数显卡尺的校验程序-质量计量管理
数显卡尺校正作业指导书
数显卡尺校正作业指导书引言概述数显卡尺是一种常用的测量工具，用于精确测量物体的长度、宽度和深度。
然而，由于长期使用或不当操作，数显卡尺可能会出现误差。
为了保证测量结果的准确性，我们需要定期对数显卡尺进行校正。
本文将详细介绍数显卡尺校正的步骤和注意事项。
一、校正前的准备工作1.1 检查校正工具的完整性：确保校正工具包含所需的校正块、卡尺夹具等工具，并确保这些工具完好无损。
1.2 清洁卡尺表面：使用干净的布或纸巾擦拭卡尺表面，确保其干净无尘。
1.3 检查电源和电池：如果数显卡尺使用电池供电，确保电池电量充足；如果使用电源供电，确保电源连接正常。
二、校正步骤2.1 准备校正块：根据数显卡尺的量程选择合适的校正块，并确保校正块的表面干净平整。
2.2 安装卡尺夹具：将卡尺夹具固定在工作台上，并确保其稳固可靠。
2.3 校正数显卡尺：将数显卡尺放置在卡尺夹具上，确保其与校正块接触紧密。
按照数显卡尺的使用说明书，调整数显卡尺的校正值，使其与校正块的实际尺寸相匹配。
三、校正后的检验3.1 使用校正块进行检验：在校正完成后，使用不同尺寸的校正块进行检验，确保数显卡尺的测量结果与校正块的实际尺寸相符合。
3.2 检查数显卡尺的显示精度：将数显卡尺与其他测量工具进行比较，检查其显示值与其他工具的测量结果是否一致。
3.3 重复校正步骤：如果校正结果不符合要求，需要重复校正步骤，直到数显卡尺的测量结果准确无误。
四、校正的注意事项4.1 校正环境：校正数显卡尺的环境应保持稳定，避免温度、湿度等因素对校正结果的影响。
4.2 操作规范：在校正过程中，操作人员应按照校正步骤进行操作，避免不必要的误操作。
4.3 校正周期：根据数显卡尺的使用频率和精度要求，制定合理的校正周期，定期对数显卡尺进行校正。
五、结论数显卡尺校正是确保测量准确性的重要步骤。
通过准备工作、校正步骤和校正后的检验，可以保证数显卡尺的测量结果准确可靠。
在校正过程中，要注意校正环境和操作规范，并根据实际情况制定合理的校正周期。
卡尺校验操作规程
卡尺校验操作规程1.0目的藉由对量规仪器的校验、保养与维护，以确保结果的一致性、可靠性，促使本公司之量规仪器能有效的使用，并更好的管理。
2.0范围：适用于本公司所有内校量规仪器。
3.0权责：3.1品保单位:3.1.1校验规范的制定、增订与修正。
3.1.2依校验计划执行校验工作。
3.1.3随时巡检，发现量规仪器未经校验管制或校验过期，及时处理。
3.1.4量规仪器发生异常时，督促相关部门追查检验的质量，必要时反应给客户。
3.1.5标准件的评估与请购，标准件的保养。
3.2使用单位:3.2.1量规仪器之日常保养及维护。
3.2.2量规仪器异常状况的反映。
3.2.3指派仪器负责人，协助仪校室管理本部门仪器。
3.3PTE单位:产线量规仪器异常的处理及量规仪器内部保养的执行。
4.0定义：4.1校验:定期将量规仪器与标准仪器作一比较，如误差不在本厂『检测设备允收水平』范围时，将其加以调整，使其恢复到规定的范围。
4.2内校:量规仪器之校验由仪校室执行。
4.3标准件:追溯至“国家二级标准”以上之量规仪器，并作为厂内量规仪器之校验依据。
4.4追溯:籍由一步一步的往上与较精确的标准比较、校验以建立量测仪器、标准物质或测量的有效校验观念，通常最终会参考于国际或国家基准。
4.5合格:量规仪器经校验，其误差值完全符合本厂『检测设备允收水平』。
4.6不合格:量规仪器经校验，其误差值不符合本厂『检测设备允收水平』。
4.7限定使用:量规仪器经校验，其误差值仅有小部份不符合本厂『检测设备允收水平』，且所量测之项目不占重点，输出讯号或量测值仅供参考，不影响质量制定，不做数据管制者。
