电子产品可靠性白盒测试(Kenny武)

电子产品可靠性白盒测试(Kenny武)
电子产品可靠性白盒测试(Kenny武)

电子产品可靠性白盒测试

【2017年公开课时间安排】

11月2-3日北京10月30-31日上海10月26-27日深圳

【学习费用】4980元/两天 *买一赠一,单独一人收费3200元

【参加对象】测试工程师、系统工程师、项目经理、技术部经理、研发高管等

课程简介:

白盒测试的核心是波形诊断、器件参数分析、器件失效机理激发等内容,通过对具体深入细节的测试测量,与预期标准参数、波形对比,发现其中的隐患。

本课程着重从被测对象的隐患点、外部应力、过渡过程、器件失效机理、工艺隐患等几个方面展开测试用例设计,既讲解了测试用例的思考分析方法,又深入展开了细节的具体问题点分析。

通过本课程,可以快速积累测试经验、掌握测试项目的选择和测试用例的设计方法,为企业产品通过测试把关的方式实现产品可靠性短期内大幅度的提升保驾护航。

讲师介绍:

Kenny

电子工程硕士,研究领域:电子产品系统可靠性设计与测试技术。

曾任航天二院总体设计所主任设计师、高级项目经理,机电制造企业研发总监、事业部总监,北京市级优秀青年工程师,科协委员。

有电子产品、军工、通信等专业方向的设计、测评和技术管理经历,对产品系统设计、可靠性设计、技术管理有较深入研究,曾在学术会议及多家技术刊物发表专业文章。

曾为比亚迪、中电30所、29所、北京华峰测控、北京航天长峰、普析通用仪器、航天二院23所、航天五院、株洲车辆研究所、北大青鸟环宇、惠州德赛、陕西华经微电子、西安工业集团公司、松下电工、航盛电子等企业提供专业技术和技术管理辅导、培训和咨询。

较擅长于将高深的理论知识转化为符合企业技术和经营特性的可操作实践方法.

课程大纲:

1、测试基础

1.1、研发样机测试与中试样机测试的区别

1.2、原理验证和一致性验证的判据区别

1.3、测试的工具方法类型(模拟测试、仿真、工程计算、规范审查)

1.4、基于单一故障的接口故障分析及测试模拟方法

1.5、测试覆盖率与MECE方法

2、波形诊断

2.1、电路常见异常波形的种类

2.2、回勾波形的成因与应对措施

2.3、过冲波形的成因与应对措施

2.4、振荡波形的成因与应对措施

2.5、平台波形的成因与应对措施

2.6、塌陷波形的成因与应对措施

2.7、鼓包波形的成因与应对措施

3、参数计算与审查

3.1、WCCA参数分析

3.2、容差计算

3.3、蒙特卡洛分析方法

3.4、降额审查

3.5、热测试与计算

3.6、常用各类电路里器件参数计算审查(电容、电感、磁珠、电阻、开关管等)

4、一致性测试及测试数据分析

4.1、批次数据分析

4.2、正态分布的工程意义

4.3、各种异化正态分布曲线的含义与机理

5、单一故障分析与模拟测试

5.1、设计调查表

5.2、用户现场环境条件(环境对产品零部件的失效影响及模拟测试方法)

5.3、人机接口条件(操作者认知与习惯的潜在隐患防护)

5.4、关联设备的相互影响(能量与信号输入输出的相互潜在影响及模拟测试方法)

6、基于失效机理的应力测试

6.1、常用器件、部件零件的失效机理和失效诱发应力

6.2、针对失效机理的模拟测试用例设计

7、软件测试

7.1、路径覆盖的测试用例设计方法

7.2、数据覆盖的测试用例设计方法

7.3、黑盒测试与白盒测试的测试用例设计方法

8、器件质量控制测试

8.1、光学检测

8.2、参数测试与统计分析

8.3、IV曲线测试

9、标准符合性测试

9.1、通用标准测试项目

9.2、安规(通用安规要求、安规测试判据、气、液、电混合布局安规测试用例)

