二极管模型-201209

二极管模型和模型参数

西安电子科技大学微电子学院

贾新章

xzjia@https://www.360docs.net/doc/e117961566.html,

2012年9月

概述:关于器件模型和模型参数

1.Model and Model Parameter(模型和模型参数)

采用电路模拟软件进行电路模拟时,实际上是以等效电路代替有源器件,然后建立回路方程、计算求解。

(1) Model:采用的等效电路就是代表元器件的“模型”;

“等效”指端特性等效。

(2) Model Parameter:等效电路中描述元件值的参数就是“模型参数”。

不同的电路模拟软件中采用的模型不完全相同,模型参数的名称和个数也不尽相同。

本讲稿以SPICE模拟软件中采用的模型和模型参数为对象。

2.模型和模型参数的作用

(1) 决定电路是否可以用电路模拟软件模拟;

(2) 决定模拟结果的好坏(模型正确性与精确性、模型参数值与实际器件特性的符合程度)。

器件模型越精确,电路模拟效果越好,但是计算量也越大,因此应折衷考虑。这样,对同一种器件,往往提出几种模型。

概述:关于器件模型和模型参数

3. 目前研究的问题

(1) 提高模型精度。

(2) 建立新器件的模型:例如需要添加新出现的化合物半导体器件模型。

(3) 提高模型参数提取精度(如结合Model Editor、优化模块、DOE技术)

如果采用模拟软件附带的模型参数库,当然不存在任何问题。如果电路中采用了模型参数库中未包括的器件,如何比较精确地确定该器件的模型参数将是影响电路模拟结果的关键问题。

4. 提示

(1) 学习中应该掌握模型参数的含义,特别应注意每个模型参数的作用特点,即在不同的电路特性分析中必需考虑考虑哪些模型参数。

(2) 大部分模型参数都有默认值,特别是有些模型参数的默认值为0或者无穷大。如果这些模型参数采用默认值,相当于不考虑相应的效应。

二极管模型和模型参数

二极管模型和模型参数

等效电路中包括四个元件

(1)I D :描述流过结I-V 特性的电流源

(2)C D :扩散电容

(3)C J :势垒结电容

(4)R S :串联电阻

考虑串联电阻,结电压为:Va=Vapp-I D ×R S

二极管模型和模型参数复习:描述不同效应的二极管电流基本表达式(1) 理想模型:I D =I S [exp(qVa/kT)-1]

只包括饱和电流I S (Saturation current)一个参数。

考虑到一般情况下I-V 的指数关系不是理想的1,因此I D 表达式改为

I D =I S [exp(qV A /N kt)-1]

新增一个模型参数:发射系数N (Emission coefficient)(默认值为1)。

(2) 考虑到势垒区的产生和复合效应,I D 应该“叠加”下述表式:

I SR [exp(qVa/N R kT)-1]

包括I SR (默认值为0)和N R (默认值为2)两个模型参数

(3) 考虑大注入效应,特大电流时,I D 从理想模型表达式“转化”为下述表达式:

新增一个模型参数I KF (默认值为无穷大)

(4) 考虑到击穿区的倍增效应,反向电流还应“叠加”下述表达式:

I BV exp [-q (Va+BV )/N BV kT]

包括I BV 、BV (默认值为无穷大)和N BV 三个模型参数

说明:该表达式类比二极管正向电流表达式的形式。

其中反向电流为I BV 时的结电压定义为二极管的击穿电压BV 。

二极管模型和模型参数

一、电流源I

表达式和模型参数

D

基于上述基本表达式,PSpice中“构造”的二极管I

统一表达式为

D

在描述势垒产生-复合电流的表达式中又附加了一项描述势垒区宽度随Va变化对产生-复合电流的影响。

新增两个模型参数:

VJ:内建电势

M:梯度因子(默认值为2)

同时还引入一个参数Area,称为面积因子。

二极管模型和模型参数

面积因子Area的作用

同一个集成电路中有不同尺寸的二极管,虽然是采用相同的工艺过程制造的纵向结构参数(如结深、杂质分布等)相同,但是分别需要采用一组模型参数来描述。

二极管模型参数中,有些参数只与纵向结构参数有关,例如VJ、N、NR、M 、BV、CJ0、TT等。其余模型参数则与结面积有关,例如几个电流参数IS、ISR 、IBV,以及RS等。

考虑到上述特点,如果引入参数Area,采用下述方式,只需要用一组模型参数就可以描述同一个集成电路中的所有不同尺寸二极管:

取其中一个二极管为“参考”二极管,将该二极管的Area值取为1,并确定该二极管的模型参数。然后计算其他尺寸二极管结面积与参考二极管结面积的比值,作为相应二极管的面积因子Area值。所有二极管中那些与结面积无关的模型参数均直接采用参考二极管的模型参数,而与结面积有关的模型参数只需按照与结面积的相关关系也可以由参考二极管的模型参数计算得到。

结论:同一个集成电路中结构相同但尺寸不同的二极管,只要对每种二极管引入Area参数,则所有这些二极管就可以共用一组模型参数。

二极管模型和模型参数

2. 势垒电容

为了反映正偏情况下空间电荷区中

载流子的影响,势垒电容的一般表达

式为:

V

A

小于等于FC*VJ:

C

J =Cj0(1-V

A

/VJ)-M

V

A

大于FC*VJ:

C

J =Cj0(1-FC)-(1+M)(1-FC(1+M)+MV

A

/VJ)

包括4个参数。除了前面已出现的两个模型参数外,新增:Cj0:零偏势垒电容(默认值为0);

FC称为势垒电容正偏系数。

二极管模型和模型参数

(4) 扩散电容

C T =TT (dI fwd /dV A )=TT*Gd

新增一个模型参数.

TT :渡越时间(Transit time)

二极管模型和模型参数基本的二极管模型参数

二极管模型和模型参数

说明:

(1) 关于各个模型参数含义的理解:

对于各个模型参数,应该重点理

解下述两个问题:

该参数反映的是PN结中哪个物理

过程?

该参数主要影响二极管器件的哪

些主要特性?

