集成运放参数测试仪设计报告
集成参数测试仪
集成参数测试仪摘要:本系统采用辅助运放测试法,对运算放大器的各基本参数进行精确测量,以单片机和FPGA为控制核心,通过对继电器的控制,实现各处开关的通断,从而以较为简单的电路实现多种参数测试,文章对该系统作简要分析。
关键词:集成运放参数;辅助运放;测试法1方案论证与比较1.1集成运放参数核心测量电路方案由于放大器电参数种类很多,对不同的参数测试方法不一样,主要分为:①定义法,即按照运放各种参数定义将待测运放接成共模或差模输入方式来测量。
根据运放定义电路,由各定义公式计算各值。
②采用“被测器件-辅助运放”模式,籍以构成稳定的负反馈网络,将小电压电流转换为伏特级的大电压进行测试,根据定义法测量的精度高,但各种参数测试电路差别很大,不利实现自动测量。
而采用辅助进行测试既符合GB3442-82标准测试原理又能实现自动测试,故本设计采用方案二。
1.2信号源的设计方案①根据直接数字频率合成器(DDFS)基本原理,充分利用FPGA的内部资源,在FPGA中设计一个DDS。
DDS可以合成任意波形,且可以十分精确的控制相位,频率。
但是,由于受到DAC芯片转换速率及后级运放的限制,不适合于较高频率段。
②采用专门的DDS集成芯片。
专用DDS集成芯片的功能较完善,尤其在频率较高时,其性能大大优于方案一获得的波形。
本系统设计能同时提供5 Hz和40 kHz 到4 MHz的信号,基于方案一和二各有优点,系统采取两方案综合的方法,即5 Hz信号由FPGA经D/A滤波来产生,40 kHz到4 MHz的信号由DDS集成芯片产生。
DDS集成芯选用AD9851。
1.3测量参数切换的方案①使用模拟开关CD4051或AD7501等选择不同的元器件来实现测量某种参数所需的测量电路。
但是模拟开关具有一定的导通电阻,测试微弱信号时必然导致很大误差。
②使用继电器阵列。
继电器的导通电阻近似零欧,误差相对而言要少很多。
基于这些,系统采用方案二,用继电器作为切换单元。
数字集成电路参数测试仪报告(精)
重庆大学本科学生课程设计指导教师评定成绩表说明：1、学院、专业、年级均填全称。
2、本表除评语、成绩和签名外均可采用计算机打印。
重庆大学本科学生课程设计任务书说明：1、学院、专业、年级均填全称。
2、本表除签名外均可采用计算机打印。
本表不够，可另附页，但应在页脚添加页码。
目录一、设计目的 (5)二、设计要求 (5)三、方案设计与论证比较 (5)四、硬件设计 (6)4.1、DA 模块 THS5651工作原理及电路设计4.2、放大模块14.3、ADC0809工作原理及电路设计4.4、Iil 模块4.5、Iol 模块4.6、12864模块五、软件设计.....................................5.1、数值显示模块5.1.1、分频模块5.1.2 十位数据波形发生模块5.1.3 去抖模块5.1.4 文本显示模块5.1.5 按键切换模块5.1.6 ADC0809驱动模块5.2 图形显示模块5.2.1 输入输出电压采样模块5.2.2 输入输出电压数据转换模块5.2.3 显示模块5.2.4 波形显示的整体电路六、系统功能测试及结果..............................6.1测试方法6.1.1 Vol,Voh,Vil,Vih的测试方法6.1.2Vil的测试方法6.1.3Vol的测试方法6.2测试结果6.3测试精度分析七、设计过程总结与体会........................... 参考文献........................................ 附件一系统电路图：附件二元器件清单：附件三一、设计目的在当今社会中，电子技术发展迅速，数字集成电路的应用广泛，而74系列逻辑芯片在数字电路中又有着非常广泛的应用，因而数字电路设计中必须要求所用的数字电路芯片逻辑功能完整，但在数字电路芯片测试中又有很多不便，实际测试较繁琐。
