晶体管特性图示仪调试
创作编号：
GB8878185555334563BT9125XW
创作者：凤呜大王*
晶体管图示仪使用前的调整
1. 检查放大器的对称性
如果示波器的X轴放大器与Y轴放大器有相同的增益，则当它们加相同的阶梯电压时，屏幕上应显示出一列沿对角线排列的亮点，其检查方法为：X轴作用开关和Y轴作用开关均置于基极电压0.01V/div位置，并将基极阶梯信号的阶梯选择开关也相应地置于0.01 V/div,“阶梯作用”置于重复档，级/簇大于10。
2. 放大器调零
Y轴放大器调零是在检查上述放大器对称的基础上，将Y轴放大器校正开关扳向零点位置（即把Y轴放大器输入端短路）。这时屏幕上的亮点应沿水平方向排成一行，而且要求Y轴作用开关置于不同的基极电压档时，都满足上述要求，否则应调直流平衡电位器，直到Y轴作用在基极电压0.1～0.5伏/级，其亮点都不产生向下移动为止。
X轴放大器与Y轴放大器调零相似，所不同的是当X轴放大器校正开关扳向零点时，亮点沿垂直方向排成一列。
3. 检查放大器增益
Y轴放大器增益检查，在放大器调零的基础上，调节位移旋钮，使水平排列的亮点对准标尺格子的上边线，然后将放大器校正开关扳向－
10div挡，这时亮点应立即向下偏10格。要求对Y轴作用开关在基极电压的6个档位都应逐档进行上述校正。X轴放大器增益检查的方法和Y轴放大器检查的方法类似。
4. 检查阶梯信号
在定量测量时，阶梯信号的幅度应该和屏幕上标尺间隔相对齐，相位要和标尺垂直坐标对齐。检查时，有关旋钮置于如下位置：
这时屏幕显示如上图所示的图形。调节Y轴位移旋钮，使图形的零线（上边线）与标尺格子上边线重合，阶梯信号的各级扫描线与标尺刻度相重合。图形两边的转角线成直角。调节级/簇旋钮，阶梯信号的级数应在4～12级之间连续变化。
5. 阶梯信号
在上述检查阶梯波的基础上，将零电流、零电压键扳向零电压档，这时零线停留的位置就是阶梯信号真正的零电位。然后让旋转键钮回到中间位置，调节阶梯调零电位器，使阶梯波形的零线与上述“零电压”时的位置重合。
测试特性前各开关、旋钮位置选取
1. 由管型确定的旋钮位置：
集电极扫描信号
“极性”开关：用来改变扫描电源对地的极性。根据被测管类型和接地方式选用正负极性。表1给出了扫描电压和阶梯波的极性选择表。
基极阶梯信号
“极性”开关：根据被测管的不同类型，可以改变阶梯信号的正负极性。其极性转换如表1所示。
表1 扫描电压与阶梯波极性
与
的扳键、旋钮：
阶梯作用，置于重复位置；级/秒为200级/s；级/族为10级；零电压、零电流置于中间位置；峰值电压范围0～10V。
3. 与被测管子参数有关旋钮：
有X轴的伏/度开关、Y轴的毫安－伏/度开关、基极阶梯信号的毫安/级开关和功耗电阻开关。
4. 测试特性参数时选择量程原则：
根据实际工作使用条件进行测试，主要用于测试在实际使用时的参数，如共发射极电流放大系数β，输入电阻rbe
5. 测试台
将测试选择位于中间位置，接地开关置于需要的位置，然后插上被测晶体管，再将测试选择拨到测试的一方，此时即有曲线显示。再经过Y轴、X轴、阶梯3部分的适当修正，即能进行有关的测试。
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GB8878185555334563BT9125XW
创作者：凤呜大王*
XJ4810晶体管特性图示仪 说明书
