ICT培训教材
ICT培训教材(PPT5)
电子商务对传统商业模式变革影响
• 增强客户体验：电子商务提供了更加 便捷、个性化的购物体验，如在线客 服、个性化推荐等，提高了客户满意 度。
电子商务对传统商业模式变革影响
价格透明化
电子商务使得产品价格更加透明 化，消费者可以更方便地比较不
同产品的价格和质量。
消费者行为变化
电子商务改变了消费者的购物行 为和习惯，消费者越来越倾向于
快速迭代
鼓励跨行业、跨领域的合作与创新，打破传统 思维模式，寻求新的增长点和创新机会。
数据驱动
重视数据的收集、分析和应用，以数据为基础 进行决策和优化，提高创新效率和准确性。
高校和科研机构在ICT领域成果展示
1 2
前沿技术研究 高校和科研机构在ICT领域进行前沿技术研究， 如人工智能、大数据、云计算等，取得了一系列 重要成果。
实践教学体系建设
加强实践教学体系建设，提高学生的实践能力和创新能力，培养适 应ICT领域发展需要的高素质人才。
人才激励机制
研究制定有效的人才激励机制，如薪酬福利、晋升机会、股权激励等， 以吸引和留住优秀人才，激发人才的创新活力。
06
总结回顾与展望未来
关键知识点总结回顾
1 信息化基本概念
包括信息、信息技术、信息系统等基本概念的定义和内涵。
保持数据安全和隐私保护
在数字化转型过程中，要重视数据安全和隐私保护，确保企业数据和客户信息的安 全。
工业互联网在制造业中作用和价值
实现智能化生产
工业互联网通过连接设备、传感器和控制系统，实现生产过程 的自动化和智能化，提高生产效率和产品质量。
优化供应链管理
工业互联网可以实时监测供应链各环节的运行情况，帮助企业 实现供应链的优化和协同。
ICT培训
Y005托盘器向后磁伐接线位； Y006托盘器向前磁伐接线位； Y007前停止器磁伐接线位； Y008后停止器磁伐接线位； Y009上压头上升磁伐接线位； Y010下压头上升磁伐接线位； Y011上压头下降磁伐接线位； Y012下压头下降磁伐接线位； Y013三色灯（黄）线接线位； Y014三色灯（绿）线接线位； Y015三色灯（红）线接线位； Y016 DB9通讯埠（白色线）； Y017 DB9通讯埠（黄色线）； Y018自动印章； Y019ICT连接埠（1脚） 。
16
背部铝框结构
主板
功能板
通道板
通道板插槽
电源板
17
五、ICT测试架接线原理
测试针床
发
测试针床：由上针床和下针床组成
18
自动生产测试操作说明
1 双击桌面程序快捷方式T628FCHSwer.8.17.exe启动测试程序
图一
19
2 单击图标选择项目文件
图二
20
设置或修改密码
1 单击“设定”
图三
手动、自动转换开关
进板（二） 马达调速器
AC总电源开关
手动、自动转换开关说明：向左为自动状态，向右为手动状态， 向中间为直通状态。 在手动状态下可以控制上下压头和分板器的动 作，在自动状态下可以自动做完整个测试结果。
9
4.上下压头的升降调节 上压头
打开机器后上盖可看到气缸上下
安装有电磁感应开关，此开关是
二.GON:隔离状态
.Y=设置隔离,N=不设置隔离,S=跳过这测试步聚
26
2.使用工具列、菜单
新档案
存盘案
全学习
全学习
全测试
合格重测试
高低电位对换
开档案
ICT培训教材
四、测试程序的调试
1、原始针床数据的转换 该原始数据应包含以下信息：所有元件的类型， 管脚针号及元件名称，位置区号，最好有标称 值，对有分组、分块的情况设置好组块参数。 其包括的文件有：集成电路信息（*.ICS）、标 准测试数据（*.TDF）
2、编程测试软件使用说明
元件编辑状态主画面：
开短路编辑窗
上机实际操作 .
