Cp与Cpk的计算公式
CpCpk关系公式
傳統的Cpk 與Cp 的關係的推導過程根據業界對Cp 和Cpk 公式的定義, 有:σ6LSL USL Cp −= ----------------------------------------------------------------------- (1) }3,3min{σµσµLSL USL Cpk −−= ------------------------------------------------------ (2) 式中,USL: 規格上限值LSL: 規格下限值σ: 過程的標準差μ: 過程的平均值設M 為規格中心值, 則2LSL USL M +=. T 為規格範圍的大小, 則 LSL USL T −=.解聯立方程: ⎪⎩⎪⎨⎧−=+=LSLUSL T LSL USL M 2, 得 ⎪⎩⎪⎨⎧−=+=22T M LSL T M USL ------------------------------------(3) 從而公式(1)和(2)可以表示為:σ6T Cp = -------------------------------------------------------------------------------- (4) }32/,32/min{σµσµT M T M Cpk +−−+= ------------------------------------------- (5) 所以, T = 6σ*Cp -------------------------------------------------------------------- (4.1) 3σ= T/2Cp -------------------------------------------------------------------- (4.2) 公式(5)可以寫成: }32/,32/min{σµσµT M T M Cpk +−+−= ------------------------------------------- (6) 當μ偏移過程中心時, 有兩種情況, 即右偏和左偏.右偏時: μ>M, μ-M>0, 根據公式(6), σµ32/T M Cpu Cpk +−== ----------------------------------------------------------- (7)將公式(4.1)代入公式(7), 得到:Cp M Cp M Cpu Cpk +−−=+−==σµσσµ332/*6 ------------------------------ (7.1) 左偏時: μ<M, μ-M<0, M-μ>0, 根據公式(6), σµ32/T M Cpl Cpk +−== ----------------------------------------------------------- (8) 將公式(4)代入公式(8), 得到: Cp M Cp M Cpl Cpk +−−=+−==σµσσµ332/*6 ------------------------------- (8.1) 綜合公式(7.1)和(8.1), 得Cp M Cpk +−−=σµ3 ------------------------------------------------------------------ (9) 設過程平均值μ偏移規格中心值M 的量表示為ε,則ε=μ-M -------------------------------------------------------------------------------- (10) 當過程右偏時, ε=μ-M > 0.當過程左偏時, ε=μ-M < 0.利用式(4.2)和式(10), 公式(9)化為TK K Cp T Cp Cp Cp T Cpk εεε2),1()21(2/=−=−=+−= 所以, 有Cp K Cpk )1(−= ---------------------------------------------------------------------- (11) 其中, T K /2ε=據此, 若已知Cp 和Cpk, 利用式(4.1), 可以求得ε:σεσεε3)6*21()21(−=−=−=Cp Cp Cp Cp T Cpk , 所以)(*3Cpk Cp −=σε ----------------------------------------------------------------- (12)若已知T,ε,σ,求Z USL 和Z LSL :σεσµσµσµ)2(2)(2−=+−−=−+=−=T T M T M USL Z USL ---------------------- (13) σεσµσµσµσµ+−=+−−=−−−=−−=−=22)()2(T T M T M LSL LSL Z LSL --- (14)。
cpk计算公式
CPK计算公式CPK是一种统计指标，用于衡量一个过程的稳定性和能力。
它是根据过程的长期和短期变异性来计算的。
在质量管理中，CPK是一个重要的指标，可用于分析数据并评估过程的性能。
