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IGBT短路测试方法详解

IGBT短路测试方法详解
IGBT短路测试方法详解

IGBT短路测试方法详解

在开发电力电子装置的过程中，我们需要做很多的测试，但是短路测试常常容易被忽略，或者虽然对装置实施了短路测试，但是实际上并不彻底和充分。下面2种情况比较常见：

1. 没有实施短路测试，

a. 因为觉得这个实验风险太大，容易炸管子，损失太大；

b. 觉得短路时电流极大，很恐怖；

2. 实施了短路测试，但测试标准比较简单，对短路行为的细节没有进行观察

本文将详细介绍正确的，完整的短路测试方法，及判断标准。

短路的定义（1）：

桥内短路（直通）

命名为“一类”短路

硬件失效或软件失效

短路回路中的电感量很小(100nH级)

VCE sat 检测

桥臂间短路（大电感短路）

命名为“二类”短路

相间短路或相对地短路

短路回路中的电感量稍大(uH级的)

可以使用Vcesat ，也可以使用霍尔，根据电流变化率来定这类短路的回路中的电感量是不确定的

一类短路测试的实施方法一：

下图为实施一类短路测试时的示意图。电网电压经过调压器，接触器，将母线电容电

压充到所需要的值，再断开接触器。上管IGBT的门极被关断，且上管用粗短的铜排进行短路。对下管IGBT释放一个单脉冲，直通就形成了。这就是一个典型的一类短路测试。

一类短路测试的实施方法一的注意事项：

该测试需要注意的事项：

1. 该测试的关注对象是电容组，母排，杂散电感，被测IGBT；

2 短路回路中的电感量很低，所以上管的短路排的电感量可以极大地影响测量的结果，因此绝不可忽视图中所示“粗短铜排”的长短和粗细；

3. 短路测试的能量全部来自母排电容组，通常来说，虽然短路电流很大，但是因为时

间极短，所以这个测试所消耗的能量很小，实验前后电容上的电压不会有明显变化；

4. 上管IGBT是被一直关断的，但是这个器件不可或缺，因为下管被关断后，短路电

流还需要由上管二极管续流；

5. 该测试需要测量三个物理量，分别是，下管的Vce，Vge，及Ic；

6. 电流探头需要测量图中Ic的位置，而不是短铜排的电流，这两个位置的电流波形是不同的；

7. 下管IGBT的脉冲需要严格控制，最开始实验可以使用10us，然后逐步增加；

8. 环境温度对实验结果有较大的影响，通常datasheet给出的高结温的结果；对应用者而言，常温实验是比较现实的；但低温时的短路测试会比较苛刻，如果系统规格有

低温要求时，是有必要进行测试的；

9. 在此实验前需要对直流母排的杂散电感有一定的评估，或者用双脉冲测试方法对IGBT关断时的电压尖峰进行评估，以把握好短路时的电压尖峰，这个值可能会非常高；实验步骤及方法：

1. 在弱电情况下，确认所发单脉冲的宽度；

2. 将母线电压调至20~30V，发送一个单脉冲，此时也会发生短路，会有一定的电流，利用此步骤确认电流探头的方向及其他各物理量测量正确，同时确认示波器能正确捕

捉该瞬间；这个步骤会比

较安全；

3. 短路测试时，母线不宜过低，否则可能会见到一些奇异的震荡；对于1200V的IGBT，母线为500V起；1700V的IGBT，母线为700V起；3300V的IGBT，1000V 起；

4. 母线加到额定点，将进线接触器断开，放出单脉冲，装置会发出“咚”的一声响，

确认示波器捕捉到该时刻；

5. 通常来说，如果一切都设置正确的话，短路测试是很容易成功的，但也可能由于某

些细节没有处理好，存在一定的几率，该测试会失败——这个IGBT会失效，并将电

容的能量全部放掉，一般不

会爆炸得很厉害；

6. 第一次发10us的脉冲实际上是一种尝试性测试，其目的是，在尽量低风险的情况下，对设备的短路性能进行最初步的摸底；

7. 如果第一次10us测试已经发现波形有问题，则需要整改；

8. 如果第一次10us测试发现IGB没有发生退饱和现象，则可能意味着短路回路电感

量太大，需要整改；

9. 如果第一次10us测试发现波形正常，可以脉冲延长至12us，再做，再延长到

15us，再做，如果发现驱动器释放出来的脉冲不再增长，则意味着驱动器对IGBT进

行了保护，否则，意味着驱动器保护电路设置有问题，需要整改；

对结果的评判（1）

下图为某一个测试结果，

1. 用电流的上升率di/dt求出短路回路中的全部电感量，再减去之前测出的杂散电感，就能得到插入的铜排的感量；

2. 关注短路电流的最高值，与datasheet中标注的值进行比较，是否过高，电流是否有震荡；

3. 从IGBT退饱和算起，至电流被关断，期间的时间是否控制在10us内，这个条件

是不可以妥协的；

某品牌1500A/3300V的IGBT的一类

短路测试，Vdc=2200V，Tj=25℃，

@CONCEPT瑞士实验室

红线：Ic

蓝线：Vce

绿线：Vge

4. 短路电流的峰值与门极钳位电路有很大的关系，如果门极钳位性能不好，短路电流

峰值会很高；

5. 关注Vce电压，需要多久才退饱和，在关断时刻时，Vce电压尖峰有多高，是否存在危险，有源钳位是否动作；

6. 门极电压的评判需要比较谨慎，因为这个测试di/dt及du/dt都很大，门极探头很

容易测不准

某品牌1500A/3300V的IGBT的一类

短路测试，Vdc=2200V，Tj=25℃，

@CONCEPT瑞士实验室

红线：Ic

蓝线：Vce

绿线：Vge

另一个IGBT的测试结果：

下图是另外一个1700V的IGBT的一类短路测试结果。

这个IGBT的速度比较快，因此Vce开始先下降，然后IGBT才发生退饱和，Vce才上升至直流母线。

不同的品牌，代数，电压等级，电流等级的IGBT 其短路行为会有差别，不过本质是相同的。

某品牌450A/1700V的IGBT的一类短。

路测试，Vdc=1200V，Tj=25℃，

@CONCEPT瑞士实验室

红线：Vge

蓝线：Vce

黄线：Ic

存在问题的波形：

下图是一个在真实装置开发中有问题的结果，如果不做调整这个IGBT会面临较大风险。

下图是同样的装置经过调整，达到了理想的实验结果。

门极钳位（gate clamping）功能的测试：

在短路测试中，电流的形状与门极钳位电路的性能密切相关，而门极钳位的功能只有

在这个时候才能体现出来。由于很多人都不太了解IGBT的短路行为，或者是没有深入测试设备的短路性能，因此，导致了对门极钳位电路的不重视。门极钳位电路出现的

原因是IGBT存在米勒电容，在IGBT短路时，米勒电容会影响门极电压，导致短路电流激增，使IGBT承担风险。

越大容量的IGBT，米勒效应越强，门极钳位电路越重要。

差的门极钳位的结果：

下图为某型号2片1500A/3300V并联的短路测试波形，使用门极和发射极间的TVS 进行门极钳位，如下图示。

母线电压为2200V，实验结果显示，

IGBT的电流峰值为13.36kA。

CH1,2：Vge

CH3 4：Vce

好的门极钳位的结果：

在上页的基础上，完全相同的硬件设置，只是修改了门极钳位电路。用下图所示的门极钳位电路。

一类短路测试的实施方法二

下图为实施一类短路测试的另外一种方法。给上管IGBT驱动器一个常高信号，使上管保持开通，再给下管发单脉冲。这个实验的优点是，确保短路回路中的电感量就是直流母线的杂散电感，足够低。