(2) 关于默认值为0或者无穷大的模型

参数

对于默认值为0或者无穷大的模型

参数,如果未给其赋值,模拟软件将

采用默认值,相当于不考虑该参数代

表的物理效应。

二极管模型和模型参数

其他效应的考虑

在PSpice模拟软件采用的二极管模型中,还同时考虑许多其他特性,例如:

噪声模型;

模型参数随温度的变化(包括:

饱和电流IS、

复合电流ISR、

串联电阻RS、

势垒内建电势VJ、

零偏结电容CJ0、

大注入“膝点电流”IKF、

击穿电压BV等参数);

等等。

使二极管模型参数总数达到29个。

PSpice中采用的二极管模型参数

器件模型参数的“优化”提取

1.基本原理

记器件模型为I=I(θ,V),其中θ代表一组模型参数。

若测量一组端特性数据为(V1,I1)、(V2,I2)、……、(Vn,In)

在外加电压Vi作用下,测量的电流值为Ii,而按照模型计算得到的电流应该为I(θ,Vi)。如果模型和模型参数绝对精确,则这两个值应该相等,即

Ii= I(θ,Vi)。

由于模型和模型参数不可能绝对精确,测量数据也存在误差,使上式等式不可能完全成立。但是如果模型和模型参数能满足实用要求,则测量值与模型计算值之差应该比较小。数学表示即为:

只要已知端特性数据(V1,I1)、(V2,I2)、……、(Vn,In),就可以采用优化算法,从上述目标函数中优化提取出模型参数θ

2.实用工具(例)

(1) PSpice/Model Editor;(2) PSpice/Optimizor

例:GaN发光二极管模型参数优化提取测量的特性曲线

(线性坐标)

例:GaN发光二极管模型参数优化提取测量的特性曲线

(半对数坐标)

例:GaN发光二极管模型参数优化提取优化提取结果

误差分析(未超过3%)

例:GaN发光二极管模型参数优化提取由提取出的模型参数值模拟计算得到的特性曲线(黄色)与测量特性曲

线(蓝色)的比较

抑制功率二极管反向恢复几种方案的比较 0 引言 高频功率二极管在电力电子装置中的应用极其广泛。但PN结功率二极管在由导通变为截止状态过程中,存在反向恢复现象。这会引起二极管损耗增大,电路效率降低以及EMI增加等问题。这一问题在大功率电源中更加突出。常用RC吸收、串入饱和电抗器吸收、软开关电路等开关软化方法加以解决,但关于其效果对比的研究报道尚不多见。本文以Buck电路为例,对这几种方案进行了比较,通过实验及仿真得出有用的结论。 1 二极管反向恢复原理 以普通PN结二极管为例,PN结内载流子由于存在浓度梯度而具有扩散运动,同时由于电场作用存在漂移运动,两者平衡后在PN结形成空间电荷区。当二极管两端有正向偏压,空间电荷区缩小,当二极管两端有反向偏压,空间电荷区加宽。当二极管在导通状态下突加反向电压时,存储电荷在电场的作用下回到己方区域或者被复合,这样便产生一个反向电流。 2 解决功率二极管反向恢复的几种方法 为解决功率二极管反向恢复问题已经出现了很多种方案。一种思路是从器件本身出发,寻找新的材料力图从根本上解决这一问题,比如碳化硅二极管的出现带来了器件革命的曙光,它几乎不存在反向恢复的问题。另一种思路是从拓扑角度出发,通过增加某些器件或辅助电路来使功率二极管的反向恢复得到软化。目前,碳化硅二极管尚未大量进入实用,其较高的成本制约了普及应用,大量应用的是第二种思路下的软化电路。本文以一个36V输入、30V/30A输出、开关频率为62.5kHz电路(如图1所示)为例,比较了几种开关软化方法。 图1 Buck电路

2.1 RC吸收 这是解决功率二极管反向恢复问题的常用方法。在高频下工作的功率二极管,要考虑寄生参数。图2(a)为电路模型,其中D为理想二极管,Lp为引线电感,Cj为结电容,Rp为并联电阻(高阻值),Rs为引线电阻。RC吸收电路如图2(b)所示,将C1及R1串联后并联到功率二极管D0上。二极管反向关断时,寄生电感中的能量对寄生电容充电,同时还通过吸收电阻R1对吸收电容C1充电。在吸收同样能量的情况下,吸收电容越大,其上的电压就越小;当二极管快速正向导通时,C1通过R1放电,能量的大部分将消耗在R1上。 (a) 功率二极管电路模型(b) RC吸收电路 (c) 串联饱和电抗器(d) 二极管反向恢复软化电路 图2 解决功率二极管反向恢复问题的常用方案 2.2 串联饱和电抗器 这是解决这一问题的另一种常用方法,如图2(c)所示。一般铁氧体(Ferrite)磁环和非晶合金(Amorphous)材料的磁环都可以做饱和电抗器。根据文献[1],用饱和电抗器解决二极管反向恢复问题时,常用的锰锌铁氧体有效果,但是能量损失比非晶材料大。随着材料技术的进展,近年来非晶饱和磁性材料性能有了很大提高。本文选用了东芝公司的非晶材料的磁环(型号:MT12×8×4.5W)绕2匝作饱和电抗器。 对应图3(a)和图3(b),第Ⅰ阶段通过D0的电流很大,电抗器Ls饱和,电感值很小;第Ⅱ阶段当二极管电流开始下降时,Ls仍很小;第Ⅲ阶段二极管电流反向,反向恢复过程开始(trr为反向恢复时间),Ls

半导体二极管及其应用电路 1.半导体的特性 自然界中的各种物质,按导电能力划分为:导体、绝缘体、半导体。半导体导电能力介于导体和绝缘体之间。它具有热敏性、光敏性(当守外界热和光的作用时,它的导电能力明显变化)和掺杂性(往纯净的半导体中掺入某些杂质,会使它的导电能力明显变化)。利用光敏性可制成光电二极管和光电三极管及光敏电阻;利用热敏性可制成各种热敏电阻;利用掺杂性可制成各种不同性能、不同用途的半导体器件,例如二极管、三极管、场效应管等。 2.半导体的共价键结构 在电子器件中,用得最多的材料是硅和锗,硅和锗都是四价元素,最外层原子轨道上具有4个电子,称为价电子。每个原子的4个价电子不仅受自身原子核的束缚,而且还与周围相邻的4个原子发生联系,这些价电子一方面围绕自身的原子核运动,另一方面也时常出现在相邻原子所属的轨道上。这样,相邻的原子就被共有的价电子联系在一起,称为共价键结构。 当温度升高或受光照时,由于半导体共价键中的价电子并不像绝缘体中束缚得那样紧,价电子从外界获得一定的能量,少数价电子会挣脱共价键的束缚,成为自由电子,同时在原来共价键的相应位置上留下一个空位,这个空位称为空穴, 自由电子和空穴是成对出现的,所以称它们为电子空穴对。在本征半导体中,电子与空穴的数量总是相等的。我们把在热或光的作用下,本征半导体中产生电子空穴对的现象,称为本征激发,又称为热激发。 由于共价键中出现了空位,在外电场或其他能源的作用下,邻近的价电子就可填补到这个空穴上,而在这个价电子原来的位置上又留下新的空位,以后其他价电子又可转移到这个新的空位上。为了区别于自由电子的运动,我们把这种价电子的填补运动称为空穴运动,认为空穴是一种带正电荷的载流子,它所带电荷和电子相等, 符号相反。由此可见, 本征半导体中存在两种载流子:电子和空穴。而金属导体中只有一种载流子——电子。本征半导体在外电场作用下,两种载流子的运动方向相反而形成的电流方向相同。本征半导体的导电能力取决于载流子的浓度。温度越高,载流子的浓度越高。因此本征半导体的导电能力越强,温度时影响半导体性能的一个重要的外部因素。

