电子器件的老化筛选与检测

电子器件的老化筛选与检测
电子器件的老化筛选与检测

电子器件的老化筛选与检测

动手准备元器件之前,最好对照电路原理图列出所需元器件的清单。为了保证在试制的过程中不浪费时间,减少差错,同时也保证制成后的装置能长期稳定地工作,待所有元器件都备齐后,还必须对其筛选检测。

在正规的工业化生产中,都设有专门的元器件筛选检测车间,备有许多通用和专用的筛选检测装备和仪器,但对于业余电子爱好者来说,不可能具备这些条件,即使如此,也绝不可以放弃对元器件的筛选和检测工作,因为许多电子爱好者所用的电子元器件是邮购来的,其中有正品,也有次品,更多的是业余品或利用品,如在安装之前不对它们进行筛选检测,一旦焊入印刷电路板上,发现电路不能正常工作,再去检查,不仅浪费很多时间和精力,而且拆来拆去很容易损坏元件及印刷电路板。

一、外观质量检查

拿到一个电子元器件之后,应看其外观有无明显损坏。比如变压器,要看其所有引线有否折断,外表有无锈蚀,线包、骨架有无破损等。又如三极管,要看其外表有无破损,引脚有无折断或锈蚀,还要检查一下器件上的型号是否清晰可辨。对于电位器、可变电容器之类的可调元件,还要检查在调节范围内,其活动是否平滑、灵活,松紧是否合适,无机械噪声,手感好,并保证各触点接触良好。

各种不同的电子元器件都有自身的特点和要求,爱好者平时应多了解一些有关各元件的性能和参数、特点,积累经验。

二、电气性能的筛选

要保证试制的电子装置能够长期稳定地通电工作,并且经得起应用环境和其他可能因素的考验,这是对电子元器件的筛选必不可少的一道工序。所谓筛选,就是对电子元器件施加一种应力或多种应力试验,暴露元器件的固有缺陷而不破坏它的完整性。筛选的理论是:如果试验及应力等级选择适当,劣质品会失效,而优良品则会通过。人们在长期的生产实践中发现新制造出来的电子元器件,在刚投入使用的时候,一般失效率较高,叫做早期失效,经过早期失效后,电子元器件便进入了正常的使用期阶段,一般来说,在这一阶段中,电子元器件的失效率会大大降低。过了正常使用阶段,电子元器件便进入了耗损老化期阶段,那将意味着寿终正寝。这个规律,恰似一条浴盆曲线,人们称它为电子元器件的效能曲线。

电子元器件失效,是由于在设计和生产时所选用的原材料或工艺措施不当而引起的。元

器件的早期失效十分有害,但又不可避免。因此,人们只能人为地创造早期工作条件,从而在制成产品前就将劣质品剔除,让用于产品制作的元器件一开始就进入正常使用阶段,减少失效,增加其可靠性。

在正规的电子工厂里,采用的老化筛选项目一般有:高温存储老化;高低温循环老化;高低温冲击老化和高温功率老化等。其中高温功率老化是给试验的电子元器件通电,模拟实际工作条件,再加上+80℃~+180℃的高温经历几个小时,它是一种对元器件多种潜在故障都有检验作用的有效措施,也是目前采用得最多的一种方法。对于业余爱好者来说,在单件电子制作过程中,是不太可能采取这些方法进行老化检测的,在大多数情况下,采用了自然老化的方式。例如使用前将元器件存放一段时间,让电子元器件自然地经历夏季高温和冬季低温的考验,然后再来检测它们的电性能,看是否符合使用要求,优存劣汰。对于一些急用的电子元器件,也可采用简易电老化方式,用一台输出电压可调的脉动直流电源,使加在电子元器件两端的电压略高于元件额定值的工作电压,调整流过元器件的电流强度,使其功率为1.5~2倍额定功率,通电几分钟甚至更长时间,利用元器件自身的特性而发热升温,完成简易老化过程。

三、元器件的检测

经过外观检查以及老化处理后的电子元器件,还必须通过对其电气性能与技术参数的测量,以确定其优劣,剔除那些已经失效的元器件。当然,对于不同的电子元器件应有不同的测量仪器,但对于业余电子爱好者来说,一般不具备专用电子测量仪器的条件,但起码应有一块万用电表,利用万用电表可以对一些常用的电子元器件进行粗略检测。各种电子元器件涉及到的电性能参数很多,我们要根据业余制作牵涉到的必须要弄清楚的有关参数进行检测,而不必对该元器件的所有参数都一一检测。下面例举几种基本元器件的检测。

(1)电阻器

它是所有电子装置中应用最为广泛的一种元件,也是最便宜的电子元件之一。它是一种线性元件,在电路中的主要用途有限流、降压、分压、分流、匹配、负载、阻尼、取样等。

检测该元件时,主要看它的标称阻值与实际测量阻值的偏差程度。在大量的生产中,由于加工过程中各道工序对电阻器的作用,电阻器的实际值不可能做到与它的标称值完全一致,因此其阻值具有离散性,为了便于管理和组织生产,工程上按照使用的需要,给出了允许偏差值,如±5%、±10%、±20%。再加上万用电表检测电阻器时的误差,一般要求其误差不超过允许偏差的10%即认为合格。同时亦可通过外观检查综合判断其优劣。

(2)电容器

电容器也是电子装置中用得最多的电子元器件之一。它的质量好坏直接影响到整机的性能,同时也是容易失效的元件。在检查电容器时,如果电解电容器的贮存期超过了三年,可以认为该元件已经失效。有些电容器上没有出厂年限标志,外观则完好无损,肉眼很难判断出它的质量问题,因此就必须要对它进行检测。

电容器在电路中担任隔直、滤波、旁路、耦合、中和、退耦、调谐、振荡等。它的常见故障有击穿、漏电、失效(干涸)。用万用电表的欧姆档检查电容器是利用了电容器能够充放电原理进行的,这时应选用欧姆档的最高量程(R×1kΩ或R×10kΩ)来测量。当万用电表的两根表棒与电容器的两引脚相接时,表针先向顺时间方向偏转一个角度,此时称为电容器的充电,当充电到一定程度时,电容器又开始放电,此时万用电表的指针便返回到∞位置。在测量过程中,表针摆动的角度越大,说明所检测的电容器容量越大。表针返回后越接近∞处,说明所检测的电容器漏电越小,即所检测的电容器的质量越高。

测量电解电容器时,由于其引脚有正、负极之分,应将红表棒接电容器的负极,黑表棒接电容器的正极,这样测量出来的漏电电阻才是正确的。反接时一般漏电电阻要比正接时小,利用这一点,还可判断出无极性标志的电解电容器的极性。如果电容器的容量太小,如在4700P以下,就只能检查它是否漏电或击穿,如果在测量中,表针摆动一下回不到∞处,而是停留在0~∞处的中间某一位置上,说明该电容器漏电严重。在万用电表与被测小电容器之间加装一只NPN型硅三极管,要求其β值大于100,集电极-发射极之间的耐压应大于25V,ICEO越小越好。被测电容器接到A、B两端。由于三极管VT的电流放大作用,较小容量的电容器也能引起表针较大幅度的摆动,然后返回到∞位置,如不能返回到∞处的,则可估测出漏电电阻。