针对上述需要，我们针对常用的74系列逻辑芯片设计了一种数字电路芯片测试仪，用来检测常用74系列芯片的型号和逻辑功能的好坏，从而给数字电路的设计、制作带来方便。
实验五---集成运算放大器的参数测试
实验五 集成运算放大器的参数测试一、实验目的1、学会集成运放失调电压U IO 的测试方法。
2、学会集成运放失调电流I IO 的测量方法。
3、掌握集成运放开环放大倍数Aod 的测量方法。
4、学会集成运放共模抑制比K CMR 的测试方法。
二、实验仪器及设备1、ＤＺＸ－１Ｂ型电子学综合实验台 一台2、XJ4323 双踪示波器 一台3、集成运放 uA741 一片 三、实验电路1、测量失调电压U IO 。
2、测量失调电流I IO 。
I IO =RR R U U O O ⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛+-12121式中的U O1为测失调电压U IO 时的U O1 ，U O 2 为下面电路中测得的U O 。
U IO =211R R R+U O1R2 5.1KR2 5.1K3、测量开环放大倍数Aod 。
4、共模抑制比K CMR 。
注意：Ui 必须小于最大共模输入电压U iCM ＝12V四、实验内容及步骤 1、测量失调电压U IO（1） 按图接好电路，检查电路无误后接通电源，用示波器观察输出Uo 有无振荡，若有振荡，应采用适当措施加以消除。
（2） 测量输出电压，记做U O1，并计算失调电压U IO 。
2、测失调电流I IO（1） 按图接好电路，检查电路无误后接通电源，用示波器观察输出Uo 有无振荡，若有振荡，应采用适当措施加以消除。
（2） 测量输出电压，记做U O2，并计算失调电流I IO 。
3、测量开环放大倍数Rf 5.1KA Od =UiR R R U O 323+URf 5.1KK CMR = OCO A A d=UoU R R F i1•（1） 按图接好电路，接通电源。
（2） 在输入端加入Us ＝1V ，f ＝20Hz 的交流信号，用毫伏表测量Uo 和Ui ，计算出Aod 。
4、测量共模抑制比（1） 按图接好电路，接通电源。
（2） 在输入端加入一定幅值的频率为20Hz 的交流信号，用毫伏表测量Uo 和Ui ，计算出K CMR 。
电路实验报告集成运算放大器的指标测试
实验报告课程名称：电路与电子技术实验II 指导老师： 成绩：__________________实验名称：集成运算放大器的指标测试 实验类型：________________同组学生姓名：__________ 一、实验目的和要求（必填） 二、实验内容和原理（必填） 三、主要仪器设备（必填） 四、操作方法和实验步骤 五、实验数据记录和处理 六、实验结果与分析（必填） 七、讨论、心得一、 实验目的和要求1、加深对集成运算放大器特性和参数的理解。
2、学习集成运算放大器主要性能指标的测试方法。
二、实验内容1、测量 输入失调电压VIO 。
2、测量 输入失调电流IIO 。
3、测量 输入偏置电流IIB 。
4、测量 开环差模电压增益Aod 。
5、测量 最大不失真输出电压幅度Vo(max) 或峰峰值Vopp6、测量 共模抑制比KCMR 。
7、测量 转换速率SR 。
三、实验器材集成运算放大器LM358、电阻电容等元器件、MY61数字万用表、示波器。
四、操作方法和实验步骤1、测量 输入失调电压V IO在常温下，当输入信号为零时，集成运放的输出失调电压V OO 折合到输入端的数值，称为输入失调电压V IO 。
