一种基于BWO的太赫兹波透射式检测系统设计

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基于BWO的太赫兹快速扫描成像系统设计

基于BWO的太赫兹快速扫描成像系统设计

束 质 量 好 、 出功 率 高 ( 输 可达 到 量级 )频 率 可 调谐 等 优 点 。 、
频 ,线 偏 振 的 T z波 ,输 出 功 率 最 大 值 约 1 H 5,频 率 2 1 3~
3 5 H , 在 该 频 段 上可 以通 过 软件 平 台调 节返 波 管 上 的 阴极 7 G z且 电压控 制 。
具有 重 要 的应 用 价值 。T z成 像技 术 是 目前 T z应 用 中最 重要 H H
谐 调 输 出频 率 。 波 管 振 荡器 可产 生 00 - .T z连 续 波辐 射 。 返 .3 1 H 5

般 , 个 返 波 管 的Fra bibliotek 率 可调 谐 范 围约 为 2 0 3 0 z 具 有 光 单 0 - 0 GH , 实 验 中选 择 O 一 0型 号 的返 波 管作 为 辐 射 源输 出连 续 , V3 单
太 赫 兹 波 (ea e z o H ) 是 指 频 率 在 01 1 T z T rh  ̄ rT z .~ O H (T z 1 1 GH ) 围 内的 电 磁波 。其 波段 位 于 微 波 和 红 外光 1H = 0 2 z 范 之间 , 具波与光的特性 , 兼 因此 太 赫 兹 波 在 质 检 、 全 领 域 等 的 安
孙 博 汪 伟 ( 中国计量学院太赫兹技术与应用研究所, 浙江 杭州 3 0 1 ) 1 0 8
摘 要
搭 建 了以返 波 管振 荡 器( BW0) 为 辐射 源 的 T 作 Hz透 射 成像 系统 , 系统在 V 该 C++. t 境 下 , 用 多线 程技 术 集成 控 Ne 环 采
s ar e ch appl t s f d u h s on i i i s c a n -de tu t e t sig n he u u e ca on el sr c i e tn I t ft r . v Ke wor : r h t i y dst a er magi b k e z ng,ac war wa e o iaor d— v scl t , l VC++ Ne , t cqust n t da a a iio i

玻璃纤维复合材料缺陷的太赫兹光谱检测实验分析

玻璃纤维复合材料缺陷的太赫兹光谱检测实验分析

玻璃纤维复合材料缺陷的太赫兹光谱检测实验分析郭小弟;王强;谷小红;陈锡爱;范昕炜【摘要】Defect nondestructive test of composite pressure vessel has become a hot research field at present. The glass fiber winding reinforced composite material was detected nondestructively at room temperature by the THz technology (transmission THz-TDS system and BWO imaging system). Measurement of the sample gained the absorption coefficient and refractive index of delamination defect from 0.2THz to 1.8THz and imaging data including metal and thermal damage. The results show that THz technology has obvious defect inspection effect on the samples of glass fiber lamination, including metal and thermal damage. The method can be applied to determine the overall performance of the local inspection.%复合材料压力容器缺陷无损检测成为目前的研究热点。

基于太赫兹技术(透射式 THz-TDS 系统和BWO成像系统)在室温下对玻璃纤维样品进行无损检测,获得了分层缺陷样品在0.2~1.8 THz范围内的折射率谱和吸收谱、夹杂金属和热损伤缺陷样品的成像数据。

