测量系统分析极差法测量报告

MSA培训资料--第四版

2011-3-21 Measurement Systems Analysis 主讲：品冠顾问陈远景 TS对测量系统分析的要求1测量系统分析的重要性2测量基础术语及知识3测量系统误差来源及影响4测量系统主要统计特性5测量系统研究准备6计量型测量系统分析方法7计数型测量系统分析方法8课程主要内容第四版MSA主要变化 9

TS对测量系统分析的要求 ?7.6.1 测量系统分析为分析各种测量和试验设备系统得出的结果中呈现的变差，应进行统计研究。此要求应适用于控制计划中提及的测量系统。所使用的分析方法及接受准则应符合顾客关于测量系统分析的参考手册的要求。如果得到顾客的批准，也可使用其他分析方法和接受准则。 ?测量系统分析与控制计划及APQP的关系控制计划中“评价及测量技术”栏目中所体现的测量和试验系统都必须进行测量系统分析。APQP的小组准备工作中，项目进度策划应考虑所需的测量系统分析，过程设计和开发阶段（第三阶段）应确定测量系统分析计划，产品和过程确认（第四阶段）应按计划进行所需的测量系统评价。 ?测量系统分析与PPAP的关系 PPAP要求对新的或改进后的量具、测量、试验系统进行分析。保存并在客户要求时提交。 ?测量系统分析与SPC的关系进行SPC研究的测量系统应在进行SPC研究前进行测量系统分析，且结果须符合接受准则。 ?测量系统分析与FMEA的关系 FMEA中未体现对测量系统分析的要求。 2011-3-23?测量系统分析与APQP的关系

2011-3-25?测量系统分析与APQP的关系测量系统分析的重要性测量数据的作用： ?用于判定产品的符合性（控制用测量系统）； ?用于判定过程是否稳定（分析用测量系统）； ?对过程进行调整的依据； ?通过回归分析（或分析研究法）确定两个或两个以上变量是否存在重要关系的依据。测量数据质量（偏倚和变差）低的危害：数据质量定义：测量系统稳定运行情况下，利用多次测量结果的统计特性来评价(与参考值越接近则数据质量越高）。 ?错误地判定产品的符合性； ?错误地判定过程的稳定性(如掩盖过程的变差，即产生α，β风险）； ?错误地对过程进行调整； ?错误地得出变量之间的重要关系。拆错定时炸弹线后果预测错是否有地震后果

MSA测量系统分析作业指导书

MSA测量系统分析作业指导书 1目的明确测量系统分析的评价方法，确定测量系统的变差，以便采取措施，获得高质量的测量数据，更好地理解和控制各种过程。 2范围适用于对WJE生产线上新检具的调查、对生产线上易变动检具的复查和当被测零件公差发生变化时，对检具的认可。 3术语 3.1 量具任何用来获得测量结果的装置，经常用来特指在车间的装置，包括用来测量合格/不合格的装置。 3.2 测量系统用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件以及操作人员的集合，是用来获得测量结果的整个过程。 3.3 可视分辨率测量仪器的最小增量的大小即为可视分辨率。 3.4 偏倚测量的观测平均值和采用精密仪器测量的基准值之间的差值。 3.5 分辨力指测量仪器对一个标准测量单位可再分的程度；它是一个测量仪器可指示的最小分度。 3.6 受控当一个过程显示出本身固有的、且可预见的变差时则称该过程为“受控过程”；假如

过程处于受控状态，则无造成变差的特殊原因，那么，可以认为零件在99.73％的时间内都能随机地落在控制限值之内。 3.7 线性是在量具预期的工作量程内，偏倚值的差值。 3.8 测量系统误差测量系统偏倚、重复性、再现性、稳定性和线性的综合。 3.9 失控指各种特殊原因变差均未消除的过程状态；这种状态在控制图上表现为点落在控制限之外或是在控制限内呈现非随机形态。 3.10 基准值一个被认同的作为比较参考的值；一个零件的基准值可能是实验室条件下确定的或是使用更为精确的量具建立起来一个真的测量值。 3.11 重复性一个评价人，采用一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差 3.12 再现性不同的评价人，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差 3.13 分辨率指一个测量仪器监测出被测量的变差的能力。 3.14 稳定性测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值总变差；稳定性是变差对时间的增量。 3.15 公差

材料分析方法实验报告

篇一：材料分析方法实验报告篇二：材料分析方法课程设计报告材料分析测试方法课程设计（论文）题目：磁控溅射c/w多层膜成分及微观分析学院材料科学与工程专业材料化学班级材化082 学生王维娜学号 3080101296 指导教师陈迪春起止时间 2010.12.27-2011.1.1 年材料分析测试方法课程设计任务书课程设计内容要求：掌握高分辨透射电子显微镜样品制备方法，学习并了解真空镀膜技术-磁控溅射技术，多层膜制备过程，以及其微观结构分析，成分分析所用仪器和原理。学生（签名）月日材料分析测试方法课程设计评语指导教师（签名）年日目录材料分析测试方法 ............................................................................. .. (1) 1.1 磁控溅射 ............................................................................. (5) 1.2 x射线衍射仪 ............................................................................. . (5) 1.3 透射电子显微镜 ............................................................................. (6) 1.4 x射线光电子能谱仪（xps） ........................................................................ (7) 第二章实验方法 ............................................................................. .. (9) 2.1 tem样品的制备方法 .............................................................................

