晶体硅硅片、规定以及工艺过程中lifetime测试技术
第十七章检测卷及答案
第十七章检测卷 时间：60分钟满分：100分 班级：__________姓名：__________得分：__________ 一、选择题(每题3分，共36分) 1．由欧姆定律公式可知（） A．同一导体的电阻与加在它两端的电压成正比 B．导体两端的电压为零时，导体电阻为零 C．导体中的电流为零时，导体电阻为零 D．导体电阻的大小，可以用它两端的电压与通过它的电流的比值来表示 2．在“探究通过导体的电流与电压的关系”实验中，得到I－U图像如下图所示，则正确的是（） 3．在串联电路中，阻值相同的两个电阻的两端加20V电压时，通过的电流为1A，则一个电阻的阻值为（） A．20ΩB．20 C．10 D．10Ω 4．下列四组电阻，并联后总电阻最小的是（） A．10Ω10ΩB．12Ω8Ω C．15Ω5ΩD．18Ω2Ω 5．如图所示电路中，电源电压保持不变。闭合开关S，电路正常工作。过了一会儿，两电表的示数都变大，则该电路中出现的故障可能是（） A．灯L短路B．灯L断路 C．电阻R断路D．电阻R短路 6．两电阻R和R接在各自电路中，当U∶U＝2∶1，I∶I＝4∶1时，两电阻R、R阻21122112值之比等于（） A．1∶2 B．2∶1 C．8∶1 D．1∶8 7．如图所示的电路中，电源电压保持不变，当开关S闭合，电路正常工作，滑片P向右移动过程中，下列说法正确的是（） A．灯泡L变暗B．电压表示数不变 C．电路的总电阻减小D．电流表示数逐渐变大 8．如图所示，电源电压U＝10V，定值电阻R＝20Ω，闭合开关S，电压表的示数是6V，通过小灯泡的电流是（） A．0.8A B．0.5A C．0.3A D．0.2A 9．如图所示，L与L是两只标有“3V10Ω”字样的相同小灯泡，电源电压为3V，闭合21开关S后，干路电流是（） A．I＝0.3A B．I＝0.6A C．I＝0.9A D．I＝1.0A 10．如甲图所示为气敏电阻随有害尾气浓度β变化的曲线，某物理科技小组利用气敏电阻设计了汽车有害尾气排放检测电路(如图乙所示)，电源电压恒定不变，R为气敏电阻，L为指示灯。当有害尾气浓度β增大时（）
黑盒测试实验报告
实验报告书 课程名称：软件测试 实验题目：黑盒测试报告 专业：教育技术学 班级：教技142 学生姓名：安卓 指导老师：郭小雪 所属学期：2017-2018学年第二学期
一、引言 1.1目的 测试报告为三角形问题和找零钱最佳组合问题项目的黑盒测试报告，目的在于总结测试阶段的测试以及分析测试结果。 实验环境 在Windows 2000(SP2) 或Windows XP 操作系统上，使用C++语言，工具作为开发环境(IDE) 实验要求 1.根据给出的程序分别使用等价类划分法、边界值分析法、判定表 方法、因果图法、正交试验法、功能图法、错误推测法来设计相应的测试用例。 2.输入数据进行测试，填写测试用例。 二、实验原理 黑盒测试原理：已知产品的功能设计规格，可以进行测试证明每个实现了的功能是否符合要求。软件的黑盒测试意味着测试要在软件的接口处进行。这种方法是把测试对象看作一个黑盒子，测试人员完全不考虑程序内部的逻辑结构和内部特性，只依据程序的需求规格说明书，检查程序的功能是否符合它的功能说明。因此黑盒测试又叫功能测试。 从理论上讲，黑盒测试只有采用穷举输入测试，把所有可能的输入都
作为测试情况考虑，才能查出程序中所有的错误。实际上测试情况有无穷多个，人们不仅要测试所有合法的输入，而且还要对那些不合法但可能的输入进行测试。这样看来，完全测试是不可能的，所以我们要进行有针对性的测试，通过制定测试案例指导测试的实施，保证软件测试有组织、按步骤，以及有计划地进行。黑盒测试行为必须能够加以量化，才能真正保证软件质量，而测试用例就是将测试行为具体量化的方法之一。具体的黑盒测试用例设计方法包括等价类划分法、边界值分析法、错误推测法、因果图法、判定表驱动法、正交试验设计法、功能图法等。 等价类划分的办法是把程序的输入域划分成若干部分（子集），然后从每个部分中选取少数代表性数据作为测试用例。每一类的代表性数据在测试中的作用等价于这一类中的其他值。该方法是一种重要的,常用的黑盒测试用例设计方法。 1 划分等价类 划分等价类：等价类是指某个输入域的子集合。在该子集合中，各个输入数据对于揭露程序中的错误都是等效的，并合理地假定：测试某等价类的代表值就等于对这一类其它值的测试。因此,可以把全部输入数据合理划分为若干等价类,在每一个等价类中取一个数据作为测试的输入条件,就可以用少量代表性的测试数据。取得较好的测试结果。等价类划分可有两种不同的情况：有效等价类和无效等价类。 有效等价类：是指对于程序的规格说明来说是合理的,有意义的输入数据构成的集合。利用有效等价类可检验程序是否实现了规格说明中
QG-JC-007.D1 玻璃弯曲度检测方法细则
