第六章. 光电导探测器分析

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光电探测器中光电导增益原理

光电探测器中光电导增益原理

光电探测器中光电导增益原理
光电探测器中光电导增益的原理是基于光电导效应。

当光照射在光电导材料上时,光子与材料中的电子相互作用,使电子从束缚态跃迁到自由态,形成非平衡载流子(即光生载流子)。

这些光生载流子在电场的作用下定向移动,形成光电流。

具体来说,光电导型光电探测器由半导体材料和欧姆接触电极构成。

当半导体吸收光子后,产生自由载流子,这些载流子在电场的作用下移动,从而在电极之间产生电势差或电压。

这个电压的大小与入射光的强度成正比,因此实现了光信号到电信号的转换。

在这个过程中,少数载流子的寿命决定了光电导增益的大小。

少数载流子寿命越长,能够产生的光电流越大,增益越高。

但同时,响应速度也会降低。

因此,需要在光电导增益和响应速度之间进行权衡。

以上信息仅供参考,建议查阅关于光电导增益的专业书籍或者咨询专业人士获取更多信息。

关于光电导探测器的调查报告

关于光电导探测器的调查报告

关于光电导探测器的调查报告1.工作原理和特性利用半导体材料的光电导效应制成的一种光探测器件。

所谓光电导效应,是指由辐射引起被照射材料电导率改变的一种物理现象。

光电导探测器在军事和国民经济的各个领域有广泛用途。

在可见光或近红外波段主要用于射线测量和探测、工业自动控制、光度计量等;在红外波段主要用于导弹制导、红外热成像、红外遥感等方面。

光电导体的另一应用是用它做摄像管靶面。

为了避免光生载流子扩散引起图像模糊,连续薄膜靶面都用高阻多晶材料,如PbS-PbO、Sb2S3等。

其他材料可采取镶嵌靶面的方法,整个靶面由约10万个单独探测器组成。

光电导效应是内光电效应的一种。

当照射的光子能量hv等于或大于半导体的禁带宽度Eg时,光子能够将价带中的电子激发到导带,从而产生导电的电子、空穴对,这就是本征光电导效应。

这里h是普朗克常数,v是光子频率,Eg是材料的禁带宽度(单位为电子伏)。

因此,本征光电导体的响应长波限λc为λc=hc/Eg=1.24/Eg(μm)式中c为光速。

本征光电导材料的长波限受禁带宽度的限制。

在60年代初以前还没有研制出适用的窄禁带宽度的半导体材料,因而人们利用非本征光电导效应。

Ge、Si等材料的禁带中存在各种深度的杂质能级,照射的光子能量只要等于或大于杂质能级的离化能,就能够产生光生自由电子或自由空穴。

非本征光电导体的响应长波限λ由下式求得λc=1.24/E i式中Ei代表杂质能级的离化能。

到60年代中后期,Hg1-xCdxTe、PbxSn1-xTe、PbxSn1-xSe 等三元系半导体材料研制成功,并进入实用阶段。

它们的禁带宽度随组分x值而改变,它与工作在同样波段的Ge:Hg探测器相比有如下优点:①工作温度高(高于77K),使用方便,而Ge:Hg工作温度为38K。

②本征吸收系数大,样品尺寸小。

③易于制造多元器件。

2.常用的光电导探测器材料在射线和可见光波段有:CdS、CdSe、CdTe、Si、Ge等;在近红外波段有:PbS、PbSe、InSb、Hg0.75Cd0.25Te等;在长于8微米波段有:Hg1-xCdxTe、PbxSn1-x、Te、Si掺杂、Ge掺杂等;CdS、CdSe、PbS等材料可以由多晶薄膜形式制成光电导探测器。