注意事项：

1. 在前文介绍的短路测试方法一中，有一个缺点，如果插入的短路电缆没有控制好，

感量过大，会导致进入了二类短路；

2. 在并联的情形下做短路测试方法一，如果并联的桥臂中插入的感量不一致，不对称，非常容易导致炸管；

3. 短路测试方法二中，短路回路的电感量非常稳定，就等于电容，母排，IGBT模块的杂散电感之和，短路电流变化率很高，轻易就能达到5000A/us的水平；

4. 在这个实验中，短路脉冲的宽度必须被控制住，从窄至宽慢慢放开；

5. 这个实验中，放出单脉冲的那只IGBT总是会先退出饱和区；

二类短路测试方法：

在实际运行的机器中，二类短路是比较容易遇到的短路类型，例如逆变器在拖动电机时，电机定子侧短路，此时就是二类短路。对这种短路的测试方法是在短路回路中插

入某一数值的感量，然后观察其短路行为。

波形

右图所示为二类短路的测试波形，IGBT导通后，首先进入饱和导通，然后随着电流的增加，当电流到达IGBT的退饱和点时，IGBT电压迅速上升。这标志着IGBT退出了饱和区。然后驱动器经过定

时后，关断IGBT。

过流保护功能的验证

当短路回路中的电感量继续增大时，就会变成过流。过流的特征是：

1. 电流斜率较低，霍尔器件能侦测到；

2. 电流一定会流过桥臂输出端；

因此，霍尔元件就是过流保护电路的关键元器件。关于霍尔的动态性能，有2个参数是最重要的：

1. di/dt 跟随精度

2. 响应时间

下图摘自某霍尔的datasheet：

霍尔元件的关键性能指标：

用双脉冲测试方法，把IGBT的电流测出来并显示在示波器上，并以此为参考。将霍尔的输出信号，经过系统的滤波后，也放在示波器上。观察所检测的信号是否能及时并准确地跟随被测电流。

霍尔的响应时间通常在1us以内，对于过流保护这项功能来说，已经足够快了，只要系统传输这个信号时，不要过分的插入惯性环节，这个响应时间是足够的。霍尔的电流跟随精度通常能达到50A/us，或者100A/us，这个水平也是很快的了，通常过流现象在时间上并不苛刻，IGBT完全能在几十或者几百us内耐受得住。

电流环的带宽对系统的贡献：

在电力电子系统中，控制对象总是某个或者某几个物理量，其中，电流环是最重要的控制环路。电流环通常是内环，它具有带宽高，速度快，动态响应快的特点

。因为电流是由电感量限制的，所以电感量越低，电流的变化速度就越高，电流环如果要把握住这个电流，就需要更高的带宽。

可以这样说，控制系统的电流环带宽越高，系统对电流的把控能力就越强，在遇到过流现象时，系统会越早知道，并做出反应。所以，建议将电流环的带宽做高些，以便系统能更好的把控电流。深圳德意志工业分享！

第三章.基于PMU的开短路测试

本章节我们来说说最基本的测试——开短路测试（Open-Short Test），说说测试的目的和方法。 一．测试目的 Open-Short Test也称为ContinuityTest或Contact Test，用以确认在器件测试时所有的信号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接，并且没有信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路。 测试时间的长短直接影响测试成本的高低，而减少平均测试时间的一个最好方法就是尽可能早地发现并剔除坏的芯片。Open-Short测试能快速检测出DUT是否存在电性物理缺陷，如引脚短路、bond wire缺失、引脚的静电损坏、以及制造缺陷等。 另外，在测试开始阶段，Open-Short测试能及时告知测试机一些与测试配件有关的问题，如ProbeCard或器件的Socket 没有正确的连接。 二．测试方法 Open-Short测试的条件在器件的规格数或测试计划书里通常不会提及，但是对大多数器件而言，它的测试方法及参数都是标准的，这些标准值会在稍后给出。 基于PMU的Open-Short测试是一种串行（Serial）静态的DC测试。首先将器件包括电源和地的所有管脚拉低至“地”（即我们常说的清0），接着连接PMU到单个的DUT管脚，并驱动电流顺着偏置方向经过管脚的保护二极管——一个负向的电流会流经连接到地的二极管（图3-1），一个正向的电流会流经连接到电源的二极管（图3-2），电流的大小在100uA到500uA之间就足够了。大家知道，当电流流经二极管时，会在其P-N结上引起大约0.65V的压降，我们接下来去检测连接点的电压就可以知道结果了。 既然程序控制PMU去驱动电流，那么我们必须设置电压钳制，去限制Open管脚引起的电压。Open-Short测试的钳制电压一般设置为3V——当一个Open的管脚被测试到，它的测试结果将会是3V。 串行静态Open-Short测试的优点在于它使用的是DC测试，当一个失效（failure）发生时，其准确的电压测量值会被数据记录（datalog）真实地检测并显示出来，不管它是Open引起还是Short导致。缺点在于，从测试时间上考虑，会要求测试系统对DUT的每个管脚都有相应的独立的DC测试单元。对于拥有PPPMU结构的测试系统来说，这个缺点就不存在了。

IGBT短路保护的应用及意义

IGBT短路保护的应用及意义 IGBT短路保护电路可以实现快速保护，同时能节省检测短路电流所需的霍尔电流传感器，降低整个系统的成本。实践证明，该电路有比较大的实用价值，尤其是在低直流母线电压的应用场合，可以应用于大型的高频逆变器。 在变频器的内部的直流电源部分的输出（连接到逆变器）的两根线上分别有两个霍尔器件.在正常情况下，流出直流源(流入逆变器)的电流和流回直流源（从逆变器流回）的电流是相等的。两个霍尔器件上的电压是平衡的.一旦发生接地故障，流出直流源的电流同流回直流源的电流不等，两个两个霍尔器件上的电压不等，变频器检测到这种情况，就立刻发出报警信号，实施接地保护，所以接地保护的基本原理，并不是靠出现了较大的接地短路电流来进行保护的。 1、短路保护的工作原理 2、图11-2所示为工作在ＰＷＭ整流状态的Ｈ型桥式ＰＷＭ变换电路（此图为正弦波正半波输入下的等效电路，上半桥的两只ＩＧＢＴ未画出），图11-2为下半桥两只大功率器件的驱动信号和相关的器件波形。现以正半波工作过程为例进行分析（对于三相ＰＷＭ电路，