XJ4810晶体管特性图示仪说明书 晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础，以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管（NPN型和PNP型）的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性；测试各种反向饱和电流和击穿电压，还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。下面以XJ4810型晶体特性图示仪为例介绍晶体管图示仪的使用方法。 图A-23 XJ4810型半导体管特性图示仪 7.1 XJ4810型晶体管特性图示仪面板功能介绍 XJ4810型晶体管特性图示仪面板如图A-23所示： 1. 集电极电源极性按钮，极性可按面板指示选择。 2. 集电极峰值电压保险丝：1.5A。 3. 峰值电压%：峰值电压可在0～10V、0～50V、0～100V、0～500V之连续可调，面板上的标称值是近似值，参考用。 4. 功耗限制电阻：它是串联在被测管的集电极电路中，限制超过功耗，亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。 5. 峰值电压范围：分0～10V/5A、0～50V/1A、0～100V/0.5A、0～500V/0.1A四挡。当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时，须先将峰值电压调到零值，换挡后再按需要的电压逐渐增加，否则容易击穿被测晶体管。 AC挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描，以便能同时显示器件正反向的特性曲线。 6. 电容平衡：由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容，都将形成电容性电流，因而在电流取样电阻上产生电压降，造成测量误差。为了尽量减小电容性电流，测试前应调节电容平衡，使容性电流减至最小。 7. 辅助电容平衡：是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称，而再次进行电容平衡调节。 8. 电源开关及辉度调节：旋钮拉出，接通仪器电源，旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。 9. 电源指示：接通电源时灯亮。 10. 聚焦旋钮：调节旋钮可使光迹最清晰。 11. 荧光屏幕：示波管屏幕，外有座标刻度片。 12. 辅助聚焦：与聚焦旋钮配合使用。 13. Y轴选择（电流/度）开关：具有22挡四种偏转作用的开关。可以进行集电极电流、基极电压、基极电流和外接的不同转换。 14. 电流/度×0.1倍率指示灯：灯亮时，仪器进入电流/度×0.1倍工作状态。 15. 垂直移位及电流/度倍率开关：调节迹线在垂直方向的移位。旋钮拉出，放大器增益扩大10倍，电流/度各挡I C标值×0.1，同时指示灯14亮. 16. Y轴增益：校正Y轴增益。 17. X轴增益：校正X轴增益。 18.显示开关：分转换、接地、校准三挡，其作用是： ⑴转换：使图像在Ⅰ、Ⅲ象限内相互转换，便于由NPN管转测PNP管时简化测试操作。 ⑵接地：放大器输入接地，表示输入为零的基准点。 ⑶校准：按下校准键，光点在X、Y轴方向移动的距离刚好为10度，以达到10度校正目的。 19. X轴移位：调节光迹在水平方向的移位。 20. X轴选择（电压/度）开关：可以进行集电极电压、基极电流、基极电压和外接四种功能的转换，共17挡。 21. “级/簇”调节：在0～10的范围内可连续调节阶梯信号的级数。 22. 调零旋钮：测试前，应首先调整阶梯信号的起始级零电平的位置。当荧光屏上已观察到基极阶梯信号后，按下测试台上选择按键“零电压”，观察光点停留在荧光屏上的位置，复位后调节零旋钮，使阶梯信号的起始级光点仍在该处，这样阶梯信号的零电位即被准确校正。 23. 阶梯信号选择开关：可以调节每级电流大小注入被测管的基极，作为测试各种特性曲线的基极信号源，共22挡。一般选用基极电流/级，当测试场效应管时选用基极源电压/级。 24. 串联电阻开关：当阶梯信号选择开关置于电压/级的位置时，串联电阻将串联在被测管的输入电路中。 25. 重复－－关按键：弹出为重复，阶梯信号重复出现；按下为关，阶梯信号处于待触发状态。 26. 阶梯信号待触发指示灯：重复按键按下时灯亮，阶梯信号进入待触发状态。 27. 单簇按键开关：单簇的按动其作用是使预先调整好的电压（电流）/级，出现一次阶梯信号后回到等待触发位置，因此可利用它瞬间作用的特性来观察被
