光照强度测量仪1
1.题义分析及解决方案
设计一个简易的光照强度测量仪，由光照强度产生的模拟电压信号转换为数字信号，然后转换为照度（单位是勒克斯）显示在LED上；
校准照度测量器：在一定的光强度下，产生200数字量的电压，以此对应关系（照度—电压）将其它光强度转换为勒克斯值，显示在LED上。
1.1题义需求分析
1.1.1 光照强度测量仪的概念
通过使用某测量仪来测量某光照的强度，这种仪器就称为光照强度测量仪。仪器使用时先将某待测光源直接照射在测量仪的光照接收口（实验中为光敏电阻表面），然后在测量仪的可视化界面（实验中为LED）中观察结果值。
光照强度的国际单位（SI）为勒克斯，又称米烛光。1流明的光通量均匀分布在1平方米面积上的照度，就是一勒克斯。可以标作勒［克斯］，简称勒。英为lux，简作lx。勒克斯是引出单位，由流明(lm)引出。流明则由标准单位烛光(cd)引出。
1.1.2光照强度测量仪的工作原理
测量仪主要根据光敏电阻的特性制作的。光敏电阻值随受到的光照强度的变化而变化（光照强度越大，电阻值越小）。将光敏电阻接入电路中，不同光照强度导致光敏电阻值变化，于是光敏电阻上的电压发生变化，导致电路的输出电压也相应变化。根据电压-光照度函数关系，由电压计算得到光照强度值，然后以可视化界面形式输出，供用户查看结果。
1.1.3从计算机角度解决问题
计算机通过PCI线与实验箱上的ES-PCI模块相连，充分利用实验箱上的各个模块完成，有：A3(片选)、B2(时钟)、B4(8255)、D3(光敏电阻)、G4(ADC0809)、G5(LED)以及ES-PCI。通过导线正确连接好电路。使用时光源直接照射在光敏电阻表面，结果（光照强度）显示在LED上。
1.1.4根据设计内容要求可知：
光敏电阻的特性：光敏电阻随受到的光照强度的变化电阻值发生变化，光照强度越强电阻越小，在分压电路中获得电压越低。
根据这一特性，结合光照强度和输出的模拟电压之间的关系，可以得到某一光强度下的对应的模拟电压。将模拟电压通过AD转化器转换为数字电压，以便于计算机处理。然后再将数字电压转换成光照度。
使用STAR ES598PCI单板开发机设计一个应用接口芯片作为八个七段LED 数码管的输入口，接口可以使用8255A或8279。
编写程序实现八个LED数码管显示光照度值，该值为（根据采样得到的模拟电压转换得到的）数字电压对应的光照强度。
1.2.解决问题方法及思路
1.2.1硬件部分
程序设计中用到的硬件是光敏电阻、ADC0809、8255A和七段LED数码管。
提出问题：
为什么接口使用8255A而不是8279；
为什么显示装置使用LED七段数码管而不是LCD；
为什么选用光敏电阻；
为什么选用ADC0809。
解决问题：
1.2.1.1接口芯片选用8255A而不是8279是由于8255A在本程序中使用软件控制很容易实现且不需要用到小键盘，具体如表1所示。
示。
表2 LED与LCD比较表
性关系，得到的模拟电压也成线性关系。
1.2.1.4本实验选用的模数转换器是ADC0809。由于本实验的精度要求不是很高，ADC0809的转换精度和转换时间也都不是很高，但其性能价格比有明显的优势，是目前应用比较广泛的芯片之一，足以满足本次实验需求。
1.2.2软件部分
根据题义要求，接口采用的是芯片8255A，A、B口输出，C口输入。将A 口设置为段选，B口设置为位选，且A、B口均工作在方式0。用软件编程实现从C口读入信息，通过8个LED数码管循环显示光照强度（实际应用中只用到3个）。
2.硬件设计
2.1.选择芯片8255A
2.1.1芯片8255A在本设计中的作用
芯片8255A通过数据口从CPU接受转换得到的光照度数据，通过B口输出作为位选，实现LED数码管的动态显示，通过A口将数值输出到LED数码管。
2.1.2芯片8255A的功能分析
2.1.2.1 8255引脚图
8255是可编程并行接口，内部有3个相互独立的8位数据端口，即A口、B 口和C口。三个端口都可以作为输入端口或输出端口。A口有三种工作方式：即方式0、方式1和方式2，而B口只能工作在方式0或方式1下，而C口通常作
为联络信号使用。8255的工作只有当片选CS有效时才能进行,而控制逻辑端口实现对其他端口的控制。
2.1.2.2 CPU接口（数据总线缓冲器和读/写控制逻辑）
数据总线缓冲器:
这是一个8位双向三态缓冲器，三态是由读/写控制逻辑控制的。这个缓冲器是8255A与CPU数据总线的接口。所有数据的输入/输出，以及CPU用输出指令向8255A发出的控制字和用输入指令从8255A读入的外设状态信息，都是通过这个缓冲器传递的。
读/写控制逻辑:
它与CPU的6根控制线相连，控制8255A内部的各种操作。控制线RESET 用来使8255A复位。和地址线A1及A0用于芯片选择和通道寻址。控制线和用来决定8位内部和外部数据总线上信息传送的方向，即控制把CPU的控制命令或输出的数据送到相应的通道，或把状态信息或输入数据送到CPU。8255A的读/写控制逻辑的作用，是从CPU的地址和控制总线上接受输入的信号，转变成各种命令送到A组或B组控制电路进行相应的操作。
2.1.2.3 8255A的引脚信号
与外设相连的
PA7~PA0：A口数据信号线。
PB7~PB0：B口数据信号线。
PC7~PC0：C口数据信号线。
与CPU相连的
RESET：复位信号。当此信号来时，所有寄存器都被清除。同时三个数据端口被自动置为输入端口。
D7~D0：它们是8255A的数据线和系统总线相连。
CS:片选信号。在系统中，一般根据全部接口芯片来分配若于低位地址（比如A5、A4、A3）组成各种芯片选择码，当这几位地址组成某一个低电平，于8255A 被选中。只有当有效时，读信号写才对8255进行读写。
RD：读信号。当此信号有效时，CPU可从8255A中读取数据。
WR：写信号。当此信号有效时，CPU可向8255A中写入数据。
A1、A0：端口选择信号。8255A内部有3个数据端口和1个控制端口，共4个端口。规定当A1、A0：为00时，选中A端口；为01时，选中B端口；为10时，选中C端口；为11时，选中控制口。
8255的基本操作如下表3所示。表3 8255的基本操作
2.1.2.4芯片8255A的技术参数，如下表4所示：
参数说明：
输入最低电压：min＝-0.5V，max＝0.8 V
输入最高电压：2.0 V
输出最低电压：0.45 V
输出最高电压：2.4 V
表4 8255A的技术参数
2.1.2.5 8255A工作方式控制字
A口、B口为输出模式，工作于方式0。CPU中的数据经由数据线路到达8255A，再由A口、B口分别段选、位选后输出到LED。详细控制字见表5。
表5 8255A的工作方式控制字
方式0的工作特点
这种方式通常不用联络信号，不使用中断，三个通道中的每一个都有可以由
程序选定作为输入或输出。其功能为：
①两个8位通道：通道A、B。两个四位通道：通道C高4位和低四位；
②任何一个通道可以作输入/输出；
③输出是锁存的；
④输入是不锁存的；
⑤在方式0时各个通道的输入/输出可有16种不同的组合。
2.2 选择LED七段数码管
2.2.1 LED七段数码管在实验中的作用
LED发光二级管（Light-Emitting Diode），在本设计中采用7段发光二级管
作为终端显示。
物理构造：LED发光二级管，采用砷化镓、镓铝砷和磷化镓等材料制成，
其内部结构为一个PN结，具有单向导电性。
2.2.2 LED七段数码管的功能分析
工作原理：当在发光二极管PN结上加正向电压时，PN结势垒降低，载流子的扩散运动大于漂移运动，致使P区的空穴注入到N区，N区的电子注入到P区，这样相互注入的空穴与电子相遇后会产生复合，复合时产生的能量大部分以光的形式出现。
数字成像：七段LED显示器可以控制在哪几个数位上，哪几个发光二极管亮，从而显示数字。如果发光二极管共阳极，则输入为0时亮，为1时不亮，反之如果发光共阴极，则输入1时亮，0时不亮。