五、 设备操作流程
1 开启测试仪开关（前面板右下角），红色批 示灯变亮，几秒钟后绿灯缓慢变亮，预热时 间应大于10分钟。 2 打开计算机及显示器开关，进入测试软件界 面。 3 打开气源，气压表显示应在5±1公斤。 4 选择待测PCB板所需的针床及压板，并安装 在测试仪上。然后把测试仪开关板上的排线 按其标号一一插入到针床的插座中。 5 行程调节
4、针床的制作步骤
选 10mm厚有机玻璃板做植针板和下压板 根据已选定的钻孔位置和选用针套外径，使用数控钻 钻孔。 依夹具尺寸钻因定孔，同时在已选探针区域内选择适 当位置钻上数个支撑柱固定孔（要求平均分布）。 标示点位：钻好孔的植针板二面均标示，下面利于将 来测试时找点用，反面标示利于绕线用。 植针套：用小铁锤与植针冲，将针套植入植针板。 以绕线枪依点编号顺序绕线。 全部绕好线后，以第32线为一单元整线。 如上述步骤即完成下压式夹具制作
GND IC 内 部 保 护 二 极 管 （ P N 结 ） 示 意 图
V cc
GND
IC 并 联 情 况 示 意 图
集成电路电压感应法（IC1）
感应探头 1 感应探头 2 V cc 强 弱
GND
开路管脚
探针 信号源
电压感应测量示意图
PN结非线性曲线测量法(PN0)
I2
I1
V 1V 2 PN 结 非 线 性 曲 线 测 量
2024版ICT技术培训
了解DNS的基本原理和工作过程，掌 握域名解析的配置方法。
硬件设备选型与配置方案
01
02
03
服务器选型
根据业务需求选择合适的 服务器类型和配置，如塔 式服务器、机架式服务器 等。
网络设备选型
选择适合的网络设备，如 交换机、路由器、防火墙 等，确保网络稳定、高效 运行。
存储设备选型
根据数据量和业务需求选 择合适的存储设备，如 NAS、SAN、分布式存储 等。
ICT技术培训
目录
• ICT技术概述与发展趋势 • 基础设施与硬件设备 • 软件应用与开发技术 • 数据分析与可视化呈现 • 云计算与人工智能融合创新 • 实践操作与案例分析
01
ICT技术概述与发展趋 势
ICT技术定义及特点
ICT是信息、通信和技术三个英文单词的词头组合，是信息技术与通信技术相融合而 形成的一个新的概念和新的技术领域。
数据可视化技术应用
数据可视化工具
01
Tableau、Power BI、Seaborn等，提供丰富的可视化图表类型
和交互功能。
数据可视化设计原则
02
明确目标、选择合适的图表类型、注意色彩搭配和排版布局等，
以提高可视化效果的信息传递效率。
数据可视化应用场景
03
商业智能、数据报告、数字孪生等，将数据以直观易懂的方式
教育、医疗等公共服务领域对 ICT技术的需求也在不断增加， 如在线教育、远程医疗等。
02
基础设施与硬件设备
计算机网络基础知识
IP地址与子网掩码
理解IP地址的构成、分类及子网掩码 的作用，掌握基本的网络地址规划方 法。
DNS与域名解析
路由器与交换机
熟悉路由器和交换机的基本功能和工 作原理，掌握基本的网络设备配置方 法。
电子电器厂ICT测试和常见英文简介培训教材
• • • • • •
常见英文简介
步进马达：STEP_MOTOR 室内风机：IN_FAN或者 I.FAN 室外风机：OUT_FAN或者 O.FAN H:高风 M:中风 L:低风 四通阀：VALVE 压缩机：COMP (FIX,DIG) 电辅热：PTC、E.D.A、 HEAT 摇摆：SWING或者SYN 水泵：PUMP 清新：CLEAN 负离子：ION
ICT测试常识与注意事项 •注意事项
ICT测试的盲点
6、IC：电子车间ICT目前无法检测IC的漏插,反插及IC内部损 坏,这些只能靠FCT来检测. 7、晶体类器件：此类器件的电特性要在很高的工作频率下才 能体现，所以需选配功能测试模块才可测量 8、电解电容的极性：不能确保一定能测到 9、压敏电阻：压敏电阻在常态下的阻值较大，故漏装时无法 测试 10、无特性元件：插座,线体,插片等的漏插,反插
常见英文简介
