原子荧光分析技术讲座电子技术
原子荧光分析技术讲座电
子技术
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原子荧光分析技术讲座—电子技术
1、原子荧光法原理
分光光度法
比色皿
原子吸收法
原子化器
等离子发射光谱法
聚光
原子荧光
原子化器
2、方法特点
测定Hg、As、Bi、Se、Sb、Be、Te、Ge(Sn、Pb、Cu)等最可靠、最有前途的方法。不使用SnCl
2
作还原剂，而使用NaBH
4
（KBH
4
）作还原剂。
主要特点：
（1）光谱干扰少；
（2）基体影响影响易于消除；
（3）通过氢化物发生达到分离和富集的目的；
（4）根据所测元素的还原性质不同，可进行价态分析；
（5）气相干扰少；
（6）线性范围宽，测汞可达三个数量级；
（7）灵敏度远远高于冷原子吸收法。
3、测定过程中的注意事项
由于灵敏度很高，防止试剂、器皿的沾污和扣除空白是实验成败的关键之一（这点比其他方法更为重要）。
（1）小的光电倍增管电压，可减少噪声水平；
（2）观测高度直接影响测量灵敏度和数据的稳定性，建议使用6~8mm（不同仪器标尺可能不同）；
（3）载气及流量：原子荧光法只能使用Ar气，这点与冷原子荧光法不同，Ar气纯度很重要，达到1%时，会导致Hg（As、Bi、Se、Sb、
Te、Ge）灵敏度降低约5%；
（4）载气流量过大会冲稀测定成分的浓度，过小不能迅速将测定成分带入石英炉，一般以~min为宜；
（5）屏蔽气体：屏蔽气体可防止周围空气进入火焰产生荧光淬灭，一般在~min范围选择；
（6）仪器都有峰高和峰面积测量的功能，用峰高好；
（7）选择最佳延迟时间和积分时间是得到最佳测量效果的重要因素；
（8）还原剂：NaBH
4
是强还原剂，必须避光保存（溶液也应避光），如发现浑浊，须经热酸浸泡并洗净的玻璃砂过滤（注意承接滤液瓶的洗
净）。NaBH
4（或KBH
4
）一般在含NaOH（KOH）~1%的介质中才能稳
定；NaBH
4（或KBH
4
）在酸介质中才能起到还原作用，因此，测定水
样（溶液）的酸性必须足以中和NaBH
4（或KBH
4
）溶液中的碱后还应
保持至少1mol/L的酸性；NaBH
4（或KBH
4
）浓度对汞的测量结果影响
很大，测汞时以%左右为最佳；
（9）石英炉温度对测汞的灵敏度和精度影响较为明显，800~900℃记忆效应小，精度高，但灵敏度下降约5倍，而350灵敏度较高。下表是
推荐使用的原子荧光法测汞的条件。
原子荧光法测汞的条件
由于原子荧光仪器生产厂家不同，测量条件也存在差异，下表的测量条件仅供参考。
相关元素的国内、国际饮用水标准（mg/l）
氢化物的沸点、检出限及适用浓度范围
低浓度水样Hg的频率分布直方图
高浓度水样Hg的频率分布直方图
问题的回答与分析
1、检出限（.）
在给定置信度（90~95%）内，能检出的最小浓度（量）。
“检出”是定性的。
空白、仪器操作。
.与灵敏度的关系。
.=3倍空白的RSD（）
(4，，5，6倍)
2、定量下限
4×.（EPA）
10×.（JIS）
3、校正曲线
工作曲线
标准曲线
何时重做何时只做1~2点
特例：生物样品中Hg、As、PCB、PCDDs、PCDFs
4、数据的五性
代表性、准确性、精密性、完整性、可比性。
它们之间的关系。
.附近，浓缩或放宽要求。
5、高含量时的稀释方法选择
低含量时的浓缩注意事项
6、试样前处理
地表水
污水、海水
食品、生物（失水、HClO4）
临床（尿、血、人发）
矿物、土壤（王水、逆王水、HF、HClO4）
固体废物（干燥时损失）、（高压釜、微波消解）
7、工作条件的选择
（1）光源
无级放电灯：输出功率0~100W，反射功率1~5W 不同灯条件各异：Hg 输出（W）反射（mW）Hg8~120~2 As10~150~2 Sb18~220~3 Bi30~350~4寿命，表面不热 高强度灯： 脉冲供电，~2 mA，峰值达60 mA （2）倍增管： 负高压尽量小 （3）原子化炉： 高温灵敏度↓、噪声↑、干扰↓ 低温原子化不充分。 （4）观测高度： 6～8mm（标尺不同） （5）载气： 400～600ml/min，1%O 2 As、Bi、Hg、Se、Te↓（6）屏蔽气体：600～1600nl （7）其它 峰面积测量：粒度好， 峰高测量：基体复杂时好， 二者比较 读数延迟时间：改善信噪比2～35 积分时间：7～10s 8、提高检测能力的方法 （1）灯电流，光电倍增管电压 （2）加入增敏剂： K 3Fe（CN） 6 亚硝基R盐 络合剂等 （3）萃取分离： APDC-MIBK DDTC-MIBK Te、As、Se、Hg： KI-苯 疏基棉 Fe（OH）↓交换树脂。 （4）时常校正曲线 （5）空白与室温 9、干扰及消除 （1）干扰的检查：标准加入曲线 [ （2）Sn2+、Ni2+、Co2+、Cd2+、Zn2+、Fe2+、Cu2+黑（黄）色↓ （3）消除 ①加入络合剂：K 2[Fe(CN) 6 ]、KCNs ②酸介质 oxine、EDTA、硫脲 ③缓冲剂 KI-硫脲、邻菲罗啉 ④分离方法 1 原子荧光光谱法的基本原理 1.1 原子荧光光谱法原理 原子荧光光谱法（AFS)是原子光谱法中的一个重要分支，是介于原子发射(AES）和原子吸收（AAＳ)之间的光谱分析技术，它的基本原理就是：固态、液态样品在消化液中经过高温加热，发生氧化还原、分解等反应后样品转化为清亮液态,将含分析元素的酸性溶液在预还原剂的作用下，转化成特定价态，还原剂 KBH 4 反应产生氢化物和氢气，在载气（氩气)的推动下氢化物和氢气被引入原子化器(石英炉）中并原子化。特定的基态原子(一般为蒸气状态)吸收合适的特定频率的辐射,其中部分受激发态原子在去激发过程中以光辐射的形式发射出特征波长的荧光,检测器测定原子发出的荧光而实现对元素测定的痕量分析方法。1.2 原子荧光的类型 原子荧光是一种辐射的去活化(ｄｅcactｉｖatioｎ)过程。当有原子吸收由一合适的激发光源发射出的特征波长辐射后被激发，接着辐射区活化而发射出荧光。