在本实验中选用了共阴极。所谓共阴极是指将各LED二极管的阴极连接在一起（一般相连接地）各阳极接到相应器件引脚上。发光二极管是一种外加电压超过额定电压时发生击穿，并因此能产生可发光的器件，数码显示器通常由多个发光二极管来组成七段或八段笔画显示器，当段组合发光时，便会显示某一个数码管或字符，七段代码的各位用作a—g和DP的输入。COM为8个发光二极管的公共引线，实验中COM引线接内部8个二极管的阴极，abcdefg(dp)则为8个发光二极管的阳极的引线。
实验中LED管采用动态显示：3个LED显示器按固定的时间间隔显示一段时间（1.25ms），利用人眼视觉滞后，感觉3个LED显示器同时点亮且无闪烁感。
2.2.3 LED七段数码管的技术参数
表6 LED显示的技术参数
主要参数:此时的驱动电流为25mA。
发光二极管的压降一般为1.5~2.0 V，其工作电流一般取10~20mA为宜。
发光二极管的发光颜色有：红色光、黄色光、绿色光、红外光等。
发光二极管应用电路有四种，即直流驱动电路、交流驱动电路、脉冲驱动电路、
变色发光驱动电路。
由于8255A的最大驱动电流为4.0mA，而LED的工作电流一般为10~20mA，所以需要加一个驱动器74LS244。
2.2.4 LED七段显示器的功能分析
表7 LED真值表
LED数字显示原理：
如下图8为LED数码管及其框图
图8 LED显示器
上面两图分别为外形图和原理图，当七段数码管点亮其中几段可显示数字和
简单的西文字符，将七段数码管负极连接到一起称为公共端，而发光二极管的正
极则分别由引脚引出，便于控制哪个发光二极管点亮，在右图中如果在COM端
接低电平，而在其他引出线上施加不同的电平，则对高电平的发光二极管就会点亮，由于将8个发光二极管负极全部连接在一起，称为共阴极数码管，还有将8
个发光二极管的正极连接在一起，故称之为共阳极数码管。
本次实验用的数码管需动态扫描显示，其接口电路将所有数码管的笔画控制
段与a~h同名端连在一起，接到一个并行端口，每个公共极COM端由独立的I/O
线控制，CPU向字模输出口送出字形码时，所有数码管接收到相同的字形码，
究竟哪个数码管显示，取决于每个LED的COM端，所谓动态扫描，就是显示
一位信息时，其他位不能显示，必须采用分时方法，轮流控制COM端。
2.3 选择光敏电阻
2.3.1光敏电阻在本设计中的作用
光敏电阻在实验中是用来提供模拟电压的，通过光照度的变化改变电阻值，提供变化的模拟电压。
2.3.2光敏电阻的功能分析
物理构造：光敏电阻又称光导管，它几乎都是用半导体材料制成的光电器件。光敏电阻没有极性，纯粹是一个电阻器件，使用时既可加直流电压，也可以加交流电压。无光照时，光敏电阻值（暗电阻）很大，电路中电流（暗电流）很小。
当光敏电阻受到一定波长范围的光照时，它的阻值（亮电阻）急剧减少，电路中电流迅速增大。一般希望暗电阻越大越好，亮电阻越小越好，此时光敏电阻的灵敏度高。实际光敏电阻的暗电阻值一般在兆欧级，亮电阻在几千欧以下。光敏电阻的原理结构：它是涂于玻璃底板上的一薄层半导体物质，半导体的两端装有金属电极，金属电极与引出线端相连接，光敏电阻就通过引出线端接入电路。为了防止周围介质的影响，在半导体光敏层上覆盖了一层漆膜，漆膜的成分应使它在光敏层最敏感的波长范围内透射率最大。
工作原理：光敏电阻接有一个稳定电压，当光照度变化时，光敏电阻的阻值会改变，通过比例放大器输出电阻的压降。
2.3.3光敏电阻的技术参数
亮阻约为2K欧，暗阻大于1M欧，外观直径5毫米，最高承受电压直流120V，最大功耗100mW上升响应时间20ms，下降响应时间30ms。实验中光敏电阻电路输出的电压范围为0-5V。
光敏电阻电路图如下：
2.4 选择芯片ADC0809
2.4.1 ADC0809在本设计中的作用
ADC0809接收光敏电阻电路传送的模拟电压，将模拟电压转换为数字电压，传送给CPU进行数据转换，CPU将数字电压通过电压与光照度的比例关系转换为光照度。
2.4.2 ADC0809的功能分析
物理构造：ADC0809是CMOS单片型逐次逼近式A／D转换器，内部结构由8路模拟开关、地址锁存与译码器、比较器、8位开关树型D／A转换器、逐次逼近数码寄存器、时序及控制逻辑和三态输出锁存器组成。
工作原理：首先输入3位地址，并使ALE=1，将地址存入地址锁存器中。
此地址经译码选通8路模拟输入之一到比较器。START上升沿将逐次逼近寄存器复位。下降沿启动A/D转换，之后EOC输出信号变低，指示转换正在进行。直到A/D转换完成，EOC变为高电平，指示A/D转换结束，结果数据已存入锁存器，这个信号可用作中断申请。当OE输入高电平时，输出三态门打开，转换结果的数字量输出到数据总线上。
2.4.3 ADC0809的技术参数
ADC0809是8路8位A/D转换器，即分辨率8位。具有转换起停控制端。转换时间为100μs单个＋5V电源供电模拟输入电压范围0～＋5V，不需零点和满刻度校准。工作温度范围为-40～＋85摄氏度低功耗，约15mW。
2.4.4 ADC0809主要信号引脚的功能说明。见图9。
图9 引脚图
ADC0809芯片有28条引脚，采用双列直插式封装，如图所示。下面说明各引脚功能。
IN7～IN0——8路模拟量输入端。
D7～D0——8位数字量输出端。
ADDA、ADDB、ADDC——3位地址输入线，用于选通8路模拟输入中的一路
ALE——地址锁存允许信号，输入，高电平有效。对应ALE上跳沿，A、B、C地址状态送入地址锁存器中。
START——转换启动信号。。A/D转换启动脉冲输入端，输入一个正脉冲（至少100ns宽）使其启动。START上升沿时，复位ADC0809；START下降沿时启动芯片，开始进行A/D转换；在A/D转换期间，START应保持低电平。
EOC——A/D转换结束信号，输出，当A/D转换结束时，此端输出一个高电平（转换期间一直为低电平）。
OE——数据输出允许信号，输入，高电平有效(OE=0，输出数据线呈高阻；OE=1，输出转换得到的数据)。当A/D转换结束时，此端输入一个高电平，才能打开输出三态门，输出数字量。
CLK——时钟脉冲输入端。要求时钟频率不高于640KHZ，通常使用频率为500KHz的时钟信号。
REF（+）、REF（-）——基准电压。参考电源、参考电压用来与输入的模拟
信号进行比较，作为逐次逼近的基准。其典型值为Vref(+)=+5V, Vref(-)=-5V。
Vcc——电源，单一＋5V。
GND——接地。
2.5 硬件总逻辑图及其说明
硬件总逻辑图如下图10所示：
图10 硬件总逻辑图
芯片8255A的数据线D0～D7与主机低八位数据线相连，8255A的RD线、WR线、A0、A1、RESET分别与主机的RD线、WR线、A0、A1、RESET线连接。8255A的A口控制LED的段选，B口控制位选.
光敏电路如下：
在单片机上的接口连接如下：
3.控制程序设计
3.1 控制程序设计思路说明
初始化8255芯片，设置工作方式控制字为89（100010001B），即A、B口为输出，分别控制LED的段选、位选，C口输入。下图为控制字：
以采样五十次为一周期，求得五十次采样的总值。然后除以50，得到采样50次的平均值，存入LastAD。在每一次采样过程中，都在PC机和LED上输出上一周期采样转化得到的光照强度（单位：勒克斯）。具体转化过程为：采样得到的模拟值经过AD转化后为电压值，电压范围为0-5V。而考虑到实际生活中，一般照明为200lux，重点照明为300lux，所以实验中可显示的光照强度为0-500lux。于是参考两者之间的线性关系，定下入下图的关系：
图10 电压-光照度函数
3.2 程序流程图
图1-11 程序流程图
3.3控制程序
.MODEL TINY
PCIBAR3 EQU 1CH
;8位I/O空间基地址(它就是实验仪的基地址,也为DMA & 32 BIT RAM板卡上的8237提供基地址)
Vendor_ID EQU 10EBH ;厂商ID号Device_ID EQU 8376 ;设备ID号
.STACK 100
.DATA
ADDR_0809 DW 00F0H LastAD DB 0 ;上一次AD转换值IO_Bit8_BaseAddress DW ?