反射式太赫兹返波振荡器成像系统及其应用

反射式太赫兹返波振荡器成像系统及其应用

第29卷第1期2010年2月红外与毫米波学报J.I nfrared M illi m .W avesVol .29,No .1February,2010文章编号:1001-9014(2010)01-0015-04收稿日期:2009201202,修回日期:2009206218 Rece i ved da te:2009201202,rev ised da te:2009206218基金项目:国家重点基础研究发展计划“973计划”(2007CB310408);国家自然科学基金(10390160)作者简介:葛新浩(19832),男,北京房山人,硕士研究生,主要从事太赫兹连续波成像研究,E 2mail:l oringe@.反射式太赫兹返波振荡器成像系统及其应用葛新浩, 吕 默, 钟 华, 张存林(首都师范大学物理系北京市太赫兹波谱与成像重点实验室太赫兹光电子学教育部重点实验室,北京 100048)摘要:实现了基于返波管源的太赫兹波反射式成像系统.这是一种新型的无损探伤成像方式.从样品表面或者基底反射回来的太赫兹波被焦热电探测器收集,最后经过计算机处理成像.频率为0.7THz 的成像系统被用来对一系列样品进行无损检测,如硬币、徽章、模型飞机以及预埋了人工缺陷的工业样品.结果表明,很多工业材料相对于太赫兹波都是透明的,尤其是一些在航空航天技术中具有广泛应用价值的吸收微波的材料.关 键 词:无损检测;太赫兹成像;返波震荡器;反射式成像中图分类号:O439 文献标识码:ATERAHERTZ WAVE REF LECTI ON I M AGI NG S YSTE MBASE D ON BACK WAR D WAVE OSC I LLAT ORAN D I TS APP L I CATI ONGE Xin 2Hao, LV Mo, Z HONG Hua, Z HANG Cun 2L in(Beijing Key Laborat ory f or Terahertz Spectr oscopy and I m aging,Key Laborat ory of Terahertz Op t oelectr onics,M inistry of Educati on,Depart m ent of Physics,Cap ital Nor mal University,Beijing 100048,China )Abstract:A terahertz (THz )wave reflecti on i m aging syste m based on back ward wave oscillat or (BWO )was p resented .It is a ne w app r oach t o non 2destructive testing .The intensity inf or mati on of the terahertz wave after being reflected fr om the sa mp le surface or substrate was collected by a pyr oelectric detect or,and then i m aged by computer .A nu mber of sa mp les which had potential i m aging app licati ons were tested by using 0.7THz radiati on,including coins,badges,a model air 2p lane and s ome industrial sa mp les that contained p re 2built defects .The experi m ental results reveal that THz radiati on is highly trans parent t o many industrial materials,es pecially the “m icr owave 2abs orbing ”material which is widely used in aer o and s pace technol ogies .Key words:nondestructive testing;terahertz i m aging;back ward 2wave oscillat or (BWO );reflecti on i m aging引言太赫兹辐射(THz,1T Hz =1012Hz )泛指辐射频率在0.1~10THz 内的电磁波辐射.这个频段内的辐射具有良好的穿透性,可以穿透皮革、塑料、木头、纸张等日常物体,对生物体不具有破坏性[1],越来越多地被应用在实际生活中.返波振荡器(返波管,BWO,Backward W ave O scillat or )太赫兹源就是其中的一种连续波太赫兹辐射源,它是利用电子束与梳形减速结构相互作用产生返波振荡的微波电子管,目前只有返波振荡器和自由电子激光器在0.1T Hz以上具有宽带调谐和大功率输出的能力[1].最近几年,连续波太赫兹成像以其高功率、易于操作调节的特性在一些无损探伤的领域逐渐取代了脉冲式太赫兹时域光谱成像装置.返波管(BWO )作为太赫兹辐射源,具有独特的优势,如输出功率高、波前性质良好、稳定性好,而且体积小、操作简便、光路组成较为简单等.我们的工作主要是利用返波管产生的太赫兹辐射对样品进行反射式成像研究.大多数金属,太赫兹波都不能透射,这就导致透射式光路存在一定的局限性[2].而根据太赫兹辐射对于绝大多数不导电材红外与毫米波学报29卷料的高透过性和对金属及一些导电介质的高反射性的特性[3],我们搭建了这个反射式成像系统,通过记录从样品表面或者其基底表面反射回的太赫兹波对样品进行成像.