9.3、电磁兼容

9.4、产品内部不同类型模块之间的相互影响检查与测试

10、基于失效机理的应力测试

10.1、常用器件、部件零件的失效机理和失效诱发应力

10.2、针对失效机理的模拟测试用例设计

11、应力变化率测试

11.1、环境应力变化率的影响

11.2、负载应力变化率的影响

11.3、能量及信号输入变化率的影响

11.4、过渡过程应力对设备故障的影响

12、组合应力测试

现场多应力组合示例

13、器件失效特征规律和故障原因分析方法

13.1、电流应力与电压应力的故障特征区别

13.2、突发浪涌应力与持续过电应力的故障特征区别

电子产品可靠性试验-环境试验要点

一、可靠性理论基础 二、试验(GB) 一.总则:GB2421-2008 电工电子产品环境试验 本系列标准不涉及环境试验样品性能要求,环境试验期间和试验以后,试验样品的容许性能限值由被试验样品的相关规范规定。 基准标准大气压:20℃,101.3KPa 测量与试验标准大气压:15℃-30℃,25%RH-75%RH,86KPa-106KPa。 自由空气条件:无限大空间,空气运动只受散热试验样品本身影响,样品辐射能量全部由周围空气吸收。 散热试验样品与非散热试验样品界定:在自由空气条件和试验标准大气压下,温度稳定后测得的试验样品温度与环境温度是否大于5℃。 环境温度:是采用在试验样品之下0mm - 5 0mm的一个水平面上面,而且与试验样品和试验箱壁等距离处或者距离试样品1 m处若干温度。( 二者取温度值小的) 的平均值。应采取适当措施防止热辐射影响这些温度的测量。 热稳定:试验样品表面温度与最后所测表面温度之差<3℃(非散热试验样最后所测表面温度即试验箱温度;散热试验样品则需多次测量才能确定) A: 低温。 B: 高温 C: 恒定湿热。 D: 交变湿热 E: 冲撞( 例如冲击和碰撞) 。 F: 振动。 G: 稳态加速度。 H: 待定( 原分配在贮存试验) 。 J : 长霉。 K: 腐蚀性大气( 例如盐雾) 。 L: 砂尘。 M: 高气压或低气压 N: 温度变化。 P : 待定( 原分配在“可燃性”试验) Q: 密封( 包括板密封,容器密封与防止流体浸入和漏出的密封) 。 R: 水( 例如雨水、滴水) 。 S : 辐射( 例如太阳辐射,但不包括电磁辐射) T: 锡焊( 包括耐焊接热) 。 U: 引出端强度( 元件的)。 V: 待定( 原分配在“噪声”. 但“噪声诱发的振动”将归于试验F g ,即“振动”系列试验之一) 。W: 待定。 X:作为字头与另一个大写字母一起用于新增加的试验方法命名。例如试验XA:在清洗剂中浸渍 Y: 待定。 Z:用于表示综合试验与组合试验。方法如下:Z后面跟一斜杠和一组综合实验或组合试验相关的大写字母。例如Z/AM:试验低温和低气压综合试验。 综合试验:≥2种试验环境同时作用于试验样品。组合实验:依次连续暴露≥2种试验环境分别进行试验 试验顺序(s e q u e n c e o f t e s t s)试验样品被依次暴露到两种或两种以上试验环境中的顺序。 1 各次暴露之间的时间间隔通常对试验样品不产生明显影响 2 各次暴露之间通常要进行预处理和恢复 3 通常在每次暴露之前和之后进行检测,前一项暴露的最后检测就是下项暴露的初始检测 受控恢复条件:实际试验温度±1℃(15℃-30℃),73%RH-77%RH,86KPa-106KPa。(测量前如果要求对试验样品进行干燥,除有关规范另有规定外,应在下述的条件下干燥6 h。标准干燥条件55±2℃/<20%) 恢复条件: 条件试验后,在检测之前:试验样品应在检测环境温度下稳定;当样品试验后电气参数变化很快,应按受控恢

电子产品测试报告模板

电子产品测试报告模板 篇一:产品出厂检验报告模板 ×××出厂检验报告 篇二:EMC基本测试报告格式及说明 随着电气电子技术的发展,家用电器产品日益普及和电子化,广播电视、邮电通讯和计算机网络的日益发达,电磁环境日益复杂和恶化,使得电气电子产品的电磁兼容性(EMC 电磁干扰EMI与电磁抗EMS)问题也受到各国政府和生产企业的日益重视。欧共体政府规定,从1996年1月1起,所有电气电子产品必须通过EMC认证,加贴CE认证标志后才能在欧共体市场上销售。此举在世界上引起广泛影响,各国政府纷纷采取措施,对电气电子产品的RMC性能实行强制性管理。根据欧盟的电磁兼容(EMC)指令20XX/108/EC,所有在欧盟市场销售的电子电气产品必须在其对其他产品的干扰性及对外来影响的抗干扰性方面严格符合欧盟法律要求。 检验记录 产品名称NAME OF SAMPLE 商标型号 TRADE MARK & TYPE 制造厂商 MANUFACTURER 委托单位 CLIENT 检验类别 TEST SORT

检验项目 TEST ITEM 静电放电抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度、 浪涌(冲击)抗扰度 检验记录 第 3 页共页 检验负责人: 审核: 批准:职务: 年月日 年月日年月日 检验项目:浪涌(冲击)抗扰度试验 依据标准:IEC 61000-4-5:20XX 、企业要求 产品名称:商标型号:样品编号:1# 试验条件:温度:23 ℃,湿度: 52%RH,正常大气压。电磁条件保证受试设备正常工作,并不影响试验结果。 EUT状态:试验前工作正常,试验中受试设备刷卡及RS485命令开锁正常,使受试设备处于正常工作状 态。 试验等级:在受试设备的DC电源和信号线端口: 正-负:电压峰值2kV,开路电压波形/50μs(短路电流波形8/20μs),2Ω内阻 正(或负)-地:电压峰值2kV,开路电压波形/50μs

电子产品可靠性测试规范

产品可靠性测试规范 1.目的 本文制定产品可靠性测试的要求和方法,确保产品符合可靠性的质量 要求。 2.范围 本文件适用本公司所有产品。 3.内容 3.1 实验顺序 除客户特殊要求外,试验样品进行试验时,一般按下表的顺序进行: 3.2实验条件 3.2.1 实验条件:

3.2.2 试验机台误差: a.温度误差:高温为+/-2℃,低温为+/-3℃. b.振动振幅误差:+/-15%. c.振动频率误差:+/-1Hz. 3.2.3 落地试验标准 3.2.3.1 落地试验应以箱体四角八边六面(任一面底部相连之四角、与此四角相连之八边, 六面为前、后、左、右、上、下这六个面)按规定高度垂直落下的方式进行。 重量高度 0~10kg以内75cm 10~20kg以内60 cm 20kg以上53 cm 3.2.3.2 注意事项: 5.2.3.2.1 箱内样品及包材在每个步骤后进行外观与功能性检验。 5.2.3.2.2 跌落表面为木板。 3.2.4 推、拉力试验方法和标准 3.2. 4.1、目的:为了评定正常生产加工下焊锡与焊盘或焊盘与基材的粘结质量。 3.2. 4.2、DIP类产品,需把元件用剪钳剪去只留下元件脚部分(要求留下部分 可以自由通过元件孔),且须把该焊盘与所连接的导线分开,然后固定 在制具上用拉力机以垂直于试样的力拉线脚(如下图),直到锡点或焊 盘拉脱为止,然后即可在拉力计上读数。 拉力方向 焊锡 焊盘

(图1) 3.2. 4.3、SMT类产品,片式元件用推力计以如下图所示方向推元件。推至元件或焊盘脱落后在推 拉力计上读数。并把结果记录在报告上。 三极管推力方向如下图所示,推至元件或焊盘脱落后在推拉力计上读数,并记录。 3.2. 4.4、压焊类产品,夹住排线(FFC或FPC)以如下图所示方向做拉力,拉至FFC或FPC 断或焊锡与焊盘脱离(锡点脱离)或焊盘与基材脱离(起铜皮),把结果记录在报告 上。 3.2. 4.5、产品元器件抽样需含盖全面规格尺寸。产品各抗推、拉力标准为;