BUFFER DB ' H . V$'
msg0 DB 'BIOS不支持访问PCI $' msg1 DB '找不到Star PCI9052板卡$' msg2 DB'读8位I/O空间基地址时出错$' msg3 DB 'AD转换结果(前边是16进制数,后边是十进制数): $'
COM_ADD DW 00E3H ;控制口偏移量PA_ADD DW 00E0H ;PA口偏移量PB_ADD DW 00E1H ;PB口偏移量PC_ADD DW 00E2H ;PC口偏移量LED_DA TA DB
3Fh,06h,5Bh,4Fh,66h,6Dh,7Dh,07h,7Fh, 6Fh ;0-9的七段代码表
SHIFT DB 0FEH ;用于位选
.CODE
START: MOV AX,@DA TA
MOV DS,AX
NOP
CALL InitPCI
CALL ModifyAddress ;根据PCI 提供的基地址,将偏移地址转化为实地址
MOV AH,09H
LEA DX,msg3
INT 21H
CALL Init8255 ;初始化8255A
XOR AL,AL
JMP START6
START1: MOV CX,50 ;采样五十次
MOV BX,0 ;累计五十次采样值START2: CALL AD0809
XOR AH,AH ;采样值在AL中,AH清0后，AX即为采样值
ADD BX,AX ;BX为采样总值
CALL DISPLAY_PC
;在PC机上显示结果
CALL DISPLAY_LED
;LED显示上一次采样的结果LastAD
LOOP START2
MOV AX,50
XCHG AX,BX
DIV BL ;五十次的平均值,BL=50,平均值在AL中，余数在AH中
CMP AL,LastAD
JZ START3
START6: MOV LastAD,AL
;LastAD值为AD转换值
START3: CALL IfExit
JZ START1
JMP Exit
AD0809 PROC NEAR
MOV SI,CX
MOV AL,0
MOV DX,ADDR_0809
OUT DX,AL
MOV DX,IO_Bit8_BaseAddress
MOV CX,100
AD08091:IN AL,DX
LOOP AD08091
;延时,等待AD转换完成
MOV DX,ADDR_0809
IN AL,DX
MOV CX,SI
RET
AD0809 ENDP
ToChar PROC NEAR
;转化为可显示的16进制数
ADD AL,'0'
CMP AL,'9'
JBE ToChar1
ADD AL,07H
ToChar1: RET
ToChar ENDP
DISPLAY_PC PROC NEAR
MOV SI,AX ;相当于PUSH
MOV DI,BX
MOV AL,LastAD
;将AD转换值读入AX中
MOV AH,AL
AND AL,0FH
CALL ToChar
MOV BUFFER + 1,AL
MOV AL,AH
AND AL,0F0H
ROR AL,4
CALL ToChar
MOV BUFFER,AL
MOV AL,AH
XOR AH,AH
MOV BL,51
;255/5 (16进制的1 = 1/51V)
DIV BL
OR AL,'0'
;转化为可显示的10进制数
MOV BUFFER + 4,AL
;整数部分
MOV AL,10
MUL AH
DIV BL
OR AL,'0'
MOV BUFFER + 6,AL
;第一位小数
MOV AL,10
MUL AH
DIV BL
OR AL,'0'
MOV BUFFER + 7,AL
;第二位小数
MOV DX,43
MOV AH,02H
INT 10H ;定位光标
LEA DX,BUFFER
MOV AH,09H
INT 21H ;显示结果
MOV AX,SI ;相当于POP
MOV BX,DI
RET
DISPLAY_PC ENDP
TO_LED PROC NEAR ;LED 显示
LEA BX,LED_DA TA
XLAT ;经代码表转换为七段LED表中的段码，AL=BX[AL]
MOV DX,PA_ADD
;从8255A 的PA口读取数字量,段选
OUT DX,AL
MOV AL,SHIFT ;七段LED 的位选，0FEH选取最低位，位选
MOV DX,PB_ADD ;PB口位选
OUT DX,AL
CALL DLTIME ;延时
ROL AL,1
;向前选取次低位，位选
MOV SHIFT,AL
MOV AL,0FFH
;禁止显示,全置为灭,防止数字串位
OUT DX,AL
RET
TO_LED ENDP
DISPLAY_LED PROC NEAR
MOV SI,AX
MOV DI,BX
XOR AX,AX
MOV AL,BUFFER + 7
SUB AL,30H
CALL TO_LED
;在LED上显示右起第一位数
MOV AL,BUFFER + 6
SUB AL,30H
CALL TO_LED
;显示第二位数
MOV AL,BUFFER + 4
SUB AL,30H
CALL TO_LED
;显示第三位数
MOV SHIFT,0FEH
;恢复SHIFT原值，应用于下一次输出MOV AX,SI
MOV BX,DI
RET
DISPLAY_LED ENDP
DLTime PROC NEAR
MOV SI,CX
MOV CX,1563
DLT: NOP ;空操作，用于延时LOOP DLT
;循环延时,延时1.25ms
MOV CX,SI
RET
DLTime ENDP
IfExit PROC NEAR
MOV SI,AX
MOV DI,DX
MOV DL,0FFH
MOV AH,06H
INT 21H
MOV AX,SI
MOV DX,DI
RET
IfExit ENDP
InitPCI PROC NEAR
MOV AH,00H
MOV AL,03H
INT 10H ;清屏
MOV AH,0B1H
MOV AL,01H
INT 1AH
CMP AH,0
JZ InitPCI2
LEA DX,msg0
InitPCI1: MOV AH,09H
INT 21H
JMP Exit
InitPCI2: MOV AH,0B1H
MOV AL,02H
MOV CX,Device_ID
MOV DX,Vendor_ID
MOV SI,0
INT 1AH
JNC InitPCI3
;是否存在Star PCI9052板卡
LEA DX,msg1
JMP InitPCI1
InitPCI3: MOV DI,PCIBAR3
MOV AH,0B1H
MOV AL,09H
INT 1AH
;读取该卡PCI9052基地址
JNC InitPCI4
LEA DX,msg2
JMP InitPCI1
InitPCI4: AND CX,0FFFCH
MOV IO_Bit8_BaseAddress,CX
RET
InitPCI ENDP
Init8255 PROC NEAR
MOV DX,COM_ADD
MOV AL,89H
;A、B口为输出(段选，位选)，C口输入OUT DX,AL
MOV DX,PA_ADD
;LED全熄灭
MOV AL,0FFH
OUT DX,AL
RET
Init8255 ENDP
ModifyAddress PROC NEAR
ADD ADDR_0809,CX
;ADDR_0809=34F0H
ADD COM_ADD,CX
ADD PA_ADD,CX
ADD PB_ADD,CX
ADD PC_ADD,CX
RET
ModifyAddress ENDP
Exit: MOV AH,4CH
INT 21H
END START
4.上机调试过程
4.1硬件调试
因为在课程设计之前有问过做同样实验的同学，所以从一开始的思路就基本确立，也正因为从一开始就确立了正确的思路我在做实验的过程中才没有走弯路。我先是分析了题目，确定的使用8255芯片和ADC0809芯片。接线部分是参考平时实验课中8255和ADC0809的接线图，在经张向东教授的指导，对片选信号接线做了简单变动。
LED的接线部分主要是两排线路的连接。在确定了段选位选位置后，我选取了PA口和PB口作为输出。PA口作为段选输出，PB口作为位选输出。
但在调试时LED没有灯亮，在排查过程中，发现位选的PB口接LED的排线接反了，将PB口的排线拔出后，反向接线后，LED上出现了正确的数字显示。
还有一个关于光敏电阻的问题需要格外强调。实验箱的D3区有两个光敏电阻，倘若不做任何处理直接接出OUT，实验结果将维持0.03V的电压输出，显示的光照强度值也随之保持不变，达不到实验预期的效果。解决方法是将偏左的那个光敏电阻用一个黑色胶带或其他物品遮住，能大大减少它对实验的结果的影响。实验中因为这个问题花费了很多时间，最后也是问了同学才得以解决。
而且在操作中，为了能使结果精确，应该给光敏电阻进行调整，分别按老师指点调最小和最大。
4.2软件调试
实验中的程序经由0809的汇编程序添加改编而来。在编写将数字电压转化为光照强度的程序段时，没有头绪，想不出什么方法。经过同学的帮忙和指点，利用存储在BUFFER中的数据进行转换。这种方法十分的方便，大大节省了转换部分的时间。
4.3联机调试
将下位机与PC机通过两条扁平电缆相连，给下位机上电，运行编写好的汇编程序。七段数码显示管没有按照预定方式显示。由此，程序的编写过程中出现问题，然后进行单步调试。在调试的过程中发现显示的数值不是对应相应的电压，然后发现是在PB口输出位选的时候，位选的代码出现错误。开始是采用XLAT 指令通过查表来实现位选，这使得程序段冗余。经过同学的指点，改为采用逻辑尺的方式来决定位选，更加方便。
