电子产品的可靠性试验

电子产品的可靠性试验
电子产品的可靠性试验

电子产品的可靠性试验

评价分析电子产品可靠性而进行的试验称为可靠性试验。试验目的通常有如下几方面:

1. 在研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷,评价产品可靠性达到预定指标的情况;

2. 生产阶段为监控生产过程提供信息;

3. 对定型产品进行可靠性鉴定或验收;

4. 暴露和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式和失效机理;

5. 为改进产品可靠性,制定和改进可靠性试验方案,为用户选用产品提供依据。

对于不同的产品,为了达到不同的目的,可以选择不同的可靠性试验方法。可靠性试验有多种分类方法. 1. 如以环境条件来划分,可分为包括各种应力条件下的模拟试验和现场试验; 2. 以试验项目划分,可分为环境试验、寿命试验、加速试验和各种特殊试验; 3. 若按试验目的来划分,则可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验; 4. 若按试验性质来划分,也可分为破坏性试验和非破坏性试验两大类。

5. 但通常惯用的分类法,是把它归纳为五大类: A. 环境试验 B. 寿命试验 C. 筛选试验 D. 现场使用试验 E.鉴定试验

1. 环境试验是考核产品在各种环境(振动、冲击、离心、温度、热冲击、潮热、盐雾、低气压等)条件下的适应能力,是评价产品可靠性的重要试验方法之一。

2. 寿命试验是研究产品寿命特征的方法,这种方法可在实验室模拟各种使用条件来进行。寿命试验是可靠性试验中最重要最基本的项目之一,它是将产品放在特定的试验条件下考察其失效(损坏)随时间变化规律。通过寿命试验,可以了解产品的寿命特征、失效规律、失效率、平均寿命以及在寿命试验过程中可能出现的各种失效模式。如结合失效分析,可进一步弄清导致产品失效的主要失效机理,作为可靠性设计、可靠性预测、改进新产品质量和确定合理的筛选、例行(批量保证)试验条件等的依据。如果为了缩短试验时间可在不改变失效机理的条件下用加大应力的方法进行试验,这就是加速寿命试验。通过寿命试验可以对产品的可靠性水平进行评价,并通过质量反馈来提高新产品可靠性水平。

3. 筛选试验是一种对产品进行全数检验的非破坏性试验。其目的是为选择具有一定特性的产品或剔早期失效的产品,以提高产品的使用可靠性。产品在制造过程中,由于材料的缺陷,或由于工艺失控,使部分产品出现所谓早期缺陷或故障,这些缺陷或故障若能及早剔除,就可以保证在实际使用时产品的可靠性水平。

可靠性筛选试验的特点是: A. 这种试验不是抽样的,而是100%试验; B. 该试验可以提高合格品的总的可靠性水平,但不能提高产品的固有可靠性,即不能提高每个产品的寿命; C. 不能简单地以筛选淘汰率的高低来评价筛选效果。淘汰率高,有可能是产品本身的设计、元件、工艺等方面存在严重缺陷,但也有可能是筛选应力强度太高。淘汰率低,有可能产品缺陷少,但也可能是筛选应力的强度和试验时间不足造成的。通常以筛选淘汰率Q和筛选效果β值来评价筛选方法的优劣:合理的筛选方法应该是β 值较大,而Q值适中。

上述各种试验都是通过模拟现场条件来进行的。模拟试验由于受设备条件的限制,往往只能对产品施加单一应力,有时也可以施加双应力,这与实际使用环境条件有很大差异,因而未能如实地、全面地暴露产品的质量情况。现场使用试验则不同,因为它是在使用现场进行,故最能真实地反映产品的可靠性问题,所获得的数据对于产品的可靠性预测、设计和保证有很高价值。对制定可靠性试验计划、验证可靠性试验方法和评价试验精确性,现场使用试验的作用则更大。

鉴定试验是对产品的可靠性水平进行评价时而做的试验。它是根据抽样理论制定出来的抽样方案。在保证生产者不致使质量符合标准的产品被拒收的条件下进行鉴定试验。

1 .可靠性设计的意义

①可靠性贯穿于电子产品的整个寿命周期,从产品的设计、制造到安装、使用、维护的个阶段都有一个可靠性问题。但首先要抓好可靠性设计。产品可靠性的定量指标应该在设计过程就得到落实,为产品的固有可靠性奠定良好的基础。反之,一个忽视可靠性设计的产品,必然是“先天不足,后患无穷”,在使用过程中大部会暴露出一系列不可靠问题。据统计,由于设计不当而影响产品可靠性的程度占各种不可靠因素的首位。所以,我们必须扭转只搞性能指标设计,忽视可靠性设的倾向,在产品研制、设计阶段,认真开展可靠性设计,为产品固有可靠性奠定基础。②随着科学技术的进步和经济技术发展的需要,电子产品日益向多功能、小型化、高可靠方向发展。功能的复杂化,使设备应用的元器件、零部件越来越多,对可靠性要求也越来越高。每一个元器件的失效,都可能使设备或电子系统发生故障。

这就必须加强可靠性设计,正确选用元器件并采用降额、降温、冗余等设计技术,降低元器件的使用失效率,保证产品的可靠性。

③电子设备或系统广泛应用于各种场所,会遇到各种复杂的环境因素,如:高温、高湿、低气压、有害气体、霉菌、冲击、振动、辐射、电磁干扰……。这些环境因素的存在,都将大大影响电子产品的可靠性。只有通过可靠性设计,充分考虑产品在使用过程中可能遇到的各种环境条件,采取耐环境设计和电磁兼容性设计等各项措施,才能保证产品在规定环境条件下的可靠性。④在设计阶段采取提高可靠性的措施,比起以后各阶段采取措施耗资最少,收效也最显著。

2.可靠性设计的基本任务

电子设备或系统可靠性设计的基本任务是:在现有元器件水平的基础上,从设备或系统的总体设计、元器件选用、降额设计、热设计、稳定性设计、电磁兼容设计、耐环境设计、工艺设计以及维修性设计等各方面,采取各种措施,在重量、体积、性能、费用、研制时间等因素的综合权衡下,实现设备或系统既定的可靠性指标。二、可靠性设计的基本内容

可靠性设计的基本内容包括:确定总体方案;应用专门的可靠性设计技术实施专题可靠性设计;应用专门的可靠性评价分析技术对产品的可靠性进行定性和定量的评价分析。

制定总体方案是实施专题可靠性设计的依据,专题可靠性设计则是总体方案的具体实现和保证,而可靠性评价分析则是对专题可靠性设计的及则检验和反馈。下面就逐一介绍这三部分内容。1.制定总体方案

制定总体方案包括如下六个方面的内容:

①明确产品的功能和性能要求;

②了解产品的使用环境条件;

③确定产品可靠性的定量标准;

④调查相似老产品的现场使用情况;

⑤拟定为实现可靠性指标应采取的相应措施;

⑥进行方案论证。

2.可靠性设计技术的应用

元器件选用与降额设计

选用元器件一般有二条原则:

①尽量选用经过质量认证或认定,并经现场使用证明质量良好,可靠性高的通用元器件。对于新研制的新型元器件则必须经过严格的质量和可靠性试验后方能使用。②必须根据不同电路的工作参数和整机的使用环境条件,选用能满足这些要求的相应元器件,以充分发挥元器件应有的功能提高元器件的使用可靠性。各种电子元器由于它们的材料、结构、设计和制造工艺等方面的原因,对外应力(包括电应力、热应力等)都有一定的耐受强度。当外应力超过元器件本身的应力承受强度(即额定应力)时,元器件就会损坏。

降额就是使元器件在低于其额定的应力条件下工作。降额能提高元器件和设备的可靠性。这是因为绝大部分元器件的失效率随着所施加的热应力和电应力的降低而下降。但是降额要适当,既不能使降额不足,对某些元件(如电解电容等)也不能让降额过了头,且要与体积、重量、成本综合考虑。(2) 热设计电子元器件及电子设备的可靠性与温度的关系极为密切。例如,当环境温度升高时,就会使晶体管内部材料的物理和化学反应的速率加快,从而使晶体管的性能参数(电流放大系数hfe、反向饱和电流Is 和噪声系数Nf 等)随温的升高而产生漂移;额定功率降低,热击穿概率上升。温度对电容器的可靠性也有极大影响,当使用温度超过电容器的额定温度时,温度每提高10℃电容器的使用寿命将下降一半。