半导体器件--用晶体管特性图示仪测量晶体管的特性参数
用晶体管特性图示仪测量晶体管的特性参数 一、 引言 晶体管在半导体器件中占有重要的地位，也是组成集成电路的基本元件。晶体管的各种特性参数可以通过专用仪器--晶体管特性图示仪进行直接测量。了解和测量实际的晶体管的各种性能参数不仅有助于掌握晶体管的工作机理，而且还可以分析造成各种器件失败的原因，晶体管特性图示仪是半导体工艺生产线上最常用的一种工艺质量检测工具。 本实验的目的是：了解晶体管特性图示仪的工作原理；学会正确使用晶体管特性图示仪；测量共发射极晶体管的输入特性、输出特性、反向击穿特性和饱和压降等直流特性。 二、晶体管特性图示仪的工作原理和基本结构 晶体管的输出特性曲线如图1所示，这是一组曲线族，对于其中任一条曲线，相当于I b =常数（即基极电流I b 不变）。曲线显示出集电极与发射极之间的电压V cc 增加时，集电极电流I c 的变化。因此，为了显示一条特性曲线，可以采用如图2所示的方法，既固定基极电流I b 为： b be b b E V I R -= （1） 图1共射晶体管输出特性曲线 图2共射晶体管接法 在集电极到发射极的回路中，接入一个锯齿波电压发生器E c 和一个小的电阻R c ，晶体管发射极接地。由于电阻R 很小，锯齿波电压实际上可以看成是加
在晶体管的集电极和发射极之间。晶体管的集电极电流从电阻R c上流过，电阻R c上的电压降就正比于I c。如果把晶体管的c、e两点接到示波管的x偏转板上，把电阻R c两端接到示波管的y偏转板上，示波器便显示出晶体管的I c随V cc变化的曲线。（为了保证测量的准确性，电阻R c应该很小）。用这种方法只能显示出一条特性曲线，因为此时晶体管的基极电流I b是固定不变的。 如果要测量整个特性曲线族，则要求基极电流I b改变。基极电流I b的改变采用阶梯变化，每一个阶梯维持的时间正好等于作用在集电极的锯齿波电压的周期，如图3所示。阶梯电压每跳一级，电流I b便增加一级。（每一级阶梯的增幅可根据不同的晶体管的做相应的调整）。 晶体管特性图示仪便是按照上述原理设计的，它包括阶梯电压发生器（供基极或发射极阶梯波）、锯齿波电压发生器（供集电极扫描电压）、x轴放大器、y 轴放大器、示波管系统等组成，其单元作用如图4所示。作用在垂直偏转板上的除I c（实际上是I c R c）外，还可以是基极电压、基极电流、外接或校正电压。由于x轴和y轴作用选择的不同，在示波器荧光屏上显示出的特性就完全不同。例如：若x轴作用为集电极电压，y轴作用选择集电极电流，得到晶体管的输出特性曲线；若x轴作用为基极电流，y轴作用选择集电极电流，得到晶体管的电流增益特性（即β特性）；若y轴作用为基极电流，x轴作用是基极电流，得到晶体管的输入特性曲线。 图3 阶梯波和锯齿波信号图4 图示仪的原理方框图 三、晶体管特性图示仪的使用方法 为了不使被测晶体管和仪器损坏，在测试前必须充分了解仪器的使用方法和晶体管的规格，测试中，在调整仪器的各个选择开关和转换量时，必须注意使加于被测晶体管的电压、电流（并配合功耗电阻）从低量程漫漫提高，直到满足测量要求。
JT-1型晶体管特性图示仪