• • • • 运行灯：RUN
初次上电或复位时，运行灯以2赫兹频率闪烁，正常开机时运行灯亮，关机时灭
自动灯(AUTO)
遥控开机自动模式下或按强制按钮进入自动模式下该指示灯亮
定时灯(TIMER)
定时功能有效时，该指示灯亮，无效时，定时灯灭
化霜灯(DEF/HS)
当系统进入化霜或防冷风状态时，该指示灯亮，化霜和防冷风状态无效时，化霜灯灭
ICT测试常识与注意事项
ICT测试常识与注意事项
•ICT的基本概念
1．ICT：在线测试仪（In Circuit Tester）,如同一块功 能强大的万用表。但它能对在线电路板上的元件测试进 行有效的隔离，而万用表不能。 2. ICT与功能的区别: FCT只能检测功能是否正常，而ICT 检测元件及印制板的开短路。
•注意事项
ICT测试培训教材
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三、 ICT单的击按钮此功处能编辑母版标题样式
黄色TEST测试按钮
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蓝色RETEST再测试按钮
• 第三级
红色REJECT/ABORT 拒绝/中断按钮
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绿色ACCEPT/DOWN 同意/往下按钮
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单击此图标 进入ICT测
试界面
致力于成为全球最优秀的微波炉供应商
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针床单的结击构此处编辑母版标题样式
弹簧
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探针
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轴承
• 第四级
连接线
• 第五级
牛角
结构架
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定位头
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ict培训教材
一 ICT的解释1．I CT：在线测试机（In Circuit Tester）, 电气测试使用的最基本仪器.如同一块功能强大的万用表,但它能对在线电路板上的元件测试进行有效得隔离（Guarding）而万用表不能。
2．I CT Test 主要是靠测试探针接触PCB layout出来的测试点来检测PCB的线路开路`短路.所有零件的焊接情况,可分为开路测试,短路测试`电阻测试`电容测试`二极管测试`三极管测试`场效应管测试`IC管脚测试(tesjet` connect check)等其它通用和特殊元器件的漏装、错装、参数值偏差、焊点连焊、线路板开短路等故障，并将故障是哪个元件或开短路位于哪个点准确告诉用户。
(对元件的焊接测试有较高的识别能力)2关于使用ICT 的必要性分析ICT的作用是检测生产PCB时所出现的装配故障,包括元器件的错装:反装;漏装等及焊接故障,如开路;短路,约占整个电路板故障85%.还可以增加选配配置,检测电路板的功能故障,例如检测输入,输出,频率,波形,逻辑等,约占整个电路板故障的15%.使用ICT的必要性如下:1使用先进的专业的(ICT)是趋势所趋.现代化的生产趋势是以适当的设备取代人,以节约成本,提高生产率,ICT在电路板的制造业已普遍使用.2降低损耗,节约成本.ICT是以小电流,小电压进行小信号静态检测,能够有效的防止电路板因有短路等故障通电后烧坏器件或电路板,将生产损耗大大降低,节约成本.尤其是将电路板故障发生在生产过程中,成本最低约是发现在用户端成本的百分之一.3快速,准确,高节奏.ICT是适应批量化,规模化的生产PCB的产物,可以快速检测出故障,并可以指示出故障所在地方.