曝光曲线制作方法详解
X射线机曝光曲线的制作与校准作业指导书
目的：制作公司用于现场X射线检测的设备的曝光曲线并在检测过程中的校准修正。
适用范围：公司用于现场X射线检测的X射线设备。
作业步骤：
1.将厚度适当的阶梯试块在装有胶片的暗盒上，在阶梯试块的不同
厚度的阶梯上，放上与阶梯厚度相同的铅字标记。且将射线中心束指示线垂直对准阶梯试块的中心部位。
2.选择固定的焦距，使其在固定的管电流和管电压下，选择几个不
同的曝光，每次增加30秒一组，得出几个不同曝光量的胶片。由此找出曝光时间和厚度的关系。
3.选择固定的焦距，使其在固定的管电流和曝光时间选择几个不同
的管电压进行曝光，每次升高10KV，得出一组不同管电压的胶片由此找出管电压和厚度的关系。
4.将上述所摄胶片，在严格控制的同一条件下进行暗室处理，水洗
后晾干。由此得到一系列光学密度呈阶梯变化的黑度片（底片）5.黑度测定
用精度较高的黑度计测出底片上的各阶梯黑度值，确定符合象质指数值而黑度为的阶梯厚度，将数值填入表1和表2中，如底片上找到正好符合黑度1。5的阶梯厚度，也可根据相邻阶梯的黑度，用插入法确定适用的相应厚度。
6.在适当的座标纸上，画出纵座标（管电压或曝光量）和横座标（厚
度）的刻度，然后按表1和表2的数据绘出相应的如图1和图2的曝光曲线。在曲线图中应同时注明其他有关条件。
7.已完成的曝光曲线，在实际透照中，由于某些条件的变化，如焦
距、胶片类型改变，射线管更换或老化后必须进行校准修正。
表 1 以曝光时间为参数的曝光试验记录
表2 以管电压为参数的曝光试验记录
注：T适用厚度（mm） N0 ：片号
图1 图2
T:mm T:mm
射线探伤作业指导书
射线探伤作业指导书 1.1 目的 为了保证射线检测结果的准确、可靠、编制本细则。 1.2 范围 本作业指导书适用于金属材料板和管的熔化焊焊接接头。 1.3 编制依据 1.3.1 《金属熔化焊焊接接头射线照相》GB/T3323-2005 2 检验人员 凡从事射线工作的检验人员，都必须持有国家质量技术监督局、中国电力工业无损检测人员资格证书和国家卫生防护部门颁发的放射工作人员资格证。各级别检验人员，只能从事与该等级相应的无损检测工作，并负相应的技术责任。 3 准备工作 3.1 技术准备 3.1.1 根据《金属试验委托单》了解被检工件情况，包括材料、规格、焊接种类、焊接位置等。 3.1.2 确定检验工作质量等级、检验比例、数量、对接接头焊接质量验收级别。 3.2 现场情况及现场准备 3.2.1 了解被检工件结构，焊口位置、分布等，对位于一定高度的焊口要搭好拍片架子。 3.2.2 检查焊缝外表面：外观是否符合《焊规》规定要求，是否有影响底片评定的因素存在，存在上述问题时，必须纠正后才能进行透照。 3.3 工艺制订 根据有关标准规定及现场情况等制订工艺，确定透照方式、投影角度、焦距、曝光参数、象质计指数，还有大管一个口拍几张片、小管几个口拍一张片。以上参数参见具体检验项目的《射线探伤工艺卡》。 3.4 器材 3.4.1 射源或射线机选择 主要根据被检工件的透照厚度及现场情况选择γ射线机或X射线机。 3.4.2 胶片、增感屏及暗盒选择 3.4.2.1 透照用胶片应选用《射规》4.6.1中规定的JI或J2型胶片。胶片在使用前，应对每箱或每盒胶片进行灰雾度的抽查，其本底灰雾度应小于或等于0.3。 3.4.2.2 胶片在裁片、装片、抽片、评片的过程中，要注意防止胶片的划伤。裁纸刀、暗袋、增感屏等应保持清洁和平整，应经常擦拭。在装片、抽片时要轻缓，避免产生静电。要正确持片、不得用手指直接捏住底片表面，防止对底片造成污染。 3.4.2.3 使用金属增感屏进行射线透照时，金属增感屏的材料及前、后屏的厚度应根据不同的射线能量参照《射规》表4的规定选择（具体见《射线探伤工艺卡》）。 3.4.2.4 增感屏的表面应经常擦拭，保持洁净、平整和干燥，以防止产生造成影响底片图像的影像或假缺陷。 3.4.2.5 暗盒尺寸须与胶片及增感屏符合。 3.4.3 屏蔽板
标准曲线制作考马斯亮蓝法测蛋白质含量
标准曲线制作—考马斯亮蓝法测蛋白质含量 一、标准曲线 一般用分光光度法测物质的含量，先要制作标准曲线，然后根据标准曲线查出所测物质的含量。因此，制作标准曲线是生物检测分析的一项基本技术。 二、蛋白质含量测定方法 1、凯氏定氮法 2、双缩脲法 3、Folin-酚试剂法 4、紫外吸收法 5、考马斯亮蓝法 三、考马斯亮蓝法测定蛋白质含量—标准曲线制作 （一）、试剂： 1、考马斯亮蓝试剂： 考马斯亮蓝G—250 100mg溶于50ml 95%乙醇，加入100ml 85% H 3PO 4 ， 加蒸馏水稀释至1000ml,滤纸过滤。最终试剂中含0.01%（W/V）考马斯亮蓝 G—250,4.7%（W/V）乙醇，8.5%（W/V）H 3PO 4 。 2、标准蛋白质溶液： 纯的牛血清血蛋白，预先经微量凯氏定氮法测定蛋白氮含量，根据其纯度同0.15mol/LNaCl配制成100ug/ml蛋白溶液。 （二）、器材： 1、722S型分光光度计使用及原理 2、移液管使用 （三）、标准曲线制作： 1、 2、以A 595nm 为纵坐标，标准蛋白含量为横坐标（六个点为10ug、20 ug、30 ug、