对于可变电容器、拉线电容器,亦可用万用电表检测出它们有否碰片或漏电、短路等。

(3)电感器

电感器是一种非线性元件,可以储存磁能。由于通过电感的电流值不能突变,所以,电感对直流电流短路,对突变的电流呈高阻态。电感器在电路中的基本用途有:扼流、交流负载、振荡、陷波、调谐、补偿、偏转等。利用万用电表对其进行检测时,即只能判断出它的直流电阻值,如果已经标明了数值的电感器,只要其直流电阻值大致符合,即可视为合格。

(4)晶体二极管

晶体二极管是一种非线性器件,它的正、反两个方向的电阻值相差悬殊,这就是二极管的单向导电性。在电路中,利用这一特性,可以作整流、检波、箝位、限幅、阻尼、隔离等。

用万用电表测量二极管时,可选用欧姆档R×1kΩ。由于二极管具有单向导电性,它的正、反向电阻是不相等的,两者阻值相差越大越好。对于常用的小功率二极管,反向电阻应比正向电阻大数百倍以上。用红表棒接二极管的正极,黑表棒接它的负极,测得的是反向电阻。反之,红表棒接二极管的负极,黑表棒接它的正极,测得的是正向电阻。二极管的正向电阻一般在100Ω~1kΩ左右;硅二极管的正向电阻一般在几百欧至几千欧。如果测得它的正、反向电阻都是无穷大,说明该二极管内部已开路;如果它的正、反向电阻均为0,说明二极管内部已短路;如果它的正、反向电阻相差无几,说明二极管的性能变差失效。出现以上三种情况的二极管均不能使用。

(5)晶体三极管

三极管是电子装置中的重要元件,它的质量优劣直接关系到系统工作的可靠性和稳定性,因此,它是最需要进行老化筛选的器件之一。已知一个三极管的型号和管脚排列,可采用如下简易测试法来判断它的性能。应该注意的是:对一般小功率低压三极管,不宜采用R×10kΩ档进行测试,以免表内的高电压损坏三极管。

可用万用表检查三极管的穿透电流大小。测量时注意PNP型和NPN型晶体管的接法。万用表的量程一般选用R×100或R×1kΩ档,要求测得的电阻值越大越好,对于中功率的锗管,此值应大于数千欧;对于硅管,此值应大于数百千欧。如果所测得的数值过小,说明管子的穿透电流大,管子的性能不好。如果测量时万用电表的表针摇摆不定,说明管子的稳定性很差。如果测得的阻值接近于零,说明管子内部已击穿短路,不能使用。

在检查三极管的放大性能β 值时,可以采用估测法。如果被测管是NPN型,可按此方法测试,如果被测管是PNP则按虚线方式连接。测量时表针应向右偏转,其偏转角度越大,说明管子的放大倍数β 越大。如果加上电阻R之后表针变化的角度不大或根本不变,则说明管子的放大作用很差或已经损坏。其R的阻值可在51~100kΩ范围内选取。也可能利用人手的电阻,用手捏住管子的c-b两极,但不要使它们短路,以手的皮肤电阻代替R。

对于结型场效应管,已知型号与管脚,如果用万用表测G(栅极)和S(源极)之间,G与D(漏极)之间没有PN结电阻,说明该管子已坏。用万用表的R×1kΩ档,表棒分别接在场效应管的S极和D极上,然后用手碰触管子的G极,若表针不动,说明管子不好;若表针有较大幅度的摆动,说明管子可用。以上所述的管子测量方法虽是粗略的,但一般都切实可行,如欲进行更严格的测量筛选,则宜使用专门的测试仪器。

(6)集成电路

集成电路的门类、品种很多,在业余条件下,电子爱好者似乎没有特别的测试方法,采

用万用表进行测量时,只能对照已知的集成块引脚数据,用测得的数据与已知的数据进行对比,从而判断出被测集成块的好坏。也可以搭一个简单的试验电路,将集成块插入电路中进行试验,如能完成某些功能或符合某种逻辑关系便可用。如对音乐集成电路进行测试,可先制作一个简易电路,留出音乐集成电路的插脚(或用夹子),将音乐集成电路置于电路中,如果发声正常则可使用,否则不可使用。如果有时间也乐于动手的话,不妨自制一些常用的集成电路的简易试验仪器,可方便日后的电子电路制作。

(7)其他电子元器件

常用的各种开关、接插件、发光二极管、扬声器、耳机等,主要用万用表检测它们的通断情况。对于发光二极管和扬声器、耳机,也可用电池组来试验其发光或发声程序,以此来判断其优劣。

常用电子元件的识别与检测1

《常用电子元件的识别与检测》 一、电阻 1、色环电阻 ⑴认识元件 ?符号单位:R ?作用:稳压、稳流、分压、分流 ?标称:1M Ω=1000K Ω=106Ω(兆欧/千欧/欧姆) ①阻值色标法。采用不同颜色的色环或点在电阻表面标出标称阻值和允许误差。各个角度都能看清楚。适合体积小的电阻采用 表1色环表示的意义 色标法分为四色环电阻器和五色环电阻器两种 四环电阻:普通电阻。第1、2环为阻值的有效数字,第3环为倍乘(即有效数字后所加的0的个数),第4环为偏差(通常为金色或银色),如图所示。 五环电阻:精密电阻。第1、2、3环为阻值的有效数字,第4环为倍乘数,第5环为偏差(通常最后一条与前面四条之间距离较大),如图示 第一棕环表示1,第二黑环表示0,第 三棕环表示加1个0,第四金环表示±5%的误差。 该电阻的阻值为1 0 0 Ω±5% 第一黄环表示4,第二紫环表示7,第三黑环表示0,第四棕环表示1,第五 棕环表示±1%的误差。 该电阻的阻值为4703101 Ω±1%

②阻值直标法。在电阻的表面直接用数字和单位符号标出电阻的标称阻值,其允许误差直接用百分数表示。一目了然,不适合体积小的电阻采用。 ③电阻额定功率。有电流流过时,电阻器便会发热,而温度过高时电阻器将会因功率不够而烧毁。所以不但要选择合适的电阻值,而且还要正确选择电阻器的额定功率。在电路图中,不加功率标注的电阻器通常为1/8W。不同功率电阻器的体积是不同的,一般来说,电阻器的功率越大体积就越大。 ⑵检测 一看:外形是否端正,阻值标称是否清晰完好 二测:万用表的电阻档进行测量。先根据色环判断电阻的大约阻值,再选择不同的电阻档位进行测量,指针要尽量靠近电阻刻度尺的中间。如果阻值为0或是∞,该电阻已经损坏。 注意:测量时不能带电测量,不能用俩手同时去接触电阻两管脚(或表笔的金属部分),以防将人体电阻并联在被测电阻两端,影响测量结果。 2、电位器(可调电阻) ⑴认识元件 2符号:RP ?作用:通过旋转轴或滑动臂来调节阻值。阻值变化范围为0~R。 ?标称:多采用阻值直标法。 ⑵检测 一看:外形是否端正,阻值标称是否清晰完好,转轴是否灵活,松紧是否适当。 二测:测标称阻值和测电阻变化 ①根据标称选择好万用表电阻挡的量程。 ②先按图a所示方法测“1”、“3”两端,其读数应为电位器的标称阻值。 ③测“1”、“2”或“3”、“2”两端,如图b所示。将电位器的转轴逆时针 旋转,指标应平滑移动,电阻值逐渐减小;若将电位器的转轴顺时针旋 转,电阻值应逐渐增大,直至接近电位器的标称值。 ④如在检测过程中,万用表指标有断续或跳动现象,说明该电位器存在着 活动触点接触不良和阻值变化不匀问题。