MSA作业指导手册

测量系统分析（M S A）作业指导书测量系统分析（M S A）作业指导书文件编号：RL/WI010 共页编制/日期：审核/日期：批准/日期：版本号：A 受控状态：发放代码：一汽四环制泵附件厂

2007年3月20日生效目录二、参考文件.......................................................... 三、术语.............................................................. 四、测量系统分析...................................................... （一）分析的原则...................................................... （二）稳定性分析...................................................... （三）偏倚分析........................................................ （四）线性分析........................................................ （五）双性（GRR或R&R）分析........................................... （六）计数型量具的测量系统分析........................................

一、目的为公司各类简单的计量型、计数型量具的测量系统分析提供指导。二、参考文件测量系统分析参考手册第三版三、术语 1、Procedure）、环境（E） 2、测量系统：对测量单元进行量化或对被测的特性进行评估，所使用的仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、软件、人员、环境及假设的集合。 3、分辨力：测量装置和标准的测量解析度、刻度限制、或最小可检出的单位。与最小可读单位研究，即通常所说的最小刻度值，但当仪器刻度较粗略时，允许将最小刻度值估读为原来的一半作为仪器的可视分辨力。 4、重复性：当测量条件已被确定和定义——在确定的零件、仪器、标准、方法、操作者、环境和假设之下，测量系统内部的变差。 5、再现性：传统上将再现性称为“评价人之间”的变差（AV）。指的是不同评价人使用相同的仪器对同一产品上的同一特性，进行测量所得的平均值的变差。但对于操作者不是变差的主要原因的测量过程，上述说法是不正确的。ASTM的定义为：现现性是指测量的系统之间或条件之间的平均值变差。它不但包括评价人的变差，同时还可能包括：量具、试验室及环境的不同，除此之外，还包括重复性。

测量系统分析报告(MSA)方法

测量系统分析(MSA)方法测量系统分析(MSA)方法**** 1.目的对测量系统变差进行分析评估，以确定测量系统是否满足规定的要求，确保测量数据的质量。 2.范围适用于本公司用以证实产品符合规定要求的所有测量系统分析管理。 3.职责 3.1质管部负责测量系统分析的归口管理; 3.2公司计量室负责每年对公司在用测量系统进行一次全面的分析; 3.3各分公司(分厂)质检科负责新产品开发时测量系统分析的具体实施。 4.术语解释 4.1测量系统(Measurement system)：用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备以及操作人员的集合，用来获得测量结果的整个过程。 4.2偏倚(Bias):指测量结果的观测平均值与基准值的差值。 4.3稳定性(Stability):指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量平均值总变差,即偏倚随时间的增量。 4.4重复性：重复性（Repeatability）是指由同一位检验员,采用同一量具,多次测量同一产品的同一质量特性时获得的测量值的变差。 4.5再现性: 再现性(Reproductivity) 是指由不同检验员用同一量具，多次测量同一产品的同一质量特性时获得的测量平均值的变差。 4.6分辨率（Resolution）:测量系统检出并如实指示被测特性中极小变化的能力。 4.7可视分辨率（Apparent Resolution）:测量仪器的最小增量的大小,如卡尺的可视分辨率为0.02mm。 4.8有效分辨率（Effective Resolution）:考虑整个测量系统变差时的数据等级大小。用测量系统变差的置信区间长度将制造过程变差（6δ）（或公差）划分的等级数量来表示。关于有效分辨率，在99%置信水平时其标准估计值为1.41PV/GR&R。 4.9分辨力(Discrimination):对于单个读数系统,它是可视和有效分辨率中较差的。 4.10盲测:指在实际测量环境中,检验员事先不知正在对该测量系统进行分析，也不知道所

测量系统分析作业指导

1.0目的/OBJECTIVE 对测量系统变差进行分析评价，以确定测量系统是否满足规定要求。 2.0范围/SCOPE 适用于本公司控制计划中列出的所有检测设备/计量器具的统计变差的分析研究。 3.0参考文件/REFERENCES 无 4.0 定义/DEFINITIONS 7.1 量具:任一用来测量产品特性之仪器。 7.2 测量系统:用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软作以及操作人员的集合，用来获得测量结果的整个过程。 7.3 偏倚:指测量结果的观测平均值与基准值的差值。 7.4 重复性:指一测量设备由同一作业者，经多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值的变差。 7.5 再现性:指一测量设备由不同的作业者，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。 7.6稳定性：是测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性值时获得的测量值总变差。 7.7线性：是在量具预期的工作范围内，偏倚值的差值。