40 ug、50 ug、60 ug），在坐标轴上绘制标准曲线。 1）、利用标准曲线查出回归方程。 2）、用公式计算回归方程。 3）、或用origin作图，测出回归线性方程。即A 595nm =a×X( )+6 一般相关系数应过0.999以上，至少2个9以上。 4）、绘图时近两使点在一条直线上，在直线上的点应该在直线两侧。 （四）、蛋白质含量的测定： 样品即所测蛋白质含量样品（含量应处理在所测围），依照操作步骤1操作， 测出样品的A 595nm ，然后利用标准曲线或回归方程求出样品蛋白质含量。 一般被测样品的A 595nm 值在0.1—0.05之间，所以上述样品如果A 595nm 值太大， 可以稀释后再测A 595nm 值，然后再计算。（五）、注意事项： 1、玻璃仪器要洗涤干净。 2、取量要准确。 3、玻璃仪器要干燥，避免温度变化。 4、对照：用被测物质以外的物质作空白对照。
射线机曝光曲线的制作方案
曝光曲线制作方案 1适用范围与目的 本细则适用于制作X射线探伤机的E-T曝光曲线。 2准备设备、器材 准备以下设备及器材： X射线机、阶梯试块一套、暗袋、360mm胶片、增感屏、铅字、铅片5块、钢板4块、卷尺、显定影药剂、洗片槽、温度计、量筒、黑度计、观片灯、手套、剪刀、警戒灯、警戒线、辐射报警仪等。 3操作步骤 3.1安全准备 确定隔离区，设置警戒线、警戒灯。确保周围40m内没有无关人员的存在。 3.2参数确定 将参数填写在曝光曲线参数表，见表1。 表1 曝光曲线参数表 3.3暗袋准备 3.3.1标记：在暗袋上的胶片中心位置至少插上下列标记：设备编号、阶梯试块代码、管电压、曝光量代号。各标记的含义如下。 阶梯试块代码：2-20mm为A，12-30mm为B，22-40mm为C，32-50mm为D； 曝光量代号：低曝光量2mA·min为L，高曝光量50mA·min为H。 如：108A120L表示108#射线机，低曝光量，120kV管电压，试块采用基本的阶梯试块。3.3.2装片：将胶片裁剪为180mm长。将增感屏、胶片按正确的方法放入暗袋，胶片与增感屏之间不能有纸等其它物品。
3.4机位架设及准备 3.4.1按确定的焦距架设射线机。 3.4.2训机。 3.4.3将暗袋放置在最佳透照区内，其下放置铅片，将阶梯试块放在暗袋内相应的胶片位置上，使得射线机中心辐射方向指向试块中部。试块的选择应参照管电压，尽量使得标准黑度2.5D在阶梯试块的中部。推荐低曝光量全部选择A试块。高曝光量的选择推荐如下表。可以分阶段洗片后根据实际情况及时调整。 高曝光量试块选择表 3.4.4散射线的屏蔽。 低曝光量时，在试块四周紧贴放置铅片。高曝光量时，在试块四周放置钢板和铅片。 3.5管电压的选择 管电压上、下限值选择为射线机的次最小、次最大管电压，中间管电压系列的选择间隔为20kV。 3.6透照 先以低曝光量时间0.4min（24s）为基准（管电流为5mA时），而电压则由低电压逐渐提高，对阶梯试块进行透照。然后再以高曝光量时间10min为基准，采用同样的方法透照底片。透照过的暗袋在右上角添加Y作为标记。 3.7、暗室处理 将上述所摄胶片，在严格控制的同一条件下进行暗室处理，水洗后阴干或风干。 3.8、黑度测定
标准曲线的绘制样本
标准曲线绘制 在分析化学实验中， 常见标准曲线法进行定量分析，一般情况下的标准工 作曲线是一条直线。 标准曲线的横坐标（X）表示能够精确测量的变量（如标准溶液的浓度）,称为 普通变量，纵坐标（Y）表示仪器的响应值（也称测量值，如吸光度、电极电位 等）, 称为随机变量。当X取值为X1, X2,……Xn时，仪器测得的丫值分别为丫1, 丫2,……Yn。将这些测量点Xi, Yi描绘在坐标系中,用直尺绘出一条表示X 与丫之间的直线线性关系，这就是常见的标准曲线法。用作绘制标准曲线的标准物质，它的含量范围应包括试祥中被测物质的含量，标长准曲线不能任意延。用作绘制标准曲线的绘图纸的横坐标和纵坐标的标度以及实验点的大小均不能太 大或太小，应能近似地反映测量的精度。 由于误差不能完全避免，实验点完全落在工作曲线的的情况是极少的，特别是在误差较大时，实验点比较分散，它们一般并不在同一条直线上，这样凭直觉很难判断怎样才能使所连接的直线对于所有实验点来说误差是最小的，当前较好的方法是对实验点（数据）进行回归分析。 研究随机现象中变量之间相关关系的数理统计方法称为回归分析，当自变 量只有一个或X与丫在坐标图上的变化轨迹近似一直线时，称为一元线性回归。 甦2.6.1 —元线性回归方程的求法 确定回归直线的原则是使它与所有测量数据的误差的平方和达到极小值 设回归直线方法为 9 (2 - 15)
式中a表示截距，b表示斜率 9 (2 - 15)
假设Xi和Yi （i=1,2,3, ……,n）是变量X和Y的一组测量数据。对于每一个Xi值,在直线（卩“+^ ）上都有一个确定的旳“从X】值。但哲值与X 轴上Xi处的实际测定值Yi是不相等的, 与Yi之差为： 筈厂& +返AY’F-碍（2—佝 上式表示与直线（）的偏离程度，即直线的误差程度。如果全部n个测定引起的总偏差用￡（节厂印'表示,则偏差平方和s为 (2 - 17) 在所有直线中，偏差平方和s最小的一条直线就是回归直线，即这条直线 的斜率b和截距a应使s值达到最小，这种要使所有数据的偏差平方和达到最小 的求回归直线法称为最小二乘法。 根据数学分析的极值原理,要使s达到最小,对式（2 —17）中的a、b分别 求偏微分后得到 (2 —18) (2 —19) 是所有变量Xi和Yi的平均值。由于计算离均差较麻烦，可将式（2 — 18）变换为 n是测量的次数，也就是坐标图中实验点的数目。 (2 —20)
射线探伤中可能会遇到的实际性问题
射线探伤中遇到的实际问题 赵忠洋 1.射线探伤的必需品； 例如：设备，胶片，捆绑器，字码，标记带等等2.射线探伤前的准备工作 例如：警示灯警戒线警示牌安全带，检查机头气压等 3.射线探伤时可能会出现的突发性事故 例如：放射过程中忽然闯进的不明人群或个人，高空坠物 4.射线探伤前所需知道的现场实际状况 例如：工件位置，规格，需要使用胶片的规格，像质计的型号，字码等 5.射线探伤时的安全意识 例如：射线防护措施，以及施工现场的实际环境