常用电力电子器件特性测试

实验二:常用电力电子器件特性测试 (一)实验目的 (1)掌握几种常用电力电子器件(SCR、GTO、MOSFET、IGBT)的工作特性;(2)掌握各器件的参数设置方法,以及对触发信号的要求。 (二)实验原理 图1.MATLAB电力电子器件模型 MATLAB电力电子器件模型使用的是简化的宏模型,只要求器件的外特性与实际器件特性基本相符。MATLAB电力电子器件模型主要仿真了电力电子器件的开关特性,并且不同电力电子器件模型都具有类似的模型结构。 模型中的电阻Ron和直流电压源Vf分别用来反映电力电子器件的导通电阻和导通时的门槛电压。串联电感限制了器件开关过程中的电流升降速度,模拟器件导通或关断时的动态过程。MATLAB电力电子器件模型一般都没有考虑器件关断时的漏电流。 在MATLAB电力电子器件模型中已经并联了简单的RC串联缓冲电路,在参数表中设置,名称分别为Rs和Cs。更复杂的缓冲电路则需要另外建立。对于MOSFET模型还反并联了二极管,在使用中要注意,需要设置体内二极管的正向压降Vf和等效电阻Rd。对于GTO和IGBT需要设置电流下降时间Tf和电流拖尾时间Tt。 MATLAB的电力电子器件必须连接在电路中使用,也就是要有电流的回路,

但是器件的驱动仅仅是取决于门极信号的有无,没有电压型和电流型驱动的区别,也不需要形成驱动的回路。尽管模型与实际器件工作有差异,但使MATLAB电力电子器件模型与控制连接的时候很方便。MATLAB的电力电子器件模型中含有电感,因此具有电流源的性质,所以在模块参数中还包含了IC即初始电流项。此外也不能开路工作。 含电力电子模型的电路或系统仿真时,仿真算法一般采用刚性积分算法,如ode23tb、ode15s。电力电子器件的模块上,一般都带有一个测量输出端口,通过输出端m可以观测器件的电压和电流。本实验将电力电子器件和负载电阻串联后接至直流电源的两端,给器件提供触发信号,使器件触发导通。 (三)实验内容 (1)在MATLAB/Simulink中构建仿真电路,设置相关参数。 (2)改变器件和触发脉冲的参数设置,观察器件的导通情况及负载端电压、器件电流的变化情况。 (四)实验过程与结果分析 1.仿真系统 Matlab平台 2.仿真参数 (1)Thyristor参数设置: 直流源和电阻参数:

电路板老化标准

电路板老化标准 为了达到满意的合格率,几乎所有产品在出厂前都要先藉由老化。制造商如何才能够在不缩减老化时间的条 件下提高其效率?本文介绍在老化过程中进行功能测试的新方案,以降低和缩短老化过程所带来的成本和时间问题。 在半导体业界,器件的老化问题一直存在各种争论。像其它产品一样,半导体随时可能因为各种原因而出现故障,老化就是藉由让半导体进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现,避免在使用早期发生故障。如果不藉由老化,很多半导体成品由于器件和制造制程复杂性等原因在使用中会产生很多问题。 在开始使用后的几小时到几天之内出现的缺陷(取决于制造制程的成熟程度和器件总体结构)称为早期故障,老化之后的器件基本上要求100%消除由这段时间造成的故障。准确确定老化时间的唯一方法是参照以前收集到的老化故障及故障分析统计数据,而大多数生产厂商则希望减少或者取消老化。 老化制程必须要确保工厂的产品 满足用户对可靠性的要求,除此之外, 它还必须能提供工程数据以便用来改 进器件的性能。 一般来讲,老化制程藉由工作环 境和电气性能两方面对半导体器件进 行苛刻的试验使故障尽早出现,典型 的半导体寿命曲线如右图。由图可见, 主要故障都出现在器件寿命周期开始 和最后的十分之一阶段。老化就是加 快器件在其寿命前10%部份的运行过 程,迫使早期故障在更短的时间内出 现,通常是几小时而不用几月或几年。 不是所有的半导体生 产厂商对所有器 件都需要进行老化。普通器件制造由 于对生产制程比较了解,因此可以预先掌握藉由统计得出的失效预计值。如果实际故障率高于预期值,就需要再作老化,提高实际可靠性以满足用户的要求。 本文介绍的老化方法与 10 年前几乎一样,不同之处仅仅在于如何更好地利用老化时间。提高温度、增加动态信号输入以及把工作电压提高到正常值以上等等,这些都是加快故障出现的通常做法;但如果在老化过程中进行测试,则老化成本可以分摊一部份到功能测试上,而且藉由对故障点的监测还能收集到一些有用信息,从总体

电力电子自我测试题2

方多系曲尤<200/200学年第学期考试题(卷)宀 子 签 审 任 主 ) 系 ( 室 研 教 师教题命 记 标 何 任 作 准 不 内 以 线 订订 名 姓 装 一号 学 一、选择填空题:下列各题每题有一个最优答案,任选10题,并在空格中填入答案序号多做按错的计分(每小题6分,共60分)0 1.普通晶闸管是 A. B . C. D. 一二极四层结构的 一三极三层结构的 一三极四层结构的 一五极四层结构的 PN型器件,它具有单向导电性。 PNP型器件,它具有双向导电性。 PNPN型器件,它具有单向导电性。 PNPNP型器件,它不具有双向导电性。 2.三相整流电路,共阳极组与共阴极组接法晶闸管的触发控制角 A.不同,相位相差120° C.有点区别,但差别不大 B.相同 a计算的起 点 D.不同,相位相差180° 3.单向桥式全控整流电路电阻负载时,输出直流电压Ud的计算公式 A. B . C . D . U d U d U d U d O.225U2(1 O.45U2(1 O.225U2(1 O.225U2(1 COS ),此时晶闸管导通角为 COS ),此时晶闸管导通角为 COS ),此时晶闸管导通角为2 。 COS ),此时晶闸管导通角为 4.三相半波可控整流电路,电阻负载下 A. a > 30o后电流不连续,此 时 B . 60o后电流不连续,此时 C . > 90°后电流不连续,此 时 D . a > 60°后电流不连续,此 时 O.675U2[1 COS(- 6 ) ] O.765U2[1 COS(- 6 )] O.655U2[1 COS(- 6 )] O.675U2[1 COS(- ) ] U d U d U d U d

大工14秋电力电子技术在线测试1答案

一、单选题(共 6 道试题,共 30 分。) V 1. 全控型器件在较高频率下工作,当器件关断时,因正向电流的迅速降低而由线路电感在器 件两端感应出的过电压称为()。 A. 操作过电压 B. 雷击过电压 C. 换相过电压 D. 关断过电压 满分:5 分 2. 电力电子器件采用的主要材料是()。 A. 铁 B. 钢 C. 银 D. 硅 满分:5 分 3. 使IGBT开通的栅射极间驱动电压一般取()V。 A. (-5)-(-15) B. 10-15 C. 15-20 D. 20-25 满分:5 分 4. ()是将电力MOSFET与晶闸管SCR组合而成的复合型器件。 A. MCT B. SIT C. SITH D. IGCT 满分:5 分 5. 电力二极管的最高工作结温通常在()℃之间。