3.6 JT－1型晶体管特性图示仪 JT－1型晶体管特性图示仪是一种可直接在示波管荧光屏上观察各种晶体管的特性曲线的专用仪器。通过仪器的标尺刻度可直接读被测晶体管的各项参数；它可用来测定晶体管的共集电极、共基极、共发射极的输入特性、输出特性、转换特性、α、β参数特性；可测定各种反向饱和电流I CBO、I CEO、I EB0和各种击穿电压BU CBO、BU CEO、BU EBO等；还可以测定二极管、稳压管、可控硅、隧道二极管、场效应管及数字集成电路的特性，用途广泛。 一、主要技术指标 （l）Y轴编转因数： 集电极电流范围：0.01～1000毫安／度，分十六档，误差≤±3％； 集电极电流倍率：分×2、×1、×0.l三档，误差≤±3％； 基极电压范围：0.01～0.5V／度，分六档，误差≤±3％； 基极电流或基极源电压：0.05V／度，误差≤±3％； 外接输入：0.1V／度，误差≤±3％； （2）X轴偏转因数： 集电极电压范围：0.01～20V／度，分十一档，误差≤±3％； 基极电压范围：0.01～0.5V／度，分六档，误差≤±3％； 基极电流或基极源电压：0.5V／度，误差≤±3％； 外接输入：0.1V／度，误差≤±3％。 （3）基极阶梯信号： 阶梯电流范围：0.001～200mA／度，分十七档； 阶梯电压范围：0.01～0.2V／级，分五档； 串联电阻：10Ω～22KΩ，分24档； 每族级数：4～12连续可变； 每秒级数：100或200，共3档； 阶梯作用：重复、关、单族，共三档； 极性：正、负两档； 误差≤±5％． （4）集电极扫描信号： 峰值电压：0～20V、0～200V两档，正、负连续可调； 电流容量：0～20V时为10A（平均值），0～200V时为1A（平均值）； 功耗限制电阻：0～100KΩ，分17档，误差≤±5％； （5）电源：交流220V ±10％，50Hz±20Hz。 功耗：260V A． 环境温度：－10 ℃～＋40℃ 相对湿度：≤80％
用晶体管特性图示仪测试晶体管主要参数
用晶体管特性图示仪测试晶体管主要参数 一．实验目的 掌握晶体管特性图示仪测试晶体管的特性和参数的方法。 二．实验设备 （1）XJ4810晶体管特性图示仪 （2）QT 2晶体管图示仪 （3）3DG6A 3DJ7B 3DG4 三．实验原理 1．双极型晶体（以3DG4NPN 管为例）输入特性和输出特性的测试原理 （1）输入特性曲线和输入电阻i R ，在共射晶体管电路中，输出交流短路时，输入电压和输入电流之比为i R ，即 ＝常数CE V B BE i I V R ??= （1.1） 它是共射晶体管输入特性曲线斜率的倒数。例如需测3DG 4在V CE ＝10时某一作点Q 的R 值，晶体管接法如图1.1所示。各旋扭位置为 峰值电压% 80% 峰值电压范围 0～10V 功耗电阻 50Ω X 轴作用 基极电压1V/度 Y 轴作用 阶梯选择 μ20A/极 级/簇 10 串联电阻 10K 集电极极性 正（+） 把X 轴集电极电压置于1V/度，调峰值电压为10V ，然后X 轴作用扳回基极电压0.1V/度，即得CE V ＝10V 时的输入特性曲线。这样可测得图1.2：
V CE V B BE i I V R 10=??= （1.2） 根据测得的值计算出i R 的值 图1.1晶体管接法 图1.2输入特性曲线 （2）输出特性曲线、转移特性曲线和β、FE h 在共射电路中，输出交流短路时，输出电流和输入电流增量之比为共射晶体管交流电流放大系数β。在共射电路中，输出端短路时，输出电流和输入电流之比为共射晶体管直流电流放大系数FE h 。晶体管接法如图1.1所示。旋扭位置如下： 峰值电压范围 10V 峰值电压% 80% 功耗电阻 250Ω X 轴 集电极电压1V/度 Y 轴 集电极电流2mA/度 阶梯选择 μ20A/度 集电极极性 正（+） 得到图1.3所示共射晶体管输出特性曲线，由输出特性曲线上读出V V CE 5=时第2、4、6三根曲线对应的C I ，B I 计算出交流放大系数B C I I ??=β （1.3） FE h >β主要是因为基区表面复合等原因导致小电流β较小造成的，β、FE h 也可用共射晶体管的转移特性（图1.4）进行测量只要将上述的X 轴作用开关拨到“基极电流或基极源电压”即得到共射晶体管的转移特性。这种曲线可直接观察β的线性好坏。 C B E
晶体管特性图示仪.
