射线检测二级题库1

第一局部射线检测共：690题其中：是非题213题选择题283题问答题79题计算题115题一、是非题原子序数Z等于原子核中的质子数量。

〔○〕为了使原子呈中性，原子核中的质子数必须等于核外的电子数。

〔○〕当原子核内的中子数改变时，它就会变为另一种元素。

〔×〕当一个原子增加一个质子时，仍可保持元素的种类不变。

〔×〕原子序数一样而原子量不同的元素，我们称它为同位素。

〔○〕不稳定同位素在衰变过程中，始终要辐射γ射线。

〔×〕不同种类的同位素，放射性活度大的总是比放射性活度小的具有更高的辐射剂量。

〔×〕放射性同位素的半衰期是指放射性元素的能量变为原来一半所需要的时间。

〔×〕各种γ射线源产生的射线均是单能辐射。

〔×〕α射线和β射线虽然有很强的穿透能力，但由于对人体辐射伤害太大，所以一般不用于工业探伤。

〔×〕将元素放在核反响堆中受过量中子轰击，从而变成人造放射性同位素，这一过程称为“激活〞。

〔○〕与其他放射性同位素不同，C s137是原子裂变的产物，在常温下呈液态，使用前须防止泄漏污染。

〔○〕3与Ir192相比，Se75放射性同位素的半衰期更短，因此其衰变常数λ也更小一些。

〔×〕射线能量越高，传播速度越快，例如γ射线比X射线传播快。

〔×〕1.15X射线或γ射线强度越高，其能量就越大。

〔×〕X射线或γ射线是以光速传播的微小的物质粒子。

〔×〕当X射线经过2个半价层后，其能量仅仅剩下最初的1/4。

〔×〕如果母材的密度比缺陷的密度大一倍，而母材的原子序数比缺陷的原子序数小一半时，缺陷在底片上所成的象是白斑。

〔×〕1.19标识X射线具有高能量，那是由于高速电子同靶原子核相碰撞的结果。

〔×〕1.20连续X射线是高速电子同靶原子的轨道电子相碰撞的结果。

〔×〕1.21X射线的波长与管电压有关。

〔○〕X射线机产生X射线的效率比拟高，大约有95%的电能转化为X射线的能量。

〔×〕〔○〕一种同位素相当于多少千伏或兆伏能力的X射线机来做一样的工作，这种关系叫做同位素的当量能。

同能量的γ射线和X射线具有完全一样的性质。

〔○〕1.25X射线的强度不仅取决于X射线机的管电流而且还取决于X射线机的管电压。

〔○〕与C o60相对，C s137发出的γ射线能量较低，半衰期较短。

〔×〕光电效应中光子被完全吸收，而康普顿效应中光子未被完全吸收。

〔○〕一能量为300KeV的光子与原子相互作用，使一轨道电子脱离50KeV结合能的轨道，且具有50KeV动能飞出，如此新光子的能量是200KeV。

〔○〕光电效应的发生几率随原子序数的增大而增加。

〔○〕光电子又称为反冲电子。

〔×〕随着入射光子能量的增大，光电吸收系数迅速减少，康普顿衰减系数逐渐增大。

〔×〕当射线能量在至10MeV区间，与物质相互作用的主要形式是电子对效应。

〔×〕连续X射线穿透物质后，强度减弱，线质不变。

〔×〕射线通过材料后，其强度的9/10被吸收，该厚度即称作1/10价层。

〔○〕当射线穿过三个半价层后，其强度仅剩下最初的1/8。

〔○〕1.36连续X射线的有效能量是指穿透物质后，未被物质吸收的能量。

所以穿透厚度越大，有效能量越小。

〔×〕C o60和Ir192射线源是稳定的同位素在核反响堆中俘获中子而得到的，当射线源经过几个半衰期后，将其放在核反响堆中激活，可重复使用。

〔×〕X射线和γ射线都是电磁辐射，而中子射线不是电磁辐射。