6.射线探伤时参数的选择 例如：可采用对比法，在同样的壁厚或者同样的焦距情况下提高或者减小电压或时间 7.射线探伤时像质计的选用 例如:根据材质，壁厚透照方式选用AL与FE不能混用 8.散射线的防护 例如;可采取背面放置铅板或废增感屏的方式 9.字码，标记带及像质计的摆放： 字码摆放尽量整齐，至少与焊缝边缘保持5-8mm’的距离，标记带字码方向要与字码板方向一致，像质计依据标准摆放，有垫板的向一侧多摆放5-8mm，使像质计能够满足标准要求，无论是字码板，标记带，像质计，所有标记不得透照在焊缝上影响评定
10.曝光曲线的应用（见控制箱面板曝光曲线坐标图） 11.射线探伤时设备可能会出现的突发状况 XXG2505/2005 射线探伤机使用时容易产生的突发故障有： 1.过温夏季长时间处于高热状态下 2.千伏高/千伏低 3.毫安高/毫安低 4.整机运转正常，散热风扇忽然停止转动（检查大 线与风扇） 5.控制系统忽然断电，保险熔断或爆裂（220伏输 出部分漏电） 6.控制系统忽然断电，保险管正常，断电时控制箱 内有电火花飞出，有些部位有明显烧焦痕迹（打开操作箱面板，检查电源连接处压敏电阻）
标准曲线的作法
标准曲线的作法
标准曲线的作法 (1)标准液浓度的选择：在制备标准曲线时，标准液浓度选择一般应能包括待测样品的可能变异最低与最高值，一般可选择5种浓度。浓度差距最好是成 倍增加或等级增加，并应与被测液同样条件下显色测定。 (2)标准液的测定：在比色时，读取光密度至少读2-3次，求其平均值，以 减少仪器不稳定而产生的误差。 (3)标准曲线图的绘制：一般常用的是光密度一浓度标准曲线。 ①用普通方格纸作图。图纸最好是正方形(长：宽=l：1)或长方形(长：宽=3 ： 2)，以横轴为浓度，纵轴为光密度，一般浓度的全距占用了多少格，光密度的全距也应占用相同的格数。 在适当范围内配制各种不同浓度的标准液，求其光密度，绘制标准曲线， 以浓度位置向上延长，光密度位置向右延长、交点即为此座标标点。然后，将 各座标点和原点联成一条线，若符合Lambert-Beer氏定律，则系通过原点的 直线。 ②若各点不在一直线，则可通过原点，尽可能使直线通过更多点，使不在 直线上的点尽量均匀地分布在直线的两边。 ③标准曲线绘制完毕以后，应在座标纸上注明实验项目的名称，所使用比 色计的型号和仪器编号、滤光片号码或单色光波长以及绘制的日期、室温。 ④绘制标准曲线：一般应作二次或三次以上的平行测定，重复性良好曲线 方可应用。 ⑤绘制好的标准曲线只能供以后在相同条件下操作测定相同物质时使用。 当更换仪器、移动仪器位置、调换试剂及室温有明显改变时，标准曲线需重新 绘制。 ⑥标准曲线横坐标的标度：从标准液的含量换算成待测液的浓度。 1.5 原子吸收光谱分析的定量方法 原子吸收光谱分析是一种动态分析方法，用校准曲线进行定量。常用的定量方法有标准曲线法、标准加入法和浓度直读法。如为多通道仪器，可用内标法定量。在这些方法中，标准曲线法是最基本的定量方法。 1.5.1 标准曲线法 前面已经指出，原子吸收光谱和原子荧光光
射线探伤复习试题
无损检测RT专业测试题 一、是非题（在括号内正确的画“O”，错误的画“×”） 1、放射性同位素的半衰期是指放射性元素的放射强度变为原来一半所需要的时间。（） 2、底片黑度D=2，即意味着透射光强为入射光强的1/100。（） 3、光电效应发生几率随原子序数的增大而增加。（） 4、胶片的梯度与射线的能量有关，射线的能量越高，胶片的梯度越小。（） 5、显影时间延长，将会使胶片特性曲线变陡，且在坐标上的位置向右移。（） 6、当X射线通过三个半值层后，其强度仅为初始值的六分之一。（） 7、同一型号的X光机可以使用同一曝光曲线。（） 8、在X射线管和胶片距离一半处放置一块用高密度材料制成并钻有小孔的板，这是用来测定 焦点的大致尺寸。（） 9、显影液呈碱性，定影液呈酸性。（） 10、铅箔增感屏的表面划伤在底片上会产生黑色条纹。( ) 11、底片不清晰度包括几何不清晰度和固有不清晰度，固有不清晰度随着射线能量的 增加而连续递增。（） 12、一般来说，对厚度差较大的工件，应使用较低能量的射线透照，其目的是降低对比度， 提高宽容度。（） 13、散射线只影响胶片对比度，与主因对比度无关。（） 14、采用源在外单壁透照方式，如K值不变，则焦距越大，一次透照长度L3就越大。（） 15、对Φ50×8mm、焊缝宽度为13mm的小径管环缝作双壁双影法倾斜透照时，椭圆成像开口 宽度应在13mm左右。（） 16、AB级射线照相曝光量推荐值为15mA·min,焦距为700mm,如焦距改为900mm,则曝光量 推荐值应不少于20mA·min。（） 17、定影液老化和水洗不彻底都会导致底片长期保存后出现泛黄的现象。（） 18、形状缺陷不属于无损检测范畴，但对于目视检查无法进行的场合和部位进行射线照相， 则应对内凹、烧穿、咬边等形状缺陷评定。（） 19、在放射防护中，随即性效应的发生几率与剂量的大小有关。（） 20、实际探伤中使用的射线是宽束连续射线，工件的吸收系数和工件内部的吸收系数 差别越大，缺陷越容易被发现。（）
曝光曲线的制作实例(X射线为例)依据JBT4730标准