6.0职责/RESPONSIBILITY 6.1 品质部：负责制定测量系统分析计划(MSA)并实施测量系统分析。 6.2 各使用部门负责使用过程中仪器的保养、维护。 7.0 程序/PROCEDURE 7.1 测量系统分析范围对控制计划中规定的测量系统进行分析，也包括更新的量具。 7.2 测量系统分析的频率、计划 7.2.1测量系统分析的频率一般为一年一次。 7.2.2品质部负责制定测量系统分析计划，经总经理批准后，进行实施。 7.2.3新产品开发过程中根据试产控制计划，由品质部组织实施测量系统分析。 7.3测量仪器、测量人员、测量样品的选择 7.7.1测量仪器的选择使用测量仪器的精度，必须为被测物公差的1/10以上。 2）、测量仪器必须校验合格。 3）、测量仪器的读数，其最小刻度最小必须读至精度的1/2，以避免测量仪器的签别能力不足。 7.7.2测量人员选择 1）随机选取几个使用测量仪器的作业者，这样可以让我们评估测量器具对不同作业员的敏感度。 2）测量器具作业员必须培训且经考核合格。 7.7.3测量零件的选择

MSA测量系统分析参考手册(doc 204页)

内部资料严禁翻印测量系统分析参考手册第三版 1990年2月第一版 1995年2月第一版；1998年6月第二次印刷 2002年3月第三版 ?1990?1995?2002版权由戴姆勒克莱斯勒、福特和通用汽车公司所有

测量系统分析参考手册第三版 1990年2月第一版 1995年2月第一版；1998年6月第二次印刷 2002年3月第三版 ?1990?1995?2002版权由戴姆勒克莱斯勒、福特和通用汽车公司所有

本参考手册是在美国质量协会（ASQ）及汽车工业行动集团（AIAG）主持下，由戴姆勒克莱斯勒、福特和通用汽车公司供方质量要求特别工作组认可的测量系统分析（MSA）工作组编写，负责第三版的工作组成员是David Benham（戴姆勒克莱斯勒）、Michael Down （通用）、Peter Cvetkovski（福特），以及Gregory Gruska（第三代公司）、Tripp Martin（FM 公司）、以及Steve Stahley（SRS技术服务）。过去，克莱斯勒、福特和通用汽车公司各有其用于保证供方产品一致性的指南和格式。这些指南的差异导致了对供方资源的额外要求。为了改善这种状况，特别工作组被特许将克莱斯勒、福特和通用汽车公司所使用的参考手册、程序、报告格式有及技术术语进行标准化处理。因此，克莱斯勒、福特和通用汽车公司同意在1990年编写并以通过AIAG分发MSA手册。第一版发行后，供方反应良好，并根据实际应用经验，提出了一些修改建议，这些建议都已纳入第二版和第三版。由克莱斯勒、福特和通用汽车公司批准并承认的本手册是QS-9000的补充参考文件。本手册对测量系统分析进行了介绍，它并不限制与特殊生产过程或特殊商品相适应的分析方法的发展。尽管这些指南非覆盖测量系统通常出现的情况，但可能还有一些问题没有考虑到。这些问题应直接向顾客的供方质量质量保证（SQA）部门提出。如果不知如何与有关的SQA部门联系，在顾客采购部的采购员可以提供帮助。 MSA工作组衷心感谢：戴姆勒克莱斯勒汽车公司副总裁Tom Sidlik、福特汽车公司Carlos Mazzorin，以及通用汽车公司Bo Andersson的指导和承诺；感谢AIAG在编写、出版、分发手册中提供的帮助；感谢特别工作组负责人Hank Gryn（戴姆勒克莱斯勒）、Russ Hopkins （福特）、Joe Bransky（通用），Jackie Parkhurst（通用（作为代表与ASQ及美国试验与材料协会（国际ASTM）的联系。编写这本手册以满足汽车工业界的特殊需要。戴姆勒克莱斯勒、福特和通用汽车公司于2002后取得了本手册的版权和所有权。如果需要，可向AIAG订购更多的本手册，和/或在得到AIAG的许可下，复制本手册的部分内容，在各供方组织内使用。（AIAG联系电话：248-358-3570）。 2002年3月

MSA测量系统分析作业指导书

页码：第1页共8页编号:xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxx 1、目的提供一种评定测量系统质量的方法，从而对必要的测量系统进行评估，以保证本公司所使用的测量系统均能满足于正常的质量评定活动。 2、范围适用于证实产品符合规定要求的所有测量系统。 3、职责品质部负责确定MSA项目，定义测量方法及对数据的处理和对结果的分析。APQP 小组负责协助质量管理员完成测量系统的分析和改进。 4、定义 4.1测量设备：实现测量过程所必需的测量仪器，软件，测量标准，标准样品或辅助设备或它们的组合。 4.2测量系统：是对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件、环境以及操作人员的集合。 4.3偏倚：对相同零件上同一特性的观测平均值与真值（参考值）的差异。 4.4稳定性：经过一段长期时间下，用相同的测量系统对同一基准或零件的同一特性进行测量所获得的总变差。 4.5线性：在测量设备预期的工作（测量）量程内，偏倚值的差异。 4.6重复性：用一位评价人使用相同的测量仪器对同一特性，进行多次测量所得到的测量变差。 4.7再现性：不同评价人使用相同的测量仪器对同一产品上的同一特性，进行测量所得的平均值的变差。 4.8零件间变差：是指包括测量系统变差在内的全部过程变差。 4.9评价人变差：评价人方法间差异导致的变差。 4.10总变差：是指过程中单个零件平均值的变差。 4.11量具：任何用来获得测量结果的装置，包括判断通过/不通过的装置。 5、工作程序 5.1 测量系统分析实施时机

