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柴油机燃烧后期阶段的碳烟氧化中英文翻译

柴油机燃烧后期阶段的碳烟氧化中英文翻译

柴油机燃烧后期阶段的碳烟氧化Jinou Song, Chonglin Song, Ye Tao, Gang Lv, Surong Dong 摘要柴油碳烟是从一个运行的柴油机中采用全气缸取样系统的方法提取的。

通过高分辨率透射电子显微镜(HRTEM) 对碳烟球体的结构描述和粒度分布进行分析。

HRTEM 图像分析获得了碳烟组织的半定量信息。

在依靠发动机试验条件的基础上,发现不同的纳米结构。

随着膨胀行程的发展,更多的石墨层组织产生而形成缸内的碳烟。

测量采样角度下的氧气浓度和汽缸压力。

在燃烧后期阶,根据两个连续取样角度之间不同的球体大小的分布,计算段缸内碳烟的氧化率。

在扣除氧浓度和温度的影响下,展现了碳烟反应性对纳米结构的依赖。

氧化阻力的增加和缸内碳烟的结构顺序的增加是相关的。

结果得到一个用来测试纳米结构和缸内的柴油碳烟反应性之间的结构性质关系的数据库。

1.介绍柴油机排放的微粒导致人们更加关注其对健康可能的影响。

便出台了严格的柴油机微粒排放标准,和为了减少温室气体排放的战略研究工作已经做了多年[1]。

碳烟及碳氢化合物的微粒氧化是一个降低柴油机微粒排放的解决方案[2]。

在两个温度范围中研究碳烟氧化,高温(大于800C )和低温(300-700 C)[2]。

后者在柴油机排气系统中,使用再生捕获的微粒排放,其氧化控制必须开始在这个区间[3,4]。

在形成碳烟后,高温氧化内在地发生火焰中[5,6]。

据估计在燃烧的柴油发动机中,超过90%的碳烟形成在废气离开缸前[7,8]。

因此,在对火焰中碳烟形成的建模和减少缸内的柴油碳烟[9,10],碳烟的高温氧化是非常有用的。

到目前为止,通过使用各种形式的碳粒子的燃烧器[11,12]和冲击管[13],在高温条件下的调查一直在进行,如石墨、炭黑的碳质和燃烧产生的碳烟燃料[14]。

为了了解再生颗粒与柴油机尾气颗粒物的特点[15],数量有限的柴油碳烟氧化研究是在低温条件下进行的。

然而,柴油碳烟粒子的氧化率明显不同于测量使用的非柴油派生粒子[16],并且柴油的氧化缸内的碳烟粒子明显不同于其他实验设备的[17],因为火焰形成的碳烟的光谱特性和化学性质取决于燃料性质和碳烟老化[18,19]。

透射电子显微镜(TEM)—上海交大分析测试中心

透射电子显微镜(TEM)—上海交大分析测试中心

Shanghai Jiao Tong University
磁透境的像差
球差
¾ 透镜对离轴 远电子比离轴近的电子有更强的会聚能力,因而在高斯 面上,一个物点的象不再是一个点,而是一个圆盘,半径为:
Δri = MCs ⋅ α 3
or
Δrs = C s ⋅ α 3
v v v Ø Ø Ø Ø Ø Ø Ø Ø
Shanghai Jiao Tong University
透射电子显微镜的成像原理
电子 探针仪 入 射 电 子 扫描电 子 显微镜
电子与物质相互作用产生的信息
X射线 衍射仪 X射线 韧致辐射 阴极发光 俄歇电子
二次电子 背反射电 子 吸改电子 衍射电子 电子 衍射仪
试 样
透射电子
俄歇 电子谱 仪
透射电 子显微 镜
Shanghai Jiao Tong University
透射电子显微镜的成像原理
电子光学原理简述
• 从功能和工作原理上讲,电子显微镜和光学显微镜 是相同的。其功能都是将细小物体放大到肉眼可以 分辨的程度;工作原理都遵从射线的Abbey成象原 理。
Abbey成象原理
透射电子显微镜构造、工作原 理及其应用 梁加淼
Tel: 34206175-101 Email: jmliang@
上海交通大学分析测试中心透射电镜室
Shanghai Jiao Tong University
纳米碳管的发现
HREM image showing one end of a multi‐ walled carbon nanotube.
Shanghai Jiao Tong University
Shanghai Jiao Tong University