或者说，为了使输出电压回到零，需在输入端加上反向补偿电压，该补偿电压称为输入失调电压V IO 。
输入失调电压V IO 的影响：失调电压的大小主要反映了运放内部差分输入级元件的失配程度。
当运算放大电路的输入外接电阻（包括信号源内阻）比较低时，失调电压及其漂移往往是引起运放误差的主要原因。
专业：电子信息工程 姓名：学号： 日期： 地点：1. 零输入时零输出吗？将运放的二个输入端u I(+)、u I(-)均接0V，用示波器监视输出电压波形，并用示波器测量其直流电压（平均值、输出失调电压V OO）、有效值、峰峰值、频率。
2. 将运放的二个输入端均悬空用示波器监视输出电压波形，并用示波器测量其直流电压（平均值）、有效值、峰峰值、频率。
集成运算放大器实验报告
集成运算放大器一、实验目的和要求1、了解集成运算放大器的工作原理；2、熟练运用模拟集成电路进行基本电路的仿真设计；3、独立完成运算放大器的加法、减法运算，并设计出y=X1+2X2及y=2X1-X2的运算电路。
二、主要仪器电脑、模拟电路软件三、实验原理1、反相加法运算1）原理如图1，可列出以下等式I I1=u i1/R11,I i2=u I2/R12,I i3=u i3/R13,I F=I I1+I i2+I i3,I=-u O/R F,由上式可知，当时，则上式为当时，则由上列三式可见，加法运算放大电路与运算放大器电路本身无关，只要电阻阻值足够精确，可保证加法运算的精度和稳定性。
平衡电阻2）反相加法运算的特点：输入电阻低，共模电压低，改变某一输入电阻时，对其他电路无影响2、减法运算如果两个输入端都有信号输入，则为差分输入。
差分运算电路如图2所示。
由图可列出：因为u-≈u+，则当R1=R2和R F=R3时，则上式为当R F=R1时，则得由上式可见，输出电压与两个输入电压的差值成正比，可进行减法运算。
电压放大倍数在图2中，如将R3断开，则即为同相比例运算和反相比例运算输出电压之和。
由于电路存在共模电压，为保证运算精度，应当选用共模抑制比较高的运算放大器或选用阻值合适的电阻。
四、实验内容1、设计y=X1+2X2运算电路，在电脑中用仿真软件绘图，保证电路在运行状态。
R2R F R6R1R4R3R5注：R2等于R1、R F并联2、设计y=2X1-X2运算电路，在电脑中用仿真软件绘图，保证电路在运行状态。
注：R F/R1=R3/R2五、总结1、了解了集成运算放大器的工作原理；2、可以熟练运用模拟集成电路进行基本电路的仿真设计；3、输出端和输入端都需要接地；4、虽说是仿真电路，但还是要注意接入元件的正负接口，如电压表；5、进行电脑操作前，先熟悉如何接入元件，并连接各元件，再进行下一步操作。
集成运算放大器实验报告总结
集成运算放大器实验报告总结
本次实验通过对集成运算放大器的原理和特性进行研究，掌握了集成运算放大器的基本工作原理、性能特点、应用范围和电路设计方法等方面的知识。
以下是本次实验的总结：
一、实验内容：
本次实验主要包括以下内容：
1、对集成运算放大器的基本特性进行测量，包括输入阻抗、输出阻抗、共模抑制比、增益带宽积、共模漂移等。
2、利用集成运算放大器设计反相放大电路、非反相放大电路、电压跟随器电路，实现对输入信号的放大和处理。
3、利用集成运算放大器设计直流平移电路、带通/陷波滤波电路，实现对输入信号的滤波和分析。
4、利用集成运算放大器设计电路输出交流信号的直流偏置，实现输出直流电平的稳定。
二、实验结果：
通过实验测量得到了集成运算放大器的基本特性参数，并成功搭建了反相放大电路、非反相放大电路、电压跟随器电路、直流平移电路、带通/陷波滤波电路等，并对不同电路的输入和输出信号进行了观察和分析。
三、实验体会：
通过本次实验，我对集成运算放大器的工作原理、特性及其应用有了更深入的了解，同时加强了实验能力和动手能力。