A. 0-100 B. 50-125 C. 100-175 D. 125-175 满分:5 分 6. 电力场效应晶体管的英文表示为()。 A. GTO B. GTR C. 电力MOSFET D. IGBT 满分:5 分 二、多选题(共 6 道试题,共30 分。) V 1. GTR的主要特性是()。 A. 耐压低 B. 耐压高 C. 电流大 D. 电流小 满分:5 分 2. 下列哪些是对触发脉冲和脉冲触发电路的要求?() A. 触发脉冲有足够的幅值 B. 触发脉冲波形有一定的宽度 C. 触发脉冲功率足够 D. 触发电路有良好的抗干扰性能 满分:5 分 3. 下列属于晶闸管的派生器件的是()。 A. 快速晶闸管

B. 双向晶闸管 C. 逆导晶闸管 D. 光控晶闸管 满分:5 分 4. 晶闸管门极说法正确的是()。 A. 可以控制其导通 B. 可以控制其关断 C. 不能控制其导通 D. 不能控制其关断 满分:5 分 5. 下列是常用的过电流保护措施的是()。 A. 快速熔断器 B. 直流快速断路器 C. 过电流继电器 D. 以上都不正确 满分:5 分 6. 下列不是电力电子器件并联均流措施的是()。 A. 尽量采用特性一致的元器件进行并联 B. 尽量采用特性不一致的元器件进行并联 C. 安装时尽量使各并联器件具有对称的位置 D. 安装时不能使各并联器件具有对称的位置 满分:5 分 三、判断 1~8 ABBAABBB

电子元器件老化标准

一、外观质量检查 拿到一个电子元器件之后,应看其外观有无明显损坏。比如变压器,要看其所有引线有否折断,外表有无锈蚀,线包、骨架有无破损等。又如三极管,要看其外表有无破损,引脚有无折断或锈蚀,还要检查一下器件上的型号是否清晰可辨。对于电位器、可变电容器之类的可调元件,还要检查在调节范围内,其活动是否平滑、灵活,松紧是否合适,无机械噪声,手感好,并保证各触点接触良好。 各种不同的电子元器件都有自身的特点和要求,爱好者平时应多了解一些有关各元件的性能和参数、特点,积累经验。 二、电气性能的筛选 要保证试制的电子装置能够长期稳定地通电工作,并且经得起应用环境和其他可能因素的考验,这是对电子元器件的筛选必不可少的一道工序。所谓筛选,就是对电子元器件施加一种应力或多种应力试验,暴露元器件的固有缺陷而不破坏它的完整性。筛选的理论是:如果试验及应力等级选择适当,劣质品会失效,而优良品则会通过。人们在长期的生产实践中发现新制造出来的电子元器件,在刚投入使用的时候,一般失效率较高,叫做早期失效,经过早期失效后,电子元器件便进入了正常的使用期阶段,一般来说,在这一阶段中,电子元器件的失效率会大大降低。过了正常使用阶段,电子元器件便进入了耗损老化期阶段,那将意味着寿终正寝。这个规律,恰似一条浴盆曲线,人们称它为电子元器件的效能曲线。 电子元器件失效,是由于在设计和生产时所选用的原材料或工艺措施不当而引起的。元器件的早期失效十分有害,但又不可避免。因此,人们只能人为地创造早期工作条件,从而在制成产品前就将劣质品剔除,让用于产品制作的元器件一开始就进入正常使用阶段,减少失效,增加其可靠性。 在正规的电子工厂里,采用的老化筛选项目一般有:高温存储老化;高低温循环老化;高低温冲击老化和高温功率老化等。其中高温功率老化是给试验的电子元器件通电,模拟实际工作条件,再加上+80℃~+180℃的高温经历几个小时,它是一种对元器件多种潜在故障都有检验作用的有效措施,也是目前采用得最多的一种方法。对于业余爱好者来说,在单件电子制作过程中,是不太可能采取这些方法进行老化检测的,在大多数情况下,采用了自然老化的方式。例如使用前将元器件存放一段时间,让电子元器件自然地经历夏季高温和冬季低温的考验,然后再来检测它们的电性能,看是否符合使用要求,优存劣汰。对于一些急用的电子元器件,也可采用简易电老化方式,用一台输出电压可调的脉动直流电源,使加在电子元器件两端的电压略高于元件额定值的工作电压,调整流过元器件的电流强度,使其功

电力电子器件特性和驱动实验一

实验三 常用电力电子器件的特性和驱动实验 一、实验目的 (1) 掌握常用电力电子器件的工作特性。 (2) 掌握常用器件对触发MOSFET 、信号的要求。 (3) 理解各种自关断器件对驱动电路的要求。 (4) 掌握各种自关断器件驱动电路的结构及特点。 (5) 掌握由自关断器件构成的PWM 直流斩波电路原理与方法。 二、预习内容 (1) 了解SCR 、GTO 、GTR 、MOSFET 、IGBT 的结构和工作原理。 (2) 了解SCR 、GTO 、GTR 、MOSFET 、IGBT 有哪些主要参数。 (3) 了解SCR 、GTO 、GTR 、MOSFET 、IGBT 的静态和动态特性。 (4)阅读实验指导书关于GTO 、GTR 、MOSFET 、IGBT 的驱动原理。 三、实验所需设备及挂件 四、实验电路原理图 1、SCR 、GTO 、MOSFET 、GTR 、IGBT 五种特性实验原理电路如下图X-1所示: 图 X-1特性实验原理电路图 X-2虚框中五种器件的1、2、3标号连接示意图 三相电网电压

2、GTO、MOSFET、GTR、IGBT四种驱动实验原理电路框图如下图X-3所示: 图X-3 GTO、MOSFET、GTR、IGBT四种驱动实验原理电路框图 3、GTO、MOSFET、GTR、IGBT四种驱动实验的流程框图如图X-4 图X-4 GTO、MOSFET、GTR、IGBT四种驱动实验的流程框图 五、实验内容 1、SCR、GTO、MOSFET、GTR、IGBT 五种器件特性的测试 2、GTO、MOSFET、GTR、IGBT驱动电路的研究。 六、注意事项 (1)注意示波器使用的共地问题。 (2)每种器件的实验开始前,必须先加上器件的控制电压,然后再加主回路的电源;实验结束时,必须先切断主回路电源,然后再切断控制电源。 (3)驱动实验中,连接驱动电路时必须注意各器件不同的接地方式。 (4)不同的器件驱动电路需接不同的控制电压,接线时应注意正确选择。 七、实验方法与步骤 1、SCR、GTO、MOSFET、GTR、IGBT 五种器件特性的测试 1)关闭总电源,按图X-5的框图接主电路 图X-5实验接线框图

老化测试老化试验

老化测试老化试验 老化检测是可靠性检测的一部分,是模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程。 主要通过使用各种环境试验设备模拟气候环境中的高温、低温、高温高湿以及温度变化等情况,加速激发产品在使用环境中可能发生的失效,来验证其是否达到在研发、设计、制造中的预期的质量目标,从而对产品整体进行评估,以确定产品可靠性寿命。老化检测正是可靠性测试的重要部分。 一、主要的测试范围包括: 材料寿命推算 冷热冲击 盐雾测试 快速温变 老化检测气候老化(自然气候暴晒试验,人工气候老化) 紫外老化检测 臭氧老化检测 老化试验湿热老化检测 氙灯老化检测 碳弧灯老化检测 二、重点检测项目 1、紫外老化检测 采用荧光紫外灯为光源(有UVA,UVB不同型号灯源),通过模拟自然阳光中的紫外辐射和冷凝,对材料进行加速耐气候性试验,以获得材料耐候性的结果。 紫外老化测试,可以再现阳光、雨水和露水所产生的破坏。设备通过将待测材料曝晒放在经过控制的阳光和湿气的交互循环中,同时提高温度的方式来进行试验。试验设备采用紫外线荧光灯模拟阳光,同时还可以通过冷凝或