5.0卡尺(Caliper)校验方法:5.1校验项目:5.1.1长度或厚度示值误差5.2标准仪器：块规5.3校验步骤：5.3.1长度或厚度示值误差5.3.1.1确认块规的校验有效期是否过期，过期则不能做标准件使用。
5.3.1.2选取要校验长度值或厚度值所对应的块规，300mm长度以内卡尺选取以下点校验：10mm,20mm,51.2mm,81.5mm,101.2mm,121.8mm,191.8mm,201.5mm,291.8mm。
卡尺检定规程
卡尺检定规程1. 引言卡尺是一种用于测量线宽、厚度和长度的常用工具。
为了确保测量结果的准确性和可靠性，有必要对卡尺进行定期的检定和校准。
本文将介绍卡尺检定的规程和方法，以确保卡尺在使用过程中的有效性和可信度。
2. 卡尺检定的目的卡尺检定的主要目的是验证卡尺的测量准确性和一致性。
通过检定，可以确定卡尺的误差范围，并为后续的测量工作提供准确的基准。
同时，卡尺检定还可以检测卡尺是否存在损坏或磨损等质量问题，以便及时修复或更换。
3. 检定设备和仪器3.1 尺规尺规是卡尺检定的基本工具，它可以提供一个准确的长度基准。
尺规应具备以下特点： - 材质要求：尺规应采用不易变形和稳定性好的材料制造，如不锈钢。
- 刻度要求：尺规的刻度应清晰、准确、一致，并符合国家标准。
3.2 测量设备在卡尺检定过程中，还需要配备一些常用的测量设备和辅助工具，以确保检定的准确性和可靠性。
常用的测量设备包括游标卡尺、显微镜、相机等。
辅助工具可以包括光源、平台等。
4. 卡尺检定的步骤卡尺检定的步骤可以分为以下几个阶段：4.1 准备阶段在进行卡尺检定之前，需要对检定设备进行校准和准备工作。
校准尺规的刻度，确认其准确性，准备好其他测量设备和辅助工具。
4.2 测量准备在进行卡尺检定之前，需要对卡尺进行清洁和检查，确保其表面干净、平整，并且没有损坏或磨损。
同时，还应检查卡尺的刻度是否清晰、完整，以及活动部件是否灵活。
4.3 初步测量初步测量是通过使用尺规对卡尺进行初步的长度测量，以快速检测卡尺的准确性和一致性。
首先，使用尺规对卡尺的一个固定点进行测量，记录结果。
然后，使用卡尺对尺规进行测量，记录结果，并与尺规的长度进行比较。
4.4 精确测量精确测量是通过使用更加精确的测量设备和方法对卡尺进行详细的测量。
可以使用游标卡尺、显微镜或相机等设备对卡尺的不同部位进行测量，记录结果，并与尺规进行比较。
4.5 结果分析和评估在完成测量后，需要对结果进行分析和评估。
数显卡尺的校验程序-质量计量管理
数显卡尺试行检定规程适用于﹑修理后和使用中的分辨率为0.01mm﹐测量范围至500mm 的数显卡尺的检定。
检定项目和检定条件1.数显卡尺的检定项目和主要检定工具列表1.2.检定卡尺的窒内温度为20°±5℃。
检定前﹐应将被检数显卡尺及量块等检定工具同时置于金属平板或木桌上﹐平衡温度的时间不少于表2的规定。
3.检定卡尺的室内相对湿度不超过80%.检定要求和检定方法4.外观4.1要求﹕数显卡尺的表面上不应有锈蚀﹑碰伤或其它缺陷。
数显窗不得倾斜。
玻璃表面应清洁﹑透明﹑无破损和划伤。
表1注﹕表中“+”表示应检定﹔“-”表示可不检定。
表2数显卡尺上应刻有制造厂名(或厂标)﹑出厂编号和各功能按钮的标志。
使用中和修理后数显卡尺不应有影响使用准确度的外观缺陷。
4.2检定方法﹕目力观察5.各部分相互作用5.1要求﹕尺框和微动装置沿尺身移动时应手感平稳﹑无卡住或松动现象。
尺框相对尺身无明显晃动。
制动螺钉的作用应可靠。
深度尺不允许有窜动。
微动装置的空程﹐新制的不应超过1/4转﹐修理后和使用中的应不超过1/2转。