电子产品测试方法

1、测试方法基础 1.1、测试的目的目标确定 1.2、工程计算测试基础 1.3、设计审查基础 1.4、模拟实验 1.5、电子仿真 1.6、基于SFC分析的系统测试用例设计方法 2、设计输入条件调查表 2.1、环境条件应力组成 2.2、操作者应力 2.3、关联设备影响要素 3、失效机理和失效模式和解决方法 3.1、常见故障现象 3.2、故障现象对应的失效机理和失效模式 3.3、建立基于失效机理预防的一致性测试审查 3.3.1、设计输出文件审查 3.3.2、采购审查 3.3.3、入检库房现场审查 3.3.4、生产工艺审查 3.3.5、现场服务维修审查 3.4、常见问题解决方法 4、测试用例(事例) 4.1、环境条件测试项目及测试用例 温度与热、湿度、气压、电磁环境、环境条件变化率等测试项目及测试用例 4.2、安全性测试项目和测试方法 安规测试项目和测试用例 气、液、电混合布局安规测试用例 4.3、可靠性测试项目与测试用例设计 模拟用户现场测试、边缘极限条件组合测试、HALT综合测试、异常操作测试 过渡过程测试、突发干扰测试 4.4、部件与独立分系统测试项目及测试用例 机械、电气、嵌入式软件模块测试项目、测试仪器、测试用例 4.5、可生产性测试项目及测试用例 可生产性评估指标、可生产性测试项目、可生产性测试用例 4.6、随机文件审查 随机文件和标识审查 包装、运输、存贮项目及效果验证的测试用例 5、可维修性测试 5.1、可维修性的分级 5.2、可维修性级别对应的测试点 5.3、可维修性测试项目及测试用例 5.4、测试与评价方法 6、可使用性测试 6.1、易用性测试项目(人体工学、使用方便、易接受、舒适、高效,防错) 6.2、应用人员测试项目及测试用例(生理、心理、素质、紧急情况处理、输入输出条件组合) 7、嵌入式软件测试 7.1、静态测试方法 7.2、动态黑盒测试 7.3、动态白盒测试

电子产品需做的常见20种检测认证

电子产品需做的常见20种检测认证 现在世界上无论是何种行业,所使用的电子家电产品都通过了各种各样的安全认证。为什么要有安全认证呢?这也是各厂家对自己产品的一种安全承诺,有关辐射的,有关电气安全的,有关人身安全的等等。 你的显示器还有你的电脑电源(POWER)上是是否有好多标识呢?如果没有,可要小心了,那些产品是没有安全保障的。面对种种认证及其标示,你都明白是什么意思吗?这里就简单介绍一些电脑资讯行业里最常见的安全认证,希望对大家在以后的硬件采购会有所帮助。 1、CCC产品认证- 中国强制认证 中国强制性产品认证于2002年5月1日起实施,认证标志的名称为“中国强制认证”(英文China Compulsory Certification的缩写“CCC”)。对列入国家质量监督检验检疫总局和国家认证认可监督管理委员会发布的《第一批实施强制性产品认证的产品目录》中的产品实施强制性的检测和审核。 凡列入目录内的产品未获得指定机构认证的,未按规定标贴认证标志,一律不得出厂、进口、销售和在经营服务场所使用。中国强制认证标志实施以后,将逐步取代原实行的“长城”标志和“CCIB”标志。原有的“长城”标志和“CCIB”标志自2003年5月1日起废止。 2、CCEE产品认证- 现已废止 CCEE的认证标志--长城标志中国电工产品认证委员会(CCEE)于一九八四年成立,英文名称为China Commission for Conformity Certification of Electrical Equipment(以下简称CCEE),是代表中国参加国际电工委员会电工产品安全认证组织(IECEE)的唯一机构,是中国电工产品领域的国家认证组织,CCEE下设有电工设备、电子产品、家用电器、照明设备四个分委员会。现已废止。 3、CCIB认证- CCIB是中国国家进出口商品检验局(China Commodity Inspection Bureau)的英文字头缩写。进口商品安全质量许可制度是国家进出口商品检验局(简称SACI)对进口商品实施的安全认证制度,凡列入SACI进口安全质量许可制度目录内的商品,必须通过产品安全型式试验及工厂生产与检测条件审查,合格后,加贴CCIB商检安全标志,方允许向我国出口、销售。常见于正宗的进口设备,电器上。现已废止。 4、CE认证–欧洲安全合格标志 CE标志的使用现在越来越多,加贴CE标志的商品表示其符合安全、卫生、环保和消费者保护等一系列欧洲指令所要表达的要求。CE代表欧洲统一(CONFORMITE EUROPEENNE)。CE只限于产品不危及人类、动物和货品的安全方面的基本安全要求,而不是一般质量要求,一般指令要求是标准的任务。 产品符合相关指令有关主要要求,就能加附CE标志,而不按有关标准对一般质量的规定裁定能否使用CE标志。因此准确的含义是:CE 标志是安全合格标志而非质量合格标志。 5、CQC产品自愿认证 CQC机构名称为中国质量认证中心,现中国强制认证CCC认证由其承担。获得CQC产品认证证书,加贴CQC 产品认证标志,就意味着该产品被国家级认证机构认证为安全的、符合国家响应的质量标准。

电子产品的静电放电测试及相关要求

电子产品的静电放电测试及相关要求 (时间:2007-1-23 共有 901 人次浏览)[信息来源:互联网] 从第一节的叙述中我们了解ESD对电子产品的危害,随着电子产品的复杂 程度和自动化程度越来越高,电子产品的ESD敏感度也越高,电子产品抵御ESD 干扰的能力已经成为电子产品质量好坏的一个重要因素。那么如何来衡量电子产品抗ESD干扰的能力?通过ESD抗扰度试验可以检测这种能力。为此越来越多的产品标准将ESD抗扰度试验作为推荐或强制性内容纳入其中。电子设备的ESD抗扰度试验也作为电子设备电磁兼容性测试一项重要内容列入国家标准和国际标准。 对不同使用环境、不同用途、不同ESD敏感度的电子产品标准对ESD抗扰度试验的要求是不同的,但这些标准关于ESD抗扰度试验大多都直接或间接引用 GB/T17626.2-1998 (idt IEC 61000-4-2:1995):《电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验》这一国家电磁兼容基础标准,并按其中的试验方法进行试验。下面就简要介绍一下该标准的内容、试验方法及相关要求。 1.试验对象: 该标准所涉及的是处于静电放电环境中和安装条件下的装置、系统、子系统和外部设备。 2.试验内容: ESD的起因有多种,但该标准主要描述在低湿度情况下,通过摩擦等因素,使操作者积累了静电。电子和电气设备遭受直接来自操作者的ESD和对临近物体的ESD的抗扰度要求和试验方法。对电子产品而言,因操作者的ESD造成受设备干扰或损坏的几率相对其他ESD起因大得多。并且若电子产品能提高针对因操作者的ESD抗扰性,则针对因其他因素的ESD抗扰性也会有相应的提高。 3.试验目的: 试验单个设备或系统的抗静电干扰的能力。它模拟:(1)操作人员或物体在接触设备时的放电。(2)人或物体对邻近物体的放电。 4. ESD的模拟: 图1和图2分别给出了ESD发生器的基本线路和放电电流的波形。