方便维修,加快生产流程,检测我们目前生产的单块电路板只需要1秒左右的时间.4提高产品质量的可靠性与一致性,在检测过程中,人的可变因素太多,产品质量会因人的可变因素的变化而变化,ICT设备有效解决了这个问题,让产品质量的可靠性一致性更5是促进提高质量控制,改进工艺的有效手段.随着生产工艺的不断成熟与生产设备性能的不断提高,纠正已经发生的故障已经不能满足对质量控制的需要,而是要及时发现故障原因,及时修正生产工艺,将故障消灭在生产工艺的流程中,以此形成良性循环,将质量的控制良性化.ICT的故障统计功能可以让我们实现这个目标.6数据的统计来源.ICT的数据统计,可以直接为我们提供直通率元件测试覆盖率,焊接故障数与故障点,各种同样故障的次数与排序等,也可以根据我们的需要增加统计项目,对每块被测试的电路板都有测试结果,可以保留备查等,这些统计数据,对于我们工艺的改进,质量的分析与提高非常有帮助,是最有说服力的直接数据7逐个器件隔离测试,可以降低甚至消除隐患.电路板上部分隐性故障靠功能检查难以检测出来,如错装,少装电阻或对地的滤波电容等,对功能的短时检测,有可能检测不出来,但产品投入使用后必然会影响其质量与使用期.ICT对电路板上的每个器件都进行静态测试,能够较好的解决这个问题。
ICT培训教材
I C T培训教材一.机器简介及接口设备:1.ICT之含义:<1>ICT即为在线测试仪 IN CIRCUIT TESTER ◦<2>功能:测试PCBA板各线路之间开短路,组件之失效变值,插错﹑插漏及二极管和三极管IC等之插反◦二.一般之电子基础知识: (见附注)线路板大至由IC﹑三极管﹑二极管﹑电阻﹑电容﹑电感﹑开关﹑滤波器﹑中周等元件组成◦1.电阻: 代号<R><1>色环代表的数字:数字: 1 2 3 4 5 6 7 8 9 0 0.1 0.01颜色: 棕红橙黄绿蓝紫灰白黑金银倍数: 101 102 103 104 105 106 107 108 109 100 10-1 10-2<2>色环所组成的数值:第一条色环表示第一节有效数,第二条色环表示第二位有效数,第三条色环表示倍数,第四条色环表示误差数◦如图: 棕黑黄金第一色环第二色环第三色环第四色环阻值 0 ×104第三色环 =100000Ω第二色环 =100kΩ第一色环<3>单位换算:1MΩ=1000KΩ=1000000Ω2.电容:电容分电解电容﹑瓷片电容<扁仔>﹑聚脂电容<咪拿>﹑色环电容﹑可变电容等多种电容◦<1>单位换算:1MF=103UF=106NF=109PF<2>色环电容的读法跟电阻的色环相似;<3>可调电容只要调动它的调动片就可以改变容量;<4>扁仔﹑咪拿所标数字代表的容量:第一﹑二位数代表第一﹑二位有效数,第三位是倍数如: 103=10×103PF=10000PF=0.01UF473=47×103PF=47000PF=0.047UF101=10×101PF=100PF=0.0001UF3.二极管﹑三极管:代号:<D> <Q>三极管﹑二极管是有极性之分的:如图: + － + － c cb e b e普通稳压 NPN PNP二极管的特性是单向导通◦通常加有标记的一端为负极,另一端为正极◦用万用表测量的时候,只要黑表笔接正极,红表笔接负极才有导通,反之阻值为无穷大◦三极管在测试的时候, 一般分两个二极管测试◦4.电感:代号<L>略三.ICT之操作事项:1.开机程序:<1>打开整机又下侧之电源总开关<2>约四五秒左右待计算机激活,再打开ICT主机前下方之电源开关<3>等待程序激活后即可压下压床进行测试2.测试操作:<1>把机板铜箔面完全放在铜垫上,并注意压棒之位置将机板之组件摆放好<2>正确放置机板于机架上<3>同时按下“TEST”和“ACCEPT DOWN”按钮,压下压床进行测试,若为重测,则同时按下“RESET”同“ACCEPT DOWN” 按钮<4>如果需要放弃测试则按下“REJECT ABORT” 按钮<4>测试完毕,拿出机板作出判定3.