第三章二极管 一、判断题 1、因为N型半导体的多子是自由电子,所以它带负电。() 2、PN结在无光照、无外加电压时,结电流为零。() 3、二极管的四类理想模型分别是理想二极管模型、恒压模型、折线模型、小信号模型()。 4、掺入3价杂质元素形成的半导体叫N型半导体。() 5、掺入5价杂质元素形成的半导体叫N型半导体。() 6、N型半导体多子为电子,而P型半导体的少子为空穴() 7、N型半导体多子为电子,而P型半导体的少子也是电子。() 8、PN结外加反向电压指N极电位比P极电位高。() 9、PN结外加反向电压耗尽层变厚,扩散电流增加。() 10、PN结外加反向电压耗尽层变厚,耗尽层变厚,扩散电流增加。() 11、Si二极管的正向导通电压比较Ge二极管的正向导通电压高。() 12、二极管的反向击穿有两种,一种是齐纳击穿,另一种雪崩击穿,齐纳击穿时所需反压一般比较雪崩击穿时高。() 13、二极管的齐纳击穿是可逆的。() 14、二极管的热击穿是可逆的,而击电穿是不可逆。() 15、发光二极管正常工作时加正向偏置电压,而稳压二极管正常工作时一般加反向偏置电压。() 16、PN结外加反向电压势垒区变窄。() 17、二极管在工作电流大于最大整流电流I F时会损坏。() 18、二极管在工作频率大于最高工作频率f M时会损坏。() 19、二极管在反向电压超过最高反向工作电压U RM时会损坏。() 20、在N型半导体中如果掺入足够量的三价元素,可将其改型为P型半导体。() 21、稳压管正常稳压时应工作在正向导通区域。() 二、填空题 1、当PN结外加反向电压时,耗尽层厚度将变____,漂移电流的大小将___。 2、纯净的半导体叫____半导体。掺入3价杂质元素形成的半导体叫____型半导体,它主要靠____导电。 3、掺杂半导体叫____半导体。掺入5价杂质元素形成的半导体叫____型半导体,它主要靠____导电。 4、PN结正向偏置是指P区接电源的__极、N区接电源的__极。这时多子的作____运动较强,PN 结厚度变____,结电阻较____。 5、当温度升高时,由于二极管内部少数载流子浓度____,因而少子漂移而形成的反向电流____, 6、二极管反向伏安特性曲线____移。 7、半导体稳压管的稳压功能是利用PN结的____特性来实现的。 8、二极管P区接电位__端,N区接电位__端,称正向偏置,二极管导通;反之,称反向偏置,二极管截止,所以二极管具有____性。

二极管的开关作用和反向恢复时间 PN结二极管经常用来制作电开关。在正偏状态,即开态,很小的外加电压就能产生较大的电流,;在反偏状态,即关态,只有很小的电流存在于PN结内。我们最感兴趣的开关电路参数就是电路的开关速度。本节会定性地讨论二极管的开关瞬态以及电荷的存储效应。在不经任何数学推导的情况下,简单给出描述开关时间的表达式。 二极管的开关作用 利用二极管正、反向电流相差悬殊这一特性,可以把二极管作开关使用。 当开关K打向A时,二极管处于正向,电流很大,相当于接有负载的外回路与电源相连的开关闭合,回路处于接通状态(开态); 当开关K打向B时,二极管处于反向,反向电流很小,相当于外回路的开关断开,回路处于断开状态(关态)。 在关态时,流过负载的电流就是二极管的反向电流IR。二极管的反向恢复时间 假设外加脉冲的波形如图(a)所示,则流过二极管的电流就如图(b)所示。

外电路加以正脉冲时 导通过程中,二极管P区向N区输运大量空穴,N区向P区输运大量电子。 随着时间的延长,N区内空穴和P区内电子不断增加,直到稳态时停止。在稳态时,流入N区的空穴正好与N区内复合掉的空穴数目相等,流入P区的电子也正好与P区内复合掉的电子数目相等,达到动态平衡,流过P-N结的电流为一常数I1。 随着势垒区边界上的空穴和电子密度的增加,P-N结上的电压逐步上升,在稳态即为VJ。此时,二极管就工作在导通状态。 当某一时刻在外电路上加的正脉冲跳变为负脉冲时 正向时积累在各区的大量少子要被反向偏置电压拉回到原来的区域,开始时的瞬间,流过P-N结的反向电流很大,经过一段时间后,原本积累的载流子一部分通过复合,一部分被拉回原来的区域,反向电流才恢复到正常情况下的反向漏电流值IR。正向导通时少数载流子积累的现象称为电荷储存效应。二极管的反向恢复过程就是由于电荷储存所引起的。反向电流保持不变的这段时间就称为储存时间ts。在ts 之后,P-N结上的电流到达反向饱和电流IR,P-N结达到平衡。定义流过P-N结的反向电流由I2下降到0.1 I2时所需的时间为下降时间tf。储存时间和下降时间之和为(ts+tf)称为

大功率IGBT模块内建二极管反向恢复时间测试 ——SKM150GB123D (使用DI-100测试仪器)IGBT模块很贵,主要厂家为国外的厂家,我们不得不承认,这个模块还是被国外的厂家所垄断,中国自主的品牌没有呀! 即使是国外的管子,有的管子速度快、有的耐压高、有的电流大,型号各异,特性各异,有的时候,我们在设计大功率开关电源的时候,还需要关注IGBT模块的内建二极管,尤其是内建二极管的反向恢复时间,那就是恢复速度。 为了用buck电路来做一个100A的恒流源,我选择SKM150GB123D模块,它内部有两个IGBT单元,如果使用一个IGBT开关,另外一个模块只用它的内建二极管或者寄生二极管,用来作为BUCK电路的续流二极管,岂不美哉! 现在困扰我的是,这个内建二极管或者寄生二极管的速度如何,如果速度快,那就相当beauty了,但是如果速度慢,那就悲哀了,还需要外接一个大容量,高速的二极管,麻烦呀,官方给定的资料不够,看不出内建二极管的速度。于是我就用DI-100二极管反向恢复测试仪,测试这个IGBT的内建二极管速度。 测试结果给大家分享一下,如下图。 图1 二极管外形图2 示波器存储的波形

图3 二极管正向导通电流图4 二极管反向恢复电流 图5二极管反向恢复电流斜率图6 二极管反向恢复时间 为BUCK 电路的续流二极管,高兴中。。。。 再找找,发现手头上还有另外一个300A的IGBT模块,干脆一起测试一下,分享一下测试结果。测量FF300R12KT4 IGBT内建二极管反向恢复时间测试。 图1 二极管外形图2 示波器存储的波形

图3 二极管正向导通电流 图4 二极管反向恢复电流 图5二极管反向恢复电流斜率 图6 二极管反向恢复时间 综上 根据测试结果,发现这个IGBT 的内建二极管的速度快,但不是非常快,如果用来作为BUCK 电路的续流二极管,略微显得有点不足。。。。还需要考虑再三呀! 总结,如果知道IGBT 的内建二极管恢复时间,就可以对IGBT 模块的内建二极管进行充分的利用,优化设计,少走弯路。一个优秀的工程师,当然必须要有足够好的测试仪器才行呀,强烈推荐长春艾克思科技有限责任公司的二极管反向恢复测试仪DI-100,这个是强电大功率电源工程师、大功率电源生产厂家必备的仪器!