曝光曲线的制作实例(X射线为例） 曝光曲线必须通过试验制作，每台X射线机的曝光曲线各不相同，但不能通用，因为即使管电压、管电流相同，如果不是同一台X射线机，其线质和照射率是不同的。原因是：⑴加在X射线管两端的电压波形不同（半波整流、全波整流、倍压整流以及直流恒压等），会影响管内电子飞向阳极的速度（波长有关）和数量（强度），⑵X射线管本身的结构、材质不同，会影响射线从窗口出射时的固有吸收；⑶管电压、管电流测定也有误差。此外，即使是同一台X射线机，随着使用时间的增加，管子的灯丝和靶也可能的老化，引起射线照射率的变化。 因此，每台X射线机都应有曝光曲线，作为日常透照控制线质和照射率、即控制能量和曝光量的依据，并且在实际使用中还要依据具体情况作适当修正。 .1 曝光曲线的类型 曝光曲线是在一定条件下绘制的透照参数（射线能量、焦距、曝光量）与透照厚度之间的关系曲线。这些条件主要是透照工件材料、射线源、胶片、暗室处理技术、增感、射线照相质量要求等。实际进行射线照相时确定透照参数经常采用曝光曲线，从曝光曲线给出的关系可方便地确定某种材料、某个厚度的工件、满足规定的质量要求应选用的射线能量、焦距、曝光量等。 对X射线照相检验，常用的曝光曲线有两种类型，第一种类型曝光曲线以透照电压为参数，给出一定焦距下曝光量对数与透照厚度之间的关系。第二种类型曝光曲线以曝光量为参数，给出一定焦距下透照电压与透照厚度之间的关系。图1是第一种类型，图2是第二种类型。 第一种类型曝光曲线，纵坐标是曝光量，单位是毫安·分（mA ·min），采用对数刻度尺，横坐标是透照厚度，常用毫米（mm）为单位，采用算术刻度尺。图中的曲线是在相同的焦距下对不同的透照电压画出来的。从图中的曲线可以看到，采用某一透照电压但透照不同厚度时，曝光量相差得很大。由于曝光量既不能很大，也不能很小，所以某个透照电压实际上只适于透照一较小的厚度范围。 第二种类型曝光曲线，纵坐标是透照电压，单位名称为千伏，单位符号为kV，采用算术刻度尺；横坐标是透照厚度，单位常用毫米（mm），采用算术刻度尺。图中曲线是在相同的焦距下对不同曝光量画出的。很显然，它不是直线。 第三种类型曝光曲线，纵坐标是黑度，采用算术刻度尺，横坐标是透照厚度，常用毫米（mm）为单位，采用算术刻度尺。曲线是在相同的焦距下对不同的透照电压画出来的。从图中的曲线可以看到，采用某一透照电压但透照不同厚度时，曝光量相差得很大。由于曝光量既不能很大，也不能很小，所以某个透照电压实际上只适于透照一较小的厚度范围。 γ射线曝光曲线的一般形式如图3所示，它是以黑度为参数，对于一个γ射线源画出的曝光量与透照厚度的关系曲线。图中纵坐标是曝光量，采用对数刻度尺，横坐标是透照厚度，采用算术刻度尺。另一种曝光曲线是以焦距为参数的曝光量与透照厚度的关系曲线。
X射线探伤机曝光曲线图的制作
X射线探伤机曝光曲线图的制作 1.目的 对作业设备X射线探伤机曝光曲线的制作作出要求，以确保检测时选用合适的工艺参数。 2.适用范围 本公司承建的压力管道及场站施工中所使用的X射线探伤机设备。 3.编制依据和引用标准. SY4056—93 《石油天然气钢质管道对接焊缝射线照相和质量分级》 GB4792—84 《放射卫生防护基本标准》 JB4730—2005 《承压设备无损检测》 4.职责 4.1由无损检测责任人对其所使用的x射线探伤机制作曝光曲线。 4.2无损检测责任人员根据设备、胶片、增感屏和其他条件编制工艺卡，负责曝光曲线制作
过程的质量控制。 4.3探伤人员按照X射线探伤作业指导书要求对阶梯试块进行透照和暗室操作，并正确记录 原始数据。 5.曝光曲线制作方法和阶梯试块的要求 5.1 X射线探伤机曝光曲线：曝光曲线是在机型、胶片、增感屏、焦距等条件一定的前提下，通过改变曝光参数(固定Kv、改变mA.min或固定mA.min，改变Kv)透照由不同厚度组成的钢阶梯试块，根据给定冲洗条件洗出的底片所达到的某一基准黑度(如为1.8或2.0)，来求得KV、mA.min,T三者之间关系的曲线。 5.2 X射线探伤机曝光曲线所用阶梯试块的要求 所使用的阶梯试块面积不可太小，其最小尺寸应为阶梯厚度的5倍，否则散射线将明显不同于均匀厚度平板中的情况。另外阶梯块的尺寸应明显大于胶片尺寸，否则要作适当遮边。 6.X射线探伤机曝光曲线制作过程
6.1绘制D-T曲线， 采用较小曝光量，不同管电压拍摄阶梯试块，获得第一组底片。再采用较大曝光量，不同管电压拍摄阶梯试块，获得第二组底片。用黑度计测定获得透照厚度与对应黑度的两组数据，然后绘制出D—T曲线图。 6.2绘制E—T曲线 选定一基准黑度值，从两张D—T曲线图中分别查出某一管电压下对应于该黑度的透照厚度值。再E—T图上标出这两点，并以直线连接即得该管电压的曝光曲线。 7.曝光曲线制作过程的质量控制 7.1对曝光曲线所用阶梯试块的要求 7.2在绘制D—T曲线时采用较小和较大曝光量的选择。7.3暗室底片处理 7.4底片黑度的测定 8.记录和曝光曲线图的要求 8.1在对试块进行透照和底片黑度值测定过程中应作好原始
X射线无损探伤工艺讲解
X射线无损探伤工艺 一、主题内容，适用范围及引用标准 本工艺规定了X射线探伤前的工艺准备，X射线机的操作，暗室处理和底片评定等内容。 本工艺适用于材料厚度2～50mm的锅炉碳素钢和低合金钢熔化焊接接头焊缝的X射线照相法。 本工艺引用标准GB3323-1987《钢熔化焊对接射线照相和质量分级》和《蒸汽锅炉安全技术监察规程》。 二、探伤前工艺准备 1．人员要求 1．1从事射线照相检验的人员必须持有国家有关部门颁发的，并与其工作相适应的资格证书。 1．2无损检测人员应每年检查一次身体，校正视力不得低于1.0。 2．射线照相质量分级 按公司《质量手册》要求，射线照相要达到AB级，纵缝透照厚度比K≤1.03，环缝透照厚度比K≤1.1，按K值计算有效 评片长度L e f f，一次透照长度L3和搭接长度△L（见附件一）。 3．