玻璃弯曲度检测方法细则 1概述 编制本检测方法细则是为了规范和明确玻璃产品弯曲度的检测方法和要求。 2适用范围 本检测方法细则适用于各种玻璃产品的弯曲度的检测。 3依据标准 GB11614-2009《平板玻璃》 JC/T511-2009《压花玻璃》 GB11946-2001《船用钢化安全玻璃》 GB/T17340-1998《汽车安全玻璃的尺寸、形状及外观》 GB15763.2-2005《建筑用安全玻璃第2部分：钢化玻璃》 GB15763.3-2009《建筑用安全玻璃第3部分：夹层玻璃》 GB18045-2000《铁道车辆用安全玻璃》 GB17841-2008《半钢化玻璃》 GB14681.1-2006《机车船舶用电加温玻璃第1部分：船用矩形窗电加温玻璃》 GB14681.2-2006《机车船舶用电加温玻璃第2部分：机车电加温玻璃》 4检测要求 4.1玻璃的弯曲分弓形和波形两种。弓形弯曲时，测量其最大的弧高及其相对应的弦长，用弧 高除以弦长的百分比表示弯曲度（弓形弯曲度=弧高÷弦长×100%）；玻璃波形弯曲时，测量波谷到波峰的最大高度及其对应的波峰到波峰的距离，用高度除以距离的百分比表示弯曲度（波形弯曲度=波谷到波峰的高度÷波峰到波峰的距离×100%）。 4.2对长度≤2000mm、宽度≥550mm、厚度≤30mm、长宽比≤2的长方形试样，采用弯曲度 检测仪测量其长度方向和宽度方向的弯曲度，并取最大值作为玻璃的弯曲度。 4.3下列情况的长方形试样采用钢直尺和塞尺检测其对角线方向的弯曲度，取最大值作为玻璃 的弯曲度。当检测长度大于2000mm时，采用金属线代替钢直尺。 1）长宽比大于2； 2）厚度大于30mm； 3）边长小于550mm； 4）边长大于2000mm； 4.4四边及四边以上平面异形试样，分别检测其最长对角线方向和最短对角线方向的弯曲度， 并取最大值作为玻璃的弯曲度。 4.5三角形试样，检测三条角平分线方向的弯曲度，取最大值作为玻璃的弯曲度。 4.6圆形试样，采用钢直尺和塞尺测量任意直径方向的最大弯曲度。 4.7 检测弯曲度时，要用记号笔在试样上标注出最大弧高及其对应弦长的位置，以及波谷到 波峰最大高度处波谷和相邻波峰的位置。用“●”表示最大弧高点的位置，“○”表示对应弦长的端点位置；用“▲”表示波谷位置，“△”表示波峰位置。 5 检测和计算方法 5.1玻璃弯曲度检测仪 5.1.1目测待测试样，将试样凹面朝向百分表，垂直放在样品架上，并尽量使玻璃与仪器导轨 平行（百分表在玻璃左端和右端的读数尽量相同）。当玻璃垂直边的边长在550mm～
硅材料基础知识
导体：导体是很容易导电的物质，电阻率约为10-6-10-8Ωcm, 绝缘体：极不容易或根本不导电的一类物质。 半导体：导电性能介于导体和绝缘体之间的一类物质，目前已知的半导体材料有几百种，适合工业化的重要半导体材料有：硅、锗、砷化镓、硫化镉，电阻率介于10-5-1010Ω（少量固体物质如砷、锑、铋，不具备半导体基本特性，叫做半金属。 冶金级硅（工业硅）：将自然级自然界的SI02矿石冶炼成元素硅的第一步，冶金级硅分为两类：1、供钢铁工业用的工业硅，硅含量约为75%。2、供制备半导体硅用，硅含量在99.7%-99.9%，它常用作制备半导体级多晶硅的原料。 多晶硅：1、改良西门子法，2、硅烷法，3、粒状硅法。 改良西门子法：多晶硅生产的西门子工艺，在11000C左右德高纯度硅芯上还原高纯三氯氢硅，生成多晶硅沉积在硅芯上。过程：1、原料硅破碎；2、筛分（80目）——沸腾氯化制成液态的SIHCL3——粗馏提纯——精馏提纯——氢还原——棒状多晶硅——破碎——洁净分装。 硅烷法：原料破碎——筛分——硅烷生成——沉积多晶硅——棒状多晶——破碎、包装。单晶硅：硅的单晶体，具有基本完整的点阵结构的晶体，不同的方向具有不同的性质，是一种良好的半导体，纯度要求达到99.9999%甚至达到99.9999999%用于制造半导体器件、太阳能电池等。 区域熔炼法：制备高纯度、高阻单晶的方法。 切克劳斯基法（直拉法）：制作大规模集成电路、普通二极管和太阳能电池单晶的使用方法。硅棒外径滚磨：将单晶滚磨陈完全等径的单晶锭。 硅切片：硅切片是将单晶硅原锭加工成硅圆片的过程（内圆切片机刀口厚度在300-350um，片厚300-400um。线切机刀口厚度不大于200u，片最薄可达200-250u.）. 硅磨片：一般是双面磨，用金刚砂作原料，去除厚度在50-100u，用磨片的方法去除硅片表面的划痕，污渍和图形，提高硅片表面平整度。用内圆切片机加工的硅片一般都需要进行研磨。 倒角：将硅切片的边沿毛刺、崩边等倒掉。 抛光片：大规模集成电路使用的硅片。 硅材料电性能的三个显著特点： 1、对温度的变化十分灵敏，当温度提高时，电阻率将大幅度下降。 2、微量杂志的存在对电子的影响十分显著，纯硅中加入百万分之一的硼，电阻率就会 从2.14*103下降至4*10-3Ω。 3、半导体材料的电阻率在受到光照时会改变其数值大小。 本征硅：绝对纯净没有缺陷的硅晶体称作本征硅，本征硅中导电的电子和空穴都会由于其价键破裂而产生。体内电子和空穴浓度相等。 N型硅：在纯硅中掺入V族元素（如、磷、砷等），能够提供自由电子的杂质统称为施主杂质，掺入施主杂质的硅叫N型硅。以电子为多数载流子的半导体。 P型硅：在纯硅中掺入III型元素（如硼）以后，具有接受电子的杂质成为受主杂质，掺入受阻杂质的硅叫做P型硅。以空穴为多数载流子的半导体。 单晶：一块晶体如果从头到尾按照同一种排列重复下去叫做单晶体， 多晶：许多微小单晶颗粒杂乱的排列在一起称为多晶体。 晶体中的缺陷：点缺陷、线缺陷、面缺陷、孪晶、旋涡、杂质条纹、堆垛层错、氧化层错、滑移线等 电阻率： 高能粒子探测器：要求几千乃至上万Ω的FZ单晶。