此外,过高的温度还会使设备内的塑料件变形、变硬、变脆、老化,使材料的绝缘性能下降等。因此为了提高产品的可靠性,就必须充分重视并搞好热设计。

热设计的基本准则可归纳为以下四点:

①降低热源电子产品所消耗的功率绝大部分被转化为热能,故为了降低设备的温升就应在保证设备完成规定功能的前提下,尽量降低设备的功耗。

②合理布局把设备内的发热元件均匀地分散于各个部位,防止设备内部出现局部过热。

③采取有效的散热措施所谓散热,就是采取一定的传热方式,把发热体的热量散发出去。传热有三种基本形式,即传导、对流和辐射,因此,要提高散热效果可以从以下几方面着手:

第一,充分利用传导散热。应充分利用设备的各个部分(如结构件,印制板和引线等)作为传导通路,对发热量较高的大中功率管,可装在散热器上,让发热体的热量先传导至散热器,再通过对流、辐射把热量从散热器传至周围环境。第二,加强对流。合理设计通风孔,进风口和出风口应开在温差最大的两处。对自然通风的设备,进风口应开在设备的底部,出风口应尽量高,以形成较强的拔风效应。对

功率较大的设备还应采用强迫风冷措施,以加强对流效果。

第三,减小辐射热阻。要扩大辐射面积,提高发热体黑度。

第四,对热敏元件隔热。热敏元件对温度变化非常敏感,如晶体管、铁氧体磁性元件、石英晶体、槽路电容等,在热的影响下,或是电参数急剧变化使设备出现性能失效,或是元件失效率升高使设备故障增多。故应对热敏元件进行隔热。

(3) 电磁兼容性设计

电子设备或系统总是处在电磁环境中工作,一是自然界造成的电磁环境,如雷电、宇宙射线、地磁辐射等;二是周围其他电子设备造成的电磁环境,如家用电器、工业电器、仪器设备、雷达、发射台、输电网等;三是自身造成的电磁环境,如变压器、扬声器、电路的非线性失真、本振辐射、自激振荡及各种信号馈线等形成的电场、磁场、电磁场环境等。设备处在这些电磁环境中,将会受到电的、磁的或电磁的干扰。因此,能否适应这种公共的电磁环境,使其仍然能正常工作,就成为可靠性设讨必须考虑的问题。如果所设计的设备缺少电磁兼容能力,就会在电磁干扰下,不断发生暂时的或永久的故障,降低了设备的可靠性。电磁干扰通常分为外来干扰和自身干扰两大类:

常见的外来干扰有:电吹风、手电钻、汽车发动机、电焊机等启动时,由于电机电刷的接触,汽车发动机点火系统的放电,及注塑机继电器触点的接触而产生的电火花等。这些电火花频率高,高次谐波多,脉宽窄,幅度大,由此而产生的高频辐射会使电子设备的正常工作受到影响。常见的自身干扰有:变压器的漏磁、电路的自激振荡、电路的非线性失真或高速开关电路所产生的高次谐波的辐射等。

电磁干扰的途径一般有传导、近场感应和远场辐射三种方式。

干扰通过于扰源和被干扰电路之间的公共阻抗而引人被干扰电路的方式称为传导干扰。

当干扰源和被干扰物相距较近时(小于λ/2π,其中λ为干扰波的波长),干扰通过电容或电感性耦合而引人被干扰电路的方式称为近场感应。

当干扰源和被干扰物相距较远(大于λ/2π)时,干扰由电磁辐射方式引入被干扰电路就称为远场辐射。近场感应和远场辐别的区别取决于干扰源和被干扰电路间的距离和干扰源的频率。低频时波长较长,故各种干扰大多属于近场感应。而高频则波长较短,尤其在特高频段多属远场辐射。设备自身产生的干扰也有不少是远场辐射,如本振辐射,非线性失真,自激振荡等。

电磁兼容性设计的基本技术和方法是:

①抑制干扰源具体做法为减少变压器漏磁、减少无用辐射、减少非线性失真、抑制自激等。②切断传递途径具体做法为合理、良好接地,屏蔽及加滤波措施等。对于变压器的漏磁和高频电路的辐射干扰,多采用屏蔽的方法以切断干扰的传递。对容易受外来电、磁干扰的仪器设备,也可采用机壳屏蔽。

(4)漂移设计

电子元器件的性能参数在应力作用下或在贮存条件下将随时间而发生缓慢的变化,如果参数变化到一定限度,使设备或系统不能完成规定的功能,则发生漂移失效。因此在设计阶段就要考虑到参数的漂移,要分析哪些元器件对设备性能的影响最敏感,并要了解各种元器件的参数漂移特性。设计电路时,选取怎样的参数组合能使电路性能最稳定,井要考虑在设备的任务周期内应取怎样的允许差才不致于出现漂移失效,而又最为经济合理等。

漂移设计的常用设计技术和方法有:均方根偏差设计法、最坏情况设计法、蒙特卡罗法和正交优化法等。

(5)三防设计

三防指的是防潮湿、防盐雾、防霉菌。潮湿、盐雾和霉菌对电子设备有很大影响,它们会使机内凝聚水汽,降低绝缘电阻,元件的介电常数和介质损耗增大,塑料变形,金属腐蚀,材料变质,使所有有机材料和部分无机材料受到霉菌的侵蚀而降低强度,从而使设备的寿命和可靠性受到影响。

三防设计的主要途径和方法分列于下:

①防潮其方法包括:憎水处理;浸渍处理;灌封处理;塑料封装;金属封装。

②防盐雾其方法包括:电镀;表面涂敷;降低不同金属接触点问的电位差。③防霉菌其方法包括:密封;放置干燥剂;控制大气条件,降低环境相对湿度;选用不易长霉的材料;紫外线辐照;表面涂敷防霉剂、防霉漆;在密封设备中充以高浓度臭氧灭菌。

(6)冗余设计

对于复杂和重要的电子设备或系统,往往采用冗余设计来进一步提高可靠性。所谓冗余设计,就是为完成规定的功能而额外附加所需的装置或手段,即使其中某一部分出现了故障,但作为整体仍能正常工作的一种设计.

冗余设计虽能大幅度提高系统的可靠性、但要增加设备的体积、重量、费用和复杂度。因此,除了重要的关键设备,对于一般产品不轻易采用冗余技术。冗余的方法很多,最简单的是并联装置, 此外,冗余的方法尚有串并联或并串联混合装置、多数表决装置、等待装置等。(7)维修性设计

电子系统或设备一般都是可修复产品。对这类产品不但要求少出故障,而且要求一旦出了故障时能很快修复。只有故障少、修复快,才能有效地提高设备的利用率。维修性设计一般从以下几个方面考虑:维修时易装易拆;维修工具可靠;易检查易校正易恢复;互换性好;安全、经济、快速等。

具体可归纳为如下12条设计准则:

(1) 结构简单,零、部、整件采用快速解脱装置,如采用抽屉式结构等,易拆、易装、易换。

(2) 有分机故障隔离措施。

(3) 尽量采用标准件、通用件。

(4) 采用模块化设计以利故障检查和拆换。

(5) 推行故障诊断设计,使设备便于迅速、准确地判断出故障的结构特征。

(6) 需要经常检查、维修、拆装、调换之处需设计成便于操作者接近和操作。

(7) 应使维修人员能见到全部零件。

(8) 应使设计的产品尽量减少维修工具。(9) 插头、插脚、连接线等都应有明显标记,容易辨别。

(10) 宁用少量大的紧固件,不用多量小的紧固件。

(11) 以快锁构件代替螺钉、螺母。

(12) 对维修人员要能保证人身安全。

(8)人一机工程设计

机器需要由人来操作,所以人与机器构成了人一机系统。

人一机工程设计的基本任务,就是根据人体特性和人---机系统的关系,确定需要完成的操作,并恰当地分配给入和机器,使两者协调地工作,达到高效、经济、安全、省力和操作方便而可靠的目的。人和机器各有所长,一般来说,凡是笨重的、快速的、精细的、单调的、操作复杂的、环境恶劣的工作都适合机器承担。凡是需要不断地调整、修正,处理突发性。推理性、创造性等工作都适合人来承担。