本实验所涉及的样品中很大一部分是在航空工业上具有重要意义的工业材料,比如碳纤维和微波波段的吸波涂层材料.1 基本原理及反射成像原理简介1.1 返波振荡器基本原理[4]BWO 内部存在着强磁场、热阴极、阳极、梳形减速结构以及耦合波导.首先,电子由热阴极发射出来,在强磁场的作用下受洛伦兹力作用而聚焦,聚焦后的电子经过梳型减速结构后速度下降,最后到达阳极.电子速度的改变会辐射出电磁波,其方向与电子运动方向相反.电磁波与波导耦合,从而输出到自由空间.输出频率取决于电子的速度,范围在50~1500G Hz 内,而电子的速度由加载在电极间的电压决定.1.2 反射成像原理[5]当太赫兹波入射到金属表面的时候会被直接反射,入射到附着着非金属表面的物体时会出现两种情况:一部分电磁波被物体表面反射,另一部分穿透物体,从底板处反射.由于物体各部分对太赫兹的反射率,物体各部分的厚度以及底板的反射有所不同,导致反射回的太赫兹波的强度发生变化.通过记录这种变化,可以得到关于物体形状、大小、空间分布甚至组成材料的相关信息.相对于传统的透射式系统,反射式成像系统搭建的难度更大,主要原因有两点:第一,太赫兹光不可见,反射光束相对于入射光束方向改变,因此收集起来容易受到物体表面朝向、元件空间分布等多种因素影响;第二,反射光谱的组成可分为镜面反射光、漫反射光、散射光等,物体粗糙程度、光斑大小、信号噪声比等因素都会对反射光谱中各部分的组成和数据处理方式有所影响.但是反射式成像系统远比透射式具有更广阔的实际应用价值,因为在很多实际情况中,目标物体往往体积较大,并对太赫兹具有强烈的吸收———比如绑缚在恐怖分子身上的爆炸物品,或者附着在金属等对太赫兹射线不透明的底板上———比如覆盖在航天飞机燃料箱外层的隔热泡沫材料.在这些情况下,反射式成像系统取代透射式系统成为唯一可行的探测手段.反射式系统的反演方法按照不同的成像方法有很多种,在全息成像中一般是通过重构反射波前来实现的.在脉冲式太赫兹成像系统中,脉冲的峰值、中心频率的读数或者反射脉冲与参考脉冲的相关系 图1 反射式成像系统BWO 成像系统的结构示意图 Fig .1 Sche matic lay out of the reflective B WO T Hz i m aging setup数等,都曾被用来进行反演成像[1].返波管振荡器产生的太赫兹信号是单频的,而且探测端只能够测量出信号的能量,因此本试验采取了最直接的点对点的扫描成像方式,图像上每个点反射的信号能量作为反演的唯一依据.2 基于返波振荡器的反射式成像系统介绍反射式BWO 成像系统[6]的结构示意图如图1所示,本系统采用550~710GHz 返波振荡器源,它的辐射功率为0.2mW.探测器使用焦热电探测器[7](Pyr oelectric Detect or ).本系统采用单频成像,所以在系统使用过程中固定使用700GHz 频率为成像频率.当光束从返波振荡器出射,先经频率为10Hz 的斩波器调制,然后通过硅片,被焦距为20c m 、直径为30c m 的聚乙烯透镜聚焦到样品上.样品被固定在二维平移台上,通过移动样品对其进行扫描成像.正入射到样品的光束经样品表面反射后再次由聚乙烯透镜聚焦,聚焦的光束由硅片再次进行反射,最后进入焦热电探测器内,将光强信号转变为电压信号.电压信号与斩波器调制频率同时输入锁相放大器,将交流信号变为直流信号,最后通过数据采集单元由计算机程序采集并通过成像算法进行成像.图2为系统光路和软件界面的实物照片,其中(a )、(b )、(c )为不同角度的实际光路,(d )为自主开发的软件界面图.由于返波管太赫兹源具有非常好的稳定性,此成像系统具有操作简便、便于集成的特点,适用于在更加苛刻的外部环境下操作.本实验在普通温度及湿度条件下成像效果良好,相对于传统T DS 系统恒温恒湿条件具有很大的改善,更贴近实际应用的环境条件.系统采用逐点扫描方式进行成像,扫描范围为10c m ×10c m 的区域,以1mm 为步长,成像时间为30m in 左右.目前市场上连续波振荡器的输出功率基本上是随着频率的降低而增大的[8],这就需要我们在高频与高能量间做出选择.为了得到较高的空间分辨率,成像频率设置在700GHz .我们采用小孔611期葛新浩等:反射式太赫兹返波振荡器成像系统及其应用扫描的方法测定了系统能量半高的直径大小为4.3mm ,700GHz 高斯光束能量半高的直径在衍射极限条件下可计算得0.19mm.这说明本系统还有进一步优化的可能,采用抛面镜或者双曲面镜[9]可以将焦斑进一步缩小,从而提高系统的空间分辨率[10].但是由于返波振荡器出射光束为近高斯分布[4],所以此系统不能达到理论值,并且主要由于硬件的限制只能得到4.3mm.3 成像实验结果及应用讨论3.1 成像本领测量样品是在铝板上打出的大小不同的孔,最大孔的直径是6mm ,中间的孔按每0.5mm 的步长递减,最小孔的直径是1mm ,通过成像结果可以看出,可以分辨出来的最小孔径是1mm.采用非球面镜可进一步缩小光斑至衍射极限,提高成像分辨率.图3中(a )为实物照片,(b )为系统成像的结果,样品尺寸为140mm ×85mm.3.2 物体外部结构成像本部分一共测试了3个样品.图4为附着了各种硬币的一块硬纸板,图5为公安帽徽,图6为毛主席像章.三种样品均为表面镀铝或者涂漆的金属,成像结果表明本系统对于镀铝等高反射面,可以较好地体现样品表面特征;但是对涂漆的表面(比如图5)以及较为复杂和较小细节(比如图4中的细节)不能很好地反映出来,这主要是受到系统空间分辨率的限制.对于各种颜色的喷漆结果,将在下一步实验中进行研究.本部分共有三个样品,其中两个为航天工业中实际检测用的预埋缺陷板,一个为内嵌金属骨架的塑料飞机模型.其中图7为碳纤维基底的吸波涂层,并在粘贴层预埋了若干位置未知的缺陷.在检测这种物体的时候,图7(a )中预埋的12个大小不同的缺陷均可在(b )中清晰地分辨出位置和形状,太赫兹辐射强度的变化主要来源于涂层材料厚度和夹层的不同.