电子产品可靠性试验国家实用标准应用清单

电子产品可靠性试验国家标准清单 GB/T 15120.1-1994 识别卡记录技术第1部分: 凸印 GB/T 14598.2-1993 电气继电器有或无电气继电器 GB/T 3482-1983 电子设备雷击试验方法 GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则 GB/T 5839-1986 电子管和半导体器件额定值制 GB/T 7347-1987 汉语标准频谱 GB/T 7348-1987 耳语标准频谱 GB/T 9259-1988 发射光谱分析名词术语 GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则 GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法 GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则 GB/T 2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 5080.1-1986 设备可靠性试验总要求 GB/T 5080.2-1986 设备可靠性试验试验周期设计导则 GB/T 5080.4-1985 设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)

GB/T 5080.5-1985 设备可靠性试验成功率的验证试验方案 GB/T 5080.6-1985 设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验 GB/T 5080.7-1986 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T 5081-1985 电子产品现场工作可靠性有效性和维修性数据收集指南 GB/T 6990-1986 电子设备用元器件(或部件)规中可靠性条款的编写指南 GB/T 6991-1986 电子元器件可靠性数据表示方法 GB/T 6993-1986 系统和设备研制生产中的可靠性程序 GB/T 7288.1-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件室便携设备粗模拟 GB/T 7288.2-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟 GB/T 7289-1987 可靠性维修性与有效性预计报告编写指南 GB/T 9414.1-1988 设备维修性导则第一部分: 维修性导言 GB/T 9414.2-1988 设备维修性导则第二部分: 规与合同中的维修性要求 GB/T 9414.3-1988 设备维修性导则第三部分: 维修性大纲 GB/T 9414.4-1988 设备维修性导则第五部分: 设计阶段的维修性研究 GB/T 9414.5-1988 设备维修性导则第六部分: 维修性检验 GB/T 9414.6-1988 设备维修性导则第七部分: 维修性数据的收集分析与表示 GB/T 12992-1991 电子设备强迫风冷热特性测试方法 GB/T 12993-1991 电子设备热性能评定

电子产品设计实验实验报告

姓名:张键班级:电子1202学号:201215034设计题目:红外防盗报警系统 一、设计意义: 随着社会经济的飞速发展和人民物质生活水平的不断提高,人们对其住宅的要求也越来越高,表现在不仅希望拥有舒适、温馨的住所,而且对其安全性、智能性等方面也提出了更高的要求。随着流动人口迅速增加,盗窃、入室抢劫等刑事案件也呈现出了增长趋势,并且危害越来越严重,人们越来越渴望有一个安全生活的空间,但是犯罪分子的作案手段越来越高明,他们甚至采用一些高科技的作案手段,使得以往那种依靠安装防盗门窗、或靠人防的防范方式越来越不能满足人们日常防范的要求;人们迫切需要一种智能型的家庭安全防范报警系统,及时发现各种险情并通知户主,以便将险情消灭在萌芽状态,保证居民的生命财产不受损失。 目前,国内市场上的防盗报警器系统大部分是国外品牌,国内防盗报警器产品厂商发展时间比较短,真正取得长足发展也是在2000年以后,特别是在2004年国内有些厂商迅速成长,投资规模和企业规模都在迅速发展和扩大。但是与国外厂商相比还有很大差距。现阶段,大部分工程商安装防盗报警产品时倾向于国外品牌,其中,安装的国外产品主要来自于美国、日本和韩国,这三个国家的产品占据我国报警市场的近80%的份额。这主要是因为,在产品供给市场上,绝大部分国外品牌来自美国和日韩,防盗报警产品在这些国家的发展已

经非常成熟,产品功能稳定,性能完善,再加上进入我国是时间较早,所以在我国市场上占有相当大的份额。因此我做这个产品的目的在于,使每个人都能用上性价比好的产品,让更少的人受到财产的损失。 二、工作原理: 在门的边框上,安装红外对射管,用以检测是否有人通过。在门钥匙处有一个触发开关,用来判断是否是正常开门。当门钥匙没有打开,而且有人通过时,也就是非正常进入,红外对管没有检测到信号,输入高电平到单片机,单片机输出信号到蜂鸣器和红色的LED灯,同时LCD1602显示“W ARING!THE THIEF ARE COMING”,告诉用户有小偷闯入,提醒注意,只有通过按下复位开关警报才可以解除。当钥匙打开门,并且有人通过时,也就是正常开门,单片机输出信号到绿色LED灯上,同时LCD1602上显示“SAFETY WELCOME MASTER”告诉用户是正常开门,欢迎回来。 三、系统硬件设计: 1)关键器件介绍: 1.LCD1602简介: 1602液晶也叫1602字符型液晶,它是一种专门用来显示字母、数字、符号等的点阵型液晶模块。它是由若干个5x7或者5x11等点阵字符位组成,每个点阵字符位都可以显示一个字符,每位之间,有一个点距和行间的作用,正因为如此所以它不能很好地显示图形。LCD1602是指显示的内容为16*2,即可以显示两行,每行16个字符液晶模块。