喷淋的方式模拟湿气影响。用来评估材料在颜色变化、光泽、裂纹、起泡、催化、氧化等方面的变化。 紫外老化试验机并不模拟全光谱太阳光,但是却模拟太阳光的破坏作用。通过把荧光灯管的主要辐射控制在太阳光谱的紫外波段来实现。这种方式是有效的,因为短波紫外线是造成户外材料老化的最主要因素。 2、盐雾老化检测 盐雾试验是一种主要利用盐雾试验设备所创造的人工模拟盐雾环境条件来考核产品或金属材料耐腐蚀性能的环境试验。 盐雾试验分为:天然环境暴露试验;人工加速模拟盐雾环境试验。 人工模拟盐雾试验: 包括中性盐雾试验、醋酸盐雾试验、铜盐加速醋酸盐雾试验、交变盐雾试验。 3、臭氧老化检测 臭氧老化就是将试样暴露于密闭无光照的含有恒定臭氧浓度的空气和恒温的试验箱中,按预定时间对试样进行检测,从试样表面发生的龟裂或其它性能的变化程度,以评定试样的耐臭氧老化性能。 臭氧老化分为静态拉伸测试和动态拉伸测试,在这个测试中臭氧浓度、温度、试样定伸比是非常重要的三个参数。 4、湿热老化检测 湿热老化检测适用于可能在温暖潮湿的环境中使用的产品,湿度试验、恒定湿热、交变湿热,是可靠性测试的一种。 试验的目的:检验产品对温暖潮湿的环境的适应能力。对塑性材料、PCB、PCBA多孔性材料或成品等而言,各种不同材料对温度与湿气有不同形态之物理反应,温度所产生效应多为塑性变形或产品过温或低温启动不良等等,多孔性材料在湿度环境下会应毛细孔效应而出现表面湿气吸附,渗入、凝结等情形,在低湿环境中会因静电荷累积效应诱发产品出现失效。 常见湿度效应:物理强度的丧失、化学性能的改变、绝缘材料性能的退化、电性短路、金属材料氧化腐蚀、塑性的丧失、加速化学反应、电子组件的退化等现象。

电力电子模拟测试试卷(附答案)

一、填空题(本题共8小题,每空1分,共20分) 1、电子技术包括_信息电子技术__和电力电子技术两大分支,通常所说的模拟电子技术和数字电子技术就属于前者。 2、为减少自身损耗,提高效率,电力电子器件一般都工作在―开关 _______ 状态。当器件的工作频率较高时,__ 开关______损耗会成为主要的损耗。 3、在PWM控制电路中,载波频率与调制信号频率之比称为___________ 载波比__________ ,当它为常数时的调制方式称 为—同步________ 调制。在逆变电路的输出频率范围划分成若干频段,每个频段内载波频率与调制信号频率之 比为桓定的调制方式称为_______ 分段同步_________ 调制。 4、面积等效原理指的是,—冲量________ 相等而—形状—不同的窄脉冲加在具有惯性的环节上时,其效果基本相 同。 5、在GTR、GTO、IGBT与MOSFET中,开关速度最快的是___________ M OSFET________ ,单管输出功 率最大的是___ GTO _______________ 应用最为广泛的是_______ IGBT __________ 。 6设三相电源的相电压为U2,三相半波可控整流电路接电阻负载时,晶闸管可能承受的最大反向电压为电源线电压的峰值,即—■' ■亠 ____________ ,其承受的最大正向电压为: I _ ■ 7、逆变电路的负载如果接到电源,则称为________ 有源____ 逆变,如果接到负载,则称为_______ 无源—逆变。 &如下图,指岀单相半桥电压型逆变电路工作过程中各时间段电流流经的通路(用V1,VD1,V2,VD2 表示)。 (1) 0~t1时间段内,电流的通路为—VD1 __________ ; (2) t1~t2时间段内,电流的通路为—V1 _________ ; (3) t2~t3时间段内,电流的通路为—VD2 _________ ; (4) t3~t4时间段内,电流的通路为—V2 _________ ; (5) t4~t5 时间段内,电流的通路为—VD1 ________ ;

电子元器件检验方法

电子元器件检测方法 元器件的检测是家电维修的一项基本功,如何准确有效地检测元器件的相关参数,判断元器件的是否正常,不是一件千篇一律的事,必须根据不同的元器件采用不同的方法,从而判断元器件的正常与否。特别对初学者来说,熟练掌握常用元器件的检测方法和经验很有必要,以下对常用电子元器件的检测经验和方法进行介绍供对考。 一、电阻器的检测方法与经验: 1 固定电阻器的检测。 A 将两表笔(不分正负)分别与电阻的两端引脚相接即可测出实际电阻值。为了提高测量精度,应根据被测电阻标称值的大小来选择量程。由于欧姆挡刻度的非线性关系,它的中间一段分度较为精细,因此应使指针指示值尽可能落到刻度的中段位置,即全刻度起始的20%~80%弧度范围内,以使测量更准确。根据电阻误差等级不同。读数与标称阻值之间分别允许有±5%、±10%或±20%的误差。如不相符,超出误差范围,则说明该电阻值变值了。 B 注意:测试时,特别是在测几十kΩ以上阻值的电阻时,手不要触及表笔和电阻的导电部分;被检测的电阻从电路中焊下来,至少要焊开一个头,以免电路中的其他元件对测试产生影响,造成测量误差;色环电阻的阻值虽然能以色环标志来确定,但在使用时最好还是用万用表测试一下其实际阻值。 2 水泥电阻的检测。检测水泥电阻的方法及注意事项与检测普通固定电阻完全相同。 3 熔断电阻器的检测。在电路中,当熔断电阻器熔断开路后,可根据经验作出判断:若发现熔断电阻器表面发黑或烧焦,可断定是其负荷过重,通过它的电流超过额定值很多倍所致;如果其表面无任何痕迹而开路,则表明流过的电流刚好等于或稍大于其额定熔断值。对于表面无任何痕迹的熔断电阻器好坏的判断,可借助万用表R×1挡来测量,为保证测量准确,应将熔断电阻器一端从电路上焊下。若测得的阻值为无穷大,则说明此熔断电阻器已失效开路,若测得的阻值与