物理第十七章 基础过关测试卷
物理第十七章基础过关测试卷 姓名:________ 班级:________ 成绩:________ 一、单选题 1 . 用电高峰期时，家庭里的白炽灯泡比正常发光时要暗一些，这是因为在用电高峰期（） A．并联用电器增多，家用电器的实际功率减小 B．并联用电器增多，家用电器的额定功率减小 C．并联用电器增多，电路的总电阻增大 D．并联用电器增多，电路的总电流减小 2 . 如图所示的四个电路，已知R的阻值和电源电压值，能根据已知条件和电表示数求出电阻Rx值的是（）A． B． C． D． 3 . 某同学利用如图所示电路测小灯泡电阻，实验中测量出了多组数据，并根据所测数据画出了电流表与电压
表示数关系的图象，下面几个图象符合实际的是 A．B．C．D． 4 . 将一粗细均匀的电阻为的导体，均匀地拉长到原来的两倍，则导体的电阻变为 A．1ΩB．4ΩC．8ΩD．2Ω 5 . 如图中的滑动变阻器R1的电阻变化范围是0～200Ω，电阻R2＝300Ω，电源的电压是6V且保持不变．当滑动变阻器的滑片从a端滑到b端，电压表示数的变化是 A．6 V～3.6 V B．6 V～2.4 V C．6V～0 V D．3.6 V～2.4 V 6 . 如图所示是某种压力传感器的原理图，其中弹簧上端和滑动变阻器的滑片P固定在一起，A、B间有可收缩的导线，R1为定值电阻，电源电压保持不变．闭合开关S（） A．压力F增大时，电流表示数变小、电压表示数变小 B．压力F减小时，电流表示数变小，电压表示数变小
C．压力F增大时，电压表示数跟电流表示数乘积不变 D．压力F减小时，电压表示数跟电流表示数之比变大 7 . 有两个定值电阻R1和 R2，它们的阻值之比为3：1，将它们串联在电压恒定的电源上，若电阻R2两端的电压是3伏特，那么电源电压是（） A．3伏特B．9伏特C．6伏特D．12伏特 8 . 下列说法正确的是 A．用手捏海绵，海绵体积变小了，说明分子间有间隙 B．酒精燃烧的越充分酒精的热值越大，但酒精的比热容与温度无关、不会改变 C．在同一个电路中的两个灯泡的电流不相等，这两个灯泡一定是并联 D．玻璃棒与丝绸摩擦，玻璃棒因为得到电子从而带上正电 9 . 一根锰铜线的电阻为R，要使这根连人电路的导线电阻变小，可采用的方法是（） A．减小导线两端的电压B．增大导线中的电流 C．将导线对折后连入电路D．将导线拉长后连入电路 二、填空题 10 . 如图所示电路，电源电压保持不变，定值电阻R0=10Ω。滑动变阻器R的最大阻值为40Ω，当滑片P从变阻器中点向左移动距离s后，电压表示数为5V，则通过R0电流为___A；若滑片P从中点向右移动相同距离s后， 电压表示数为2.5V，则电源电压为___V。 11 . 小慧在探究“电阻两端电压跟通过导体电流的关系”的实验中，测得相应的实验数据并记录在下表中．通过分析数据，你可以得出的结论是： ________ ．
人教版八年级数学下册第十七章检测题及答案解析
人教版八年级数学下册第十七章检测题及答案解析 (时间：120分钟 满分：120分) 一、选择题(每小题3分，共30分) 1．已知Rt △ABC 的三边长分别为a ，b ，c ，且∠C ＝90°，c ＝37，a ＝12，则b 的值为( B ) A ．50 B ．35 C ．34 D ．26 2．由下列线段a ，b ，c 不能组成直角三角形的是( D ) A ．a ＝1，b ＝2，c ＝ 3 B ．a ＝1，b ＝2，c ＝ 5 C ．a ＝3，b ＝4，c ＝5 D ．a ＝2，b ＝23，c ＝3 3．在Rt △ABC 中，∠C ＝90°，AC ＝9，BC ＝12，则点C 到AB 的距离是( A ) A. 365 B.1225 C.94 D.334 4．已知三角形三边长为a ，b ，c ，如果a －6＋|b －8|＋(c －10)2 ＝0，则△ABC 是( C ) A ．以a 为斜边的直角三角形 B ．以b 为斜边的直角三角形 C ．以c 为斜边的直角三角形 D ．不是直角三角形 5．(2016·株洲)如图，以直角三角形a ，b ，c 为边，向外作等边三角形、半圆、等腰 直角三角形和正方形，上述四种情况的面积关系满足S 1＋S 2＝S 3图形个数有( D ) A ．1 B ．2 C ．3 D ．4 6．设a ，b 是直角三角形的两条直角边，若该三角形的周长为6，斜边长为2.5，则ab 的值是( D ) A ．1.5 B ．2 C ．2.5 D ．3 7．如图，在Rt △ABC 中，∠A ＝30°，DE 垂直平分斜边AC 交AB 于点D ，E 是垂足，连接CD ，若BD ＝1，则AC 的长是( A ) A ．2 3 B ．2 C ．4 3 D ．4 ,第7题图) ,第9题图)
黑盒测试软件测试实验报告2
软件测试与质量课程实验报告实验2：黑盒测试法实验
缺席：扣10分实验报告雷同：扣10分实验结果填写不完整：扣1 – 10分其他情况：扣分<=5分总扣分不能大于10分 参考代码如下： （1）程序参考答案： #include