4.4调试结果及问题的提出
经过上述的改动后，调试结果基本达到了我们预期的结果，光敏电阻受到不同强度的光照，光敏电路随之输出相应变化的电压，转换成光照强度值。
在单步调试的过程中主要出现了2个问题。一是七段数码显示管的显示不稳定，一直在闪烁；二是ADC0809芯片的选择通道的程序段有问题。
对于七段数码显示管的显示不稳定，发现是在延时子程序上有问题。使用星研自带的延时子程序，将延时设为最小值时，七段数码显示管的显示仍在闪烁。将延时子程序段改为利用NOP（无操作）命令设计的程序段后，问题得到解决。
对于ADC0809芯片的通道选择有2种方式，一种是通过地址线的A0A1A2来选择通道；另一种是通过数据总线的低8位来选择通道。将模拟量输入的通道改变后，把初始化ADC0809程序段中的选择通道的通道地址改为相应的通道地址后，显示仍是错误的。本实验仪的ADC0809是通过地址线A0A1A2来选择通
道，所以改变模拟量输入的通道后，要将地址线的值改为相应的通道地址。
至此，实验中要求的功能全部实现。
5.设计结果分析及问题讨论
5.1程序设计结果及分析
结果的显示在两个地方，一是电脑屏幕上，一是LED上。
电脑屏幕上显示：AD转换结果(前边是16进制数,后边是十进制数):74H 2.27V
LED上显示：227 （电压和光照度的对应关系是5V-500lux）
5.2问题讨论
本次实验设计是一个简单的光照强度测量仪，可以将光照度进行测量并输出。由于没有一个精确的测量仪来进行校验，我假设了一个电压和光照度的线性关系（5V~500lux）。根据这个关系设计了本次实验的光照强度测量仪。
本次实验设计的功能比较简单，可以根据实际需要添加一些功能，比如增加一个开关控制光照强度测量仪的启用与否。
5.3收获、体会和建议
本次实验最大的收获是认识到了与同学探讨的好处。遇到问题不要一味地去自己研究，因为有时候一个人的思维总是无法改变，难以发现自己之前思路的错误之处，如果去征求别人的帮助，可能会收到意想不到的效果！我这次之所以能完成实验任务最重要的原因是老师的指点以及同学的帮助。遇到问题时，先是自己独立思考，在很长时间还一筹莫展的时候才去寻求别人的帮助，这样有利于自己更深刻地理解问题。
一开始看到实验题目的时候想到的是做过的ADC0809实验，在实验课上ADC0809的输入是一个0V-5V范围之间的电压，当时我就想将输入接到光敏电阻电路上，看看会有什么情况。接好后，发现这次实验可以用来将光敏电阻接收的光照度按照一定的比例关系转化成数字电压。
然后，就是利用8255A和七段数码显示管实现显示功能。通过对8255A的工作方式的掌握和对七段数码显示管的引脚的了解，最终选择PA口工作在方式0，控制段选；PB口工作在方式0，控制位选。
在实验的过程中得到了很多人的帮助，有张向东老师的指导，也有很多同学的建议和帮助，使我完成实验得到事半功倍的效果，也使我知道遇到困难不能退缩，要多向身边的老师和同学虚心求教，努力克服困难。
纸管抗压测试仪 PN-CT500A
PN-CT500A纸管抗压测试仪 PN-CT500A纸管抗压测试仪 一、产品简介 本仪器是测试物品抗压强度性能的检测仪器，主要适用于各类小于200mm直径的工业纸管、化纤纸管、小包装盒及其它类型的小容器或蜂窝纸板的抗压强度、变形量的检测,也可以进行纱管原纸的环压、纸板的边压等测试。是纸管生产企业、质量检测机构等部门的理想检测设备。该仪器为机电一体化结构，采用现代机械设计和微机处理技术进行精心合理的设
计。仪器采用上压板固定式，测量精度高。本仪器具有各项参数的测试、转换、调节、显示、记忆、及统计打印等功能。具有数据处理功能，可直接得出各项数据的统计结果，并且能自动复位。操作方便，容易调节，性能稳定。PN-CT500A纸管抗压仪参考ISO国标标准和最新纸管国家标准，重新研发的一款仪器。为机电一体化结构，采用现代机械设计理念和微机处理技术进行精心合理的设计。仪器采用上压板固定式，测量精度高。具有强大的数据处理功能，可直接得出各项数据的统计结果，带压力曲线显示功能。各项性能参数和技术指标符合纸管纸芯的相关标准规定及GB/T2679.8-1995。 二、技术指标 ★电源：AC220V±10%2A50HZ ★测量范围：≤5000N ★测量精度：±1％、位移精度：0.01mm ★压板面积：200X300mm ★压缩速度：0-100mm/min ★纸管外径：压板间距可根据实际情况任意设定（10～200mm) ★通讯输出：标准RS232接口 ★重量：约80Kg 三、产品特点 ★仪器具有强大的数据管理和统计分析能力。RS232通讯接口可与电脑连接保存数据； ★进口电机控制：采用高速、高精进口交流伺服电机控制，大大节约测试时间，提高测试效率； ★强大的测量模式,功能齐全.可测试纸管抗压,原纸环压强度,瓦楞边压强度等； ★仪器采用现代机电一体化设计，大液晶兰色显示屏配微型热敏打印机； ★压缩距离大：可测量管径为0～200mm的各类工业纸管、化纤纸管纸芯； ★高速返程：由于采用进口步进电机驱动，测量完成后压板可高速返回起始位置，提高工作效率； ★应用进口步进电机，使得压板间距可任意设定，无须采用限位开关，依靠按键即可任意设定压板间距； ★热敏微打：采用日本进口热敏打印机芯，无须使用打印色带，免去更换色带及添加油墨之烦恼，大大降低了故障率，实现打印高速、无声；
纸品检测仪器大全
纸品检测仪器大全 我国是一个对外贸易大国，随着近年来各类物质进出口数量的不断增长，产品的检测与检疫的地位也日渐提升。那么纸品类要做哪些测试,需要哪些纸品检测仪器呢？ 1. 水份测试，此测试是用的最为普遍的，不管是原材料还是做好的成品都应该做好水份的测试，因为原材料在购进的时候是按照重量来定的，所以说水份的含量则直接的影响企业的成本，对于印刷来讲，印刷以后更要对产品的水份进行测试，以防水份过多堆放造成发霉。如果是纸箱，水分过高则会印象纸箱的抗压力。 2. 耐破强度的测试，主要是用来检测白板纸，灰板纸，纸板等一些纸品的耐破度，目的是为了检测该产品在以后使用过程中的牢固性。要取无印刷痕迹，无折痕或明显的损伤的样品共12块。试样夹紧压力：＞690kpa（可调）相当于7kg 3．环压试验仪：压力测试，对于瓦楞纸板来讲，常用到的是拉力，平压，边压，胶合，抗弯折等测试。用到最多的则是边压，它的原理是从纸箱或纸板上取3块规格为100mm*25mm，无印刷，无机械压痕。破损的试样共9块，分为三组来测试，最后取出平均值。 可以按照以下公式求出边压的强度 R=F×103÷L 其中：R-边压强度的单位N/m； F-试样承受的最大力N； L-试样长边尺寸mm。 另外；对于厚度不超过1.0mm的纸来将，做压力测试则是环压测试，测试原理是将纸裁割一个152mm*12.7mm的纸条，然后将试样置于环压的试验夹具中进行压力测试。如下图所示：本机以高精度传感器感应,经软件解析以数字显示出强度.用于厚度在1㎜以下瓦楞蕊纸及牛皮纸带等.试样置于环盘之容器内,以本机检验其直立方向之耐压强度,配合各种附件使用,并可测试纸板之竖压强度,胶合强度及平压强度。
光照强度测量仪1
1.题义分析及解决方案 设计一个简易的光照强度测量仪，由光照强度产生的模拟电压信号转换为数字信号，然后转换为照度（单位是勒克斯）显示在LED上； 校准照度测量器：在一定的光强度下，产生200数字量的电压，以此对应关系（照度—电压）将其它光强度转换为勒克斯值，显示在LED上。 1.1题义需求分析 1.1.1 光照强度测量仪的概念 通过使用某测量仪来测量某光照的强度，这种仪器就称为光照强度测量仪。仪器使用时先将某待测光源直接照射在测量仪的光照接收口（实验中为光敏电阻表面），然后在测量仪的可视化界面（实验中为LED）中观察结果值。 光照强度的国际单位（SI）为勒克斯，又称米烛光。1流明的光通量均匀分布在1平方米面积上的照度，就是一勒克斯。可以标作勒［克斯］，简称勒。英为lux，简作lx。勒克斯是引出单位，由流明(lm)引出。流明则由标准单位烛光(cd)引出。 1.1.2光照强度测量仪的工作原理 测量仪主要根据光敏电阻的特性制作的。光敏电阻值随受到的光照强度的变化而变化（光照强度越大，电阻值越小）。将光敏电阻接入电路中，不同光照强度导致光敏电阻值变化，于是光敏电阻上的电压发生变化，导致电路的输出电压也相应变化。根据电压-光照度函数关系，由电压计算得到光照强度值，然后以可视化界面形式输出，供用户查看结果。 1.1.3从计算机角度解决问题 计算机通过PCI线与实验箱上的ES-PCI模块相连，充分利用实验箱上的各个模块完成，有：A3(片选)、B2(时钟)、B4(8255)、D3(光敏电阻)、G4(ADC0809)、G5(LED)以及ES-PCI。通过导线正确连接好电路。使用时光源直接照射在光敏电阻表面，结果（光照强度）显示在LED上。 1.1.4根据设计内容要求可知： 光敏电阻的特性：光敏电阻随受到的光照强度的变化电阻值发生变化，光照强度越强电阻越小，在分压电路中获得电压越低。 根据这一特性，结合光照强度和输出的模拟电压之间的关系，可以得到某一光强度下的对应的模拟电压。将模拟电压通过AD转化器转换为数字电压，以便于计算机处理。然后再将数字电压转换成光照度。 使用STAR ES598PCI单板开发机设计一个应用接口芯片作为八个七段LED 数码管的输入口，接口可以使用8255A或8279。 编写程序实现八个LED数码管显示光照度值，该值为（根据采样得到的模拟电压转换得到的）数字电压对应的光照强度。 1.2.解决问题方法及思路 1.2.1硬件部分 程序设计中用到的硬件是光敏电阻、ADC0809、8255A和七段LED数码管。 提出问题：