电力电子技术期末复习考试题及其答案

第一章复习题 1.使晶闸管导通的条件是什么? 答:当晶闸管承受正向电压时,仅在门极有触发电流的情况下晶闸管才能导通。 2.维持晶闸管导通的条件是什么?怎样才能使晶闸管由导通变为关断? 答:(1)维持晶闸管导通的条件是使晶闸管的电流大于能保持晶闸管导通的最小电流,即维持电流。 (2)若要使已导通的晶闸管关断,只能利用外加电压和外电路的作用使流过晶闸管的电流降到接近于零的某一数值以下,即降到维持电流以下,便可使导通的晶闸管关断。 3.GTO和普通晶闸管同为PNPN结构,为什么GTO能够自关断,而普通晶闸管不能? 答:(1)GTO在设计时,a2较大,这样晶体管v2控制灵敏,易于GTO关断; (2)GTO导通时a1+a2的更接近于1,普通晶闸管a1+a2≥1.5,而GTO则为约等于1.05,GTO的饱和程度不深,接近于临界饱和,这样为门极控制提供了有利条件; (3)多元集成结构每个GTO元阴极面积很小,门极和阴极间的距离大为缩短,使得p2极区所谓的横向电阻很小,从而使从门极抽出较大的电流成为可能。 4.如何防止电力MOSFET因静电感应引起的损坏? 答:(1)一般在不用时将其三个电极短接; (2)装配时人体,工作台,电烙铁必须接地,测试时所有仪器外壳必须接地; (3)电路中,栅,源极间常并联齐纳二极管以防止电压过高。 (4)漏,源极间也要采取缓冲电路等措施吸收过电压。 5.IGBT,GTR,GTO和电力MOSFET的驱动电路各有什么特点? 答:IGBT驱动电路的特点是:驱动电路具有较小的输出电阻,IGBT是电压驱动型器件,IGBT 的驱动多采用专用的混合集成驱动器。 GTR驱动电路的特点是:驱动电路提供的驱动电流有足够陡的前沿,并有一定的过冲,这样可加速开通过程,减小开通损耗,关断时,驱动电路能提供幅值足够大的反向基极驱动电流,并加反偏截止电压,以加速关断速度。 GTO驱动电路的特点是:GTO要求其驱动电路提供的驱动电流的前沿应有足够的幅值和陡度,且一般需要在整个导通期间施加正门极电流,关断需施加负门极电流,幅值和陡度要求更高,其驱动电路通常包括开通驱动电路,关断驱动电路和门极反偏电路三部分。 电力MOSFET驱动电路的特点:要求驱动电路具有较小的输入电阻,驱动功率小且电路简单。 6.全控型器件的缓冲电路的主要作用是什么?试分析RCD缓冲电路中各元件的作用。 答:全控型器件缓冲电路的主要作用是抑制器件的内因过电压,du/dt或过电流和di/dt,

电子元器件可靠性试验规范

德信诚培训网 更多免费资料下载请进:https://www.360docs.net/doc/bd16260129.html, 好好学习社区 电子元器件可靠性试验规范 目 录 4.1 高温反向偏压试验 ------------------------------------ 第4页 4.2 压力蒸煮试验 ------------------------------------ 第6页 4.3 正向工作寿命试验 ------------------------------------ 第7页 4.4 高温储存试验 ------------------------------------ 第8页 4.5 低温储存试验 ------------------------------------ 第9页 4.6 温度循环试验 ------------------------------------ 第10页 4.7 温度冲击试验 ------------------------------------ 第11页 4.8 耐焊接热试验 ------------------------------------ 第12页 4.9 可焊性度试验 ------------------------------------ 第13页 4.10 拉力试验 ------------------------------------ 第14页 4.11 弯曲试验 ------------------------------------ 第15页 4.12 稳态湿热试验 ------------------------------------ 第18页 4.13 变温变湿试验 ------------------------------------ 第20页 4.14 正向冲击电流(浪涌电流)试验 -------------------------- 第23页

常用电力电子元器件的测试和判断

部分电子器件的测试和判断方法 1、二极管和桥堆 二极管的检测是用万用表的二极管档测PN结的压降,二极管的正极是PN结的正端,负极是PN结的负端。PN结的正向压降约为0.3—0.8V,反向为∞。桥堆的检测和二极管一样,分别测四个二极管的好坏,若其中有一个坏的,则桥堆是坏的。 2、三极管 三极管有NPN型和PNP型,用万用表的二极管档测两个PN结的压降,可粗略判断三极管的好坏,PN结的正向压降约为0.2—0.7V,反向为∞。也可以测三极管的放大倍数,数值为0或∞的管子一般是坏的。三极管的损坏形式一般是b-e结击穿,严重时连c-b结也击穿。 3、MOS管 场效应管(常用MOS管)有N沟道型和P沟道型,测试时用万用表的二极管档,栅极(G)对源极(S)和漏极(D)是双向绝缘的(数值为∞);S对D相当于一个PN结(P沟道型为D对S),测试时可参照PN结的测试。MOS管的损坏形式一般是D-S结击穿,严重时连G-S绝缘也击穿。 4、IGBT IGBT模块可通过测量G-E间的结电容来判断,模块的G-E结电容与它的耐流值有关,一般好的100A以下模块G-E结电容在4~20nF间,100A以上模块的G-E结电容可能超过20nF。我们也可以通过测量模块G-E、G-C、C-E的电阻来判断,常见模块的损坏形式是G-E击穿或C-E击穿。 5、变压器 变压器的损坏一般是匝间短路或开路。开路的情况可以用万用表测量;对于短路情况,我们可以在它的高压端加交流市电,然后测它的空载损耗和或副边电压来判断它的好坏。对于小变压器而言,损坏较多的情况还是原边开路。 6、电容 温度升高而形成恶性循环,继而膨胀、失效。有些损坏的电容可从外观上来判断, 膨胀、变形或出现漏液的电容一般是坏的。电容也可以万用表来测量,对于容值较小的,可 以用万用表的电容档测其容值,偏差不大的电容是好的;对于容值较大的电容,可用万用表

电子元器件老化标准审批稿

电子元器件老化标准 YKK standardization office【 YKK5AB- YKK08- YKK2C- YKK18】

一、外观质量检查 拿到一个电子元器件之后,应看其外观有无明显损坏。比如变压器,要看其所有引线有否折断,外表有无锈蚀,线包、骨架有无破损等。又如三极管,要看其外表有无破损,引脚有无折断或锈蚀,还要检查一下器件上的型号是否清晰可辨。对于电位器、可变电容器之类的可调元件,还要检查在调节范围内,其活动是否平滑、灵活,松紧是否合适,无机械噪声,手感好,并保证各触点接触良好。 各种不同的电子元器件都有自身的特点和要求,爱好者平时应多了解一些有关各元件的性能和参数、特点,积累经验。 二、电气性能的筛选 要保证试制的电子装置能够长期稳定地通电工作,并且经得起应用环境和其他可能因素的考验,这是对电子元器件的筛选必不可少的一道工序。所谓筛选,就是对电子元器件施加一种应力或多种应力试验,暴露元器件的固有缺陷而不破坏它的完整性。筛选的理论是:如果试验及应力等级选择适当,劣质品会失效,而优良品则会通过。人们在长期的生产实践中发现新制造出来的电子元器件,在刚投入使用的时候,一般失效率较高,叫做早期失效,经过早期失效后,电子元器件便进入了正常的使用期阶段,一般来说,在这一阶段中,电子元器件的失效率会大大降低。过了正常使用阶段,电子元器件便进入了耗损老化期阶段,那将意味着寿终正寝。这个规律,恰似一条浴盆曲线,人们称它为电子元器件的效能曲线。 电子元器件失效,是由于在设计和生产时所选用的原材料或工艺措施不当而引起的。元器件的早期失效十分有害,但又不可避免。因此,人们只能人为地创造早期工作条件,从而在制成产品前就将劣质品剔除,让用于产品制作的元器件一开始就进入正常使用阶段,减少失效,增加其可靠性。 在正规的电子工厂里,采用的老化筛选项目一般有:高温存储老化;高低温循环老化;高低温冲击老化和高温功率老化等。其中高温功率老化是给试验的电子元器件通电,模拟实际工作条件,再加上+80℃~+180℃的高温经历几个小时,它是一种对元器件多种潜在故障都有检验作用的有效措施,也是目前采用得最多的一种方法。对于业余爱好者来说,在单件电子制作过程中,是不

