ebsd 截距法

ebsd 截距法

摘要:

1.EBSD 技术简介

2.EBSD 截距法的原理

3.EBSD 截距法的应用

4.EBSD 截距法的优缺点

5.总结

正文:

1.EBSD 技术简介

EBSD(Electron Backscattering Diffraction)即电子背散射衍射技术,是一种广泛应用于材料微观结构分析的重要手段。它通过电子束照射样品,观察电子与样品原子间的相互作用,获取样品的结构信息。EBSD 技术具有空间分辨率高、测量速度快等特点,对于研究材料显微结构具有重要的意义。

2.EBSD 截距法的原理

EBSD 截距法是一种基于EBSD 技术的定量分析方法,主要用于测量晶体中晶粒的大小、形状等信息。其原理是:电子束入射到晶体中,经过多次散射,最终离开晶体。通过分析电子束在晶体内的散射路径,可以获取晶体的空间结构信息。

3.EBSD 截距法的应用

EBSD 截距法在材料科学研究中具有广泛的应用,包括:

(1)晶粒尺寸的测量:通过EBSD 截距法可以准确地测量晶粒的平均尺

寸和分布,这对于研究晶粒细化、长大等过程具有重要意义。

(2)晶界、相界的分析:EBSD 截距法可以清晰地显示晶界、相界的分布,有助于了解材料的组织结构和性能关系。

(3)应变分析:利用EBSD 截距法可以对材料的应变进行定量分析,为研究材料在加工过程中的变形行为提供依据。

4.EBSD 截距法的优缺点

(1)优点:

a.测量精度高:EBSD 截距法可以获得晶粒尺寸、形状等准确信息,对于研究材料性能与微观结构的关系具有重要意义。

b.速度快:相较于其他显微分析方法,EBSD 截距法的测量速度较快,有利于提高工作效率。

c.可重复性强:在同一样品和实验条件下,EBSD 截距法的测量结果具有较好的可重复性。

(2)缺点:

a.对样品要求较高:EBSD 截距法对样品的表面质量、厚度等方面要求较高,否则可能影响测量结果的准确性。

b.仪器设备较昂贵:EBSD 截距法所需的仪器设备价格较高,对研究经费有一定要求。

5.总结

综上所述,EBSD 截距法作为一种重要的微观结构分析方法,在材料科学研究中具有广泛的应用。

ebsd 截距法

ebsd 截距法 摘要: 1.EBSD 技术简介 2.EBSD 截距法的原理 3.EBSD 截距法的应用 4.EBSD 截距法的优缺点 5.总结 正文: 1.EBSD 技术简介 EBSD(Electron Backscattering Diffraction)即电子背散射衍射技术,是一种广泛应用于材料微观结构分析的重要手段。它通过电子束照射样品,观察电子与样品原子间的相互作用,获取样品的结构信息。EBSD 技术具有空间分辨率高、测量速度快等特点,对于研究材料显微结构具有重要的意义。 2.EBSD 截距法的原理 EBSD 截距法是一种基于EBSD 技术的定量分析方法,主要用于测量晶体中晶粒的大小、形状等信息。其原理是:电子束入射到晶体中,经过多次散射,最终离开晶体。通过分析电子束在晶体内的散射路径,可以获取晶体的空间结构信息。 3.EBSD 截距法的应用 EBSD 截距法在材料科学研究中具有广泛的应用,包括: (1)晶粒尺寸的测量:通过EBSD 截距法可以准确地测量晶粒的平均尺

寸和分布,这对于研究晶粒细化、长大等过程具有重要意义。 (2)晶界、相界的分析:EBSD 截距法可以清晰地显示晶界、相界的分布,有助于了解材料的组织结构和性能关系。 (3)应变分析:利用EBSD 截距法可以对材料的应变进行定量分析,为研究材料在加工过程中的变形行为提供依据。 4.EBSD 截距法的优缺点 (1)优点: a.测量精度高:EBSD 截距法可以获得晶粒尺寸、形状等准确信息,对于研究材料性能与微观结构的关系具有重要意义。 b.速度快:相较于其他显微分析方法,EBSD 截距法的测量速度较快,有利于提高工作效率。 c.可重复性强:在同一样品和实验条件下,EBSD 截距法的测量结果具有较好的可重复性。 (2)缺点: a.对样品要求较高:EBSD 截距法对样品的表面质量、厚度等方面要求较高,否则可能影响测量结果的准确性。 b.仪器设备较昂贵:EBSD 截距法所需的仪器设备价格较高,对研究经费有一定要求。 5.总结 综上所述,EBSD 截距法作为一种重要的微观结构分析方法,在材料科学研究中具有广泛的应用。

ebsd 截距法

EBSD截距法 1. 简介 电子背散射衍射(EBSD)是一种用于材料表征和晶体学研究的先进技术。EBSD截距法是EBSD技术中的一种数据处理方法,用于确定晶体中的位错密度和晶界角。 2. EBSD基本原理 EBSD技术利用电子束与材料中的晶体进行相互作用,产生背散射电子。这些背散射电子通过探测器收集,并通过计算机进行处理和分析。EBSD技术可以提供有关晶体取向、晶界、位错等信息。 EBSD截距法是EBSD技术中的一种数据处理方法,它基于晶体学理论和数学模型,通过对背散射电子的测量数据进行分析,得到晶体中的位错密度和晶界角的信息。 3. EBSD截距法的步骤 EBSD截距法的主要步骤如下: 步骤1:准备样品 首先需要准备一块待研究的样品,通常是金属或陶瓷材料。样品表面需要进行抛光和腐蚀处理,以便获得平整的表面。 步骤2:EBSD数据采集 使用EBSD设备对样品进行扫描,记录背散射电子的数据。EBSD设备通常包括电子枪、探测器和计算机系统。 步骤3:数据处理 将采集到的EBSD数据导入计算机系统,进行数据处理。数据处理包括背散射电子的定位、背景噪声的去除、数据的校正等步骤。 步骤4:晶体取向计算 利用EBSD数据,可以计算样品中每个像素点的晶体取向。晶体取向是表示晶体中晶格方向的参数,可以通过计算晶体的欧拉角或四元数来表示。 步骤5:位错密度计算 利用晶体取向数据,可以计算样品中的位错密度。位错密度是指单位体积内位错的数量,可以通过统计像素点之间的晶体取向差异来估计。