第六章 光电探测器解读

第六章 光电探测器解读

-施主能级中的电子或受主能级中的空穴跃迁导带或价带。
施主能级:在N型半导体中,五价元素杂质的剩余电子所处的杂级能级。 受主能级:在P型半导体中,三价元素杂质的剩余空穴所处的杂级能级。
0 hc / Eg
0 hc / Ei
21
光电导探测器件
利用光电导效应的半导体材料以光敏电阻应用最为广泛。
Ek hv
特点:光电子动能与照射光强度无关; 光谱响应表现出选择性; 光电子发射效应的低频限; 优点:灵敏度高,稳定性好,响应速度快和噪音小 缺点:结构复杂,工作电压高,体积较大
8
光电子发射器件
• 光电管、光电倍增管:典型的光电子发射型(外光电效应)探测器件. • 由光电阴极、阳极和真空管壳组成,是一种电流放大器件。 • 光电倍增管具有很高的电流增益,特别适用于微弱光信号的探测
R0为调制频率f =0时的响应度。
R( f c ) R0 / 2 时的调制频率 响应频率:
5பைடு நூலகம்
噪声等效功率(NEP):使探测器输出电压正好等于输出噪声
电压时的入射光功率 。 在探测极其微弱的信号时,限制光电探测器对极微弱光辐射探测能力 的不是响应度的大小。
NEP
NEP
Un P Ru U s / U n
其数值与电子电流相当。因此,在阳极电路内就形成了数倍于真空光 电管的光电流。
13
充气光电管
特点:
灵敏度:高于真空光电管,由于阳极电流不仅取决于阴极发射的电子
还取决于气体电离的电子和离子,只有在一定条件下阳极电流和光照 之间才有线性关系。
伏安特性:充气光电管没有饱和现象,由于管内气体的电离作用,随
(2)硫化铅PbS和硒化铅

《光电导探测器》课件

《光电导探测器》课件
详细描述
光电导探测器在光通信领域中用于光信号的接收和检测,在光谱分析中用于光 谱仪的光电转换,在环境监测中用于气体和液体的成分分析和浓度测量,在生 物医学中用于医疗诊断和生物分子检测等。
02
CHAPTER
光电导探测器的基本结构
半导体材料
光电导探测器的核心是半导体材料,它们能够吸收光子并产生电子-空穴对。常见的 半导体材料包括硅、锗、硫化铅等。
这些半导体材料具有直接带隙结构,使得它们能够有效地吸收特定波长的光子,产 生光生载流子。
半导体材料的性能决定了光电导探测器的响应速度、光谱响应范围和暗电流等关键 参数。
光敏元件
光敏元件是光电导探测器的核心部分 ,它负责吸收光子并转换为电信号。
光敏元件的形状和尺寸对探测器的性 能有重要影响,例如响应速度、光谱 响应范围和探测率等。
未来发展方向与挑战
交叉学科融合
光电导探测器的发展需要与物理、化学、生物等 多学科交叉融合,开拓新的应用领域。
环境适应性
提高光电导探测器的环境适应性,使其能够在恶 劣环境下稳定工作。
降低成本
通过优化工艺和材料,降低光电导探测器的制造 成本,促进其在民用领域的应用。
THANKS
谢谢
光谱响应
描述光电导探测器在不同波长光下的 响应特性,是决定探测器应用范围的 重要参数。
响应时间与恢复时间
响应时间
光电导探测器从接收到光信号到产生可观测电信号的时间间隔,反映了探测器的反应速 度。
恢复时间
探测器在持续光照下,从最大响应状态回到初始状态所需的时间,影响连续测量时的性 能。
温度稳定性与可靠性
03
CHAPTER
光电导探测器的性能参数
响应度与探测率