这说明太赫兹脉冲透过了吸波涂层,收集到的信号主要是从样品的碳纤维基底反射回来的.这项实验的结果不仅说明太赫兹脉冲对碳纤维基底材71红外与毫米波学报29卷料具有高反射性,而且证明了这种微波波段的吸波涂层材料对太赫兹波吸收很小,因此太赫兹波有可能成为今后航空工业对于此种涂层材料有效的检测手段,从而为今后此种成像装置在航天工业无损探伤中更为广泛应用提供了可能.图8为铝板上喷涂了314μm 防护漆层,在漆层和铝板之间预埋人工缺陷聚四氟乙烯,同样得到了很好的结果.太赫兹波穿透了漆层,从铝板反射回的信号可以分辨出所有的缺陷大小和位置.图9为塑料飞机模型,其中图9(b )中可以看到,太赫兹波透过了塑料飞机的表层,从金属骨架处返回.图像中的白色亮线为飞机模型的金属骨架.通过这一组样品的成像结果,可以看出由于本系统对一些非金属涂层材料,尤其是微波波段的吸波材料和防护涂料的高穿透性和对金属以及碳纤维基底材料的高反射性.这两种重要的特性使得太赫兹成像技术在无损检测和雷达成像方面具有很好的应用前景.3.4 成像结果讨论目前此成像系统由于受到光学元件的限制,焦斑较大.在以后的工作中我们会进一步优化光学元件,提高成像分辨率.对于成像速度,主要受锁相放大器积分时间及平移台移动速度制约,可以通过更换更高速平移台以及实现软件锁相来提高成像速度.此外,目前的返波太赫兹成像系统的探测方式是非相干的直接能量测量方式.通过采取外差式探测方法可以将功率测量变为振幅测量,比如将太赫兹波分束再进行混频.这种方式极大地提高了系统的动态范围,并且实现了对物体的位相测量,在简单的强度成像的结果上加入位相信息,从而扩大系统所携带的信息量,扩展其应用前景.4 结论介绍了利用返波振荡器(BWO )为源的太赫兹波反射式成像系统,它以返波振荡器做光源,焦热电探测器(Pyr oelectric Detect or )做信号采集工具,可分辨出直径最小为1mm 的小孔.该系统可以用于无损检测探测、雷达成像和金属表面特征提取等.本文的相关实验已经表明了该系统产生的太赫兹辐射对于很多重要的非金属涂层材料,尤其是微波波段的吸波材料和防护涂料具有高透过性,而对金属和碳纤维基底具有高反射性,因此证明了其在工业无损检测方面具有的极大优势,随着研究的进一步深入,必将有广阔的应用前景.致谢 本工作得到国家重点基础研究发展计划(973计划)资助项目(No .2007CB310408)和北京(下转31页)1期张新生等:乳腺X线图像的增强与噪声抑制研究2003,12(1):16—28.[2]Starck J,Cand s E J,Donoho D L.The curvelet transf or mfor i m age denoiseing[J].IEEE Transactions on I m age Pro2 cessing,11(6),2002:670—684.[3]Pennec E L,Mallat S.Sparse Geometric i m age rep resenta2ti on with bandelets[J].IEEE T ransactions on I m age Pro2 cessing,2005,14(4):423—438.[4]Do M N,Vetterli M.The cont ourlet transfor m:an efficientdirecti onal multires oluti on i m age rep resentati on[J].IEEE T ransactions I m age on Processing,2005,14(2):2091—2106.[5]LU W en,G AO Xin2Bo,ZE NG Kai,et al.I m age quality e2valuati on metrics based on HWD[J].J.Infrared M illi m.W aves(路文,高新波,曾凯,等.一种基于HWD的图像质量评价测度.红外与毫米波学报),2009,28(1):72—76.[6]ZHANG L in,F AN Zhi2Jun,WANG Sheng2Q ian,et al.Multi w avelet adap tive denoising method based on genetic al2 gorith m[J].J.Infrared M illi m.W aves(章琳,方志军,汪胜前,等.基于遗传算法的多小波自适应去噪方法研究.红外与毫米波学报),2009,28(1):77—80.[7]AN Zhi2Yong,CU I J iang2Tao,ZE NG Zhi2Yong,et al.I m2age retrieval based on radon and wavelet transf or m[J].J.Infrared M illi m.W aves(安志勇,崔江涛,曾智勇,等.基于Radon和小波变换的图像检索.红外与毫米波学报), 2008,27(2):147—151.[8]Cunha A L,Zhou J,Do M N.The nonsubsa mp led cont our2let transf or m:theory,design,and app licati ons[J].IEEE T ransactions on I m age P rocessing,2006,15(10):3089—3101.[9]Laine A,Fan J,Yang W.W avelets for contrast enhance2ment of digital ma mmography[J].IEEE Engineering in M edicine and B 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基于BWO连续太赫兹波成像系统的无损检测