晶体管特性图示仪 晶体管特性图示仪是一种可直接在示波管荧光屏上观察各种晶体管的特性曲线的专用仪器。通过仪器的标尺刻度可直接读被测晶体管的各项参数；它可用来测定晶体管的共集电极、共基极、共发射极的输入特性、输出特性、转换特性、α、β参数特性；可测定各种反向饱和电流I CBO、I CEO、I EB0和各种击穿电压BU CBO、BU CEO、BU EBO等；还可以测定二极管、稳压管、可控硅、隧道二极管、场效应管及数字集成电路的特性，用途广泛。 一、主要技术指标 （l）Y轴编转因数： 集电极电流范围：0.01～1000毫安／度，分十六档，误差≤±3％； 集电极电流倍率：分×2、×1、×0.l三档，误差≤±3％； 基极电压范围：0.01～0.5V／度，分六档，误差≤±3％； 基极电流或基极源电压：0.05V／度，误差≤±3％； 外接输入：0.1V／度，误差≤±3％； （2）X轴偏转因数： 集电极电压范围：0.01～20V／度，分十一档，误差≤±3％； 基极电压范围：0.01～0.5V／度，分六档，误差≤±3％； 基极电流或基极源电压：0.5V／度，误差≤±3％； 外接输入：0.1V／度，误差≤±3％。 （3）基极阶梯信号： 阶梯电流范围：0.001～200mA／度，分十七档； 阶梯电压范围：0.01～0.2V／级，分五档； 串联电阻：10Ω～22KΩ，分24档； 每族级数：4～12连续可变； 每秒级数：100或200，共3档； 阶梯作用：重复、关、单族，共三档； 极性：正、负两档； 误差≤±5％． （4）集电极扫描信号： 峰值电压：0～20V、0～200V两档，正、负连续可调； 电流容量：0～20V时为10A（平均值），0～200V时为1A（平均值）； 功耗限制电阻：0～100KΩ，分17档，误差≤±5％； （5）电源：交流220V ±10％，50Hz±20Hz。 功耗：260V A． 环境温度：－10 ℃～＋40℃ 相对湿度：≤80％
XJ4810晶体管特性图示仪操作指南
XJ4810晶体管特性图示仪的操作指导 晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础，以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管（NPN型和PNP型）的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性；测试各种反向饱和电流和击穿电压，还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。下面以XJ4810型晶体特性图示仪为例介绍晶体管图示仪的使用方法。 图A-23 XJ4810型半导体管特性图示仪 7.1 XJ4810型晶体管特性图示仪面板功能介绍 XJ4810型晶体管特性图示仪面板如图A-23所示： 1. 集电极电源极性按钮，极性可按面板指示选择。 2. 集电极峰值电压保险丝：1.5A。 3. 峰值电压%：峰值电压可在0～10V、0～50V、0～100V、0～500V之连续可调，面板上的标称值是近似值，参考用。 4. 功耗限制电阻：它是串联在被测管的集电极电路中，限制超过功耗，亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。 5. 峰值电压范围：分0～10V/5A、0～50V/1A、0～100V/0.5A、0～500V/0.1A四挡。当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时，须先将峰值电压调到零值，换挡后再按需要的电压逐渐增加，否则容易击穿被测晶体管。 AC挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描，以便能同时显示器件正反向的特性曲线。 6. 电容平衡：由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容，都将形成电容性电流，因而在电流取样电阻上产生电压降，造成测量误差。为了尽量减小电容性电流，测试前应调节电容平衡，使容性电流减至最小。 7. 辅助电容平衡：是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称，而再次进行电容平衡调节。 8. 电源开关及辉度调节：旋钮拉出，接通仪器电源，旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。 9. 电源指示：接通电源时灯亮。
WQ4832 晶体管特性图示仪
