数字电子技术实验报告

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指导教师：

电气学院

实验一集成门电路逻辑功能测试

一、实验目的

1. 验证常用集成门电路的逻辑功能;

2. 熟悉各种门电路的逻辑符号;

3. 熟悉TTL集成电路的特点，使用规则和使用方法。

二、实验设备及器件

1. 数字电路实验箱

2. 万用表

3. 74LS00四2输入与非门1片74LS86四2输入异或门1片

74LS11三3输入与门1片74LS32四2输入或门1片

74LS04反相器1片

三、实验原理

集成逻辑门电路是最简单，最基本的数字集成元件，目前已有种类齐全集成门电路。TTL集成电路由于工作速度高，输出幅度大，种类多，不宜损坏等特点而得到广泛使用，特别对学生进行实验论证，选用TTL电路较合适，因此这里使用了74LS系列的TTL成路，它的电源电压为5V+10%,逻辑高电平“1”时＞2.4V，低电平“0”时＜0.4V。实验使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式，其管脚的识别方法为：将集成块的正面（印有集成电路型号标记面）对着使用者，集成电路上的标识凹口左，左下角第一脚为1脚，按逆时针方向顺序排布其管脚。

四、实验内容

㈠根据接线图连接，测试各门电路逻辑功能

1. 利用Multisim画出以74LS11为测试器件的与门逻辑功能仿真图如下