基本上，荧光线的波长和激发线的波长相同,也有可能比激发线的波长长，但比激发线波长短的情况也有，但不多。原子荧光有5中基本类型:①共振荧光。即激发波长与产生的荧光波长相同时，这种荧光称为共振荧光,是原子荧光分析中最常用的一种荧光;②直跃线荧光。即激发波长大于产生的荧光波长相同时，这种荧光称为直跃线荧光；③阶跃线荧光。即激发波长小于产生的荧光波长相同 时,这种荧光称为阶跃线荧光;④热助阶跃线荧光.既原子吸收能量由基态E 激发 至E 2能级时,由于受到热能的进一步激发,电子可能跃迁至于E 2 相近的较高能级 E 3，当其由E 3 跃迁到较低能级E 1 时所发射的荧光，称为热助阶跃线荧光;⑤热助 反Stokes荧光。即电子从基态E 0邻近的Ｅ ２ 能级激发至E ３ 能级时，其荧光辐射 过程可能是由Ｅ ３回到Ｅ 所发出的荧光成为热助反Sｔokes荧光。 1．3 汞的检测方法 汞及其化合物属于剧毒物质,是国际国内进出口商品中一项重要理化指标。汞在体内达到一定量时，将对人的神经系统、肾、肝脏产生严重的损害。汞测定方法有冷原子吸收光谱法、二硫腙比色法、原子荧光光谱分析法、电热原子吸收 原子荧光分析技术讲座—电子技术 1、原子荧光法原理 分光光度法 原子汲取法 等离子发射光谱法 聚光原子荧光 原子化器 2、方法特点 测定Hg、As、Bi、Se、Sb、Be、Te、Ge(Sn、Pb、Cu)等最可靠、最有前途的方法。不使用SnCl2作还原剂，而使用NaBH4（KBH4）作还原剂。 要紧特点： （1）光谱干扰少； （2）基体阻碍阻碍易于消除； （3）通过氢化物发生达到分离和富集的目的； （4）依照所测元素的还原性质不同，可进行价态分析； （5）气相干扰少； （6）线性范围宽，测汞可达三个数量级； （7）灵敏度远远高于冷原子汲取法。 3、测定过程中的注意事项 由于灵敏度专门高，防止试剂、器皿的沾污和扣除空白是实验成败的关键之一（这点比其他方法更为重要）。 （1）小的光电倍增管电压，可减少噪声水平； （2）观测高度直接阻碍测量灵敏度和数据的稳定性，建议使用6~8mm（不同仪器标尺可能不同）； （3）载气及流量：原子荧光法只能使用Ar气，这点与冷原子荧光法不同，Ar气纯度专门重要，达到1%时，会导致Hg（As、Bi、Se、Sb、Te、Ge）灵敏度降低约5%； （4）载气流量过大会冲稀测定成分的浓度，过小不能迅速将测定成分带入石英炉，一般以0.4~0.6L/min为宜； （5）屏蔽气体：屏蔽气体可防止周围空气进入火焰产生荧光淬灭，一般在0.6~1.6L/min范围选择； （6）仪器都有峰高和峰面积测量的功能，用峰高好； （7）选择最佳延迟时刻和积分时刻是得到最佳测量效果的重要因素； （8）还原剂：NaBH4是强还原剂，必须避光保存（溶液也应避光），如发觉浑浊，须经热酸浸泡并洗净的玻璃砂过滤（注意承接滤液瓶的洗净）。NaBH4（或KBH4）一般在含NaOH（KOH）0.5~1%的介质中才能稳定；NaBH4（或KBH4）在酸介质中才能起到还原 2011——2012学年第二学期 现代服务系计算机专业成绩分析报告 一、各科目试卷评价： 从各科教师的试卷分析可以看出，各科目的试题量都基本适中，学生可以在规定的时间内完成答题，绝大部分试题都能从学生的实际情况出发，尤其是计算机考试更注重学生的实操能力，结合我校示范校建设和一体化课程改革的要求，各计算机班级专业课程的考试基本上都是采用了理论+实操的考试方式，考试成绩基本上能真实反映出学生的实际情况，起到了通过考试评价教学效果的作用。二、考试评价： 所控班级：一年级—计算机广告1、2、3班；二年级—中级计算机22班；三年级—高级计算机3班。本学期计算机广告1、2、3班考试课目为：《WORD案例》及格率89.5%、《Photoshop图像处理》及格率63.8%、汉字录入实训76.6%。中级计算机22班学生考试四门功课：《计算机操作员（中级）》及格率为97%、《计算机操作员基础知识》及格率为95%；《网页设计与制作》及格率为84.4%、《多媒体技术与应用》70.9%%。高计3班考试课程为《AE》及格率为100%、《电子商务》及格率58%、《计算机操作员（高）》及格率95%、《计算机操作员基础知识》及格率91%。 从本次考试来看，计算机专业试题题量适中，难易程度与学生实际情况及计算机专业要求相符，知识点之间环环相扣，注重实操和理论相结合。从考试成绩来看，学生主要的错误集中点在以下几个方面： 1、《计算机操作员基础知识》考试的知识点琐碎，覆盖面广，每一章都有知识点，大多数学生的错误点集在计算机安装、连接、调试、和多媒体信息处理这些知识点上 2、《网页设计与制作》多数学生不能按时完成作业，缺乏想象力、创造力。 3、《录入实训》概念不清，速度提不起来。 4、《计算机操作员（中高级）》集中出现在输入的速度上；电子表格的计算机功能（函数）使用不当；Powerpoint动画设置不熟练 5、《电子商务》综合能力的掌握，网络营销经验不足。 6、《多媒体课件制作》题目与图片的分布不协调，不能实现密码输入超时提入。 7、《Photoshop图像处理》作品操作过程不够细，在细节方面失分过多，图层、蒙版应用不当。 8、试卷错误集中在对联制作部分和公司招聘方案部分。充分说明学生基础功不够扎实，不能合理安排时间，对基础知识的操作有误，除此之外错误还集中在一些细节部分，比如利用自选图形、艺 2017期中教学检查总结 导读：本文2017期中教学检查总结，仅供参考，如果能帮助到您，欢迎点评和分享。 2017期中教学检查总结如下，希望您仔细阅读。 2017期中教学检查总结【一】为了全面检查了解我校评估后教学运行情况，进一步加强教育教学管理，不断提高教学质量，学校于第11～12周(2017年5月5～16日)进行了本学期期中教学检查。各学院(教学部)高度重视期中教学检查工作，成立领导小组，根据学校通知的检查内容要求对本单位进行自查，找出问题与不足，写出自查报告。并协助学校检查组做好专项教学检查。学校成立了由教务处、实验与国有资产管理处处科室领导、学校督导员、各院部分管教学工作的副院长(副主任)组成的六个检查小组，分工对各院部教师的课堂教学进行了听课检查，并于5月13、14日分别到各院部对毕业设计(论文)工作、上学期期末考试试卷和实验教学工作进行了专项检查。