测试二极管反向恢复特性的分析仪 作者:Louis Vlemincq,Belgacom,Evere,Belgium 测试二极管的反向恢复特性一般都需要复杂的测试设备。必 须能够建立正向导通条件、正向闭锁状态、及两者间的过渡。还需要有一种从所得到的波形中提取特征的手段。总而言之,这并不是一项很简单的例行操作,应由专业人员来完成这项复杂的工作。这个事实说明了工程师们为什么通常都会依赖于公布的数据。 但如果测试比较简单,亲自动手来检查反向恢复时间是有好处的。这种设置可以让你在相同的条件和没有这种规范的测试设备下比较不同厂商的设备,如驱动集成电路的衬底二极 管,齐纳二极管及标准整流器等(由于测试参数有很多组合,直接比较数据不太现实)。切记,反向恢复时间不一定越短越好,速度较慢的二极管也很有用。速度较慢的二极管可以生成较短的停滞时间,提高转换器的效率,并提供其它一些优势(参考文献1)。 根据本设计实例我们研究了一种测试仪,它只用一些廉价的标准元件,可以检测反向恢复时间。为了简化测试,测试条件是固定的,可以将测试标准化,并提供了一个供比较的共同标准。这些条件能99%地满足将要测试的设备。测试的正向电流低到足以保证小开关二极管的安全工作, 高到足以克服较大设备中的电容性影响。 电路的核心有一个二极管与电阻器组成的逻辑与(AND)门,与门的二极管为DUT(被测设备,图1)。IC1缓冲触发器IC2A,后者可产生驱动与门的反相方波。R35将DUT的正向电流设为75mA左右。有了合适的二极管,与门的输出总保持较低,因为其输出之一总是较小。但真正的二极管在跃迁后保持导通,在R35两端生成一个正向脉冲。电路并未采用直接测试脉冲宽度的强制方法,而是使用一个精巧的方案。R19/C15网络对脉冲求出平均值,并将得出的电压放 图1,这种二极管恢复测试设置允许在完全相同的条件下比较不同厂商的设备。

二极管7种应用电路详解之一 许多初学者对二极管很“熟悉”,提起二极管的特性可以脱口而出它的单向导电特性,说到它在电路中的应用第一反应是整流,对二极管的其他特性和应用了解不多,认识上也认为掌握了二极管的单向导电特性,就能分析二极管参与的各种电路,实际上这样的想法是错误的,而且在某种程度上是害了自己,因为这种定向思维影响了对各种二极管电路工作原理的分析,许多二极管电路无法用单向导电特性来解释其工作原理。 二极管除单向导电特性外,还有许多特性,很多的电路中并不是利用单向导电特性就能分析二极管所构成电路的工作原理,而需要掌握二极管更多的特性才能正确分析这些电路,例如二极管构成的简易直流稳压电路,二极管构成的温度补偿电路等。 9.4.1 二极管简易直流稳压电路及故障处理 二极管简易稳压电路主要用于一些局部的直流电压供给电路中,由于电路简单,成本低,所以应用比较广泛。 二极管简易稳压电路中主要利用二极管的管压降基本不变特性。 二极管的管压降特性:二极管导通后其管压降基本不变,对硅二极管而言这一管压降是0.6V 左右,对锗二极管而言是0.2V左右。 如图9-40所示是由普通3只二极管构成的简易直流稳压电路。电路中的VD1、VD2和VD3是普通二极管,它们串联起来后构成一个简易直流电压稳压电路。 图9-40 3只普通二极管构成的简易直流稳压电路 1.电路分析思路说明 分析一个从没有见过的电路工作原理是困难的,对基础知识不全面的初学者而言就更加困难了。 关于这一电路的分析思路主要说明如下。 (1)从电路中可以看出3只二极管串联,根据串联电路特性可知,这3只二极管如果导通会同时导通,如果截止会同时截止。 (2)根据二极管是否导通的判断原则分析,在二极管的正极接有比负极高得多的电压,无论是直流还是交流的电压,此时二极管均处于导通状态。从电路中可以看出,在VD1正极通过电阻R1接电路中的直流工作电压+V,VD3的负极接地,这样在3只串联二极管上加有足够大的正向直流电压。由此分析可知,3只二极管VD1、VD2和VD3是在直流工作电压+V作用下导通的。 (3)从电路中还可以看出,3只二极管上没有加入交流信号电压,因为在VD1正极即电路中的A点与地之间接有大容量电容C1,将A点的任何交流电压旁路到地端。 2.二极管能够稳定直流电压原理说明 电路中,3只二极管在直流工作电压的正向偏置作用下导通,导通后对这一电路的作用是稳定了电路中A点的直流电压。 众所周知,二极管内部是一个PN结的结构,PN结除单向导电特性之外还有许多特性,其中

二极管的反向恢复过程 一、二极管的反向恢复过程 二、在下图的电路中V上输入如下的电压波形:则二极管上的电流波形如下: 可以看到,当通入正向电压时,二极管导通,二极管上的电流为I1,当通入的电压突然反向时,二极管上的电流也瞬间反向了,随后才变小,进而进入反向截止状态。这个现象就叫二极管的反向恢复。反向电流保持不变的这段时间称为储存时间ts,反向电流由I2下降到0.1I2所需的时间称为下降时间tf。储存时间和下降时间之和(ts+tf)称为反向恢复时间。二极管反向截止后还存在的电流被称为二极管的反向漏电流IR。 二、二极管反向恢复现象的解释 在二极管的PN节上,当外加正向电压时,P区的空穴向N区扩散,N区的电子向P区扩散,这样,不仅使势垒区(耗尽区)变窄,而且使载流子有相当数量的存储,在P区内存储了电子,而在N区内存储了空穴,它们都是非平衡少数载流子,如下图所示。 空穴由P区扩散到N区后,并不是立即与N区中的电子复合而消失,而是在一定的路程LP(扩散长度)内,一方面继续扩散,一方面与电子复合消失,这样就会在LP范围内存储一定数量的空穴,并建立起一定空穴浓度分布,靠近

结边缘的浓度最大,离结越远,浓度越小。正向电流越大,存储的空穴数目越多,浓度分布的梯度也越大。电子扩散到P区的情况也类似,下图为二极管中存储电荷的分布。

我们把正向导通时,非平衡少数载流子积累的现象叫做电荷存储效应。 当输入电压突然由正向变为反向时P区存储的电子和N区存储的空穴不会马上消失,但它们将通过下列两个途径逐渐减少: ① 在反向电场作用下,P区电子被拉回N区,N区空穴被拉回P区,形成反向漂移电流IR,如下图所示; ②与多数载流子复合。 在这些存储电荷消失之前,PN结仍处于正向偏置,即势垒区仍然很窄,PN结的电阻仍很小,与电路中的负载电阻相比可以忽略,所以此时反向电流IR=(反向电压VR+VD)/负载电阻RL。VD表示PN结两端的正向压降,一般VR>>VD,即IR=VR/RL。在这段期间,IR基本上保持不变,主要由VR和RL所决定。 经过时间ts后P区和N区所存储的电荷已显著减小,势垒区逐渐变宽,反向电流IR逐渐减小到正常反向饱和电流的数值,经过时间tf,二极管转为截止。