tecnai_f30场发射透射电镜操作规程

tecnai_f30场发射透射电镜操作规程

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注意事项
1.如果发现仪器或者实验记录有异常情况, 须 2.立即向仪器管理人员汇报, 不得擅自处理。 3.如果发现实验器材有损坏, 应立即向仪器管 4.理人员汇报。若实验结束后汇报, 或者不报,
视为损坏仪器。 5.为造成不必要的麻烦, 实验前请认真检查。。
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四、装样品
1.选择单倾样品杆, 取下前端套 2.筒。 3.检查样品杆尖端以及夹具是清
洁干燥的。 4.保持一只手顶在样品杆的末端,
确保它不会移出套管。 5.将(套管支持架上其中一个孔 6.中的)工具插入到夹子前面的孔

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左控制面板
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1.轨迹球: 移动样品 2.Eucentric focus: 设置物镜
到共心高度 3.Z-axis: 改变样品台的Z位 置 4.Magnification: 放大倍数 5.Focus step: 改变聚焦变化
步长 6.Focus: 改变聚焦
7.Multifunction Y: 多功能 键 8. Diffraction: 衍射钮
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中级用户F30透射电镜使用规则:
1.严格遵守F30透射电镜实验室的安全管理规则。 2.严格执行操作规程, 不得擅自进行未经培训的操作步骤。 3.所有测试均使用单倾样品杆, 不得使用双倾样品杆。 4.实验期间, 不得授权他人进行操作。 5.实验结束后, 应认真填写仪器技术参数及运行记录, 如 实
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进样视频
5. 此时在User Interface 界面中, Turbo On按钮变为橙色, Column Valves Closed 不可点 击, Vacuum Overview中 显示出预抽时间。

TecnaiG220型透射电镜常见故障及维修

TecnaiG220型透射电镜常见故障及维修

关键词 : 透 射 电镜 ; 故障 ; 维 修
D0I : l O . 3 9 3 6 / j . i s s n . 1 0 0 1 —2 3 2 x . 2 0 1 5 . 0 2 . 0 2 2
Ma l f u n c t i o n a n d ma i n t e n a n c e o f T e c n a i G 2 0 T EM . Fe n g S h a n’ e ,Z h a n g Fe n g,C h e n Mu z i ( An a l y s i s a n d Te s t i n g Ce n t e r, S o o c h o w Un i v e r s i t y, S u z h o u 2 1 5 1 2 3 , Ch i n a ) Ab s t r a c t :Th e a r t i c l e i n t r o d u c e s t h e r o u t i n e ma i n t a i n e n c e a n d s e t t l e me n t o f c o mmo n t r o u b l e s t a k i n g FEI Te c n a i G 2 0 t r a n s mi s s i o n e l e c t r o n mi c r o s c o p e( TEM ) o f Ama r i c a a s t h e e x a mp l e . Ke y w o r d s : TEM ;ma l f u n c t i o n;m a i n t e n a n c e
下, 以供 参 考 。
先 确认 真 空 和 高 压 正 常 , 样 品杆 已插 好 , 阀 门
打开, 物镜、 选 区光 阑处 于 打 开 状态 , 再 检 查 灯 丝 是

FEITecnaiG2F30场发射透射电镜

FEITecnaiG2F30场发射透射电镜

5、会聚束电子衍射(CBED) 最大会聚角:≥5.7 (半角)、最大接受角:≥13 (半角)
6、物镜 球差系数≤ 1.2 mm、色差系数≤ 1.4 mm、最小聚 焦步长≤ 1.8 nm
7、放大系统 放大倍数: 60~ 1,000,000倍、重复性:< 1.5%
8、相机长度 80mm~4,500mm
一、主要指标
1、分辨率 点分辨率:≤0.20nm、线分辨率:≤0.102nm、 信息分辨率:≤0.14nm
2、加速电压 50kV~300kV、高压稳定性≤ 1ppm/10min
3、电子枪 肖特基场发射电子枪、最大束流:>100nA、 1nm束斑电流>0.6nA、束斑漂移:≤1nm/min
4、最小束斑尺寸 透射模式(TEM):≤ 1 nm、微区分析模式:最小 束斑 ≤ 0.3 nm、
2、衍射 选区衍射、纳米束衍射、会聚束衍射、旋进电子衍射
4、成分分析 EDS(点、线、面)分析、EELS(点、线、面)分析
5、计算 衍射谱标定、输出波重构、三维图像重构
6、原位拉伸 7、纳米晶粒的取向分析
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
二、主要部件:
1、主机 2、高分辨率CCD,动态CCD 3、一体化STEM系统
能谱仪、高角环形暗场探测器(HAADF) 4、一体化能量过滤器
能量过滤器,电子能量损失谱,CCD 5、样品杆
普通单倾样品杆,低背景双倾样品杆,拉伸样品 杆,三维重构样品杆,加热样品杆 6、旋进电子衍射仪
三、主要功能:
1、图像 明场、暗场、弱束暗场、HRTEM、STEM-HRTEM、三 维重构、 Z-衬度