硅片生产工艺技术流程
顺大半导体发展有限公司太阳能用 硅单晶片生产技术 目录 一、硅片生产工艺中使用的主要原辅材料 1、拉制单晶用的原辅材料，设备和部件： 2、供硅片生产用的原辅材料，设备和部件： 二、硅片生产工艺技术 1、硅单晶生产部 （1）、腐蚀清洗工序生产工艺技术 对处理后原材料质量要求 （2）、腐蚀清洗生产工艺流程 ①多晶硅块料，复拉料和头，尾料处理工艺流程 ②边皮料酸碱清洗处理工艺流程 ③埚底料酸清洗处理工艺流程 ④废片的清洗处理工艺流程 （3）、硅单晶生长工艺技术 （4）、单晶生长中的必备条件和要求 ①单晶炉 ②配料与掺杂 （5），单晶生长工艺参数选择 （6）、质量目标： （7）、硅单晶生长工艺流程
2、硅片生产部 （1）、硅片加工生产工艺技术 （2）、硅片加工工艺中的必备条件和要求 ①切割机 ②切割浆液 （3）、质量目标 （4）、硅片加工工艺技术流程 ①开方锭生产工艺流程 ②切片生产工艺流程 （5）、硅片尺寸和性能参数检测
前言 江苏顺大半导体发展有限公司座落于美丽的高邮湖畔。公司始创生产太阳能电池用各种尺寸的单晶和多晶硅片。拥有国内先进的拉制单晶设备104台，全自动单晶炉112台。年产量可达到××××吨。拥有大型先进的线切割设备×××台。并且和无锡尚德形成了合作联盟（伙伴），每×可以向尚德提供×××硅单晶片。同时河北晶于2004年，占地面积××××。公司现在有×××名员工，从事澳、南京等光伏组件公司都和顺大形成了长年的合作关系。为了公司的进一步发展，扩大产业链，解决硅单晶的上下游产品的供需关系，2006年在扬州投资多晶硅项目，投资规模达到××亿。工程分两期建设，总规模年产多晶硅6000吨。2008年底首期工程已经正式投入批量生产，年产多晶硅×××吨。 太阳能用硅片生产工艺十分复杂，要通过几十道工序才能完成，只有发挥团队精神才能保证硅片的最终质量。编写该篇壮大资料的目的：首先让大家了解整个硅片生产过程，更重要的是让各生产工序中的每一位操作人员明确自己的职责，更自觉地按操作规程和规范做好本职工作，为顺大半导体发展有限公司的发展，尽自己的一份力量。
半导体硅材料基础知识.1
微秒是10-6秒）。所谓非平衡载流子是指当半导体中载流子的产生与复合处于平衡状态时，由于受某种外界条件的作用，如受到光线照射时而新增加的电子——空穴对，这部分新增加的载流子叫作非平衡载流子。 对于P型硅而言：新增加的电子叫作非平衡少数载流子；而新增加的空穴叫作非平衡 多数载流子。 对于N型硅而言：新增加的空穴叫作非平衡少数载流子；而新增加的电子叫作非平衡 多数载流子。 当光照停止后，这些非平衡载流子并不是立即全部消失，而是逐渐被复合而消失，它们存在的平均时间就叫作非平衡载流子的寿命。 非平衡载流子的寿命长短反映了半导体材料的内在质量，如晶体结构的完整性、所含杂质以及缺陷的多少，因为硅晶体的缺陷和杂质往往是非平衡载流子的复合中心。 少子寿命是一个重要的参数，用于高能粒子探测器的FZ硅的电阻率高达上万Ωcm，少子寿命上千微秒；用于IC工业的CZ硅的电阻率一般在5—30Ωcm 范围内，少子寿命值多要求在100μs以上；用于晶体管的CZ硅的电阻率一般 在30—100Ωcm，少子寿命也在100μs以上；而用于太阳能电池CZ硅片的电 阻率在0.5—6Ωcm，少子寿命应≥10μs。 5. 氧化量：指硅材料中氧原子的浓度。 太阳能电池要求硅中氧含量＜5×1018原子个数/cm3。 6. 碳含量：指硅材料中碳原子的浓度。 太阳能电池要求硅中碳含量＜5×1017原子个数/cm3。 7、晶体缺陷 另外：对于IC用硅片而言还要求检测： 微缺陷种类及其均匀性； 电阻率均匀性； 氧、碳含量的均匀性； 硅片的总厚度变化TTV； 硅片的局部平整度LTV等等参数。 一、我公司在采购中常见的几种硅材料 1.Cell：称为电池片，常常是电池片厂家外销的产品，它实际是一个单元电池。 2.Wafer：这通常指的是硅片，可能是圆片，也可能是方片。 圆片包括：硅切片，硅磨片、硅抛光片、图形片、污渍片、缺损片。 3.Ingot：常常指的是单晶硅锭，且是圆柱形的硅锭，也有用指多晶硅铸锭的。 4.Polysilicon：通常是指多晶硅料，它又分为棒料、块料、碎料。 5.碳头料(goods with carbon)：通常指多晶硅棒的下部接近石墨头的部分 6.横梁料(beam)：通常是指多晶硅棒最上部的横梁，由于其处在硅棒上部，靠近炉 顶部，且过热（生成温度超过1100℃），也常是金属杂质较多的部分，常不 适合于IC工业，而作为太阳电池材料。 7.头尾料（top and tail）：这是指拉制单晶锭的头部和尾部的部分，它由于电阻率 范围不在IC适用范围内，杂质浓度高（如尾料），或缺陷密度大（如头部料） 而被切下报废，但可作太阳电池的原料。 8.埚底料（Pot scrap）：这是指CZ单晶拉制结束后残留于石英埚底部的余料，常用 作太阳电池片的原料。
新人教版八年级下册数学第十六、十七章测试题月考