实验常用电子元器件的识别与检测

《电子工艺实习基础》实验报告 实验二、常用电子元器件的识别与检测 学号:014301234210 姓名:金聪班级:0143012342 1.实验目的 a.熟悉常用电子元器件基础知识 b.掌握使用万用表辨别常用元器件的方法。 2.实验内容 (1)常用电子元器件的介绍 (2)色环法识别电阻 各色环表示意义如下: 第一条色环:阻值的第一位数字; 第二条色环:阻值的第二位数字; 第三条色环:阻值的第三位数字; 第四条色环:10的幂数; 第五条色环:误差表示。 例如:电阻色环“绿蓝黑黑棕”——第一位:5;第二位:6;第三位:0; 10的幂为0;误差为1%,即阻值为:560*100欧=560欧=560Ω判别第一条色环的方法: 四色环电阻为普通型电阻,从标称阻值系列表可知,其只有三种误差系列,允许偏差为±5%、±10%、±20%,所对应的色环为:金色、银色、无色。而金色、银色、无色这三种颜色没有有效数字,所以,金色、银 色、无色作为四色环电阻器的偏差色环,即为最后一条色环(金色,银 色也可作为乘数) (3)电容器的识读 A.直标法:1-100 pF的瓷片电容、电解电容 B.数码表示法:第1、2位为有效数值,第三位为倍率 例:103=10 乘10的3次方pF,即=0.01uF C.字母表示法:主要是针对涤纶电容 例:4n7=4.7n=4700p, 22n=0.022uF D.小数点表示法:自然数以下的单位为uF 例:标0.47,等效值为0.47uF d.二极管极性的判别 指针式万用表拨在R×1O0或R×1K电阻档上,数字万用表直接用二极管档。如下图所示: 二极管性能测量 二极管性能测量二极管性能鉴别的最简单方法是用万用表测其正、反向电阻值,阻值相差越大,说明它的单向导电性能越好。因此,通过测量其正、反向电阻值,可方便地判断管子的导电性能。 (4)三极管PNP型,NPN型和基极的判别 A.将指针式万用表拨在R×1O0或R×1K电阻档上.

常用电子元器件识别检测

常用电子元器件的识别与检测 1.0前言:概述电子产品工艺与PCB技术 基本任务 了解电子产品开发与生产的全过程,从设计开发到售后服务,包括设计开发项目小组、PCB技术、smt工艺、产品测试、产品检验、例行试验、质量管理等过程所涉及的关键技术。 1.1 电阻(2 hours) 基本任务 1)掌握电阻的单位与符号,了解E24系列电阻; 2)熟悉色环电阻(金属膜电阻或者碳膜电阻)的外观,掌握通过色环 读取电阻标称值及误差; 3)会用指针式万用表与数字万用表测量并读取实际阻值; 4)计算色环电阻的实际可以流过的电流(1/4W); 5)不同电压下串联不同电阻与LED,使得LED保持一定电流发光,理 解电阻的作用(RC充放电电路,555电路,分压电路等); 6)熟悉可调电阻的外观及管脚; 7)熟悉典型贴片电阻的外观与标识,通过标识读取标称电阻值; 8)熟悉压敏电阻的外观与参数及在电路中起的保护作用; 9)理解接触电阻的产生,接触电阻大可能带来的严重后果;

10)理解绝缘电阻的概念及测量; 11)掌握四点法测量小电阻的方法; 12)理解其他电阻如线绕电阻、水泥电阻、导线电阻外形及功率; 13)理解热敏电阻、光敏电阻的主要参数及用途; 14)了解排阻、发热元件如电灯、加热丝等电阻; 15)了解取样电阻(采样电阻)及0欧姆电阻的作用 16)设备或者电路输入输出阻抗的概念及作用; 17)电阻在CAD中的封装,如AXIAL0.4、0603、0201

1.2电容器 基本任务 01.掌握电容的单位及电路符号,以及单位换算及电容值系列; 02.了解电容器的耐压系列,如6.3V,10V,16V,25V。。。1000V等; 03.掌握电解电容极性判断与参数读取(常见铝、钽电容,后者价高 性能好),如极性标记及长脚为正等,不能接反,否则容易损坏, (一般电解电容容值较大,1uF以上); 04.掌握指针式万用表电阻档测试电解电容的表现; 05.了解无机介质电容器:包括大家熟悉的陶瓷电容以及云母电容, 涤纶电容、独石电容薄膜.电容等无极性小电容,他们的标识与 电容值读取方法(一般相对电解电容而言具有较小容值) 104=0.1uF 339=3.3pF 472=4700pF 4n7=4.7nF 06.掌握指针式万用表测量小容值电阻档表现,及与大电容的比较; 07.了解电容值的测试:电容表,电桥测试,Q表测试(有些数字万用表 带的电容测量档位是有限的,一般无专门测量电容的仪器准确) 08.掌握贴片电容外形,小电容一般是矩形无数字标记,贴片电解电 容有标识; 09.了解其他参数:损耗角正切(tg δ)/温度/漏电流/绝缘电阻/使用寿命/频率特性; 10.了解电容的用途主要有如下几种: 1..隔直流:作用是阻止直流通过而让交流通过。2.旁路 (去耦):为交流电路中某些并联的元件提供低阻抗通路。3.耦合:作为两个电路之间的连接,允许 交流信号通过并传输到下一级电路4.滤波:这个对DIY而言很重要,显卡上的电容基本都是这个作 用。5.温度补偿:针对其它元件对温度的适应性不够带来的影响,而进行补偿,改善电路的稳定性。 6.计时:电容器与电阻器配合使用,确定电路的时间常数。7.调谐:对与频率相关的电路进行系统 调谐,比如手机、收音机、电视机。8.整流:在预定的时间开或者关半闭导体开关元件。 9.储能: 储存电能,用于必须要的时候释放。例如相机闪光灯,加热设备等等。(如今某些电容的储能水平已