5.2检定方法﹕观察和试验在检定尺框和微动装置沿尺身移动平稳性时﹐如有异议﹐则在尺框上悬挂砝码对尺框和微动装置沿尺身移动时的相对移动力进行检定。
移动力及其变化不大于表3的规定值。
表3检定。
将数显卡尺量爪垂直向上安放﹐并使百分表测头在距离外量爪端面10mm处与外量爪测量接触。
然后在接触点附近正反两方向悬挂砝码。
百分表上示值的变化量即为晃动量。
晃动量应不大于表4的规定值。
表46.显示器6.1要求﹕在全部测量范围内﹐数字显示均应清晰﹑完整﹑无黑斑和闪跳现象。
各按钮功能可靠﹑工作稳定。
6.2检定方法﹕观察和试验。
7.测量面的有面粗糙度7.1要求﹕不大于表5的规定。
表 5 (μm)面粗糙检定仪上检定。
8.外量爪测量面的平面度8.1要求﹕不大于0.002mm。
8.2检定方法﹕用2级平晶以干涉法检定﹐或用零级样板直尺以光隙法检定。
数显卡尺校正作业指导书
数显卡尺校正作业指导书标题：数显卡尺校正作业指导书引言概述：数显卡尺是一种常用的测量工具，但在长期使用过程中，由于各种因素的影响，可能会出现测量误差。
为了保证测量精确性，需要对数显卡尺进行定期校正。
本文将为大家提供一份数显卡尺校正作业指导书，以帮助大家正确进行校正操作。
正文内容：1. 校正前的准备工作1.1 检查数显卡尺的外观和连接线路1.2 清洁数显卡尺的测量面和滑动导轨1.3 确保数显卡尺的电源供应稳定2. 校正数显卡尺的零点2.1 将数显卡尺放置在平稳的工作台上2.2 按照数显卡尺的使用说明书，找到零点校正的操作方法2.3 使用合适的工具，将数显卡尺的测量面与工作台面对齐2.4 按照操作方法进行零点校正3. 校正数显卡尺的线性度3.1 准备一组已知长度的标准物体3.2 按照数显卡尺的使用说明书，找到线性度校正的操作方法3.3 将标准物体放置在工作台上，依次测量其长度3.4 比较测量结果与标准长度的差异，进行线性度校正4. 校正数显卡尺的重复性4.1 准备一组相同长度的标准物体4.2 按照数显卡尺的使用说明书，找到重复性校正的操作方法4.3 依次使用数显卡尺测量标准物体的长度4.4 比较多次测量结果的差异，进行重复性校正5. 校正数显卡尺的滞后误差5.1 准备一组已知长度的标准物体5.2 按照数显卡尺的使用说明书，找到滞后误差校正的操作方法5.3 将标准物体放置在工作台上，依次测量其长度5.4 比较测量结果与标准长度的差异，进行滞后误差校正6. 校正后的检验与记录6.1 使用数显卡尺测量一组已知长度的标准物体6.2 比较测量结果与标准长度的差异，判断校正效果6.3 记录校正前后的测量结果，以备后续参考总结：本文详细介绍了数显卡尺校正的作业指导书，包括校正前的准备工作、校正数显卡尺的零点、线性度、重复性和滞后误差等步骤。
通过正确进行校正操作，可以确保数显卡尺的测量精确性和可靠性。
在校正后，还应进行检验和记录，以便后续参考。
卡尺校验规程
卡尺校验规程1、目的规范卡尺之校准程序,确保其于使用期间能维持其精密度和准确度,以保证产品之测试质量。
2、适用范围本公司各种型号之卡尺均适用之。
3、权责3.1品质部QE：卡尺之校准，仪器异常之处理。
4、定义校准：在规定条件下，为确定测量仪器或测量系统所指示的量值，或实物量具或参考物质所代表的量值，与对应的由校准所复现的量值之间关系的一组操作。
测量准确度：测量结果与被测量真值之间的一致程度。
相对标准偏差：标准偏差与平均值的比值。
5、内容5.1做好卡尺之积尘清洁,上油保养等工作。
卡尺校准前应将标准卡尺和待测卡尺以及选定待测物放置在同一温度环境下两小时左右，进行温度平衡。
检查待测卡尺之外观，应无影响其准确性的损伤。
5.2将卡尺外测量面密合,检视卡尺是否归零,否则调整归零旋钮或数字键来归零。
如归零失效则卡尺应禁用并送修。
