化学气相沉积

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化学气相沉积

化学气相沉积
积速率的影响将变得 迟
缓且不明显。
4.2 化学气相沉积原理
CVD反应的进行涉及到能量、动量及质量的传递。反应气体是 借着扩散效应来通过主气流与基片之间的边界层,以便将反学气相沉积合成方法发展
20世纪50年代 主要用于道具
涂层
古人类在取暖 或烧烤时在岩 洞壁或岩石上
的黑色碳层
近年来PECVD 、LCVD等高
速发展
20世纪60-70 年代用于集成
电路
80年代低压 CVD成膜技术 成为研究热潮
2
4.2 化学气相沉积原理
一、基本概念
化学气相沉积(CVD):
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4.2 化学气相沉积原理
二、化学气相沉积法原理
2、CVD技术的热动力学原理
CVD反应结构分解:
不同物质状态的边界层对CVD沉积至关重要。所谓边界层,就是流体及物 体表面因流速、浓度、温度差距所形成的中间过渡范围。 (a)反应物已扩散通过界面边界层; (b)反应物吸附在基片的表面; (c)化学沉积反应发生; (d) 部分生成物已扩散通过界面边界层; (e)生成物与反应物进入主气流里,并离开系统 。
流速与流向均 平顺者称为 “层流”;
流动过程中产 生扰动等不均 匀现象的流动 形式,则称为
其中,d为流体流经的管径,ρ为流体的密度,
“湍流”。
ν为流体的流速,μ则为流体的粘度
两种常见的流体流动方式
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4.2 化学气相沉积原理
假设流体在晶座及 基片表面的流速为 零,则流体及基片 (或晶座)表面将 有一个流速梯度存 在,这个区域便是 边界层。
其中:hc为“对流热传系数”
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4.2 化学气相沉积原理
二、化学气相沉积法原理 2、CVD技术的热动力学原理

化学气相沉积法

化学气相沉积法

化学气相沉积法
化学气相沉积法是一种通过热分解气态前驱体在表面上
生长薄膜的方法,常用于制备高质量的薄膜材料,例如硅、氮化硅、氧化铝、钨等。

化学气相沉积法是一种简单、易于控制的工艺,具有良好的重复性和均匀性。

化学气相沉积法的基本原理是将气体前驱体输送到基片
表面,在高温下发生化学反应,生成固态物质,最终形成具有所需性质的薄膜。

典型的化学气相沉积系统包括前驱体输送、气体反应室和基片加热部分。

在前驱体输送部分,通常将前驱体通过压缩气体输送到
反应室内。

前驱体可为有机物或无机物,例如SiH4、NH3、
Al(CH3)3、W(CO)6等。

压缩气体可以是惰性气体,如氮、氩
或氢气。

在反应室内,前驱体和压缩气体混合形成气态反应物。

在气体反应室中,气态反应物在基片表面沉积,形成固
态薄膜。

这一过程通常需要高温条件下进行,以确保气态反应物的分解和沉积。

反应室通常用电阻器、辐射加热或激光热源进行加热。

化学气相沉积法的优点主要在于其所制备的薄膜均匀性、易于控制和高品质等,这使得它在半导体工业中得到了广泛的应用。

然而,它也存在一些问题,如膜质量受到前驱体纯度、反应物浓度、温度和气体动力学等因素的影响;反应过程中可能会形成副反应产物;反应室内的气压和流量的控制也是一个关键的问题。