步骤6:晶界角计算 利用晶体取向数据,可以计算样品中的晶界角。晶界角是指晶体之间的界面的夹角,可以通过计算晶体取向差异来估计。 4. EBSD截距法的应用 EBSD截距法在材料科学和工程中有广泛的应用。它可以用于研究材料的微观结构 和性能,以及研究材料的力学行为和变形机制。 以下是EBSD截距法的一些应用领域: 4.1 材料缺陷研究 EBSD截距法可以用于研究材料中的位错和晶界缺陷。通过测量位错密度和晶界角,可以评估材料的质量和性能,并了解材料的变形机制。 4.2 晶体取向分析 EBSD截距法可以用于分析材料中晶体的取向分布。通过计算晶体取向,可以了解 材料的晶体结构和晶界特征。 4.3 相变研究 EBSD截距法可以用于研究材料中的相变过程。通过测量晶界角的变化,可以了解 材料的相变机制和相变动力学。 4.4 薄膜和界面研究 EBSD截距法可以用于研究薄膜和界面的结构和性质。通过测量晶界角和晶体取向,可以评估薄膜和界面的质量和稳定性。 5. 结论 EBSD截距法是一种用于分析材料中位错密度和晶界角的方法。它基于EBSD技术和 晶体学理论,通过对背散射电子的测量数据进行处理和分析,可以获得材料的微观结构和性能信息。 EBSD截距法在材料科学和工程中有广泛的应用,可以用于研究材料的缺陷、晶体 取向、相变和界面等方面。通过应用EBSD截距法,可以深入了解材料的微观特征,为材料设计和工程应用提供有价值的信息。

EBSD在超细硬质合金WC晶粒尺寸统计中的应用

EBSD在超细硬质合金WC晶粒尺寸统计中的应用 李园园;徐银超;林江华;左锐;于涛;温光华;陈响明 【摘要】As the WC grain size of cemented carbide decreasing,the WC grain size statistic becomes rather more difficult. Relying on a lots experiment, the authors succeeded in applying EBSD technology for WC grain size statistic of superfine WC-Co cemented carbide material. For sample A (with practical grain size of 0.2~0.4μm), the average grain size was determined as 0.36μm by EBSD. At the same time, several other grain size statistic methods were used to compare and analysis. Besides, sample B (with finer WC grains of 0.1~0.3μm) was processed in two different sintering temperatures; and the effect of temperature on superfine WC grain growth was also explored.%硬质合金中WC晶粒度的统计随其尺寸的降低,难度大幅升高。本文作者在多次实验的基础上,成功地将电子背散射衍射(EBSD)技术应用于超细 WC-Co 硬质合金 WC 晶粒尺寸统计。以样品 A 合金(晶粒度约0.2~0.4μm)为例,应用EBSD统计其平均晶粒尺寸为0.36μm的同时,还与其他晶粒度统计方法进行对比分析。另外,取样品B(晶粒度约0.1~0.3μm),经两种不同的烧结工艺烧结后分别进行EBSD分析,对比分析烧结温度对超细WC 晶粒长大的影响。 【期刊名称】《粉末冶金材料科学与工程》 【年(卷),期】2015(000)002 【总页数】6页(P162-167)

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预回复对固溶-T652处理超高强铝合金挤压材组织与性能的 影响 谈成;许晓静;蒋伟;孙良省;张香丽;范亚洲;赵建吉 【摘要】The effect of pre-recovery treatment on microstructure and properties of Al-12.5Zn-3.6Mg-1.2Cu- 0.2Zr-0.06Sr aluminum alloy extrusion treated by solid solution –T652 treatment was studied. The results show that the pre-recovery treatment ((250℃, 24 h)+(300℃, 6 h)+(350℃, 6 h)+(400℃, 6 h)) can improve the dislocation density of the alloy significantly, refine the grain size (from 11.14 to 5.25 μm), reduce the average angle grain boundaries (from 17.81° to 12.57°) and increase the percentage of low angle grain boundaries (from 66.2% to 76.4%), but reduce the hardness and tensile strength slightly. Pre-recovery treatment enhances inter-granular corrosion performance, the maximum corrosion depth decre ases from 247.7μm to 138.0μm. Quantitative analysis results show that the decrease of the alloy strength can be attributed to the decline of aging precipitation strengthening. The promotion of corrosion resistance can be due to the improvement of the proportion of low angle grain boundary and the coarsening of precipitates.%研究预回复对固溶-T652处理超高强铝合金Al-12.5Zn-3.6Mg-1.2Cu-0.2Zr-0.06Sr挤压材组织与性能的影响。结果表明:合金在固溶-T652处理前预回复处理((250℃,24 h)+(300℃,6 h)+(350℃,6 h)+(400℃,6 h))能明显提高合金的位错密度,显著细化合金晶粒(平均晶粒尺寸从11.14μm下降到5.25μm),降低晶界平均角度(从17.81°下降到12.57°),提高低角度晶界所占比例(由66.2%提高到76.4%),但硬度和强度略有

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