八年级数学下册第一次月考 （十六、十七章测试题） 一、填空题（每题3分，共 30分。） 1、化简与计算：①_____ 3 2 =②_______ )5 2(2=○33645(填〈、〉或=) 2、使式子 x x + - 2 1有意义的x取值范围是 3、有一个直角三角形的两边是3和4，则此三角形的周长为 4.已知a＜0，化简二次根式2a的结果是． 5如图是一株美丽的勾股树，其中所有的四边形都是正方形，所有的三角形都是直角三角形，若正方形A、B、C、D的面积分别为2，5，1，2．则最大的正方形E的面积是_____． 6、如图为某楼梯,测得楼梯的长为5米,高3米,计划在楼梯表面铺地毯,地毯的长度至少需要米? 7、如图，△ABC中，AC＝6，AB＝BC＝5，则BC边上的高AD＝______． 8、如图，如图3所示，学校有一块长方形花圃，有极少数人为避开拐角走“捷径”，在花圃内走出“一条路”他们仅少走了步路，却踩伤了花草。（假设2步为1米） 第19
第8题 9、如图，已知一根长8m 的竹杆在离地3m 处断裂，竹杆顶部抵着地面，此时， 顶部距底部有 m ； 10.若直角三角形的两条直角边分别是5和12，则它的斜边上的高 为 . 二、选择题（每题3分，共30分。） 11、下列各式中属于最简二次根式的是（ ） A ．12+x B ．y x x 22+ C ．12 D ．5.0 122111x x x +-=- ） A ．1x ≥ B ．1x ≥- C ．11x -≤≤ D ．1x ≥或1x ≥-13.已知实数a 在数轴上的位置如图所示，则化简2|1|a a -+的结果为（ ） A ．1 B ．1- C ．12a - D ．21a - 1420n n 为（ ） A ．5 B ．4 C ．3 D ．2 15、等边三角形的边长为2，则该三角形的面积为（ ） A 、433、3、3 1 0 a 12题图 5米 3米 第6题 第9题
白盒测试和黑盒测试实验报告
软件质量保证与测试 实验指导 计算机工程学院
测试环境配置 1.setting Junit (1) start Eclipse Select windows-preferences-java-build path –class path variables (2) click new, the figure of new variable entry is shown. (3) name JUNIT_LIB
select file-选择JUnit 插件所对应的JAR文件所在地，在Eclipse的安装目录的plugins目录中 2.JUNIT的组成框架 其中，junit.framework 和junit.runner是两个核心包。 junit.framework 负责整个测试对象的框架 junit.runner 负责测试驱动 Junit的框架又可分为： A、被测试的对象。 B、对测试目标进行测试的方法与过程集合，可称为测试用例(TestCase)。
C、测试用例的集合，可容纳多个测试用例(TestCase)，将其称作测试包(TestSuite)。 D、测试结果的描述与记录。(TestResult) 。 E、每一个测试方法所发生的与预期不一致状况的描述，称其测试失败元素(TestFailure) F、JUnit Framework中的出错异常（AssertionFailedError）。 JUnit框架是一个典型的Composite模式：TestSuite可以容纳任何派生自Test 的对象；当调用TestSuite对象的run()方法是，会遍历自己容纳的对象，逐个调用它们的run()方法。 3.JUnit中常用的接口和类 Test接口——运行测试和收集测试结果 Test接口使用了Composite设计模式，是单独测试用例（TestCase），聚合测试模式（TestSuite）及测试扩展（TestDecorator）的共同接口。 它的public int countTestCases（）方法，它来统计这次测试有多少个TestCase，另外一个方法就是public void run（TestResult ），TestResult是实例接受测试结果，run方法执行本次测试。 TestCase抽象类——定义测试中固定方法 TestCase是Test接口的抽象实现，（不能被实例化，只能被继承）其构造函数TestCase(string name)根据输入的测试名称name创建一个测试实例。由于每一个TestCase在创建时都要有一个名称，若某测试失败了，便可识别出是哪个测试失败。 TestCase类中包含的setUp()、tearDown()方法。setUp()方法集中初始化测试所需的所有变量和实例，并且在依次调用测试类中的每个测试方法之前再次执行setUp()方法。tearDown()方法则是在每个测试方法之后，释放测试程序方法中引用的变量和实例。 开发人员编写测试用例时，只需继承TestCase，来完成run方法即可，然后JUnit获得测试用例，执行它的run方法，把测试结果记录在TestResult之中。 Assert静态类——一系列断言方法的集合 Assert包含了一组静态的测试方法，用于期望值和实际值比对是否正确，即测试失败，Assert类就会抛出一个AssertionFailedError异常，JUnit测试框架将
“硅时代”的那些未来材料
