备样品。

样品表面应该光洁、干净,并且符合实验要求。

对于生物医学领域的样品,还需要进行特殊的处理,以保持样品的生物活性。

2. 定位与扫描将样品放置在显微镜的扫描台上,并使用显微镜的定位功能找到感兴趣的区域。

然后,设置扫描参数,例如扫描速度和扫描距离,以便获取高质量的扫描图像。

3. 图像获取与分析通过控制扫描的针尖来测量样品表面的拓扑特征。

原子力显微镜使用一个非接触的探针来扫描样品表面,通过测量探针与样品之间的相互作用力,可以获得样品表面的形态信息。

收集到的数据可以通过图像处理软件进行图像修复和分析,以获得更详细的信息。

二、原子力显微镜的维护1. 保持清洁保持原子力显微镜的干净是保持其正常运行的关键。

使用前要注意清洁装置的内部和外部部件,尤其是探针和扫描台。

定期清洁探针和扫描台以去除灰尘或其他杂质,并确保使用清洁的溶剂和工具进行清洁。

2. 定期校准定期校准原子力显微镜是确保其准确性和稳定性的重要步骤。

校准包括校准扫描台的运动和探针的敏感度。

通过定期校准,可以保证获得准确可靠的扫描结果。

3. 控制环境条件原子力显微镜对环境条件非常敏感,尤其是温度和湿度。

确保显微镜工作的环境温度和湿度在合理范围内,并避免温度和湿度的突然变化,以免影响结果的准确性和重复性。

4. 定期维护定期维护原子力显微镜是确保其长期稳定性和可靠性的必要步骤。

维护包括检查和更换易损件,如探针和扫描台,并进行润滑和调整。

同时,还要定期对显微镜进行全面检查,以确保其正常工作和延长使用寿命。

结论:原子力显微镜是一种非常强大的工具,可以提供高分辨率的表面形态和力的信息。

原子力显微镜维修张安全操作及保养规程

原子力显微镜维修张安全操作及保养规程

原子力显微镜维修张安全操作及保养规程1. 引言原子力显微镜(Atomic Force Microscope,简称AFM)是一种高分辨率的显微镜,其主要原理是通过探针扫描样品表面,测量出样品表面的微观拓扑结构。

为了保证原子力显微镜的稳定性和寿命,需要正确地进行操作和定期进行保养。

本文档将介绍原子力显微镜的维修张安全操作及保养规程。

2. 安全操作规程为了保证操作人员的安全和设备的正常运行,需遵守以下安全操作规程:2.1 穿戴个人防护装备在操作原子力显微镜时,操作人员应穿戴适当的个人防护装备,包括实验室衣物、手套和护目镜。

这些防护装备能有效减少安全事故的发生。

2.2 禁止触摸探针在操作过程中,严禁触摸原子力显微镜的探针,因为探针很容易受到损坏。

操作人员在更换探针时,应采取谨慎且准确的动作,避免对设备造成任何损害。

2.3 注意设备平衡在移动原子力显微镜时,要保持设备的平衡,并注意避免与设备碰撞或挤压。

不当的操作可能导致设备的损坏,甚至对操作人员造成安全隐患。

2.4 避免超负荷使用原子力显微镜在工作时需要耗费大量能量,过度使用设备可能造成设备过热以及其他不良后果。

操作人员应遵守设备的使用寿命和负荷限制,避免超负荷使用。

2.5 维修操作由专业人员进行如果原子力显微镜发生故障或需要进行维修,应该由专业人员进行维修操作。

未经授权的人员对设备进行维修可能导致设备损坏,且可能对操作人员的安全构成威胁。

3. 保养规程定期进行设备保养可以延长原子力显微镜的使用寿命,并保障其稳定性和性能:3.1 清洁设备表面定期清洁原子力显微镜的设备表面,可以有效去除灰尘和污垢,保持设备的正常运行。