在整流、逆变工作状态或单相ＤＣ／ＤＣ工作状态下，ＰＷＭ电路的分析过程及结论基本类似）。 在图11-2所示的电路中，在市电电源Ｕｓ的正半周期，将Ｕｇ２.４所示的高频驱动信号加在下半桥两只ＩＧＢＴ的栅极上，得到管压降波形ＵＴ２Ｄ。其工作过程分析如下：在ｔ１～ｔ２时刻，受驱动信号的作用,Ｔ２、Ｔ４导通（实际上是Ｔ２导通, Ｄ４处于续流状态），在Ｕｓ的作用下通过电感ＬＳ的电流增加，在Ｔ２管上形成如图11-2中ＵＴ２Ｄ所示的按指数规律上升的管压降波形，该管压降是通态电流在ＩＧＢＴ导通时的体电阻上产生的压降；在ｔ２～ｔ３时刻，Ｔ２、Ｔ４关断，由于电感ＬＳ中有储能，因此在电感ＬＳ的作用下，二极管Ｄ２、Ｄ４续流，形成图11-3中ＵＴ２.Ｄ的阴影部分所示的管压降波形，以此类推。分析表明，为了能够检测到ＩＧＢＴ导通时的管压降的值，应该将在ｔ１～ｔ２时刻ＩＧＢＴ导通时的管压降保留，而将在ｔ２～ｔ３时刻检测到的ＩＧＢＴ的管压降的值剔除，即将图11-3中ＵＴ２.Ｄ的阴影部分所示的管压降波形剔除。由于ＩＧＢＴ的开关频率比较高，而且存在较大的开关噪声，因此在设计采样电路时应给予足够的考虑。 图11-2 IGBT短路保护电路原理图 图11-2

磁粉检测中的连续法

磁粉检测中的连续法 采用连续法时，被检工件的磁化、施加磁粉的工艺及观察磁痕显示都应在磁化通电时间内完成，通电时间为1s～3s，而又要求磁粉要以云雾状形式缓慢施加到工件表面，形成薄而均匀的覆盖层，防止磁粉堆积。 详细分解： 1、连续法-在外加磁场磁化的同时，将磁粉或磁悬液施加到工件上进行磁粉检测的方法。 2、应用范围 1）适用于所有铁磁性材料和工件的磁粉检测。 2）工件形状复杂不易得到所需剩磁时。 3）表面覆盖层较厚的工件。 4）使用剩磁法检验时，功率达不到时。 3、操作程序 1）在外加磁场作用下进行检验（用于光亮工件）。 预处理→磁化（浇磁悬液→检验）→退磁→后处理 2）在外加磁场中断后进行检验（用于表面粗糙的工件） 预处理→磁化（浇磁悬液）→检验→退磁→后处理 4、操作要点 （1）湿连续法先用磁悬液润湿工件表面，在通电磁化的同时浇磁悬液，停止浇磁悬液后再通电数次，待磁痕形成并滞留下来时停止通电，再进行检验。

（2）干连续法对工件通电磁化后开始喷洒磁粉，并在通电的同时吹去多余的磁粉，待磁痕形成和检验完后再停止通电。 5、优点 1）适用于任何铁磁性材料。 2）最高的检测灵敏度。 3）可用于多向磁化。 4）交流磁化不受断电相位的影响。 5）能发现近表面缺陷。 6）可用于湿法和干法检验。 6、局限性 1）效率低 2）易产生非相关显示。 3）目视可达性差 JB/T4730-2005中磁粉检测条形显示按长度评定，而在实际工作中，产品技术条件中允许条形缺陷的存在，只要深度不大于0..5mm，仍算合格，对于此类产品的无损检测，由于两个标准的评价标准的不同，如果按照JB/T4730-2005，一些按照技术条件合格的产品会被判废，但磁粉又不能检测出表面缺陷深度，对于此类问题，不知同行有什么好的解决办法？我们目前采用打磨的办法打磨一定深度，用塞尺检查打磨深度。

IGBT双脉冲测试方法详解

IGBT双脉冲测试方法详解 IGBT双脉冲测试方法的意义： 1.对比不同的IGBT的参数； 2.评估IGBT驱动板的功能和性能； 3.获取IGBT在开通、关断过程的主要参数，以评估Rgon及Rgoff的数值是否合适。通常我们对某款IGBT的认识主要是通过阅读相应的datasheet，但实际上，数据手册中所描述的参数是基于一些已经给定的外部参数测试得来的，而实际应用中的外部参数都是个性化的，往往会有所不同，因此这些参数有些是不能直接拿来使用的。我们需要了解IGBT 在具体应用中更真实的表现； 4.开通、关断过程是否有不合适的震荡； 5 评估二极管的反向恢复行为和安全裕量； 6.IGBT关断时的电压尖峰是否合适，关断之后是否存在不合适的震荡； 7.评估IGBT并联的均流特性； 8.测量母排的杂散电感； 要观测这些参数，最有效的方法就是：“双脉冲测试方法”！ 双脉冲测试平台的电路 双脉冲测试的基本实验波形 双脉冲实验的基本原理（1）： 在t0时刻，门极放出第一个脉冲，被测IGBT 饱和导通，电动势U加在负载L上，电 感的电流线性上升，电流表达式为： t1时刻，电感电流的数值由U和L决定，在U和L都确定时，电流的数值由t1决定，时间越长，电流越大。因此可以自主设定电流的数值。

双脉冲实验的基本原理（2）： IGBT关断，负载的电流L的电流由上管二极管续流，该电流缓慢衰减，如图虚线所示。由于电流探头放在下管的发射极处，因此，在二极管续流时，IGBT关断，示波器上是看不见该电流的。 双脉冲实验的基本原理（3）： 在t2时刻，第二个脉冲的上升沿到达，被测IGBT 再次导通，续流二极管进入反向恢复，反向恢复电流会穿过IGBT ，在电流探头上能捕捉到这个电流，如下图所示。 在该时刻，重点是观察IGBT 的开通过程。反向恢复电流是重要的监控对象，该电流的形态直接影响到换流过程的许多重要指标。

电路板维修的检测方法

电路板维修的检测方法 伴随着中国迅速成为“世界工厂”，大量昂贵的先进工业自动化设备引进到中国，同时国内的装备也在不断地进步，不断地有新的国产先进自动化设备充实到“世界工厂”来。设备使用日久、操作不当、工厂环境的影响等因素都可导致某台设备甚至整条生产线“罢工”。简单故障，一般企业的设备维护人员可以解决，但复杂故障，比如控制电路板故障，由于条件、技术所限，就难以对付了。通常企业会找相关设备供应商购买新板替代，购板的高额费用（少则几千元，多则上万十几万元）以及停工待机的时间（从国外寄过来至少要半个月以上）往往令企业损失重大，深感头痛。 其实大多数工控电路板在国内都是可以维修的，您只要花费不到1/3的费用，不到1/3的时间，我们的专业维修工程师就可以帮您解决问题。 工控电路板损坏通常是某一个元件损坏，可能是某一个芯片，某一个电容，甚至一个小小的电阻，维修的过程就是找出损坏的元件加以更换。这看似简单，实则需要精深的学问、丰富的经验和必备的昂贵检测设备，特别是要快速地找到故障元件，除了经验丰富之外更加要求维修工程师有善于分析和判断的快速思维。现在的电子产品往往由于一块电路板维修板的个别配件