关机程序:<1>测试完毕后,退出程序连续按ESC两次,待出现“EXIT TO DOS? ” 时按“Y”<2>关闭前下方之ICT主机电源<3>关闭整机之右下侧电源开关四.ICT之测试方法:1.ICT测试方法为将PCB每条线路板取一个点,通常是测试探针与ICT内部构成一个回路用以量测PCBA之各零件◦2.ICT无法测试之组件:(1) C1当C1>>C2时,只可对C1进行测试, C2C2 无法测试当R1>> R2时,只可对R2进行测试, R1无法测试R2(3) R1当电感很小时,由L的SHORT而使得R无法测试L(4) R当R<90Ω时,D无法测试D当R>4M时,由于D或IC之旁路使R无法测试(6)热敏电阻无法测试(7)石英晶体无法测试五.短路群:某一PCB由于有许多跳线开关,小电感中周等阻值很小而将PCB不同之线路短路到一起而形成一个所谓的短路群◦当有出现OPEN FAIL时则表明短路群中在某一连接该两条线路之组件漏装或断开等◦六.ICT之判定:1.ICT测试时会将测量结果依据设定之误差范围与该文件之STD-VALUE相对比,若有超出则将显示并打印出来;2.超出误差很小,则有可能为误判,可进行调试但若超出相当大,则一定为其它方面之原因;3.ICT不良之因素有:<1>组件本身损坏(变值﹑错装﹑插反等);<2>误判:原因有未调试好程序,探针无法弹起,探针过脏引起接触不良,锡点不良﹑假焊等;<3>组件插法已有更改,而程序未变等因素◦4.有些开路原因为锡点与探针接触不良居多,也有个别电感因阻值之变化而判为开路不良,因为某两条线路之开短路与否是以55Ω分界,在55Ω以下则会判为短路◦七.ICT不良品维修指引:1.在测量开短路不良时,应将万用表打至×1Ω檔,否则无法准确判断该两点是否为短路◦2.电路中,如果有许多电容并联在一起,则测试中只对容量最大之电容测试◦若有不良测试则会打出,方式为:例: C235/C123表示C235与C123并联◦若C235为220UF﹑C123为100UF以下,则只对C235测试,若此项不良,则有可能之因素如:<1>C235本身坏或漏插<2>C123坏或漏插即:相并联之电容若容量也稍大,则也会影响到测量结果◦即此时不可只检查C235本身,还要针对其相关之并联电容进行检查,电阻也相同:测试程序中会将相并联之主要组件标在文件名后如:C235/C123表示C235与C123并联R218/R103表示R218与R103并联2.电容:失效﹑变值﹑假焊均会引起不良<1>用电容卡表测量之(必要时需将电容拆出量测)<2>电容卡表使用之注意事项(不可将“十一”两极短路一起),测量时用夹子夹住组件脚后,尽量不要用手去碰触,应拨出适当之量程◦则检修时一定要注意要全面检查◦3.打印纸之含义:<1>OPEN FAIL即开路不良:< 21 > < 21 26 71 >表示21点号与26点同71点开路,且21 26 71原本为一个短路群◦<2>SHORT FAIL:< 21 23 > < 231 211 >表示短路群21 23同短路群231 211到中有一个或一个以上之点短路到一起,使得两个短路群短路◦< 35 > < 16 25 97 >表示单独点35与短路群( 16 25 97 )之间短路◦ACT-V:表示组件标称值STD-V:表示组件测量时设定之标准值(即量测值与之比较之参考值)M -V:表示ICT之测量值H –PIN表示该组件之两只针位L –PIN+ LM该组件之容许偏差范围- LMDEV:表示组件测量与标准值之实际偏差,若超过允许偏差范围则判定为FAIL◦八.ICT日常保养事项:1.每天开机前,检查输入气压是否足够,最少4kg/cm2,定期放掉过滤器中的水2.每天开机前,检查压床的压棒有否脱落或损坏3.每天开机测试前,用高硬度之手刷去清扫测试针并检查测试针是否良好4.开机后,必须注意针架型号与测试程序是否配合(若TR-518F机种,可先执行系统自检测试,以确定ICT性能是否良好)5.在测试过程中,必须留意测试板在针架上的方向及位置无误才能激活测试6.