电子产品设计方案论证报告模板

XXXXXX产品 设计方案论证报告 拟制: 审核: 批准: XXXXXXXXXXXXXXXXXXXXX有限公司 年月日

(型号名称 3号黑体) 设计方案论证报告 1 线路设计(5号黑体) 1.1 引言(5号黑体) 瞬时中频频率(IIFM)测量组件是频率探测系统的关键部件之一,该组件完成对前端混频后的中频信号的频率的测量,直接决定了频率探测系统理论上的测频速度,精度和测量噪声指标。 1.2 项目来源及开发的意义(5号黑体) (含用途和使用范围。示例如下。格式要求,5号宋体,1.25倍行距) ××××××××××××××××××××××××××××××××××××××××××××××××。 1.3 国内外同类产品大发展动向及技术水平(5号黑体) (示例如下。格式要求,5号宋体,1.25倍行距) 考察瞬时中频测频(IIFM)组件技术在最近二十年间发展动向,传统的模拟电路鉴频器和各种比较、积分式测频电路由于受线性度较差,响应较慢,受温度漂移、噪声干扰等外部影响较难消除等固有问题的困扰,已经被逐渐淘汰,同时,随着高速数字技术的发展,多种基于现代数字系统的频率测量方法速度已经大大提高,远超过了模拟方式提供的响应速度,而且线性度高,温漂、噪声干扰小,已成为当今IIFM技术的主流。 国外IIFM的报道具体指标多数比较模糊,代表性的有美国《Journal of Electronic Defense》 2002年报道的使用IIFM技术的IFM接收机,中频DC~30MHz,分辨率1KHz,测频时间约100nS。《Microwave Division》杂志2007年的报道,中频工作频段2~18GHz,测频时间最大400nS。国内相关研究近年较多,如2002年航天科工25所的报道,中频24~25MHz,测频时间1us,精度0.1Hz。2006年《电子测量技术》的报道,中频50~950MHz,测频时间最小400nS,误差约 0.3MHz。 1.4 项目合同的技术指标要求(5号黑体) 1.工作频率70MHz±4MHz ,10.2M±1MHz 2.测频精度 2KHz,1KHz 3.测频速度 200nS 4.工作温度范围-40o C~85o C 1.5 样品解剖情况(5号黑体) (使用于仿制产品,正向设计产品略。示例如下。格式要求,5号宋体,1.25倍行距)a)样品电路原理图、基本工作原理及关键元器件的主要参数指标; b)样品主要技术指标(规范值,实测数据);

电子产品可靠性测试报告.docx

XXXX股份有限公司检测中心 检测报告 报告编号:2019-5-25 样品名称电子产品可靠性测试样品编号2019-5-25 委托单位XXXX 实业有限公司型号/规格RC661-Z2委托单位 XXXXXX检测类别委托试验地址 样品来源 收样日期2019年4月15日 委托方送样 方式 2019 年4月15日~ 样品数量120检测日期 2019年5月15日 1.高低温工作试验10.外箱跌落试验18.标签酒精测试 2.高温高湿工作试验11.外箱振动试验19.盐雾测试 3.外箱温湿度交变储存试验 12.稳定性测试20.外箱抗压测试 4.外箱高温高湿储存试验13.铅笔硬度测试21.ESD 测试 检测项目 5.冷热冲击试验14.底噪测试22.电源通断测试 6.裸机跌落试验15.防水测试23.裸机振动试验 7.裸机微跌试验16.大头针缝隙安全测试 https://www.360docs.net/doc/9e13249452.html,B 线摇摆测试 8.彩盒包装跌落试验17.标签橡皮测试25.125℃高温存放 9.快递盒包装跌落试验 样品说明委托方提供120 个样品用于本次试验,其中: 裸机 40台, PCBA 20 块,带包装 3 箱( 60台)。

参考标准: 检测依据 YD/T 1539-2006《移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法》 检测结论样品按照要求完成了测试,测试结果见报告正文 备注--- 编制:审核:批准: 批准人职务: 年月日年月日年月日 第1页共 9页

XXXX股份有限公司检测中心 检测报告 报告编号:2019-5-25 试验情况综述 序号项目 1高低温1 标准要求 温度45℃ 试验情况 工作 试验 2高温 高湿 工作 试验3外箱 温湿度 交变 储存 试验 持续时间 6 小时 2温度45℃~ -10 ℃ 降温时间 2 小时 3温度-10 ℃ 持续时间 6 小时 4温度-10 ℃~ 45℃ 升温时间 1 小时 每循环时间15小时 循环次数4 样品状态在线测试 温度40℃ 相对湿度90﹪ 持续时间96h 样品状态在线测试 1温度70℃ 湿度40﹪ 持续时间12 小时 2温度70℃~ -20 ℃ 降温时间 2 小时 3温度-20 ℃ 4持续时间12 小时 温度-20 ℃~ 湿度40 ﹪ 升温时间 1 小时 每循环时间27 小时 循环次数4 样品状态包装、不

电子产品调试与测试..

一、广播电视系统基本知识 1、填空题 1显像管是一种特殊的电真空器件,其电子枪主要由_______、________、_______ __________、__________、 _________等组成。 答案: 灯丝、阴极、栅极、加速极、聚焦极、高压阳极 2在我国采用的隔行扫描广播电视系统中,行频为_______Hz,场频为_______Hz,帧频为________Hz。 答案: 15625,50,25 3彩色的三要素是指_________、________、_______。 答案: 亮度、色调、色饱和度 4电视系统中选用的三基色分别是_________、________、_______。 答案: 红(R)、绿(G)、蓝(B) 5彩色全电视信号的组成包括_________、________、_______、________、_______。 答案: 亮度信号、色度信号、色同步信号、复合同步信号、复合消隐信号 6在我国使用的电视系统中,图像和伴音的调制方式分别是_________和________。 答案: 调幅、调频 2、判断题 1射频电视信号中,伴音载频比图像载频高6.5MHz。() 答案:正确 2 我国电视伴音信号采用残留边带发送。 ( ) 答案:错误 3图像信号采用负极性方式调制较正极性调制具有更高的功率利用率。()答案:正确 4全电视信号中的均衡脉冲用于克服并行现象。 ( ) 答案:正确 5行、场消隐信号均出现在行、场扫描的正程期间。() 答案:错误 6国家标准规定一个频道占据6.5MHz的带宽。 ( ) 答案:错误 7彩色电视系统中并不发送和接收绿色差信号。() 答案:正确 8我国电视广播的伴音信号采用调幅方式。 ( ) 答案:错误 9我国电视广播,全电视信号采用双边带发送。 ( ) 答案:错误 10我国电视信号采用负极性调制。 ( )