同时，在实验过程中我也深刻体会到了理论知识与实践操作的重要性，只有把理论与实验相结合，才能更好地理解和掌握这门学科的知识。
最新集成运算放大器实验报告
最新集成运算放大器实验报告
本实验利用最新一代集成放大电路，对构建的放大器进行测试，研究它的质量、性能
和特点，以在技术发展处于阶段性向前发展时，为制造一流产品提供技术支持。
实验测试参数包括电压驱动、静态电路、上电延迟等。
采用高分辨率的计量仪表，测
量电路的信号传输质量，并从结果的精度、稳定性上对功能性能进行检测，确定其传输速
率和质量，以及输出性能。
另外，专业人员也使用综合测试仪进行了更深入的检查，检验
电路的负载非线性行为以及相关的噪声衰减性能，查看构成元器件的特性，建立性能参数，评估整机质量。
结果表明，本次实验中构建的放大器性能良好，其输出电压精度获得较高水平，非竞
争放大因子也达到较想要的目标，有效信噪比也获得良好。
此外，综合测试仪检测到这款
集成放大器的负载非线性行为极为优异，具有高效率、宽性能范围、高可靠性、低噪音及
高负载稳定性，可以确保整机的优良性能。
以上就是本次实验中最新一代集成放大电路的实测结果。
通过对放大器进行系统测试，我们可以预见，针对不同环境与参数条件，这款放大器都能在性能、能效和可靠性方面发
挥出色的表现，特别是在高保真、大功率方面有着不可替代的地位，从另一方面也有助于
提升电子产品的性能并服务于社会。
集成运算放大器的基本应用实验报告
集成运算放大器的基本应用实验报告一、实验目的。
本实验旨在通过对集成运算放大器的基本应用进行实验操作，加深对集成运算放大器的工作原理和基本应用的理解，掌握集成运算放大器的基本特性和应用技巧，提高实验操作能力和动手能力。
二、实验仪器与设备。
1. 集成运算放大器实验箱。
2. 示波器。
3. 直流稳压电源。
4. 电阻、电容等元器件。
5. 万用表。
6. 示波器探头。
三、实验原理。
集成运算放大器（Operational Amplifier，简称Op-Amp）是一种高增益、直流耦合的差动放大器，具有输入阻抗高、输出阻抗低、增益稳定、频率响应宽等特点，广泛应用于模拟电路中。
在本实验中，我们将学习集成运算放大器的基本特性和应用技巧，包括集成运算放大器的基本参数、基本电路和基本应用。
四、实验内容。
1. 集成运算放大器的基本参数测量。
a. 输入失调电压的测量。
c. 增益带宽积的测量。
2. 集成运算放大器的基本电路实验。
a. 非反相放大电路。
b. 反相放大电路。
c. 比较器电路。
d. 电压跟随器电路。
3. 集成运算放大器的基本应用实验。
a. 信号运算电路。
b. 信号滤波电路。
c. 信号调理电路。
五、实验步骤。
1. 连接实验仪器与设备，按照实验要求进行电路连接。
2. 分别测量集成运算放大器的输入失调电压、输入失调电流和增益带宽积。
3. 搭建集成运算放大器的基本电路，观察输出波形并记录实验数据。
4. 进行集成运算放大器的基本应用实验，观察输出波形并记录实验数据。
六、实验数据与分析。
1. 输入失调电压测量数据。
输入失调电压，0.5mV。
平均输入失调电压，0.55mV。
2. 输入失调电流测量数据。
输入失调电流，10nA。
输入失调电流，12nA。
平均输入失调电流，11nA。
3. 增益带宽积测量数据。
增益带宽积，1MHz。
4. 实验数据分析。
通过测量数据的分析，我们可以得出集成运算放大器的输入失调电压较小，输入失调电流也较小，增益带宽积较大，符合集成运算放大器的基本特性。
集成运算放大器实验报告
集成运算放大器实验报告2.4.1 比例、加减运算电路设计与实验由运放构成的比例、求和电路，实际是利用运放在线性应用时具有“虚短”、“虚断”的特点，通过调节电路的负反馈深度，实现特定的电路功能。
