数字电子技术基础实验指导书(1)

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《电子技术基础》实验指导书电子技术课组编

信息与通信工程学院

实验三基本门电路逻辑功能的测试

一 . 实验类型——验证性 +设计

二 . 实验目的

1. 熟悉主要门电路的逻辑功能;

2. 掌握基本门电路逻辑功能的测试方法;

3. 会用小规模集成电路设计组合逻辑电路。

三 . 实验原理

1. 集成电路芯片介绍

数字电路实验中所用到的集成芯片多为双列直插式, 其引脚排列规则如图 1-1。其识别方法是:正对集成电路型号或看标记 (左边的缺口或小圆点标记 , 从左下角开始按逆时针方向以1, 2, 3…依次排列到最后一脚。在标准形 TTL 集成电路中,电源端 Vcc 一般排在左上端,接地端(GND 一般排在右下端, 如 74LS00。若集成芯片引脚上的功能标号为 NC ,则表示该引脚为空脚,与内部电路不连接。本实验采用的芯片是 74LS00二输入四与非门、 74LS20四输入二与非门、 74LS02二输入四或非门、 74LS04六非门,逻辑图及外引线排列图见图 1-1。

图 1-1 逻辑图及外引线排列

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