现根据各院部期中教学检查总结和学校检查组检查情况，对本学期期中教学检查情况总结如下。 开学以来教学工作基本情况 本学期的教学工作是在教育部对我校本科教学工作水平进行评估并获得优秀成绩的大好形势下开展的，各学院(教学部)动员和组织广大教师和学生，按照学校统一部署，总结评建经验，巩固评建成果，认真贯彻落实在评建工作中建立起来的各项工作规范和质量标准，发 扬形成的优良教风和学风，并按照专家组的反馈意见，制定落实整改措施，进一步改进教学，全面实施学校提出本科教育优质工程。教学工作蓬蓬勃勃地开展着，并取得了良好的效果。 1.关于课堂教学工作 大部分教师都能认真执行课堂教学规范，按照授课计划执行，教学态度端正，讲课精神饱满、有热情;备课认真，教学内容熟练，语言流畅，表达清晰;重点突出，难点解决办法清晰适当;注意与学生的交流，使用不同的方法调动学生的积极性;教学内容丰富，信息量较大，很多教师能补充科技发展的新成果;能较正确使用多媒体课件，注意课件与板书的配合使用，效果较好，有部分课件质量较好;大部分班级学生出勤良好，教师课堂教学管理较严格。 物理学院张静华老师教态自然大方，态度积极认真，教学结构合理，内容熟练充实，思路清晰，注意问题的分析，多媒体课件演示和必要规范的板书有机结合效果好，语言流畅。臧xx老师根据本次课的教学内容选择板书教学，板书设计合理，规范，讲课效果很好。 文学院刘xx老师对教学内容整体把握能力较强，多媒体课件与板书互为补充，思路清晰、板书简练，重点突出，信息量大，知识储备充足，理论与实际结合到位。 机械学院毛xx老师讲授内容熟练，语言流畅，表达清楚，声音比较洪亮，课件比较实用，并结合适当的板书，讲授中注意启发和引导参与教学活动，对问题的分析比较明确和透彻。 化工学院柳玉英老师课堂组织比较好，课堂秩序好，多媒体运用 铸件常见缺陷和处理 一、飞边： 飞边就是铸件在分型面上（或活动部位处）突出过多的金属薄片。产生的原因有： 1.压射前机器的调整、操作不合适。 2.模具及滑块损坏，闭锁原件损坏 3.模具镶块及滑块磨损 4.模具强度不够造成变形 5.分型面上杂物未清理干净 6.投影面积计算不正确，超过锁模力 二、气泡 铸件表面下，聚齐气体因热胀将表面鼓起的泡，称为气泡。产生的原因： 1.模具温度过高 2.金属液卷入气体过多 3.涂料过多，浇入前未燃净，使挥发气体被包在铸件表面。 4.排气不畅 5.开模过早 三、孔穴 孔穴包括气孔和缩孔 气孔，气孔有两种：一种是金属液卷入气体形成内表面光亮和光滑、形状较为规则的孔洞，另一种是合金熔炼不正 确或精炼不够，气体溶解于合金中。压铸时，激冷甚剧，凝固很快，溶于金属中的气体来不及析出，使金属内的气体留在铸件内形成孔洞。产生的原因有： 1.浇口位置选择和导流不当，导致金属液进入型腔产生正面撞击及漩涡。 2.流道形状设计不良， 3.压室充满度不够 4.内浇口速度太高，形成端流。 5.排气不畅 6.模具型腔位置太深 7.机械加工于量太大 8.涂料过多，在填充前未燃尽 9.炉料不干净，精炼不良 缩孔，铸件在凝固过程中，由于金属补充不足形成的暗色、形状不规则的孔洞。产生的原因有： 1.合金规范不合适，浇入温度过高 2.金属液过热时间太长 3.比压太低 4.余料柄太薄，最终补压不到作用 5.内浇口截面积过小（主要是厚度不够） 6.溢流槽位置不对或容量不够 7.铸件结构不合理，有热节部位，并且该处无法用溢流槽解决 8.铸件的壁厚变化太大 四、夹杂 夹杂又称为夹物、砂眼、夹渣。在铸件表面或内部形成不规则的孔穴部分或全部充塞着杂物，产生的原因有： 1.炉料不干净 2.合金精炼不够，熔渣未除净 3.舀取金属液时带入熔渣及金属氧化物 4.模具未清里干净 5.涂料中石墨太多 五、冷豆 冷豆也称铁豆，其表现是嵌在铸件表面，未和铸件完全融合的金属颗粒，产生的原因有： 1.浇注系统设置不当 2.填充速度过快 3.金属过早进入型腔 六、麻面 产生的原因是由于填充时，金属液分散成密集液滴，高速撞击型壁，结果形成具有强烈流向的细小、密集的麻点区域。 七、印痕 对口高考电子类专业（综合）课试卷分析 一、试题的主要特征 1、三门学科知识点覆盖面不一，总体较低 2004年电子类专业课《考试纲要》要求考察的知识点为293个，其中《电工基础》知识点159个，《电子技术基础》知识点81个，《电子线路》知识点54个。高考试卷中涉及《电工基础》知识点18个，广度为11%；涉及《电子技术基础》知识点23个，广度为28%；涉及《电子线路》知识点18个，广度为33%。由以上统计数据可以看出，三门学科知识点覆盖面均较低，《电工基础》尤为明显。 2、试题注重对基础知识的考查，但更突出能力考查 《电工基础》涉及的基础知识有：电阻串联分压、简单电位计算、正弦交流电的基本知识等；《电子技术基础》涉及的基础知识有：模拟和数字信号的区别、PN结的导电特性、三极管的分类等；《电子线路》涉及的基础知识有：数制转换、逻辑代数的基本运算等。 能力考查方面，注重理论联系实际，考查学生灵活运用所学知识分析和解决实际问题的能力。如第四大题第2题要求学生分析给定组合逻辑电路，并说明如何实现身份识别；第四大题第4题，考查了学生通过分析一控制系统输入输出关系方程，利用集成运放，选择适当方式和参数，解决实际问题的能力。 3、试题难度加大 据统计，试题中考试水平各层次所占的百分比分别为A（识记）：10.67%，B（理解）：10.67%，C（掌握）：44.67%，D（综合运用）：34%。C和D层次和起来比率高达78.67%！ 三门学科中，《电子线路》试题的难度相对最大，《电子线路》满分104分，试题各层次所占的分数从A到D分别为8分、6分、50分、40分，C和D层次分数加起来为90分！ 4、试题内容未能紧扣2004年《考试纲要》 ①知识点覆盖面低，一些重要章节知识点未曾考查，如直流稳压电源。 ②试题与考纲中按考试水平分，各层次所占的百分比相差太大。