化学气相沉积法已成为半导体工业中制备薄膜的重要方
法,其应用领域也在不断扩大。

它的发展将有助于推动半导体产业的进一步发展,满足人类对高性能电子产品的需求。

化学气相沉积

化学气相沉积

历史的简短回顾
→古人类取暖或烧烤时熏在岩洞壁或岩石上的黑色碳层 →中国古代炼丹术中的“升炼”(最早的记载) →20世纪50年代,现代CVD技术用于刀具涂层(碳化钨 为基材经CVD氧化铝、碳化钛、氮化钛) →20世纪60、70年代,半导体和集成电路技术、超纯多 晶硅。 →1990年以来我国王季陶,提出激活低压CVD金刚石生 长热力学耦合模型。第一次真正从理论和实验对比上定 量化地证实反自发方向的反应可以通过热力学反应耦合 依靠另一个自发反应提供的能量推动来完成。
化学气相沉积的反应类型 简单热分解和热分解反应沉积
通常ⅢA,ⅣA,ⅤA族的一些低周期元素的氢化物如CH4、 SiH4、GeH4、B2H6、PH3、AsH3等都是气态化合物,而且加 热后易分解出相应的元素。因此很适合用于CVD技术中作 为原料气。其中CH4,SiH4分解后直接沉积出固态的薄 膜,GeH4也可以混合在SiH4中,热分解后直接得Si—Ge 合金膜。例如:
简单热分解和热分解反应沉积
通常金属化合物往往是一些无机盐类.挥发性很低,很 难作为CVD技术的原料气;而有机烷基金属则通常是气体 或易挥发的物质,因此制备金属或金属化合物薄膜时, 常常采用这些有机烷基金属为原料,应地形成了一类金 属有机化学气相沉积(Metal—Organic Chemical Vapor Deposition简称为MOCVD)技术。 其它一些含金属的有机化合物,例如三异丙醇铝 [Al(OC3H7)3] 以及一些β—丙酮酸(或β—二酮)的金属配 合初等不包含C—M键(碳一金属键).并不真正属于金属 有机化合物,而是金属的有机配合物或含金属的有机化 合物。这些化合物也常常具有较大的挥发性,采用这些 原料的CVD技术,有时也被包含在MOCVD技术之中。
CVD的沉积反应室内部结构及工作原理变化最大,常常根 据不同的反应类型和不同的沉积物要求来专门设计。但 大体上还是可以把不同的沉积反应装置粗分为以下一些 类型。

化学气相沉积

化学气相沉积

集成电路芯片工艺化学气相沉积(CVD)化学汽相淀积(CVD)化学汽相淀积是指通过气态物质的化学反应在衬底上淀积一层薄膜材料的过程。

CVD膜的结构可以是单晶、多晶或非晶态,淀积单晶硅薄膜的CVD过程通常被称为外延。

CVD技术具有淀积温度低、薄膜成分和厚度易于控制、均匀性和重复性好、台阶覆盖优良、适用范围广、设备简单等一系列优点。

利用CVD方这几乎可以淀积集成电路工艺中所需要的各种薄膜,例如掺杂或不掺杂的SiO:、多晶硅、非晶硅、氮化硅、金属(钨、钼)等。

一:化学气相沉积方法常用的CVD方法主要有三种:常压化学汽相淀积(APCVD)、低压化学汽相淀积(LPCVIi~)和等离子增强化学汽相淀积(PECVD).APCVD反应器的结构与氧化炉类似,如图1-1所示,该系统中的压强约为一个大气压,因此被称为常压CVD。

气相外延单晶硅所采用的方法就是APCVD。

图1-1APCVD反应器的结构示意图,LPCVD反应器的结构如图1-2所示,石英管采用三温区管状炉加热,气体由一端引入,另一端抽出,半导体晶片垂直插在石英舟上。

由于石英管壁靠近炉管,温度很高,因此也称它为热壁CVD装置,这与利用射频加热的冷壁反应器如卧式外延炉不同.这种反应器的最大特点就是薄膜厚度的均匀性非常好、装片量大,一炉可以加工几百片,但淀积速度较慢.它与APCVD的最大区别是压强由原来的1X10SPa降低到1X102Pa左右。

图1-2LPCVD反应器的结构示意图图1-3平行板型PECVD反应器的结构示意图PECVD是一种能量增强的CVD方法,这是因为在通常CVD系统中热能的基础上又增加了等离子体的能量.图1-3给出了平行板型等离子体增强CVD反应器,反应室由两块平行的金属电极板组成,射频电压施加在上电极上,下电极接地。