每次关机时,需依照关机程序关机(连续按两次ESC键,出现EXIT TO DOS?时按Y键)以免系统资料丢失7.每星期需检查ICT地线有否脱落8.若针架使用较大,每三个月需把全部测试针拔除清洗,以确保针架有更佳之运作及寿命9.所有经ICT测试的PCBA板,测试前应先将PCBA板的静电放掉,以确保ICT寿命及功能不受损坏,加电测试后的PCBA板严禁立刻过ICT测试10.遇上停电情况,应马上关上ICT之总电源,待供电稳定才能开机11.ICT的主机及计算机只供ICT在线测试使用,不能将ICT的计算机作其它用途目录一.机器简介及接口设备 ----1二.一般之电子基础知识 ----1~3三.ICT之操作事项 ----3~4四.ICT之测试方法 ----4~5五.短路群 ----5六.ICT之判定 ----5七.ICT不良品维修指引 ----5~7八.ICT日常保养事项 ----7九.ICT操作安全规程 ----7~8十.一般性注意事项 ----8。
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5. 量测Open/Short： 即以阻抗判定：先对待测板上所有Pin点进行学 习,R<20Ω即归为Short Group，然后Test时进行比较， R<10Ω判定为Short,R>80Ω判为Open.
短路 10Ω
学习 参考点 20Ω 开路 80Ω
6.低压测试方法(LV) 低压功能测试是允许你供应某一定电压到零件两端，同时测量 零件两端的电压，如测电容反向、Zener二极管、或IC都可使 用此法。
二．ICT的测试原理
1. Guarding(隔离)的实现：
+
Is A Va Ix I1 Vx
Rx
B C Vb Vc
R1
ICT
3 2
7
When Vc=Va I1=(Va-Vc)/R1=0 U?
6
+ 4
当Rx有旁路（R1)时， Ix=Is-I1≠Is 故：Vx/Is≠Rx此时取A 点电位Va, 送至C 点, 令Vc=Va, 则： I1=(Va-Vc)/R1=0, Is=Ix 从而： Vx/Is=Rx如图:
三．ICT测试程序的制作
（一）准备好2PCS空PCB板，1PCS实板， 1份BOM及原理图（邦线图），提供给 供应商分析 （二）供应商根据我们的要求制作测试机 架及原始程序 （三）根据BOM，电路图，针点图进行相 对应的测试程序的调试
1．单板的调试 按“Ctrl+E”进入元件编辑界面 先熟悉一下界面
ICT培训教材
目录
一.ICT的基本认识 二．ICT的测试原理 三．ICT测试程序的制作 四．ICT误测分析 五．ICT的转机流程 六.ICT程序调试时注意事项 七．ICT常见故障检修 八. 文件放置指引 九.覆盖率的定义
一.ICT的基本认识
1. ICT即在线测试仪（In Circuit Tester）,是一大堆高级 电表的组合。但它能对在线电路板上的元件测试进行有效的隔 离(Guarding),而万用表则不能.所以,万用表能测的它也能测,万 用表不能测的,它可能能测. 2. ICT能测:Open/Short;R;C;L;D;Q;IC等. 3. ICT与ATE的区别: ICT只作静态测试,而ATE则作动态测试.即ICT对被测板不通 电,而ATE要对被测板通电才能测试,
Vs
Cx
Ix
Vs
Lx
Ix
(2).C//R或L//R:(P1.P2.P3.P4.P5) 相位法测试: 1. |Y’|Sinθ=|Ycx|,即ωCx’Sinθ=ωCx 求得：Cx=Cx’Sinθ (Cx’=Ix’/2лfVs) 2.|Y’|Sinθ=|Ycx|,即Sinθ/ωCx’=1/ωCx 求得：Lx=Lx’/Sinθ(Lx’=Vs/2лfIx’) 如下图:
2. 量测电阻R：
(1).单个R(mode D1,D2): 直流定电流源: 利用Vx=IsRx（欧姆定律）， 则Rx=Vx/Is. 信号源Is取恒流 （0.1uA—5mA）,量回Vx即可算出Rx值.如 下图一.