有人提出硅时代的核心法则“摩尔定律”其实讲的不是数据科学，而是材料学每隔18个月就能将芯片的组成成分翻倍。 材料科学一直是物质进步的基础，无论是石器时代、青铜时代还是铁器时代，都是以人类制造和使用的材料来命名的。但是进入“硅时代”后，难道科技进步就只存在于如何控制二进制的1和0吗？ 答案是否定的。今天，材料问题比以往任何时候都更重要。北京理工大学材料学院曹传宝教授告诉记者，现在虽然不再以材料发展来划分时代，但是材料依然是各个学科的基础，没有材料学其他学科都发展不起来。 “比如我们生活中必不可少的计算机，它的芯片就是以硅材料为基础的，有了先进的硅才能发展数字技术。而能源方面的太阳能电池也是取决于材料的转换效率。因此材料发展是其他学科的助力。”曹传宝说，“医学上的人造器官也是用材料做成的，像透析用的人工肾其实与生物的关系已经不大了，主要就是看吸附材料的发展。目前这方面材料还不理想，制约了人工器官的发展，由此看出如果材料学进步缓慢也会成为其他学科的‘瓶颈’。” 一直以来，单独材料本身只能粗放使用，只有与其他科技结合才能产生更高的价值。在硅时代，材料学与其他学科交叉将越来越普遍。“就像现在已经有与生物交叉的生物材料学，与计算机交叉的计算材料学等，”曹传宝说。 鉴于材料的重要作用，有人提出硅时代的核心法则“摩尔定律”其实讲的不是数据科学，而是材料学每隔18个月就能将芯片的组成成分翻倍。像芯片一样，目前实验室中更智能、更安全、更结实的材料未来都有可能改变我们的生活。 电子皮肤 皮肤的作用不仅在于保护身体，还能帮我们传导感觉。通过把电子材料变得柔软和肉感，工程师已经发现了一种方法使得人工移植皮肤和假肢也能有感觉。美国伊利诺斯州大学的研究者创造了一种足够轻薄柔韧的电路，把它覆盖在手指尖，可以将压力转换成电子信号。 目前，斯坦福大学开发的一款凝胶可以储存电能，用作可塑性电池。卡内基梅隆大学carmel majidi教授也正在研制把橡胶变为压力和摩擦力的传感器，他把液体金属槽放进橡胶里，一旦液体流动，电流就会发生变化。此外，电子皮肤还可以用于人类之外的更宽广领域，比如用这种工程学方法使机器人更逼真、更具有人类特性。 蜘蛛丝移植 看过《蜘蛛侠》的人都知道蜘蛛丝比钢铁还强韧，而人体自身的组织却很脆弱、容易撕裂。美国犹他州，研究人员正在用蜘蛛丝修复受损的肩膀和膝盖。他们培育转基因羊以生产大量蜘蛛丝蛋白，纺成股，做出仿蜘蛛丝纤维。这些纤维保留了蜘蛛丝特有的延展性，同时比人类韧带和筋腱分别强劲100倍和20倍。让移植的骨骼更加强韧，麻省理工学院研究员已经成功地将蜘蛛丝蛋白和胶原蛋白组合在一起。研究人员估计，2030年以前蜘蛛丝移植技术将批准对人类使用。 能发电的运动鞋 早在100年前，工程师就尝试通过发电器将机械能转化为电能，但是直到现在通过反复走动产生的能量依然不足以给一个ipod充电。主要原因在于目前制作发电器的压电材料不仅难以生产，还含有有毒金属，比如镍和铅。 如今，美国能源部劳伦斯伯克利国家实验室的研究人员一次性解决了这两个难题，他们使用的方法是采用经过特殊处理的无害病毒，这种病毒可以自发形成一层膜覆盖在发电器上。把它装进鞋里，走路时发电器感受到压力，病毒的螺旋蛋白就会旋转、扭曲，产生电荷。邮票大小的病毒压电材料样本可以产生400毫伏电力，足够点亮一个小lcd显示屏。未来5-10年，这项技术可帮助振动产生的能量来发电，如建筑物的振动和心跳，包括给ipod充电。
31第十七章《勾股定理》测试题18
第十七章《勾股定理》测试题 一、选择题 1. 三角形三边长为6、8、10，那么最长边上的高为( ) A．6 B．4.5 C．4.8 D．8 2. 已知，如图，一轮船以16海里/时的速度从港口A出发向东北方 向航行，另一轮船以12海里/时的速度同时从港口A出发向东南方向航行，离开港口2小时后，则两船相距（） A、25海里 B、30海里 C、35海里 D、40海里 3. 若等腰三角形的腰长为10，底边长为12，则底边上的高为（） A、6 B、7 C、8 D、9 4. 如图，一根垂直于地面的旗杆在离地面5m处撕裂折断，旗杆顶部 落在离旗杆底部12m处，旗杆折断之前的高度是( ) A．5m B．12m C．13m D．18m 5. 下列说法中正确的是（） A．已知a，b，c是三角形的三边，则a2+b2＝c2 B．在直角三角形中两边和的平方等于第三边的平方
C ．在Rt △ABC 中，∠C ＝90°，所以a 2+b 2＝c 2 D ．在Rt △ABC 中，∠B ＝90°，所以a 2+b 2＝c 2 6. 如图，一艘船以6海里/小时的速度从港口A 出发向东北方向航行，另一艘船以2.5海里/小时的速度同时从港口A 出发向东南方向航行，离开港口2小时后，两船相距（ ） A.13海里 B.10海里 C.6.5海里 D.5海里 7. 已知，如图，在矩形ABCD 中，P 是边AD 上的动点，AC PE ⊥ 于E ，BD PF ⊥于F ，如果AB=3，AD=4，那么（ ） A.512=+PF PE ； B. 512＜PF PE +＜5 13； C. 5=+PF PE D. 3＜PF PE +＜4 8. 放学以后，萍萍和晓晓从学校分手，分别沿东南方向和西南方向回家，若萍萍和晓晓行走的速度都是40米/分，萍萍用15分钟到家，晓晓用20分钟到家，萍萍家和晓晓家的距离为（ ） A.600米 B.800米 C.1000米 D.不能确定 二、填空题 1. 已知直角三角形的两边长为3、5，则另一边长是__________. 2. 如图，O 为矩形ABCD 内的一点，满足OD=OC ，若O 点到边AB 的距