射频电压使平板电极之间的气体发生等离子放电。

工作气体由位于下电极附近的进气口进入,并流过放电区。

半导体片放在下电极上,并被加热到100—400;C左右.这种反应器的最大优点是淀积温度低。

化学气相沉积法

化学气相沉积法

时间与速率
要点一
总结词
时间和沉积速率在化学气相沉积过程中具有重要影响,它 们决定了薄膜的厚度和均匀性。
要点二
详细描述
时间和沉积速率决定了化学气相沉积过程中气体分子在反 应器中的停留时间和沉积时间。较长的停留时间和较慢的 沉积速率有利于气体分子充分反应和形成高质量的薄膜。 然而,过长的停留时间和过慢的沉积速率可能导致副反应 或降低沉积速率。因此,选择合适的时间和沉积速率是实 现均匀、高质量薄膜的关键。
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化学气相沉积法优 缺点
优点
适用性广
涂层性能优良
化学气相沉积法适用于各种材料表面改性 和涂层制备,如金属、陶瓷、玻璃等。
通过控制化学气相沉积的条件,可以制备 出具有高硬度、高耐磨性、高抗氧化性的 涂层。
环保
高效
化学气相沉积法使用的原料在高温下分解 ,不会对环境造成污染。
化学气相沉积法具有较高的沉积速率,可 实现快速涂层制备。
应用领域
半导体产业
用于制造集成电路、微 电子器件和光电子器件
等。
陶瓷工业
制备高性能陶瓷材料, 如氧化铝、氮化硅等。
金属表面处理
在金属表面形成耐磨、 防腐、装饰等功能的涂
层。
其他领域
在航空航天、能源、环 保等领域也有广泛应用

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化学气相沉积法分 类
热化学气相沉积法
原理
在较高的温度下,使气态的化 学反应剂与固态表面接触,通 过气相反应生成固态沉积物。
缺点
高温要求
化学气相沉积法需要在高温下进行,这可能会对 基材产生热损伤或变形。
操作难度大
化学气相沉积法需要精确控制反应条件,操作难 度较大。
ABCD
设备成本高

化学气相沉积

化学气相沉积

化学气相沉积作为一种非常有效的材料表 面改性方法,具有十分广阔的发展应用前景。 随着工业生产要求的不断提高, CVD 的工艺 及设备得到不断改进, 现已获得了更多新的 膜层, 并大大提高了膜层的性能和质量,它 对于提高材料的使用寿命、改善材料的性 能、节省材料的用量等方面起到了重要的 作用,下一步将向着沉积温度更低、有害生 成物更少、规模更大等方向发展。随着各 个应用领域要求的不断提高, 对化学气相沉 积的研究也将进一步深化,CVD 技术的发展 和应用也将跨上一个新的台阶。
2、CVD过程 反应气体向基体表面扩散
反应气体吸附于基体表面
在基体表面上产生的气相副产物脱离表面
留下的反应产物形成覆层
3、CVD几种典型化学反应
1)热分解
SiH4 >500℃ Si + 2H2 (在900-1000℃成膜) CH3SiCl3 1400℃ SiC + 3HCl
2)还原
WF6 +3H2 SiCl4 + 2Zn WF6 + 3 Si 2 W + 6HF (氢还原) Si + 2ZnCl2 (金属还原) SiF4 (基体材料还原) W+3 2
反应沉积成膜 反应沉积成膜
3、PCVD的特点
成膜温度低
沉积速率高 膜层结合力高
膜层质量好 能进行根据热力学规律难以发生的反应
4、PCVD与CVD装置结构相近, 只是需要增加能产生等离子体 的反应器。用于激发CVD反应 的等离子体有: 直流等离子体 射频等离子体 微波等离子体 脉冲等离子体
直流等离子体法(DCPCVD)
2、PCVD的成膜步骤 等离子体产生 等离子体产生
辉光放电的压力较低,加 速了等离子体的质量 输送和扩散

化学气相沉积CVD

化学气相沉积CVD
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3. PECVD装置 普通CVD+高频电源(用于产生等离子体)
图8.3.4 卧式管状PECVD装置
用高频产生辉光放电等离子体的卧式反应 器,用于沉积氮化硅等薄膜。
在 350~400℃的低温下,以50~ 100nm/min的沉积速率进行成膜。
图8.3.5 立式PECVD反应器
SiH4生长Si外延层的立式管状 PECVD反 应器,当T=650℃,P<1.3Pa时,可得 到均匀优质的硅外延层。
(3) PECVD工艺的主要缺点是:由于等离子体轰击,使沉 积膜表面产生缺陷,反应复杂,也会使薄膜的质量有 所下降。
PECVD是20世纪80年代崛起的新沉积制膜
技术,特别适用于金属化后钝化膜和多层布 线介质膜的沉积!
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三、光CVD(PCVD)
光化反应:用光束来激活反应物,促进生成物形成的化学反 应。
相沉积中的最简单形式,例如:
SiH4 (气) 800℃~1200℃ Si(固)+2H2 ↑
2
Ni(CO)4(气) 190~240℃ Ni(固)+4 CO↑ CH4(气) 900~1200℃ C(固)+2H2 ↑ TiI4(气) 加热 Ti(固)+2I2 ↑
用作热分解反应沉积的气态化合物原料主要有: 硼的氯化物,氢化物; 第IV族大部分元素的氢化物和氯化物; VB、VIB族的氢化物和氯化物; 铁、镍、钴的羰基化合物和羰基氯化物; 以及铁、镍、铬、铜等的金属有机化合物等。
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2024/10/15
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5. CVD的优缺点
(1)优点: ① 膜层纯度一般很高,很致密,容易形成结晶定向好的材料;
例如:用蓝宝石作基片,用CVD制备的-Al2O3单晶材料, 其杂质含量为30~34ppm,远小于蓝宝石本身的杂质含量; ② 能在较低温度下制备难熔物质;

