无损检测超声检测公式汇总
无损检测超声检测公式
汇总
-CAL-FENGHAI.-(YICAI)-Company One1
超声检测公式
1.周期和频率的关系,二者互为倒数: T=1/f
2.波速、波长和频率的关系:C=f λ 或λ=f c
∶Cs ∶C R ≈∶1∶
4.声压: P =P 1-P 0 帕斯卡(Pa )微帕斯卡(μPa )1Pa =1N/m 2 1Pa =106μP
6.声阻抗:Z =p/u =ρcu/u =ρc 单位为克/厘米2·秒(g/cm 2·s )或千克/米2·秒(kg/m 2·s )
7.声强;I =21Zu2=Z P 22
单位; 瓦/厘米2(W/cm 2)或 焦耳/厘米2·秒(J/cm 2·s )
8.声强级贝尔(BeL )。△=lgI 2/I 1 (BeL )
9.声强级即分贝(dB ) △=10lgI 2/I 1 =20lgP 2/P 1 (dB )
10.仪器示波屏上的波高与回波声压成正比:△20lgP 2/P 1=20lgH 2/H 1 (dB ) 11.声压反射率、透射率: r=Pr / P0 t =Pt / P0
??
?=-=+21//)1(1Z t Z r t r r =12120Z Z Z Z P P r +-= t =122
02Z Z Z P P t += Z 1—第一种介质的声阻抗; Z 2—第二种介质的声阻抗 12.声强反射率: R=
2
12
1220???? ??+-==Z Z Z Z r I I r
声强透射率:T
()2122
14Z Z Z Z +=
T+R=1 t -r =1 13.声压往复透射率;T 往=
2
122
1)(4Z Z Z Z +
14.纵波斜入射: 1sin L L c α=1sin L L
c α'=1n si S S c '=2sin L L c β=2sin S S c β CL1、CS1—第一介质中的纵波、横波波速; C L2、C S2—第二介质中的纵波、横波波速;αL 、α′L —纵波入射角、反射角; βL 、βS —纵波、横波折射角;α′S —横波反射角。
15.纵波入射时:第一临界角α: βL =90°时αⅠ=arcsin 21
L L c c 第二临界角α:βS =90°时αⅡ=arcsin 21S L c c
16.有机玻璃横波探头αL =°~°, 有机玻璃表面波探头αL ≥° 水钢界面 横波 αL =°~°
17.横波入射:第三临界角:当α′L=90°时αⅢ=arcsin 11
L S c c =°当αS ≥°时,钢中横波全反射。 有机玻璃横波入射角αS (等于横波探头的折射角βS )=35°~55°,即K=tg βS=~时,检测灵敏度最高。
18.衰减系数的计算 1.
α=(Bn-Bm-20lg n/m)/2x(m-n)
α—衰减系数,dB/m (单程); )(m n B B -—两次底波分贝值之差,dB ;δ为反射损失,每次反射损失约为(~1)dB ; X 为薄板的厚度
T :工件检测厚度,mm ;N :单直探头近场区长度,mm ;m 、n —底波反射次数
2
α=(Bn-Bm-6)/2x )(21B B -—两次底波分贝值之
差,dB ;
19.圆盘波源辐射的纵波声场声压为 :x F P x R P P s
s λλπ020=≈ 20.近场区的长度:
πλλλs
s s F
R D N ===224 21. 圆晶片辐射的声束半扩散角为:D
/7000λθ=
22.波束未扩散区:N b 64.1=
23.矩形波源辐射的纵波声场:波束轴线上的声压:x ≥3N 时,
x
F P P λ/0=
24.矩形波源的近场区的长度为:
πλF
N =
25.矩形波源的半扩散角
0θ:X 方向的半扩散角为:
a 2570
0λ
θ= Y 方向的半扩散角为:
b 2570
0λ
θ=
26.近场区在两种介质中的分布: 1基于钢中的近场区
21
224c c L D N s -=λ 2、基于水中的近场区 2λ—介质Ⅱ钢中波长
2N —只有介质Ⅱ时,钢中近场长度; 1c —介质Ⅰ水中波速; 2c —介质Ⅱ钢中波速 21
124c c
L D N s )(-=λ
27.横波轴线上的声压; αλβ
cos cos 2s S KF P =
K —系数; S F —波源的面积;2s λ—第二介质中横波波长;x —轴线
上某点至假想波源的距离
28.横波声场近场区长度为:
απλβ
cos cos 2s S F N =
29.横波声场中,第二介质中的近场区长度N '为:=-='2L N N απλβ
cos cos 2x F s S -βαtan tan 1
L S F
—波源的面积;
2
s λ—第二介质中横波波长; 1L —入射点至波源的距离 2L —入射点至假想波源的距离
30.横波半扩散角 1. 对于圆片形声源:
θS
S S D D 02
2
2
7022
.1arcsin λλ≈= 2.对于矩形正方形声源:
θa a S 2572arcsin
02
2
λλ≈=
31.规则反射体的反射波声压公式: X ≥3N
1.平底孔回波声压;
220x F F P x
F P P f
S f
x f λλ=
=
任意两个距离和直径不同的平底孔反射波声压之比为:
1
2212
11240
lg
20x D x D P P f f f f ==?