（见下表） 成绩分析会总结 （文章一）：教学质量分析会后的反思教学质量分析会后的反思分析人：为进一步总结我校上半年教学工作取得的成绩，分析存在的问题和差距，明确下一阶段的工作目标。2xx年3月10日下午，我校全体教师参加了教管中心组织的教学质量分析会，在本次教学质量分析会上，听了主任和刘老师的重要讲话，同时也听了几位老师关于上学期期末考试成绩分析及最近一个阶段的教学经验总结后，深深地感到他们的钻研精神、他们的创新精神、他们的亲合精神，根据他们的经验总结自己学科的教学。通过这次会议，我觉得自己可以从以下方面来改进： （1）、向四十分钟要质量（1）精讲就要求教师认真备好每堂课，起码要做到课前精心设计，顾及到在课堂中遇到的问题，做到胸有成竹，在分析本班班情的情况下要特别关注差生的接受能力，在备课的同时要尽量照顾这部分学生，在授课过程中要剖析新旧知识的联系，给学生以点拨、激发学生的注意力和学习兴趣，形成良好的课堂氛围，做到教师精讲，引导学生多思考，尽量向四十分钟要质量。（2）多练就是要留给学生练习时间，在精讲的基础上，把学到的知识反复在课堂上多练，这就要特别关注部分差生，经过反复练习，以至于他们也完全掌握，这样老师好教，学生好学，充分调动了学生的学习积极性，课堂教学效益也得到了较大提高。 （2）、把教学反思做到实处。课堂教学中有所得也会有所失，学生 学习习惯的差异，知识水平和理解能力的参差不齐，教师的教学设想与实际有时会有不相适应的地方，有时会觉得有不尽人意之处，做为教师要认真分析总结这节课的优劣，不断总结经验教训，会在今后的教学中少走弯路，并同时能及时发现个人在教学中出现的不足之处，从而可以获得宝贵的经验教训，以便提高自己的教学水平，增强自身的教学能力，使自己的教学工作日益得到完善。 （3）、注意差生的转化每个班都或多或少的存在着部分差生，这些差生人数虽少，但对全面提高教学质量有着很大的、直接的影响，一个班集体学生学习素质的好坏，也就是转化差生人数的多少。转化一个算一个，教学质量也就上一点，那么转化两个、三个呢？但这并不是一件很容易做到的事，这就要求我们在平时教学工作中要花费心血。绝大多数差生是“非智力因素”造成的，有的没有养成良好的习惯，有的学习目的不明确，学习被动应付，不求进取，有的则由于家庭等客观因素的干扰，学习情绪不稳定。也有极少数差生属于“弱智”儿童，他们思维迟钝，知识存在缺陷，学习深感困难，虽然努力但成绩一直上不去，针对以上情况，我们应该采取以下措施进行转化：（1）要我们在这些学生身上多下功夫，多费心血，寻找原因和他们拉近关系，进行相互沟通进行谈心，千万不能鄙视，也不能听之任之，要给他们偏食，加大课外补习辅导，同时要注意他们的“闪光点”给予表扬鼓励，给他们以更多的关爱呵护，通过老师的情感交流去感化他们，从而点燃起他们智慧的火花，使他们的学习情绪会有一定的转化。（2）开展一帮一带活动，增加他们的学习机会，每人找一位成绩好的同学， 氢化物（蒸气）发生 -原子荧光 原子荧光的发展史 ●原子荧光谱法(AFS)是原子光谱法中的一个重要分支。从其发光机理看属于一种原子发 射光谱(AES)，而基态原子的受激过程又与原子吸收(AAS)相同。因此可以认为AFS是AES和AAS两项技术的综合和发展，它兼具AES和AAS的优点。 ●1859年Kirchhoof研究太阳光谱时就开始了原子荧光理论的研究，1902年Wood等首 先观测到了钠的原子荧光，到20世纪20年代，研究原子荧光的人日益增多，发现了许多元素的原子荧光。用锂火焰来激发锂原子的荧光由BOGROS作过介绍，1912年WOOD 年用汞弧灯辐照汞蒸气观测汞的原子荧光。Nichols和Howes用火焰原子化器测到了钠、锂、锶、钡和钙的微弱原子荧光信号，Terenin研究了镉、铊、铅、铋、砷的原子荧光。 1934年Mitchll和Zemansky对早期原子荧光研究进行了概括性总结。1962年在第10次国际光谱学会议上，阿克玛德(Alkemade)介绍了原子荧光量子效率的测量方法，并予言这一方法可能用于元素分析。1964年威博尼尔明确提出火焰原子荧光光谱法可以作为一种化学分析方法，并且导出了原子荧光的基本方程式，进行了汞、锌和镉的原子荧光分析。 ●美国佛罗里达州立大学Winefodner教授研究组和英国伦敦帝国学院West教授研究 小组致力于原子荧光光谱理论和实验研究，完成了许多重要工作。 ● 20世纪70年代，我国一批专家学者致力于原子荧光的理论和应用研究。西北大学杜 文虎、上海冶金研究所、西北有色地质研究院郭小等均作出了贡献。尤其郭小伟致力于氢化物发生(HG)与原子荧光(AFS)的联用技术研究，取得了杰出成就，成为我国原子荧光商品仪器的奠基人，为原子荧光光谱法首先在我国的普及和推广打下了基础。 幻灯片3 国外AFS仪器发展史 ＊1971年Larkins用空心阴极灯作光源，火焰原子化器，采用泸光片分光，光电倍增管检测。测定了A u、B i、Co、H g、M g、N i 等20多种元素； ＊1976年Technicon公司推出了世界上第一台原子荧光光谱仪AFS-6。该仪器采用空心阴极灯作光源，同时测定6个元素，短脉冲供电，计算机作控制和数据处理。由于仪器造价高，灯寿命短，且多数被测元素的灵敏度不如AAS和ICP-AES，该仪器未能成批投产，被称之为短命的AFS-6。 ＊20世纪80年代初，美国Baird公司推出了AFS-2000型ICP-AFS仪器。该仪器采用脉冲空心阴极灯作光源，电感耦合等离子体(ICP)作原子化器，光电倍增管检测，12道同时测量，计算机控制和数据处理。该产品由于没有突出的特点，多道同时测定的折衷条件根本无法满足，性能/价格比差，在激烈的市场竞争中遭到无情的淘汰。 ＊20世纪90年代，英国PSA公司开始生产HG-AFS。 电工学与工业电子学试卷分析 本次试卷覆盖面广，重视了基础知识，基本技能，解决问题的考查，客观题的设置也比较合理，有一定的综合性和灵活性，难易程度比较适中，比较真实地反映电工基础教学质量的现状。本试卷包含七种题型，通过不同侧面考查了电工基础问题的合理性和灵活性。 二、考核成绩分析 （一）填空题 填空题以基础知识为主，主要考查学生对基础知识的掌握。