光电导探测器的工作原理

光电导探测器的工作原理

光电导探测器的工作原理小伙伴,今天咱们来唠唠光电导探测器这个超有趣的东西。

光电导探测器呢,就像是一个特别敏感的小卫士,专门感知光的世界。

你知道吗?它的工作原理其实还挺好玩的。

在光电导探测器里呀,有一些特殊的材料。

这些材料就像是一群乖巧又有点小脾气的小精灵。

平常呢,它们内部的电子就像是在自己的小家里休息,秩序井然。

但是一旦有光照射过来,就像是一场热闹的派对开始了。

光可是带着能量来的哦,这个能量就像一把神奇的钥匙。

当光照射到这些材料上的时候,它就把那些原本被束缚着的电子给解放出来了。

就好比把在小屋里睡觉的小精灵给唤醒,然后让它们可以自由地跑来跑去啦。

你看,原本这些材料的导电性是有一定规律的。

可是随着光的到来,那些被解放的电子就开始在材料里横冲直撞,这就使得材料的导电性发生了变化。

这就好像是原本平静的小街道,突然多了好多跑来跑去的小动物,一下子变得热闹非凡,而且道路也变得更“通畅”了,电流通过就更容易了。

而且哦,这个光电导探测器特别聪明呢。

它能根据光的强弱来改变自己的导电性。

光强的时候,就有更多的电子被解放出来,导电性就变得更强;光弱的时候呢,被解放的电子少一些,导电性的变化也就小一点。

就像是它能根据派对的热闹程度来调整自己的状态一样。

这种根据光改变导电性的特性,让光电导探测器有了好多厉害的用途。

比如说在一些自动感应的灯里,当周围环境暗下来,光变弱了,光电导探测器就会察觉到,然后给电路一个信号,灯就亮起来啦。

就像它在黑暗中悄悄说:“太暗啦,该开灯啦。

”而在一些安防设备里,它也能发挥大作用。

如果有可疑的光线变化,它也能及时发现,就像一个警惕的小眼睛,守护着周围的安全。

光电导探测器还有一个很有趣的地方呢。

它就像一个小小的桥梁,连接着光的世界和电的世界。

光带来的信息通过它转化成了电信号,这样我们就能用各种电子设备来处理这些信息啦。

比如说在相机里,光电导探测器可以把光线的信息转化成电信号,然后经过处理,就变成了我们看到的美丽照片。

光电探测器分解课件

光电探测器分解课件

光电探测器的应用领域
总结词
光电探测器广泛应用于各种领域,如科学研究、工业 生产、安全监控等。其应用范围涵盖了光谱分析、辐 射监测、激光雷达、光纤通信等众多领域。
详细描述
光电探测器作为一种重要的光电器件,具有广泛的应用 领域。在科学研究领域,光电探测器可用于光谱分析、 辐射监测等实验中,帮助科学家深入了解物质的性质和 行为。在工业生产领域,光电探测器可用于各种自动化 生产线和设备的控制与监测,提高生产效率和产品质量 。此外,在安全监控、激光雷达、光纤通信等领域,光 电探测器也发挥着重要的作用。通过不断的技术创新和 应用拓展,光电探测器的应用前景将更加广阔。
02
薄膜沉积
在衬底上沉积光电探测器的关键薄膜 材料,如半导体材料、金属材料等。
01
封装与测试
将制造完成的光电探测器进行封装和 性能测试,确保其正常工作。
05
03
光刻与刻蚀
通过光刻技术将薄膜材料加工成所需 的结构和图形,然后进行刻蚀以形成 光电探测器的各个部分。
04
掺杂与欧姆接触
对光电探测器的半导体材料进行掺杂 ,并形成欧姆接触,以实现电流的收 集和传输。
光电探测器输出电压与输入光 功率之比,用于衡量光电探测
器的光转换效率。
带宽
光电探测器的响应速度的量度 ,通常以Hz或MHz为单位。
噪声等效功率
在一定的信噪比下,探测器可 检测到的最小光功率。
线性范围
光电探测器输入光功率与输出 电压呈线性关系的范围。
03
光电探测器的制造工艺
制造工艺流程
衬底准备
选择合适的衬底材料,并进行清洗和 加工,为后续制造过程做准备。
光电探测器的发展趋势
高响应速度

第6章 热探测器

第6章 热探测器
1.热释电效应 热电晶体材料因吸收光辐射能量、产生温升,导致 晶体表面电荷发生变化的现象,称为热释电效应。 热电晶体:--具有非中心对称的极性晶体
Ps
北京理工大学光电学院
《光电技术与实验》
13
1.热释电效应
热“释电”的物理过程
Ps (T1 )
温度低 热电晶体-- 极化强度与温度关系
Ps (T2 )
U
2 2
2 NJ
=
(4kTRΔf )
1
2
(1 + ω τ )
2 2 e
1
4
当ωτe >>1时,上式可简化为
2 U NJ
4kTRΔf = ωτ e

1
2
表明热噪声电压随调制频率的升高而下降。
北京理工大学光电学院
《光电技术与实验》
25
2) 温度噪声 温度噪声来自热释电器件的灵敏面与外界辐射交换能量的随机 性,噪声电流的方均值为
北京理工大学光电学院 《光电技术与实验》 23
αγAd S ≈ ωHC
2 热释电器件的噪声
热释电器件的基本结构是一个电容器,因此输出阻抗 很高,所以它后面常接有场效应管,构成源极跟随器的形 式,使输出阻抗降低到适当数值。因此在分析噪声的时候, 也要考虑放大器的噪声。这样,热释电器件的噪声主要有 电阻的热噪声和温度噪声。
热“释电”的物理过程 恒温T1 电荷中和时间:秒~小时
自由电荷
Ps
Ps (T1 )
束缚电荷
温升到T2 --束缚电荷减少 极化驰豫时间--皮秒 --“释放” 电荷
北京理工大学光电学院 《光电技术与实验》
Ps (T2 )
16
1.热释电效应 恒温T1 电荷中和时间:秒~小时