由于人和机器交往的主要媒介物是显示器、控制器及它们的标记。因此必须按照人体的特性合理地设计显示器、控制器和标记。

(9)印制电路板计算机辅助设计

为了保证设计可靠性的实现,还必须进行工艺性设计,使可靠性在制造过程中不出现较大的退化。其中印制电路板设计是工艺性设计的主要内容,过去传统的方法是由手工设计,费时、费力、精凌低、质量差,这里介绍一种先进的印制电路板计算机辅助设计技术(简称PCBCAD),它是采用把电路、数据直接输入计算机系统,自动进行印制线路板线路布线。然后,由笔绘图仪绘制成套工艺图纸,由光绘图仪绘制印制板所需的成套照相底片,同时,还能扫印输出元器件清单等。

PCBCAD有以下优点:

①提高了印制板的设计效率计算机布线的效率一般比人工的高3~5倍,而用光绘图仪制作照相底片,其效率一般比人工高10倍以上。

②提高了印制板的质量由于保证了焊盘的合理形状及公差,可以减少连焊及缺焊,降低了焊点不良率。

③提高了印制板的设计精度由于焊盘与钻孔的精确定位,使其更适宜于自动插件工艺,因此可以减少因手工操作误插所造成的质量问题。下面简单介绍用上海广播电视技术研究所的印制板计算机辅助TRIT系统所进行的设计过程。

首先要建立元件外形库。

印制板计算机辅助设计中的元件库包括元件外形库,符号库和器件库。一般先建立元件外形库。元件外形的建立主要供印制板上元件布局以及绘丝网图用,在计算机的元件外形库里已存储了许多基本元器件外形。

建立了元件外形库后,再建立元件符号库。

符号库是一些单个的常用的电路符号,如电阻、电容、二极管、三极管、门电路等。库里也已存储了许多元件符号,特殊元件的符号可根据需要自行建立。

在建立了元件外形库和符号库后再建立元件的器件库。

器件库里已存储一部分器件,器件库是由单个或多个符号组成的可命名的部件,它主要用于构成电原理图,使用时,既可以用库里的现有器件,也可以根据需要自行建立。

完成基本元件库之后,可用画电原理图或输入接线表两种方式,向计算机输入元器件间的连接关系。

元器件布局是印制板CAD设计过程中最重要的过程之一,布局是否合理直接影响自动布线的布通率。对于模拟电路还要影响它的电性能,元器件布局一般是以人机交互式输入,既可用光笔输入,也可通过键盘用座标法输入。

完成布局之后,就可以进行自动布线。在布线之前,先要对焊盘和走线数字化,、使计算机获得必要的布线数据。自动布线可根据需要选择单层、模拟、逻辑、多层等布线方案。对于一般密度的印制板,单层自动布线的布通率通常在80%左右。多层板自动布线,一般密度的印制板,它的布通率通常在90%左右。

雷达电子产品可靠性工程设计应用

雷达电子产品可靠性工程设计应用 摘要现阶段,雷达性能、指标都得到了很大提升,构成也越来越复杂,怎样能够使结构复杂的雷达兼具高可靠性是设计师们一直在研究的问题。在此对雷达电子产品研发当中进行可靠性设计需要依据的可靠性设计要求、电路可靠性设计、工艺可靠性设计方法展开进一步思考,制定完善的可靠性设计方案,提升雷达电子产品的可靠性。 关键词雷达电子产品;可靠性设计;设计要求;应用 1 总体方案可靠性设计要求 设计人员要大量收集所要设计雷达电子产品的可靠性指标与数据等相关信息,尤其要对该类雷达出现故障的现象、部位、失效原理及相应的措施有足够的了解,这也是产品设计或完善的重要根据,通过这些能够推测出新雷达可以实现的可靠性指标值。除此之外,设计人员要采取市场调查,了解世界上该产品的供需行情以及用户产品需求,其中涉及对产品应用现场方面的要求,以此确定雷达的应用场地分类与最高使用场地需求,依照其进行可靠性设计[1]。 用户发布新产品设计要求首先要对可靠性指标的急迫性与达成的可能性有所认识,据此提出其在可靠性方面的需求,设计人员要将这些需求融入设计当中。 2 电路可靠性设计 2.1 电路简化设计 在各项性能均达标的前提下,需要把线路、逻辑、电路最大限度地进行简化,利用ASIC取代分立元件。系统的供电方式为分布式供电,可以适当避免单板故障导致的连带故障。在条件允许的情况下,运用统一化设计,采用通用零件,使可移动模块保持一样,组件与零件可以更换。尽量运用模块设计的方法,用软件功能将硬件功能取代。 2.2 标准化设计 利用完善的标准电路及标准模块用零件进行集成化设计。在具体实施过程中,尽可能利用固体组件,最大限度地减少分立器件的使用量。若条件允许,可利用数字电路替代模拟电路。应用电路标准组件时,需务必注意精挑细选并进行多次试验,这样做的目的是既简化雷达电子产品的设计,又要保持产品的可靠性。譬如,各种数字单元电路的设计以及通用电源组件的应用,均是这一目的。 2.3 余度和稳定性设计 要想确保产品性能具有足够的稳定性,产品的强度、输出功率、耐压范围等

电子产品可靠性试验-环境试验要点

一、可靠性理论基础 二、试验(GB) 一.总则:GB2421-2008 电工电子产品环境试验 本系列标准不涉及环境试验样品性能要求,环境试验期间和试验以后,试验样品的容许性能限值由被试验样品的相关规范规定。 基准标准大气压:20℃,101.3KPa 测量与试验标准大气压:15℃-30℃,25%RH-75%RH,86KPa-106KPa。 自由空气条件:无限大空间,空气运动只受散热试验样品本身影响,样品辐射能量全部由周围空气吸收。 散热试验样品与非散热试验样品界定:在自由空气条件和试验标准大气压下,温度稳定后测得的试验样品温度与环境温度是否大于5℃。 环境温度:是采用在试验样品之下0mm - 5 0mm的一个水平面上面,而且与试验样品和试验箱壁等距离处或者距离试样品1 m处若干温度。( 二者取温度值小的) 的平均值。应采取适当措施防止热辐射影响这些温度的测量。 热稳定:试验样品表面温度与最后所测表面温度之差<3℃(非散热试验样最后所测表面温度即试验箱温度;散热试验样品则需多次测量才能确定) A: 低温。 B: 高温 C: 恒定湿热。 D: 交变湿热 E: 冲撞( 例如冲击和碰撞) 。 F: 振动。 G: 稳态加速度。 H: 待定( 原分配在贮存试验) 。 J : 长霉。 K: 腐蚀性大气( 例如盐雾) 。 L: 砂尘。 M: 高气压或低气压 N: 温度变化。 P : 待定( 原分配在“可燃性”试验) Q: 密封( 包括板密封,容器密封与防止流体浸入和漏出的密封) 。 R: 水( 例如雨水、滴水) 。 S : 辐射( 例如太阳辐射,但不包括电磁辐射) T: 锡焊( 包括耐焊接热) 。 U: 引出端强度( 元件的)。 V: 待定( 原分配在“噪声”. 但“噪声诱发的振动”将归于试验F g ,即“振动”系列试验之一) 。W: 待定。 X:作为字头与另一个大写字母一起用于新增加的试验方法命名。例如试验XA:在清洗剂中浸渍 Y: 待定。 Z:用于表示综合试验与组合试验。方法如下:Z后面跟一斜杠和一组综合实验或组合试验相关的大写字母。例如Z/AM:试验低温和低气压综合试验。 综合试验:≥2种试验环境同时作用于试验样品。组合实验:依次连续暴露≥2种试验环境分别进行试验 试验顺序(s e q u e n c e o f t e s t s)试验样品被依次暴露到两种或两种以上试验环境中的顺序。 1 各次暴露之间的时间间隔通常对试验样品不产生明显影响 2 各次暴露之间通常要进行预处理和恢复 3 通常在每次暴露之前和之后进行检测,前一项暴露的最后检测就是下项暴露的初始检测 受控恢复条件:实际试验温度±1℃(15℃-30℃),73%RH-77%RH,86KPa-106KPa。(测量前如果要求对试验样品进行干燥,除有关规范另有规定外,应在下述的条件下干燥6 h。标准干燥条件55±2℃/<20%) 恢复条件: 条件试验后,在检测之前:试验样品应在检测环境温度下稳定;当样品试验后电气参数变化很快,应按受控恢

电子产品可靠性测试规范

产品可靠性测试规范 1.目的 本文制定产品可靠性测试的要求和方法,确保产品符合可靠性的质量 要求。 2.范围 本文件适用本公司所有产品。 3.内容 3.1 实验顺序 除客户特殊要求外,试验样品进行试验时,一般按下表的顺序进行: 3.2实验条件 3.2.1 实验条件:

