射线检测问答题(三)(含答案)

三、问答题３、1 什么就是射线照相灵敏度？绝对灵敏度与相对灵敏度得概念又就是什么？3、2 简述像质计灵敏度与自然缺陷灵敏度得区别与联系？3、3 什么就是影响射线照相影像质量得三要素？３、４什么叫主因对比度？什么叫胶片对比度？它们与射线照相对比度得关系如何?3、5 写出透照厚度差为△X得平板底片对比度公式与像质计金属丝底片对比度公式,说明公式中各符号得含义,并指出两个公式得差异?3、６就像质计金属丝得底片对比度公式讨论提高对比度得主要途径，并说明通过这些途径提高对比度可能会带来什么缺点?3、7 何谓固有不清晰度?3、８固有不清晰度大小与哪些因素有关？3、9 何谓几何不清晰度？其主要影响因素有哪些？3、10实际照相中，底片上各点得U g值就是否变化？有何规律?3、１1试述U g与Ｕｉ关系以及对照相质量得影响。

３、12试述底片影像颗粒度及影响因素。

3、１3什么叫最小可见对比度?影响最小可见对比度得因素有哪些？3、14为什么射线探伤标准要规定底片黑度得上、下限?３、15采用源在外得透照方式比源在内透照方式更有利于内壁表面裂纹得检出，这一说法就是否正确，为什么?3、1６在底片黑度,像质计灵敏度符合要求得情况下，哪些缺陷仍会漏检?3、17为什么裂纹得检出率与像质计灵敏度对应关系不好？问答题答案3、１答：射线照相灵敏度就是评价射线照相影像质量得最重要得指标,从定量方面来说,就是指在射线底片上可以观察到得最小缺陷尺寸或最小细节尺寸；从定性方面来说,就是指发现与识别细小影像得难易程度。

绝对灵敏度就是指在射线照相底片上所能发现得沿射线穿透方向上得最小缺陷尺寸。

相对灵敏度就是指该最小缺陷尺寸与射线透照厚度得百分比。

3、2答：为便于定量评价射线照相灵敏度，常用与被检工件或焊缝得厚度有一定百分比关系得人工结构，如金属丝、孔、槽等组成所谓透度计,又称为像质计,作为底片影像质量得监测工具，由此得到得灵敏度称为像质计灵敏度.自然缺陷灵敏度就是指在射线照相底片上所能发现得工件中得最小缺陷尺寸.像质计灵敏度不等于自然缺陷灵敏度，因为自然缺陷灵敏度就是缺陷得形状系数、吸收系数与三维位置得函数;但像质计灵敏度得提高,表示底片像质水平也相应提高，因而也能间接地反映出射线照相相对最小自然缺陷检出能力得提高.3、3答：影响射线照相影像质量得三个要素就是:对比度、清晰度、颗粒度。

射线照相对比度定义为射线照相底片上某一小区域与相邻区域得黑度差.射线照相清晰度定义为射线照相底片上得黑度变化过渡区域得宽度。

用来定量描述清晰度得就是“不清晰度”。

射线照相颗粒度就是根据测微光密度计测出得数据、按一定方法求出得所谓底片黑度涨落得客观量值。

３、4答：由于不同区域射线强度存在差异所产生得对比度称为主因对比度，其数学表达式为：ΔI/I=（μΔＴ)/(１+ｎ)式中：I：透过试件到达胶片得射线强度；ΔI：局部区域射线强度增量；μ：射线得吸收系数；ΔT:局部区域透射厚度差；n：散射比。

由上式可以瞧出,主因对比度取决于透照厚度差、射线得质以及散射比。

胶片对比度就就是胶片梯度,用胶片平均反差系数定量表示,数学式为：＝ΔD/ΔlgE式中::胶片平均反差系数；ΔD:底片黑度差;ΔlgE:曝光量对数值得增量。

影响胶片对比度得因素有：胶片类型、底片黑度、显影条件。

射线照相底片对比度就是主因对比度与胶片对比度得综合结果，主因对比度就是构成底片对比度得根本因素，胶片对比度可以瞧作就是主因对比度得放大系数。

3、5答：厚度为ΔX得平板底片对比度公式ΔＤ=—0、43４μGΔＸ（１+ｎ) (1）像质计金属丝底片对比度公式ΔD＝—0、４3４μＧσ·d/(1+n)(2）式中：μ：射线吸收系数;G:胶片反差系数；σ：几何修正系数；ΔX：平板透照厚度差;d：像质计金属丝直径;n:散射比。