二极管其他7中应用电路详解 许多初学者对二极管很“熟悉”,提起二极管的特性可以脱口而出它的单向导电特性,说到它在电路中的应用第一反应是整流,对二极管的其他特性和应用了解不多,认识上也认为掌握了二极管的单向导电特性,就能分析二极管参与的各种电路,实际上这样的想法是错误的,而且在某种程度上是害了自己,因为这种定向思维影响了对各种二极管电路工作原理的分析,许多二极管电路无法用单向导电特性来解释其工作原理。 二极管除单向导电特性外,还有许多特性,很多的电路中并不是利用单向导电特性就能分析二极管所构成电路的工作原理,而需要掌握二极管更多的特性才能正确分析这些电路,例如二极管构成的简易直流稳压电路,二极管构成的温度补偿电路等。 1 二极管简易直流稳压电路及故障处理 二极管简易稳压电路主要用于一些局部的直流电压供给电路中,由于电路简单,成本低,所以应用比较广泛。 二极管简易稳压电路中主要利用二极管的管压降基本不变特性。 二极管的管压降特性:二极管导通后其管压降基本不变,对硅二极管而言这一管压降是0.6V左右,对锗二极管而言是0.2V左右。 如图1.1所示是由普通3只二极管构成的简易直流稳压电路。电路中的VD1、VD2和VD3是普通二极管,它们串联起来后构成一个简易直流电压稳压电路。 图1.1 3只普通二极管构成的简易直流稳压电路 1.1电路分析思路说明 分析一个从没有见过的电路工作原理是困难的,对基础知识不全面的初学者而言就更加困难了。

关于这一电路的分析思路主要说明如下。 (1)从电路中可以看出3只二极管串联,根据串联电路特性可知,这3只二极管如果导通会同时导通,如果截止会同时截止。 (2)根据二极管是否导通的判断原则分析,在二极管的正极接有比负极高得多的电压,无论是直流还是交流的电压,此时二极管均处于导通状态。从电路中可以看出,在VD1正极通过电阻R1接电路中的直流工作电压+V,VD3的负极接地,这样在3只串联二极管上加有足够大的正向直流电压。由此分析可知,3只二极管VD1、VD2和VD3是在直流工作电压+V作用下导通的。 (3)从电路中还可以看出,3只二极管上没有加入交流信号电压,因为在VD1正极即电路中的A点与地之间接有大容量电容C1,将A点的任何交流电压旁路到地端。 1.2 二极管能够稳定直流电压原理说明 电路中,3只二极管在直流工作电压的正向偏置作用下导通,导通后对这一电路的作用是稳定了电路中A点的直流电压。 众所周知,二极管内部是一个PN结的结构,PN结除单向导电特性之外还有许多特性,其中之一是二极管导通后其管压降基本不变,对于常用的硅二极管而言导通后正极与负极之间的电压降为0.6V。 根据二极管的这一特性,可以很方便地分析由普通二极管构成的简易直流稳压电路工作原理。3只二极管导通之后,每只二极管的管压降是0.6V,那么3只串联之后的直流电压降是0.6×3=1.8V。 1.3 故障检测方法 检测这一电路中的3只二极管最为有效的方法是测量二极管上的直流电压,如图1.2所示是测量时接线示意图。如果测量直流电压结果是1.8V左右,说明3只二极管工作正常;如果测量直流电压结果是0V,要测量直流工作电压+V是否正常和电阻R1是否开路,与3只二极管无关,因为3只二极管同时击穿的可能性较小;如果测量直流电压结果大于1.8V,检查3只二极管中有一只开路故障。

HVM12 HVRT高压二极管 反向恢复时间测试 二极管和一般开关的不同在于,“开”与“关”由所加电压的极性决定,而且“开”态有微小的压降Vf,“关”态有微小的电流Io。当电压由正向变为反向时, 电流并不立刻成为(- Io) , 而是在一段时间ts 内,反向电流始终很大,二极管并不关断。经过ts后, 反向电流才逐渐变小,再经过tf 时间, 二极管的电流才成为(- Io),ts 称为储存时间,tf 称为下降时间。tr= ts+ tf 称为反向恢复时间,以上过程称为反向恢复过程。这实际上是由电荷存储效应引起的,反向恢复时间就是存储电荷耗尽所需要的时间。该过程使二极管不能在快速连续脉冲下当做开关使用。如果反向脉冲的持续时间比tr 短,则二极管在正、反向都可导通,起不到开关作用。 首先进行测试的高压二极管HVM12,其外形实物图如下图所示,使用DI-10mA进行测试,它可以测试高压快恢复二极管、高压整流二极管、倍压高压二极管。它可以测试二极管反向电流峰值50mA,二极管正向电流10mA ,测量精度5nS,测试的过程中不必担心二极管接反的问题。 图1 二极管实物及恢复特性

以上波形是DI-10mA把偏置电压设置到100V测试的结果,综上可以看出,二极管正向导通电流:4.8mA,二极管反向恢复电流:60mA,二极管反向恢复电流斜率:10mA/uS,二极管反向恢复时间:2.54uS。这个器件是一个工频整流器件,反向恢复时间非常长,不适合用于高频整流的场合,所测试的参数,基本上是满足器件要求的,应用时应该没有什么太大的问题。

接着使用DI-10mA测试另外一个高压二极管,二极管外形实物图如下图所示: 图7 高压二极管实物 以上波形是DI-10mA把偏置电压设置到100V测试的结果,综上可以看出,二极管正向导通电流:3.84mA,二极管反向恢复电流:7.68mA,二极管反向恢复电流斜率:6.6mA/uS,二极管反向恢复时间:144nS。这个器件是一个高频整流器件,可用于高频整流的场合。