瓦楞纸板的边压强度和耐破强度计算公式
瓦楞纸板的边压强度、戳穿强度和耐破强度计算公式 1.耐破强度：BST（Bursting Strength Test） 耐破强度是静态破裂强度，单位千帕（Kpa）。耐破强度可由耐破强度测试仪测定。瓦 楞原纸和箱纸板等原料的耐破强度符合相关标准，瓦楞纸板的耐破强度可以由所用的 原料推测得出，它等于各层箱纸板的耐破强度之和再乘以系数0.95，与瓦楞层无关。 例如，单瓦楞纸板和双瓦楞纸板的耐破强度分别计算如下： 单瓦楞纸板（耐破强度）BST＝（面纸BST＋里纸BST）×0.95 双瓦楞纸板（耐破强度）BST＝（面纸BST＋夹芯BST+里纸BST）*0.95 因为瓦楞纸板各层箱纸板之间有空隙，缓冲能力增加了，但是更容易被各个击破，所以上述公式中，各层箱纸板的耐破强度之和再乘以系数0.95得到的结果，才与实际情况相符。耐破强度与瓦楞层无关，是因为：一方面，瓦楞层的耐破强度比箱纸板低得 多，另一方面，由于耐破强度是静态耐破裂强度，瓦楞层的缓冲更大，从而大大降低其耐破强度，以至于可忽略不计。 2.戳穿强度PET（Puncture Energy Test） 戳穿强度是动态破裂强度，单位焦耳（J）。它真实的反应了瓦楞纸板和纸箱受冲击的情况。戳穿强度的确定比耐破强度复杂的多，因为它不仅与箱板纸有关，还与瓦楞层有关。戳穿强度与耐破强度两者线性相关，实际推测中，可以根据耐破强度得到大致的戳穿强度，计算公式如下：PET＝0.0054BST＋2.16358 3.边压强度ECT（Edge Crush Test of Corrugated Fiberboard）和环压强度RCT（Ring Crush Test） 边压强度即瓦楞纸板的边缘压缩强度，单位牛/米（N/m）。环压强度RCT主要是指箱板 纸和瓦楞纸的横向压缩强度，单位牛/米（N/m）。瓦楞纸板的边压强度与箱板纸和瓦 楞纸的环压强度RCT有关，计算公式如下： 单瓦楞纸板边压强度ECT＝面纸RCT＋里纸RCT＋瓦楞纸RCT×楞率 双瓦楞纸板边压强度ECT＝面纸RCT＋里纸RCT＋夹芯纸RCT＋第一层瓦楞纸RCT×相应楞率＋第二层瓦楞纸RCT×相应楞率 注：原纸环压强度=原纸横向环压指数*原纸克重。
简易光照强度检测仪设计
光照强度测试电路 设计报告 学院：物理与信息技术学院 班级：2011级电子科学与技术班 成员：杨万宗
光照强度测试电路设计报告 引言 随着时代的进步和发展，传感器技术已经普及到我们生活，工作，科研，各个领域，已经成为一种比较成熟的技术。传感器是将感受的物理量、化学量等信息，按一定规律转换成便于测量和传输的信号的装置。 本设计题目是光敏电阻测量光照强度，用光照的强弱来改变光敏电阻的阻值大小，从而使输出电压值改变，通过测量输出电压值的大小就可以间接的测量光照的强度了。光照强度自动检测电路可以自动检测光照强度的强弱并显示给人们知道此时光照强度的强弱。该电路还可以设定光照强度的范围，一旦超出此范围该电路系统可以发出警报通知（红灯亮）或直接采取措施使光照强度限定在此范围内。人们可以通过看此电路装置的显示了解现在的光照状态，做合理的光照调节。该设计可分为三部分：即光照采集检测部分、光照强度信号处理部分、光照强度显示部分。还可加上报警部分（蜂蜜器）。对于光照检测部分可利用光敏电阻传感器作为检测元件，它可以完成从光的强弱到电阻值变化的信号转换，本设计电路各个部分电路的设计原理及功能都能实现，要求对各种基本的电子元器件，光敏电阻、电阻、二极管、电压比较器等熟悉，掌握Proteus 仿真软件，本设计具有有线路简单、结构紧凑、成本低等特点。 一、设计的基本思路和系统特点 光敏电阻的阻值随光照强度的不同而改变，当光照强度增强时，光敏电阻的阻值减小，光敏电阻所在支路的电流减小；反之，当光照强度减弱时，光敏电阻额阻值增大，所在支路的电流增大。 电压比较器一般有两个输入端，一个输出端，通过对输入端的两个电压进行比较，根据两个输入电压的大小关系经电压比较器运行后输出相对应的电压值。 发光二极管是能将电信号转化为光信号的电路元件，当二极管正接时，二极管会发光；若二极管反接，则不会发光。 在电压比较器的输入端利用光敏电阻调节输入电压的大小（不同光照强度时得到的输入电压会不同），与参考电压比较，通过电压比较器时在输出端就会得到不同的电压，而后用发光二极管进行测试，根据发光二极管是否发光判断光照强度的强弱。 二、电路工作原理和工作过程说明 1、工作原理：
浅谈关于功率分析仪选型的问题
浅谈关于功率分析仪选型的问题 现在市场上，功率分析仪种类繁多，由于功率分析仪侧重方面的不同，起功能上也有着相对的出入，性能方面也是相差甚远，关于功率分析仪的选型，是一个值得讨论的问题，下面则对功率分析仪的选型进行一个分析。 关于功率分析仪，我们都知道它一般情况下是以数字采样技术为核心，以高性能的微处理器、CPLD等为基本器件。在中国大陆销售的进口功率分析仪厂家主要有：日本日置（HIOKI）、日本横河（YOKOGAWA）、美国福禄克（FLUKE）、德国ZIMMER等，国内功率分析仪厂家主要有：银河电气、杭州远方、青岛青智、广州致远等。 由于标准缺失、量值溯源体系不健全，各大厂家的功率分析仪技术指标标称不统一，加上部分厂家基于商业目的，在产品的宣传方面的措词明示或者暗示、省略或含糊使得消费者对真实情况产生误解，并影响其购买决策和其他经济行为。（参见“进口高精度功率分析仪基本误差及精度大揭秘_捍卫国人权益”），功率分析仪精度指标虚高，标称方式混乱的现象较为普遍，加大了用户在功率分析仪选型时的困难。 功率分析仪精度指标虚高，标称方式混乱的现象较为普遍，加大了用户在功率分析仪选型时的困难。因选型不当造成耗费巨资却得不到准确的测量结果的案例屡见不鲜。不当选型的原因可以概括为以下几个方面： 1、功率分析仪功能及操作方式不符合观测者的习惯； 2、对被测对象不了解； 3、对测量仪器不熟悉； 4、未采用正确的测量方法； 5、未全面把握测量条件对测量仪器的影响。 那么，如何选型，才能保障消费者合法权益，确保功率测量的正确性和准确度呢？事实上，任何测量过程，都具有共性，这就是前人归纳总结的观测者、被测对象、测量仪器、测量方法、测量条件等测量五要素。 正确的功率分析仪选型，应该从测量五要素出发：
水泥抗压强度试验机
水泥抗压强度试验机 济 南 铂 鉴 测 试 技 术 有 限 公 司
一、水泥抗压强度试验机结构与工作原理 试验机主要由支架、液压操纵箱、仪表测力显示、电气系统组成。液压操纵部分 高借水泥抗压强度测试仪的操纵箱主要有邮箱，液压滤油器，电动机，速度阀，回油阀、打开送油阀活塞慢慢上升。 电气系统 水泥压力试验机由电动机、启动按钮、停止按钮、交流接触器等组成。 二、水泥抗压强度试验机技术指标： 最大试验力：300KN 试验力示值相对误差：优于示值的±1% 加荷速率：0.3KN/S～10KN/S 加荷速度误差: 优于示值的±5% 液压泵额定压力: 25MPa 承压板尺寸: φ155mm 活塞最大行程: 80mm 活塞直径：φ130mm 电机功率：三相0.75 kW 外型尺寸（长×宽×高）：约850×620×1340mm 抗压夹具：40mm*40mm（JC/T683-2005） 净重约：400Kg 三、水泥抗压强度试验机功能用途： 水泥压力试验机根据GB/T17671-1999《水泥胶沙强度检验方法
（ISO法）》开发。主要用于水泥胶砂、混凝土、砖瓦、管材、人造板等各抗压强度试验或者抗压抗折试验。 本机采用液压加荷，电子测力，具有负荷数字显示、加荷速率显示、负荷最大值保持，以及过载保护和断电数据保持等功能。 四、水泥抗压强度试验机适用标准 GB/T17671-1999《水泥胶沙强度检验方法（ISO法）》 JC/T683-2005《40mm*40mm水泥抗压夹具》 GB/T3722-1992《液压式压力试验机》 五、水泥抗压强度试验机主要配置： 30吨压力测试机主机一台 全数字控制系统一套 高精度压力传感器一只 高品质液压油源一套 国产交流电机一台 抗压辅具一套 六、水泥抗压强度试验机售后承诺 客户在使用公司高借水泥抗压强度测试仪的过程中，如发现产品不能正常使用时，可立即向本厂客服部咨询，并将所使用产品的型号、规格、使用环境、故障情况、购买日期和服务要求详细说明。经本厂客服部提出处理建议后，仍不能解决的，再决定派人或作其他处理。
电子综合实验实验报告(光照强度检测仪)
电子电路实验3 综合设计总结报告 题目：数字式光照强度检测仪的 设计实现 班级：20110824 学号：2011082427 姓名：张希希 成绩： 日期：