一、实验目的1．掌握常用集成运放组成的比例放大电路的基本设计方法； 2．掌握各种求和电路的设计方法；3．熟悉比例放大电路、求和电路的调试及测量方法。
二、实验仪器及备用元器件 （1）实验仪器（2）实验备用器件三、电路原理集成运算放大器，配备很小的几个外接电阻，可以构成各种比例运算电路和求和电路。
图2.4.3（a ）示出了典型的反相比例运算电路。
依据负反馈理论和理想运放的“虚短”、“虚断”的概念，不难求出输出输入电压之间的关系为 1f o i i R A R υυυυ==-2.4.1式中的“-”号说明电路具有倒相的功能，即输出输入的相位相反。
当1f R R =时，o i υυ=-，电路成为反相器。
合理选择1f R R 、的比值，可以获得不同比例的放大功能。
反相比例运算电路的共模输入电压很小，带负载能力很强，不足之处是它的输入电阻为1i R R =，其值不够高。
为了保证电路的运算精度，除了设计时要选择高精度运放外，还要选择稳定性好的电阻器，而且电阻的取值既不能太大、也不能太小，一般在几十千欧到几百千欧。
为了使电路的结构对称，运放的反相等效输入电阻应等于同相等效输入电阻，R R +-=,图2.4.3（a ）中，应为1//P f R R R =，电阻称之为平衡电阻。
(a) 反相比例运算电路 (b) 同相比例运算电路图2.4.3 典型的比例运算电路图2.4.3（b ）示出了典型的同相比例运算电路。
其输出输入电压之间的关系为 1(1)f o i i R A R υυυυ==+2.4.2由该式知，当0f R =时，o i υυ=，电路构成了同相电压跟随器。
同相比例运算电路的最大特点是输入电阻很大、输出电阻很小，常被作为系统电路的缓冲级或隔离级。
实验三： 通用集成运放基本参数测试
东南大学电工电子实验中心实验报告课程名称：电子线路实践第三次实验实验名称：通用集成运放基本参数测试院（系）：信息科学与工程学院专业：信息工程姓名：学号：实验室: 实验组别：同组人员：实验时间：评定成绩：审阅教师：一、实验目的理解通用运放主要参数的意义，学会其测试方法，为选择运放和设计运放应用电路打下基础二、实验原理集成运放是模拟集成电路中发展最快的，通用性最强的一类集成电路。
理想集成运放有以下特性：●开环增益无限大●输入阻抗无限大●输出阻抗为零●带宽无限●失调及其温漂为零●共模抑制比为无穷大●转换速率为无穷大三、实验内容1、输入失调电压V ioS理想运放当输入电压为零时，其输出电压也为零，但实际运放当输入电压为零时，其输出端仍有一个偏离零的直流电压V ioS，这是由于运放电路参数不对称引起的。
测量依据：闭环增益|A vf|=R2 R1输入失调电压：V ioS=−V oS |A vf|电路图如下建议取R2=1MΩ，R2=100KΩ测量数据：=10V oS=39.87mv|A vf|=R2R1= - 3.987V ioS=−V oS|A vf|2、转换速率（压摆率）S R当运放在闭环情况下，其输入端加上大信号（通常为阶跃信号）时，其输出电压波形将呈现如图所示的一定的时延。
主要原因是运放内部电路中的电容充放电需要一定的时间。
运放转换速率定义为(V/μs)S R=∆V0∆t即S R表示在闭环状态下，每1μs时间内输出电压变化的最大值。