CPK的定义CPK是指标的两个方面的能力指标：•过程能力指数（Cp）：衡量了过程的长期稳定性。
•过程性能指数（Cpk）：衡量了过程的稳定性与目标值之间的偏离程度。
CPK指数可以被用来判断一个过程是否满足规范的要求，以及过程的潜在偏离程度。
CPK计算公式CPK可以根据以下公式进行计算：CPK = min(CPU, CPL)其中，•CPU (Upper Process Capability Index)：过程能力的上限指数，表示了过程的离散程度与目标值的偏离程度。
它可以被计算为：CPU = (USL - μ) / (3 * σ)其中，USL是上限规格限制（Upper Specification Limit），μ是过程的平均值，σ是过程的标准差。
•CPL (Lower Process Capability Index)：过程能力的下限指数，表示了过程的离散程度与目标值的偏离程度。
它可以被计算为：CPL = (μ - LSL) / (3 * σ)其中，LSL是下限规格限制（Lower Specification Limit），μ是过程的平均值，σ是过程的标准差。
根据以上公式，CPK的值将介于CPU和CPL之间，取较小的一个作为最终的CPK值。
越接近1的CPK指数表示过程越稳定，越远离1的CPK指数表示过程越不稳定。
CPK指数的解读CPK指数用于对过程能力进行评估。
常见的评估标准如下：•CPK > 1.33：过程非常稳定，能够满足规范要求。
• 1.0 < CPK < 1.33：过程相对稳定，但可能有一些不合格品。
•CPK < 1.0：过程不稳定，可能有大量的不合格品。
CPK指数的值越高，表示过程越稳定，产品的质量越高。
CPK大,CP小是怎么回事
CPK大,CP小是怎么回事2010-05-12 22:53rsmoop| 分类：数学| 浏览4093次如：CPK=1.37 CP=0.09 我有更好的答案提问者采纳检举| 2010-05-14 16:151、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp（Capability Indies of Process）：稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达式为：Cpk，Ca，Cp三者的关系：Cpk = Cp ＊（ 1 －┃Ca┃），Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系（集中趋势），Cp反应的是散布关系（离散趋势）Pp（Performance Indies of Process）：过程性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能，一般表达式为：（该指数仅用来与Cp及Cpk对比，或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序）CPU：稳定过程的上限能力指数，定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限，一般表达式为：CPL：稳定过程的下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限，一般表达式为：2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义Cpk：这是考虑到过程中心的能力（修正）指数，定义为CPU与CPL的最小值。
它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。
即：Ppk：这是考虑到过程中心的性能（修正）指数，定义为：或的最小值。
即：其实，公式中的K是定义分布中心μ与公差中心M的偏离度，μ与M的偏离为ε=| M-μ| 3、公式中标准差的不同含义①在Cp、Cpk中，计算的是稳定过程的能力，稳定过程中过程变差仅由普通原因引起，公式中的标准差可以通过控制图中的样本平均极差估计得出。
因此，Cp、Cpk一般与控制图一起使用，首先利用控制图判断过程是否受控，如果过程不受控，要采取措施改善过程，使过程处于受控状态。
确保过程受控后，再计算Cp、Cpk。
cpk计算公式及详细解释
cpk计算公式及详细解释cpk（简称：Cp）是一个统计指标，它可以衡量特定程序的质量水平。
Cp评估是指对过程的控制状况（特别是在稳定的工艺过程中）的评估。
利用该指标，可以清楚地了解过程的控制水平，从而快速、有效地发现未控制的过程，从而可以采取措施进行优化，从而改善产品质量。
Cpk由以下公式组成：Cpk = min ( (T1 me) / (3σ) , (T2 me) / (3σ) ) 其中，T1和T2分别是规定的控制限，me是样本的平均值，σ是样本的标准差。