3.2.2 试验机台误差: a.温度误差:高温为+/-2℃,低温为+/-3℃. b.振动振幅误差:+/-15%. c.振动频率误差:+/-1Hz. 3.2.3 落地试验标准 3.2.3.1 落地试验应以箱体四角八边六面(任一面底部相连之四角、与此四角相连之八边, 六面为前、后、左、右、上、下这六个面)按规定高度垂直落下的方式进行。 重量高度 0~10kg以内75cm 10~20kg以内60 cm 20kg以上53 cm 3.2.3.2 注意事项: 5.2.3.2.1 箱内样品及包材在每个步骤后进行外观与功能性检验。 5.2.3.2.2 跌落表面为木板。 3.2.4 推、拉力试验方法和标准 3.2. 4.1、目的:为了评定正常生产加工下焊锡与焊盘或焊盘与基材的粘结质量。 3.2. 4.2、DIP类产品,需把元件用剪钳剪去只留下元件脚部分(要求留下部分 可以自由通过元件孔),且须把该焊盘与所连接的导线分开,然后固定 在制具上用拉力机以垂直于试样的力拉线脚(如下图),直到锡点或焊 盘拉脱为止,然后即可在拉力计上读数。 拉力方向 焊锡 焊盘

(图1) 3.2. 4.3、SMT类产品,片式元件用推力计以如下图所示方向推元件。推至元件或焊盘脱落后在推 拉力计上读数。并把结果记录在报告上。 三极管推力方向如下图所示,推至元件或焊盘脱落后在推拉力计上读数,并记录。 3.2. 4.4、压焊类产品,夹住排线(FFC或FPC)以如下图所示方向做拉力,拉至FFC或FPC 断或焊锡与焊盘脱离(锡点脱离)或焊盘与基材脱离(起铜皮),把结果记录在报告 上。 3.2. 4.5、产品元器件抽样需含盖全面规格尺寸。产品各抗推、拉力标准为;

电子产品可靠性试验

电子产品可靠性试验 第一章 可靠性试验概述 1 电子产品可靠性试验的目的 可靠性试验是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。试验结果为故障分析、研究采取的纠正措施、判断产品是否达到指标要求提供依据。具体目的有: (1) 发现产品的设计、元器件、零部件、原材料和工艺等方面的各种缺陷; (2) 为改善产品的完好性、提高任务成功性、减少维修人力费用和保障费用提供信息; (3) 确认是否符合可靠性定量要求。 为实现上述目的,根据情况可进行实验室试验或现场试验。 实验室试验是通过一定方式的模拟试验,试验剖面要尽量符合使用的环境剖面,但不受场地的制约,可在产品研制、开发、生产、使用的各个阶段进行。具有环境应力的典型性、数据测量的准确性、记录的完整性等特点。通过试验可以不断地加深对产品可靠性的认识,并可为改进产品可靠性提供依据和验证。 现场试验是产品在使用现场的试验,试验剖面真实但不受控,因而不具有典型性。因此,必须记录分析现场的环境条件、测量、故障、维修等因素的影响,即便如此,要从现场试验中获得及时的可靠性评价信息仍然困难,除非用若干台设备置于现场使用直至用坏,忠实记录故障信息后才有可能确切地评价其可靠性。当系统规模庞大、在实验室难以进行试验时,则样机及小批产品的现场可靠性试验有重要意义。 2 可靠性试验的分类 2.1 电子装备寿命期的失效分布 目前我们认为电子装备寿命期的典型失效分布符合“浴盆曲线”,可以划分为三段:早期失效段、恒定(随机或偶然)失效段、耗损失效段。可参阅图1.2.1。 早期失效段,也称早期故障阶段。早期失效出现在产品寿命的较早时期,产品装配完成即进入早期失效期,其特点是故障率较高,且随工作时间的增加迅速下降。早期故障主要是由于制造工艺缺陷和设计缺陷暴露产生,例如原材料缺陷引起绝缘不良,焊接缺陷引起虚焊,装配和调整不当引起参数漂移,元器件缺陷引起性能失效等。早期失效可通过加强原材料和元器件的检验、工艺检验、不同级别的环境应力筛选等严格的质量管理措施加以暴露和排除。 恒定失效段,也称偶然失效段,其故障由装备内部元器件、零部件的随机性失效引起,其特点是故障率低,比较稳定,因此是装备主要工作时段。 耗损失效段,其特点是故障率迅速上升,导致维修费用剧增,因而报废。其故障原因主要是结构件、元器 件的磨损、疲劳、老化、损耗等引起。 2.2 试验类型及其分布曲线的变化 针对电子装备寿命期失效分布的三个阶段,人们在设计制造和使用装备时便有针对地采取措施,以提高可靠性和降低寿命周期的费用。在设计制造阶段,要尽量减少设计缺陷和制造缺陷,即便如此仍然会存在早期失效和随机失效。为此,承制方需要运用工程试验的手段来暴露和消除早期失效,降低随机失效的固有水平。通过这些措施,可以改变产品的寿命分布曲线的形状,可参阅图1.2.2。在耗损阶段,用户可通过维修和局部更新的手段延长装备的使用寿命。 图 1.2.2 示意了两组产品寿命失效率分布曲线,图中表明产品B 的可靠性水平比产品A 的优良,因为B 的恒定失效率比A 的低,B 的早期失效段比A 的短。如果曲线A 和B 是同一种产品的不同阶段的失效率分布,则表明该产品经过了可靠性增长试验,取得成效,因此曲线B 的恒定失效率大为 失效率 早期 耗损 失效 偶然失效段 失效 时间 图1.2.1 电子装备寿命期失效分布的浴盆曲线示意

电子产品可靠性设计总结V1.1.0

电子产品可靠性设计总结V1.1.0 一、 印制板 ㈠,数据指标 1,印制板最佳形状是矩形(长宽比为3:2或4:3),板面大于200*150mm时应考虑印制板所承受的机械强度。 2,位于边沿附近的元器件及走线,离印制板边沿至少2mm,以防止打耐压不过。 3,焊盘尺寸以金属引脚直径加上 0.2mm 作为焊盘的内孔直径。例如,电阻的金属引脚直径为 0.5mm,则焊盘孔直径为 0.7mm,而焊盘外径应该为焊盘孔径加1.2mm,最小应该为焊盘孔径加1.0mm。 4,常用的焊盘尺寸 焊盘孔直径/mm 0.4 0.5 0.6 0.8 1.0 1.2 1.6 2.0 焊盘外径/mm 1.5 1.5 2.0 2.0 2.5 3.0 3.5 4 5,元器件之间的间距要合适,以防止焊接时互相遮挡,导致无法焊接。 6,走线和元器件与边界孔、固定孔之间的距离要足够的大,以防止无法添加平垫和螺丝,也可防止可耐压时不能通过。 7,PCB板的尺寸要与相关的壳子相匹配,固定孔之间的位置也要与要关的壳体固定位置相适合。 8,尽量用贴片元件,尺可能缩短元件的引脚长度。(地线干扰) ㈡,设计方法 1,保证PCB板很好的接地。(信号辐射) 2,屏蔽板尽量靠近受保护物体,而且屏蔽板的接地必须良好。(电场屏蔽) 3,易受干扰的元器件不能离得太近。(元件布局) ㈢,注意事项 1,以每个功能电路为核心,围绕这个核心电路进行布局,元件安排应该均匀、整齐、紧凑,原则是减少和缩短各个元件之间的引线和连接。 2,使用敷铜也可以达到抗干扰的目的,而且敷铜可以自动绕过焊盘并可连接地线。填充为网格状,以散热。 3,包地。对重要的信号线进行包地处理,可以显著提高该信号的抗干扰能力,当然还可以对干扰源进行包地处理,使其不能干扰其它信号。 4,严格确保元器件的焊盘大小足以插入元器件。各个元件间的距离不能太近导致元器件无法放下或无法焊接。 5,尽量少用过孔。 6,画完印制板图后,看看每个元器件的标号的方向正否统一。 7,元器件的标号不能画在其它元器件的焊盘内,也不能被其它原器件挡住。 8、接口应有文字说明其接口功能定义。 9、安装孔周围应不能走线,防止螺丝与信号线短接。 二、 PCB走线 ㈠,数据指标