页码：第2页共8页编号:xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxx 5.1.1新产品在生产初期，参见“产品实现策划控制程序”HNFH QP-08。 5.1.2控制计划中指定的检验项目每年需做MSA。 5.1.3客户有特殊要求时，按客户要求进行。 5.1.4测量系统不合格改善后需重新进行分析。 5.2测量设备的选择 a) 有关人员在制定控制计划及作业指导书时，应选择适宜的测量设备，既要经济合理，又要确保测量设备具有足够的分辩率，使用测量结果真实有效。 b) 选择测量设备时，建议其可视分辩率应不低于特性的预期过程变差的十分之一（即可取过程公差的十分之一，例如:特性的变差为0.1，测量设备应能读取0.01的变化）,关键特性可按此规定选择合适精度的测量设备。一般特性，测量设备可视分辩率最低不能低于预期过程变差的三分之一。 5.3制定“MSA计划” 5.3.1对于新产品，项目小组根据产品质量先期策划进度要求，至少针对控制计划中规定的关键特性的测量设备制定“MSA计划”，经项目负责人审核、品质部部长批准后，由项目小组组织实施。 5.3.2对于批产产品，由品质部根据控制计划要求及现行产品生产情况，制定“MSA计划”，经品质部部长批准后，组织实施。 5.4实施 5.4.1按照计划的方法及时组织实施评价，评价人的选择应从日常操作该测量设备的人中挑选。 5.4.2规定数量的样品必须从过程中选取并代表其整个工作范围，即特性值包含整个公差范围。 5.4.3必须对每一零件编号以便于识别。 5.4.4确保测量设备的分辩率和测量方法符合规定的要求。 5.4 .5对测量数据予以分析评价，出具测量系统分析报告。

材料分析报告测试技术复习题二

材料分析测试技术一、名词解释（共有20分，每小题2分。） 1. 辐射的发射：指物质吸收能量后产生电磁辐射的现象。 2. 俄歇电子：X射线或电子束激发固体中原子内层电子使原子电离，此时原子(实际是离子)处于激发态，将发生较外层电子向空位跃迁以降低原子能量的过程，此过程发射的电子。 3. 背散射电子：入射电子与固体作用后又离开固体的电子。 4. 溅射：入射离子轰击固体时，当表面原子获得足够的动量和能量背离表面运动时，就引起表面粒子（原子、离子、原子团等）的发射，这种现象称为溅射。 5. 物相鉴定：指确定材料（样品）由哪些相组成。 6. 电子透镜：能使电子束聚焦的装置。 7. 质厚衬度：样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别，均可引起相应区域透射电子强度的改变，从而在图像上形成亮暗不同的区域，这一现象称为质厚衬度。 8. 蓝移：当有机化合物的结构发生变化时，其吸收带的最大吸收峰波长或位置（?最大）向短波方向移动，这种现象称为蓝移（或紫移，或“向蓝”）。 9. 伸缩振动：键长变化而键角不变的振动，可分为对称伸缩振动和反对称伸缩振动。

10. 差热分析：指在程序控制温度条件下，测量样品与参比物的温度差随温度或时间变化的函数关系的技术。二、填空题（共20分，每小题2分。） 1. 电磁波谱可分为三个部分，即长波部分、中间部分和短波部分，其中中间部分包括（红外线）、（可见光）和（紫外线），统称为光学光谱。 2. 光谱分析方法是基于电磁辐射与材料相互作用产生的特征光谱波长与强度进行材料分析的方法。光谱按强度对波长的分布（曲线）特点（或按胶片记录的光谱表观形态）可分为（连续）光谱、（带状）光谱和（线状）光谱3类。 3. 分子散射是入射线与线度即尺寸大小远小于其波长的分子或分子聚集体相互作用而产生的散射。分子散射包括（瑞利散射）与（拉曼散射）两种。 4. X射线照射固体物质(样品)，可能发生的相互作用主要有二次电子、背散射电子、特征X射线、俄歇电子、吸收电子、透射电子 5. 多晶体（粉晶）X射线衍射分析的基本方法为（照相法）和（X射线衍射仪法）。 6. 依据入射电子的能量大小，电子衍射可分为（高能）电子衍射和（低能）电子衍射。依据电子束是否穿透样品，电子衍射可分为（投射式）电子衍射与（反射式）电子衍射。

测量系统分析(MSA)