Tecnai G2 20 ST透射电镜简易操作指南

Tecnai G2 20 ST透射电镜简易操作指南

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操作注意事项
11.使用CCD相机拍照时,电子束一定要散开(至少 与荧光屏一样大); 12.使用底片拍照时要详细登记所用底片号码及张 数,以便于技术员统一冲洗后的分发; 13.电子图片统一存储在C:\Users\以自己名字的汉语 拼音命名的文件夹\以时间命名的文件夹里。数 据拷贝的方式是刻录光盘,严禁使用优盘。
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7.开始操作
1)打开Col. Valves 确认镜筒部分真空(Column)数值降到 20以下,点击Col. Valves指示条,其由黄色 变为灰色。黄色表示关闭,灰色表示打开。 Col. Valves代表V7和V4两个真空阀,是分别 隔离镜筒与电子枪及镜筒与照相室的。 当 Column真空没有到规定的数值(20以下) 时,打开Col. Valves将使电子枪的真空急剧 恶化,从而损坏灯丝寿命。
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7.开始操作
CCD有三种成像方式,用途不同: Search(小鹿图案):动态图像,用于找样品,调整聚 焦和像散等; Focus(乌龟图案):动态图像,用于拍照前细调聚焦 和像散等; Record(照相机图案):用于拍摄图像。 CCD图像可以存储为*.dm3的原始格式(只有Digital Micrograph软件才能打开和处理)和*.tif等格式(适用 于普通图像处理软件)。 具体方法: File → Save As → *.dm3 File → Save Display As → *.tif,*.gif,*.jpeg等。
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10.卸载样品
将样品从样品杆上取下来,所用工具在 使用后需及时放回原位。 如果是当天最后一名操作者,需要把没 有装载样品的样品杆(单双倾都可)重 新装入电镜。
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11.刻录数据
CCD图像的拷贝只能刻录光盘,禁止使 用U盘。 底片不能随拍随取,待一盒底片(35张 左右)拍完后,由技术员统一冲洗晾 干,然后分发给用户。

一文看懂各种型号的透射电子显微镜(图文详解)

一文看懂各种型号的透射电子显微镜(图文详解)

电子显微神兵利器:各种型号的透射电子显微镜透射电子显微镜(Transmission Electron Microscopy,TEM)是通过穿透样品的电子束进行成像的放大设备。

电子束穿过样品以后,带有样品之中关于微结构及组成等方面的信息,将这些信息进行方法和处理,便可得到所需要的显微照片及多种图谱。

现在商业透射电镜最高的分辨率已经达到了0.8 Å,透射电镜作为一种极为重要的电子显微设备,在包括材料、生物、化学、物理等诸多领域发挥着不可替代的重要作用。

下面简单介绍一些不同品牌和型号的透射电镜。

世界上能生产透射电镜的厂家不多,主要是欧美日的大型电子公司,德国的蔡司(Zeiss),美国的FEI(电镜部门的前身是飞利浦的电子光学公司),日本的日本电子(JEOL)、日立(Hitachi)。

蔡司公司是德国老牌光学仪器公司,光学仪器,如光学显微镜、照相机、以及军事用途的光学瞄准器都是世界一流水平,二战时德国强大的坦克部队都是用的蔡司的瞄准系统,精确度相当的高!虽然蔡司涉足电子光学领域要晚于西门子和飞利浦(西门子和飞利浦分别于1939和1949年造出自己的第一台商业化透射电镜),但其强大的研发和生产能力使其很快在电子光学仪器领域占得了一席之地,下面介绍几款蔡司的产品。