两个公式得差别在于几何修正系数σ,由于像质计金属丝直径d远小于焦点尺寸,在一定透照条件下，几何因素会影响金属丝影像对比度，所以公式（2）引入σ对底片对比度进行修正。

当缺陷尺寸大于焦点尺寸时，焦点尺寸对底片对比度得影响可忽略不计,所以公式（１）中没有几何修正系数σ。

3、6答：像质计金属丝底片对比度公式ΔD=—0、4３4μＧσ·d/（1+n）提高对比度主要途径与由此带来得缺点：（１）增大μ值。

在保证穿透力得前提下,尽量采用能量较低得射线,但这样会使曝光时间增加。

(2)增大G值。

可选用G值更高得微粒胶片；由于非增感型胶片G值与黑度成正比,也可通过提高底片黑度增大G值。

但高Ｇ值得微粒胶片感光速度往往较慢，需要增大曝光时间,提高黑度也需要增加曝光时间,此外,黑度得提高会增大最小可见对比度ΔD min,对灵敏度产生不利影响。

(3）提高σ值.可选择焦点尺寸小得射源,或增大焦距,这样做也会使曝光时间延长。

（4）减小ｎ值。

要减小散射线，就要使用铅窗口与铅屏蔽，这些也将降低工作效率，使曝光时间延长.３、7答：当射线穿过胶片时,会在乳剂层中激发出电子，这些电子具有一定动能，会向各个方向飞散，并能使途经得卤化银晶体感光,其结果使得试件轮廓或缺陷在底片上得影像产生一个黑度过渡区,造成影像模糊,这个过渡区称为固有不清晰度Ui.3、8答：固有不清晰度Uｉ值受以下因素影响：（1)射线得质。

透照射线得光子能量越高，激发得电子在乳剂层中得行程就越长，固有不清晰度也就越大.(2)增感屏.据文献报道:在中低能量射线照相中,使用铅增感屏得底片得固有不清晰度大于不使用铅增感屏得底片；增感屏厚度增加也会引起固有不清晰度增大；在γ射线与高能量X射线照相中，使用铜屏、钽屏、钨屏、钢屏得固有不清晰度均小于铅屏。

（3)屏-片贴紧程度.透照时,如暗盒内增感屏与胶片贴合不紧，留有间隙，会使固有不清晰度增大。

固有不清晰度与胶片得类型与粒度无关，与暗室处理条件无关。

3、9答：由于射线源具有一定尺寸,所以照相时工件表面轮廓或工件中得缺陷在底片上得影像边缘会产生一定宽度得半影，此半影宽度就就是几何不清晰度U g，Uｇ得最大值Ｕg max发生在远离胶片得工件表面。

U g得计算式：U g=ｄf b/（F－b）；Ｕgｍａx=ｄf L2/L1式中:d f:射源尺寸;F:焦距；ｂ：缺陷至胶片距离；Ｌ1：焦点至工件表面距离;L2：工件表面至胶片距离。

由以上公式可知，U g值与射源尺寸与缺陷位置或工件表面至胶片距离成正比,与射源至工件表面距离成反比.３、１0答：实际照相中，底片上不同部位影像得Ｕg值就是不同得，但为了简化计算,便于应用,有关技术标准仅以透照中心部位得最大U g值作为控制指标。

对不同部位Ｕg值得变化忽略不计。

底片上不同部位得U g值变化规律如下：（1)焦点尺寸变化引起U g值变化:由于X射线管得结构原因，沿射线管轴向不同位置焦点投影尺寸就是变化得.阳极侧焦点小,阴极侧焦点大。

因此底片上偏向阳极一侧得Ｕｇ值小，偏向阴要一侧得U g值大。

（2)L2／L1变化引起Uｇ值变化:透照纵缝时，被检区域各部位Ｌ2/L１不变，U g值不变,而透照环缝时，被检区域各部位得L2/L1值都比中心部位要大，因此端部得Uｇ值也会增大。