测量系统分析（MSA） 1目的和围规测量系统分析，明确实施方法、步骤及对数据的处理、分析。 2规性引用文件无 3定义 3.1测量系统：用来对测量单元进行量化或对被测的特性进行评估，其所使用的仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、软件、人员、环境及假设的集合；也就是说，用来获得测量结果的整个过程。 3.2稳定性：是测量系统在某持续时间测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值总变差。稳定性是整个时间的偏倚的变化。 3.3分辨率：为测量仪器能够读取的最小测量单位。别名：最小读数单位、刻度限度、或探测度、分辨力；要求低于过程变差或允许偏差（tolerance）的十分之一。Minitab中常用的分辨率指标：可区分的类别数ndc=(零件的标准偏差/ 总的量具偏差)* 1.41，一般要求它大于等于5才可接受，10以上更理想。 3.4过程总波动TV=6σ。σ——过程总的标准差 3.5准确性（准确度）：测量的平均值是否偏离了真值，一般通过量具计量鉴定或校准来保证。 3.5.1真值：理论正确值，又称为：参考值。 3.5.2偏倚：是指对相同零件上同一特性的观测平均值与真值的差异。%偏倚=偏倚的平均绝对值/TV。 3.5.3线性：在测量设备预期的工作量程，偏倚值的差值。用线性度、线性百分率表示。 3.6精确性（精密度）：测量数据的波动。测量系统分析的重点，包括：重复性和再现性 3.6.1重复性：是由一个评价人，采用一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差。重复性又被称为设备波动（equipment variation，EV）。 3.6.2再现性：是由不同的评价人，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。再现性又被称为“评价人之间”的波动（appraiser waration，AV）。 3.6.3精确性%公差（SV/Toler），又称为%P/T：是测量系统的重复性和再现性波动与被测对象质量特性 σ/ (USL-LSL) *100%。公差之比，%P/T=R&R/(USL-LSL)*100%=6 MS σ/6σ*100%。 3.6.4精确性%研究变异（%Gage R&R、%SV）= R&R/TV*100%=6 MS 线性

MSA测量系统分析作业指导书

司页码：第1页共8页编号:xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxx 1、目的提供一种评定测量系统质量的方法，从而对必要的测量系统进行评估，以保证本公司所使用的测量系统均能满足于正常的质量评定活动。 2、范围适用于证实产品符合规定要求的所有测量系统。 3、职责品质部负责确定MSA项目，定义测量方法及对数据的处理和对结果的分析。APQP 小组负责协助质量管理员完成测量系统的分析和改进。 4、定义 4.1测量设备：实现测量过程所必需的测量仪器，软件，测量标准，标准样品或辅助设备或它们的组合。 4.2测量系统：是对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件、环境以及操作人员的集合。 4.3偏倚：对相同零件上同一特性的观测平均值与真值（参考值）的差异。 4.4稳定性：经过一段长期时间下，用相同的测量系统对同一基准或零件的同一特性进行测量所获得的总变差。 4.5线性：在测量设备预期的工作（测量）量程内，偏倚值的差异。 4.6重复性：用一位评价人使用相同的测量仪器对同一特性，进行多次测量所得到的测量变差。 4.7再现性：不同评价人使用相同的测量仪器对同一产品上的同一特性，进行测量所得的平均值的变差。 4.8零件间变差：是指包括测量系统变差在内的全部过程变差。 4.9评价人变差：评价人方法间差异导致的变差。 4.10总变差：是指过程中单个零件平均值的变差。 4.11量具：任何用来获得测量结果的装置，包括判断通过/不通过的装置。 5、工作程序 5.1 测量系统分析实施时机

司页码：第2页共8页编号:xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxx 5.1.1新产品在生产初期，参见“产品实现策划控制程序”HNFH QP-08。 5.1.2控制计划中指定的检验项目每年需做MSA。 5.1.3客户有特殊要求时，按客户要求进行。 5.1.4测量系统不合格改善后需重新进行分析。 5.2测量设备的选择 a) 有关人员在制定控制计划及作业指导书时，应选择适宜的测量设备，既要经济合理，又要确保测量设备具有足够的分辩率，使用测量结果真实有效。 b) 选择测量设备时，建议其可视分辩率应不低于特性的预期过程变差的十分之一（即可取过程公差的十分之一，例如:特性的变差为0.1，测量设备应能读取0.01的变化）,关键特性可按此规定选择合适精度的测量设备。一般特性，测量设备可视分辩率最低不能低于预期过程变差的三分之一。 5.3制定“MSA计划” 5.3.1对于新产品，项目小组根据产品质量先期策划进度要求，至少针对控制计划中规定的关键特性的测量设备制定“MSA计划”，经项目负责人审核、品质部部长批准后，由项目小组组织实施。 5.3.2对于批产产品，由品质部根据控制计划要求及现行产品生产情况，制定“MSA计划”，经品质部部长批准后，组织实施。 5.4实施 5.4.1按照计划的方法及时组织实施评价，评价人的选择应从日常操作该测量设备的人中挑选。 5.4.2规定数量的样品必须从过程中选取并代表其整个工作范围，即特性值包含整个公差范围。 5.4.3必须对每一零件编号以便于识别。 5.4.4确保测量设备的分辩率和测量方法符合规定的要求。 5.4 .5对测量数据予以分析评价，出具测量系统分析报告。