电子产品可靠性试验国家实用标准应用清单

电子产品可靠性试验国家标准清单 GB/T 15120.1-1994 识别卡记录技术第1部分: 凸印 GB/T 14598.2-1993 电气继电器有或无电气继电器 GB/T 3482-1983 电子设备雷击试验方法 GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则 GB/T 5839-1986 电子管和半导体器件额定值制 GB/T 7347-1987 汉语标准频谱 GB/T 7348-1987 耳语标准频谱 GB/T 9259-1988 发射光谱分析名词术语 GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则 GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法 GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则 GB/T 2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 5080.1-1986 设备可靠性试验总要求 GB/T 5080.2-1986 设备可靠性试验试验周期设计导则 GB/T 5080.4-1985 设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)

GB/T 5080.5-1985 设备可靠性试验成功率的验证试验方案 GB/T 5080.6-1985 设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验 GB/T 5080.7-1986 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T 5081-1985 电子产品现场工作可靠性有效性和维修性数据收集指南 GB/T 6990-1986 电子设备用元器件(或部件)规中可靠性条款的编写指南 GB/T 6991-1986 电子元器件可靠性数据表示方法 GB/T 6993-1986 系统和设备研制生产中的可靠性程序 GB/T 7288.1-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件室便携设备粗模拟 GB/T 7288.2-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟 GB/T 7289-1987 可靠性维修性与有效性预计报告编写指南 GB/T 9414.1-1988 设备维修性导则第一部分: 维修性导言 GB/T 9414.2-1988 设备维修性导则第二部分: 规与合同中的维修性要求 GB/T 9414.3-1988 设备维修性导则第三部分: 维修性大纲 GB/T 9414.4-1988 设备维修性导则第五部分: 设计阶段的维修性研究 GB/T 9414.5-1988 设备维修性导则第六部分: 维修性检验 GB/T 9414.6-1988 设备维修性导则第七部分: 维修性数据的收集分析与表示 GB/T 12992-1991 电子设备强迫风冷热特性测试方法 GB/T 12993-1991 电子设备热性能评定

电子产品可靠性测试报告.docx

XXXX股份有限公司检测中心 检测报告 报告编号:2019-5-25 样品名称电子产品可靠性测试样品编号2019-5-25 委托单位XXXX 实业有限公司型号/规格RC661-Z2委托单位 XXXXXX检测类别委托试验地址 样品来源 收样日期2019年4月15日 委托方送样 方式 2019 年4月15日~ 样品数量120检测日期 2019年5月15日 1.高低温工作试验10.外箱跌落试验18.标签酒精测试 2.高温高湿工作试验11.外箱振动试验19.盐雾测试 3.外箱温湿度交变储存试验 12.稳定性测试20.外箱抗压测试 4.外箱高温高湿储存试验13.铅笔硬度测试21.ESD 测试 检测项目 5.冷热冲击试验14.底噪测试22.电源通断测试 6.裸机跌落试验15.防水测试23.裸机振动试验 7.裸机微跌试验16.大头针缝隙安全测试 https://www.360docs.net/doc/709662597.html,B 线摇摆测试 8.彩盒包装跌落试验17.标签橡皮测试25.125℃高温存放 9.快递盒包装跌落试验 样品说明委托方提供120 个样品用于本次试验,其中: 裸机 40台, PCBA 20 块,带包装 3 箱( 60台)。

参考标准: 检测依据 YD/T 1539-2006《移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法》 检测结论样品按照要求完成了测试,测试结果见报告正文 备注--- 编制:审核:批准: 批准人职务: 年月日年月日年月日 第1页共 9页

XXXX股份有限公司检测中心 检测报告 报告编号:2019-5-25 试验情况综述 序号项目 1高低温1 标准要求 温度45℃ 试验情况 工作 试验 2高温 高湿 工作 试验3外箱 温湿度 交变 储存 试验 持续时间 6 小时 2温度45℃~ -10 ℃ 降温时间 2 小时 3温度-10 ℃ 持续时间 6 小时 4温度-10 ℃~ 45℃ 升温时间 1 小时 每循环时间15小时 循环次数4 样品状态在线测试 温度40℃ 相对湿度90﹪ 持续时间96h 样品状态在线测试 1温度70℃ 湿度40﹪ 持续时间12 小时 2温度70℃~ -20 ℃ 降温时间 2 小时 3温度-20 ℃ 4持续时间12 小时 温度-20 ℃~ 湿度40 ﹪ 升温时间 1 小时 每循环时间27 小时 循环次数4 样品状态包装、不