5.3外测量爪校准5.3.1校准前应戴上棉纱手套,归零后依次以标准卡尺和待测卡尺分别量测选定待测物,每点测量三次，取其平均值，并记录于校准报告内。
5.3.2外测量爪校准点分别为5mm,10mm,50mm,100mm,150mm。
5.4内测量爪校准5.4.1校准前应戴上棉纱手套,归零后，在待测卡尺上按校准点设定一相应显示值，然后旋紧卡尺上方的紧固螺钉，以标准卡尺量测待测卡尺之内测量爪,每点测量三次，读取显示值并记录于校准报告内。
5.4.2内测校准点分别为10mm,50mm。
5.5深度杆校准5.5.1校准前应戴上棉纱手套,归零后，依次以标准卡尺和待测卡尺分别量测选定待测物,每点测量三次，取其平均值，并记录于校准报告内。
5.5.2深度杆校准点分别为10mm,50mm。
5.6.阶面高度校准5.6.1校准前应戴上棉纱手套,归零后，依次以标准卡尺和待测卡尺分别量测选定待测物,每点测量三次，取其平均值，并记录于校准报告内。
5.6.2深度杆校准点分别为10mm,50mm。
5.7允许误差±0.02mm为合格。
数显卡尺校正作业指导书
数显卡尺校正作业指导书一、引言数显卡尺是一种常用的测量工具，广泛应用于制造业和实验室等领域。
为了保证测量结果的准确性，定期对数显卡尺进行校正是非常重要的。
本文将提供数显卡尺校正的详细指导，包括校正前的准备工作、校正步骤、校正记录和注意事项。
二、准备工作1. 校正仪器和设备：校正仪、标准块、校正记录表。
2. 校正环境：确保校正环境干净、无尘、无振动，并保持适宜的温湿度。
3. 校正人员：校正人员应具备一定的技术知识和操作经验，熟悉校正方法和流程。
三、校正步骤1. 校正前检查：a. 检查数显卡尺的外观是否完好，如有损坏或异常现象应及时报修。
b. 检查数显卡尺的电池电量，确保电池电量充足。
c. 清洁数显卡尺的测量面和刻度线，确保无污垢和杂质。
2. 校正仪器准备：a. 将校正仪置于稳定的平台上，确保不会发生晃动或滑动。
b. 将标准块放置在校正仪的测量范围内，确保标准块的尺寸符合要求。
3. 校正操作：a. 打开数显卡尺的电源，确保数显卡尺处于正常工作状态。
b. 将数显卡尺的测量面与标准块的平面接触，轻轻旋转卡尺，确保接触均匀。
c. 读取数显卡尺显示的数值，并记录在校正记录表中。
d. 重复以上步骤，至少进行三次测量，取平均值作为最终的校正结果。
四、校正记录1. 校正日期：记录校正的日期，以便后续追溯和比对。
2. 校正人员：记录进行校正的人员姓名或工号，以便责任追究和沟通。
3. 校正数值：记录每次校正的数值，包括测量数值和平均值。
4. 备注：记录校正过程中的特殊情况或异常现象，以便后续分析和处理。
五、注意事项1. 定期校正：根据使用频率和环境条件，制定定期校正计划，确保数显卡尺的准确性。
2. 校正间隔：根据数显卡尺的精度和使用要求，合理确定校正的时间间隔。
3. 校正记录保存：校正记录应妥善保存，以备日后的查阅和证明。
4. 校正结果分析：根据校正记录进行结果分析，及时发现和解决数显卡尺的异常问题。
六、总结数显卡尺的校正是确保测量结果准确性的重要步骤，通过本文提供的指导，您可以按照标准的流程和方法进行校正操作。
卡尺校验规范
卡尺使用说明,检测设备校验/管理作业方法
7.0附件:
无
100-200mm±0.03mm200mm以上±0.04mm
带表游标卡尺0.02mm0-100 mm±0.04mm
100-200mm±0.05mm
200mm以上±0.06mm
5.2校验设备
块规一级0-100mm
块规三级100-500mm
5.3准备事项
5.3.1准备标准块规及需校验的卡尺放置于仪校室至少4小时,仪校室
环境温度要求在22±2℃,湿度在65%以下.