搜索引擎测试方法分析报告材料

搜索引擎测试方法分析搜索引擎的重要性自然体现出来了。大家最熟悉的专业搜索引擎有yahoo!、Google、百度…………然后搜索引擎并不止这些，一些大型的网站也有自己的搜索引擎，那搜索引擎怎么测试呢？搜索引擎的测试也分为功能与性能测试，我在下面依次来分享：首先，我们把整个测试计划分为线下测试与线上测试。线下与线上测试都要分功能测试与性能测试，先说现线下的测试。一、线下功能测试分为两个部分，一部分为搜索引擎本身的功能测试，一部分为嵌套在前台应用中的功能测试： 1、搜索引擎本身的功能测试，主要就是按照用例，通过不同的搜索关键字、属性的组合(按照搜索引擎的规则)来直接访问搜索引擎，查看返回的数据、参数是不是符合原先预计的结果。可以编写脚本来批量执行，判断每一个搜索的返回结果数与内容，相对应的参数是否一致。也可以手工执行，使用浏览器或者命令行(如curl)来做，用肉眼来观察结果。 2、嵌套前台应用的功能测试，只要就是按照用例通过前台的操作，来测试搜索引擎的

相关的功能，测试搜索引擎与前台的接口是否正确应用，至于如何测试，这个地球人都知道了，我就不在这里多说了。二、线下性能测试也分为两个部分，一部分为直接对搜索引擎进行加压的性能测试，另一部分为通过前台应用进行加压的性能测试： 1、直接对搜索引擎进行加压，可以测试出搜索引擎本身最真实的性能状况。可以把搜索引擎的有效负荷，最大承受的压力测试出来。具体的方法是，使用工具如loadrunner使用一个web_url直接加压，加压的内容其实就是你在功能测试中，直接测试搜索引擎时使用的那些搜索关键字、属性的组合(按照搜索引擎的规则)，具体的规则可以通过log来查看，也可以询问开发人员。需要注意的是，数据准备一定要海量，至少10万条以上的搜索数据(注意，就是你访问搜索引擎的那些关键字组合，至于被搜索的数据，越大越好，最少多大，看你实际需要了)。当一切都准备完毕后，就可以启动工具来进行加压了。 2、通过前台应用进行加压，主要的压力都集中在前台应用上面，对于搜索引擎本身的压力并不会很大，但是这种测试也是必须的，因为你的搜索引擎是离不开前台应用的，这种测试可以模拟最真实的终端用户使用。所以不要怕麻烦，这个才是最后真正有意义的测试结果。三、线上的功能测试，其实就是功能回归了，使用预发布环境(一套独立的缩小的线上的架构)来跑回归，手工或者自动化随便，这是不能缺少的。

测量系统分析指导书

测量系统分析指导书 1目的本规定具体明确进行“测量系统分析”的方法，以确定测量系统是否具有恰当的统计特性，并根据对研究结果的分析来评估所使用的量具或设备的测量能力是否能达到预期的要求。 2 适用范围：本规定适用于由控制计划规定的量具或测试设备并指出其相对应的关键特性。 3 术语或缩语 3.1重复性Repeatability：是用一个评价人，使用相同测量仪器，对同一零件上的同一特性进行多次测量所得到的测量变差。 3.2再现性Reproducibility：是用不同的评价人，使用相同的测量仪器，对同一零件上的同一特性进行测量所得的平均值的变差。 3.3重复性和再现性（GRR）：测量系统重复性和再现性联合估计值。 3.4Cg：检具能力指数。 4 程序 4.1流程图 4.2 职责 4.2.1 质量保证部负责对本工作规定的建立，保持和归口管理。 4.2.2 使用部门按控制计划要求，编制测量系统分析计划，上报质量保证部批准，使用部门准备样件，实施，提供报告。质量保证部负责结果评价。 4.2.3 人力资源部负责人员培训。