电子产品可靠性设计

科技论坛Ke Ji Lun Tan 商品与质量SHANGPINYUZHILIANG 109 1 电子产品可靠性设计概述 1.1电子产品的可靠性设计定义 电子产品的可靠性指标是衡量产品可靠性水平的定量和定性数值,通常情况下,衡量电子产品的可靠性,主要依靠可靠度、失效率、平均寿命及寿命概率密度等评价指标来衡量电子产品的可靠性_电子产品的可靠性设计时要明确设计产品的功能和性能要求,必须要了解产品在整个寿命周期内面临的环境条件,通过依据产品可靠性的定量和定性指标,验证产品稳定性,从而提升电子产品质量。 1.2电子产品可靠性设计技术 电子产品的可靠性设计技术主要通过采用预计、分配、技术设计和评定等类型的设计策略,实现电子产品可靠性验证、试验,确保电子产品可靠性电子产品设计阶段,必须要尽量选择成熟化、插件化和简单化的设计结构,选用典型电路,要衡量电子产品的可靠性、经济性和产品实际性能,通过多个方面的设计提升产品整体品质一般情况下,电子产品的可靠性设计技术包括冗余化设计、元器件的降额设计和热设计等技术。 2 可靠性设计管理目标 在论述可靠性设计管理之前,需要明确可靠性设计管理的目标是什么。根据笔者的设计经验,电子产品设计有三条研发平行线,也可以说三个研发层次:功能与性能设计、可制造性设计、可靠性设计功能和性能设计是指通过软件和硬件手段设计出“达到”用户要求的产品,功能和性能设计的基础是用户需求。可制造性设计是指为了满足用户批量使用要求而进行的物料、供应商、工艺(设计、生产)、工装测试等方面的设计工作,是使设计的产品从制造角度“持续达到”用户要求。可靠性设计是指通过各种手段和管理,使产品全生命周期的功能和性能“超越”用户要求。这三个层次是一个渐进层次,其顶点就是可靠性设计层次,同时这三个层次在具体实施的时候是平行的,要真正设计出超越用户要求的产品,在进行功能、性能设计的同时需要进行可制造性设计和可靠性设计。 3 电子产品可靠性设计 3.1降额设计 电子产品降额设计是指降低电子产品元器件工作环境,使电子众品元器件处于低于额定标准的应力环境下保持工作状态在开展降额设计时,为了延长电子产品使用寿命,必须要首先提升电子产品元器件l内使用可靠性通过降低施加在电子产品元器件上的机械应力、热应力、电应力等工作应力,确保电子产品电路能够为设备正常工作提供支持,同时要能够确保具有可靠的接地由于电子产品元器件存在最佳的降额范围,只要处于这个范围内,电子产品元器件的工作应力变化对电子产品失效率存在较为显著的影响开展电子产品可靠性设计时,要考虑到降额的量值及降额条件,确保降额时设备可靠性增加,降低设计难度。 3.2热设计 现代电子产品的电子元器件密度不断提升,元器件之间通过传导、辐射和对流产生大量的热耦合,所以热应力是影响电子元件失效的一个重要因素。为了达到预期的可靠性,必须就爱那个元件的温度降低到最低水平。电子产品热设计包括散热、加装散热器、制冷三种技术方法,应用中通常采用的散热技术有对流散热方式、传导散热方式和利用热辐射特性方式三种。在电子产品热设计中通常采用加装散热器的方式,其目的就是降低半导体的温度,将温度保持在半导体最大结温之下。 3.3电磁兼容性设计 电磁兼容性问题分为两类:一是设备没有受到直接干扰,但是产品不能通过国家电磁兼容标准;二是电子电路、系统等在工作的时候,产生相互干扰或受到外部干扰,从而达不到预期标准。在电子产品设计中通常采用印制电路板设计、电源线滤波、屏蔽机箱、信号线滤波、电缆设计、接地等技术来使设备达到电磁兼容状态。CMOS具有较高的噪声容限,可以优先使用,在对有源器件电磁特性和敏感特性进行筛选和电子电路改进后,要对易受骚扰的电路和骚扰源电路进行分类集中,从而减小相互影响并便于采取防护措施。 3.4抗辐射加固设计 在一些环境中,辐射脉冲是非常强的,常常会使微电子元器件金属连线熔断或烧毁,导致工作失常或永久性损坏。抗辐射加固设计通常针对的是微电子元件的应用场合、辐射环境的辐射因素和强度等,主要从元件的制作材料、器件结构、电路设计、工艺等多方面进行加固考虑。在材料方面,要根据不同的需求选取锗材料、硅材料、铁电材料及金刚石材料等不同的材料。在电路设计方面,采用提高设计余量法,可以提高双极电路1~2个抗辐射等级。在工艺加固方面,采用微电子电子器件工艺中的隔离技术,根据电路的功能、性能、封装等不同的要求,可以选择多晶硅一单晶硅介质隔离、凹槽介质隔离、深槽介质隔离等技术。 4 结束语 随着我国经济的快速发展,人们生活舒适度逐渐提高,电子产品逐渐成为人们日常生活中的重要产品、电子产品种类逐渐增多,功能更加实用化,普通大众已经对电子产品具有一定的依赖性,电子产品使用率逐渐提升。 参考文献: [1]李振.电子产品的可靠性设计与仿真试验[J].舰船电子工程,2014,06:46-51. [2]刘柳,周林,邵将.基于数字化样机的电子产品可靠性设计分析方法[J].电光与控制,2014,09:99-103. [3]骆明珠,康锐,刘法旺.电子产品可靠性预计方法综述[J].电子科学技术,2014,02:246-256. 电子产品可靠性设计 董秋翌 云南省医疗器械检验研究院 云南昆明 650034 【摘 要】随着电子产品越来越广泛的应用到社会各个领域,其使用条件变得越来越严酷,所以对电子产品的产品质量和可靠性要求越来越高。设计精品化产品、生产精品化产品、提供精品化系统自始至终是智能院追求的目标,在精品化战略目标下,我们始终将缔造世界最高品质产品作为我们的目标。可靠性设计作为实现这个目标的必经阶段,首先从设计管理入手,使可靠性设计理念深入到产品的全生命周期,目前我们虽然形成了一定的可靠性设计的思路,但是尚缺乏系统性和完整性,下一步我们将在可靠性设计上逐步形成一整套可行的方法论,并通过可靠性设计管理加以固化和约束。本文以基本可靠性技术为指导,从电子产品的设计和环境出发,对电子产品可靠性设计等几个方面进行了分析和设计,从而达到消除潜在故障、提高电子产品质量和可靠性、增强其社会效益和经济效益的目的。 【关键词】电子产品;可靠性设计;设计方法 【中图分类号】TN02 【文献标识码】A 制造,提高产品的安全性能和质量。 2 机械制造自动化技术发展趋势 2.1机械自动化的现代化发展 自动化技术的逐步深入,给正在进步的机械制造业带来了无限的发展空间,多功能多样化的新技术有效地提高了机械生产的水平,加快了机械生产发展的进程。我国的制造业现如今已经逐渐进入信息自动化、物资输送自动化、生产自动化、设备装配自动化以及检测自动化时代,使得机械自动化进入了一个全新的发展的自动化时代。但是,机械自动化的现代化的发展是一个漫长的过程,绝对不可以一蹴而就,这是一个由低级到高级、由简单不完善到复杂完善的进步过程。为了实现机械自动化的发展,必须认清国情才能够实现全面的自动化,全面使生产效率大幅度提高,中国的机械自动化的发展与世界的发展相比来说还是具有一定的差异,我国目前作为一个发展中的国家,结合我国的国情,使我国的机械自动化的现代化得到有效发展。 2.2智能化方向 随着科技的发展,机械行业也逐渐在进行着现代化改造。数控设备的运用,使机械制造自动化技术与智能化技术实现了很好的融合。智能化所要求的是实现操作人员与设备之间的有效结合,即人机一体,自动化系统模拟人脑来进行操作和控制,从而将之前需要人工进行的如整理和查找数据资料等工作交由机器完成,不但提高了准确率和效率,还能减少用工成本,大大减轻技术人员的工作强度,促进资源的优化配置,为企业带来巨大效益。机械制造自动化技术以智能化为发展趋势,有利于促进企业资源的合理配置,提高企业效益,降低生产成本,促进企业的良好快速发展。 2.3多媒体的综合运用 多媒体与机械制造自动化的结合也将会成为其未来发展的重要趋势。当前情况下,多媒体的应用已经越来越广泛,甚至成为很多企业发展的重要技术手段,将多媒体应用到机械制造自动化中,能够让人们更加形象、直观地看到机械操作的全过程,对于产品质量的控制能够起到很大的帮助作用。多媒体与机械制造的结合是将通信技术、计算机技术以及声像技术有机结合在一起,通过显示屏幕将 技术操作的过程进行展示,并配以相应的声音、图像的内容信息,让整个产品制造过程更加具有可控性。多媒体与机械制造自动化的结合能够极大的节省人力成本的支出,给企业的发展创造更加低的成本条件,实现企业的效率最大化,这不仅是各个企业所希望看到的,同样也是各个企业所必然需要的,将会受到企业极大的欢迎。 2.4与网络化融合 基于网络化普及的背景下,要求当代机械制造行业在可持续发展过程中为了增强自身竞争实力,应注重在机电设备一体化操控过程中,实现机械制造自动化技术与网络技术间的相互融合,由此来营造良好的机械设备监视环境,并以远程操控形式对机械制造整个流程进行管理,且及时发现机械产品生产过程中凸显出的相应问题,对其进行实时解决。同时,网络信息化监控系统的引进,有助于传统机械产品生产过程中突显出的人工作业量大且存在人工误差的问题,并实现对机械制造生产线情况的严格把控,达到最佳的生产状态。此外,基于机械制造自动化技术与网络化相互融合的背景下,在机械制造流程操控过程中亦应注重将网络、声像、通讯技术融于一体,继而便于相关工作人员在对机械产品生产流程进行操控过程中可通过网络平台编辑图像信息,并以信息处理形式实时掌控机械产品生产过程中设备运行参数变化状况,最终由此达到高效率产品生产效果。 综上所述,机械制造业是经济发展的基础,因此,我们不仅要向国外先进技术学习,还要自主创新,抓住科技发展机遇,研究和分析未来发展趋势,采取相关措施,提高我国机械制造自动化技术水平,推动机械制造业的发展,提升我国的国际竞争力和影响力。 参考文献: [1]郭雄.机械制造自动化技术特点及发展前景展望[J].山东工业技术,2015,15(05):52. [2]赵刚.探析机械制造自动化技术特点与发展趋势[J].装备制造技术,2014(02). [3]滕皓.机械制造自动化技术发展现状及未来发展方向探析[J].湖南农机,2014,12(08):54-55.