电子产品的可靠性试验

电子产品的可靠性试验 评价分析电子产品可靠性而进行的试验称为可靠性试验。试验目的通常有如下几方面: 1. 在研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷,评价产品可靠性达到预定指标的情况; 2. 生产阶段为监控生产过程提供信息; 3. 对定型产品进行可靠性鉴定或验收; 4. 暴露和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式和失效机理; 5. 为改进产品可靠性,制定和改进可靠性试验方案,为用户选用产品提供依据。 对于不同的产品,为了达到不同的目的,可以选择不同的可靠性试验方法。可靠性试验有多种分类方法. 1. 如以环境条件来划分,可分为包括各种应力条件下的模拟试验和现场试验; 2. 以试验项目划分,可分为环境试验、寿命试验、加速试验和各种特殊试验; 3. 若按试验目的来划分,则可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验; 4. 若按试验性质来划分,也可分为破坏性试验和非破坏性试验两大类。 5. 但通常惯用的分类法,是把它归纳为五大类: A. 环境试验 B. 寿命试验 C. 筛选试验 D. 现场使用试验 E.鉴定试验 1. 环境试验是考核产品在各种环境(振动、冲击、离心、温度、热冲击、潮热、盐雾、低气压等)条件下的适应能力,是评价产品可靠性的重要试验方法之一。 2. 寿命试验是研究产品寿命特征的方法,这种方法可在实验室模拟各种使用条件来进行。寿命试验是可靠性试验中最重要最基本的项目之一,它是将产品放在特定的试验条件下考察其失效(损坏)随时间变化规律。通过寿命试验,可以了解产品的寿命特征、失效规律、失效率、平均寿命以及在寿命试验过程中可能出现的各种失效模式。如结合失效分析,可进一步弄清导致产品失效的主要失效机理,作为可靠性设计、可靠性预测、改进新产品质量和确定合理的筛选、例行(批量保证)试验条件等的依据。如果为了缩短试验时间可在不改变失效机理的条件下用加大应力的方法进行试验,这就是加速寿命试验。通过寿命试验可以对产品的可靠性水平进行评价,并通过质量反馈来提高新产品可靠性水平。 3. 筛选试验是一种对产品进行全数检验的非破坏性试验。其目的是为选择具有一定特性的产品或剔早期失效的产品,以提高产品的使用可靠性。产品在制造过程中,由于材料的缺陷,或由于工艺失控,使部分产品出现所谓早期缺陷或故障,这些缺陷或故障若能及早剔除,就可以保证在实际使用时产品的可靠性水平。 可靠性筛选试验的特点是: A. 这种试验不是抽样的,而是100%试验; B. 该试验可以提高合格品的总的可靠性水平,但不能提高产品的固有可靠性,即不能提高每个产品的寿命; C. 不能简单地以筛选淘汰率的高低来评价筛选效果。淘汰率高,有可能是产品本身的设计、元件、工艺等方面存在严重缺陷,但也有可能是筛选应力强度太高。淘汰率低,有可能产品缺陷少,但也可能是筛选应力的强度和试验时间不足造成的。通常以筛选淘汰率Q和筛选效果β值来评价筛选方法的优劣:合理的筛选方法应该是β 值较大,而Q值适中。 上述各种试验都是通过模拟现场条件来进行的。模拟试验由于受设备条件的限制,往往只能对产品施加单一应力,有时也可以施加双应力,这与实际使用环境条件有很大差异,因而未能如实地、全面地暴露产品的质量情况。现场使用试验则不同,因为它是在使用现场进行,故最能真实地反映产品的可靠性问题,所获得的数据对于产品的可靠性预测、设计和保证有很高价值。对制定可靠性试验计划、验证可靠性试验方法和评价试验精确性,现场使用试验的作用则更大。 鉴定试验是对产品的可靠性水平进行评价时而做的试验。它是根据抽样理论制定出来的抽样方案。在保证生产者不致使质量符合标准的产品被拒收的条件下进行鉴定试验。 1 .可靠性设计的意义 ①可靠性贯穿于电子产品的整个寿命周期,从产品的设计、制造到安装、使用、维护的个阶段都有一个可靠性问题。但首先要抓好可靠性设计。产品可靠性的定量指标应该在设计过程就得到落实,为产品的固有可靠性奠定良好的基础。反之,一个忽视可靠性设计的产品,必然是“先天不足,后患无穷”,在使用过程中大部会暴露出一系列不可靠问题。据统计,由于设计不当而影响产品可靠性的程度占各种不可靠因素的首位。所以,我们必须扭转只搞性能指标设计,忽视可靠性设的倾向,在产品研制、设计阶段,认真开展可靠性设计,为产品固有可靠性奠定基础。②随着科学技术的进步和经济技术发展的需要,电子产品日益向多功能、小型化、高可靠方向发展。功能的复杂化,使设备应用的元器件、零部件越来越多,对可靠性要求也越来越高。每一个元器件的失效,都可能使设备或电子系统发生故障。