一、摘要 本实验中采用光敏电阻为光传感器，利用光敏电阻的光照特性完成光强的检测。具体方法是将两路光敏电阻支路并联接入电路中，其中一路串接一固定电阻，另外一路分别串接电位器，利用光敏电阻值随光照强度变化的特性，使得电路的输出电压而变化。根据这一特性，结合光照强度和输出模拟电压之间的关系，分别对两路电压值进行采集得到某一光强度下对应的模拟电压，将模拟电压通过ADC0804模数转换器转换为数字电压，通过译码器使两位数码管将光强值显示出来，相应地控制点亮对应的小数点以显示光强的方位。 通过硬件的焊接、静态和动态调试，作品最终很好地实现了实验任务和要求，在近似无光照时数码管显示为0，正常工作时能检测两个不同方位的光强并通过两位数码管将最大数值显示出来，而两个小数点的不同组合显示对应方位。 关键词：光照强度；检测仪；设计实现 二、设计任务 2.1 设计选题 选题十三：数字式光照强度检测仪的设计实现 2.2 设计任务要求 用数码管显示光照强度；设置多个不同方向的光敏电阻，通过比较不同方向测得的光强数值判断光照方位，在数码管上显示其方位；将获得的电信号转换成光照强度单位下的数值，并用数码管显示，误差范围为±3LUX（以白天室内日光灯的光照强度为标准定义为100LUX）；要求在黑暗中显示00（十六进制），室内光最大显示63（十六进制），用小数点显示光照方向。 1、光照传感器采用光敏电阻； 2、光强值显示采用数码管； 3、通过比较器实现光强方向的判断，若左侧光强大则数码管小数点亮，若右侧光强大则数码管小数全灭； 4、误差范围为±3LUX，数模转换器建议选用8位并行转换器件； 5、在无光照（即光敏电阻完全盖住）时，光强值显示为0； 6、在正午（即中午12点）室内日光灯开启时，光强值显示为63（十六进
发射功率的测量方法
1 发射功率是无线电发射设备的主要技术指标，也是无线电管理部门需要检测的技术指标之一。本文主要介绍几种发射功率的测量方法。 功率测量的基本知识１．１ 功率测量的理论分析 在直流和低频时，电压的测量是简单和直接的。功率可以直接通过计算获得，Ｐ＝Ｖ＊Ｉ，由欧姆定律可知Ｖ＝Ｉ＊Ｒ，通过代换Ｖ或Ｉ，可得Ｐ＝Ｖ＊Ｉ ＝Ｉ２Ｒ＝ Ｖ２／Ｒ，只要知道Ｖ、Ｉ、Ｒ中任两个变量的值就可计算出功率值。 但在高频时，根据传输线原理可知，电压和电流可能随传输线的位置改变，如图１所示。 但功率是不变的，因此在射频和微波频率，大多数应用都采用直接功率测量，因为电压和电流测量已变得不现实。 １．２ 功率单位 功率的国际标准单位是瓦特（Ｗ），但在无线电通信领域，我图 １ 高频电压随传输线位置改变 浙江省衢州无线电监测站 郑顺洪 发射功率的 测量方法 52 中国无线电2005/9 检测实验室
2 们常用的单位是分贝毫瓦ｄＢｍ 。定义如下： ＰｄＢｍ＝１０Ｌｇ（Ｐ／Ｐ０） 式中，Ｐ是以毫瓦为单位的功率值；Ｐ０为１ ｍＷ的参考功率。 由上式可知：０ ｄＢｍ是１ ｍＷ。根据对数基本性质，可得到一个简单导则是每３ ｄＢｍ功率加倍，每－３ ｄＢｍ功率减半。每１０ ｄＢｍ为１０倍，每－１０ ｄＢｍ为１／１０。例如＋２９ ｄＢｍ是多少？２９ ｄＢｍ＝（１０＋１０＋３＋３＋３）ｄＢｍ＝（１０＊１０＊２＊２＊２）ｍＷ＝８００ｍＷ，因此结果是８００ ｍＷ。 １．３ 功率的几种常用基本形式 平均功率是指在正常工作情况下，发信机在调制中以与所遇到的最低频率周期相比的足够长的时间间隔内，供给天线馈线的平均功率。对于脉冲调制信号，则要在若干脉动重复上平均信号。在所有功率测量中，平均功率是最常进行的测量。峰功率是指最大瞬时功率。平均功率和峰功率的关系，如图２所示。 对于射频脉冲信号，如果知道信号的占空比，就可从测量得到的平均功率按下列公式确定峰功率。 Ｐｐｅａｋ ＝ Ｐａｖｇ／占空比 发射功率的测量方法 目前我站配备的测量功率的仪器有德国Ｒ＆Ｓ公司的ＣＭＳ５４综测仪、ＦＳＰ３０频谱分析仪、ＮＲＴ功率计。下面分别介绍用这三种仪器测量功率的方法。 ２．１ ＣＭＳ５４综合测试仪测量发射功率 无线电综合测试仪ＣＭＳ５４含射频信号源、调制信号源、频率计、功率计、电压表、信纳比表、邻频功率测量等，其测量的功率范围为５ ｍＷ到５０ Ｗ，频率范围为４００ ｋＨｚ到１ ＭＨｚ。使用ＣＭＳ５４综合测试仪测量发射设备输出功率方法步骤如下： （１）测试线路连接如图３所示。 （２）打开ＣＭＳ电源，待ＣＭＳ进入稳定的测试界面，按ＴＸ－ＴＥＳＴ软键，进入发射测试界面。 （３）开启被测发射设备（已知发射功率小于５０Ｗ），这时即可读出其发射功率。如果知道被测发射设备的发射频率，可以按ＳＥＴ ＲＦ软键，通过键盘设置响应频率，然后再开启被测发射设备，读出发射功率。 ２．２ ＦＳＰ３０频谱分析仪测量发射功率 ＦＳＰ３０频谱分析仪射频输入最大的功率是１Ｗ，当发射设备 输出功率大于１Ｗ时，在ＦＳＰ３０频谱分析仪前加一衰减器，以免烧毁频谱仪。测试方法步骤如下： （１）测试线路连接如图４所示。 （２）将ＦＳＰ３０频谱分析仪的输入衰减器（ＡＴＴ）设置为最大，然后开启被测发射设备。 （３）将被测信号中心频率置于频谱分析仪显示的中心，恰当设置ＳＰＡＮ、ＲＢＷ和ＶＢＷ值，这几个值设置的一般建议是：ＳＰＡＮ必须至少覆盖被测量信号的带宽；ＲＢＷ设置信道带宽的１％和４％之间；ＶＢＷ至少是ＲＢＷ的三倍。 （４）调整频谱分析仪输入衰减器（ＡＴＴ）和参考电平（ＲＥＦＬＥＶＥＬ），使信号接近显示的顶部。 （５）设置检波器工作方式为均方根检波器。步骤如下：按ＴＲＡＣＥ键，使用上下键选择ＤＥＴＥＣＴＯＲ项，按相应软键确定， 图２ 平均功率和峰功率的关系 峰功率 平均功率 图 ３ 测试线路连接 被测发射设备Ｃ ＭＳ５４综测仪 图４ 测试线路连接 被测发射设备衰减器ＦＳＰ３０频谱分析仪 检测实验室 中国无线电2005/9 53
功率型LED光功率测试仪设计(精)
I 功率型LED 光功率测试仪设计 摘要 功率型LED 光功率测试仪是用于测量绝对光功率或通过一段光纤的光功率相对损耗。通过测量发射端机的绝对功率，一台功率型LED 光功率计就能够评价光端设备的性能。用光功率计与稳定功率型LED 组合使用，则能够测量连接损耗、检验连续性并帮助评估光纤链路传输质量。功率型LED 光功率测试仪具有超宽的光功率测试范围、精准的测试精度和超常的使用寿命。目前，日本安腾公司生产的AQ-1112B 型，测量精度高，可达正负2%以内，但灵敏度较低; 本设计采用光敏电阻达到光电转换的目的，利用高精度单片机STC12C5A60S2作数据处理和显示，精确度很高，可达到正负1%以内。 关键词：LED ，光功率，测试仪 II The Design of The Optical Power Meter of Power Tipe’s LED ABSTRACT Optical power meter of power type’s LED is used to measure the absolute optical power or a relative loss of optical power through a length of optical fiber . By measuring the absol- ute power of the transmitter unit, an optical power meter of power type’s LED is able to eval- uate the performance of light-side equipment. Using an optical power meter with the combi- nation of stable power type’s LED, you can measure the connection loss, test continuity and evaluate the link transmission quality of optical fiber. Optical power meter of power type’s LED has a wide range of optical power test, accurate test precision and extraordinary life. Currently, Japanese company Itanium produces a model AQ-1112B , with high accuracy up to plus or minus 2% or less. However, its sensitivity is too low; This design uses a photo- sensitive resistor to achieve the purpose of photoelectric conversion and a high precision MCU STC12C5A60S2 for data processing and display, with high accuracy up to plus or minus 1% or less.
FT-3500粉体强度测试仪