肖特基二极管和快恢复二极管又什么区别 快恢复二极管是指反向恢复时间很短的二极管(5us以下),工艺上多采用掺金措施,结构上有采用PN结型结构,有的采用改进的PIN结构。其正向压降高于普通二极管(1-2V),反向耐压多在1200V以下。从性能上可分为快恢复和超快恢复两个等级。前者反向恢复时间为数百纳秒或更长,后者则在100纳秒以下。 肖特基二极管是以金属和半导体接触形成的势垒为基础的二极管,简称肖特基二极管(Schottky Barrier Diode),具有正向压降低(0.4--0.5V)、反向恢复时间很短(10-40纳秒),而且反向漏电流较大,耐压低,一般低于150V,多用于低电压场合。 这两种管子通常用于开关电源。 肖特基二极管和快恢复二极管区别:前者的恢复时间比后者小一百倍左右,前者的反向恢复时间大约为几纳秒~! 前者的优点还有低功耗,大电流,超高速~!电气特性当然都是二极管阿~! 快恢复二极管在制造工艺上采用掺金,单纯的扩散等工艺,可获得较高的开关速度,同时也能得到较高的耐压.目前快恢复二极管主要应用在逆变电源中做整流元件. 肖特基二极管:反向耐压值较低40V-50V,通态压降0.3-0.6V,小于10nS的反向恢复时间。它是具有肖特基特性的“金属半导体结”的二极管。其正向起始电压较低。其金属层除材料外,还可以采用金、钼、镍、钛等材料。其半导体材料采用硅或砷化镓,多为N型半导体。这种器件是由多数载流子导电的,所以,其反向饱和电流较以少数载流子导电的PN结大得多。由于肖特基二极管中少数载流子的存贮效应甚微,所以其频率响仅为RC时间常数限制,因而,它是高频和快速开关的理想器件。其工作频率可达100GHz。并且,MIS(金属-绝缘体-半导体)肖特基二极管可以用来制作太阳能电池或发光二极管。 快恢复二极管:有0.8-1.1V的正向导通压降,35-85nS的反向恢复时间,在导通和截止之间迅速转换,提高了器件的使用频率并改善了波形。快恢复二极管在制造工艺上采用掺金,单纯的扩散等工艺,可获得较高的开关速度,同时也能得到较高的耐压.目前快恢复二极管主要应用在逆变电源中做整流元件

二级管不是线性元什,对其构成的鼙流、限幅、续流保护、低压稳压、门电路等电路进行分忻时可以采用二极管的理想模型( 正向导通时视为短路,反向截止时视为开路) 或恒压降馍型( 止向导通时视为恒压源,反向截止时视为开路) ,还可以采用折线模型( 正向导通时视为恒压源串联一小电阻,反向截止时视为开路) 。不管采用哪种等效模型,关键在于分忻出二极管在电路中的上作状态到底处于正向导通还是处于反向截止.当电路中有多个二极管或有交流信号时二极管的工作状态并不能很直观地判断出来。 本文所述“断路法”能快速判断出二极管的工作状态,其核心思想是先将昕有二极管从电路中断开,分折这种情况下各二极管的正向压降:例如,理想模犁时正向压降大于零时二极管导通,否则截止。若电路中有多个二极管,断路时正向压降最高的二极管优先导通,再把已分忻出导通的二圾管放回电路,重新分忻其他二圾管断路时的正向压降( 依旧遵循正向压降最高的优先导通) ,直到所有二极管状态分析完。对有交流信号时二极管的工作状态,同样的分析过程要用在不同

的电压值范围。下面以几个例题来说明该方法的陵用( 二极管工作状态分析采用理想模型) 。 【例1] 判断图1 中二极管的状态并求P 点电位。 图1 是只有一个_ 二极管的情况。按“断路法”进行分析,先将二极管从电路中断开,断开后,左(N) 、右(P) 各自构成独立的回路。N 点电位为2k Ω电阻上的压降加5k Ω电阻上的压降: VN=-10x2 /20 十15x5 /30=1 .5(V) ;P 点电位为10k

Ω电阻上的压降:VP=15x10/150=1(V) ,可知二极管D 承受的正向压降UPN=-O .5V ,故该二极管截止(P 点电位为1V) 。 【例2 】求图2 中N 点电位( 已知V1=5V ,Vz=3V) 。 图2 是有两个二极管的情况( 为门电路) 。先将二极管D1 、D2 都断开,这时,A 点电位VA=V1=5V ;B 点电位VB=V2=3V ;N 点电位VN=OV ,则D1 承受的正向压降UAN=5V ;D2 承受的正向压降UHN=3V ,D1 承受的正向压降更大,故其优先导通,将其放回原电路后相当于短路( 如图3) ,这时N 点电位变为VN=V1 x9 /10=4 .5V ;D2 承受的正向压降 UBN=3V-4 .5V=-1 .5V( 为负) ,故D2 截止,收回原电路后相当于断路( 如图3) ,所以N 点电位为4 .5V 。 【例3 】求图4 中的输出波形uo( 已知输入ui=10sin ωtV) 。

第1章半导体二极管及其基本电路 教学内容与要求 本章介绍了半导体基础知识、半导体二极管及其基本应用和几种特殊二极管。教学内容与教学要求如表所示。要求正确理解杂质半导体中载流子的形成、载流子的浓度与温度的关系以及PN结的形成过程。主要掌握半导体二极管在电路中的应用。 表第1章教学内容与要求 内容提要 1.2.1半导体的基础知识 1.本征半导体 高度提纯、结构完整的半导体单晶体叫做本征半导体。常用的半导体材料是硅(Si)和锗(Ge)。本征半导体中有两种载流子:自由电子和空穴。自由电子和空穴是成对出现的,称为电子空穴对,它们的浓度相等。 本征半导体的载流子浓度受温度的影响很大,随着温度的升高,载流子的浓度基本按指数规律增加。但本征半导体中载流子的浓度很低,导电能力仍然很差, 2.杂质半导体 (1)N型半导体本征半导体中,掺入微量的五价元素构成N型半导体,N型半导体中的多子是自由电子,少子是空穴。N型半导体呈电中性。 (2) P型半导体本征半导体中,掺入微量的三价元素构成P型半导体。P型半导体中的多子是空穴,少子是自由电子。P型半导体呈电中性。 在杂质半导体中,多子浓度主要取决于掺入杂质的浓度,掺入杂质越多,多子浓度就越大。而少子由本征激发产生,其浓度主要取决于温度,温度越高,少子浓度越大。 1.2.2 PN结及其特性