电子产品的可靠性试验

电子产品的可靠性试验 评价分析电子产品可靠性而进行的试验称为可靠性试验。试验目的通常有如下几方面: 1. 在研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷,评价产品可靠性达到预定指标的情况; 2. 生产阶段为监控生产过程提供信息; 3. 对定型产品进行可靠性鉴定或验收; 4. 暴露和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式和失效机理; 5. 为改进产品可靠性,制定和改进可靠性试验方案,为用户选用产品提供依据。 对于不同的产品,为了达到不同的目的,可以选择不同的可靠性试验方法。可靠性试验有多种分类方法. 1. 如以环境条件来划分,可分为包括各种应力条件下的模拟试验和现场试验; 2. 以试验项目划分,可分为环境试验、寿命试验、加速试验和各种特殊试验; 3. 若按试验目的来划分,则可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验; 4. 若按试验性质来划分,也可分为破坏性试验和非破坏性试验两大类。 5. 但通常惯用的分类法,是把它归纳为五大类: A. 环境试验 B. 寿命试验 C. 筛选试验 D. 现场使用试验 E.鉴定试验 1. 环境试验是考核产品在各种环境(振动、冲击、离心、温度、热冲击、潮热、盐雾、低气压等)条件下的适应能力,是评价产品可靠性的重要试验方法之一。 2. 寿命试验是研究产品寿命特征的方法,这种方法可在实验室模拟各种使用条件来进行。寿命试验是可靠性试验中最重要最基本的项目之一,它是将产品放在特定的试验条件下考察其失效(损坏)随时间变化规律。通过寿命试验,可以了解产品的寿命特征、失效规律、失效率、平均寿命以及在寿命试验过程中可能出现的各种失效模式。如结合失效分析,可进一步弄清导致产品失效的主要失效机理,作为可靠性设计、可靠性预测、改进新产品质量和确定合理的筛选、例行(批量保证)试验条件等的依据。如果为了缩短试验时间可在不改变失效机理的条件下用加大应力的方法进行试验,这就是加速寿命试验。通过寿命试验可以对产品的可靠性水平进行评价,并通过质量反馈来提高新产品可靠性水平。 3. 筛选试验是一种对产品进行全数检验的非破坏性试验。其目的是为选择具有一定特性的产品或剔早期失效的产品,以提高产品的使用可靠性。产品在制造过程中,由于材料的缺陷,或由于工艺失控,使部分产品出现所谓早期缺陷或故障,这些缺陷或故障若能及早剔除,就可以保证在实际使用时产品的可靠性水平。 可靠性筛选试验的特点是: A. 这种试验不是抽样的,而是100%试验; B. 该试验可以提高合格品的总的可靠性水平,但不能提高产品的固有可靠性,即不能提高每个产品的寿命; C. 不能简单地以筛选淘汰率的高低来评价筛选效果。淘汰率高,有可能是产品本身的设计、元件、工艺等方面存在严重缺陷,但也有可能是筛选应力强度太高。淘汰率低,有可能产品缺陷少,但也可能是筛选应力的强度和试验时间不足造成的。通常以筛选淘汰率Q和筛选效果β值来评价筛选方法的优劣:合理的筛选方法应该是β 值较大,而Q值适中。 上述各种试验都是通过模拟现场条件来进行的。模拟试验由于受设备条件的限制,往往只能对产品施加单一应力,有时也可以施加双应力,这与实际使用环境条件有很大差异,因而未能如实地、全面地暴露产品的质量情况。现场使用试验则不同,因为它是在使用现场进行,故最能真实地反映产品的可靠性问题,所获得的数据对于产品的可靠性预测、设计和保证有很高价值。对制定可靠性试验计划、验证可靠性试验方法和评价试验精确性,现场使用试验的作用则更大。 鉴定试验是对产品的可靠性水平进行评价时而做的试验。它是根据抽样理论制定出来的抽样方案。在保证生产者不致使质量符合标准的产品被拒收的条件下进行鉴定试验。 1 .可靠性设计的意义 ①可靠性贯穿于电子产品的整个寿命周期,从产品的设计、制造到安装、使用、维护的个阶段都有一个可靠性问题。但首先要抓好可靠性设计。产品可靠性的定量指标应该在设计过程就得到落实,为产品的固有可靠性奠定良好的基础。反之,一个忽视可靠性设计的产品,必然是“先天不足,后患无穷”,在使用过程中大部会暴露出一系列不可靠问题。据统计,由于设计不当而影响产品可靠性的程度占各种不可靠因素的首位。所以,我们必须扭转只搞性能指标设计,忽视可靠性设的倾向,在产品研制、设计阶段,认真开展可靠性设计,为产品固有可靠性奠定基础。②随着科学技术的进步和经济技术发展的需要,电子产品日益向多功能、小型化、高可靠方向发展。功能的复杂化,使设备应用的元器件、零部件越来越多,对可靠性要求也越来越高。每一个元器件的失效,都可能使设备或电子系统发生故障。

电子产品可靠性的主要指标

5.1.2 可靠性的主要指标 5.1.1节提到可以用产品平均正常工作时间的长短来表示产品可靠性的大小,除此之外,还有其他一些方法来表示产品的可靠性的大小。表达可靠性的主要数量指标通常 有可靠度、故陈率、平均寿命、失效率和平均修复时间。 1.可冕废[正常工作的概率3 产品的可靠度是指产品在规定的条件和规定的时间内,完成规定功能的概率,用 只(‘)表示。图5—1是在时间轴上表示各个时刻点上产品的工作情况。希迪电子 受试验的产品的起始数为N,即在T=o时刻,有N个产品能正常工作,在o到‘时 间内发生故障的产品数为M,到了=:时刻还朗正常工作的产品数为N—n,这个数与受试 验产品起始数N之比,即为‘时刻产品工作的概率,也就是产品在‘时刻的可靠度只(c), 用公式表示即为 由于R(t)是一个概率,所以 在试验开始时,R(t)=1,产品全部完好。随着试验期的延长,R(t)<1。即出现了失 效产品。试验一直延续下去,直到产品全部达到了寿命终止期,因此,R(t)越 接近于1,表示可靠度越大,该产品的可靠性也越大。 式中N要足够大。否则会得出不正确的结论,的含义是产品超过了规定的时间,即超过了使用寿命。 2.故潭串 故障率用F(t)表示,表示产品在t时刻发生故障的概率,显然F(t)与R(t)是对立事 件,g此二者的关系应为 3.平均寿命

产品的平均寿命指一批产品的寿命的平均值,用表示。这里有两种情况,一种是不可修复的产品,即发生故障后不能修理或一次性使用的产品,如海底电缆、人造卫星上的产品‘另一种是可修复的产品,即发生故障后经修理,仍能继续使用,如电视机、手机等电子产品,它们都是居于这一种。这两种产品的平均寿命的含义不一样。 (1)对不可修复的产品。如图5—3所示为一批不可修复的产品的工作寿命示意图。 设一批不可修复的产品总数为N,钽电容其中第i个产品工作到‘‘时刻发生故障,这个产品的寿 命为Ti,这一批产品各自的寿命分别为t1,t2,…Ti,…,Tn,这一批产品的平均寿命为,根据平均寿命的定义可知 显然它是指发生故障前正常工作时间的平均值,记作MTTF(Mean Time To Failure)。 显然,式[5—7)表示的是一批可修复的产品两次相邻故障问的平均正常工作时间,称 为可修复产品的平均寿命,记作MTBF(Mean Time Btween Failure)。 4.失效率

电子产品可靠性试验汇总

電子產品可靠性試驗 第一章 可靠性試驗概述 1 電子產品可靠性試驗的目的 可靠性試驗是對產品進行可靠性調查、分析和評價的一種手段。試驗結果為故障分析、研究採取的糾正措施、判斷產品是否達到指標要求提供依據。具體目的有: (1) 發現產品的設計、元器件、零部件、原材料和工藝等方面的各種缺陷; (2) 為改善產品的完好性、提高任務成功性、減少維修人力費用和保障費用提供資訊; (3) 確認是否符合可靠性定量要求。 為實現上述目的,根據情況可進行實驗室試驗或現場試驗。 實驗室試驗是通過一定方式的類比試驗,試驗剖面要儘量符合使用的環境剖面,但不受場地的制約,可在產品研製、開發、生產、使用的各個階段進行。具有環境應力的典型性、資料測量的準確性、記錄的完整性等特點。通過試驗可以不斷地加深對產品可靠性的認識,並可為改進產品可靠性提供依據和驗證。 現場試驗是產品在使用現場的試驗,試驗剖面真實但不受控,因而不具有典型性。因此,必須記錄分析現場的環境條件、測量、故障、維修等因素的影響,即便如此,要從現場試驗中獲得及時的可靠性評價資訊仍然困難,除非用若干台設備置於現場使用直至用壞,忠實記錄故障資訊後才有可能確切地評價其可靠性。當系統規模龐大、在實驗室難以進行試驗時,則樣機及小批產品的現場可靠性試驗有重要意義。 2 可靠性試驗的分類 2.1 電子裝備壽命期的失效分佈 目前我們認為電子裝備壽命期的典型失效分佈符合“浴盆曲線”,可以劃分為三段:早期失效段、恒定(隨機或偶然)失效段、耗損失效段。可參閱圖1.2.1。 早期失效段,也稱早期故障階段。早期失效出現在產品壽命的較早時期,產品裝配完成即進入早期失效期,其特點是故障率較高,且隨工作時間的增加迅速下降。早期故障主要是由於製造工藝缺陷和設計缺陷暴露產生,例如原材料缺陷引起絕緣不良,焊接缺陷引起虛焊,裝配和調整不當引起參數漂移,元器件缺陷引起性能失效等。早期失效可通過加強原材料和元器件的檢驗、工藝檢驗、不同級別的環境應力篩選等嚴格的品質管制措施加以暴露和排除。 恒定失效段,也稱偶然失效段,其故障由裝備內部元器件、零部件的隨機性失效引起,其特點是故障率低,比較穩定,因此是裝備主要工作時段。 耗損失效段,其特點是故障率迅速上升,導致維修費用劇增,因而報廢。其故障原因主要是結構件、元器 件的磨損、疲勞、老化、損耗等引起。 2.2 試驗類型及其分佈曲線的變化 針對電子裝備壽命期失效分佈的三個階段,人們在設計製造和使用裝備時便有針對地採取措施,以提高可靠性和降低壽命週期的費用。在設計製造階段,要儘量減少設計缺陷和製造缺陷,即便如此仍然會存在早期失效和隨機失效。為此,承制方需要運用工程試驗的手段來暴露和消除早期失效,降低隨機失效的固有水準。通過這些措施,可以改變產品的壽命分佈曲線的形狀,可參閱圖1.2.2。在耗損階段,用戶可通過維修和局部更新的手段延長裝備的使用壽命。 圖 1.2.2 示意了兩組產品壽命失效率分佈曲線,圖中表明產品B 的可靠性水準比產品A 的優良,因為B 的恒定失效率比A 的低,B 的早期失效段比A 的短。如果曲線A 和B 是同一種產品的不同階 失效率 早期 耗損 失效 偶然失效段 失效 時間 圖1.2.1 電子裝備壽命期失效分佈的浴盆曲線示意