4.2.4 量具使用部门归档保存相应记录。 5 测量系统分析: 5.1 根据客户的要求来确定MSA，现场使用的计量器具，用于大众产品用Cg值来评估，用于通用的产品的用GRR来评估，其余的产品根据客户要求来定，客户无要求的采用GRR分析。 5.2 计量仪器的MSA，采用GRR来分析。测量仪器按对应的测量产品来做评估，但对同一大类的产品，同一种工艺允许只选取一种零件作为代表性的来做GRR分析。 5.2.1 CMM的MSA，可从控制计划中选取具有代表性的零件进行，项目包括位置尺寸、几何尺寸进行GRR分析。 5.2.2 齿轮测量中心的MSA，可根据齿轮加工特性，选取对最终的齿轮精度有影响加工工艺（如插齿、剃齿、珩齿、磨齿、成品）进行GRR分析。项目选取：周节累积误差、相邻齿距误差、平均齿向角度误差、平均齿形角度误差。 5.2.3 圆柱度仪的MSA，在控制计划中涉及到使用圆柱度仪的根据加工特性可分为车加工、磨加工和零件特性分为轴类和盘类，对其分别进行圆度、圆柱度和母线平行度的GRR分析。 5.2.4 轮廓仪的MSA，根据加工特性，可在控制计划中选取具有代表性的如倒角、R圆角、距离等进行GRR分析。 5.2.5 粗糙度仪的MSA，按控制计划中规定的项目（Ra、Rz、Rt），每一类评定标准选一种公差小的，分别进行GRR分析。 5.2.6 卡板的MSA，进行GRR分析。 5.3对在控制计划中出现的万能量具，由使用部门按控制计划组织MSA，对同一类万能量具用于同一大类的产品、同一工艺、同一精度允许只选取一种作为代表性的来做GRR分析分析方法，根据客户要求分为GRR和Cg。 5.4 对带表检具全部实施MSA，但对一台多参数专用检具，允许只对最小公差的检测项进行MSA。分析方法根据客户要求分为GRR和Cg。周期为检具六个月。 5.5对卡板、塞规等专用量具，首次使用前由使用部门按控制计划组织MSA，分析方法为计数型。对同一大类的产品、同一工艺、同一精度允许只选取一种作为代表性的来做GRR分析评估。 5.6专用量检具首次使用前应进行MSA。对用于SPC过程控制点的专用量检具需定期做MSA，原则上参照检定周期。 6. MSA的实施方法： 6.1 计量仪器、带表检具及万能量具的GRR实施方法和结果评估。 6.1.1带表检具及万能量具由使用部门组织并确定三位测量者,并从过程中抽取有代表性的10个零件(选定的零件应考虑到零件加工过程中可能波及的范围),同时做好标记。每个测量者代号（A,B,C）测量10个零件三次,并分别记录在JJ/SQC-69“测量系统分析数据采集卡”输入电脑,电脑需计算的数据有: 测量者A,B,C各自的对各零件的第一至第三次的测量值及其对应的极差(最大值--最小值)R; 计算测量者A,B,C各自的第一次,第二次和第三次的测量值总和与平均值、、，以及极差的总和与平均值、和。计算各零件测量值的平均值Xp。计算极差的值和、、的极差，以及零件平均值Xp的均值和极差Rp。计算重复性，即由量具变化而造成波动的变差EV，系数K1按每测量者重复测量次数而定。系数K1见附表《量具重复性和再现性报告》。计算再现性，由于测量者变化而造成波动的变差A V，系数K2按测量人数而定。式中，n为零件数量，r为测量次数。系数K2见附表《量具重复性和再现性报告》。计算重复性与再现性，GRR。

MSA 作业指导书

测量系统分析（MSA）作业指导书文件编号：共页编制/日期：审核/日期：批准/日期：版本号： A 受控状态：发放代码：一汽四环制泵附件厂 2007年3月20日生效目录一、目的....................................................................................................... 二、参考文件................................................................................................ 三、术语....................................................................................................... 四、测量系统分析 ........................................................................................ （一）分析的原则................................................................................. （二）稳定性分析.................................................................................

（三）偏倚分析..................................................................................... （四）线性分析..................................................................................... （五）双性（GRR或R&R）分析 ........................................................ （六）计数型量具的测量系统分析........................................................

材料分析报告测试方法复习题

材料分析测试方法复习题第一部分简答题： 1. X射线产生的基本条件答：①产生自由电子； ②使电子做定向高速运动； ③在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。 2. 连续X射线产生实质答：假设管电流为10mA，则每秒到达阳极靶上的电子数可达6.25x10（16）个，如此之多的电子到达靶上的时间和条件不会相同，并且绝大多数达到靶上的电子要经过多次碰撞，逐步把能量释放到零，同时产生一系列能量为hv（i）的光子序列，这样就形成了连续X射线。 3. 特征X射线产生的物理机制答：原子系统中的电子遵从刨利不相容原理不连续的分布在K、L、M、N等不同能级的壳层上，而且按能量最低原理从里到外逐层填充。当外来的高速度的粒子动能足够大时，可以将壳层中某个电子击出去，于是在原来的位置出现空位，原子系统的能量升高，处于激发态，这时原子系统就要向低能态转化，即向低能级上的空位跃迁，在跃迁时会有一能量产生，这一能量以光子的形式辐射出来，即特征X射线。 4. 短波限、吸收限

答：短波限：X射线管不同管电压下的连续谱存在的一个最短波长值。吸收限：把一特定壳层的电子击出所需要的入射光最长波长。 5. X射线相干散射与非相干散射现象答：相干散射：当X射线与原子中束缚较紧的内层电子相撞时，电子振动时向四周发射电磁波的散射过程。非相干散射：当X射线光子与束缚不大的外层电子或价电子或金属晶体中的自由电子相撞时的散射过程。 6. 光电子、荧光X射线以及俄歇电子的含义答：光电子：光电效应中由光子激发所产生的电子（或入射光量子与物质原子中电子相互碰撞时被激发的电子）。荧光X射线：由X射线激发所产生的特征X射线。俄歇电子：原子外层电子跃迁填补内层空位后释放能量并产生新的空位，这些能量被包括空位层在内的临近原子或较外层电子吸收，受激发逸出原子的电子叫做俄歇电子。 7. X射线吸收规律、线吸收系数答：X射线吸收规律：强度为I的特征X射线在均匀物质内部通过时，强度的衰减与在物质内通过的距离x成比例，即-dI/I=μdx 。线吸收系数：即为上式中的μ，指在X射线传播方向上，单位长度上的X射线强弱衰减程度。 8. 晶面及晶面间距

测量系统分析(MSA)