化学气相法沉积聚合物

化学气相法沉积聚合物

化学气相法沉积聚合物一、化学气相沉积(CVD)原理1. 基本概念- 化学气相沉积是一种通过气态先驱体在高温、等离子体或其他能量源的作用下发生化学反应,在基底表面沉积出固态薄膜的技术。

对于聚合物的化学气相沉积,先驱体通常是含有碳、氢等元素的有机化合物。

- 在CVD过程中,气态先驱体被输送到反应室中,在基底表面或靠近基底的区域发生分解、聚合等反应,从而形成聚合物薄膜。

2. 反应条件- 温度:不同的先驱体和反应体系需要不同的温度条件。

一般来说,较高的温度有助于先驱体的分解和反应的进行,但对于一些对温度敏感的基底或聚合物结构,需要精确控制温度以避免基底的损坏或聚合物的过度分解。

例如,某些有机硅先驱体在300 - 500°C的温度范围内可以有效地沉积硅基聚合物薄膜。

- 压力:反应室中的压力也是一个关键因素。

低压CVD(LPCVD)和常压CVD (APCVD)是常见的两种压力条件。

LPCVD通常在较低的压力(1 - 100 Pa)下进行,能够提供较好的薄膜均匀性和纯度,因为在低压下,气态分子的平均自由程较长,反应产物更容易扩散离开反应区域。

APCVD则在常压(约101.3 kPa)下进行,设备相对简单,但可能会存在薄膜均匀性较差的问题。

- 载气:载气用于将气态先驱体输送到反应室中。

常用的载气有氮气(N₂)、氩气(Ar)等惰性气体。

载气的流速会影响先驱体在反应室中的浓度分布,进而影响聚合物的沉积速率和薄膜质量。

二、聚合物沉积的先驱体1. 有机硅先驱体- 如四甲基硅烷(Si(CH₃)₄)等有机硅化合物是常用的先驱体。

在CVD过程中,四甲基硅烷在高温下会发生分解反应,硅 - 碳键断裂,释放出甲基基团,然后硅原子之间相互连接形成硅基聚合物的骨架结构。

反应式大致为:Si(CH₃)₄→Si + 4CH₃(高温分解),随后硅原子发生聚合反应形成聚合物。

- 有机硅先驱体沉积得到的聚合物具有良好的热稳定性、化学稳定性和电绝缘性等特点,在电子、航空航天等领域有广泛的应用。

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MOCVD:
金属有机化合物CVD装置
(Metal organic chemical vapor deposition )
它是利用有机金属如三甲基镓、三甲基铝等与
特殊气体如砷化氢、磷化氢等,在反应器内进
行化学反应,并使反应物沉积在衬底上, 而 得到薄膜材料的生产技术。
43
• •
工作气体:低温高挥发性的金属有机物; 工作温度:300 ℃ ∼ 700℃
4.5
化学气相沉积装置
一 高温和低温CVD装置
二 低压CVD装置
三 等离子辅助CVD装置 四 激光辅助CVD装置
五 金属有机化合物CVD装置