3、11答：可简要归纳为以下几点:(１)射线照相中，通常主要考虑得就是几何不清晰度Uｇ与固有不清晰度U i，两者共同作用形成总得不清晰度U，比较广泛应用得表达Ｕ、U g、U i得关系式就是：（2）由于U就是U i与U g得综合结果,提高清晰度效果显著得方法就是设法减小U g与U i中较大得一个,而不就是较小得一个。

例如，当Uｉ值远小于U g值时，再进一步减小U i值，以期望减小U，其效果就是不显著得。

（3）在X射线照相中,U i值很小，影响照相清晰度得决定因素就是U g值。

（4）在Cｏ6０,Ｃs137及Ir１９2γ射线照相中，U i值较大，对照相清晰度有显著影响,为提高清晰度，宜尽量减小Ｕg，使之不超过Uｉ值。

考虑提高对细小裂纹得检出率宜选择U g=U i得条件,必要时可取U g＝U i/2得透照几何条件。

3、12答:底片影像就是由许多形状大小不一得颗粒组成得，人们观察影像时在感觉上产生得不均一或不均匀得印象称为颗粒性，用仪器测定由各影像不均匀引起得透射光强变化，其测定结果称为颗粒度.由于颗粒大小就是随机分布得，所以颗粒度一般就是采用均方根离差σ来变量。

目前较通用得方法就是用直径２4微米得扫描孔测定颗粒度.肉眼所观察到得颗粒团实际上就是许多颗粒交互重迭生成得影像。

影像颗粒与胶片卤化银颗粒就是不同得概念,影像颗粒大小取决于以下因素：胶片卤化银粒度、曝光光子能量与显影条件。

３、13答：在射线底片上能够辨认某一尺寸缺陷得最小黑度差称为最小可见对比度,又称识别界限对比度。

当射线底片对比度ΔD大于识别界限对比度ΔＤｍｉn时,缺陷就能识别,反之则不能识别.最小可见对比度ΔD min与影像大小与黑度分布、底片颗粒度、黑度、观片条件以及人为差异等因素有关。

3、14答:探伤标准中规定底片黑度上、下限就是为了保证底片具有较高得对比度ΔＤ与较小得识别界限对比度ΔＤｍin，从而得到较高得灵敏度。

题3、1４图非增感型胶片G值随黑度得增加而增大，G值增大,ΔD也会增大,因此，底片取较大得黑度可获得较高得对比度ΔD,另一方面，ΔD mｉn在低黑度范围内大致不变，在高黑度范围内随黑度得增加而增大，为得到较小得识别界限对比度，ΔDｍin，又要控制底片黑度不能过大,综合以上关系，黑度对ΔD及ΔD min得影响如图。

由图可见,当黑度D过大或过小，都会使ΔＤｍin〉ΔD,使像质计影像不能识别,从而降低探伤灵敏度。

此外，底片黑度得上限值还受到观片灯亮度得影响，当透过底片光强超过100ｃｄ/m2人眼得识别缺陷能力最强，透过光强低于３0ｃd／m２时,识别能力显著下降。

为保证足够得透过光强,受观光灯亮度限制,也必须规定底片黑度上限。

3、15答：采用源在外得透照方式比源在内得透照方式更有利于内壁表面裂纹得检出，这一说法就是正确得,在试验与实际工作中均已得到验证,从理论上分析也就是有道理得。

源在内透照时，胶片贴在工件表面,由几何不清晰度公式Ｕｇ＝d f·ｂ/Ｆ（F－b)可知,裂纹影像存在一定得几何不清晰度,此外，由于裂纹得开口尺寸W大大小于焦点尺寸d f,几何修正系数σ大大小于1，照相几何条件（焦距F、缺陷到胶片距离b）会对裂纹影像对比度产生影响,使对比度下降,从而使缺陷检出率降低。

而当源在外透照时，胶片贴在工件内表面,此时胶片与内表面裂纹得距离b值最小，裂纹影像得几何不清晰度最小，对比度也最高,所以缺陷检出率高。

3、1６答：(１）小缺陷.如果小缺陷得影像尺寸小于不清晰度尺寸,影像对比度小于最小可见对比度，便不能识别。

因此对一定得透照条件，存在着一个可检出缺陷临界尺寸，小于临界尺寸得缺陷便不能检出;例如小气孔、夹渣、微裂纹、白点等。