损坏，导致一部分或几个部分不能正常工作，影响设备的正常使用。那我们如何对电路板维修检测呢? 电路板维修现与大家分享下电路板维修检测的经验。 通常一台设备里面有许多个电路板维修，当拿到一部有故障的电路板维修的设备时，首先要根据故障现象，判断出故障的大体部位，然后通过测量，把故障的可能部位逐步缩小，最后找到故障所在。要找到故障所在必须通过检测，通常修理人员都采用测引脚电压方法来判断，但这只能判断出故障的大致部位，而且有的引脚反应不灵敏，甚至有的没有什么反应。就是在电压偏离的情况下，也包含外围元件损坏的因素，还必须将集成块内部故障与外围故障严格区别开来，因此单靠某一种方法对电路板维修是很难检测的，必须依赖综合的检测手段。 现以汇能IC在线维修测试仪检测为例，介绍其具体方法。我们都知道，集成块使用时，总有一个引脚与印制电路板上的“地”线是焊通的，在电路中称之为接地脚。由于电路板维修内部都采用直接耦合，因此，集成块的其它引脚与接地脚之间都存在着确定的直流电阻，这种确定的直流电阻称为该脚内部等效直流电阻，简称R内。当我们拿到一块新的集成块时，可通过用万用表测量各引脚的内部等效直流电阻来判断其好坏，若各