5.3.2准备手套.
5.3.3用擦拭纸沾酒精把卡尺清洁干凈.
5.3.4熟读整个校正程序与使用说明书.
5.4注意事项:
5.4.1标准块规及卡尺应轻拿轻放,谨防掉落,随时注意人员设备安全.
5.5校验:
5.5.1外观检查:
无锈蚀,碰伤,镀层完好,刻线及数字均匀清晰.数显卡尺数显窗不得
1
5
5
5
5
5
2
10
10
10
10
10
3
50
50
50
100
100
4
100
100
150
300
300
5
150
200
300
450
500
5.5.5深度校验:
按下表对深度进行校验:
步骤
150Hale Waihona Puke m200mm300mm
450mm
500mm
1
5
5
2
10
10
3
50
50
5.5.6校验结果记录于<<检测设备内部校验报告>>.
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数显卡尺试行检定规程
适用于﹑修理后和使用中的分辨率为0.01mm﹐测量范围至500mm 的数显卡尺的检定。
检定项目和检定条件
1.数显卡尺的检定项目和主要检定工具列表1.
2.检定卡尺的窒内温度为20°±5℃。
检定前﹐应将被检数显卡尺
及量块等检定工具同时置于金属平板或木桌上﹐平衡温度的时间不少于表2的规定。
3.检定卡尺的室内相对湿度不超过80%.
检定要求和检定方法
4.外观
4.1要求﹕数显卡尺的表面上不应有锈蚀﹑碰伤或其它缺陷。
数
显窗不得倾斜。
玻璃表面应清洁﹑透明﹑无破损和划伤。
表1
注﹕表中“+”表示应检定﹔“-”表示可不检定。
表2
数显卡尺上应刻有制造厂名(或厂标)﹑出厂编号和各功能按钮
的标志。
使用中和修理后数显卡尺不应有影响使用准确度的外观缺陷。
4.2检定方法﹕目力观察
5.各部分相互作用
5.1要求﹕尺框和微动装置沿尺身移动时应手感平稳﹑无卡住
或松动现象。
尺框相对尺身无明显晃动。
制动螺钉的作用应可
靠。
深度尺不允许有窜动。
微动装置的空程﹐新制的不应超过
1/4转﹐修理后和使用中的应不超过1/2转。
5.2检定方法﹕观察和试验
在检定尺框和微动装置沿尺身移动平稳性时﹐如有异议﹐则在
尺框上悬挂砝码对尺框和微动装置沿尺身移动时的相对移动力
进行检定。
移动力及其变化不大于表3的规定值。
表3
检定。
将数显卡尺量爪垂直向上安放﹐并使百分表测头在距离外量爪
端面10mm处与外量爪测量接触。
然后在接触点附近正反两方向
悬挂砝码。
百分表上示值的变化量即为晃动量。
晃动量应不大于
表4的规定值。
表4
6.显示器
6.1要求﹕在全部测量范围内﹐数字显示均应清晰﹑完整﹑无黑
斑和闪跳现象。
各按钮功能可靠﹑工作稳定。
6.2检定方法﹕观察和试验。
7.测量面的有面粗糙度
7.1要求﹕不大于表5的规定。
表 5 (μm)
面粗糙检定仪上检定。
8.外量爪测量面的平面度
8.1要求﹕不大于0.002mm。
8.2检定方法﹕用2级平晶以干涉法检定﹐或用零级样板直尺以
光隙法检定。
用干涉法检定时﹐测量面上应有任意形干涉带。
用样板直尺检定时﹐应在测量面的纵横向中间和两对角线四个
方位上检定。
如光隙均出现在中间部位或两边部位时﹐则测量面
的平面度以最大光隙量确定﹔如光隙在某一方位出现在中间部