FT-3500粉体压缩强度测试仪 一. 原理和理论: 颗粒在压缩时要经历初步压缩、颗粒重排、初始结构形成、弹性形变、塑性形变、颗粒破碎、结合键形成、进一步压实及去除压力后的弹性恢复等系列变化，颗粒结构被破坏并发生重组形成新的结合键及压缩体；通过对粉体施加屈服强度变形所需的主应力，来分析粉体的体积变化与压力关系即（主应力与粉体密度的变化关系），时间与屈服强度变化关系，屈服强度与压缩高度变化关系，采用经验方程法：Heckel、Kawakita、Adams方程及川北方程线性回归方程的压缩理论来分析粉体颗粒新品、研发固体产品比如在药物处方及工艺选择方面及压实密度对压力的要求等的预测性分析工具. 本机型还可以实现粉体电阻、电阻率、电导率的测量（导体粉末），可通过粉体压缩与阻抗的变化关系或者粉末体压缩过程中的静电测量（绝缘粉体颗粒）.通过电性能的变化来判断粉体压缩特性. 二. 目前比较认可的压缩成形机理认为： 粒子受压时，粒子间距离很近，从而在粒子间产生范德华力，静电力等的引力；粒子受压时，其塑性形变使粒子间的接触面积增大；粒子受压破碎时，产生的新生表面有较大表面自由能；粒子受压变形时，粒子相互嵌合而产生的机械结合力；粒子受压时，由于摩擦力而产生的热，特别是颗粒间支撑点处局部温度较高，使熔点较低的物料部分地熔融，解除压力后重新固化而在粒子间形成“固体桥”；在水溶性粒子的接触点处析出结晶而形成的“固体桥”. 三. 功能介绍： 采用液压恒压加压测量系统，7寸触摸屏控制，高精度荷重单元控制系统能精确采集应力变化数据，可以任意设置压力、时间数据，位移数据由位移传感器直读，温湿度数据通过传感器获得，多位数的AD芯片来保障数据的分析，全自动模式，手动操作模式及多段设置操作模式并存；配置PC软件可以获得应力与粉体密度关系曲线；时间与粉体屈服强度关系；川北方程线性回归方程的常数 u，v变化关系及时间流动函数关系过程数据的分析和曲线图谱，为生产企业和科研院所研发新品和改善工艺建立数据模型. 四. 适用范围： 食品、药品、粉末冶金、陶瓷、制药、化工、建筑等行业需要经过压缩或者压铸的粉末和颗粒物料；对粉末固体成形性及压缩性在新品开发，中试放大及生产过程中进行分析研究，常用于粉体企业上下游产业，粉体科研院所和大中专院校，为粉体在强度性能，可压缩性和流动性方面获得
瓦楞纸箱检测项目汇总
瓦楞纸箱检测项目汇总 [图片] 瓦楞纸箱检测项目汇总 瓦楞纸箱以其特点和环保优势被广泛应用于商品的外包装，在商品的运输、保存和销售中起到了重要的保护作用。在使用过程中，要求纸箱必须达到一定的牢固度和耐用性。 当前，激烈的市场竞争，使各纸箱生产企业在生产工艺和管理上不断的进行改进以获得最大利润，这就使得纸箱用户在使用纸箱的过程中遇到了或多或少的质量问题，如纸箱堆码后垮塌、破裂等造成了许多不必要的损失。 为避免出现这样的情况，生产出合格的纸箱产品，必须对瓦楞纸箱进行检测，使瓦楞纸箱的生产过程得到有效的控制。所以，正确认识和了解瓦楞纸箱的检测项目和检测方法，具有十分重要的意义。 一、基本检测项目 1、外观质量 合格的纸箱要求印刷图案、字迹清晰，无断线和缺失情况；图案色度一致，光亮鲜艳而且印刷位置误差小，大纸箱误差在7mm以内，小纸箱误差在4mm 以内。表面质量要完好无破损，无污迹，箱体四周无漏洞，各箱盖合拢后无缝隙。对纸箱形状来说，箱体内径与设计尺寸公差应保持在大箱±5mm，小箱±3mm之内，外形尺寸大小基本一致。瓦楞纸箱摇盖经开、合180度往复折叠5次以上，一、二类纸箱的面层和里层、三类纸箱里层裂缝长度总和不大于70mm。此外，还要求箱体接合规范，边缘整齐，不叠角等。 2、含水率 所谓含水率是指瓦楞原纸或纸板中的水分含量大小，用百分比表示，含水率对纸箱箱体强度有很大的影响，是纸箱3个重缺陷检验项目之一。 瓦楞原纸具有一定的耐压、抗张，抗戳穿和耐折性能，若水分含量过高，纸质就显得柔软，挺度差，压楞和粘合质量也差。如果水分含量过低，纸质就过脆，压楞时就容易破裂，且耐折度也差。如果瓦楞纸和箱板纸的水分含量悬殊过大时，单面机加工出来的瓦楞纸板，就容易出现卷曲，裱合时，就容易出现起泡和脱胶现象。成型的纸箱如果在保存时吸湿受潮，会使纸箱的强度明显下降，影响使用。 瓦楞纸箱的含水率标准为（12±4）％。纸箱含水率的测定，比较准确的检测方法是烘干法，即从纸板或箱体不同部位分别取样若干块，用天平称取约
日本CUSTOM照度计LX-1332D
日本CUSTOM照度计LX-1332D 特点：CUSTOM日本东洋计量株式会社昭和63年6月20日由佐藤有功社长创立,主要产品有400余种，例如：通用测量、环境计测、生活计测、计量、半导体计测、与工具关联的商品测量6个领域等等。高质量的计测，给全球环境的改善做出巨大的贡献。 可测到达200000勒克斯，及手动切换。 照度计的注意事项 1.照度计探头是玻璃材质，容易摔坏破损，同时使用时防水效果很差。 2.使用要求： ①光电池应用直线性好的硒(Se)光电池或硅(Si）光电池;长时间工作仍能保持 良好的稳定性,且灵敏度高;高E时选用高内阻的光电池,其灵敏度低而线性好,受强光照射不易受损 ②内付有V(λ)修正滤光片,适宜用异色温光源的照度,误差小 ③光电池前加一块余弦角度补偿器(乳白玻璃或白色塑料)原因是入射角大时, 光电池偏离余弦定则 ④照度计应工作在室温或接近室温下(光电池漂移随温度改变而发生改变） 照度计的定标： 定标原理： 使Ls垂直照射光电池→E=I/r2，改变r可得不同照度下的光电流值，由E与i的对应关系将电流刻度转换为照度刻度。 定标方法： 利用光强标准灯,在近似点光源的工作距离下,改变光电池与标准灯的距
离l,记录下各个距离下的电流计的读数,由距离平方反比定律E=I/r2计算光照度E,由此可以得到一系列不同照度的光电流值i,作光电流i与照度E的变化曲线,即为照度计的定标曲线由此可对照度计表盘进行分度即为照度计的定标影响定标曲线的因素： 光电池和电流计更换时需重新定标;照度计使用一段时间后应对照度计重新进行定标(一般一年内应检定1-2次);高精度的照度计可用光强标准灯进行检定;扩大照度计的定标量程可改变距离r,也可选用不同的标准灯,选用小量程的电流计。 3. 使用紫外线照度计需注意环境温度: 使用时，必须注意避免接收很强的光，因为光电管阴极长期暴露在强光下，会出现疲劳现象，使光电阴极发射不正常。所以在不用照度计时要盖好窗口的保护盖，另外紫外照度计工作的环境温度不能很高，也不能很低。尤其是采用热电效应元件做为接受器的紫外照度计，对环境温度的要求更是严格(一般在20℃);而用光电管GD-5做接受器时，对环境温度要求就不是很严格了，一般温度愈低愈好;以减少暗电流.另外在测量光源的辐射线时要垂直于接受器的窗口，如果倾斜时将产生很大的误差。此时需进行角度修正。 照度计在生活中的作用 照度与人们的生活有着密切的关系。充足的光照，可防止人们免遭意外事故的发生。反之，过暗的光线可引起人体疲劳的程度远远超过眼睛的本身。因此，不适或较差的照明条件是造成事故和疲劳的主要原因之一。现有统计资料表明，在所有职业劳动的事故中约有30%是直接或间接因光线不足所造成的。对体育场（馆）的光照要求是非常严格的，光照过强或过暗都会影响比赛的效果。 那么，人们居住的室内对照度的卫生学要求是如何呢？照度是在卫生学中一项十分重要的指标。光是指能引起人眼睛光亮感觉的电磁辐射，当光线进入眼睛后可产生的知觉称为视觉。人们所见的光是指可见光，其波长范围在380～760nm（纳米）之间。 目前采光可分为自然采光和人工光源两大类。自然采光是指室内和地区的天然照度，有直接的日光照散射光和周围物体的反射光，常用采光系数和自然照度表示。而采光系数是指采光口的有效面积与室内地面面积之比。一般住宅的采光系数在1/5～1/15之间，居住面积比在1/8～1/10之间（窗面积/室内地面面积）。自然照度系数是用于评价自然光的照度水平。它是反映室内的和同时从室外来的光照射关系。也反映出当地光气候（自然光能源和气候的阳光照度指标的总和）。 为保障人们在适宜的光照下生活，我国制定了有关室内（包括公共场所）照度的卫生标准。如在公共场所商场（店）的照度卫生标准≥100Lx；图书馆、博物馆、美术馆、展览馆台面照度的卫生标准≥100Lx；公共浴室照度卫生标准≥50Lx；浴室（淋、池、盆浴）≥30Lx，桑那浴室≥30Lx.国外有关室内照度的标准，如德国推荐几种额定光强，办公室包括文书工作区为300Lx，打字，绘图工作为750Lx；在工厂，生产线上的视觉工作的照度要求为1000Lx； 酒店、公共房间为200Lx；接待点、出纳柜为200Lx；商店的橱窗为1500～2000Lx；医院病房为150～200Lx，紧急治疗区为500Lx；学校、教室为400～
光照强度测量仪
合肥学院 计算机科学与技术系 微型计算机原理与接口技术课程设计报告 2009～2010学年第一学期 课程微型计算机原理与接口技术 课程设计名称光照强度测量仪 学生姓名陈冠 学号0704032046 专业班级07级网络工程（2）班 指导教师龙夏、何力新 2010年3月
1.题义分析及解决方案 设计一个简易的光照强度测量仪，由光照强度产生的模拟电压信号转换为数字信号，然后转换为照度（单位是勒克斯）显示在LED上； 校准照度测量器：在一定的光强度下，产生200数字量的电压，以此对应关系（照度—电压）将其它光强度转换为勒克斯值，显示在LED上。 1.1题义需求分析 光照强度测量仪主要根据光敏电阻的特性制作的。光敏电阻值随受到的光照强度的变化而变化（光照强度越大，电阻值越小）。将光敏电阻接入电路中，不同光照强度导致光敏电阻值变化，于是光敏电阻上的电压发生变化，导致电路的输出电压也相应变化。根据电压-光照度函数关系，由电压计算得到光照强度值，然后以可视化界面形式输出（即PC机和LED数码管显示），以供用户查看结果。 其中光敏电阻的特性是光敏电阻随受到的光照强度的变化电阻值发生变化，光照强度越强电阻越小，在分压电路中获得电压越低。根据这一特性，结合光照强度和输出的模拟电压之间的关系，可以得到某一光强度下的对应的模拟电压。将模拟电压通过AD转化器转换为数字电压，以便于计算机处理。然后再将数字电压转换成光照度。 1.2.解决问题方法及思路 1.2.1硬件部分 程序设计中用到的硬件是光敏电阻、ADC0809、8255A和七段LED数码管。 提出问题： （1）为什么接口使用8255A而不是8279? （2）为什么显示装置使用LED七段数码管而不是LCD?