〔○〕放射性同位素的当量能总是高于其平均能。

〔○〕X射线与可见光本质上的区别仅仅是振动频率不同。

〔○〕高速电子与靶原子的轨道电子相撞发出X射线，这一过程称作韧致辐射。

〔×〕连续X射线的能量与管电压有关，与管电流无关。

〔○〕连续X射线的强度与管电流有关，与管电压无关。

〔×〕标识X射线的能量与管电压、管电流均无关，仅取决于靶材料。

〔○〕X射线与γ射线的根本区别是后者具有高能量，可以穿透较厚物质。

〔×〕采取一定措施可以使射线照射X围限制在一个小区域，这样的射线称为窄束射线。

〔×〕对钢、铝、铜等金属材料来说，射线的质量吸收系数值总是小于线吸收系数值。

〔○〕原子核的稳定性与核内中子数有关，核内中子数越小，核就越稳定。

〔×〕经过一次β－衰变，元素的原子序数Z增加1，而经过一次α衰变，元素的原子序数Z将减少2。

〔○〕放射性同位素衰变常数越小，意味着该同位素半衰期越长。

〔○〕在管电压、管电流不变的前提下，将X射线管的靶材料由钼改为钨，所发生的射线强度会增大。

〔×〕在工业射线探伤中，使胶片感光的主要是连续谱X射线，标识谱X射线不起什么作用。

〔○〕192射线与物质相互作用，肯定不会发生电子对效应。

〔○〕4高能X射线与物质相互作用的主要形式之一是瑞利散射。

〔×〕5连续X射线穿透物质后，强度减弱，平均波长变短。

〔○〕X光管的有效焦点总是小于实际焦点。

〔○〕X射线机中的焦点尺寸，应尽可能大，这样发射的X射线能量大，同时也可防止靶过份受热。

〔×〕X射线管中电子的速度越小，如此所发生的射线能量也就越小。

〔○〕由于X射线机的电压峰值〔KVP〕容易使人误解，所以X射线机所发出的射线能量用电压的平均值表示。

〔×〕全波整流X射线机所产生射线的平均能比半波整流X射线机所产生射线的平均能高。

〔○〕移动式X射线机只能室内小X围移动，不能到野外作业。

〔○〕移动式X射线机有油冷和气冷两种绝缘介质冷却方式。

〔×〕一样千伏值的金属陶瓷管和玻璃管，前者体积和尺寸小于后者。

〔○〕“变频〞是减小X射线机重量的有效措施之一。

〔○〕放射性同位素的比活度越大，其辐射强度也就越大。

〔×〕适宜探测厚度100mm以上钢试件γ源的是C o60，透宜探测厚度20mm以下钢试件的γ源是Ir192。

〔×〕黑度定义为阻光率的常用对数值。

〔○〕底片黑度D＝1，即意味着透射光强为入射光强的十分之一。

〔○〕ISO感光度100的胶片，达到净黑度所需的曝光量为100戈瑞。

〔×〕能量较低的射线较更容易被胶片吸收，引起感光，因此，射线透照时防止散射线十分重要。

〔○〕用来说明管电压、管电流和穿透厚度关系的曲线称为胶片特性曲线。

〔×〕胶片达到一定黑度所需的照射量〔即伦琴数〕与射线质无关。

〔×〕同一胶片对不同能量的射线具有不同的感光度。

〔○〕比活度越小，即意味着该放射性同位素源的尺寸可以做得更小。

〔×〕胶片灰雾度包括片基固有密度和化学灰雾密度两局部。

〔○〕非增感型胶片反差系数随黑度的增加而增大，而增感型胶片反差系数随黑度增加的增大而减小。

〔×〕在常用的100KV-400KV X射线能量X围内，铅箔增感屏的增感系数随其厚度的增大而减小。

〔○〕对X射线，增感系数随射线能量的增高而增大。

但对γ射线来说如此不是这样，例如，钻60的增感系数比铱192低。

〔○〕对X射线机进展“训练〞的目的是为了排出绝缘油中的气泡。