工件表面状态要求 工件焊缝及热影响区表面质量应经焊接检验员外观检查合格，表面的不规则状态在底片上的图象应不掩盖焊缝中缺陷或 与之相混淆（如溅物、油污、锈蚀、凹坑、焊瘤、咬边等），否则应做适当的修整。 4．工艺卡 熟悉产品的名称、材质、规格、坡口型式、焊接种类和检测比例，清楚对接焊缝的分布情况，做出布片示意图，选择合理 的透照方法，一种锅炉型号填写一份射线检测工艺卡入档。 5．工件划线 按照射线检测工艺卡在规定的检测部位划线。采用单壁透照时需在工件两侧（射源侧和胶片侧）同时划线，并要求所划 的线段尽可能对准。采用双壁单影透照时，只需在工件胶片侧 划线。划线顺序由小号指向大号，纵焊缝按从左至右顺序，环 向焊缝采用顺时钟方向划线编号。（工件表面应作出永久性标 记以作为对每张底片重新定位的依据，工件不适合打印标记 时，应采用详细的透照部位草图和其它的有效方法标注）。 6．像质计和标记摆放 按照标准和工艺卡有关规定摆放像质计和各种铅字码。 6．1．像质计的选用
曝光曲线的制作及应用
曝光曲线的制作及应用 在实际工作中，通常根据工件的材质与厚度来选取射线能量，曝光量以及焦距等工艺参数，上述参数一般是通过查曝光曲线来确定的。 曝光曲线是表示工件（材质、厚度）与工艺规范（管电压、管电流、曝光时间，焦距、暗室处理条件等）之间相关性的曲线图示。但通常只选择工件厚度、管电压和曝光量作为可变参数，其他条件必须相对固定。 曝光曲线必须通过试验制作，且每台X射线机的曝光曲线各不相同，不能通用，因为即使管电压、管电流相同，如果不是同一台X射线机，其线质和照射率是不同的。原因是： （1）加在X射线管两端的电压波形不同（半波整流、全波整流、倍压整流及直流恒压等），会影响管内电子飞向阳极的速度和数量。 （2）X射线管本身的结构、材质不同，会影响射线从窗口出射时的固有吸收； （3）管电压和管电流的测定有误差。此外，即使是同一台X射线机，随着使用时间的增加，管子的灯丝和靶也可能老化，从而引起射线照射率的变化。 因此，每台X射线机都应有曝光曲线，作为日常透照控制线质和照射率，即控制能量和曝光量的依据，并且在实际使用中还要根据具体情况作适当修正。 对每台在用射线设备均应做出经常检测材料的曝光曲线，依据曝光曲线确定曝光参数。 制作曝光曲线所采用的胶片、增感屏、焦距、射线能量等条件以及底片应达到的灵敏度、黑度等参数均应符合规定。 对使用中的曝光曲线，每年至少应校验一次。射线设备更换重要部件或经较大修理后应及时对曝光曲线进行校验或重新制作。 4.4.1曝光曲线的构成和使用条件 横座标表示工件的厚度，纵座标表示管电压、曝光量为变化参数的曲线称为厚度——管电压（T—KV）曝光曲线；若纵座标用对数刻度表示曝光量，管电压为变化参数，所构成的曲线则称为厚度——曝光量（T—E）曲线。 几种典型的曝光曲线图例见图4-7～4-10。
01X射线检测曝光曲线校验规程
X射线探伤机曝光曲线校验规程 1适用范围 本标准规定了现场X射线探伤机曝光曲线的制作与校准。 2校验周期 每一年进行一次。 3编写依据 《射线探伤Ⅱ、Ⅲ级教材（试用本）》 4人员要求 从事射线探伤仪曝光曲线的制作的人员都应经过专业培训，并持有射线检测工作应由按《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》考核合格，并取得射线检测Ⅰ级或Ⅰ级以上资格证书的检测人员担任。其工作内容应与资格证书规定级别相适应. 4.1或电力部颁发的Ⅱ级或Ⅱ级以上的射线检验人员资格证书； 4.2射线探伤仪校验人员应熟悉所用设备的基本结构、各部分的作用及操作规程； 4.3射线探伤仪校验人员应严格按照本程序操作射线探伤仪，并对设备使用的安全性负责。 5校验需用标准器具 阶梯试块4~40mm一块。 6操作步骤 6.1将厚度适当的阶梯试块在装有胶片的暗盒上，在阶梯试块的不同厚度的阶梯上，放上与阶梯厚度相 同的铅字标记。且将射线中心束指示线垂直对准阶梯试块的中心部位。 6.2选择固定的焦距，使其在固定的管电流和管电压下，选择几个不同的曝光，每次增加30秒一组，得 出几个不同曝光量的胶片。由此找出曝光时间和厚度的关系。 6.3选择固定的焦距，使其在固定的管电流和曝光时间选择几个不同的管电压进行曝光，每次升高10KV， 得出一组不同管电压的胶片由此找出管电压和厚度的关系。 6.4将上述所摄胶片，在严格控制的同一条件下进行暗室处理，水洗后晾干。由此得到一系列光学密度 呈阶梯变化的黑度片（底片） 6.5黑度测定：用精度较高的黑度计测出底片上的各阶梯黑度值，确定符合象质指数值而黑度为1.5的 阶梯厚度，将数值填入附录A和附录B中，如底片上找到正好符合黑度2。0的阶梯厚度，也可根据相邻阶梯的黑度，用插入法确定适用的相应厚度。 6.6在适当的座标纸上，画出纵座标（管电压或曝光量）和横座标（厚度）的刻度，然后按表1和表2 的数据绘出相应的附录C的曝光曲线。在曲线图中应同时注明其他有关条件。 6.7已完成的曝光曲线，在实际透照中，由于某些条件的变化，如焦距、胶片类型改变，射线管更换或 老化后必须进行校准修正。 7记录及标识 校验完毕后在仪器上进行标识，校验人员应按校验报告内容对测试数据认真记录并评价结论。 校验报告由综合试验室设备管理员归档设备档案，检验报告保存期为五年。
曝光曲线总结