web常用测试方法

一、输入框 1、字符型输入框： （1）字符型输入框：英文全角、英文半角、数字、空或者空格、特殊字符“~！@#￥%……&*？[]{}”特别要注意单引号和&符号。禁止直接输入特殊字符时，使用“粘贴、拷贝”功能尝试输入。 （2）长度检查：最小长度、最大长度、最小长度-1、最大长度+1、输入超工字符比如把整个文章拷贝过去。 （3）空格检查：输入的字符间有空格、字符前有空格、字符后有空格、字符前后有空 格 （4）多行文本框输入：允许回车换行、保存后再显示能够保存输入的格式、仅输入回 车换行，检查能否正确保存（若能，检查保存结果，若不能，查看是否有正常提示）、（5）安全性检查：输入特殊字符串 （null,NULL, ,javascript,,,<html>,<td>）、输入脚本函数(<script>alert("abc")</script>)、doucment.write("abc")、<b>hello</b>） 2、数值型输入框： （1）边界值：最大值、最小值、最大值+1、最小值-1 （2）位数：最小位数、最大位数、最小位数-1最大位数+1、输入超长值、输入整数（3）异常值、特殊字符：输入空白（NULL）、空格或 "~!@#$%^&*()_+{}|[]\:"<>?;',./?;:'-=等可能导致系统错误的字符、禁止直接输入特殊字符时，尝试使用粘贴拷贝查看是否能正常提交、word中的特殊功能，通过剪贴板 拷贝到输入框，分页符，分节符类似公式的上下标等、数值的特殊符号如∑，㏒，㏑，∏，+，-等、 输入负整数、负小数、分数、输入字母或汉字、小数（小数前0点舍去的情况，多个小数点的情况）、首位为0的数字如01、02、科学计数法是否支持1.0E2、全角数字与半角数字、数字与字母混合、16进制，8进制数值、货币型输入（允许小数点后面几位）、（4）安全性检查：不能直接输入就copy 3、日期型输入框： （1）合法性检查：(输入0日、1日、32日)、月输入[1、3、5、7、8、10、12]、日输入[31]、月输入[4、6、9、11]、日输入[30][31]、输入非闰年，月输入[2]，日期输入[28、29]、输入闰年，月输入[2]、日期输入[29、30]、月输入[0、1、12、13] (2)异常值、特殊字符：输入空白或NULL、输入~！@#￥%……&*（）{}[]等可能导致系统错误的字符 （3）安全性检查：不能直接输入，就copy，是否数据检验出错？ 4、信息重复:在一些需要命名,且名字应该唯一的信息输入重复的名字或ID,看系统有没有处理,会否报错,重名包括是否区分大小写,以及在输入内容的前后输入空格,系统是否 作出正确处理. 二、搜索功能 若查询条件为输入框，则参考输入框对应类型的测试方法 1、功能实现：</p><h2>IGBT短路测试方法详解</h2><p>IGBT短路测试方法详解 在开发电力电子装置的过程中，我们需要做很多的测试，但是短路测试常常容易被忽略，或者虽然对装置实施了短路测试，但是实际上并不彻底和充分。下面2种情况比较常见： 1. 没有实施短路测试， a. 因为觉得这个实验风险太大，容易炸管子，损失太大； b. 觉得短路时电流极大，很恐怖； 2. 实施了短路测试，但测试标准比较简单，对短路行为的细节没有进行观察 本文将详细介绍正确的，完整的短路测试方法，及判断标准。 短路的定义（1）： 桥内短路（直通） 命名为“一类”短路 硬件失效或软件失效 短路回路中的电感量很小(100nH级) VCE sat 检测 桥臂间短路（大电感短路） 命名为“二类”短路 相间短路或相对地短路 短路回路中的电感量稍大(uH级的) 可以使用Vcesat ，也可以使用霍尔，根据电流变化率来定这类短路的回路中的电感量是不确定的</p><p>一类短路测试的实施方法一： 下图为实施一类短路测试时的示意图。电网电压经过调压器，接触器，将母线电容电 压充到所需要的值，再断开接触器。上管IGBT的门极被关断，且上管用粗短的铜排进行短路。对下管IGBT释放一个单脉冲，直通就形成了。这就是一个典型的一类短路测试。 一类短路测试的实施方法一的注意事项： 该测试需要注意的事项： 1. 该测试的关注对象是电容组，母排，杂散电感，被测IGBT； 2 短路回路中的电感量很低，所以上管的短路排的电感量可以极大地影响测量的结果，因此绝不可忽视图中所示“粗短铜排”的长短和粗细； 3. 短路测试的能量全部来自母排电容组，通常来说，虽然短路电流很大，但是因为时 间极短，所以这个测试所消耗的能量很小，实验前后电容上的电压不会有明显变化；</p><h2>电路板测试</h2><p>电路板测试、检验及规范 1、Acceptability，acceptance 允收性，允收 前者是指在对半成品或成品进行检验时，所应遵守的各种作业条件及成文准则。后者是指执行允收检验的过程，如Acceptance Test。 2、Acceptable Quality Level(AQL)允收品质水准 系指被验批在抽检时，认为能满足工程要求之"不良率上限"，或指百分缺点数之上限。AQL并非为保护某特别批而设，而是针对连续批品质所定的保证。 3、Air Inclusion 气泡夹杂 在板材进行液态物料涂布工程时，常会有气泡残存在涂料中，如胶片树脂中的气泡，或绿漆印膜中的气泡等，这种夹杂的气泡对板子电性或物性都很不好。 4、AOI 自动光学检验 Automatic Optical Inspection，是利用普通光线或雷射光配合计算机程序，对电路板面进行外观的视觉检验，以代替人工目检的光学设备。 5、AQL 品质允收水准</p><p>Acceptable Quality Level，在大量产品的品检项目中，抽取少量进行检验，再据以决定整批动向的品管技术。 6、ATE 自动电测设备 为保证完工的电路板其线路系统的通顺，故需在高电压(如250 V)多测点的泛用型电测母机上，采用特定接点的针盘对板子进行电测，此种泛用型的测试机谓之Automatic Testing Equipment。 7、Blister 局部性分层或起泡 在电路制程中常会发生局部板面或局部板材间之分层，或局部铜箔浮离的情形，均称为Blister。另在一般电镀过程中亦常因底材处理不洁，而发生镀层起泡的情形，尤其以镀银对象在后烘烤中最容易起泡。 8、Bow，Bowing 板弯 当板子失去其应有的平坦度(Flatness)后，以其凹面朝下放在平坦的台面上，若无法保持板角四点落在一个平面上时，则称为板弯或板翘(Warp 或Warpage)，若只能三点落在平面上时，称为板扭(Twist)。不过通常这种扭翘的情况很轻微不太明显时，一律俗称为板翘(Warpage)。</p><h2>CAD测量连续线段长度的简单办法</h2><p>测量CAD图中多条线段长度的简单办法 由于在Cad中没有连续测量线段长度的命令，多数人都是利用查询直线命令，将线段一段一段的测量再通过计算器相加，很是麻烦，现介绍两种更为简单实用的多线段测量方法。 1.利用PL命令测量多条线段长度： 使用多段线（pline)命令快捷健pl，连续在测量点上画线，再用(li st)快捷健li命令点这条线确认就会出现该线的属性，可以看到该线段的总长度和该线段区域的面积。 2.利用PE命令测量线段多条线段的长度： 输入：PE回车确认，M回车确认，连续点选要测量的线段后回车确认，Y回车确认，J（闭合）回车二次确认，若线段出现闭合需要再输入O 将闭合打开。此时所有欲测量的线段已经连接为一条多线段，再输入 li(list)，就可以看到线段的总长度和该线段区域的面积了。</p><p>附录：需要熟记的CAD常用快捷键 一、常用功能键 F1: 获取帮助 F2: 实现作图窗和文本窗口的切换 F3: 控制是否实现对象自动捕捉 F4: 数字化仪控制 F5: 等轴测平面切换 F6: 控制状态行上坐标的显示方式 F7: 栅格显示模式控制 F8: 正交模式控制 F9: 栅格捕捉模式控制 F10: 极轴模式控制 F11: 对象追踪式控制 二、常用字母快捷键 A: 绘圆弧 B: 定义块 C: 画圆 D: 尺寸资源管理器 E: 删除 F: 倒圆角 G: 对相组合 H: 填充 I: 插入 S: 拉伸 T: 文本输入</p><p>W: 定义块并保存到硬盘中 L: 直线 M: 移动 X: 炸开 V: 设置当前坐标 U: 恢复上一次操做 O: 偏移 P: 移动 Z: 缩放 AA: 测量区域和周长(area) AL: 对齐(align) AR: 阵列(array) AP: 加载*lsp程系 AV: 打开视图对话框(dsviewer) SE: 打开对相自动捕捉对话框ST: 打开字体设置对话框(style) SO: 绘制二围面( 2d solid) SP: 拼音的校核(spell) SC: 缩放比例 (scale) SN: 栅格捕捉模式设置(snap) DT: 文本的设置(dtext) DI: 测量两点间的距离 OI：插入外部对相 三、常用CTRL快捷键 Ctrl+A:全选 Ctrl+B: 栅格捕捉模式控制(F9)</p><h2>永磁同步电机匝间短路故障在线检测方法</h2><p>第３７卷第３期２０１８年３月 电工电能新技术 ＡｄｖａｎｃｅｄＴｅｃｈｎｏｌｏｇｙｏｆＥｌｅｃｔｒｉｃａｌＥｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇａｎｄＥｎｅｒｇｙ Ｖｏｌ．