〔×〕2.25X和γ射线的本质是一样的，但γ射线来自同位素，而X射线来自于一个以高压加速电子的装置。

〔○〕在任何情况下，同位素都有优于X射线设备，这是由于使用它能得到更高的比照度和清晰度。

〔×〕对于某一同位素放射源，其活度越大，如此所发出的射线强度也越大。

〔○〕将一X含有针孔的铅板放于X射线管和胶片之间的中间位置上，可以用来测量中心射线的强度。

〔×〕一样标称千伏值和毫安值的X射线机所产生的射线强度和能量必定一样。

〔×〕2.30所谓“管电流〞就是流过X射线管灯丝的电流。

〔×〕放射源的比活度越大，其半衰期就越短。

〔×〕胶片比照度与射线能量有关，射线能量越高，胶片比照度越小。

〔×〕胶片特性曲线的斜率用来度量胶片的比照度。

〔○〕从实际应用的角度来说，射线的能量对胶片特性曲线形状根本上不产生影响。

〔○〕宽容度大的胶片其比照度必然低。

〔○〕显影时间延长，将会使特性曲线变陡，且在座标上的位置向左移。

〔○〕胶片特性曲线在座标上的位置向左移，意味着胶片感光速度减小。

〔×〕与一般胶片不同，X射线胶片双面涂布感光乳剂层，其目的是为了增加感光速度和黑度。

〔○〕“潜象〞是指在没有强光灯的条件下不能看到的影像。

〔×〕铅增感屏除有增感作用外，还有减少散射线的作用，因此在射线能穿透的前提下，应尽量选用较厚的铅屏。

〔×〕透照不锈钢焊缝，可以使用碳素钢丝象质计〔○〕透照钛焊缝，必须使用钛金属丝象质计。

〔○〕透照镍基合金焊缝时使用碳素钢丝象质计，如果底片上显示的线径编号刚刚达到标准规定值，如此该底片的实际灵敏度肯定达不到标准规定的要求。

〔×〕因为铅箔增感屏的增感系数高于荧光增感屏，所以得到广泛使用。

〔×〕胶片卤化银粒度就是显影后底片的颗粒度。

〔×〕梯噪比高的胶片成像质量好。

〔○〕胶片系统分类的主要依据是胶片感光速度和梯噪比。

〔×〕影象颗粒度完全取决于胶片乳剂层中卤化银微粒尺寸的大小。

〔×〕象质计灵敏度1.5%，就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被检出。

〔×〕使用较低能量的射线可得到较高的主因比照度。

〔○〕射线照相时，假设千伏值提高，将会使胶片比照度降低。

〔×〕一般来说，对厚度差较大的工件，应使用较高能量射线透照，其目的是降低比照度，增大宽容度。

〔○〕增大曝光量可提高主因比照度。

〔×〕当射线的有效量增加到大约250KV以上时，就会对底片颗粒度产生明显影响。

〔○〕增大最小可见比照度ΔD min，有助于识别小缺陷。

〔×〕射线照相主因比照度与入射线的能谱有关，与强度无关。

〔○〕用增大射源到胶片距离的方法可降低射线照相固有不清晰度。

〔×〕减小几何不清晰度的途径之一，就是使胶片尽可能地靠近工件。

〔○〕3.12利用阳极侧射线照相所得到的底片的几何不清晰度比阴极侧好。

〔○〕胶片的颗粒越粗，如此引起的几何不清晰度就越大。

〔×〕使用γ射线源可以消除几何不清晰度。

〔×〕增加源到胶片的距离可以减小几何清晰度，但同时会引起固有不清晰度增大。

〔×〕胶片成象的颗粒性会随着射线能量的提高而变差。

〔○〕3.17比照度、清晰度、颗粒度是决定射线照相灵敏度的三个主要因素。

〔○〕胶片比照度和主因比照度均与工件厚度变化引起的黑度差有关。

〔×〕使用较低能量的射线可提高主因比照度，但同时会降低胶片比照度。