X射线机曝光曲线的制作与校准作业指导书 目的：制作公司用于现场X射线检测的设备的曝光曲线并在检测过程中的校准修正。 适用范围：公司用于现场X射线检测的X射线设备。 准备工作：所有射线机和控制箱、阶梯试块、10mm钢板一块、铅板、铅字若干、装有胶片的暗袋若干、剪刀、胶带。 作业步骤： 1.将厚度适当的阶梯试块放在装有胶片的暗盒上，在阶梯试块的不 同厚度的阶梯上，放上与阶梯厚度相同的铅字标记。且将射线中心束指示线垂直对准阶梯试块的中心部位。 2.选择固定的焦距（700mm），使其在固定的管电流和曝光时间选择 几个不同的管电压进行曝光，每次升高10KV，得出一组不同管电压的胶片，由此找出管电压和厚度的关系。 3.将上述所摄胶片，在严格控制的同一条件下进行暗室处理，水洗 后晾干。由此得到一系列光学密度呈阶梯变化的黑度片（底片）。 4.黑度测定 用精度较高的黑度计测出底片上的各阶梯黑度值，确定符合像质指数值而黑度为3.0的阶梯厚度，将数值填入表1中，如底片上找不到正好符合黑度3.0的阶梯厚度，也可根据相邻阶梯的黑度，用插入法确定适用的相应厚度。 5.在适当的座标纸上，画出纵座标（管电压或曝光量）和横座标（厚
度）的刻度（如图1），然后按表1的数据绘出相应的曝光曲线。 在曲线图中应同时注明其他有关条件。 6.已完成的曝光曲线，在实际透照中，由于某些条件的变化，如焦 距、胶片类型改变，射线管更换或老化后必须进行校准修正。 表1 以曝光时间为参数的曝光试验记录 管电流5mA X射线机型号显影配方天津普尔黑度 3.0 增感屏0.03mm 显影温度20℃焦距700mm 胶片类型Kaddk-AA400 显影时间5min 管电压KV P150 160 170 180 190 200 210 220 230 240 曝光时间T 2′ N0 T 3′ N0 T 5′ N0 T 管电压KV P250 260 270 280 290 300 310 320 330 340 曝光时间T 2′ N0 T 3′ N0 T 5′ N0 T
运用Excel做标准曲线
Excel绘制标准曲线全图片教程 随着计算机的日益普及，越来越多的检验工作者希望能从一些烦琐的工作中解脱出来，如：绘制标准曲线、绘制质控图、计算检测值等等。当然借助检验科办公系统理论上是最方便的，但很多单位是没有检验科办公系统的。其实借助Microsoft的Excel电子表格工具对检验工作也会带来很大的便利。 Excel是Microsoft offices系统的重要组成，它是界于WORD字处理软件与ACCESS数据库软件之间的电子表格工具，功能十分强大，特别适合于日常工作使用。使用得好，完全比目前所有的检验科办公系统优秀。 现就先介绍一下如何使用Excel绘制标准曲线。 首先，将数据整理好输入Excel，并选取完成的数据区，并点击图表向导，如下图所示。 点击图表向导后会运行图表向导如下图，先在图表类型中选“XY散点图”，并选了图表类型的“散点图”（第一个没有连线的）。
点击“下一步”，出现如下图界面。如是输入是如本例横向列表的就不用更改，如果是纵向列表就改选“列”。
如果发现图不理想，就要仔细察看是否数据区选择有问题，如果有误，可以点击“系列”来更改，如下图。
如果是X值错了就点击它文本框右边的小图标，结果如下图： 出现上图后，如图在表上选取正确的数据区域。然后点击“下一步”出现图表选项界面，如下图，上应调整选项，以满足自己想要的效果。
点击“下一步”，现在一张带标准值的完整散点图就已经完成，如下图。
完成了散点图，现在需要根据数据进行回归分析，计算回归方程，绘制出标准曲线。其实这很简单，先点击图上的标准值点，然后按右键，点击“添加趋势线”。如下图。
曝光曲线的制作及应用
曝光曲线的制作及应用 曝光曲线是表示工件（材质、厚度）与工艺规范（管电压、管电流、曝光时间、焦距、暗室处理条件等）之间相关性的曲线图示。但通常只选择工件厚度、管电压和曝光量作为可变参数，其他条件必须相对固定。 曝光曲线必须通过试验制作，且每台X射线机的曝光曲线各不相同，不能通用。 一、曝光曲线的构成和使用条件 1.曝光曲线的构成 横坐标表示工件的厚度，纵坐标用对数刻度表示曝光量，管电压为变化参数，所构成的曲线则称为曝光量-厚度（E-T)曲线；若纵坐标表示管电压、曝光量为变化参数的曲线则称为管电压-厚度（Kv-T)曝光曲线。图1所示为一般形式的X射线曝光曲线图；图2所示为一种实用的γ射线曝光曲线图。 图1 X射线曝光曲线图 a)曝光量-厚度曲线 b)管电压-厚度曲线 2.曝光曲线的使用条件 任何曝光曲线只适用于一组特定的条件，这些条件包括： (1)所使用的X射线机（相关条件：高压发生线路及施加波形、射源焦点尺寸及固有滤波）。 (2)—定的焦距（常取600?800 mm)。 (3)—定的胶片类型（通常T3或T2胶片）。 (4)一定的增感方式（屏型及前后屏厚度）。 (5)所使用的冲洗条件（显影配方、温度、时间）。 (6)基准黑度（通常取3.0)。
图3 制作曝光曲线的D-T 曲线 a)小曝光量D-T 曲线 b)大曝光量D-T 曲线 这类曝光曲线一般只适用于透照厚度均匀的平板工件，而对厚度变化较大的工件如形状 复杂的铸件等，只能作为参考。 二、曝光曲线的制作 曝光曲线是在机型、胶片、增感屏、焦距等条件一定的前提下，通过改变曝光参数（固定“kV ”、改变“mA?min”或固定“mA?min”改变“kV ”）透照由不同厚度组成的钢阶梯试块，根据给定冲洗条件洗出的底片所达到的某一基准黑度（如为3.0或2.0)，来求得“kV ” “mA?min”、T 三者之间关系的曲线。 1.绘制D-T 曲线 采用较小曝光量、不同管电压拍摄阶梯试块，获得第一组底片。再采用较大曝光量、不同管电压拍摄阶梯试块，获得第二组底片，用黑度计测定获得透照厚度与对应黑度的两组数据，绘制出D-T 曲线图（见图3)。 图2 Se75γ射线曝光曲线图
X射线探伤