CVD装置往往包括以下三个基本组成 部分:
㈠ 反应气体和载气的供给和计量装置;
㈡ 必要的加热和冷却系统; ㈢ 反应产物气体的排出装置。



单晶 多晶 非晶
原理:使用波导或微波天线两种方式将微波能
量耦合至CVD装置中的等离子体中。 使用的微波频率:2.45GHz(对应波长12cm)
特点:微波等离子体的特点是能量大,活性强。
激发的亚稳态原子多,化学反应容易进行,是一
种很有发展前途、用途广泛的新工艺。
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原理:微波天线将微波能
量耦合至谐振腔中之后,在谐 振腔内将形成微波电场的驻波,引起谐振现象。在谐 振腔中心,微波电场幅值最大。在此处的石英管中输 入一定压力的反应气体,当微波电场强度超过气体击 穿场强时气体放电击穿,产生相应的等离子体。在等 离子体中放置衬底调节温度即可实现CVD沉积。 39
高温CVD和低温CVD的选用原则
气相过饱和度 平衡组织、更完整 高温 CVD 强调薄膜质量 (单晶、粗晶) 沉积温度 气相过饱和度 非平衡组织、细化 强调低温沉积 低(中)温CVD (微晶、非晶) 沉积温度
四.
激光辅助CVD装置
激光辅助CVD:采用激光作为辅助的激发手段,
促进或控制CVD 过程进行的一种薄膜沉积技术。 激光特点:强度高、单色性好、方向性好 激光在CVD过程中的作用:
1. 热作用:激光能量对于衬底的加热作用可以促 进衬底表面的化学反应进,从而达到化学气 相沉积的目的。
2. 光作用:高能量的光子可以直接促进反应物气 40 体分子分解为活性化学基团。
高温CVD (high temperature CVD ) : 将各种化学反应物质通入反应炉体内, 于高 温的热能供应作用下,藉由工件表面形成镀膜。 分类:热壁式和冷壁式
加热方式:射频加热或辐射加热
样品放置:倾斜或平置
a — 热壁式(课本 P108 图4.1) 反应室被整体加热
b — 冷壁式(课本 P146 图4.23) 只加热样品台和基片(电加热 或 感应加热 常用)
我们用CVD方法共同的典型式子来说明: 设这一反应正向进行时为放热反应,则
aA( g ) bB( g ) cC (s) dD( g )
ΔH<0, U0<U
上式描述的正向和逆向反应速率如下页图a所示,均随 温度上升而提高。同时,正向反应的激活能低于逆向反应 的激活能。而净反应速率应是正反向反应速率之差,而他 随温度升高时会出现一个最大值。因此温度持续升高将会 导致逆反应速度超过正向的,薄膜的沉积过程变为薄膜的 刻蚀过程。
4.5.2 低压CVD沉积(LPCVD)
工作真空度:
100Pa < P < 0.1MPa
衬底垂直是 为了降低颗 粒物污染的 几率
低压CVD的原理:
利用降低工作室气压,可以提高反应气体 和反应产物通过边界层扩散能力的原理。在低 压CVD装置中,为了部分抵消压力降低的影响 。通常采用提高反应气体在总量中的浓度比的 方法,来大大提高薄膜的沉积速率。
正向反应是放热反应:
ΔH + < 0,ΔH −>0 当T持续↑ 反向反应速率> 正向反应 薄膜生长速率↓
正向反应是吸热反应: ΔH + > 0,ΔH −<0
T↑ 反向反应速率<正向反应 薄膜生长速率↑
上述规律对应了描述化学反应平衡常数K的变化 率的霍夫(van’Hoff)方程
图a情况下:温度过高不利于产物的沉积 图b情况下,温度过低不利产物的沉积
CVD 装 置 的 分 类
常压 CVD :无需真空、靠载气输运、污染较大 按工作压力不同,可分 为 低压 CVD :易于气化反应物、无载气、污染小 低温 CVD (200 ~ 500℃) 按沉积温度不同,可分为 中温 CVD (500 ~ 1000℃) 高温 CVD (1000 ~ 1300℃) 热壁 CVD :整炉高温、等温环境 按加热方式不同,可分为 冷壁 CVD :局部加热(仅基片和基片架) 热激活(普通 CVD ) 按反应激活方式不同,可分为 光致活化 CVD (紫外光、激光、可见光) 等离子体激活(PECVD )
• • •
4.4.2 温度对沉积速度的影响

温度是化学气相沉积过程中最重要的参数之一。

温度对气相质量输运系数和反应率常数作用不同
由上式得 : 当 Ks 》D/δ 时,Cs = 0 ,反应物的扩散过程较 慢,在衬底上方反应物已经贫化,称为扩散控制的 沉积过程。 • 当 Ks 《 D/δ 时, Cs = Cg ,表面反应较慢, 因此称为表面反应控制的沉积过程。
1. 属于低压沉积
2. 利用辉光放电等离子体来促进反应活性基因 的生成。因而显著地降低薄膜的沉积温度, 使原来要在高温、进行的反应过程得以在低 温实现。
等离子体中电子与气体分子碰撞促进气体分子的分解、化合和 激化等过程的进行来实现的
32
PECVD过程发生的微观过程:
1.气体分子与等离子体中的电子碰撞,产生活性基 团和离子。
第四章 化学气相沉积
(Chemical vapor deposition)