使用软布轻轻擦拭设备表面,注意避免使用带有酸性或碱性的清洁剂,以免对设备表面造成损害。

3.2 定期校准设备定期校准原子力显微镜的参数是保障设备精度和准确性的重要步骤。

校准设备可通过专业团队或仪器生产商进行,确保设备的性能始终处于最佳状态。

3.3 保持恰当的环境条件原子力显微镜对环境条件非常敏感,因此要保持适宜的温度和湿度。

原子力显微镜操作详细流程

原子力显微镜操作详细流程

原子力显微镜操作简要说明一、设备开机1、打开原子力显微镜主机电源(在光学平台下方)。

2、开启电脑、运行软件(软件10,如有问题可换9重新运行)。

3、在软件界面点击 SPM init 进行设备初始化,如显示SPM OK可继续操作,如不显示SPM OK重启软件。

4、点open door开操作门,点灯泡按钮照亮。

二、样品准备1、将表面洁净样品使用专用双面胶粘贴至设备配备的圆形载物片上(最好两个台子一起使用,以便旋转样品)。

2、通过检测组件上的按钮或者软件点open door开启样品室舱门,点灯泡按钮照亮,点击软件界面上的AFM-STM退针钮使显微镜探头缩回。

3、使用专用镊子将样品连同载物片放入磁性样品台上,小心调整样品区域之中间。

小心不要碰触探头、激光源等。

4、点击软件界面的AFM-STM使探头移回。

关闭舱门。

三、操作程序1、运行软件的camera功能,点击绿色的play键。

运行approach,点击蓝色step move,将样品降低到安全距离。

2、运行软件的aiming功能,点击tools-motors-video calibration-右下角specify laser step 1-Alt+左键-确定-手动Alt+左键点击红十字中心,使激光与十字匹配。

3、运行AFM钮,使针头伸出。

点击Shift+左键点击针悬臂梁的中间或偏上三分之一处,点击move laser使激光移动到点击位置,然后用Laser X和Y将Laser 调到最大,点击Aiming,使DFL、LF为0。

4、运行软件的Resonance功能,选择semicontact模式,在probes里选择对应针尖,点击Auto,调节探针悬臂的共振频率。

如产生共振,调节Gain和lockgain 的大小(保证其乘积大小不变),确定setpoint为典型值Mag的一半,Gain0.5-1之间。

5、运行landing,观察way值变化。

6、运行软件的Approach功能,自动完成下针。

原子力显微镜使用方法说明书

原子力显微镜使用方法说明书

原子力显微镜使用方法说明书1. 简介原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)是一种高分辨率的显微镜,能够对样品的表面进行原子级别的观测和测量。

本使用方法说明书旨在介绍如何正确操作和使用原子力显微镜。

2. 仪器准备2.1 检查设备在开始使用前,确保原子力显微镜设备完好无损,各个零部件安装正确。

检查扫描头、探针和样品台是否干净,并进行清洁和调整。

2.2 加载样品将需要观测的样品谨慎地加载到样品台上,并确保样品与扫描头之间的距离足够近,但不会产生碰撞。

确保样品安全固定在样品台上,以避免移动或震动。

3. 系统设置3.1 探针选择根据要观察的样品特性和实验需求选择合适的探针。

考虑到扫描精度和高度检测的要求,选择合适的探针材料和形状。

3.2 环境条件在使用原子力显微镜前,确保实验室环境稳定,并且温度、湿度等参数调整到适宜范围。

避免有干扰源或电磁辐射干扰的情况下进行观测。

4. 扫描模式选择根据实验需求选择合适的扫描模式。

一般常用的模式包括接触模式、非接触模式、谐振模式以及磁力模式等。

根据样品表面的性质和实验目的选择最合适的模式。

5. 参数设置5.1 扫描速度根据实验要求确定扫描速度,较高的扫描速度可节省观测时间,但可能会降低图像质量,较低的扫描速度则可提高图像清晰度。

5.2 扫描范围设置扫描范围以确保所需观测区域能够完整显示于图像中。

根据样品的尺寸和形状合理设置扫描区域,以获取全貌和细节。

5.3 扫描力/力常数探测器与样品之间的相互作用力是通过扫描力的设置来控制的。

根据样品的硬度和表面特性选择适当的扫描力或力常数,以确保扫描过程中不会损坏样品。

6. 调整和校准在正式观测前,进行系统的调整和校准是必要的。

对扫描头进行纵向和横向的校准,以确保扫描结果的准确性和可靠性。

7. 开始扫描完成上述准备工作后,可以开始进行实际的扫描。

根据实验目的和方法设置合适的扫描参数,并开始扫描。

8. 数据分析和图像处理获取到的原子力显微镜图像可能需要进行后续的数据分析和图像处理。

原子力显微镜的使用教程

原子力显微镜的使用教程

原子力显微镜的使用教程引言:原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)是一种重要的纳米级三维表面成像工具,它利用原子尺度的力相互作用实现高分辨率成像。