基于BWO连续太赫兹波成像系统的无损检测

文章编号:1002-2082(2008)06-0912-05基于BWO 连续太赫兹波成像系统的无损检测袁宏阳,葛新浩,焦月英,张存林(首都师范大学物理系,北京市太赫兹波谱与成像重点实验室,太赫兹光电子学省部共建教育部重点实验室,北京100048)摘 要:介绍了一种基于返波管(BWO )的太赫兹波成像系统。

BWO 连续太赫兹波成像是一种新的无损检测方法。

实验过程中把样品放在X -Z 二维电控平移台上进行扫描成像,透过样品的太赫兹波强度信息由热释电探测器接收,然后经过电脑成像。

给出了应用0.71T Hz 的连续太赫兹波对打孔铝板、公交卡、校园卡的内部结构和对隐藏在信封内硬币等物体和信封内纸片上的铅字迹的成像实验研究事例,并且测知该系统能够分辨出直径最小为1.5mm 的小孔。

这项工作揭示了使用BWO 连续太赫兹波成像系统在无损检测和安全检查领域是有效的。

关键词:无损检测;连续波成像;BWO 连续太赫兹波;返波管中图分类号:T N 206;O 439 文献标志码:ANondestructive testing by continuous Terahertz imagingsystem based on backward wave oscillatorYUAN Hong-y ang ,GE Xin-hao,JIAO Yue-y ing ,ZHAN G Cun-lin(M O E K ey L abor ato ry of T er aher tz O pto -electr onics,Depar tment o f Phy sics,Capit al N or mal U niv ersity ,Beijing 100048,China )Abstract :A terahertz (T Hz )imaging system based on a backw ard -wav e oscillato r (BWO )is pr esented.BWO continuous THz w ave imaging is a new approach to nondestructive testing.In the ex perim ent,a sam ple w as scanned o n an X -Z 2-D translation stag e,and the THz intensity inform ation of the sample was picked up by a py roelectric detector for imaging w ith a computer .A number o f potential im aging applications w ere dem onstrated by using the 0.71THz radiatio n,including nondestructive real-tim e testing of fare cards for bus passengers,Campus IC Card and co ins in an env elo p .T he current setup is capable of resolving an object of 1.5mm size .It is co ncluded that a BWO T Hz imaging system is very practical and effective too l in no ndestructive identificatio n and secur ity inspection.Key words :nondestr uctiv e testing;continuous w av e;BWO THz imaging sy stem ;backw ard-w ave oscillator引言太赫兹辐射(T Hz,1TH z=1012Hz)指的是频率在0.1THz ~10T Hz(波长在3mm ~30 m )之间的电磁波,其波段介于毫米波和红外光之间,在电磁波谱中被称为太赫兹波[1]。