位﹐另一方位出现两边部位时﹐则测量
的平面度以中间部位最大光隙量与两边都位最大光隙量之和确
定。
测量面边缘0.2mm范围允许塌边。
9.外量爪两测量面合并后的间隙
9.1要求﹕不大于0.006mm。
9.2检定方法﹕移动尺框﹐使两量爪测量面至手感接触﹐观察两
量爪测量面间的间隙﹐以光隙法检定。
这一检定应分别在尺框紧
固和松开的两种状态下进行。
10.圆柱面内量爪的尺寸及平行度
11.1要求﹕不超过表6的规定。
表 6
新制的数显卡尺圆柱面内量爪基本尺寸为10mm或20mm。
使用中和修理后的允许小于基本尺寸b﹐但应为0.1mm的整数倍。
新的标称尺寸应在检定证书上加以注明。
10.2检定方法﹕尺寸b用3级或6等量块和杠杆式千分尺(或零
级千分尺)沿数显卡尺量爪﹐在平行于尺身的方向上测量。
在其它方向上测量时﹐测得值也不应超过表6的规定。
检定应在尺框紧固与松开的两种状态下进行。
平行度在内量爪距外端2mm处开始测量﹐以全长范围内最大最小尺寸之差确定。
12.刀口内量爪尺寸
11.1要求﹕不超过表7的规定。
11.2检定方法﹕先将一块3级或6等10mm量块放置于两外量爪
测量面之间。
旋紧制动螺钉后﹐该量块应能在测量面间滑动而不脱落。
用杠杆式千分尺或零级千分尺在平行于尺身方向﹐沿全长范围内测量刀口内量爪尺寸。
尺寸偏差由测得值与量块尺寸之差确定。
在其它方向上测量时﹐测得值也不应超过表7的规定。
表7
12.
13.1要求﹕不超过0.01mm。
12.2检定方法﹕在尺框处于任意位置处置零。
然后移动尺框﹐使
两量爪测量
面至手感接触并读数。
在测量条件不作任何改变的情况下﹐重复接触10次。
示值变动性以显示值的最大差值确定。
13.示值误差
13.1要求﹕不超过表8的规定。
表8 单位:mm
13.2.1外测量爪的示值误差检定
用3级或6等量块检定。
对示值范围至300mm的数显卡尺﹐至少在示值范围内均匀分布的3点上检定﹔对于示值范围大于300mm 的数显卡尺﹐至少在6点检定。
例如﹐对测量范围0～300mm的数显卡尺﹐其示值范围为300mm﹐检定点可选在101.2﹑201.5和291.8mm3点。
检定时﹐应首先移动尺框﹐使两测量面至手感接触并置零。
在每个受检点上均在量爪的里端两个位置上进行检定﹐而且量块工作面长边应与数显卡尺测量面长边相垂直。
示值误差以显示值与量块尺寸之差确定。
13.2.2深度尺和台阶尺的示值误差检定
深度尺和台阶尺在尺寸为20mm上检定。
在检定之前﹐应首先移动尺框﹐使两测量面至手感接触﹐并置零。
然后用两块尺寸为20mm的3级或6等量块置于1级平板上﹐使尺身尾部端面或尺框前端台阶测量面与量块接触,并移动深度尺或台阶测量尺,使其测量面与平板接触,此时的显示值与量块尺寸之差即为示值误差.
14.显示器示值稳定度
14.1要求: 1h内不大于0.01mm.
14.2检定方法: 目力观察.
在数显卡尺测量范围内的任意位置紧固尺框.在1h内显示值的变化不大于规定值.
检定结果的处理和检定周期
15.经检定符合本规定要求的数显卡尺发给检定证书,不符合本规程
要求的发给检定结果通知书.
16.检定周期可根据使用的具体情况确定,一般不超过一年
外校与内校一、外校项目与工具
二、内校项目。