电子产品的可靠性验证的主要项目及检测仪器

电子产品的可靠性测试 一、电子产品的概念 电子产品,是指采用电子信息技术制造的相关产品及其配件,有两个显著特 征:一是需要电源才能工作;二是工作载体均是数字信息或者模拟信息的流 转。 二、电子产品的分类 1)电子元件:指在生产加工时不改变分子成分的成品。如电阻器、电容器、电感器。因为它本身不产生电子,它对电压、电流无控制和变换作用,所以又称无源器件。按分类标准,电子元件可分为11个大类。 2)电子器件:指在生产加工时改变了分子结构的成品。例如晶体管、电子 管、集成电路。因为它本身能产生电子,对电压、电流有控制、变换作用(放大、开关、整流、检波、振荡和调制等),所以又称有源器件。按分类标准,电子器件可分为12个大类,可归纳为真空电子器件和半导体器件两大块。 3)电子仪器:是指检测、分析、测试电子产品性能、质量、安全的装置。大体可以概括为电子测量仪器、电子分析仪器和应用仪器三大块,有光学电子仪器、电子元件测量仪器、动态分析仪器等24种细分类。 4)电子工业专用设备:是指在电子工业生产中,为某种电子产品的某一工艺过程而专门设计制造的设备,它是根据电子产品分类来进行分类的,如集成电路专用设备、电子元件专用设备。共有十余类。 三、可靠性试验的定义 为评价分析电子产品的可靠性而进行的试验,广义说,包括各种环境条件下的模拟试验和现场试验。按试验项目可分为环境试验、寿命试验和特殊试验;按试验目的可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验;按试验性质可分为破坏性试验和非破坏性试验。 通过可靠性试验,可以确定电子产品在各种环境条件下工作或存储时的可靠性特征量,为使用、生产和设计提供有用的数据;也可以暴露产品在设计、原材料和工艺流程等方面存在的问题。通过失效分析、质量控制等一系列反馈措 施,可使产品存在的问题逐步解决,提高产品可靠性。 四、可靠性验证的主要项目及检测仪器 1)气候环境试验

电子产品的可靠性与噪声

电子产品的可靠性与噪声 随着电子技术应用领域的日益扩大, 电子产品的可靠性问题愈来愈多的困 扰着维修人员。影响电子产品可靠性问题很多,其中噪声是最重要方面。所谓噪声即造成人或设备恶劣影响的干扰信号的总称。如:造成人身心不愉快感觉的音响、图像信号,机器错误工作的信号等。 对待噪音的态度,犹如对待火灾的一样,事先要有足够的措施,否则既费经费又费时间。在电子产品的设计或试制时,防止噪声的工作条件要留有富裕的容限范围,这是保证设备可靠性的前提。 1.电子产品可靠性的工作条件 由于电子产品的绝缘材料受潮气会降低绝缘度,产生漏电流形成噪声。因此,保管或放置电子产品的场所,一定要干燥,要有足够的防潮措施,要避免放在高度潮湿或混凝土墙脚处。 由于电子产品的静电作用易吸取灰尘,造成电子元件绝缘度降低和温度升高,因此对电子产品要经常进行清洁除尘。 电子元件金属部分和空气接触会发生氧化,生锈,改变电阻,造成接触不良,形成噪声。怕生锈的金属或焊接处,要涂上瓷漆来保护。另外,焊接时用的酸性焊剂,用后不清除仍然会使电子元件的金属部分腐蚀,造成接触不良。在有腐蚀气体的地点要有充分防腐措施。 设备所处环境由于某种震荡或冲击易形成噪声,对设备元件安装或布线固定等方面,要有防震和冲击措施。使用方法避免草率、粗暴操作。搬运不要碰撞、注意轻放。 2.电子产品噪音的检修 对电子产品噪音的检修,首先根据电子产品的噪音或工作失常的状态来判断故障是维修还是改进,然后根据故障查出原因。原来正常的电子产品一旦产生噪声,这是明显故障,需维修。但是,投入使用的电子产品一开始就有噪声,它和环境、使用条件和设备性能有关,这不属维修范围而是明显的改进问题了。维修就是查出噪音缘故“头痛医头,脚痛医脚”就算完成任务,这是比较简单。而改进则是要从头到脚彻底解决噪音的家族问题,这是关键问题。引起电子产品噪声的原因是多种多样,有的噪声仅一种原因引起,有的噪声则由多种原因相互混合引起。按照电子产品的噪声来源可将噪声分为:内部噪音、外部噪音。 (1)内部噪音

电子产品可靠性试验

电子产品可靠性测试实验 姓名: 班级: 学号: 指导老师:

1,用HASS试验 HASS试验是利用高机械应力与高变温率来实现高加速的,该试验要求产品具有高于正常使用环境下的足够的强度余量,试验中采用高于正常水平的温度、振动、电压和其他应力,激发缺陷快速暴露,以便使筛选过程更加经济有效。采用HASS试验不仅可以确定在加大环境应力情况下产品的能力,还可以分析研究产品的失效机理,通过其设计和过程更改提高产品耐破坏能力,以确保较大的设计和过程余量,从而确保产品的质量和可靠性。 (1)疲劳损伤与机械应力的关系如下: D≈nσβ 式中D——Miner准则的疲劳损伤积累; n——应力循环次数; σ——机械应力,即单位面积的作用力; β——疲劳试验确定的材料常数,其变化范围为8~12。 上述机械应力可能由热膨胀、静载荷、振动、潮湿或其他导致机械应力的作用所引起。 通过增大应力可使振动筛选加速,有效激发缺陷和故障。如将振动量值提高两倍,假定β=10,则疲劳损伤累积速率可能增加到1000多倍,这就是筛选时间也缩短了近1000倍,提高了筛选效率。这就验证了通过利用较高的应力量值可极大压缩试验时间,从而导致试验费用的节约。 (2)实验数据 温度变化率与温度循环次数关系。温度循环属热疲劳性质,Smithson S A先生在1990年环境科学学会年会发表的论文中给出了如表所列的不同温度率下的筛选效果。试验中总共使用了400000个样本,每组用100000个样本以5℃/min~25℃/min的温度范围和四种不同的温度率进行热筛选,持续试验直到认为全部薄弱环节(接近10%)均已出现故障。 上面表格说明温变率为5℃/min下进行400个66min/次的温度循环与温变率为40℃/min下进行1个8min/次循环的效果是一样的,而两者所花时间比则达到4400:1。筛选应力越高,产品的疲劳和破坏越快,有缺陷的高应力部位累计疲劳损伤比低应力部位要快得多,这样就有可能使产品内有缺陷元器件与无缺陷元器件在相同应力下拉开疲劳寿命的档次,使缺陷迅速暴露的同时,无缺陷部位的损伤也很小。 HASS技术是一种高效筛选工艺过程,它使用较高的温度和振动等组合应力,施加在批量制造的产品上,快速高效的剔除产品在制造过程中引入的缺陷,确保了HALT试验后产品延续的高质量和高可靠性。为了进行高效筛选必须采用高于正常水平的应力值,要对HASS 试验中应力值进行适当选取,就要对HALT试验后结果进行分析,合理的设置应力值保证高应力筛选顺利进行。 由于大型产品或设备本身就是由众多的模块、部件、单元组成,因此HASS一般只适用

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