GBT 6546-1998+瓦楞纸板边压强度的测定法
G B/T6546-1998瓦楞纸板边压强度的测定法??评论:0 条? 查看:1169 次? qdyqxx发表于2009-07-27 09:25 前言 本标准等同采用ISO3070：1987《瓦楞纸板—边缘耐压强度的测定》。 本标准是GB6546—86《瓦楞纸板边压强度的测定法》的修订稿。 本标准是根据GB/T1.1-1993《标准化工作导则第1单元：标准的起草与表述规则第1部分：标准编写的基本规定》编写的。 本标准从实施之日起，同时代替GB6546-86。 本标准起草单位：中国制浆造纸工业研究所。 本标准主要起草人：李兰芬、张少玲。 本标准首次发布于1986年6月30日。 中华人民共和国国家标准 瓦楞纸板边压强度的测定法GB/T6546-1998 idt ISO3070：1987 Corrugated fibreboard-Determination of edgewise crush resistance 代替 GB6546-86 ________________________________________ 1范围 本标准规定了瓦楞纸板边压强度的测定方法。 本标准适用于单楞（三层）、双楞（五层）、三楞（七层）瓦楞纸板边压强度的测定。2引用标准 下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可性能性。
GB450-89纸和纸板试样的采取 GB10739-89纸浆、纸和纸板试样处理与试验的标准大气 3试验原理 矩形的瓦楞纸板试样置于压缩试验仪的两压板之间，并使试样的瓦楞方向垂直于压缩试验仪的两压板，然后对试样施加压力，直至试样压溃为止。测定每一试样所能承受的最大压力。 4试验仪器 4.1固定压板式电子压缩试验仪 该压缩仪是采用一块固定压板和另一块直接刚性驱动压板操作的，动压板的移动速度为（12.5±2.5)mm/min。压板尺寸应满足试样的选定尺寸，使试样不致超出压板之外，压板还应满足以下要求： a.压板的平行度偏差不大于1：1000； b.横向窜动不超过0.05mm。 4.2弯曲梁式压缩仪 该压缩仪是根据梁弯曲的工作原理，对上下压板的要求与固定压板式电子压缩仪相同。测试时，压溃瞬间的刻度应在仪器可能测量的挠度量程的20%-80%范围内；当压板开始接触到试样时，压板压力增加的速度应为（67±13)N/s。 使用该种仪器试验时应在报告中注明，并不得用于促裁检验。 4.3切样装置 可以使用带锯或刀子，也可使用模具准备试样，但必须切出光滑、笔直且垂直于纸板表面的边缘。 4.4导块 两块打磨平滑的和蓄谋形金属块，其截面大小为20mm×20mm，长度小于100mm；导块用于支持试样，并使试样垂直于压板。 5试样的采取和处理
基于51单片机的光照强度检测报告
课程设计报告 课程名称：智能仪器课程设计 题目：基于51单片机的光照强度
摘要 光敏电阻测光强度系统，该系统可以自动检测光照强度的强弱并显示让人们知道此时光照强度的强弱。人们可以通过看此装置的显示了解现在的光照状态，做合理的光照调节。该设计可分为三部分：即光照检测部分、信号处理部分、光强显示部分。还可加上照明部分。对于光照检测部分可利用光敏电阻传感器作为检测元件，它可以完成从光强到电阻值的信号转换，再把电阻值转换为电信号就可以作为系统的输入信号。对输入信号处理后，就可以用来显示了。对于显示部分可利用数码管来显示，不同的光强对应于不同的数值，就能简单的显示出不同的光强了。本设计就是由单片机STC89C52RC芯片，AD采集模块，运算放大，和1602液晶为核心，辅以必要的电路，构成了一个单片机光照强度检测系统。该光照强度检测系统可以通过检测光照强度，使得光照在低于一定强度的时候让照明灯亮，是一种常用的测试仪器，它可以用在需要照明的各个地方，根据灯光的强弱，自动控制照明灯的开关，有力地节约了电力资源。 关键词：51单片机，，LM358，ADC0809,1602液晶，光敏电阻
目录 一、设计任务、要求 (3) 1.1 设计任务： (3) 1.2 设计要求： (3) 二、方案总体设计 (4) 2.1 方案一： (4) 2.2 方案二： (4) 2.3系统采用方案 (4) 三、硬件设计 (6) 3.1 单片机最小系统 (6) 3.2 液晶显示模块 (6) 3.3 系统电源 (7) 3.4 整体电路 (8) 四、软件设计 (10) 4.1 keil软件介绍 (10) 4.2程序流程图 (10) 五、仿真与实现 (12) 5.1 proteus软件介绍 (12) 5.2 仿真过程 (12) 5.3 实物制作与调试 (14) 5.4 使用说明 (16) 六、总结 (17) 6.1设计总结： (17) 6.2经验总结： (18) 七、参考文献 (19)
2018中国造纸检测仪器品牌供应商推荐
2018中国造纸检测仪器品牌供应商推荐 1.品牌：公司：东莞万航物流虎桥货代有限公司造纸检测仪器进口备案进口清关配送 上海虎桥国际物流有限公司，280 名进口物流顾问在岗，9大沿海城市（上海、苏州、宁波；深圳、东莞、广州、厦门；天津、青岛）之服务网络，专注进口海运、进口清关、进口仓储、进口采购商务、国际散杂船租船代理等业务。虎桥服务团队，差异化服务运营，着重三点：其一，集中国内9 个网点280人团队，专注服务一个细分项目"全球港口—中国港口"进口业务。详情查看企业官方商铺https://www.360docs.net/doc/0817123428.html, 2.品牌：公司：东莞恒科材料检测仪器有限公司实验蒸煮器 东莞恒科材料检测有限公司是一家大型的综合性企业, 公司集研发、生产、销售、服务等为一体.经过多年的发展,在自动化机械设备、电子设计、高精密仪器与实验室建设等方面为行业作出了巨大的贡献.公司现有恒科自动化机械设备部、恒科仪器一部和恒科仪器二部三个部门组成经过不断的发展,自动化机械设备部已经成为了自动化行业的领军企业,凭借着严格的内部质量监督管理体系和强大的科研队伍,恒科已经的成为美的电器、欧普照明、香港德丰电子、富士康、东莞华天电子和乐山希尔电子等领军企业的自动化设备和半自动化设备的长期供应商和服务机构. 恒科仪器由一部和二部组成,其中仪器一部专心致力于制浆造纸、包装、印刷、油墨、胶水等方面的检测仪器的研发与生产,产品严格按照ISO9001、GB/T、QB/T等标准研发生产,主要产品有：纸张纸板耐破强度测试仪,纸板边压强度测试仪,原纸环压强度测试仪,纸箱抗压强度测试仪,纸张定量测试仪,纸张水分测试仪,纸张纸板抗张强度测试仪,吸水性测试仪,纸张纸板撕裂度测试仪,纸张挺度测试仪,耐折度测试仪,纸板水分测试仪,层间剥离强度测试仪,啤酒箱抗压强度测试仪,纸管抗压强度测试仪,白度测试仪,平滑度测试仪,油墨脱色测试仪,展色仪（专色打样机）、纸张表面强度测试仪等等.公司除了受中国计量器具生产许可监督管理机构的监督外,同时拥有严格的内部质量监督管理体系—恒科质量检测中心.企业产品质量已经走在了行业的前列.2010年荣幸地成为了中国造纸质量与成本控制技术协会的指定合作单位.恒科仪器二部专心致力于塑料、橡胶、皮革、电子、化工、食品、制药、纺织、制衣、无纺布、人造板、电线、电缆等行业的检测仪器的研发与生产,凭借过硬的质量与优质的服务,企业不仅为国内各企业、科研机构、教育部门提供产品与服务,同时远销印度、东南亚、南美、北美洲、澳洲、欧盟、等地区. 恒科不仅拥有一支强大的产品研发团队,还拥有一个严格的内部质量监督体系和一支拥有行业专业知识的服务队伍.恒科将继续秉承”质量是核心,服务第一”的宗旨, 以国际水平的品质服务行业,以优质的服务走向世界详情查看企业官方商铺 https://www.360docs.net/doc/0817123428.html,
超声波声强功率测量仪
超声波声强测量仪 一、详细介绍 超声波在液体声扬中产生空化效应的超声波强度（声功率）仪、超声波声强测量仪是超声波系统一个最主要的指标。它对清洗机的清洗效果，超声波处理机的工作效率有直接的影响。超声波功率（声强）测量仪可随时随地，快速简便地测量声场强度，并直观地给出声功率数值。 根据使用场合不同，超声波功率测试仪可做便携式和在线监测式。 二、技术参数 名称先欧超声波声功率（声强）测量仪 型号X0-2008 / XO-2008D (带D型为高温型） 可测声强范围0~150Wcm2 可测频率范围10KHz~1MHz 探头长度30cm, 40cm, 50cm, 60cm, 100cm 使用温度0~90℃（普通型）/ 0~300℃（高温型带D） 使用介质液体酸碱值PH4~PH10（可选择耐强酸碱型） 响应时间小于0.1秒 使用电源220V，1A
毫伏表外型尺寸 260㎜×132㎜×186㎜ （长×宽×高） 三、基本配置 超声波声功率（声强）测量仪包括毫伏表一台，探头一根，无选配件。 四、技术参数 可测声强范围：0～150W/cm2 可测频率范围：10kHz～1MHz 探头长度：60cm 使用温度：0～90℃（普通型） 0～300℃（高温型） 使用说明书： 液体声场中的超声波强度(声功率)是超声波系统一个最主要的指标。它对清洗机的清洗效果，超声波处理机的工作效率有直接的影响。超声波功率(声强)测试仪可随时随地，快速简便地测量声场强度，并直观地给出声功率数值。 根据使用场合地不同，超声波功率测试仪可做成便携式和在线监测式。 工作原理： 测量仪运用的是压电陶瓷的正压电特性，即压电效应。当我们对压电陶瓷施加一个作用力时，它就能将该作用力转换成电信号。在同样条件下，作用力越强，电压越高。若该作用力的大小以一定的周期变化，则压电陶瓷就输出一个同频率的交流电压信号。由于空化作用和其他干扰，实际的电压波形是一个主波和许多次波的叠加。要了解声场的实际作用波形，建议用频谱分析仪或示波器观察。 连接: 探测仪的输出端请接通用的交流微伏表或交流毫伏表INPUT端，仪表量程一般可设定在300mv或3v。OUTPUT端输出超声波的实际波型状态。如有必要，可外接示波器或频谱分析仪观察。探棒头部是超声波的敏感区域。 测量： 手握探棒手柄，将探棒头部插入到待测区域，同时看探测仪的输出，此电压值V即代表了该测量区域的超声波强度。若电压表的量程不合适，请随时调整。 超声波声强测量仪实物图片