透射式太赫兹系统

透射式太赫兹系统

透射式太赫兹系统什么是透射式太赫兹系统?透射式太赫兹系统是一种利用太赫兹波进行物质检测的技术。

它可以通过透过被检测物体的太赫兹波,来获取物体内部的信息。

这种技术在医学、安全检查和材料科学等领域有着广泛的应用。

透射式太赫兹系统的工作原理透射式太赫兹系统使用太赫兹波穿过被检测物体,然后通过探测器接收反射回来的信号。

这些反射信号可以提供关于被检测物体内部结构和组成的信息。

在透射式太赫兹系统中,发射器和接收器通常放置在被检测物体两侧。

发射器产生一个短脉冲的太赫兹信号,该信号会穿过被检测物体并与内部结构相互作用。

一些信号将被反弹回来并由接收器捕获。

通过分析这些反弹信号,可以确定被检测物体内部结构和组成。

例如,在医学上,透射式太赫兹系统可以用于探测人体组织中的肿瘤和其他异常病变。

透射式太赫兹系统的优点透射式太赫兹系统具有许多优点。

首先,由于太赫兹波可以穿透许多不透明物质,因此这种技术可以用于检测许多不同类型的物体。

其次,透射式太赫兹系统非常灵敏。

它可以检测到非常小的变化,并且可以提供高分辨率图像。

此外,透射式太赫兹系统是一种非侵入性技术。

这意味着它不会对被检测物体造成任何损伤或影响。

最后,透射式太赫兹系统是一种快速、准确和可靠的技术。

它可以在几秒钟内生成高质量的图像,并且可以在实时监控下进行操作。

透射式太赫兹系统在各个领域的应用医学领域:透射式太赫兹系统可以用于诊断乳腺癌、皮肤癌、鼻咽癌等疾病。

它还可以帮助医生确定药物在人体内部的分布情况。

安全检查领域:透射式太赫兹系统可以用于检测爆炸物、毒品和其他危险物质。

它还可以用于监测食品中的污染物。

材料科学领域:透射式太赫兹系统可以用于研究材料的结构和性质。

例如,它可以帮助科学家确定新材料的电子结构和热传导性能。

透射式太赫兹系统的未来发展随着技术的不断发展,透射式太赫兹系统将继续在各个领域得到广泛应用。

未来,我们可以期待更高分辨率、更快速度和更准确的技术出现。

此外,随着机器学习和人工智能技术的进步,透射式太赫兹系统也将变得更加智能化。

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的锁 相 放 大 器 来 进 行 数 据 采 集 工 作 ,两 种 型号 的锁 相放 大 器 仅
面板 显 示 及 个 别 编 程 指 令有 些微 区别 。
2 硬 件 系 统 设 计