1.PN 结的形成 在一块本征半导体上,通过一定的工艺使其一边形成N 型半导体,另一边形成P 型半导体,在P 型区和N 型区的交界处就会形成一个极薄的空间电荷层,称为PN 结。PN 结是构成其它半导体器件的基础。 2.PN 结的单向导电性 PN 结具有单向导电性。外加正向电压时,电阻很小,正向电流是多子的扩散电流,数值很大,PN 结导通;外加反向电压时,电阻很大,反向电流是少子的漂移电流,数值很小,PN 结几乎截止。 3. PN 结的伏安特性 PN 结的伏安特性: )1(T S -=U U e I I 式中,U 的参考方向为P 区正,N 区负,I 的参考方向为从P 区指向N 区;I S 在数值上等于反向饱和电流;U T =KT /q ,为温度电压当量,在常温下,U T ≈26mV 。 (1) 正向特性 0>U 的部分称为正向特性,如满足U ??U T ,则T S U U e I I ≈,PN 结的正向电流I 随正向电压U 按指数规律变化。 (2) 反向特性 0>,则S I I -≈,反向电流与反向电 压的大小基本无关。 (3) 击穿特性 当加到PN 结上的反向电压超过一定数值后,反向电流急剧增加,这种现象称为PN 结反向击穿,击穿按机理分为齐纳击穿和雪崩击穿两种情况。 4. PN 结的电容效应 PN 结的结电容C J 由势垒电容C B 和扩散电容C D 组成。C B 和C D 都很小,只有在信号频率较高时才考虑结电容的作用。当PN 结正向偏置时,扩散电容C D 起主要作用,当PN 结反向偏置时,势垒电容C B 起主要作用。 1.2.3 半导体二极管 1. 半导体二极管的结构和类型 半导体二极管是由PN 结加上电极引线和管壳组成。 二极管种类很多,按材料来分,有硅管和锗管两种;按结构形式来分,有点接触型、面接触型和硅平面型几种。 2. 半导体二极管的伏安特性 半导体二极管的伏安特性是指二极管两端的电压u D 和流过二极管的电流i D 之间的关系。它的伏安特性与PN 结的伏安特性基本相同,但又有一定的差别。在近似分析时,可采用PN 结的伏安特性来描述二极管的伏安特性。 3. 温度对二极管伏安特性的影响 温度升高时,二极管的正向特性曲线将左移,温度每升高1o C ,PN 结的正向压降约减小(2~)mV 。 二极管的反向特性曲线随温度的升高将向下移动。当温度每升高10 o C 左右时,反向饱和电流将加倍。 4. 半导体二极管的主要参数 二极管的主要参数有:最大整流电流I F ;最高反向工作电压U R ;反向电流I R ;最高工作频率f M 等。由于制造工艺所限,即使同一型号的管子,参数也存在一定的分散性,因此手册上往往给出的是参数的上限值、下限值或范围。 5. 半导体二极管的模型 常用的二极管模型有以下几种:

二极管的反向恢复过程 The Standardization Office was revised on the afternoon of December 13, 2020

二极管的反向恢复过程 一、二极管的反向恢复过程 二、在下图的电路中V上输入如下的电压波形:则二极管上的电流波形如下: 可以看到,当通入正向电压时,二极管导通,二极管上的电流为I1,当通入的电压突然反向时,二极管上的电流也瞬间反向了,随后才变小,进而进入反向截止状态。这个现象就叫二极管的反向恢复。反向电流保持不变的这段时间称为储存时间ts,反向电流由I2下降到0.1I2所需的时间称为下降时间tf。储存时间和下降时间之和(ts+tf)称为反向恢复时间。二极管反向截止后还存在的电流被称为二极管的反向漏电流IR。 二、二极管反向恢复现象的解释 在二极管的PN节上,当外加正向电压时,P区的空穴向N区扩散,N区的电子向P区扩散,这样,不仅使势垒区(耗尽区)变窄,而且使载流子有相当数量的存储,在P区内存储了电子,而在N区内存储了空穴,它们都是非平衡少数载流子,如下图所示。 空穴由P区扩散到N区后,并不是立即与N区中的电子复合而消失,而是在一定的路程LP(扩散长度)内,一方面继续扩散,一方面与电子复合消失,这样就会在LP范围内存储一定数量的空穴,并建

立起一定空穴浓度分布,靠近结边缘的浓度最大,离结越远,浓度越小。正向电流越大,存储的空穴数目越多,浓度分布的梯度也越大。电子扩散到P区的情况也类似,下图为二极管中存储电荷的分布。 我们把正向导通时,非平衡少数载流子积累的现象叫做电荷存储效应。 当输入电压突然由正向变为反向时P区存储的电子和N区存储的空穴不会马上消失,但它们将通过下列两个途径逐渐减少: ①在反向电场作用下,P区电子被拉回N区,N区空穴被拉回P区,形成反向漂移电流IR,如下图所示; ②与多数载流子复合。 在这些存储电荷消失之前,PN结仍处于正向偏置,即势垒区仍然很窄,PN结的电阻仍很小,与电路中的负载电阻相比可以忽略,所以此时反向电流IR=(反向电压VR+VD)/负载电阻RL。VD表

§1-4 二极管基本电路及其分析方法 1.4.1 二极管的等效模型 1、二极管的直流模型 1)理想开关模型 2)恒压降模型 3)3)折线模型 2、二极管的交流小信号模型 当在二极管的工作点上叠加有低频交流小信号电压ud时,只要工作点选择合适,且ud足够小,可以将Q点附近的特性曲线看成是线性的(线性化),则交流电压与电流之间的关系可以用一个电阻rd来表示。 rd——即为工作点处的交流电阻,rd=UT/ID。 注意:小信号模型只能表示交流电压与电流之间的关系,不能反映总的电压与电流的关系。 1.4.2 二极管的应用电路 二极管在低频电路和脉冲电路中常用于整流、限幅、钳位、稳压等波形变换和处理电路,在高频电路中常用于检波、调幅、混频等频率变换电路. 1、整流电路

2、二极管限幅电路 二极管的导通压降为UD=0.7V, (1)|ui|< UD时, D1、D2 都截止,视为开路,输出为uo=ui。 (2)ui> UD时,D1截止,D2导通,输出为uo = 0.7V 。 (3)ui<-UD时,D2截止,D1导通,输出为uo = -0.7V 。 输出电压被限幅在±0.7V之间,是一个双向限幅电路。由于二极管在限幅时并非理想的恒压源,在限幅期间电压仍会有变化,所以二极管限幅为“软限幅”。限幅电路常用作波形变换和保护电路。 3、二极管钳位电路 钳位:把交流信号的顶部或底部固定在某个电位值上。 二极管钳位电路是改变信号直流成分的电路。

(1)ui负半周,二极管导通,uo=uD =0V,导通电阻RD很小, C被充电到ui的峰值。 (2)ui正半周,二极管反偏截止,C无法放电,输出电压为uo=ui+uC=5V。(3)下一个负半周,二极管上的电压为0,二极管截止,输出电压为uO=0V。此后,二极管保持截止状态,电容无法放电,相当于恒压源,输出电压为:uo=ui +2.5V,uo的底部被钳位于0V。

6.012微电子器件和电路 第8讲——双极型晶体管基础——大纲 z通告: 下发资料—讲义的大纲和摘要;考试:十月八日,下午7:30-9:30 p-n二极管,PS#4 z复习/二极管模型总结 指数二极管: i D(v AB) = I S (e qvAB/kT-1) I S=A q n i2[(D h/N Dn w n*) + (D e/N Ap w p*)] 短对长基二极管:有效的二极管的长度。 观察:饱和电流,I S,随着掺杂水平的升高而下降。 扩散电荷储存;扩散电容: 准中性区过剩载流子与电荷储存 全部的电荷与电压和电流;增量电容 z双极型晶体管工作原理和建模 双极晶体管的结构 1.肉眼观察载流子的流量 2.控制功能 3.设计目的 工作在放大区, p-n 结偏置电压:过剩的少数载流子(扩散电荷)存储