出错较少。 （二）判断题 错题较多的是1.正弦交流电的有效值除与最大值有关外，还与它的初相位相关。 9、三相负载作星形联接时，无论负载对称与否，线电流必定等于对应负载的相电流。 （三）选择题 第2小题和第8小题学生部分学生选择错误。 （四）计算题 有一对称三相负载，每相的电阻为6Ω，电抗为8Ω，电源线电压为380V，试计算负载星形联接和三角形联结时的有功功率。 由于中职学生计算能力差，出错率高。 （五）动手操作题 此题主要考查学生的动手操作能力和观察能力。 （六）解决问题 总体上来说，学生完成较好。 完成较好的题目有第1题、第2题、第4题。 第3题，大部分学生解题的思路明确。 第5题，这是一道看起来不难，错误率却颇高的题。一部分学生因为无法理解题意而无从下手；还有一部分学生对三相电工率计算的应用题缺乏深入思考，因此错误极多。 三、存在问题及改进措施 在教学中，我们要勇于实践《电工基础大纲标准》，要将课程的理念渗透到课堂教学中，努力提高教学水平和教学质量，为学生后续的学习和发展打好坚实的基础。 1、本课程是中等职业学校电类的一门技术基础课。其任务是使学生具备从事电气电子工作所必需的电工基础知识，基本理论和基本技能，并为学习后续课程和培养学生的创新能力打下基础。 2、 （1）．熟悉电路的基本概念、基本定律和定理，熟悉通用电路的组成与特性； （2）．初步具备识读电路图、计算电路基本物理量的能力； （3 ）．初步具备分析电路一般问题的能力； （ 4 ）．初步具备学习和应用电气电子工程新知识、新技术的能力； （5）．了解与本课程有关的技术规范，培养严谨的工作作风和创新精神。 总之，此试卷测出了学生的水平，也测出教师自己教学中的不足之处，我将会在今后教学工作中加以改进，以达到更好的效果。 第四章原子吸收光谱法与原子荧光光谱法 4-1 . Mg原子的核外层电子31S0→31P1跃迁时吸收共振线的波长为285.21nm,计算在2500K 时其激发态和基态原子数之比. 解: Mg原子的电子跃迁由31S0→31P1 ,则 g i／g0=3 跃迁时共振吸收波长λ=285.21nm ΔEi=h×c／λ =（6.63×10-34）×（3×108）÷（285.31×10-9） =6.97×10-19J 激发态和基态原子数之比： Ni／N0＝（g i／g0）×e-ΔEi／kT 其中: g i／g0=3 ΔEi／kT=-6.97×10-19÷〔1.38×10-23×2500〕 代入上式得： Ni／N0＝5.0×10-9 4-2 .子吸收分光光度计单色器的倒线色散率为1.6nm／mm，欲测定Si251.61nm的吸收值，为了消除多重线Si251.43nm和Si251.92nm的干扰，应采取什么措施？ 答： 因为: S1 =W1/D = (251.61-251.43)/1.6 = 0.11mm S2 =W2/D =（251.92-251.61）/1.6 =0.19mm S1＜S2 所以应采用0.11mm的狭缝. 4-3 .原子吸收光谱产生原理，并比较与原子发射光谱有何不同。 答： 原子吸收光谱的产生：处于基态原子核外层电子，如果外界所提供特定能量（E）的光辐射恰好等于核外层电子基态与某一激发态（i）之间的能量差（ΔEi）时，核外层电子将吸收特征能量的光辐射有基态跃迁到相应激发态，从而产生原子吸收光谱。 原子吸收光谱与原子发射光谱的不同在于： 原子吸收光谱是处于基态原子核外层电子吸收特定的能量，而原子发射光谱是基态原子通过电、热或光致激光等激光光源作用获得能量；原子吸收光谱是电子从基态跃迁至激发态时所吸收的谱线，而原子发射光谱是电子从基态激发到激发态，再由激发态向基态跃迁所发射的谱线。 压铸件常见缺陷分析 一、锌合金压铸件表面有花纹，并有金属流痕迹产生原因： 1、通往铸件进口处流道太浅。 2、压射比压太大，致使金属流速过高，引起金属液的飞溅。 调整方法：1、加深浇口流道。2、减少压射比压。 二、锌合金压铸件表面有细小的凸瘤产生原因： 1、表面粗糙。 2、型腔内表面有划痕或凹坑、裂纹产生。 调整方法：1、抛光型腔。2、更换型腔或修补。 三、铸件表面有推杆印痕，表面不光洁，粗糙产生原因： 1、推件杆（顶杆）太长； 2、型腔表面粗糙，或有杂物。 调整方法：1、调整推件杆长度。2、抛光型腔，清除杂物及油污。 四、锌合金压铸件表面有裂纹或局部变形产生原因： 1、顶料杆分布不均或数量不够，受力不均： 2、推料杆固定板在工作时偏斜，致使一面受力大，一面受力小，使产品变形及产生裂纹。 3、铸件壁太薄，收缩后变形。 调整方法： 1、增加顶料杆数量，调整其分布位置，使铸件顶出受力均衡。 2、调整及重新安装推杆固定板。 五、锌合金压铸件表面有气孔产生原因： 1、润滑剂太多。 2、排气孔被堵死，气孔排不出来。 调整方法：1、合理使用润滑剂。2、增设及修复排气孔，使其排气通畅。 六、铸件表面有缩孔产生原因： 压铸件工艺性不合理，壁厚薄变化太大。金属液温度太高。 调整方法：1、在壁厚的地方，增加工艺孔，使之薄厚均匀。2、降低金属液温度。 七、铸件外轮廓不清晰，成不了形，局部欠料产生原因： 1、压铸机压力不够，压射比压太低。 2、进料口厚度太大； 3、浇口位置不正确，使金属发生正面冲击。 调整方法： 1、更换压铸比压大的压铸机； 2、减小进料口流道厚度； 3、改变浇口位置，防止对铸件正面冲击。 八、铸件部分未成形，型腔充不满产生原因： 1、压铸模温度太低； 2、金属液温度低； 3、压机压力太小， 4、金属液不足，压射速度太高； 5、空气排不出来。 调整方法：1、提高压铸模，金属液温度；2、更换大压力压铸机。3、加足够的金属液，减小压射速度，加大进料口厚度。 九、压铸件锐角处充填不满产生原因： 1、内浇口进口太大； 2、压铸机压力过小； 3、锐角处通气不好，有空气排不出来。 调整方法：1、减小内浇口。2、改换压力大的压铸机。3、改善排气系统 十、铸件结构疏松，强度不高产生原因： 1、压铸机压力不够； 2、内浇口太小； 3、排气孔堵塞。 原子荧光形态分析仪技术参数 1、用途与要求 根据元素形态分析的特殊要求设计的一体化机，可实现对包括色谱泵、消解系统、蒸气发生和检测系统的统一协同自动控制。