图 2 系 统 测得 两 路信 号 波 动 趋 势
硬 件 系 统 示 意 图 如 图 1所 示 ,可 以分 为 差 分 光 路 设 计 与 信
这 样 的设 计 能够 最 大 限 度 地 减 小 避 免 B WO 源 的 功 率 波 动 对 实 验 结 果 造 成 的 影 响 ,样 品 探 测 器 与 参 考 探 测 器 测 得 的信 号 值 分 别 归 一 化 后 , 到 图 2中 的 变化 趋 势 。 得
系 统 分 为 硬件 系统 和软 件 平 台 两 部 分 ,主 要 应 用 到 的仪 器 设 备 有 : co e h n t me t MirT c Isr u ns公 司 的 返 波 振 荡 器 ( O) B , C DP公 司 的 焦 热 电探 测 器 ( D一 )Sa fr e e rh S s P 1 , tn d R s ac y — o
子学 处 理 的过 渡 频 带 ,也 是 处 在 物 理 学 经 典 理 论 和 量 子 理 论 的 交界 处 ,这 一 频 率 范 围 内的 电磁 波 具 有 丰 富 的 科 学 内 容 和 广 阔 的应 用 前 景 。 赫 兹 波 光 子 能 量 约 为 可 见 光 , 太 赫 兹 波 做 信 息 太 用
信 , P 机 中读 取 。 在 C
21 差 分 光 路设 计 . 本 测 试 系 统 采用 透 射式 光 路 ,通 过 透 过 率 的变 化 来 检测 样
品 的特 性 。 于 测试 系统 来 讲 , 测 源 功 率 输 出 的 不 稳 定 将极 大 对 探
的影 响 到 最 后 得 到 的数 据 的 可 靠 性 , 此 , 避 免 此 种 情 况 , 因 为 采
取 6 Hz 4 。
软件 平 台 主要 包 括 接 1 块 与 数 据 采集 模 块 。接 口模 块 由 3模
V +N T编 译 器 提 供 的 MS o C+ .E C mm 控 件 通 过 串 行 端 口发 送 与
接 收数 据 , 上 位 机 与 下位 机 提 供 串行 通 信 功 能 。 为 数 据 采集 主要 进行 数 据 的 采 集 、 储 、 览 等 功 能 , 建 一 存 预 创 个线 程 专 门用 于数 据 的 采 集 。 软 件 界 面 如 图 3所 示 , 可实 现 锁 相 放 大 器 型 号 、 相 放 大 器 锁 及 串 口的 参数 、 储 路 径 、 据 采 集 的 点 数 的设 置 ; 据 采 集 时 存 数 数 界 面下 方 的 数据 预 览 框 内 会 自动预 览 所 采 集 的数 据 ;程 序 根据 采 集 的 点 数 与 采 样 率计 算 数 据 采 集 所 需 要 的 时 间 并 在 R n按 u
t ms公 司 的 锁 相 放 大 器 ( R 3 、 R 1 ) e S 8 0S 8 0 。 返 波 振 荡 器 ( WO) 一 种 从 微 波 技 术 发 展 而 来 的 真 空 电 B 是
子 管 。B WO 的 电源 主要 由加 热 器 和 高 压 两 部 分 组 成 , 以通 过 可 调节 加 速 电压 来 改 变 输 出频 率 , 实验 中选 择 OV 3 一 0型 号 的返 波 振荡 器 作 为 辐 射 源 , 出连 续 、 频 、 偏 振 的 太 赫 兹 波 , 出 功 输 单 线 输 率约 为 1 mW , 率 范 围 2 1 3 0 z 可 调 ) 5 频 3 ~ 8 GH ( 。 锁 相 放 大 器 是 一 种 可 以 从 干 扰 极 大 的环 境 中 分 离 出 特 定 载 波频 率 信 号 的 放 大 器 ,实 验 中选 择 S 8 0型 号 与 S 8 0型 号 R3 R1
检 、 料 分 析 等 技 术 领 域 内大 显 身 手 。 材 1 系统 简 介 此系统基 于对样品透过率 的差分检 测来分 析样品特性 , 在
图 1 系统 光 电 信 号 流 程 图
取 了差 分 的方 法 来 进 行 光 路 设 计 , 赫 兹 信 号 经 斩 波 器 调 制 后 , 太 用 分 光 镜 将 太 赫 兹 信 号 分 为 两 路 ,一 路 聚焦 到 达样 品 最终 由探
lck—i a plir . o n m ie sVC ++ Ne b l e vi men an m ut- h e dig t hn o co pl e f t ui d n r on t d l tra n i ec olgy. m etd dou e l k-i a plir s — bl oc n m ie s yn f
该 系 统 可 以实 现 对 样 品 的透 射 式 检 测 ,图 4为 本 系 统 在 葡
萄糖 溶 液 浓度 与透 过 率 关 系 的 实验 中得 到 的 实验 结 果 。
l f 言 … i
钮 处 以倒 计 时 方式 提 示 ;数 据 采 集 前程 序会 检查 参 数 设 置 是 否