３７，Ｎｏ．３Ｍａｒ．２０１８ 收稿日期：２０１７?０３?２９ 作者简介：彭一伟（１９９１?），男，重庆籍，硕士研究生，研究方向为电动汽车用交流电机的控制； 赵一峰（１９７９?），男，陕西籍，研究员，研究方向为电动汽车用交流电机的控制三 永磁同步电机匝间短路故障在线检测方法 彭一伟１，２，赵一峰１，３，４，王永兴１，３，４，关天一１，２ （１．中国科学院电工研究所，北京１００１９０；２．中国科学院大学，北京１０００４９； ３．中国科学院电力电子与电气驱动重点实验室，北京１００１９０； ４．电驱动系统大功率电力电子器件封装技术北京市工程实验室，北京１００１９０） 摘要：本文提出了简单的永磁同步电机（ＰＭＳＭ）匝间短路故障在线检测方法三首先对不同状态ＰＭＳＭ定子电流谐波成分展开分析，提出一个融合了－ｆｅ及?３ｆｅ谐波成分的故障特征量Ｆｔ三针对采用快速傅立叶变换方法计算特征量实时性差的问题，在连续细化傅立叶变换方法基础上引入布莱克曼窗，从而改善了连续细化傅立叶变换方法的幅值辨识精度，实现了故障特征量快速且准确的求取三仿真及实验结果表明，特征量Ｆｔ能够正确反映ＰＭＳＭ匝间短路故障是否发生，本文提出的在线检测方法在不增加任何硬件设备的基础上实现了ＰＭＳＭ匝间短路故障的检测三关键词：永磁同步电机；匝间短路故障；故障特征量；在线检测；连续细化傅立叶变换 ＤＯＩ：１０ １２０６７／ＡＴＥＥＥ１７０３１０３一一一文章编号：１００３?３０７６（２０１８）０３?００４１?０８一一一中图分类号：ＴＭ３５１ １一引言 永磁同步电机（ＰＭＳＭ）具有高转矩／惯量比二高功率密度二高效率二响应快等优点三近年来，随着永磁性能不断提高，ＰＭＳＭ在电动汽车中的应用越来越广泛［１］三永磁同步电机在长期运行的过程中不可避免会出现各种故障，严重影响其在电动汽车应用中的可靠性和安全性三永磁同步电机驱动系统中，由匝间短路引起的定子绕组故障是最为常见的故障之一［２］三在早期的匝间短路故障阶段，电机仍然可以正常运行，然而由于大的短路电流的存在，短路回路会产生大量热量，从而引起更多的绝缘失效三因此，早期匝间短路故障的检测对于避免驱动系统失效二避免危害人身安全具有十分重要的作用三目前，已有许多学者展开了永磁同步电机定子 故障检测方面的工作［３?１１］三这些研究主要包括基于磁通密度传感器的方法［３］二基于测得的定子电压和电流构建状态观测器的方法［４］二基于频域及时频分析工具的定子电流特征分析的方法［５?１０］二智能控制（如人工神经网络）方法［１１］等故障检测方案三其中，定子电流特征分析方法因其低成本而受到国内 外学者最广泛的关注三文献［５］提出将负序电流幅值作为反映匝间短路故障严重程度的特征量，并采用负序ｄｑ轴结合低通滤波器的方案成功提取出负序电流幅值三文献［６］利用傅立叶变换的方法对定子电流信号进行分析，通过对比正常电机和故障电机定子电流频谱，指出故障电机定子电流３次谐波含量增加，故以此作为故障的判定依据三文献［７］在文献［６］的基础上提出以ｑ轴２次谐波幅值为特征量代替定子电流３次谐波电流的提取，简化了故障检测算法三傅立叶变换将原有电流信号从时域变换到频域进行分析，难以应对系统非线性工况下的特征量提取三针对这一问题，文献［８，９］分别采用离散小波变换（ＤＷＴ）和小波包变换对动态情况下匝间短路故障的定子电流进行分析三仿真和实验结果表明，该方法在电机变速二中速二低速二高速情况下，根据３次谐波所在频段能量进行分析均可判定短路故障是否发生三文献［１０］采用经验模态分解（ＥＭＤ）方法对定子电流进行分析，得到一个本征模态函数ＩＭＦ的集合，然后用时频分析方法对包含故障谐波的模态进行分析得到故障对应的瞬时频率，仿真和实验表明了该诊断方法的有效性三时频分析</p><h2>IGBT过流和短路保护</h2><p>IGBT过流与短路保护 IGBT过流与短路保护 IGBT是高频开关器件，芯片内部的电流密度大。当发生过流或短路故障时，器件中流过的大于额定值的电流时，极易使器件管芯结温升高，导致器件烧坏。因此，对IGBT的过流或短路保护响应时间必须快，必须在10us以内完成。应用实践表明：过电流是IGBT电力电子线路中经常发生的故障和损坏IGBT的主要原因之一，过流保护应当首先考虑。须指出的是：过流与短路保护是两个概念，它们既有联系也有区别。过流大多数是指某种原因引起的负载过载；短路是指桥臂直通，或主电压经过开关IGBT的无负载回路，它们的保护方法也有一定区别。如过流保护常用电流检也传感器，短路保护常通过检测IGBT饱和压降，配合驱动电路来实现。不同的功率有不同的方法来实现过流或短路保护。 1、小功率IGBT模块过流保护 对于小功率IGBT模块，通常采用直接串电阻的方法来检测器件输出电流，从而判断过电流故障，通过电阻检测时，无延迟；输出电路简单；成本低；但检测电路与主电路不隔离，检测电阻上有功耗，因此，只适合小功率IGBT模块。比如：5.5KW以下的变频器。 2、中功率IGBT模块的电流检测与过流、短路保护 中功率IGBT模块的电流检测与过流、短路保护，一种方法是仍然采用电阻检测法，为了降低电阻产生功耗及发热生产的影响，可把带散热器件的取样电阻固定在散热器上，以测量更大的电流。 ３、中、大功率IGBT模块的电流检测与过流、短路保护 对于大、中功率IGBT模块的电流检测与过流保护常采用电流传感器。但需注意要选择满足响应速度要求的电流传感器。由于需要配置检测电源，成本较高，但检测电路与主电路隔离，适用于大功率的IGBT模块。保护电路动作的时间须在10us之内完成。 4、通过检测IGBT饱和压降实现短路保护 IGBT通常工作在逆变桥上，并处于开关工作状态，若设计不当，易于发生短路现象。对于短路保护，常用的方法是通过检测IGBT的饱和压降Vce(sat)来实现短路保护，它往往配合驱动电路来实现，其基本原理如图所示：</p><h2>电路板的老化测试方法</h2><p>PCB老化的概念 我们平常说的PCB老化就是在一定的条件下使电路板通电工作一定时间之后，电路板上面的一些元件参数就会发生变化，这种变化和电路板使用的时间有关，这对于一些特殊用途的电路板来说，是绝对不允许的，所以很多电路板在出厂之前就会做抗老化处理，使电路稳定后在使用。这样就可以大大的提高可靠性和安全性。 Rs410老化测试的做法 在一般的工业设备里面，工作温度一般都在-40℃~+55℃之中产生交替的变化，并且可能长时间处于工作状态，那么这样就需要对其在长时间工作下的性能和老化速度进行测试来考量电路板的整体质量。本此针对RS410的测试中采用温度交替变化，长时间通电的方式经行。 检查环境条件 检测应在下列环境条件下进行：温度：15~50℃相对湿度：45％~75％大气压力：86~106Kpa，考虑现有条件用暖风机（或者可控制温度的加热器）加热至50度以上。在密闭空间（盒子）中进行。通过密闭保温。保障盒内温度维持在50度左右。 需要准备 测试用的盒子，板卡以及并联的电源线，PIP测试线，TAG管和温度计。暖风机。（可有可控制温度加热器代替）。 老化前的要求 电路板的老也有两点要求，这两点要求分别是： 1.外观检测所有要老化的功能板需先进行目测，对于有明显缺陷的功能板，如有短路，断路，元器件安装错误，缺件等缺陷 的功能板应予以剔除。(这一部分应由质检初筛)。 2.电参数检测所有要老化的功能板还需进行电参数检测，对参数不符合要求的功能板应予以剔除。具体分为基本分，只要芯 片的输入输出导通测试，外设的导线连接有无开路，是否经过测试已经对电路板产生损害。 老化设备 1.热老化设备内工作空间的任何点应满足以下要求： 1.能保持热老化所需要的高温。 2.上电时间足够长。（测试时间定位最少72小时连续上电） 2.功能板的安装与支撑 1.功能板应以正常使用位置安装在支架上（六脚柱）。 2.功能板的支架的热传导应是低的，以使功能板与支架之间实际上是隔热的。 3.功能板的支架应是绝缘的，以确保受试功能板与支架之间不漏电。 3.电功率老化设备 1.电功率老化设备应保证提供老化功能板所需要的电压和电流，并能提供可变化的输入信号，并可随时检测每块功能伴。（间 断性通信测试，与PIP-TAG的测试） 2.电功率老化设备应保证在老化过程中不应老化设备的缘故而中途停机。 