同时具备砷（As）、汞（Hg）、硒（Se）、锑（Sb）等元素形态分析功能和砷（As）、锑（Sb）、铋（Bi）、汞（Hg）、硒（Se）、碲（Te）锗（Ge）、锡（Sn）、铅（Pb）、锌（Zn）、镉（Cd）等元素的总量分析功能。 2、技术性能指标要求 2.1 内置式管内在线消解装置：全封闭一体化结构，管内在线消解，无需氧化剂，大大缩短管路，避免柱后峰形展宽，提高仪器分析性能。 2.2 气液分离装置：降低进入原子荧光检测器的水汽含量，提高分析灵敏度，降低噪声，降低检测限。 2.3 专用的液相色谱和氢化物发生原子荧光光谱仪接口：可以把柱后流出液和氢化物发生液体混合。 2.4 配接专用的液相色谱-原子荧光检测软件，可以实现连续的检测，实时采集数据，实现软件的统一协同自动控制。 2.5 数据处理也可以直接配接色谱工作站，具有谱图处理功能，操作简单方便。 2.6 可检测的砷形态 可定性定量检测： 砷酸盐[As(V)]、亚砷酸盐[As(III)]、一甲基砷酸[MMA(V)]、二甲基砷酸[DMA(V)]、砷甜菜碱(AsB)、砷胆碱(AsC)、饲料中的有机砷制剂(阿散酸p-ASA和洛克沙生Roxarsone） 可定性半定量检测： 一甲基亚砷酸[MMA(III)]、二甲基亚砷酸[DMA(III)]、二甲基砷酸的硫代物 可定性检测： 砷糖(AsS） 以上均须有使用该型号仪器实际分析样品图谱举例。 2.7 可检测的硒形态 可定性定量检测： 亚硒酸盐[Se(IV)]、硒酸盐[Se(VI)]、硒代胱氨酸(SeCys)、硒甲基硒代半胱氨酸(SeMeCys)、硒代蛋氨酸(SeMet） 以上均须有使用该型号仪器实际分析样品图谱举例。 2.8 可检测的汞形态 可定性定量检测： 无机汞(Hg2+)、甲基汞(MetHg)、乙基汞(EtHg)、苯机汞(PhHg) 以上均须有使用该型号仪器实际分析样品图谱举例。 2.9可检测的锑形态 可定性定量检测： 锑酸盐[Sb(V)]、三价锑[Sb(III)] 以上均须有使用该型号仪器实际分析样品图谱举例。 2.10 技术指标 2.10.1、检出限： As（Ⅲ）＜0.04ng、DMA＜0.08 ng、MMA＜0.08 ng、As（Ⅴ）＜0.2 ng SeCys＜0.3 ng、SeMeCys＜1 ng、Se(IV) ＜0.1 ng、SeMet＜2 ng Hg(II) ＜0.05 ng、MeHg＜0.05 ng、EtHg＜0.05 ng、PhHg＜0.1 ng Sb(III) ＜0.1ng Sb(V) ＜0.5ng 2.10.2、精密度＜5% 2.10.3、线性范围三个数量级 2.10.4、相关系数：>0.999 3. 液相泵技术参数 3.1输送模式: 具有主动和辅助活塞的双柱塞输送泵，具有突出的流速稳定性； 3.2柱塞反冲: 虹吸自动冲洗； 3.3可更换泵头式设计，10ml与50ml泵头两种可选； 3.4.溶剂接触材料:宝石、PEEK和不锈钢； 3.5.流速范围: 10 ml 泵头0.001 –9.999 ml/min； 3.6.流量精度: <0.1%（1ml/min，12 MPa）； 压铸件常见缺陷和处理Last revision on 21 December 2020 铸件常见缺陷和处理 一、飞边： 飞边就是铸件在分型面上（或活动部位处）突出过多的金属薄片。产生的原因有： 1.压射前机器的调整、操作不合适。 2.模具及滑块损坏，闭锁原件损坏 3.模具镶块及滑块磨损 4.模具强度不够造成变形 5.分型面上杂物未清理干净 6.投影面积计算不正确，超过锁模力 二、气泡 铸件表面下，聚齐气体因热胀将表面鼓起的泡，称为气泡。产生的原因： 1.模具温度过高 2.金属液卷入气体过多 3.涂料过多，浇入前未燃净，使挥发气体被包在铸件表面。 4.排气不畅 5.开模过早 三、孔穴 孔穴包括气孔和缩孔 气孔，气孔有两种：一种是金属液卷入气体形成内表面光亮和光滑、形状较为规则的孔洞，另一种是合金熔炼 不正确或精炼不够，气体溶解于合金中。压铸时，激冷甚剧，凝固很快，溶于金属中的气体来不及析出，使金属内的气体留在铸件内形成孔洞。产生的原因有： 1.浇口位置选择和导流不当，导致金属液进入型腔产生正面撞击及漩涡。 2.流道形状设计不良， 3.压室充满度不够 4.内浇口速度太高，形成端流。 5.排气不畅 6.模具型腔位置太深 7.机械加工于量太大 8.涂料过多，在填充前未燃尽 9.炉料不干净，精炼不良 缩孔，铸件在凝固过程中，由于金属补充不足形成的暗色、形状不规则的孔洞。产生的原因有： 1.合金规范不合适，浇入温度过高 2.金属液过热时间太长 3.比压太低 4.余料柄太薄，最终补压不到作用 5.内浇口截面积过小（主要是厚度不够） 6.溢流槽位置不对或容量不够 本科毕业论文(设计）（２0１0届本科毕业生） 题目：基于任务的电子技术实验测评系统 ——考试子系统的设计与实现 学生姓名：周婧 学生学号： 学院名称: 物理科学与技术学院 专业名称：电子信息工程 指导教师：李柳 20１0年０5月2６日 物理科学与技术学院本科生毕业论文开题报告 前言 在技术逐渐渗入社会生活各个层面的今天，传统的考试方式也面临着变革,而电子技术实验测评考试则是一个很重要的方向。基于任务的电子测评系统考试子系统的技术可以借助于遍布全球的因特网进行,因此考试既可以在本地进行，也可以在异地进行，大大拓展了考试的灵活性。试卷可以根据题库中的内容即时生成,可避免考试前的压题;而且可以采用大量标准化试题，从而使用计算机判卷，大大提高阅卷效率；还可以直接把成绩送到数据库中,进行统计、排序等操作。所以现在较好的考试方法为电子技术实验测评考试,试题内容放在服务器上，考生通过姓名、准考证号码和口令进行登录，考试答案也存放在服务器中，这样考试的公平性、答案的安全性可以得到有效的保证。因此，采用电子技术实验测评考试方式将是以后考试发展的趋势。 