Ke wor : ah t Ba war wa e os l t rVC++ Ne , t a quiio L k n y dst er er z, ck d v ci o , l a tdaa c st n,oc —i Am pli i ier f
太赫 兹 ( ea et)波 的频 率 位 于 远 红 外 光 与 毫 米 波 之 间 T rh r z ( .~ 0 H ,T z 1 1 H ) O1 1T z 1 H = 0 2 z ,在 电磁 波 谱 中 属 于 光 子 学 与 电
施 卫 博 汪 伟 ( 中国{ ̄ ̄院机电工程学院, 4- - 浙江 杭 州 30 1) 108
摘 要
搭建 了以 B WO( 波 振 荡 器 ) 辐 射 源 的 透 射 式 光 路 太 赫 兹 检 测 系统 , 计 搭 建 了差 分 式 的 光 路 , 使 用 两 个锁 相 放 返 为 设 并 大器 , 完成 了整 个 系统 参 数 的 配 合 及优 化 工 作 , 用 V +N t 译 环 境 , 用 多 线程 技 术 完成 了 对双 锁 相 放 大 器 的 同 步 数 使 C十 .e 编 采 据采集 , 作方便 , 操 旨在 为今 后 的 太赫 兹 波 传 感 器研 究工 作 奠 定 基 础 。
ch o ou da a cqust , s o ope ae, or o a te f un t f h r i te u u e. rn s t a iionea y t i rt i n dert ly h o da i on ort e wo k n h ft r
5 结 束 语
本 文 讨论 了太 赫 兹 波 技术 在检 测领 域 内 的一 种 应 用 ,设计 搭 建 了 一 个 检 测 系 统 , V +.E 在 C+ N T编 译 环 境 下 , 制 了 相 应 编 的上 位 机 程序 用 于 参 数 设 置 及 数据 采集 , 到 了 实 验设 计 要 求 , 达 为 今 后 开 展相 应 的检 测 实 验工 作 提 供 基 础 。
K o wa e. Te u Mi za od Ka s ro ya wa, an Yuc i d ih Oga wa, Tea— r h rz et -wav s pt n n i i me u e u ig he e an s e ab or i i l ds o qu as r d sn t v e —
4 实 验 结 果 分析
frtrh r ma ig [] co I t nc o ra,0 0 1 o ea et i gn J Miree r is J un l 0 ,3 z co 2
[ ] iCh n 3L e g,S i’ hr y s i d in Do ri,Chk a i hn i i Ha a h,A r bou c o a i Otn. o
号处理两部分。
22 信 号 处 理 -
信 号 处 理 主要 就 是 对 锁 相 放 大 器 输 出 信 号 进 行 数 据 采 集 , 光 强信 号 经 焦 热 电探 测 器 转 化 为 电 压值 ,此 信 号 与 斩 波 器 调 制
信 号 同步 输 入 锁 相 放 大 器 中 , 相 放 大 器 检 出 载 波 频 率 信 号 , 锁 并 以设 定 的采 样 频 率 记 录 信 号 值 , 集 到 设 定 的 点 数 后 , 串 口通 采 经
7 0
3 软 件 平 台设 计
一种基于 B WO 的太 赫 兹 波 透 射式 检测 系 统设 计 定 理 的 要 求 , 样 率 至少 应 大 于 低 通 滤 波 器 截 止频 率 的两 倍 , 采 才 能复 原 信 号 , 考 虑 到 锁相 放 大 器 的响 应 速 度 , 验 中采 样 率 值 但 实
关键 词 : 赫 兹 , WO 返 波 振 荡 器 , C +N t数 据 采 集 , 相 放 大器 太 B V + e, 锁
Absr c ta t
A B W0 ( a k r v s i tr s c o e o h a it n s uc fte T rn mis n d tco y tm.s g t b c wad wa e o cl o)i h s n frte rdai o re o h Hz t s s i ee trs se u i wo l a o a o n
太 赫 兹 频 段 ,许 多 材料 的透 过 率 是 与 其 本 身 材 料 特 性 密 切 相 关 的, 因此 通 过 透 过 率 的 分 析 , 以 完 成 对 样 品 的 厚 度 、 度 、 分 可 浓 水
含量等等的检测。
测器接收 , 为样 品信 号 , 一 路 直 接 由探 测 器 接 收 , 参 考 信 号 。 另 为
参 考 文献
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