过剩的少数载荷子存储;扩散电容; 以一个掺杂不均匀的p-n二极管为例 在n区储存的电荷(空穴和电子) 扩散电荷储存,n区 请注意储存的正电荷(过量的空穴)和储存的负电荷(过量的电子)在空间上占用相同的体积。(在 x =x n和x = w n之间)! 储存的电荷取决与V AB(非线性)。就象我们在耗尽电荷储存情况下所做的一样,我们定义一个增量线性等效扩散电容,C df (V AB),因为: 扩散电容,内容:

写出扩散电容,I D: 与C dfF比较我们发现: 注意器件的横截面积,A,没有明确地出现在最后的表达式中。仅仅是总电流! 比较电荷储存和小信号线性等效电容:

平行板电容器 损尽层电荷储存 QNR区域扩散电荷储存 注意:前面的偏压即V AB>>KT/q处有效。 双极晶体管:工作原理和模型

二极管反向恢复时间测试仪 满足国家标准:GB/T 8024-2010,使用矩形波法测试反向恢复时间。 一:主要特点 A :测量多种二极管 B :二极管反向电流峰值100A (定制) C :二极管正向电流30A (定制) D :测量精度10nS E :二极管接反、短路开路保护 F :示波器图形显示 G :EMI/RFI 屏蔽密封 H :同步触发端 二:应用范围 A :快恢复二极管 B :场效应管(Mosfet )内建二极管 C :IGBT 基内建二极管 D :其他二极管 三:DI-200外观介绍 DI-200二极管反向恢复时间测试仪面板介绍如图1所示,包括电源开关、电源指示灯、触发开关、触发指示灯、接反指示灯、正向电流调节、反向电压调节、恢复电流斜率调节、示波器信号端、示波器同步信号端。 图1 DI-200外观介绍图

四:DI-200测试仪参数 类 型 数 值 单 位 备 注 反向恢复电流 100 A 峰值 反向电压 10至300 V 分档 正向电流 30 A 峰值 按下频率 0.5 Hz 手动按下 0 Hz 短路情况,无法测量 电源输入 220 V AC 功耗小于10W 五:操作步骤 图2为DI-200和示波器之间的连接示意图,DI-200的两个通道分别和示波器的第一通道和外触发通道连接,然后把二极管接入DI-200。 图2 DI-200测试仪器和示波器连接示意图 5.1举例测试1N4007二极管的反向恢复时间步骤 第一步:将1n4007二极管接入红色和黑色夹子; 第二步:DI-200在侧面连接电源线,此时不要打开仪器电源,如果打开,请关闭电源。 数字示波器 DI-200测试仪 1通道 外触发

二极管的各种模型 你已经知道二极管是一种具有PN结的元件。在这一节,你将会学到二极管的电子符号,也能够在进行线路分析时,按照三种不同复杂度,分别采用合适的二极管替代模型。同时,本节也会介绍二极管的封装和辨识二极管的引脚的方法。 在学习完本节的内容后,你应该能够:参与讨论二极管的工作原理,并说出三种二极管的模型;识别二极管的符号,并能确认二极管的引脚;识别二极昝的不同外形结构;解释二极管的理想、实际和完整模型。 1.二极管的结构和符号 如你所知,二极管是单PN结的元件,在P型区和N型区两边分别接上金属接点和导线,如图1.31(a)所示。二极管的一半是N型半导体,而另一半是P型半导体。 目前有多种类型的二极管,本章所介绍的一般二极管或整流二极管的图标符号,则显示在图1.31(b)。N型区称为阴极( cathode),而P型区则称为阳极(anode)。符号中的箭头所指的方向,就是传统的电流方向(与电子流的方向相反)。 (1)正向偏压下的接线方式 如果电压源是按照图1. 32(a)的方式和二极管互相连接,则称此二极管受到正向偏压的作用。电压源的正极经过一个

限流电阻,再连接到二极管的阳极。电压源的负极则接到二极管的阴极。正向电流(IF)则如图所示,从二极管的阳极流向阴极。正向电压降(VF)则是因为门槛电压的存在,使得二极管的阳极成为正极,而二极管的阴极成为负极。 (2)反向偏压下的接线方式 如果电压源是按照图1. 32(b)的方式和二极管互相连接,则称此二极管受到反向偏压的作用。咆压源的负极经过线路接到二极管的阳极。电压源的正极则接到二极管的阴极。反向偏压通常不需要限流电阻,但为了线路的一致性,仍在图中绘出。反向电流可予以忽略。要注意的是整个线路的偏压(VBIAS)都消耗在二极管。 2.理想的二极管模型 理想的二极管模型(the ideal diode model)可视为一个简 单的开关。对二极管施加正向偏压时,二极管就像是一个闭合的开关(on),如图1.33(a)所示。对二极管施加反向偏压时,二极管就像是一个断路的开关(off),如图1.33(b)所示。至于门槛电压、正向动态阻抗和反向电流都予以忽略。 在图1.33(c)中,绘出了理想二极管的电压一电流特性曲线图。既然门槛电压和正向动态阻抗都予以忽略,因此在正向偏压下,可以假设二极管不会造成电压降,就如同位于垂直轴上的部分特性曲线所显示的含义一样。 VF=OV

DI-1000型二极管反向恢复时间测试仪 一:主要特点 A :测量多种二极管 B :二极管反向电流峰值100A (定制) C :二极管正向电流30A (定制) D :测量精度5nS E :二极管接反、短路开路保护 F :示波器图形显示 G :EMI/RFI 屏蔽密封 H :同步触发端 二:应用范围 A :快恢复二极管 B :场效应管(Mosfet )内建二极管 C :IGBT 基内建二极管 D :其他二极管 三:DI-1000外观介绍 DI-1000二极管反向恢复时间测试仪面板介绍如图1所示,包括电源开关、电源指示灯、触发开关、触发指示灯、接反指示灯、正向电流调节、反向电压调节、恢复电流斜率调节、示波器信号端、示波器同步信号端。 图1 DI-1000外观介绍图

四:DI-1000测试仪参数 类 型 数 值 单 位 备 注 反向恢复电流 100 A 峰值 反向电压 50至1000 V 分档 正向电流 30 A 峰值 按下频率 0.5 Hz 手动按下 0 Hz 短路情况,无法测量 电源输入 220 V AC 功耗小于10W 五:操作步骤 图2为DI-1000和示波器之间的连接示意图,DI-1000的两个通道分别和示波器的第一通道和外触发通道连接,然后把二极管接入DI-1000。 图2 DI-1000测试仪器和示波器连接示意图 5.1举例测试1N4007二极管的反向恢复时间步骤 第一步:将1n4007二极管接入红色和黑色夹子; 第二步:DI-1000在侧面连接电源线,此时不要打开仪器电源,如果打开,请关闭电源。第三步:调节电压旋钮选择器件反向耐压,将电压设置到300V 。在测试时,红色夹子和黑色夹子同输入交流电市电无隔离,请勿冒险将示波器探头和夹子连接; 数字示波器 DI-1000测试仪 1通道 外触发