光电探测实验报告总结(3篇)

光电探测实验报告总结(3篇)

第1篇一、实验目的本次实验旨在通过实际操作,了解光电探测的基本原理和实验方法,掌握光电探测器的性能测试技术,并分析光电探测在现实应用中的重要性。

实验过程中,我们对光电探测器的响应特性、灵敏度、探测范围等关键参数进行了测试和分析。

二、实验原理光电探测器是一种将光信号转换为电信号的装置,广泛应用于光电通信、光电成像、环境监测等领域。

实验中,我们主要研究了光电二极管(Photodiode)的工作原理和特性。

光电二极管是一种半导体器件,当光照射到其PN结上时,会产生光生电子-空穴对,从而产生电流。

三、实验仪器与材料1. 光电二极管2. 光源(激光笔、LED灯等)3. 光电探测器测试仪4. 示波器5. 数字多用表6. 光纤连接器7. 光学平台8. 环境温度计四、实验步骤1. 光电二极管性能测试(1)将光电二极管与光源、测试仪连接,确保连接牢固。

(2)调整光源强度,观察光电探测器输出电流的变化,记录不同光照强度下的电流值。

(3)测试光电二极管在不同波长下的光谱响应特性,记录不同波长下的电流值。

2. 光电探测器灵敏度测试(1)调整环境温度,观察光电探测器输出电流的变化,记录不同温度下的电流值。

(2)改变光源距离,观察光电探测器输出电流的变化,记录不同距离下的电流值。

3. 光电探测器探测范围测试(1)在固定光源强度下,调整探测器与光源的距离,观察输出电流的变化,记录探测范围。

(2)在固定探测器与光源的距离下,调整光源强度,观察输出电流的变化,记录探测范围。

五、实验结果与分析1. 光电二极管性能测试实验结果表明,随着光照强度的增加,光电二极管输出电流逐渐增大。

在相同光照强度下,不同波长的光对光电二极管输出的电流影响不同,表明光电二极管具有光谱选择性。

2. 光电探测器灵敏度测试实验结果显示,随着环境温度的升高,光电二极管输出电流逐渐增大,表明光电探测器对温度具有一定的敏感性。

同时,在光源距离变化时,光电探测器输出电流也相应变化,说明光电探测器的探测范围与光源距离有关。

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没有光照:
主要是价电子→在价带中
少量热激发电子→导带
Eg
Eg→不导电,R
有光照:电子+h→突破Eg
→长入价波射阈波带:长→超hR过长E,Eg 波gh阈c,会产 生Ehcg
热电效应。
短波阈: Eg +价带宽+导带宽= h 入射波长比短波阈短时,电子逸出
h
c