电子产品可靠性试验汇总

電子產品可靠性試驗 第一章 可靠性試驗概述 1 電子產品可靠性試驗的目的 可靠性試驗是對產品進行可靠性調查、分析和評價的一種手段。試驗結果為故障分析、研究採取的糾正措施、判斷產品是否達到指標要求提供依據。具體目的有: (1) 發現產品的設計、元器件、零部件、原材料和工藝等方面的各種缺陷; (2) 為改善產品的完好性、提高任務成功性、減少維修人力費用和保障費用提供資訊; (3) 確認是否符合可靠性定量要求。 為實現上述目的,根據情況可進行實驗室試驗或現場試驗。 實驗室試驗是通過一定方式的類比試驗,試驗剖面要儘量符合使用的環境剖面,但不受場地的制約,可在產品研製、開發、生產、使用的各個階段進行。具有環境應力的典型性、資料測量的準確性、記錄的完整性等特點。通過試驗可以不斷地加深對產品可靠性的認識,並可為改進產品可靠性提供依據和驗證。 現場試驗是產品在使用現場的試驗,試驗剖面真實但不受控,因而不具有典型性。因此,必須記錄分析現場的環境條件、測量、故障、維修等因素的影響,即便如此,要從現場試驗中獲得及時的可靠性評價資訊仍然困難,除非用若干台設備置於現場使用直至用壞,忠實記錄故障資訊後才有可能確切地評價其可靠性。當系統規模龐大、在實驗室難以進行試驗時,則樣機及小批產品的現場可靠性試驗有重要意義。 2 可靠性試驗的分類 2.1 電子裝備壽命期的失效分佈 目前我們認為電子裝備壽命期的典型失效分佈符合“浴盆曲線”,可以劃分為三段:早期失效段、恒定(隨機或偶然)失效段、耗損失效段。可參閱圖1.2.1。 早期失效段,也稱早期故障階段。早期失效出現在產品壽命的較早時期,產品裝配完成即進入早期失效期,其特點是故障率較高,且隨工作時間的增加迅速下降。早期故障主要是由於製造工藝缺陷和設計缺陷暴露產生,例如原材料缺陷引起絕緣不良,焊接缺陷引起虛焊,裝配和調整不當引起參數漂移,元器件缺陷引起性能失效等。早期失效可通過加強原材料和元器件的檢驗、工藝檢驗、不同級別的環境應力篩選等嚴格的品質管制措施加以暴露和排除。 恒定失效段,也稱偶然失效段,其故障由裝備內部元器件、零部件的隨機性失效引起,其特點是故障率低,比較穩定,因此是裝備主要工作時段。 耗損失效段,其特點是故障率迅速上升,導致維修費用劇增,因而報廢。其故障原因主要是結構件、元器 件的磨損、疲勞、老化、損耗等引起。 2.2 試驗類型及其分佈曲線的變化 針對電子裝備壽命期失效分佈的三個階段,人們在設計製造和使用裝備時便有針對地採取措施,以提高可靠性和降低壽命週期的費用。在設計製造階段,要儘量減少設計缺陷和製造缺陷,即便如此仍然會存在早期失效和隨機失效。為此,承制方需要運用工程試驗的手段來暴露和消除早期失效,降低隨機失效的固有水準。通過這些措施,可以改變產品的壽命分佈曲線的形狀,可參閱圖1.2.2。在耗損階段,用戶可通過維修和局部更新的手段延長裝備的使用壽命。 圖 1.2.2 示意了兩組產品壽命失效率分佈曲線,圖中表明產品B 的可靠性水準比產品A 的優良,因為B 的恒定失效率比A 的低,B 的早期失效段比A 的短。如果曲線A 和B 是同一種產品的不同階 失效率 早期 耗損 失效 偶然失效段 失效 時間 圖1.2.1 電子裝備壽命期失效分佈的浴盆曲線示意

电子产品测试项目内容

1.SPS之用途: 我們先以日常生活中會用到的電器用品來說明,清早起來打開電子式日光燈或電子式檯燈,刷牙時,充電式電動牙刷之充電器,用遙控器打開電視機看新聞,用電磁爐或微波爐加熱早餐,出門搭電梯下樓,進入辦公室時,放眼望去每一種需插電的事務機器,電話、傳真。。。,大致可以說需用到電的產品,就是SMPS的可能用途。所需的規格要求及線路架構則隨使用場所,價格上會有極大差異。 以一般我們選用的電子零件,其溫度範圍就可分為: ●商業用( 0 ~ 70 ℃) ●工業用 (-25 ~ 125 ℃) ●軍事用 (-40 ~ 125 ℃) 而SPS也會因為使用的周圍環境溫度範圍,而區分不同的等級: ●商業用( 0 ~ 40 ℃)------ 一般日常生活所接觸到的電器用品,如電腦、影印機所使用者 ●工業用 (-20 ~ 71 ℃) ------ 工業產品所使用的POWER,如SMD機器、CNC機器中的POWER即是 ●軍事用 (-40 ~ 125 ℃) ------ 軍事用途,如飛彈、戰艦、坦克中所用到的POWER 不同的溫度範圍,所選用的零件就不相同,其價格當然也不同 2.Switching Power Supply Building Blocks: 專有名詞解釋: a﹒PWM:Pulse Width Modulator脈波寬度調變器 b﹒CCM:連續模式(一般設計都屬於此模式) c﹒DCM:不連續模式 3.SPS 常用之架構和種類 :

3.1.依輸出 / 輸入使用的電壓高低可分為:(適用於非隔離的環境*) *所謂非隔離的環境:如同下列所提的環境,都是自己形成一個系統,輸入與輸出共地,不會與其他的 系統連線,而且接地良好,不會對使用者有漏電的危險,例如其中所提的系統 輸入都屬於低電壓輸入,而且使用者接觸的機殼都是接地(GROUND),沒有被 電到的危險。 (a).降壓式 (Buck) : 輸入比輸出高 ,例如卡車之車用冰箱中的POWER將24V轉12V Fig. 2-1 (b).升壓式 (Boost) : 輸入比輸出低,例如電擊棒將電池電壓9V升高為1000V Fig. 2-2 (c).降升壓式 (Buck-Boost) : 輸入比輸出低或高 ,例如汽車充電器充筆記型電腦19V電池,而汽車電池 有轎車12V及卡車24V兩種

电子产品可靠性试验

电子产品可靠性测试实验 姓名: 班级: 学号: 指导老师:

