多内核系统的非侵入式调试与性能优化

Vikas Varshney

【期刊名称】《中国集成电路》

【年(卷),期】2012(000)010

【摘要】运行在多个内核上的有效分区无缺陷软件对充分发挥多内核系统优势非常关键。调试如此复杂的软件系统会提升复杂程度,因为不能访问子系统接口、总线以及同步处理范例。有了这一点认识,开发人员需要对能够加速调试进程,克服此类复杂多内核系统制约的片上调试技术、工具与技巧有更深入的理解。【总页数】3页(74-76)

【关键词】调试技术;核系统;性能优化;非侵入式;软件系统;同步处理;无缺陷;子系统

【作者】Vikas Varshney

【作者单位】德州仪器SDO调试与跟踪工具

【正文语种】中文

【中图分类】TP311.52

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