老化</p><h2>相变点测试方法</h2><p>TC11钛合金相变点的测定与分析 采用计算法、差示扫描量热法和连续升温金相法3种手段计算和测定了TC11两相钛合金(α+β)/β相变点。计算法由于各元素及杂质元素含量对相变点的影响值是在一个含量范围内的计算值，因此计算的相变点与实测值是接近的；差示扫描量热法由于钛合金和坩埚的化学反应，产生相变滞后现象，导致所测相变温度过高；而连续升温金相法由于淬火温度间隔选择较小，测量的准确性较高，因此更能准确测量TC11钛合金相变温度。 采用sTA449c 一同步热分析仪测量钛及钛合金相变温度，其参比样品为粉末状23A l O ，升温速度为10℃1min -?；保护氩气流量为45 m1 1min -?。测试前，应先在两个样品坩埚内放人等量23A l O 粉末，测定仪器基线符合规定后，即可开始测定正式样品DSC 曲线。 采用连续升温金相法测定相变温度。试样尺寸为10 mm ×10 mm ×10 mm ；在加热试样时为了保证热透，保温时间为60 min 。淬火温度选择范围为990~1040℃，淬火温度间隔为10℃，然后将试样水淬。其中间转移速度不超过2S 。将淬火后的试样制成金相观察试样，在放大倍数为500倍的光学显微镜观察试样组织变化。 2．1计算法测定相变温度 根据各元素对钛相变温度的影响推算出相变点的公式为： /T αββ+相变点 =885℃+Σ各元素含量x 该元素对相变点的影响 (1) 式中885℃为计算时纯钛的相变点。 2．2差示扫描量热法测定相变温度 差示扫描量热法测定钛及钛合金相变温度是借助于同步热分析仪将待测试样与另一参比试样在完全相同的条件下加热(或冷却)，根据两者温差与温度或时间的变化关系(DSC 曲线)，对物质状态进行判定。图2为差示扫描量热法测得TC11钛合金相变点的DSC 曲线。对于α+β型及亚稳定β型钛合金，(α+β)→β转变是一个持续过程，在DSC 曲线上，相变完成表现为基线迁移；同时，由于钛有极高的化学活性，在高温下与氧、氮、坩埚(23A l O )等物质反应，在DSC 曲线上产生不同的峰值，从而使分析判定难度加大。 对于Tcll 钛合金而言，α-Ti →β-Ti 转变是一个吸热反应。当温度在1060℃时，峰值明显。表明相变温度在1060℃左右。由于TCll 钛合金与坩埚(23A l O )化学反应放热，并且测量过程中不断加热，导致热滞后现象产生，推迟了α相向β相转 变，使差示扫描量热法测得的相变温度过高。 2．3连续升温金相法测定相变温度 首先选择淬火温度范围，确定淬火温度间隔为10℃。加热保温然后水淬。最后观察不同淬火温度的试样在光学显微镜下的组织变化。将仍残留初生α相的淬火温度和与该温度最邻近、初生α相消失的温度之间的平均温度确定为相变温度。 在淬火温度为1030℃时，初生α相仍然存在；当淬火温度达到1040℃时，在试样中已看不到初生α相，观察到的全部是针状的马氏体，表明淬火温度已经达到了相变点温度。因此判定Tc11钛合金的相变点在1030~1040℃之间，其相变点的平</p><h2>ICT测试不良及常见故障的分析方法</h2><p>ICT测试不良及常见故障的分析方法 本文主要介绍ICT测试的不良品之常见故障的分析方法，旨在帮助检修人员能够对常见的不良现象进行快速而准确的判断与分析，同时本说明书也可以作为学习的参考数据。 1.开路不良 所谓开路不良就是指在某一个短路群中，各个测试点之间本来应该是短路，但却出现了某个测试点对其所在短路群的其它测试点是开路的。 出现开路不良的可能原因有如下几个方面： (1)PCB Open； (2)零件造成的；它又包括如下几个方面： A．立件与漏件； B．空焊； C．零件不良 (3)测试点有问题 A．探针未接触到； B．测试点氧化； C．测试点有东西挡住； D．测试点在防焊区 【说明】在平常出现比较多的情况是立件于漏件，空焊，PCB Open和零件不良。对于立件和漏件可以通过目检查出；PCB Open只要细心查看两测试点之间的线路，看在测试点之间是否有断线的情况发生，零件不良造成的开路不良通常是由于电阻，电感等零件损坏而造成的其本体开路。如果将一块好的PCB板与之比较发现没有差异（通常比较的是电阻），则表明测试点有问题，需检查PCB板上的测试点是否有问题或检查治具上的测试针是否有问题。 2.短路不良 所谓短路不良是指存在于不同的短路群中的测试点在正常情况下应该是开路的，但却出现了短路的情况。出现短路的原因有以下几个方面： （1）零件短路（由于在零件两端存在有锡丝而造成短路） （2）零件不良，本体短路（通常是由于零件损坏了的缘故）： （3）PCB短路（存在比较多的情况是：出现短路不良的两个测试点的步线十分靠近，由于印刷的原因在某处出现了短路，尤其是在印有字迹的地方要特 别注意，绝大部分多数的PCB短路都发生在这里。 （4）BGA短路（可能是BGA下方的锡球短路，也有可能是BGA本体短路），这比较麻烦，必须有90%以上的把握时才能拆BGA。 【说明】对于零件短路可以通过重新焊过该零件当可解决短路不良的情况，对于</p><h2>GB T 2423.8-1995跌落试验方法</h2><p>前言 本标准等同采用国际电工委员会标准IEC 68-2-32（1975年第二版）{}基本环境试验规程第2部分：试验方法试验Ed：自由跌落}、1982年的第一次修改和1990年的第二次修改。这样，使这项国家标准和国际标准相同，以适应国家贸易、技术和经济交流的需求。 本标准代替GB 2423.8-81《电工电子产品基本环境试验规程试验Ed：自由跌落试验方法》和GB 2424.6-81《电工电子产品基本环境试验规程自由跌落试验导则》。 GB 2423.8-81和GB 2424.6是参照准IEC 68-2-32（1975年第二版）{}基本环境试验规程第2部分：试验方法试验Ed：自由跌落}起草的。 本标准在技术内容、编写格式和规则上都是与IEC68-2-32（1975）、1982年的第一次修改文本，1990年的第二次修改文本完全相同。本标准与前版的主要区别在于： ----将GB 2423.8和GB 2424.6两个标准合并成一个标准GB/T 2423.8 ----接IEC 68-2-32,1982年和1990年的两次修改，对方法二和附录A做了修改，补充了附录B。下列是四项标准与本标准均属撞击试验范畴，有关规范应根据产品的使用和运输的具体情况选择合适的试验方法（见附录B）。 ----GB/T2423.5-1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ea和导则：冲击；----GB/T2423.6-1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Eb和导则：碰撞；----GB/T2423.7-1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ec和导则：倾跌与翻倒（主要用于设备型样品）； ----GB/T2423.39-90 电工电子产品基本环境试验规程试验Ee：弹跳试验方法。 本标准的附录A、附录B是标准的附录。 本标准是由中华人民共和国电子行业部提出。 本标准是由全国电子产品环境条件和环境试验标准化技术委员会归口。 本标准起草单位：邮电部第一研究所、电子行业部第五研究所。 本标准主要起草人：王裕春、魏蓓、何锦康、于占泉、王树荣。</p><h2>自动连续测试的有效性及自动测试系统Word文档</h2><p>自动连续测试的有效性及自动测试系统 电子设备在提高功能和性能的同时也向小型化、轻量化迅速发展。这就要求在尽量缩短产品开发时间的同时，必须确保产品的可靠性及安全性。为了达到这个目的，就必须要更有效、更正确地实施环境试验。爱斯佩克公司为了满足这些要求，将环境试验与电气特性测试相结合，设计开发了能够通过在环境试验条件下对试样特性连续测试，实时把握试料特性和判定异常状况的各种自动测试系统。在此对自动测试系统的有效性及其部分构成作以下介绍。 1. 前言 为使电子设备小型轻量，电子行业正致力于半导体IC封装件及电子零部件的微型化。同时，在封装领域也在开发能够使高密度封装成为可能的合成电路板，研究针对封装件的连接方法和结合材料。再者为提高产品市场竞争力，不仅在性能、成本上，而且还必须考虑环境保护以及现代社会各种限制因素，诸如要采用无铅焊接技术、遵守焊剂VOCS(Volatile Organnic Compounds)规定、开发环保型印刷电路板等。于是开发课题增多，既要缩短开发时间，又要确保产品可靠性就变得越来越重要了。在这种情况下，势必需要使用对可靠性及安全性能够作出高效、准确的测试手段。 