电子技术实验测评考试系统的实现技术有多种，可以采用传统的客户机／服务器型的ＭIS型架构，即试题内容放在远程的服务器上,在考试机上安装考试应用程序和数据库客户机配置,因此每次考试时要对机器进行安装、配置，考务工作比较烦琐,而且考试程序放在客户机上，安全性也受到一定影响，因此本文讨论的电子技术实验测评考试系统采用电子技术实现。电子技术超越了传统的"客户机/服务器"两层结构，采用了三层体系结构：用户界面层/事务层／数据库层,因此电子结构有着更好的安全性，在用户机上不需要安装任何应用程序,应用程序可以安装在事务层所在的计算机上,试题存放在数据库服务器上，当然,事务层和数据库可以是同一台机器（如果条件允许,还是应该把这两层分开在不同的计算机上），所以，本文所讨论的考试系统采用电子技术实现。 压铸件常见缺陷及处理 一、飞边： 飞边就是铸件在分型面上（或活动部位处）突出过多的金属薄片。产生的原因有： 1.压射前机器的调整、操作不合适。 2.模具及滑块损坏，闭锁原件损坏 3.模具镶块及滑块磨损 4.模具强度不够造成变形 5.分型面上杂物未清理干净 6.投影面积计算不正确，超过锁模力 二、气泡 铸件表面下，聚齐气体因热胀将表面鼓起的泡，称为气泡。产生的原因： 1.模具温度过高 2.金属液卷入气体过多 3.涂料过多，浇入前未燃净，使挥发气体被包在铸件表面。 4.排气不畅 5.开模过早 三、孔穴 孔穴包括气孔和缩孔 气孔，气孔有两种：一种是金属液卷入气体形成内表面光亮和光滑、形状较为规则的孔洞，另一种是合金熔炼不正确或精炼不够，气体溶解于合金中。压铸时，激冷甚剧，凝固很快，溶于金属中的气体来不及析出，使金属内的气体留在铸件内形成孔洞。产生的原因有： 1.浇口位置选择和导流不当，导致金属液进入型腔产生正面撞击及漩涡。 2.流道形状设计不良， 3.压室充满度不够 4.内浇口速度太高，形成端流。 5.排气不畅 6.模具型腔位置太深 7.机械加工于量太大 8.涂料过多，在填充前未燃尽 9.炉料不干净，精炼不良 缩孔，铸件在凝固过程中，由于金属补充不足形成的暗色、形状不规则的孔洞。产生的原因有： 1.合金规范不合适，浇入温度过高 2.金属液过热时间太长 3.比压太低 4.余料柄太薄，最终补压不到作用 5.内浇口截面积过小（主要是厚度不够） 6.溢流槽位置不对或容量不够 7.铸件结构不合理，有热节部位，并且该处无法用溢流槽解决 8.铸件的壁厚变化太大 四、夹杂 夹杂又称为夹物、砂眼、夹渣。在铸件表面或内部形成不规则的孔穴部分或全部充塞着杂物，产生的原因有： 1.炉料不干净 2.合金精炼不够，熔渣未除净 3.舀取金属液时带入熔渣及金属氧化物 4.模具未清里干净 5.涂料中石墨太多 五、冷豆 冷豆也称铁豆，其表现是嵌在铸件表面，未和铸件完全融合的金属颗粒，产生的原因有： 1.浇注系统设置不当 2.填充速度过快 3.金属过早进入型腔 六、麻面 产生的原因是由于填充时，金属液分散成密集液滴，高速撞击型壁，结果形成具有强烈流向的细小、密集的麻点区域。 七、印痕 顶出原件引起：表现是在铸件表面上出现凹痕或凸痕，产生原因： 1.顶出原件调整不正确 2.推杆端部模损 3.推杆面积太小 4.开模过早 镶件或活动部分引起：表现在铸件平整的表面上出现阶梯痕迹，产生的原因有： 1.镶件部分松动 2.活动部分松动或磨损 3.镶件的侧壁表面由动定模互相穿插的镶件所形成 八、裂纹 铸件的基体被破坏或断开，形成细长的缝隙，呈不规则线性，在外力的作用下有发展的趋势，这种缺陷称为裂纹 原因： 铸件结构和形状引起的： 1.铸件的壁厚处与壁薄相接处转变剧烈 2.铸件上的转折处圆角不够 3.铸件上能安装推杆的位置不够，造成推杆分布不均衡 4.铸件设计上考虑不周收缩时产生应力而撕裂 模具的成型零件表面质量不好，装固不稳引起的： 1.成型表面沿出模方向有凹陷（或凹坑），铸件脱出撕裂 2.凸的成型表面其根部加工痕迹未能消除，铸件被撕裂 3.成型零件装固有偏斜，阻碍铸件脱出 顶出造成的： 1.模具的顶出原件安置不合理（位置或个数) 2.顶出机构偏斜，顶出力不均衡 3.模具的顶出机构与压铸机上的顶出器的连接不合理，或有歪斜，或动作不协调 4.顶动顶出时的机器顶杆长短不一致，液压顶出的顶棒长短不一致 合金的成分引起： 《电子技术基础》教学计划 《电子技术基础》是学习电子专业课的基础。注重电子元件的作用参数以及电路工作原理的学习，为了有计划、有目的的完成本学期的计划和教学任务，让学生学习专业课打下良好的基础，制订本学期的教学计划如下： 一、教学任务 1、完成第九章到第十一章的教学内容 2、了解数字电路特点及应用 3、理解逻辑门电路的逻辑功能，熟识其图形符号 4、能对TTL非门电路的工作原理进行简要分析，了解TTL与非门、异或门、集电极开路门、三态输出门的功能及典型应用 5、会应用公式法和卡诺图法对逻辑函数进行化简 6、了解组合逻辑电路的读图方法 7、会分析一般的编码器、译码器电路 二、教学重点与难点 （一）重点 1、逻辑电路及逻辑函数的化简 2、编码器、译码器电路的分析及设计 （二）难点 1、逻辑函数的化简 2、组合逻辑电路的设计 三、学生基本情况分析 经过一学期的接触，对学生的学习情况有了进一步的了解，学生成绩参差不齐，尖子生少，学困生较多，两级分化较突出。上课时学生的学习积极性不高，不够灵活，这就需要教师在教法和学生的学习方法上作进一步改进，让学生成为学习的主人，进行探究性的学习，从而培养学生的学习兴趣，启发思维，提高学习的积极性，培养良好的学习习惯及分析问题，解决问题的能力，加之，职专学生普遍基础较差，底子簿弱，教材难教难学，这就需要师生在本期倍加努力，分层施教，对少部分同学要提高要求，除掌握好基本概念基本规律外还应掌握分析数字电路的方法，并提高能力。对于大部分同学则重点掌握基本概念和基本规律，强调基础知识的掌握，为今后学习好专业打好基础才能达到预期的目的。 四、教学措施 1、在教学中，要根据不同的课程，用不同的方式去教学。在教学过程中，要尽量的引入一些新的信息让学生产生兴趣，并掌握一些手段。根据《电子技术基础》的特点，尽量的用课件做一些实验演示，让学生看到波形的产生过程，变换过程等来提高学生的想象力，以推动学生的纵向和横向发展。