软件测试实验报告一
广东*融学院实验报告 课程名称：软件测试 」、实验目的及要求 1、理解测试用例的重要性。 2、熟练掌握等价类划分、边界值方法、决策表和因果图法设计测试用例。 二、实验环境及相关情况（包含使用软件、实验设备、主要仪器及材料等） 1. 使用软件：装有QTP功能测试软件 2 .实验设备：装有Windows的联网的个人计算机 三、实验内容及步骤（包含简要的实验步骤流程） 1、实验题目：登陆框测试 在各种输入条件下，测试程序的登录对话框功能。 用户名和密码的规格说明书如下：（密码规则同用户名规则。） 用户名长度为6至10位（含6位和10 位）; 用户名由字符（a-z、A-Z）和数字（0-9）组成； 不能为空、空格和特殊字符。 要求：按照规格说明书，分别用等价类划分和边界值方法设计测试用例。 步骤：（1）分析规格说明书，确定输入条件、输出条件的有效等价类、无效等价类以及各个边界条件；（2）第二步：填表格并编号；（3）第三步：设计测试用例；（4）第四步：执行测试用例。 2、员工薪制冋题。 （1）年薪制员工：严重过失，扣年终风险金的4%，过失，扣年终风险金的2%。 （2）非年薪制员工：严重过失，扣月薪资的8%，过失，扣月薪资的4%。 步骤：（1）分析程序的规格说明，列出原因和结果；（2）找出原因与结果的因果关系、原因与原因之间的约束关系，画出因果图；（3）将因果图转化成决策表；（4）根据决策表，设计测试用例的输入数据和预期输出。
四、实验结果（包括程序或图表、结论陈述、数据记录及分析等，可附页） 等价类划分方法： 五、实验总结（包括心得体会、问题回答及实验改进意见，可附页） 通过本次实验，我理解了测试用例的重要性。熟练掌握了等价类划分、边界值方法、决策表和因果图法设计测试用例。 六、教师评语 1、完成所有规定的实验内容，实验步骤正确，结果正确； 2、完成绝大部分规定的实验内容，实验步骤正确，结果正确； 3、完成大部分规定的实验内容，实验步骤正确，结果正确； 4、基本完成规定的实验内容，实验步骤基本正确，所完成的结果基本正确； 5、未能很好地完成规定的实验内容或实验步骤不正确或结果不正确。 评定等级： 签名:
硅片的等级标准
硅片的检测 1：硅片表面光滑洁净 2：TV：220±20um 。 3：几何尺寸： 边长：125±0.5mm；对角150±0.5mm、148±0.5mm、165±0.5mm； 边长：103±0.5mm、对角：135±0.5mm； 边长：150±0.5mm、156±0.5mm、对角：203±0.5mm、200±0.5mm、。 同心度：任意两个弧的弦长之差≤1mm 垂直度：任意两边的夹角：90°±0.3 二、合格品 一级品：垂直度：任意两边的夹角：90°±0.5 二级品：1：表面有少许污渍、线痕。凹痕、轻微崩边。 2：220±30um ≤TV≤220±40um。 3：凹痕：硅片表面凹痕之和≤30um 4：崩边范围：崩边口不是三角形，崩边口长度≤1mm ，深度≤0.5mm 5：几何尺寸： 边长：125±0.52mm；对角150±0.52mm、148±0.52mm、165±0.52mm； 边长：103±0.52mm、对角：135±0.52mm； 边长：150±0.52mm、156±0.52mm、对角：203±0.52mm、200±0.52mm、。 同心度：任意两个弧的弦长之差≤1.5mm 垂直度：任意两边的夹角：90°±0.8 三级品： 1：表面有油污但硅片颜色不发黑，有线痕和硅洛现象。 2：220±40um ≤TV≤220±60um。 3：硅落：整张硅片边缘硅晶脱落部分硅晶脱落。 三、不合格品
严重线痕、厚薄片：TV＞220±60um。 崩边片：有缺陷但可以改￠103的硅片 气孔片：硅片中间有气孔 外形片：切方滚圆未能磨出的硅片。 倒角片（同心度）：任意两个弧的弦长之差＞1.5mm 菱形片：（垂直度）：任意两边的夹角＞90°±0.8 凹痕片：硅片两面凹痕之和＞30um 脏片：硅片表面有严重污渍且发黄发黑 尺寸偏差片：几何尺寸超过二级片的范围。 注：以上标准针对的硅片厚度为220um 。 硅片等级分类及标准（150*150） 一、优等品（Ⅰ类片） 1、物理、化学特性 ①型号：P 晶向[100]±1° ②氧含量：≤1.0X1018at/cm3 ③碳含量：≤5X1016 at/cm3 ④勺子寿命：T=1.3—3.0us（在测试电压≥20mv下裸片的数据） ⑤电阻率：0.9—1.2、1。2—3.0 、3.0-6.0Ω/cm ⑥位错密度：≤3000个/cm 2、几何尺寸： ①边长：125*125±0.5mm ②对角：150*150±0.5mm ③同心度：任意两弧长之差≤1mm ④垂直度：任意两办的夹角90°±0.3° ⑤厚度：200±20 um，（中心点厚度≥195um，边缘四角厚度≥195um） 180±20 um，（中心点厚度≥175um，边缘四角厚度≥160um） ⑥TTV: ≤30um ⑦弯曲度：≤40um 3、表明指标： ①线痕：无可视线痕 ②目视表面：无粘污、无水渍、染色、白斑、指印等 ③无崩边：无可视裂纹、边缘光滑、目视无翘曲 二、合格品（Ⅱ类片） 2、物理、化学特性 ①型号：P 晶向[100]±1° ②氧含量：≤1.0X1018at/cm3 ③碳含量：≤5X1016 at/cm3 ④勺子寿命：T=1.3—3.0us（在测试电压≥20mv下裸片的数据） ⑤电阻率：0.5-0.8Ω/cm ⑥位错密度：≤3000个/cm 2、几何尺寸：