理想运放的S R=∞，通用运放如µA741，其S R=0.5 V/μs设输入为正弦电压v0=−V om sinωt，ω=2πf所以dv0dt=ωV om cosωt输出电压最大变化速率为|dv0dt|=ωV om=2πf∗V omωV om≤S R据此可得，当不失真的最大输出电压为V om时，最大频率f max≤S R2πVom如µA741运放，其S R=0.5 V/μs，当输出电压幅值Vom=10V时，其最大不失真频率为f max≤0.52π∗10=8 kHz还可推知，频率为f max时不失真的最大输出电压V om≤S R2πf max同样，对于µA741，为使其f max=10 kHz，则其最大输出电压幅值V om≤8V建议：R1=R2=100KΩV i取5V（峰-峰值）f i取10kHZ观测V i的A通道灵敏度取5V/div，观测v0的B通道灵敏度取1V/div，时基取10µs/div；交流耦合。
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集成运放参数测试仪
摘要：本集成运放参数测试仪以MSC-51单片机为核心，由被测电路、信号源、0809A/D转换器、液晶显示器、键盘等组成。
采用DDS芯片AD9835产生40kHz～4MHz扫频信号和5Hz的输入信号，它能对LM358及与之引脚兼容的其他集成运
放（例如LM353、LM741）的基本参数V
IO 、I
IO
、A
VD
、K
CMR
及BW
G
进行测试和数字显
示。
关键字：集成运放；单片机；DDS
一、系统方案设计
1.方案论证与选择
（1）信号源部分
方案一：利用函数发生器，可产生三角波、方波、正弦波。
通过调整外围元件可以改变输出频率、幅度，但采用模拟器件由于元件分散性太大，即使用单片函数发生器，参数也与外部元件有关，外接电阻电容对参数影响很大，因而产生的频率稳定度较差、精度低、抗干扰能力差。
方案二：采用锁相式频率合成方案。
锁相式频率合成是将一个高稳定度和高精度的标准频率经过运算，产生同样稳定度和精确度的大量离散频率的技术，他在一定程度上满足了既要频率稳定精确，又要在大范围内变化的矛盾。
但其波形幅度稳定度较差，在低频内波形不理想。
方案三：采用直接数字频率合成（DDS）技术。
由于DDS采用全数字方式实现频率合成，直接对参考正弦波时钟进行抽样和数字化，然后通过数字计算技术进行频率合成，因此具有模拟频率合成技术无法比拟的优点。
DDS不仅频率转换速率快、频率分辨率高、相位噪声低、输出相位可连续变化，而且易编程，体积小、功耗低。
DDS直接频率合成器件的诸多优点使其逐渐成为未来信号源发展方向。
方案拟采用DDS专用集成芯片AD9835。
它的串行控制方式，使电路简单、编程方便；内部有一个32位相位累加器，用于存放频率控制字，可实现1Hz的频率调节。
我们需要5Hz的单一稳定频率，要求其频率，幅度稳定。
综合考虑，我们采用方案三，实现了高精度，高稳定度的5Hz测试信号源。
（2）信号采集模块
方案一：用AD736 RMS真有效值转换芯片，AD736的响应频率在0~10KHZ，采用该器件只需将被测的信号加到它的输入端上，就可以得到它的有效值，无需软件处理，测试非常的方便。
但是我们在调试中现在AD736 在响应低频的时候不是很稳定，这样对整个系统会带来不稳定。
因此我们没有选用这个方案。
方案二：采用A/D 转换，将模拟信号数字化，然后进行数据处理。
由于ADC0809运用起来非常的方便，转换精度也比较高，因此我们采用了方案二。
2.系统方案描述
该系统包括软件和硬件两个方面，程序被下载到单片机中，自动进行一系列测试工作，其整体系统原理框图如图1.1所示。
测试电路AD637
峰值检波
A/D 转换
51单片机
LCD 显示
键盘输入
图1.1 整体系统原理框图
二、硬件电路设计与分析
1、V IO 和I IO 电参数的测试
根据GB3442-82标准，直流参数V IO 、I IO 电路原理图如图2.1所示。
+
-
+
-
LM358
OP07
R f
R 1
R i
R i
R 2
K 1
K 2
R
R E R f
1K 0.1uF
50C f C 1
0.47uF 47K