对于各章节的练习要辅导学生弄懂，让学生觉得实在学懂了，才会保持较为浓厚的学习兴趣，并强调各章节的学习指导对学习的作用，让学生能真实的感受到进步的喜悦。 2、在教学中，要根据不同的学生提出不同的要求而调整教学方法，去改变教学方式， 原子荧光法复习题 一、填空： 1.原子荧光分析中，荧光类型有、、、热助线荧光和敏化原子荧光等。 答案：共振荧光、直跃线荧光、阶跃线荧光 2.原子荧光光谱仪中，目前有和两类仪器。 答案：色散系统、非色散系统 3.七十年代末，由于、及各种高效原子化器的使用，AFS技术得到了较大发展。 答案：高强度空心阴极灯、激光器 4.荧光猝灭的程度与及有关。 答案：被测元素、猝灭剂的种类 5.在原子荧光分析中，原子浓度较高时容易发生，它可使荧光信号变化和荧光谱线，从而峰值强度。 答案：自吸、变宽、减少 6.在原子荧光分析中，无论是连续光源或者线光源，光源强度越高，其测量线性工作范围。答案：越宽 7.原子荧光光谱仪的检测部分主要包括、以及放大系统和输出装置。 答案：分光系统、光电转换装置 8.在原子荧光分析中，石英原子化器炉温过高会使降低、增高，但较高的炉温又有利于消除干扰，所以应根据实际情况确定原子化温度。 答案：灵敏度、噪声、气相 9.在原子荧光分析中，测定灵敏度随观测高度增加而，观测高度太低时，会增加，观测高度太高时，会使和下降。 答案：降低、噪声、灵敏度、精度 10.原子荧光光谱仪中，以供电的空心阴极灯，可以使增强几十至几百倍。 答案：脉冲、谱线 11.在原子荧光分析的实际工作中，会出现空白大于样品强度的情况，这是因为空白溶液中不存在的原因。 答案：荧光、干扰 12.在原子荧光分析中，样品分析时，标准溶液的应和样品完全一致，同时必须做。 答案：介质、空白 13.在原子荧光分析中，当光电倍增管的负高压增加时，和水平同时增加，当灵敏度可以满足要求时，应尽量采用的负高压。 答案：信号、噪声、较低 14. 原子荧光光谱仪一般由四部分组成：、、和。 答案：光源（激发光源）、原子化器、光学系统（单色仪）、检测器 15.石英原子化器的外屏蔽气是用以防止周围的进入，产生，以保证较高及稳定的。 第4章原子荧光光谱分析 4.1 原子荧光光谱的产生和特性 4.2 原子荧光光谱分析的定量关系 4.3 原子荧光光谱仪器 4.4 蒸气发生样品导入技术 4.5 蒸气发生-原子荧光光谱分析技术4.6 蒸气发生-原子荧光光谱分析的干扰4.7 蒸气发生-原子荧光测量要点 4.8 非蒸气发生原子荧光光谱分析技术 4.1 原子荧光光谱的产生和特性 原子荧光光谱分析法是上世纪60年代中期发展起来的一种新的痕量分析方法。 原子荧光光谱分析法具有很高的灵敏度，校正曲线的线性范围宽，能进行多元素同时测定。 在冶金、地质、石油、农业、生物医学、地球化学、材料科学、环境科学等各个领域内获得了相当广泛的应用。 气态自由原子处于基态，当吸收激发光源发出的一定频率的辐射能量后，原子由基态跃迁至高能态，即处于激发状态。处于激发态的原子很不稳定，在极短的时间(≈10-8s)内即会自发地释放能量返回到基态。若以辐射的形式释放能量，则所发射的特征光即为原子荧光。 原子荧光是光致发光，所以当激发光源停止照射之后，再发射过程立即停止。 4.1.2.1 共振荧光 共振荧光是指激发波长与发射波长相同的荧光。 由于原子的激发态和基态之间共振跃迁的概率一般比其他跃迁的概率大得多，所以共振跃迁产生的谱线是最有用的分析谱线。 当原子处于由热激发产生的较低的亚稳能级，则共振荧光也可从亚稳能级上产生：称为热助共振荧光。 4.1.2.2 非共振荧光 非共振荧光是指激发波长与发射波长不同的荧光。 （1）斯托克斯荧光 当发射荧光波长比激发光波长长时，即为斯托克斯荧光。 ①直跃线荧光 直跃线荧光是指激发谱线和荧光谱线的高能级相同的荧光。原子受到光辐射激发，从基态跃迁到较高的激发态，然后直接跃迁到能量高于基态的亚稳态能级，发射出波长比激发光波长要长的原子荧光。 类似的，当原子处于由热激发产生的较低亚稳能级，再通过吸收非共振线而激发的直跃线荧光称为热助直跃线荧光。 ②阶跃线荧光 阶跃线荧光是指当激发谱线和发射谱线的高能级不同时所产生的荧光，也分为正常阶跃线荧光和热助阶跃线荧光两类。 计算机历年试卷分析集团公司文件内部编码：（TTT-UUTT-MMYB-URTTY-ITTLTY- 计算机文化基础 主要讲述两大方面的内容：如何考试、如何复习 一、考试： A、参考教材：(石油大学出版社出版) 计算机文化基础（Windows 98） 计算机文化基础学习指导与上机实验（Windows 98） 计算机文化基础（Windows 2000） 计算机文化基础学习指导与上机实验（Windows 2000） B、考试形式：笔试， C、其中客观题占80分、主观题占20分。 1、判断题：10个小题， 2、每小题1分， 3、共10分 4、单选选择：50小题， 5、每小题1分， 6、共50分 7、多项选择：10小题，8、每小题2分，9、共20分 10、填空题：10小题，11、每小题2分，12、共20分 2005年试卷按章节统计结果： 章节 目标 第一章 第二章 第三章第四章第五章 判断题 题目数5 0 1 1 3 分值50113 单项选择 题目数15610910 分值15610910 多项选择 题目数43111 分值86222 填空题 题目数52111 分值104222 分值小计3816151417 其中，判断和单选题每小题1分，多选和填空题每小题2分，客观题占80分，主观题占20分 综合试卷、教材内容，结合本科目的特点，按照大纲的总体要求，命题人在出题时，考查的要点不外乎以下形式： 记忆：名词、快捷键 世界上第一台电子数字计算机是1946年在美国研制成功的，该机的英文缩写名是ENIAC。（04年单选） 在Internet上使用的网络协议是TCP/IP协议。（04年单选） CPU的中文名称是中央处理器。（04年单选） 计算机病毒的特点是：传染性、破坏性、潜伏性。（04年多选）1 原子荧光光谱法的基本原理
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