测量系统分析（MSA） 1目得与范围规范测量系统分析，明确实施方法、步骤及对数据得处理、分析。 2规范性引用文件无 3定义 3.1测量系统：用来对测量单元进行量化或对被测得特性进行评估，其所使用得仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、软件、人员、环境及假设得集合；也就就是说，用来获得测量结果得整个过程。 3.2稳定性：就是测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件得单一特性时获得得测量值总变差。稳定性就是整个时间得偏倚得变化。 3.3分辨率：为测量仪器能够读取得最小测量单位。别名：最小读数单位、刻度限度、或探测度、分辨力；要求低于过程变差或允许偏差（tolerance）得十分之一。Minitab中常用得分辨率指标：可区分得类别数ndc=(零件得标准偏差/ 总得量具偏差)* 1、41，一般要求它大于等于5才可接受，10以上更理想。 3.4过程总波动TV=6σ。σ——过程总得标准差 3.5准确性（准确度）：测量得平均值就是否偏离了真值，一般通过量具计量鉴定或校准来保证。 3.5.1真值：理论正确值，又称为：参考值。 3.5.2偏倚：就是指对相同零件上同一特性得观测平均值与真值得差异。%偏倚=偏倚得平均绝对值/TV。 3.5.3线性：在测量设备预期得工作量程内，偏倚值得差值。用线性度、线性百分率表示。 3.6精确性（精密度）：测量数据得波动。测量系统分析得重点，包括：重复性与再现性 3.6.1重复性：就是由一个评价人，采用一种测量仪器，多次测量同一零件得同一特性时获得得测量值变差。重复性又被称为设备波动（equipment variation，EV）。 3.6.2再现性：就是由不同得评价人，采用相同得测量仪器，测量同一零件得同一特性时测量平均值得变差。再现性又被称为“评价人之间”得波动（appraiser waration，AV）。 3.6.3精确性%公差（SV/Toler），又称为%P/T：就是测量系统得重复性与再现性波动与被测对象质量 σ/ (USL-LSL) *100%。特性公差之比，%P/T=R&R/(USL-LSL)*100%=6 MS σ/6σ*100%。 3.6.4精确性%研究变异（%Gage R&R、%SV）= R&R/TV*100%=6 MS 线性

材料分析测试方法考点总结

材料分析测试方法 XRD 1、x-ray 的物理基础 X 射线的产生条件： ⑴ 以某种方式产生一定量自由电子 ⑵ 在高真空中，在高压电场作用下迫使这些电子做定向运动 ⑶ 在电子运动方向上设置障碍物以急剧改变电子运动速度 →x 射线管产生。 X 射线谱——X 射线强度随波长变化的曲线：（1）连续X 射线谱：由波长连续变化的X 射线构成，也称白色X 射线或多色X 射线。每条曲线都有一强度极大值（对应波长λm ）和一个波长极限值（短波限λ0）。特点：最大能量光子即具有最短波长——短波限λ0。最大能量光子即具有最短波长——短波限λ0。影响连续谱因素：管电压U 、管电流 I 和靶材Z 。I 、Z 不变，增大U →强度提高，λm 、λ0移向短波。U 、Z 不变，增大I ；U 、I 不变，增大Z →强度一致提高，λm 、λ0不变。（2）特征X 射线谱：由一定波长的若干X 射线叠加在连续谱上构成，也称单色X 射线和标识X 射线。特点：当管电压超过某临界值时才能激发出特征谱。特征X 射线波长或频率仅与靶原子结构有关，莫塞莱定律特定物质的两个特定能级之间的能量差一定，辐射出的特征X 射线的波长是特定。特征x 射线产生机理：当管电压达到或超过某一临界值时，阴极发出的电子在电场加速下将靶材物质原子的内层电子击出原子外，原子处于高能激发态，有自发回到低能态的倾向，外层电子向内层空位跃迁，多余能量以X 射线的形式释放出来—特征X 射线。 X 射线与物质相互作用：散射，吸收（主要）（1）相干散射：当X 射线通过物质时，物质原子的内层电子在电磁场作用下将产生受迫振动，并向四周辐射同频率的电磁波。由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称相干散射→ X 射线衍射学基础（2）非相干散射：X 射线光子与束缚力不大的外层电子或自由电子碰撞时电子获得一部分动能成为反冲电子，X 射线光子离开原来方向，能量减小，波长增加，也称为康普顿散射。（3）吸收：光电效应，俄歇效应 λK 即称为物质的K 吸收限短波限λ0与管电压有关，而每种物质的K 激发限波长λK 与该物质的K 激发电压有关，即都有自己特定的值。 X 射线与物质的相互作用可以看成是X 光子与物质中原子的相互碰撞。当X 光子具有足够能量时，可以将原子内层电子击出，该电子称为光电子。原子处于激发态，外层电子向内层空位跃迁，多余能量以辐射方式释放，即二次特征X 射线或荧光X 射线。这一过程即为X 射线的光电效应。对于某特定材料的特定俄歇电子具有特定的能量，测定其能量（俄歇电子能谱）可以确定原K K K K K K K V eV hc eV W hc h 2 104.12?==→=≥=λλν()σλ-=Z K 1