Libra 120 (Libra是“天秤座”,蔡司的电镜型号无论透射扫描都是以星座的名字命名的)技术参数:LIBRA 120点分辨率:0.34nm能量分辨率:<1.5eV加速电压:(20)40-120kv放大倍率:8-630,000x电子枪:LaB6或W照明系统:Koehler(库勒)(平行束照明系统)真空系统:完全无油系统操作界面:基于Windows XP WinTEM此款电镜分辨率较低,加速电压最高仅120KV,比主流的200KV低了不少,看似性能一般。

Libra200技术参数:LIBRA 200 FE点分辨率:0.24nm能量分辨率:<0.7eV加速电压:200kv放大倍率:8-1,000,000x电子枪:热场发射电子枪照明系统:Koehler(库勒)(平行束照明系统)真空系统:完全无油系统操作界面:基于Windows XP WinTEM此款电镜带能量过滤器,可以使用能量损失谱对样品的微区进行元素分析。

TEM-操作规范

TEM-操作规范

查看仪器控制面板上的指示灯(正常情况为On 灯灭,Of 、Vac 和 HT 灯亮)。

A 口口查看样品台的指示灯(正常情况指示灯不亮)检查空调、冷却水机、空气压缩机、不间断电源及其他相关设备仪表的工作状况,确保 其正常运行。

检查实验器材(样品杆、镊子、杜瓦瓶、投影室视窗)是否有损坏。

检查仪器使用日志。

二、登陆用户界面(User In terface )在登陆界面输入用户名和密码(直接进入,现在没设)。

启动主程序 Tec nai User In terface (一般是开启状态)。

再次检查仪器是否处于正常状况。

确认Column Valves Closed 按钮处于关闭状态(黄色)。

查看真空和高压值是否正常:真空:在Tec nai User In terface 软件中,在 Setup Vacuum 控制面板中:Gun ⑴,Column (6), Camera (30-32)的压力指示条都应该是绿色的才为正常。

高压:在 TecnaiUser In terface 软件中,在 Setup HighTe nsio n 控制面板中:在正常情况 下,High Tension 指示条为黄色,高压指示值为 200kV (高压平时一直加到 200kV )。

FEG Control 控制面板中,Op erate 是黄色的(灯丝开启状态)。

查看样品台位置是否正常。

<注意事项>1. TEM 操作程序(笔记)检查仪器是否运行正常1. 2. 3.① ② ③d I --I T和 心 1代 ■■ Vrm ■上二^—-3*5 1 石.I I -J 1 I I . r1 绘I I ・■■* . ■■ ▼JnT£M Bn^nt AridSA 逊B[ it 宙.a 二a. 皿*曲 _1. 2. 3. 4. 5. 6. Vacuum 中,Status 显示为COL.V ALVES , Gun 的真空值必须为 1, Column 值必须为6, camera值小于40。

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Tecnai G2 F20 S-Twin透射电镜操作规程一样品的安装和取出1、三种样品台的使用方法1.1 单倾台的使用方法1)将单倾样品杆放入有机玻璃管holder中,注意手不要接触样品杆前端位置;2)如图2所示,将针尖状Tool轻轻插入Spring Clamp尾部小孔中(注意一定要插到底,否则抬起时可能断裂针尖),并轻轻抬起, 露出Specimen carrier;3)将样品正面朝下放入样品杆中心圆孔台中,若位置有偏差,可用镊子轻敲样品杆,使样品落入正确位置, 然后轻轻放下Spring Clamp;4)样品安装完成后需要用手轻敲样品杆黑色塑料尾端数次,确认样品位置无变化且无掉落的危险;5)取出样品时先用针尖Tool将Spring Clamp抬起后,可将镊子尖端插入tweezer notch, 将样品取出。

如果担心碰碎样品,,旋转样品杆1800,使样品自然掉下在干净的滤纸上。

图1图21. 2、铍双倾台的使用方法1) 将铍双倾样品杆从左至右放入有机玻璃管holder(有机玻璃holder如图3所示)中,注意手不要接触样品杆前端黄铜部分和银灰色铍圈部分(这些部件均为插入真空室部分,且铍圈有毒!使用铍是为了降低使用EDS时X-Ray产生的背底);图32) 用一个长约4cm左右的不锈钢专用工具(图4)轻轻(如果用力过猛可能压坏下面的顶针)放在样品杆前端铍孔(银灰色,周围为黄铜色)上(图5),然后逆时针旋松铍固定圆环(图6)并取出。