4.4 薄膜生长动力学 4.5 化学气相沉积装置
4.4 薄膜生长动力学
在CVD过程中,薄膜生长过程取决于气体与衬底间界面
的相互作用,具体过程如下: 1. 反应气体扩散通过界面 层 2. 气体分子在薄膜或衬底 表面的吸附 3. 原子表面的扩散、反应 和溶入薄膜晶格之中 4. 反应产物扩散离开衬底 表面并通过界面层
典型的高温CVD装置示意图
特点:简单经济、稳定高效;腐蚀、污染、耗能;
应用:外延Si薄膜制备、TiN, TiC等超硬涂层等
低温CVD

工作温度: ≤700℃ 应用领域:主要用于集成电路、电子器件等对 沉积温度有比较严格限制的绝缘薄膜制备;
• •

集成电路中SiN等钝化、扩散阻挡层的制备;
集成电路中的SiO2绝缘层的制备;
激光对衬底的作用机理
热解
光活化
激光辅助CVD装置的优点 :
1. 可实现薄膜的选择性沉积,即只在需要沉积的地方,才 用激光束照射衬底表面。
2.
可有效地降低衬底的温度。例:在50℃的衬底温度下 41 也可实现SiO2薄膜的沉积。
激光辅助CVD应用领域 :
1 金属薄膜:利用某些金属化合物分子在光作 用下的分解倾向。 2 绝缘介质膜:利用多种气体分子在光子促进 作用下的化学反应。
此式表明:Si的沉积速度将随着距离的增加呈指数 趋势下降,即反应物将随着距离的增加逐渐贫化。

轴向生长速率的均匀性:

扩散速度小于气流速度

沉积速率随距离的增加呈指数下降! 倾斜基片使薄膜生长的均匀性得以改善;
提高气体流速v和装置的尺寸b 调整装置内温度分布,影响扩散系数D的分布
因此,提高沉积均匀性可以采取如下措施:
由上图分析可知: 高温:扩散控制 低温:表面反应控制 反应导致的沉积速率为:
其中 N0 为表面原子密度。 沉积速率随温度的变化规律取决于Ks,D,δ 等随温度的变化情况。 因此,一般而言,化学反应或化学气相沉积的速度将随温度的升 高而加快。 但有时并非如此,化学气相沉积的速率随温度的升高 出现先升高后降低的情况。 这是什么原因呢?
特点:直流等离子体比较简单,工件处于阴极电位, 受其形状、大小的影响,使电场分布不均匀,在 阴极附近压降最大,电场强度最高,正因为有这 一特点,所以化学反应也集中在阴极工件表面, 加强了沉积效率,避免了反应物质在器壁上的消 耗。缺点是不导电的基体或薄膜不能应用。
二 射频电容或电感耦合PECVD 电容耦合和电感耦合

应用:

高质量半导体化合物薄膜材料,如:III-V、 II-VI化合物半导体材料的外延生长 高密度DRAM等多组分铁电薄膜材料; 高温超导陶瓷薄膜的制备。
• •

特点:

成分组分控制比较好,可以大面积沉积、均 匀性好、致密; 工作气体成本比较高; 使用有机金属化合物作为反应物。
• •
用于制备绝缘介质薄膜。
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直流和射频二极辉光放电的缺点:
1. 都使用电极将能量耦合到等离子体中,故电极 表面会产生较高的鞘层电位,在鞘层电位作用 下离子高速撞击衬底和阴极这样会对薄膜造成 污染。
2. 在功率较高、等离子体密度大的情况下,辉光 放电会转变为弧光放电,损坏放电电极。
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微波辅助PECVD

注意:
1)反应应在扩散层内进行,否则会生成气相均质核,固相 产物会以粉末形态析出; 2)提高温度梯度和浓度梯度,可以提高新相的形核能力; 3)随析出温度提高,析出固相的形态一般按照下图所示序 列变化:
单晶 板状 (外延) 单晶
针状 树枝晶 单晶
柱状晶
微晶
非晶
粉末 (均相形核)
T
T
4.4.1
等离子辅助CVD装置的工作原理: 在低压化学气相沉积过程进行的同时,利 用辉光放电等离子体对沉积过程施加影响的技 术。它包括了化学气相沉积的一般技术,又有 辉光放电的强化作用。 工作参数: 工作气压大约为5-500Pa,电子和离子的密度 可达109-1020个/cm3,电子的能量高达1-10eV。
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