Cpk的计算方法及其解释：1、先确定规定控制限：既然要评估控制能力，那就要首先确定规定的控制限，即T1和T2，T1和T2分别是工艺上最高接受限度和最低接受限度，均为小于或等于0；2、计算样本的平均值：随后，利用样本测量结果计算出样本的平均值me，统一按照标准计算；3、计算样本的标准差：接下来，用测量结果计算样本的标准差σ，取其绝对值；4、计算Cpk：最后，使用以上参数计算Cpk，公式如上所示；5、解释Cpk：Cpk的值反映了过程的控制水平，Cpk的取值范围一般是0到10，若Cpk的取值在0-1之间，表明过程的控制水平低，需要重新检查并找出数据中的异常值；若Cpk的取值在1-2之间，表明过程的控制水平一般，需要多做努力，提高控制水平；若Cpk的取值在2-3之间，表明过程的控制水平良好，但仍可能存在较小改进空间；若Cpk的取值在3-4之间，表明过程的控制水平非常良好，此时可以进行改善，以进一步提高控制水平；若Cpk的取值大于4，表明过程的控制水平非常出色，可以放心使用。
Cpk具有以下优点：1、能够综合评估过程的控制水平：Cpk指标能够准确反映工艺过程中变量的控制水平；2、能够快速发现未控制的过程：Cpk指标可以很快地将未控制的过程从其他控制的过程中区分出来，因此可以确保良好的质量控制；3、能够及时对工艺过程进行优化：Cpk指标可以帮助发现问题，以及对工艺过程进行优化，从而改善产品的质量。
过程能力CPK的计算方法
过程能力CPK的计算方法
Cpk是一种用于量化制程水平的指数，它可以通过一个数
值来反映制程的合格率。
Cpk的计算公式为Cpk=Cp(1-|Ca|)，
其中Ca代表制程准确度，Cp代表制程精密度。
需要注意的是，在计算Cpk时，样本数据至少应有20组，并且数据要具有一
定代表性。
根据Cpk值的大小，可以将制程分为不同的等级。
A+级
表示制程水平非常高，Cpk值大于等于1.67；A级表示状态良好，Cpk值在1.33到1.67之间；B级表示需要改进，Cpk值
在1.0到1.33之间；C级表示制程不良较多，Cpk值在0.67到1.0之间；D级表示制程能力较差，Cpk值小于0.67.
在制程规格方面，可以分为单边规格和双边规格。
单边规格只有规格上限或规格下限，数据越接近上限或下限越好；双边规格有上下限与中心值，数据越接近中心值越好。
其中，USL代表规格上限，LSL代表规格下限，C代表规格中心。
制程准确度Ca用于衡量“实际平均值”与“规格中心值”的一致性。
对于单边规格，不存在规格中心，因此也就不存在Ca；对于双边规格，Ca的等级评定和处理原则与Cp类似。
制程精密度Cp衡量的是“规格公差宽度”与“制程变异宽度”之比例。
对于只有规格上限和规格中心的规格、只有规格下限和规格中心的规格以及双边规格，Cp的等级评定和处理原则也有所不同。
总之，Cpk是一个非常重要的制程能力指数，可以帮助企业量化制程水平，进而采取相应的措施来提升制程能力。
如果需要计算Cpk值，可以使用免费的CPK计算工具。
单侧cpk计算公式及解释
单侧CPK（Process Capability Index）计算公式为：CPK=Cp*(1−∣Ca∣)。
其中，Cp表示制程精密度，反应的是散布关系即离散趋势；Ca表示制程准确度，反应的是位置关系即集中趋势。
制程精密度Cp的计算公式如下：
1.单侧规格：只有USL（Upper Specification Limit规格上限）或LSL
（Lower Specification Limit规格下限）或C（Center Line规格中心）
的规格。
•只有规格上限和规格中心的规格：Cpu=(X1+X2+...+Xn)/n−USL规格公差样
本标准差。
•只有规格下限和规格中心的规格：Cpl=(X1+X2+...+Xn)/n−LSL规格公差样
本标准差。
•有上下限与中心值，而上下限与中心值对称的规格：Cp=(USL−LSL)/6σ。
2.双规格：
•Cp=(USL−LSL)/6σ。
制程准确度Ca的计算公式如下：
1.单规格无需计算Ca。
2.双规格：Ca=(ˉx−USL)/(T/2)。
CPK是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系（集中趋势），Cp反应的是散布关系（离散趋势）。
当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。
以上内容仅供参考，如需更多信息，建议查阅关于单侧CPK的资料或者咨询工业工程专家。
cpk计算公式及解释
cpk计算公式及解释**CPK公式**CPK(Cp、Cpk)是主要衡量过程能力的指标，它是统计控制图的指标，用于指示制造工艺是否在特定允许范围内能够生产出符合设计要求的产品，通常用来表达工艺的稳定性和可控性。
CPK公式如下：CPK=min(Cpu,Cpl)/(6*σ)；Cpu：物理上的上限公差；Cpl：物理上的下限公差；σ：样本标准偏差**CPK公式的解释**CPK是指“过程能力指数”（Process Capability Index），它描述了一个制造过程实现指定目标的能力，衡量了一个制造过程产品的质量与指定规格的兼容性和可控性。
CPK表示的是相对于指定的规格的制造过程的可控性，它主要反映的是制造数据与目标规格数据之间的差距。
CPK值越大，表明制造过程的可控性越强，处在指定的规格控制范围内的可能性越高；反之，则表明可控性较弱，超出规格控制范围的可能性更高。
CPK可以定义为Cpu/UL、Cpl/LL和6*(σ/OL) ，UL是上限公差，LL是下限公差，OL是目标公差，σ是样本标准偏差，Cpu是物理上的上限公差，Cpl是物理上的下限公差。