然后旋转样品杆1800,让下面的薄环(图7)掉在干净滤纸上。

图4 图5图6 图73)将样品正面朝下放在样品杆中心圆孔台中,注意用镊子轻敲样品杆使样品放平。

然后用镊子将图7所示的薄环置于样品上也放在中心圆孔台中,并轻敲样品杆使该薄环的两个头正好卡在圆环的相应槽内。

用镊子夹图6所示的固定环放在中心圆孔台中,轻敲样品杆使该环放平,然后用图4所示的工具轻轻放在圆孔上,轻轻顺时针旋转该工具,将该环固定好。

4)样品安装完成后需要用手轻敲样品杆黑色塑料尾端数次,确认样品位置无变化且无掉落的危险;5)取样品时的步骤同上1), 2)两步。

2.插入样品杆步骤图7样品台示意图图8 真实样品台面板1)首先确认“column valves closed”的显示为黄色(图9)。

将样品杆前端黄铜上的pin对准样品台前面板上的close线,并且样品杆保持和待插入孔平行居中,,然后将其插入airlock 孔中至不能往前插(不要用大力,注意感觉). 此时, 面板上的红灯亮, airlock开始预抽气;[注]双倾样品杆有插头,请样品杆插入前,预先将插头插好在图11所示的Cable connector部位。

2)在Tecani User Interface软件界面中选择正确的样品杆类型,并点击该选项旁边回车键(为一90度转弯箭头);3)等待一段时间(约180s), 直到面板上的红灯熄灭, 屏幕提示airlock真空已经抽好,逆时针旋转样品杆大约120度,使黑色塑料帽上不锈钢长杆对准面板下部的小孔(在Close线的左侧附近), 注意拿稳样品杆(因为里面真空度高,所以样品杆会快速往前),轻轻将样品杆送入镜筒到底。

4)样品杆完全进入镜筒后,轻敲其尾部黑色塑料帽数下,使其状态稳定.5)点击”Turbon On”,使其变灰,关闭分子泵。

图93 移出样品杆步骤1) 首先确认“col. valves closed”的显示为黄色(图9)2)在Workset面板中选Search --- stage---- control---reset the holder;复位样品杆,此时其X, Y, Z, A, B 值应在零附近;3)对于双倾样品杆,请先将连在图11所示的Cable connector部位的插头拔下,将左手压住样品台的样品杆周围部位并轻轻用力,右手将样品杆拉出至不能拉出为止(不要用力过大),然后顺时针轻轻旋转约120度至不能转动,最后将样品杆取出。

二电镜观察1、开光路点击图10中Vacuum面板上的Col. Valves Closed按钮,使其变灰,此时镜筒真空阀门V7、V4阀门会打开,然后会出现Status Ready。

(注:此项操作目的是使电子束能够通过镜筒,进行各项电镜操作前均应进行此操作。

但须注意,电镜停止工作或取、放样品时均应关闭镜筒真空阀门,以保护电子枪室的真空)。

图10图11注意示数显示 IGP2 1IGP3 1IGP1 6IGP4 小于15即可P3必须小于30满足以上条件方可打开V4&V7阀。

2、电子束的调整(不必每次都做)1)利用轨迹球(beam shift)使电子束位于荧光屏中心位置,同时利用Intesity 旋钮调整电子束的照射面积和亮度;2)如果发现电子束呈椭圆形,则需要调整聚光镜像散:A 在Tecnai user interface软件右下角调出Stigmator面板(图16);选中Condenser选项;B 调整多功能键MFx和MFy,使电子束光斑变圆。

之后再利用Intensity旋钮使电子束光斑变到最小(直径不应小于2 mm,否则电子束可能会打坏荧光屏!),此时MFx和MFy中有一个旋钮起主要作用,调整该旋钮使光斑变圆,反复操作,直至电子束变圆。

图163)在高放大倍数下,调节intensity旋钮,聚焦电子束,如果发现下电子束中心小亮斑没有完全在光斑的圆内(只要在边缘内均可),需要进行gunalignment:3、电镜样品Eucentric height的调整1)按前述要求做好拍摄前准备工作;2)点击Col. Valves Closed按钮,使其变灰以打开镜筒真空阀门,选择适当的放大倍数(一万倍以上至数万倍较好)和光束强度,并选择适当的观察区域(通常将较明显的特征点放至在荧光屏中心);3)调整样品中心至eucentric height:按下右面板上的 Eucentric focus 键, 将物镜电流调整到标准值;•按下右面板上的 Wobbler键,此时图像会出现重影,调整Z轴使图像重影消失即可.•关闭wobbler键.•再微调Z轴,使成像反差最小。