本公司在开发研制自动测试系统时，将其与通常用在性能确认和可靠性评价的环境试验装置相组合，实现了在进行环境试验的同时，又能够连续自动测试试样电气特性；通过对实时数据的抽样，发现其中的故障及不良状况。下面将论述在试验环境中连续自动测试试样的电气特性的有效性，并结合具体实例介绍这一测试系统。 2.测试评价的最新要求为缩短开发时间，确保这些高性能且复杂化产品的可靠性，就必须考虑比现在更有效且更准确的评价方法。如图(略)所示。 2-1如何进行省力高效的试验评价 为了高效率地进行评价工作，首先应缩短测试评价所需的时间。其次是缩短试验作业工序所需的时间，以及通过重新审视评价的判定方法以缩短试验时间。例如在寿命试验的情况下，最普通的评价方法是根据每隔一定时间所测定的数据，来判断故障情况以及试样间的优劣状况。这时，用于判断的试验数据的测试间隔越短，对寿命以及异常的判断也就越快，同时试验时间也能缩短。而且这时若能够做加速寿命试验，那么试验时间的短缩效果就更明显了。在后面，我们将对试验作业工序的省力化，通过连续测试而得来的</p><h2>强制内部短路测试时方法</h2><p>8.3.9 设计评估- 内部强制短路（电芯） a）要求：对于圆柱电池和方形电池内部强制短路测试不应该起火。厂家应该给出满足这个要求的报告。电池厂家或者第三方测试实验室对电池测试结束后电池厂家应该有一个设计评估。 这是国家特定的测试仅仅使用于法国、日本、韩国和瑞士，并且聚合物电池不要求此测试。b) 测试：内部强制短路测试在10℃和45℃（烤箱内部的环境温度）的环境温度下进行，测试按照下 面的方法： 1)样品的数量：5个二次电池 2)充电过程 i) 充放电条件：电池按照厂家的要求在20±5℃的条件下充电，然后在20±5℃的条件下，以 0.2It的电流恒流放电到厂家规定的截止电流。 ii) 储存过程：测试电池要在表5中的环境温度条件下储存1- 4h iii) 环境温度： 表5 –测试电池环境温度a iv) 强制内部短路的充电过程 电池应该在表5中的环境温度下，用规定的上限充电电压进行恒流恒压充电，电流降至 0.05It 时充电结束。 3)用一个镍粒子挤压卷心 测试需要温控烤箱和特殊冲压设备，匀速移动冲压设备的可移动部件，一旦检测到短路就立即停止。 i) 测试准备 A 如表5所述调节好烤箱的温度。样品准备指导如附录A中的部分A.5和图A.5与图A.8。把带 有卷芯的铝膜袋和镍粒子放在烤箱内保持45±15min。 B 从密封包装中移出卷芯，用一个电压测量仪连接电池两端，将热电偶黏贴在卷芯的表面。 将卷芯放在冲压设备下，使镍粒子位于冲压夹具下面。 注意：为了避免电解液蒸发，在10min内完成从烤箱内移出卷芯到设备安放好并关上烤箱门的动作。 C 移除绝缘片关闭烤箱门。 ii) 内部短路 A 确保卷芯的温度显示符合表5并开始测试 B 设备的可移动部分的底面是由丁腈橡胶或者亚克力板做成，该可移动部分置于10 mm x 10 mm的不锈钢传动轴上。按压夹具的细节在图2中体现。丁腈橡胶底面是为圆柱电池 而制。对于方形电池测试，用5 mm x 5 mm（2mm厚）的亚克力板放在丁腈橡胶上面。 装置以0.1/s的速度下移来检测电池的电压。当检测到由于内部短路引起电压下降时，立 刻停止下降并保持挤压夹具原位不动30s,然后释放压力。电压在每秒终内要监测超过100 次并且如果电压下降50mV,就认为有内部短路发生。如果压力达到800N对于圆柱电池和 400N方形电池，立刻停止设备下降并保持原位置。</p><h2>GB T 2423.8-1995跌落试验方法</h2><p>前言本标准等同采用国际电工委员会标准IEC68-2-32（1975年第二版）{}基本环境试验规程第2部分：试验方法试验Ed：自由跌落}、1982年的第一次修改和1990年的第二次修改。 这样，使这项国家标准和国际标准相同，以适应国家贸易、技术和经济交流的需求。 本标准代替GB2423.8-81《电工电子产品基本环境试验规程试验Ed：自由跌落试验方法》和GB2424.6-81《电工电子产品基本环境试验规程自由跌落试验导则》。GB2423.8-81和GB2424.6是参照准IEC68-2-32（1975年第二版）{}基本环境试验规程第2部分：试验方法试验Ed：自由跌落}起草的。 本标准在技术内容、编写格式和规则上都是与IEC68-2-32（1975）、1982年的第一次修改文本，1990年的第二次修改文本完全相同。本标准与前版的主要区别在于： ----将GB2423.8和GB2424.6两个标准合并成一个标准GB/T2423.8 ----接IEC68-2-32,1982年和1990年的两次修改，对方法二和附录A做了修改，补充了附录B。 下列是四项标准与本标准均属撞击试验范畴，有关规范应根据产品的使用和运输的具体情况选择合适的试验方法（见附录B）。 ----GB/T2423.5-1995电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ea和导则：冲击；----GB/T2423.6-1995电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Eb和导则：碰撞；----GB/T2423.7-1995电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ec和导则：倾跌与翻倒（主要用于设备型样品）； ----GB/T2423.39-90电工电子产品基本环境试验规程试验Ee：弹跳试验方法。 本标准的附录A、附录B是标准的附录。</p><h2>通用的功能测试方法</h2><p>一 输入框 1字符型输入框： （1）字符型输入框：英文全角、英文半角、数字、空或者空格、特殊字符“~！@#￥%……&*？[]{}”特别要注意单引号和&符号。禁止直接输入特殊字符时，使用“粘贴、拷贝”功能尝试 输入。 （2）长度检查：最小长度、最大长度、最小长度-1、最大长度+1、输入超工字符比如把整个文章拷贝过去。 （3）空格检查：输入的字符间有空格、字符前有空格、字符后有空格、字符前后有空格 （4）多行文本框输入：允许回车换行、保存后再显示能够保存输入的格式、仅输入回车换行，检查能否正确保存（若能，检查保存结果，若不能，查看是否有正常提示）、 （5）安全性检查：输入特殊字符串 （null,NULL, ,javascript,<script>,</script>,<title>,<html>,<td>）、输入脚本函数(<script>alert("abc")</script>)、doucment.write("abc")、<b>hello</b>） 2数值型输入框： （1）边界值：最大值、最小值、最大值+1、最小值-1 （2）位数：最小位数、最大位数、最小位数-1最大位数+1、输入超长值、输入整数 （3）异常值、特殊字符：输入空白（NULL）、空格或"~!@#$%^&*()_+{}|[]\:"<>?;',./?;:'-=等可能导致系统错误的字符、禁止直接输入特殊字符时，尝试使用粘贴拷贝查看是否能正常提交、word中的特殊功能，通过剪贴板拷贝到输入框，分页符，分节符类似公式的上下标 等、数值的特殊符号如∑，㏒，㏑，∏，+，-等、 输入负整数、负小数、分数、输入字母或汉字、小数（小数前0点舍去的情况，多个小数点的情况）、首位为0的数字如01、02、科学计数法是否支持1.0E2、全角数字与半角数字、数字与字母混合、16进制，8进制数值、货币型输入（允许小数点后面几位）、 （4）安全性检查：不能直接输入就copy 3日期型输入框： （1）合法性检查：(输入0日、1日、32日)、月输入[1、3、5、7、8、10、12]、日输入[31]、月输入[4、6、9、11]、日输入[30][31]、输入非闰年，月输入[2]，日期输入[28、29]、输入闰年，月输入[2]、日期输入[29、30]、月输入[0、1、12、13]</p></div> <div class="rtopicdocs"> <div class="coltitle">相关主题</div> <div class="relatedtopic"> <div id="tabs-section" class="tabs"> <ul class="tab-head"> <li id="11824584"><a href="/topic/11824584/" target="_blank">短路测试方法</a></li> <li id="12551442"><a href="/topic/12551442/" target="_blank">igbt短路测试方法详解</a></li> <li id="16206753"><a 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