本篇文章将为大家介绍原子力显微镜的使用教程,帮助读者快速了解原子力显微镜的操作和常见问题解决方法。

一、仪器准备在使用原子力显微镜之前,需要确保所有必要的仪器和材料准备就绪。

主要包括原子力显微镜主机、扫描探针、样品架、样品夹以及晶圆培养皿等。

二、仪器设置1. 将原子力显微镜主机连接到电源,并确认所有电源和信号线连接正确。

2. 将样品架安装到仪器上,并将样品夹固定在样品架上。

3. 设置探针的扫描参数,包括扫描范围、扫描速度和预设扫描力等。

这些参数应根据具体实验要求来确定。

三、样品处理与装载在进行显微镜观察之前,需要对样品进行适当的处理和装载。

1. 清洁样品:使用气体轻轻吹扫样品表面,去除尘埃和杂质。

2. 固定样品:将样品夹放在样品架上,轻轻夹紧,确保样品稳定。

四、获取显微图像1. 打开显微镜软件,并进行初始化操作。

2. 调整扫描参数:根据样品的特性和观察需求,选择合适的扫描范围、扫描速度和预设扫描力。

3. 放下探针:使用显微镜软件控制系统将探针放下,与样品表面接触。

4. 开始扫描:点击软件界面上的“开始扫描”按钮,仪器将开始进行扫描操作。

5. 观察图像:实时监视软件界面上的图像变化,同时可以调整放大倍率来获取更详细的图像。

五、数据分析与后处理获取到原子力显微镜图像后,可以对图像进行进一步的分析和处理。

1. 表面形貌分析:使用相关软件进行表面形貌分析,包括表面粗糙度、颗粒分布和物理特性等。

2. 线性测量:对有关物体的特定线性距离或物理参数进行测量和分析。

3. 三维重建:根据图像数据进行三维重建,获取更全面的样品形貌信息。

六、常见问题解决方法1. 探针断裂:重新更换探针并校准扫描参数。

2. 仪器无法启动:检查电源和连接是否正常,并重新启动仪器。

原子力显微镜使用手册

原子力显微镜使用手册

原子力显微镜使用手册原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)是一种先进的显微镜技术,它利用扫描探针从样本表面获取原子级别的拓扑及力学性质信息。

本文将为您提供AFM的使用手册,以便您了解如何正确操作和维护这种仪器。

一、仪器介绍1.仪器结构:AFM主要组成部分包括扫描探针、扫描系统、光学系统、力学反馈控制系统和数据处理系统。

2.工作原理:AFM利用探针在样本表面扫描,通过检测探针和样本之间的相互作用力变化,绘制出样本表面的拓扑图像。

二、仪器操作1.准备工作:打开实验室门窗,确保仪器处于稳定的环境温度和湿度。

2.打开电源:根据仪器型号,打开相应的电源供应器并根据标示连接仪器主机和扫描系统。

3.样本准备:将需要观察的样本固定在样品台上,并调整样品台的位置,使其与扫描探针平行。

4.定位扫描探针:使用显微镜确定扫描探针的位置,然后将其缓慢靠近样本表面,避免碰撞。

5.扫描参数设置:在控制软件中设置扫描参数,包括扫描速度、扫描范围、扫描线数等。

根据样本特点,选择合适的参数。

6.进行扫描:点击控制软件上的扫描按钮,开始进行扫描。

观察实时的拓扑图像,并根据需要进行调整。

7.数据分析:获取扫描数据后,可以使用分析软件对数据进行处理和分析,例如提取高度和力学信息等。

三、仪器维护1.样品台清洁:使用干净的纯净水擦拭样品台,注意不要弄脏或刮伤样品台表面。

2.探针更换:当扫描质量降低或者扫描出现异常时,建议更换探针。

更换探针时要小心,避免碰撞和损坏。

3.扫描系统校准:定期进行扫描系统的校准,保证扫描信号的准确性和可靠性。

4.清洁光学系统:使用专用的镜头纸和清洁剂轻轻擦拭光学系统,注意不要碰到镜头表面。

5.定期维护:根据仪器的维护手册,进行定期的维护和保养,保证仪器的正常运行。

四、安全注意事项1.仪器运行时,不要将手指或其他物体靠近样品台或探针,以免发生意外伤害。

2.严禁在没有操作经验或无监督的情况下使用AFM。

物理实验技术中的原子力显微镜的使用方法及数据处理技巧

物理实验技术中的原子力显微镜的使用方法及数据处理技巧

物理实验技术中的原子力显微镜的使用方法及数据处理技巧原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)是一种基于力的显微镜。