X射线照相法探伤实验 一、实验目的 1．通过X射线照相法探伤实验，使学生进一步了解射线探伤的原理及应用。 2．熟悉X射线探伤的工艺过程，了解X射线机的使用方法和操作步骤。 3．初步掌握X射线照相法探伤中依据有关标准判定缺陷的方法。 二、实验原理 X射线照相法探伤是利用X射线在物资中的衰减规律和射线能使某些物质产生荧光、光化作用的特点，将射线穿过被探工件照射到X射线胶片上使胶片感光，再经过暗室处理，得到反映工件内部情况的照相底片，利用这种底片在强光灯上分析，从而判断被探工件内部质量。 三、实验设备及用品 1、实验设备 工业用X射线探伤机观片灯 胶片衡温干燥箱黑度计 2、实验用品 评片尺、像质计、X射线胶片、暗袋、增感屏、铅字标记、 显影药水、定影药水、洗片夹等 附XXQ-2505型便携式X射线探伤机外观图 1 工作状态指示灯（B）8 高压开关 2 工作状态指示灯（A）9 高压保护锁
3 时间显示器10 电源开关 4 时间调节旋钮11 保险丝 5 kV调节旋钮12 电源插座 6 透明曲线板13 接地端子 7 高压开键（START）14 接地电缆插座 四、实验步骤（依据GB3323-87） 1、配制显影、定影药水（一般应提前24小时配制），做好暗室准备。 2、将X射线胶片，增感屏按确定的增感方式在暗室中装入暗袋。 3、选取一对接平板焊缝或对接钢管焊缝试件，并按标准规定在试件指定地方，放置定
图二对接钢管焊缝底片成像图 5、检查安全防护状况及警示灯是否完好。 6、按响警示电铃，提示所有人员离开放射室，进入安全地带，关闭放射室铅门。 7、开机拍片，操作步骤如下： 1）根据拍片透照厚度（母材厚度十焊缝余高），在曝光曲线上选择相应的曝光参数：管电压KV值和曝光时间。 2）打开操纵台电源开关： 工作状态指示灯（A）绿 工作状态指示灯（B）绿 计时器显示（0.0） 3）按红键2次：A灯（黄），B灯（不亮） 4）调节KV和时间旋纽至所需值。 5）按绿键：A灯（红色闪亮），B灯（不亮） X射线发生器开始工作，拍片开始。 计时器从“0.0”开始计时，直到设定时间为止，蜂鸣器发出声响，高压自动切断，此次拍片结束，计时器进入倒计时。倒计时结束后，蜂鸣器再次发出声响，A灯（黄色闪亮），可进行下一次拍片。此时的A灯为延时标志，若延时黄灯不闪亮，则不能开高压。（机器工作时间与休息时间按1:1比例进行，以保证机器使用寿命。） 8、暗室处理 在暗室中将暗袋里已拍照的胶片取出，进行暗室处理，其步骤是： 显影→停影→定影→水冲→干燥 在暗室处理的所有过程中应规范操作，以免在底片上的有效评定区内留下水迹、划伤、斑纹等伪缺陷。 9、依据标准评片 在X射线照相法检验中是根据底片上发现的缺陷性质、大小和数量对照验收标准来评定被检工件的质量及等级。例目前在船舶工业中使用的“GB3323-87”（钢熔化焊对接接头射线照相和质量分级），故在实验前应对所参照的评定标准有所了解。 87标准对射线底片的评定包括照相质量和焊接质量两项评定。其中照相质量是对射线检验操作技术本身的质量要求，焊接质量等级则是对焊缝质量高低的评价，前者是后者的保证。 1）照相质量的评定 87标准将照相质量分为A、AB和B三个不同的级别，具体以射线底片上指定区域的黑度和象质指数来衡量。 ①底片黑度 底片黑度不仅影响底片的对比度，而且影响底片象质计线径的识别，所以黑度过高或过低对缺陷的检出均不到，应控制在规定的范围内（如表二），并且要在底片上指定的区域内
射线探伤工艺作业指导书
射线探伤工艺作业指导书 1有限公司 目录
1、主题内容 2、适用范围 3、对探伤人员的要求 4、对透照工件表面的要求 5、探伤比例的要求及合格级别 6、器材的选择 7、透照工艺 8、胶片的暗室处理 9、底片质量 10、底片的观察 11、记录报告 12、安全防护 1、主题内容 1.1保证工业锅炉对接焊缝射线探伤的准确性，保证锅炉能够正常的运行。 2、适用范围 2.1适用于工业锅炉的过热器、省煤器、集箱、压力管道等安装中管-管、管-板对接焊缝射线透照检测。焊接方式为氩弧焊打底、手工焊盖面。 3、对探伤人员的要求
凡从事射线探伤工作人员，都必须经过技术培训，并按3.1．照劳动部文件“锅炉压力容器无损检测人员资格考核规则”进行考核鉴定。 3.2无损检测人员按技术等级分高、中、初级。取得各技术等级人员，只能从事与该技术等级相应的无损检测工作，并负相应的技术责任。 3.3操作人员应具有RT—I 以上资格证书，评定及审核人员应具有RT—II级以上资格证书。 3.4从射线探伤人员应能辨别距离400mm远的一组高为 0.5mm，间距为0.5mm的印刷字母。 4、对透照工件表面的要求 4.1焊缝及热影响区的表面质量（包括余高高度）应经外观检查合格。表面的不规则状态在底片上应不掩盖焊缝中的缺陷或与之相混淆，否则应做适当的修整。 4.2焊缝外观检验合格后，由检验员签发《无损探伤委托书》。 4.3焊缝透照质量达到NB/T47013—2015标准AB级。 5、探伤比例的要求及合格级别 5.1探伤比例的要求及合格级别 5.2焊缝合格级别达到NB/T47013—2015标准的II级。 6、器材的选择 6.1焊缝透照选用理学----300或国产300周向射线探伤机，固定焊缝选用理学-----2505或丹东----2505定向射线探伤机。
JF-QIGG-013X射线探伤机期间核查规程D0