份测验电力电子技术第一次作业

份测验电力电子技术第一次作业

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2014年9月份考试电力电子技术第一次作业 一、单项选择题(本大题共100分,共 40 小题,每小题 2.5 分) 1. 晶闸管从阻断转为导通,必须同时具备的两个条件是()。 A. A、阳极正向电压和门极反向电流 B.阳极反向电压和门极反向电流 C. C、阳极反向电压和门极正向电流 D、阳极正向电压和门极正向电流 2. 利用附加的换流电路对晶闸管施加反向电压或反向电流的换流方式,称为()。 A.电网换流 B.强迫换流 C.负载换流 D.器件换流 3. 无源逆变指的是()。 A. 将直流电能转变为某一频率或频率可调的交流电能,送给负载 B. 将直流电能转变为某一频率或频率可调的交流电能,送给电网 C. 将交流电能转变为某一频率或频率可调的交流电能,送给负载 D. 将交流电能转变为某一频率或频率可调的交流电能,送给电网 4. 晶闸管的额定电流是用一定条件下流过的最大工频正弦半波()来确定。 A. 电流有效值 B. 电流峰值 C. 电流瞬时值 D. 电流平均值 5. 晶闸管工作过程中,管子本身的损耗等于管子两端的电压乘以()。 A. 阳极电流 B. 门极电流 C. 阳极电流与门极电流之差 D. 阳极电流与门极电流之和 6. 晶闸管导通后,要使晶闸管关断,必须() A. 在门极施加负脉冲信号 B. 使控制角应该大于90度 C. 使阳极电流小于维持电流 D. 使控制角小于90度 7. 单相桥式全控整流电路带反电势负载,串联电感L,工作在有源逆变状态,的工作范围 是() A. B. C. D. 8. 三相半波带电阻性负载时, 为()度时,可控整流输出的电压波形处于连续和断续的临界状态。 A. 0 B. 60 C. 30 D. 120 9. 逆变角β值的大小等于()。 A. B. C. D. 10. 题目:以下正确的叙述是()。 A. A、晶闸管只存在动态损耗,而不存在静态损耗 B. B、晶闸管只存在静态损耗,而不存在动态损耗 C. C、晶闸管既不存在动态损耗,也不存在静态损耗 D. D、晶闸管既存在动态损耗,也存在静态损耗 11. 三相半波可控整流电路的自然换相点是( )。 A. 交流相电压的过零点 B. 本相相电压与相邻相电压正半周的交点处 C. 比三相不控整流电路的自然换相点超前30° D. 比三相不控整流电路的自然换相点滞后60°

常用电子元器件的识别与检测教案资料

常用电子元器件的识 别与检测

常用电子元器件的识别与检测 电子元器件是组成电子电路的最小单位,也是维修中需要检测和更换的对象。本章主要对常用的电子元器件的识别,作用,以及检测技术简要的介绍了一下。 2.1电阻器的识别与检测 (1)电阻器的识别 电阻器没有极性(正负极),电阻元件的基本特征是消耗能量或者叫吸收能量。电阻在电路中的符号为或字母符号为R,单位为欧姆(Ω),另外还有千欧姆(KΩ),兆欧姆(M Ω)1兆欧(MΩ)=1000千欧(KΩ)=106欧姆。电阻器的体积很小(实物图见附录一),一般在电阻器的表面标明阻值,精度,材料,功率等几项。在车间常用的电阻是片式陶瓷电阻器(也叫贴片电阻器),其阻值标在电阻表面上,电阻参数标注的方法有文字直接标注和色环标注两种,色环标注和电阻器的分类等在这不做介绍了在相关的电子技术资料有专门介绍,自己去看咯。下面说一下怎样读表贴片的电阻值,举几个例子:103=10X103=10KΩ, 333=33X103=33KΩ,472=47X102=4.7KΩ等等.读取的方法是前两位为有效数字,第三位为十的几次方吧,或者是数字几就在最后面加上几个零。 (2)电阻器的作用

电阻器第一个主要作用是限流的作用(或者叫具有阻碍电流的作用吧)。从欧姆定律I=U/R可知,当电压U一定时,流过电阻的电流I 与电阻R成反比,选择适当阻值的电阻器,就可以将电流I限定在某一数值上,这就是电阻器的限流作用。电阻器第二个主要作用是产生降压的作用。当电流流过电阻器时,心然会在电阻器上产生压降,压降大小与电阻值R及电流的乘积成正比,即:U=IR.利用电阻器的降压作用,可以使较高的电源电压去适应电路工作电压的要求。第三个作用是分压和分流的作用,不知道这也算不算一个了,呵呵。(3)电阻器的检测 ○1在路测量,在测量前需要将电路板上的电源断开,接下来根据电阻器的标注读出电阻器的阻值。举个例子,贴片电阻器表面上的标注值为330,它的阻值应为33Ω.接着清洁电阻器两端的焊点,这样使测量出的电阻值更准确,根据电阻器的标称阻值,将数字万用表调到欧姆挡200量程,接着将万用表的红笔和黑笔分别搭在电阻器两湍的焊点上,测量的阻值为33.1Ω。接下来将红黑表笔互换位置,再次测量,测量的值为33.2Ω,接着取两次测量中阻值较大的作为参考值,然后与电阻器的标称阻值进行比较,由于33.2Ω与33Ω比较接近,因此可以断定该贴片电阻器正常。○2开路测量,在测量前需要先将贴片电阻从电路板中拆下,接着清洁电阻器的焊点,清洁完成后,开始准备测量,根据电阻器的标注,读出电阻器的阻值。举个例子, 贴片电阻器表面上的标注值为472,它的阻值应为4.7KΩ。打开数字万用表的电源开关,根据电阻器的标称阻值,将数字万用表调到欧姆挡

电子元器件识别与检测实习报告

电子元器件识别与检测 实习报告 Document number:WTWYT-WYWY-BTGTT-YTTYU-2018GT

电子元器件识别与检测实习报告一实习目的 随着电子技术及其应用领域的迅速发展,元器件种类日益增多,学习和掌握常用元器件的性能、用途方法,对提高电气设备的装配质量及可靠性将起重要的保证作用,对以后进一步的专业学习也有很大好处。而电阻器、电容器、二极管、三极管等都是电子电路常用的器件。 二实习计划 1听取电子元件识别与检测讲座,初步了解电子元件 2利用万用表的组装了解各种原件作用 3在模电实验室通过实践操作进一步进行电子原件的识别 三实验内容 1电阻阻值的识别 文字符号直标法 用阿拉伯数字和文字符号两者有规律的组合来表示标称阻值,额定功率、允许误差等级等。符号前面的数字表示整数阻值,后面的数字依次表示第一位小数阻值和第二位小数阻值 2、色标法: 色标法是将电阻器的类别及主要技术参数的数值用颜色(色环或色点)标注在它的外表面上。色标电阻(色环电阻)器可分为三环、四环、五环三种标法。 五环色标法 标称值第一位有效数字

标称值第二位有效数字 标称值第三位有效数字 标称值有效数字后0的个数 允许误差 电阻器的质量检测 电阻器的质量好坏是比较容易鉴别的,对新买的电阻器先要进行外观检查,看外观是否端正、标志是否清晰、保护漆层是否完好。然后可以用万用表的电阻档测量一下电阻器的阻值,看其阻值与标称阻值是否一致,相差之值是否在允许误差范围之内。电容器 把组成电容器的金属板两端分别接到电池的正、负极上,那么接电池正极的金属板上的电子就会被电池的正极吸收过去而带正电荷,接负极的金属板就会从电池的负极得到大量电子而带负电荷。这种现象就叫做电容器的“充电”。 如果将电容器与电池分开,用导线把电容器的两端联接起来,在刚接通一瞬间,电路中就有电流通过,随着电流流动,两金属板之间的电压就很快降低,直到两金属板上的正负电荷完全消失,这种现象叫做“放电” 晶体二极管 晶体二极管也称半导体二极管,是半导体器件中最基本的一种器件。它是用半导体单晶材料制成,故半导体器件又称晶体器件。晶体二极管具有两个电极,在收音机、电视机和其它电子设备中具有广泛的应用。半导体材料和导体、绝缘体相比具有两个显着特点:一是电阻率的大小受杂质含量的影响极大,二是电阻率受外界条件的影响很大。

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