人教版八年级数学下册第十七章单元测试题
第十七章勾股定理 一、选择题(每小题4分，共28分) 1．在Rt△ABC中，∠C＝90°，AC＝3，BC＝4，则AB的长为() A．3 B．4 C．5 D．6 2．将下列各组数据中的三个数作为三角形的三边长，其中能构成直角三角形的是() A.3，4， 5 B.1，2， 3 C．6，7，8 D．2，3，4 图17－Z－1 3．如图17－Z－1，数轴上点A，B分别对应1，2，过点B作PQ⊥AB.以点B为圆心，AB长为半径画弧，交PQ于点C，以原点O为圆心，OC长为半径画弧，交数轴于点M，则点M对应的数是() A. 3 B. 5 C. 6 D.7 4．如图17－Z－2是甲、乙两张不同的长方形纸片，将它们分别沿着虚线剪开后，各自要拼一个与原来面积相等的正方形，则() 图17－Z－2 A．甲、乙都可以 B．甲、乙都不可以 C．甲不可以，乙可以 D．甲可以，乙不可以 图17－Z－3 5．如图17－Z－3，点D在△ABC的边AC上，将△ABC沿BD翻折后，点A恰好与点C重合．若BC＝5，CD＝3，则BD的长为() A．1 B．2 C．3 D．4 6．如图17－Z－4，△ABC和△DCE都是边长为4的等边三角形，点B，C，E在同一条直线上，连接BD，则BD的长为() A. 3 B．2 3 C．3 3 D．4 3
图17－Z－4 图17－Z－5 7．如图17－Z－5，在△ABC中，AB＝6，AC＝10，BC边上的中线AD＝4，则△ABC 的面积为() A．30 B．24 C．20 D．48 二、填空题(每小题4分，共24分) 8．平面直角坐标系中，点A(3，－4)到原点的距离为________． 9．命题“如果a2＝b2，那么|a|＝|b|”的逆命题是________________________． 10．某楼梯的侧面图如图17－Z－6所示，其中AB＝4米，∠BAC＝30°，∠C＝90°，因某种活动要求铺设红色地毯，则在AB段楼梯所铺地毯的长度应为________米． 图17－Z－6 图17－Z－7 11．如图17－Z－7所示，在Rt△ABC中，∠A＝90°，BD平分∠ABC交AC于点D，且AB＝4，BD＝5，则点D到BC的距离为________． 12．边长为7，24，25的△ABC内有一点P到三边的距离相等，则这个距离为________．13．如图17－Z－8是“赵爽弦图”，△ABH、△BCG、△CDF和△DAE是四个全等的直角三角形，四边形ABCD和四边形EFGH都是正方形，如果AB＝10，EF＝2，那么AH＝________． 图17－Z－8
硅片检验标准
1．目的 监测硅片质量，确保电池片质量稳定。J 2．适用范围 适用于本公司品质部对所有来料硅片质量的监视和测量。 3．职责 3.1 品质部负责制订硅片检验文件。 3.2 品质部负责来料硅片质量的控制。 4．检验 4.1核对 对照送检单，核对硅片的来源、规格和数量，供方所提供的参数、如电阻率、厚度、对角线长、边长。检查供方出具的材质报告（碳含量、氧含量、晶向及位错密度），如有不符，须先与采购部沟通，无误后进行检验。 4.2 外观检验 4.2.1用刀片划开封条，划时刀片不宜切入太深，刀尖深入不要超过5mm，防止划伤泡沫盒内的硅片。塑封好的硅片，用刀尖轻轻划开热缩膜四个角，然后撕开热缩膜。 4.2.2 抽出两边的隔版，观察盒内有没有碎片，如有则要及时清理碎片。 4.2.3 检验时戴PVC手套。从盒内拿出100片硅片（不得超过100片），先把硅片并齐并拢后观察硅片四边是否对齐平整,并用硅片模板进行对照，鉴别是否存在尺寸不对的现象，如不符合，则用游标卡尺测量，并及时记录于硅片外观检验原始记录表上。 4.2.4 再将100片硅片分出一部分使其旋转90度或180度，再并拢观察硅片间是否有缝隙，如有则说明有线痕或是TTV超标的现象。将缝隙处的硅片拿出来，用MS-203测硅片上不固定的数点厚度(硅片边缘2-5cm以内取点),根据厚度结果确定是否超标。将线痕、TTV超标片区别放置。再观察四个倒角是否能对齐，如有偏差，对照硅片模板进行鉴别，把倒角不一致硅片分开放置。并在硅片外观检验原始记录表上分别记录数量。 4.2.5 观察硅片是否有翘曲现象，翘曲表现为硅片放在平面上成弧形或是一叠硅片并拢后容易散开。如有，则要把硅片放在大理石平面上，用塞尺测量其翘曲度，将翘曲度超标片区别放置，在硅片外观检验原始记录表上记录数量。 4.2.6 逐片检验硅片，将碎片、缺角、崩边、裂纹、针孔、污物、微晶（特指多晶硅片）等不合格品单独挑出，分别存放，并在硅片外观检验原始记录表上记录。