它通过扫描样品表面,利用一根非常细的探针来测量表面的力变化,从而得到样品的表面形貌和物理性质。

原子力显微镜是现代物理实验技术中的一项重要工具,具有高分辨率、非破坏性、可在不同环境下工作等优点。

本文将介绍原子力显微镜的使用方法及一些常用的数据处理技巧。

首先,使用原子力显微镜需要注意一些基本操作步骤。

首先,将样品固定在一个样品台上,并放置在显微镜的扫描范围内。

然后,调整探针的位置,使其与样品表面接近但不接触。

在扫描过程中,可以通过监控仪器上的图像来调整探针的高度,以保持适当的力作用于样品表面。

同时,还需根据样品的性质和实验需求,选择适当的扫描模式(例如接触模式、非接触模式等)和参数(如扫描速度、力常数等)。

在实际使用中,需要注意一些常见的影响因素。

首先是热漂移问题,即由于温度变化引起的样品或仪器的位置漂移。

为了解决这个问题,可以在实验前预热样品和仪器,并在实验过程中定期检查样品和探针的位置。

其次是机械振动影响,在扫描过程中,外界的机械振动如空调、水流等都会对测量结果产生干扰。

为了减小振动干扰,可以在实验室环境中采取一些隔振措施,如使用光学隔离台或减小扫描速度等。

在得到原子力显微镜的扫描图像后,我们需要对数据进行处理和分析。

其中最基本的就是对扫描图像进行平均滤波。

由于实验过程中可能存在噪声的干扰,对原始图像进行平均滤波可以降低噪声的影响,得到更平滑的图像。

此外,还可以使用像素修复技术来提高图像的质量,如空间滤波和频域滤波等方法。

对于得到的表面形貌数据,我们可以进行一些更进一步的分析。

常用的方法包括原子分辨率的计算、表面粗糙度的评估以及表面形貌的线性和非线性拟合等。

原子分辨率是指在扫描图像中能够分辨出的最小特征的大小,通过测量相邻特征的间距来计算。

表面粗糙度是指样品表面的不均匀性程度,可以利用均方根(Root Mean Square, RMS)计算。

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原子力显微镜操作规程及注意事项
※※原子力显微镜属于精密且贵重大型实验仪器,操作需倍加小心※※一.开机及实验主要操作步骤:
1. 打开总电源开关。

2. 打开计算机主机以及显示器电源开关。

3. 打开控制机箱电源开关,见右图。

4. 打开HEB(Head Electronics Box)的激光开光,见下图。

5. 打开MAC Mode或AC Mode Controller电源开关,见下图。

6. 打开PicoView或者Picoscan控制软件。

7. 根据样品需要,从控制软件界面中选择合适的成像模式,mode→STM、AFM、
AC AFM、MAC 和TopMac。

8. 根据样品需要,从控制软件界面中scanner选择合适的扫描头型号(100 m和10 m)。

9. 取出扫描头,放置于扫描头基座上进行安装(注意:轻拿轻放!!!)。

10. 根据成像模式需要选择合适的nose。

11. 将nose安装在scanner上,需要双手同时垂直用力,以O型圈没入扫描头为准。

12. 用一个手将弹簧钥匙(Spring Key)放入弹簧一侧可以把弹簧翘起,另一只手
利用镊子夹起针尖安装到nose上,弹簧一般压在针尖的1/3-1/2处。

13. 安装扫描头,连接插线,并拧紧右下方紧固螺栓,此时扫描头下方出现红色激
光,建议用户放一白纸。

14. 利用扫描头上的两个螺栓上下左右调整激光的位置,使激光对在针尖背面(详
见激光调整过程)。

15. 安装样品时,确保针尖和样品之间有足够的距离,防止样品撞坏针尖。

利用Close
键初步逼近样品,可以缩短针尖逼近时间。

16. 安装探测器,调整螺丝,使deflection和LFM参数满足该模式的要求。

14.软件参数设定:设置I、P、setpoint、scan speed、scan size、stop at、datapoints per等。

15. 点击Approach,针尖开始逼近(如果deflection在针尖逼近过程中数值发生突变,
说明针尖已经真正逼近样品)。

17. 点击scan,开始扫描成像,同时在扫描过程中根据图像实时调整Rotate、I、P、
speed等,从而获得高质量的图像。

二. 关机主要操作步骤
1. 点击Stop,停止扫描
2. 点击withdraw数步(一般2-3步),实现退针。

同时手动Open,手动退针。

3. 关闭PicoScan或者Picoview软件,MAC Mode或者AC mode Controller电源,控
制机箱电源,计算机主机,总电源
4. 取下样品台并收好样品
5. 取下探测器,放入干燥器皿。

6. 取下扫描头,取下针尖放回盒中(注意:轻拿轻放!!!)。

扫描头、针尖放回干燥
皿。

7. 整理实验室并把实验仪器及物品放回原处
附录:
如果需要更换nose,为保护Scanner,要求使用下面工具,按下图所示更换nose。

首先把该工具平推,恰好卡住nose,然后食指和中指向上用力,拇指向下压,缓缓用力,可以顺利安全拔出nose。

切忌直接用镊子或者手指直接拔出,见下图。

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