CPK指标越大，说明制造过程越稳定，产品质量较好，可控性越强；反之，则表明可控性较弱，超出规格控制范围的可能性更高。
**总结**：1. CPK(Cp、Cpk)是主要衡量过程能力的指标，用于指示制造工艺是否在特定允许范围内能够生产出符合设计要求的产品；2. CPK公式是min(Cpu,Cpl)/(6*σ)；3. CPK表示的是相对于指定的规格的制造过程的可控性，它反映了制造数据与目标规格数据之间的关系；4. CPK可以定义为Cpu/UL、Cpl/LL和6*(σ/OL)；5. CPK指标越大，说明制造过程越稳定，产品质量较好，可控性越强；反之，则表明可控性较弱，超出规格控制范围的可能性更高。
Cp与Cpk详细说明
但是关于过程能力指数，还是有很多令初学者不解的疑问，甚至略感神秘。
今天就Cp与Cpk的10个疑问给大家分析一下，帮助大家揭开其神秘面纱。
1. Cp与Cpk都被称为过程能力指数，二者的区别是什么呢？首先要介绍两个术语“无偏”和“有偏”。
当数据的分布中心与公差中心重合，称为无偏。
而无偏情形下的过程能力指数就是Cp，也称理论上的过程能力指数；当数据的分布中心与公差中心不重合，称为有偏。
而有偏情形下的过程能力指数就是Cpk，也称实际上的过程能力指数。
在实际的工作当中，我们研究的是有偏过程能力指数Cpk，以此作为衡量过程能力的指标。
2. 为什么Cp有另一个名字叫“精密度”？大家知道，Cp=T/6σ（T为规格的公差范围，σ为标准差）。
从数学角度上来讲，Cp的大小与T和σ有关。
但从质量管理角度来看，Cp只与σ有关，为什么这么说呢？因为产品规格的公差范围T是人为设定的（通常由设计工程师制定），而如何提高过程能力指数Cp，就要从如何减小σ、提高产品加工精度方面下功夫，以满足设计的公差要求，而不能直接找设计部门要求放宽公差带。
正因为Cp 只与标准差σ有关，所以Cp的另一个名字，叫“精密度”。
3. Cp计算公式的内涵是什么？上面提到了无偏过程能力指数Cp=T/6σ，这个公式代表了什么意思呢？要揭晓答案，就要提到SPC的核心工具——控制图，因为控制图通常都是与Cp、Cpk分不开的。
在计量控制图中，根据3σ最经济的原则，控制上限UCL与控制下限LCL 之间的宽度为6倍σ。
控制限与规格限的关系如下所示：既然控制限在规格限的范围之内，我们再来看下面这张图：上图中，T为规格限的宽度，即公差范围；6σ为控制限的宽度。
所以，无偏过程能力指数Cp就是产品设计的规格限宽度与加工过程控制限宽度的比值，即Cp=T/6σ。
规格限的宽度是一定的，所以加工能力的大小取决于控制限的宽度，宽度越窄，加工的精度就越高，Cp的数值就越大。
4. Cpk与Cp只有一“k”之差，那么k又是什么呢？k的起源可以追溯到20世纪70年代的日本。
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Cp与Cpk的计算公式2008年06月21日星期六13:38 1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式
Cp（Capability Indies of Process）：稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达式为：Cpk，Ca，Cp三者的关系：Cpk = Cp ＊（ 1 －┃Ca┃），Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系（集中趋势），Cp反应的是散布关系（离散趋势）
4。
当选择制程站别用Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。
5。
计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。
6。
计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限（USL，LSL），才可顺利计算其值。
7。
首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差（σ），再计算出规格公差（T），及规格中心值（u）。
规格公差＝规格上限规格下限；规格中心值＝（规格上限＋规格下限）/2；
8。
依据公式：Ca=（X‘－U）/（T/2），计算出制程准确度：Ca值
9。
依据公式：Cp =T/6Sigma ，计算出制程精密度：Cp值
10。
依据公式：Cpk=Cp＊（1－绝对值Ca），计算出制程能力指数：Cpk值
11。
Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）
A＋＋级Cpk≥2。
0 特优可考虑成本的降低
A＋级2。
0 ＞Cpk ≥1。
67 优应当保持之
A 级1。
67 ＞Cpk ≥1。
33 良能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级
B 级1。
33 ＞Cpk ≥1。
0 一般状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良