1,用HASS试验 HASS试验是利用高机械应力与高变温率来实现高加速的,该试验要求产品具有高于正常使用环境下的足够的强度余量,试验中采用高于正常水平的温度、振动、电压和其他应力,激发缺陷快速暴露,以便使筛选过程更加经济有效。采用HASS试验不仅可以确定在加大环境应力情况下产品的能力,还可以分析研究产品的失效机理,通过其设计和过程更改提高产品耐破坏能力,以确保较大的设计和过程余量,从而确保产品的质量和可靠性。 (1)疲劳损伤与机械应力的关系如下: D≈nσβ 式中D——Miner准则的疲劳损伤积累; n——应力循环次数; σ——机械应力,即单位面积的作用力; β——疲劳试验确定的材料常数,其变化范围为8~12。 上述机械应力可能由热膨胀、静载荷、振动、潮湿或其他导致机械应力的作用所引起。 通过增大应力可使振动筛选加速,有效激发缺陷和故障。如将振动量值提高两倍,假定β=10,则疲劳损伤累积速率可能增加到1000多倍,这就是筛选时间也缩短了近1000倍,提高了筛选效率。这就验证了通过利用较高的应力量值可极大压缩试验时间,从而导致试验费用的节约。 (2)实验数据 温度变化率与温度循环次数关系。温度循环属热疲劳性质,Smithson S A先生在1990年环境科学学会年会发表的论文中给出了如表所列的不同温度率下的筛选效果。试验中总共使用了400000个样本,每组用100000个样本以5℃/min~25℃/min的温度范围和四种不同的温度率进行热筛选,持续试验直到认为全部薄弱环节(接近10%)均已出现故障。 上面表格说明温变率为5℃/min下进行400个66min/次的温度循环与温变率为40℃/min下进行1个8min/次循环的效果是一样的,而两者所花时间比则达到4400:1。筛选应力越高,产品的疲劳和破坏越快,有缺陷的高应力部位累计疲劳损伤比低应力部位要快得多,这样就有可能使产品内有缺陷元器件与无缺陷元器件在相同应力下拉开疲劳寿命的档次,使缺陷迅速暴露的同时,无缺陷部位的损伤也很小。 HASS技术是一种高效筛选工艺过程,它使用较高的温度和振动等组合应力,施加在批量制造的产品上,快速高效的剔除产品在制造过程中引入的缺陷,确保了HALT试验后产品延续的高质量和高可靠性。为了进行高效筛选必须采用高于正常水平的应力值,要对HASS 试验中应力值进行适当选取,就要对HALT试验后结果进行分析,合理的设置应力值保证高应力筛选顺利进行。 由于大型产品或设备本身就是由众多的模块、部件、单元组成,因此HASS一般只适用

电子产品测试项目内容

.. . 1.SPS之用途: 我們先以日常生活中會用到的電器用品來說明,清早起來打開電子式日光燈或電子式檯燈,刷牙時,充電式電動牙刷之充電器,用遙控器打開電視機看新聞,用電磁爐或微波爐加熱早餐,出門搭電梯下樓,進入辦公室時,放眼望去每一種需插電的事務機器,電話、傳真。。。,大致可以說需用到電的產品,就是SMPS 的可能用途。所需的規格要求及線路架構則隨使用場所,價格上會有極大差異。 以一般我們選用的電子零件,其溫度範圍就可分為: ●商業用(0 ~70 ℃) ●工業用(-25 ~125 ℃) ●軍事用(-40 ~125 ℃) 而SPS也會因為使用的圍環境溫度範圍,而區分不同的等級: ●商業用(0 ~40 ℃)------ 一般日常生活所接觸到的電器用品,如電腦、影印機所使用者 ●工業用(-20 ~71 ℃) ------ 工業產品所使用的POWER,如SMD機器、CNC機器中的POWER即是 ●軍事用(-40 ~125 ℃) ------ 軍事用途,如飛彈、戰艦、坦克中所用到的POWER 不同的溫度範圍,所選用的零件就不相同,其價格當然也不同 2.Switching Power Supply Building Blocks: OUT 專有名詞解釋: a﹒PWM:Pulse Width Modulator脈波寬度調變器 b﹒CCM:連續模式(一般設計都屬於此模式)

.. . c﹒DCM:不連續模式 3.SPS 常用之架構和種類: 3.1.依輸出/ 輸入使用的電壓高低可分為:(適用於非隔離的環境*) *所謂非隔離的環境:如同下列所提的環境,都是自己形成一個系統,輸入與輸出共地,不會與其他的 系統連線,而且接地良好,不會對使用者有漏電的危險,例如其中所提的系統 輸入都屬於低電壓輸入,而且使用者接觸的機殼都是接地(GROUND),沒有 被電到的危險。 (a).降壓式(Buck) : 輸入比輸出高,例如卡車之車用冰箱中的POWER將24V轉12V Fig. 2-1 (b).升壓式(Boost) : 輸入比輸出低,例如電擊棒將電池電壓9V升高為1000V Fig. 2-2 (c).降升壓式(Buck-Boost) : 輸入比輸出低或高,例如汽車充電器充筆記型電腦19V電池,而汽車電池

EMC基本测试报告格式及说明

随着电气电子技术的发展,家用电器产品日益普及和电子化,广播电视、邮电通讯和计算机网络的日益发达,电磁环境日益复杂和恶化,使得电气电子产品的电磁兼容性(EMC电磁干扰EMI 与电磁抗EMS)问题也受到各国政府和生产企业的日益重视。欧共体政府规定,从1996年1月1起,所有电气电子产品必须通过EMC认证,加贴CE认证标志后才能在欧共体市场上销售。此举在世界上引起广泛影响,各国政府纷纷采取措施,对电气电子产品的RMC性能实行强制性管理。根据欧盟的电磁兼容(EMC)指令2004/108/EC,所有在欧盟市场销售的电子电气产品必须在其对其他产品的干扰性及对外来影响的抗干扰性方面严格符合欧盟法律要求。

检验记录 产品名称 NAME OF SAMPLE 商标型号 TRADE MARK & TYPE 制造厂商 MANUFACTURER 委托单位 CLIENT 检验类别 TEST SORT 检验项目TEST ITEM 静电放电抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度、 浪涌(冲击)抗扰度

检验记录 第3 页共页样品名称商标/ 制造厂商型号规格 委托单位取样方式委托人送样 抽样单位/ 抽样母数1台 抽样地点/ 样品数量1台 生产日期-- 抽样日期/ 送检 日期 2008年11月14日 检验日期2008年11月14日--2008年12月4日检验环境15~35℃ 45~75%RH 样品说明: 检测样品1台,检测编号:1#,检测前后样品外观完好,功能正常。 测试时供电电压:DC 12V 检验项目: 静电放电抗扰度、浪涌(冲击)抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度 检测依据: IEC 61000-4-5:2005、IEC 61000-4-2:2001、IEC 61000-4-4-2004、企业要求 检验概况: 依据标准和企业要求对1台样品分别进行了静电放电抗扰度、浪涌(冲击)抗扰度、 电快速瞬变脉冲群抗扰度共3项的检测,测试结果均符合企业要求。详见后页。 检验结论: 共检3项,3项均符合企业要求 检验负责人:审核:批准: 职务: 年月日年月日年月日

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