Ｘ射线探伤机期间核查规程 （文件编号：JF-QIGG-013） 共1页第1页版本/版次：D/ 0 生效日期：2016-01-01 1.总则 1.1 X射线探伤机在正常使用期间，X光管会随着使用时间增加其技术性能也会逐渐降低， 所以对使用中的X射线探伤机应经常定期进行技术性能测试，以调整曝光参数，保证拍片的质量是非常必要的。 1.2 曝光曲线测试是X射线探伤机技术性能的一种实用性方法，曝光曲线可以根据X射 线管在不同的使用时间，准确调整曝光量与透照厚度的关系。 2.检验步骤 2.1 根据仪器的实用情况固定如下条件： 2.1.1 确定X射线胶片类型、增感方式及确定暗室冲洗胶片条件。 2.1.2 确定被测仪器的管电流、焦距、曝光时间和底片黑度值。 2.1.3 根据探伤机的透照厚度范围，选择阶梯试块厚度。 2.2 透照： 2.2.1 将探伤机的焦点对准试块中心。 2.2.2 从探伤机KV值的低端向高端以相等的递增量拍片8张以上。 2.3 暗室处理： 2.3.1 将上述曝光的一套胶片，按以固定的暗室处理条件，同时一次进行冲洗，经充分水 洗后晾干。 2.4 底片黑度的测定： 2.4.1 用黑度计测定底片上每一厚度对应的黑度值，每一黑度值测三次取其平均值为该厚
度的黑度值。 2.4.2 将每张底片中不同厚度所对应的黑度值填入《底片黑度测定表》中。 2.5 做图： 2.5.1 在直角坐标系中，用水平轴表示透照厚度，垂直轴表示黑度值。划出每个KV值对应 的曲线。 2.5.2 以确定的黑度值划一条水平线，找出该水平线与每条曲线的交点（KV值与厚度值）。 2.5.3 再用一张直角的坐标纸，以水平轴表示透照厚度，垂直轴表示KV值，将上述交点值 对应填入，用直线将各点连接起来即为曝光曲线。 3.判定标准 3.1 在曝光曲线的高、中、低端各取一对应厚度值拍片三张，经暗室处理后晾干。 3.2 测定三张底片的黑度值，其黑度值应与确定的黑度值误差范围在±5％内，否则该曲线 应重作。 3.3 经校验合格的曲线作为该仪器在检定周期内的技术性能指标。 4.检定人员及检验周期 4.1检定人员必须熟练掌握仪器的结构、原理、性能，具有射线理论基本知识，并经考核 合格，取得Ⅱ级以上（含Ⅱ级）资格证书。 4.2 X射线探伤仪的检验周期为12个月。 5.相关记录 5.1 X射线探伤仪期间核查记录(JF-QRGG-025) 编制/日期：批准/日期：
HPLC标准曲线的制作
HPLC标准曲线的制作 你可以随便弄一个浓度进一针样品看一看你这个样品的吸收度如何，再根据你样品的吸收度配置适当的底浓度样品逐个稀释这样可以连检测线定量限一起做了，一举3得(最后将你得到的峰面积根据你的进样浓度做一个线性回归就行啦，线性好的话R的平方一般接近于1 。 请问下各位在上样的时候是进同浓度的不同体积的样液绘制标准曲线好还 是先配好不同浓度的样液再以相同体积进样好呢, 这2个有什么区别吗, 请你看看分析化学书，有关精密度和线性的关系就知道了，实在不行，可以查看2005版药典一部附录新药质量标准的技术要求项下。自己看看就知道了。 我觉得进不同浓度相同体积好.因为你进样体积不同.在同样的方法下,系统的 各项参数可能会发生变化.而且你要通过进样体积的变化来控制浓度范围,这样也不大可行.一般我们进样的体积是5到20微升.而这个狭小的范围我们能调控的浓度线性范围非常窄.而通过事先调配不同浓度的话,就简单可行,而且浓度范围可以任意去控制.在实际操作中,老师也一直是教我们通过控制不同浓度来制作标准曲线的.以上只是个人的粗浅看法,欢迎高手们前来批评指正!!!!!!!!!! 前面几个站友说得都很好。我简单再补充一点自己的看法。 一般而言，还是不同浓度进相同体积做标曲是最规范的做法，而且可以有效避免人为误差。比如说，你的一个浓度配错了，如果以这个浓度为基准进不同的体积，会导致你最后的结果会整体偏大或偏小。所以要特别注意。 但实际工作中，如果你们的产品做得比较成熟了，而且做实验的经验比较丰富，大家为了省事还是多采用配一个浓度进不同的体积。 以进样量做标准曲线和以不同浓度进样相同体积做标准曲线差别不大。
标准曲线的制作方法
标准样品的准备 由于你做的是基因表达分析，样品的准备就比较简单了，因为你要知道都是相对的数值（你的对照样品和实验样品中基因表达的比值），这样就不需要知道精确的拷贝数，所以标准品也就无须知道精确的拷贝数，只需知道稀释的倍数就可以了。 你实验中的标准品可以是来源比较丰富的细胞或组织的RNA转录得到的cDNA。将这种cDNA进行梯度的稀释，可以是稀释10倍，100，1000，10000等倍（具体到你的实验要根据具体的情况来调整稀释倍数。最好能作一个预实验来看看什么样的稀释倍数比较适合你的这种基因的扩增）。而对于各个稀释倍数我们要对它的拷贝数进行赋值，这个值当然不是标准品中真实含有的基因数量（在基因表达分析中也不需要），而是我们根据稀释倍数给每一个稀释度人为赋予的拷贝数，这只是为了方便实验最终结果的计算而已。比如我们把前面稀释十倍的样品赋值为10000个拷贝，100倍的赋值为1000个拷贝依次类推把10000倍的赋为10等。要注意，赋值的数目的倍数差异和你稀释的倍数是一样的，比如前面是10稀释，后面赋值也是10倍变化。 如何做标准曲线 在定量实验中标准品是要和你的未知样品一起进行定量实验的，这样在实验结束，无论是标准品还是未知样品都将跑出曲线，获得Ct值。那么我们先可以把未知样品放到一边，对于标准品来说，我们既获得了Ct值，还知道他们的拷贝数（虽然这个拷贝数是我们自己赋予的）。这样我们可以通过标准品的Ct值和拷贝数做一条标准曲线（以拷贝数为横坐标，而Ct值为纵坐标）。一旦作出了标准曲线，而未知样品的Ct值我们知道（通过实验求得的），这时候就在标准曲线上进行定位，就可以得到未知样品的拷贝数了。 事实上，操作起来没有那么复杂，你只需要告诉软件你的哪个孔是标准品，哪个是未知样品，以及标准品的拷贝数等必要信息，软件会自动帮你把标准曲线和未知样品的拷贝数计算出来。 举例来说如何进行设置 先进入软件，在板设置中选择所放样品的位置，并标上unknow或standard等信息。 选择要使用的荧光染料。