的危险，应利用各种资源及方法将其提升为
A级
C 级1。
0 ＞Cpk ≥0。
67 差制程不良较多，必须提升其能力
D 级0。
67 ＞Cpk 不可接受其能力太差，应考虑重新整改设计制程。
Pp（Performance Indies of Process）：过程性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能，一般表达式为：
（该指数仅用来与Cp及Cpk对比，或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序）
CPU：稳定过程的上限能力指数，定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限，一般表达式为：
CPL：稳定过程的下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限，一般表达式为：
2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义
Cpk：这是考虑到过程中心的能力（修正）指数，定义为CPU与CPL的最小值。
它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。
即：
Ppk：这是考虑到过程中心的性能（修正）指数，定义为：或的最小值。
即：
其实，公式中的K是定义分布中心μ与公差中心M的偏离度，μ与M的偏离为ε=| M-μ|
3、公式中标准差的不同含义
①在Cp、Cpk中，计算的是稳定过程的能力，稳定过程中过程变差仅由普通原因引起，公式中的标准差可以通过控制图中的样本平均极差估计得出。
因此，Cp、Cpk一般与控制图一起使用，首先利用控制图判断过程是否受控，如果过程不受控，要采取措施改善过程，使
过程处于受控状态。
确保过程受控后，再计算Cp、Cpk。
②由于普通和特殊两种原因所造成的变差，可以用样本标准差S来估计，过程性能指数的计算使用该标准差。
4、几个指数的比较与说明
①无偏离的Cp表示过程加工的均匀性（稳定性），即“质量能力”，Cp越大，这质量特性的分布越“苗条”，质量能力越强；而有偏离的Cpk表示过程中心μ与公差中心M的偏离情况，Cpk越大，二者的偏离越小，也即过程中心对公差中心越“瞄准”。
使过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果。
Cp与Cpk的着重点不同，需要同时加以考虑。
②Pp和Ppk的关系参照上面。
③关于Cpk与Ppk的关系，这里引用QS9000中PPAP手册中的一句话：“当可能得到历史的数据或有足够的初始数据来绘制控制图时（至少100个个体样本），可以在过程稳定时计算Cpk。
对于输出满足规格要求且呈可预测图形的长期不稳定过程，应该使用Ppk。
”
Cpk——过程能力指数
CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]
Cpk应用讲议
1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。
2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp.
Ca: 制程准确度。
Cp: 制程精密度。
3. Cpk, Ca, Cp三者的关系：Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势)
4. 当选择制程站别用Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。
5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。
6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。
7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差＝规格上限－规格下限；规格中心值＝（规格上限+规格下限）/2；
8. 依据公式：，计算出制程准确度：Ca值
9. 依据公式：Cp = ，计算出制程精密度：Cp值
10. 依据公式：Cpk=Cp ，计算出制程能力指数：Cpk值
11. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）
A++级Cpk≥2.0 特优可考虑成本的降低
A+ 级2.0 ＞Cpk ≥ 1.67 优应当保持之
A 级1.67 ＞Cpk ≥ 1.33 良能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级
B 级1.33 ＞Cpk ≥ 1.0 一般状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为A 级
C 级1.0 ＞Cpk ≥ 0.67 差制程不良较多，必须提升其能力
D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受其能力太差，应考虑重新整改设计制程。