+
Is
Vx=?
Rx
-
+
Vs=0.2V
Rx C
Ix
图一 图二 (2). R//C(mode V5,CV): 直流定电压源: 信号源Vs取恒压 （0.2V），量回 Ix，则 Rx=Vs/Ix=0.2V/Ix，算出Rx值.如上图二.
跳线测试(Jumper Test) 跳线测试(Jumper Test)采用一个比较器硬件线路，因此，测 试的结果只有１、２、３、４四个值，单位以JP表示，其代 表的意义如下： １JP ： ＜ 10 欧姆(ohm) ２JP ： ＞ 10欧姆(ohm)， ＜ 20欧姆( ohm) ３JP ： ＞ 20欧姆(ohm)， ＜ 80欧姆( ohm) ４JP ： ＞ 80欧姆(ohm)
电容（C）Debug:
(1).单个电容3uf以上信号源既可用交流也可用直 流.300uf以上只可用DC模式.470pf以下用A4&A5; 470pf~3uf用A1.A2.A3模式.
(3).R//L(mode P1,P2,P3,P4,P5): 相位法测试:信号源取交流电压源Vs，籍相位法辅 助.|Y’|Cosθ=YRx=1/Rx,并|Y’|=I’x/Vs故：Rx=1/|Y’|Cosθ 如下 图:
Vs
Rx L
Ix
3. 量测电容C&电感L： (1).单个C&L（Mode A1.A2.A3.A4.A5 ）： 交流定电压:交流电压源一定Vs,Vs/Ix=Zc=1/2лfCx,求得： Cx=Ix/2лfVs.Vs/Ix=Zl=2лfLx, 求得：Lx=Vs/2лfIx. 注:3UF以上电容用(Model DC)
对照坏机故障，加深印象
A 元件（Component）的调试(R,C,L,D,Q) 电阻（R）Debug:
(1).根据R的大小,系统自动调整测试电流大小. F9:单步测试 Alt+F9:整页测试 F5:对调AB点 F10 自动Guarding. Alt+H:查看串连元件.Alt+J:查看并联 元件. (2).R//C:Model(CV&V5) (3).R//D:Model(D2&V5). (4).R//L:Model(P1.P2.P3.P4.P5)
Vs
Cx
Vs
Ix
R
Lx
Ix
R
4. 量测PN结：（D、Q、IC） 信号源0-10V/3mA or 30mA可程式电压源,量PN结导 通电压 一般顺向电压0.7V;反向电压2.2V.
这里主要讲下三极管的三端量测法
晶体管做三端点量测时 ,假设晶体管为NPN type,实际值(ACTval)设定值为DA1所送电压， 标准值(STDval)设定值即为晶体管的VCES电 压值。改变实际值(ACTval)(从0.5V往上增 加) ，直到晶体管饱和导通(测试值应低于 0.2V)。如果晶体管为PNP type，改变实际值 (ACTval)栏的电压(从4.5V往下减少) ，直到 晶体管饱和导通（测试值应低0.2V）。
假设我们要测一个6V的稳压二极管,我们可以在实际 值中填入9V,标准值中填入6,当实际植的单位是V,而 标准值不是0时,系统会送出一个9V电压至稳压二极 管两端,然后量测稳压二极管的电压是否为5.6V,从而 判定好坏.LV模式最大送出电压为10V
7.高压测试方法(HV)
高压测试的原理与设定方法与低压相似,只是在模式里选 (HV),高压最大送出电压为50V