目 录 使用须知．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．2 安全注意事项．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．3 概述．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．4 主要技术指标．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．4 使用说明．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．5 使用范例．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．10 维修指南．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．15 装箱单．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．16
使用须知 WQ4832型晶体管特性图示仪，是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并可测量其静态参数的测试仪器。本仪器采用晶体管与集成电路混合线路，具有功耗低、电流容量大、重量轻等特点，是半导体研究及应用领域必不可少的测试工具。 用户在使用本仪器之前应熟悉以下注意事项，以保证仪器的正常使用。 1．“功耗限制电阻”作用大，除了测量饱和电压（如U CER）及最大电流（如I CM）外，一般应将“功耗限制电阻”置于较大值（≥1KΩ），这样既保护了被测管不至电流过载，又可防止由于被测管击穿后导致仪器损坏，在测量击穿电压时更应注意。 2．按“峰值电压范围”需特别注意，一般情况下应与“电压/度”开关相配合： “峰值电压范围”U C档级 “电压/度”应放置位置 5V ≥500mV/度 50V ≥5V/度 100V ≥10V/度 500V ≥50V/度 5KV 500V/度 如需要低于上述量程，应首先将“峰值电压”调至0，再徐徐加大。 在测试中，当输出峰值电压较大时，请勿触摸C极与管子外壳，以免遭电击。严禁将各输出端任意长时间短路。 3．测量被测管首先要了解是PNP或NPN，然后将仪器置于相应极性。在未知被测管极性的情况下，可将输出电压调至较小值进行判别。必须在充分熟悉本仪器后才能用异极性测试功能。 4．基极注入阶梯电流（电压）也应注意： （1）注入电流（电压）应与被测管的功率、最大集电极电流相适应，一般情况注入电流由小逐档增加（同时应估算上述二指标，不致电流、功率击穿）。 （2）“电流/度”应与阶梯电流（电压）相适应，一般情况应从大量程再逐档调至需要档级。“电流/度”量程不应小于阶梯电流量程。 5．当用双簇测试功能时，需调节零电平使显示时第一级曲线与单簇测试时的第一级曲线在Y方向上的位置一致，才能使各项读数一致。异极性测试时阶梯起始电平一般应调至零。 6．仪器出厂经精密调准，请勿随意打开箱板并调节各种机件，当需要进一步调准时，应按照使用说明书的要求与步骤进行。 7．在进行I CM等极限参数测试时，一般采用单次阶梯为宜，以免被测器件损坏。 8．本机额定重复输出功率为60W，不同电压档级有不同的允许最大电流，实际测试中不应超过此值。 2
5_晶体管特性图示仪测三极管直流参数
实验五 晶体管特性图示仪测量三极管的直流参数 晶体管在电子技术方面具有广泛的应用。在制造晶体管和集成电路以及使用晶体管的过程中，都要检测其性能。晶体管输入、输出及传输特性普遍采用直接显示的方法来获得特性曲线，进而可测量各种直流参数。 一、实验目的 （1）了解YB4812型晶体管特性图示仪原理，掌握其使用方法； （2）观察三极管的输出特性曲线； （3）测试四种三极管的反向击穿电压和直流电流增益。 二、实验原理 利用晶体管特性图示仪测试晶体管输出特性曲线的原理如图1所示。图中T 代表被测的晶体管，R B 、E B 构成基极偏流电路。取E B >>V BE ，可使I B =(E B －V BE )/R B 基本保持恒定。在晶体管C-E 之间加入一锯齿波扫描电压，并引入一个小的取样电阻R C ，这样加到示波器上X 轴和Y 轴的电压分别为V X =V CE = V CA －I C ? R C ≈V CA ， V Y =－I C ? R C ∞－I C 图5.1 测试输出特性曲线的原理电路 R E
图5.2 基极阶梯电压与集电极扫描电压间关系 当I B恒定时，在示波器的屏幕上可以看到一根I C—V CE的特性曲线，即晶体管共发射极输出特性曲线。为了显示一组在不同I B的特性曲线簇Ici=Φ(I C i, V CE)应该在X轴的锯齿波扫描电压每变化一个周期时，使I B也有一个相应的变化，所以应将图1中的E B改为能随X轴的锯齿波扫描电压变化的阶梯电压。每一个阶梯电压能为被测管的基极提供一定的基极电流，这样不同的阶梯电压V B1、V B2 、V B3 …就可对应地提供不同的恒定基极注入电流I B1、I B2 、I B3…。只要能使每一阶梯电压所维持的时间等于集电极回路的锯齿波扫描电压周期，如图5.2所示，就可以在T0时刻扫描出I C0=Φ(I B0, V CE)曲线，在T1时刻扫描出I C1=Φ(I B1, V CE)曲线。通常阶梯电压有多少级，就可以相应地扫描出有多少根I C=Φ(I B, V CE)输出曲线。YB4812型晶体管特性图示仪是根据上述的基本工作原理而设计的。它由基极正负阶梯信号发生器，集电极正负扫描电压发生器，X轴、Y轴放大器和示波器等部分构成，其组成框图如5.3所示，详细调节情况可参考附录。