注:Eucentric focus是指将光路调至最佳状态,再用Z-axis将样品调至指定位置。

其实是调物镜电流置中。

4、合轴(不必每次都做)1 Beam shiftBeam shift有存储功能。

轨迹球user shift也有移动光的功能,但却没有存储记忆功能,两者配合使用即可。

点击Direct Alignment中的Beam shift,用操作盘上的Multi function X和Multi function Y键,将光斑移至主屏中心完成后按Done键2 Gun shift(调整枪的最佳对中状态)点击Direct Alignment中的Gun tilt,用操作盘上的Multi function X和Multi function Y键,将亮点移至圆斑中心(配合使用Intensity旋钮,当亮点位置对称性和亮度不是同时最佳时,选取折衷位置)完成后按Done键注意:聚光镜消象散通过Intensity会聚和散开电子束时候,若光斑呈现椭圆形变化,则表示此时有聚光镜象散存在,选中Condenser stigmator功能,用多功能旋钮x,y将光斑调圆即可.Gun tilt(调灯丝可激发电子流的最佳位置)用多功能键调至曝光时间最短的位置即可,说明此时可激发的电子数最多4 聚光镜光阑对中(C1一般不调,C2经常调)如图示,总共有四个光阑可以选择,1-4筛目号光阑,单位面积内的筛目数逐渐减少,孔径变大。

主要调节的有光阑旋钮1(光阑正前方的旋钮)光阑旋钮2(光阑左侧的旋钮)操作盘上的Intensity旋钮操作盘上的User shift旋钮方法:intensity将光聚到一点,通过beam shift或者user shift将光移动荧光屏中心,再通过intensity顺时散开光斑至荧光屏大小,最后调节聚光镜光阑的机械旋钮X,Y将光斑和荧光屏相切即可5 Beam tilt PPX & Beam tilt PPY点击Direct Alignment中的Beam tilt PPX (Beam tilt PPY),先调节操作盘上的Multi function X键,使斑点抖动减少,两点变一点,若出现旋转,再调节Multi function Y键,使旋转停止,完成后摁Done键6 Rotation Center(上下两个物镜电流中心的调整)选中Rotation center功能,找个非晶区,调节多功能键XY,选着样品带尖角的部分在荧光屏中心,无横向位移,只有纵向伸缩,类似心脏起搏。

目的——确保电子束沿着物镜的光轴。

重要性——在聚焦时最大限度地减少透镜像差和像的移动的关键。

方法——显微镜摇摆物镜电流,使像在过焦和欠焦之间变化。

用旋转中心使图像向侧面的运动尽可能小(=倾斜电子束到达光轴上)。

聚焦摇摆能够通过聚焦步长尺寸钮来控制大小。

1)如果高倍观察特别是高分辨观察,最好每次都确认Rotation Center. 如果高倍不易调整,可从低倍开始,逐级调整。

7 Coma-free Alignment选中coma-free alignment x、y后,看FFT图像在接近正焦的位置看到两个椭圆且长径相等算好。

Rotation center和coma-free调节的为同一参量Beam tilt,是精调和细调的关系5、物镜像散的调整1)在拍摄TEM照片前,尤其是高分辨率照片前,应调整物镜像散;2)在TEM状态下,选择拍照区域并调整焦距(微欠焦);3)在DigitalMicrograph软件中选择正在扫的实时图像,选择菜单中process->live FFT 打开FFT窗口,同时打开workset中的stigmator 面板,选择物镜像散objective;4)调整Focus使中心圆环最大,利用左右面板上的多功能钮MFX和MFY调整物镜像散使圆环最圆(需要反复调整Focus和物镜像散)。

5) 然后可以采图。

完成以后,如果不再扫图,那么选择正在扫的实时图像,按空格键停止CCD扫描,然后降低放大倍率到SA级别(将图像缩小,光斑满屏),方便下次观察样品。

6 STEM像观察条件(根据要求可改变):a.Extractor Voltage:4500Vb.Gun Lens:6 or 7c.根据STEM需要选择合适的Spot Size,一般STEM EDX选6,HRSTEM用8-11。

STEM EDX的C2光阑选3号,信号强一些,STEM HR的C2光阑选1号,分辨率高点。

正焦时边界明锐(正好与TEM模式相反)。

若是晶体,荧光屏上有衍射条纹。

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