47K
100
100
1M 1M
68nF
30K
30K
A B
C
D
图2.1 V IO 、I IO 测试原理图
（1）输入失调电压V IO
由于运放电路参数的不对称，使得两个输入端都接地时输出电压不为零，称之为放大器的失调。
为使输出电压回到零点，必须在输入端加一个纠偏电压来补偿这种失调，这个纠偏电压就叫运算放大器的输入失调电压V IO 。
因此，V IO 的定义为使输出电压为零时，在两个输入端之间加的直流补偿电压。
输入失调电压的测量原理如图2.1所示，此时应K 1、K 2闭合，测出E 点的电压V E ，则输入失调电压
E f
i i
A B A IO V R R R V V V V +==-= (1)
（2）输入失调电流I IO
I IO 的定义为补偿失调电压后，使输出电压为零时，流入运算放大器两输入端的电流差值。
测试原理仍用图2.1，此时将K 1、K 2断开，测E 点的电压V E ’，则输入失调电流
R V V R R R I E E f
i i IO /)('
-+= (2)
2、A VD 和K CMR 电参数的测试
根据GB3442-82标准，交流参数A VD 、K CMR 电路原理图如图2.2所示。
图2.2 A VD 、K CMR 测试原理图
（1）差模开环增益A VD
开环电压增益是指放大器在无反馈时的差模电压增益，其数值等于输出电压的变化量ΔUo 与输入电压的变化量ΔUI 之比。
由于Avo 很大，输入信号很小，而且输入电压与输出电压之间还存在相位差，很容易引起较大的测试误差，因此在测试开环电压增益时都采用交流开环、直流闭环的方法。
测试原理如图3.2所示，将S1拨向地线，S2拨向信号源V S ，取C f1=0.47uF,C f2=2200pF ，测出E 点
电压V E ，则交流差模开环增益
))(lg(20dB R R R V V A i f
i E S VD +⋅= （3）
（2)共模抑制比K CMR
共模抑制比定义为差模电压增益AVD 与共模电压增益AVC 之比。
K CMR 的大小不仅与频率有关，还与输入信号大小和波形有关，因此测量频率不宜太高，信号不宜过大。
其测试原理如图3.2所示，将S1拨向信号源V S ，S2拨向地线，C f1取4个0.47uF 电容串联,C f2=1000pF ，测出E 点电压V E ，则共模抑制比 ))(lg(20dB R R R V V A A K i
f
i E S VC VD CMR
+⋅== （4）
三、软件程序设计
在主程序中，主要根据按键做相应的处理，主程序流程图如图3.1所示。
图3.1 主程序流程图
四、数据分析与测试
（1）测试V IO 、I IO 、A VD 、K CMR 的数据见表4.1。
测量值与标准值的比较如表4.2所示。
表4.1 测试V IO 、I IO 、A VD 、K CMR 的数据
表4.2 测量值与标准值的比较
（2）信号源的输出频率范围及输出电压有效值见表4.3。
表4.3 信号源的输出
五、结论
该集成运放参数测试仪能对V
IO 、I
IO
、A
VD
、K
CMR
四项基本参数进行准确测试。
其中V
IO 的测试范围是0～40mV，误差绝对值小于2%。
I
IO
的测试范围是0～4μA，
误差绝对值小于2%。
A
VD 的测试范围是60～120dB，误差绝对值小于3dB。
K
CMR
的
测试范围是60～120dB，误差绝对值小于3dB。
DDS信号源能输出频率为5Hz、有效值为4V的正弦信号，误差绝对值满足小于1%的设计要求。
扫描信号源的频率输出范围是1Hz～5MHz，频率误差小于0.8%。
输出电压有效值为2V±0.2V。
用示波器观察输出波形无明显失真。
在时间与精力的允许下，可以进一步通过软硬件联调完成量程扩展和发挥部分。