晶体管特性图示仪调试
创作编号： GB8878185555334563BT9125XW 创作者：凤呜大王* 晶体管图示仪使用前的调整 1. 检查放大器的对称性 如果示波器的X轴放大器与Y轴放大器有相同的增益，则当它们加相同的阶梯电压时，屏幕上应显示出一列沿对角线排列的亮点，其检查方法为：X轴作用开关和Y轴作用开关均置于基极电压0.01V/div位置，并将基极阶梯信号的阶梯选择开关也相应地置于0.01 V/div,“阶梯作用”置于重复档，级/簇大于10。 2. 放大器调零 Y轴放大器调零是在检查上述放大器对称的基础上，将Y轴放大器校正开关扳向零点位置（即把Y轴放大器输入端短路）。这时屏幕上的亮点应沿水平方向排成一行，而且要求Y轴作用开关置于不同的基极电压档时，都满足上述要求，否则应调直流平衡电位器，直到Y轴作用在基极电压0.1～0.5伏/级，其亮点都不产生向下移动为止。 X轴放大器与Y轴放大器调零相似，所不同的是当X轴放大器校正开关扳向零点时，亮点沿垂直方向排成一列。 3. 检查放大器增益 Y轴放大器增益检查，在放大器调零的基础上，调节位移旋钮，使水平排列的亮点对准标尺格子的上边线，然后将放大器校正开关扳向－ 10div挡，这时亮点应立即向下偏10格。要求对Y轴作用开关在基极电压的6个档位都应逐档进行上述校正。X轴放大器增益检查的方法和Y轴放大器检查的方法类似。 4. 检查阶梯信号 在定量测量时，阶梯信号的幅度应该和屏幕上标尺间隔相对齐，相位要和标尺垂直坐标对齐。检查时，有关旋钮置于如下位置：
这时屏幕显示如上图所示的图形。调节Y轴位移旋钮，使图形的零线（上边线）与标尺格子上边线重合，阶梯信号的各级扫描线与标尺刻度相重合。图形两边的转角线成直角。调节级/簇旋钮，阶梯信号的级数应在4～12级之间连续变化。 5. 阶梯信号 在上述检查阶梯波的基础上，将零电流、零电压键扳向零电压档，这时零线停留的位置就是阶梯信号真正的零电位。然后让旋转键钮回到中间位置，调节阶梯调零电位器，使阶梯波形的零线与上述“零电压”时的位置重合。 测试特性前各开关、旋钮位置选取 1. 由管型确定的旋钮位置： 集电极扫描信号 “极性”开关：用来改变扫描电源对地的极性。根据被测管类型和接地方式选用正负极性。表1给出了扫描电压和阶梯波的极性选择表。 基极阶梯信号 “极性”开关：根据被测管的不同类型，可以改变阶梯信号的正负极性。其极性转换如表1所示。 表1 扫描电压与阶梯波极性
晶体管特性图示仪测试
晶体管特性图示仪测试
XJ4810晶体管特性图示仪说明书 晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础，以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管（NPN型和PNP型）的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性；测试各种反向饱和电流和击穿电压，还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。下面以XJ4810型晶体特性图示仪为例介绍晶体管图示仪的使用方法。 图A-23 XJ4810型半导体管特性图示仪 7.1 XJ4810型晶体管特性图示仪面板功能介绍 XJ4810型晶体管特性图示仪面板如图A-23所示： 1. 集电极电源极性按钮，极性可按面板指
示选择。 2. 集电极峰值电压保险丝：1.5A。 3. 峰值电压%：峰值电压可在0～10V、0～50V、0～100V、0～500V之连续可调，面板上的标称值是近似值，参考用。 4. 功耗限制电阻：它是串联在被测管的集电极电路中，限制超过功耗，亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。 5. 峰值电压范围：分0～10V/5A、0～50V/1A、0～100V/0.5A、0～500V/0.1A四挡。当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时，须先将峰值电压调到零值，换挡后再按需要的电压逐渐增加，否则容易击穿被测晶体管。 AC挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描，以便能同时显示器件正反向的特性曲线。 6. 电容平衡：由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容，都将形成电容性电流，因而在电流取样电阻上产生电压降，造成测量误差。为了尽量减小电容性电流，测试前应调节电容平衡，使容性电流减至最小。 7. 辅助电容平衡：是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称，而再次进行电容平衡调节。 8. 电源开关及辉度调节：旋钮拉出，接通仪器电源，旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。