Ⅱ.对于杂质半导体:
n型:施主能带接近导带 只需少量能量即可产生光电子
探测器等效为一个内阻很大的恒流源。
G
e h
P
(b)开路电压
当负载电阻 压
对于光照停止的下降段:t 时,光电导减小到定值的一半
和光照强弱有关 In , 短
讨论:光生载流子的定态值是 的乘积
产:生率
弛:豫时间:
G
U l2
小 小,G小;惯性小 灵敏度小
大 大,G大;惯性大 灵敏度高
此矛盾要折衷选取。
3.光电导的光谱分布:
A 本征:光电导大小和波长密切
相关,见图4-4
B:杂质:
总体:
①由于杂质的电离能比禁带宽度小,所以其光谱响应的波长 比本征光电导的长。
②杂质的原子数目比起半导体材料本身的原子数目来小得多
∴其光电导效应相对于本征半导体来说要微弱得多。
③杂质电离能小,长波限长→适合探测红外。
但为了减少暗电流,使常温下的电子空穴处于束缚状态, 要在低温下工作。
④曲线:右的陡进:本征光电导开始
特点: ①光敏电阻 ②有源器件: 偏压
偏流(此两个参数会影响光电导的工作参数) 分类:本征型、杂质型、薄膜型、扫积型
§4-1光电导探测器的工作原理
一、光电导效应: 1.定义:光作用于光电导材料,形成本征吸收或杂质吸收, 产生附加的光生载流子,从而使半导体的电导率发生变化。 具体分析:
Ⅰ. 对于本征半导体:见图4-1
左的下降:杂质半导体的长波限
见图4-5
此位置不是垂直的
二、光电导探测器的工作原理 1.光电导探测器的光电流 图4-6:光电导探测器的简单模型
已知光电导的几何参数 , l, d
入射光功率P,外电压V 则入射光功率在材料内部沿x方向 的变化为:
P(x) P(1 R)ex
: 吸收系数 R表: 面反射率
由于P随x的变化而变化
所以光生载流子的统计平均值也应是x的函数。
设n(x)是x处光生载流子浓度,则在外加电场的作用下该处
的漂移电流密度J(x)为: J (x) en(x)v
其中:v n E nVA / L
为光生载流子在外加电场E的作用下的漂移速度。
:n电子迁移率 L :电极间的距离
光电探测器的平均光电流: I p
一RC般放ii :大R器暗 等 1效0M输入电R阻亮和 电(10容2 ~ 106) R暗 一般认为: R d R亮
亮电阻与暗电阻相差越大,探测器 的灵敏度越高。
(b)为直流通路 放大器等效为RL和 VA串联
R暗 10M
B:不同情况下(RL),探测器的输出电流和 电压
(a)短路电流ISC
RL 时Rd,外电流短路,输出电流: ISC
将上式对时间微分,并计算得:
n In et/
见图4-2
当 t 时,光电流上升到饱和值的
(1
1 e
)
或下降到饱和值的 1e,上升和下降时对称的, t 为直线
性光电导的弛豫时间,和光强无关。
B:抛物线型光电导: b(n)2 In (其中b为比例系数) 上升段,对光电导进行微分:
n(In / b)1/2 tanh[(In b)1/2 t]
系。 Si,Ge,PbO等材料至少在较低的光强下成立。
抛物线性光电导:光电导(光生载流子的密度)与光强的平方 根成正比
一般的,在较低光强下,光电导为直线型光电导; 在较高光强下,为抛物线型光电导。
具体地:A:对直线型光电导:
光生载流子密度与In成正比:
n / In
:
光: 电导体对光的吸收系数。
是本征半导体:,指是对在不相同同的的波光长子,流以之光下量测子量计的算结的果光。强是相等 等能量:指不同的波长下,所用的光能量流是相等的,短
波 小,相同能量下,光子数少。
曲线的共同特点:①长波限处曲线直线下降 原因? 能量<Eg 确定长波限的方法: Moss认为:光电导下降到一半的波长为长波限。 ②短波方向: 原理上:h 大 大 短波平缓 实际上:短逐渐下降,光生载流子集中于表面。由于表面能 级,表面复合与电极相等的作用,光电导↓
光照取消后:决定光电导下降的微分方程:
d (n) / dt b(n)2
n
(
In
b
)1/
2
( 1
(
I
1
n
b)1/
2
t
)
上升、下降曲线如图4-3所示:
下降段为双曲线性衰减
非线性光电导的弛豫时间很复
杂,上升下降不对称。
近似为:
( 1 )1/2 In b
对于光照开始的上升段:t 时,光电导增加到定值的0.76
J (x)dA
Ad
A :探d测器的电极面积
d
在均匀照射的情况下: I p ev 0 n(x)dx
由公式4.1-21~23得: n(x) P(1 R)ex0 hvL
当 1 时,探测器体内的平均光生载流子浓度:
n0
P 0 Lhv
Ip0
=
eP 0nVAd
hvL2
4.1-27得到 的计算公式
则:
p型:受主能带接近价带
2.表征光电导效应的主要参数
⑴光电导体的灵敏度:在一定的光强下光电导的强弱,用G
表示: 量: 子产量
G / tL
光: 生载流子寿命
tL载: 流子在光电导两极间的渡越时间
tL l 2 / U
l 光电导体两极间距
迁: 移率
U外: 加电压(电源电压)

G
l 设: 计时有重要意义
U l2
,
如果在杂质半导体中有空穴和电子,则:
G
(
n n
pp
U ) l2
l ,G
⑵光电导的弛豫: 由于是非平衡载流子效应,具有弛豫效应。 定义:弛豫时间:光照开始和光照停止时,光电导上升或下 降的时间。 响应时间:反映了光电导对周期性变化信号的反映能力。 分类: 直线性光电导:光电导(光生载流子的密度)与光强成线性关
Ip
G
e
hv
P
G= 0 结论公式 d
光电导探测器是一个具有内增益的器件
材料 G 结构尺寸
外加偏压
0 l G
2.光电导探测器的工作模式及等效电路
A:结构和偏置电路 图4-7,4-8
可达到几百
光电导探测器可以等效为一个有源 两端网络:图4-9
(aRC)光中dd 电导探测器等效内阻和电容
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