2.长横孔回波声压; =f
P x D x
F P f
S
220λ 任意两个距离、直径不同的长横孔回波分贝差为:
3
1
23
212
11210
lg
20x D x D P P f f f f ==?
3.短横孔回波声压;
λλf
f S
f D x
l x F P P 20=
任意两个距离、长度和直径不同的短横孔回波分贝差为:
41
4
22221
21
2
112lg
10lg
20x x l l D D P P f f f f f f ??==?
4.球孔回波声压:
x D x F P P f
S f 220λ=
任意两个距离度和直径不同的球孔回波分贝差为:
2
1212
2
2
112lg 20lg
20f f f f D D x x P P ?
==?
5.大平底面或实心圆柱体回波声压:
x F P P S
B λ20=
两个不同距离的大平底回波分贝差为:
122112lg 20lg
20x x
P P B B ==?
6.空心圆柱体 1.外柱面径向检测空心圆柱体:B
P D d
x
F P S λ20=
2.内孔检测圆柱体:=B P d D x F P S λ20
注意:以上各种规则反射体的反射波声压公式均未考虑介质衰减,如果考虑介质衰减,则所有公式均应增加68
.82ax
e
-
P :波源的起始声压;S
F :探头波源的面积,
4
/2
S S D F π=: x :反射体至波源的距离。
f
F :平底孔缺陷的面
积,4/2f f D F π= λ:波长, f D :长横孔的直径, Lf :短横孔长度 D:空心圆柱体外经 d :空心圆柱体内径
α:介质单程衰减系数,dB/mm
32.同距离的大平底与平底孔反射波dB 差:
22lg 20lg
20f
f B D x
P P πλ==?
33.当用平底面的和实心圆柱体曲底面调节灵敏度时,不同距离处的大平底与平底孔回波分贝差为:
)
(22lg 20lg 2022B f B
f f
f B Bf x x x D x P P -+==?απλ
f
x :平底孔缺陷至检测面的距离;B x :锻件底面至检测面的距离 α:材质衰减系数; λ:波长;
f
D :平底孔缺
陷的当量直径;
Bf
?:底波与平底孔缺陷的反射波分贝差
34. 不同平底孔回波分贝差为:
)
(2lg
40lg
20121
221122
1x x x D x D P P f f f f -+==?α
35.当用空心圆柱体内孔或外圆曲底面调节平底孔灵敏度时:
)
(2lg 102lg 20lg 2022B f B f f f B Bf x x D
d
x D x P P -+±==?απλ
d —空心圆柱体的内径;D —空心圆柱体的外径; “+”—外圆径向探测,内孔凸柱面反射; “-”—内孔径向探测,外圆凹柱面反射;
Bf
?—圆柱曲底面与平底孔缺陷的回波分贝差。
36.水浸法波型分析,水层厚度
4δ
n
H = 37. 管材周向检测纯横波检测条件:
钢
有钢
有
S L L L c c c c ≤
≤αsin
38. 纯横波到达内壁条件:D t <)1(2122L S C C - 2.横波检测到管材内壁 R r ≤
βsin R r c c S L 钢有≤αsin
39. 水浸法: ① 声透镜:
F C C C r 121-=
② 偏心距:2458.0251.0r R X +=
≤X <
③ 水层厚度:H >S X 21
(S X
-管中横波声程) ④ 焦距:22X R H F
-+= ⑤r F 2.2=
40. 采用一次反射法检测时,探头移动区应大于或等于(即):
1)采用直射法时,探头移动区应大于或等于(即)。P=2KT 或P=2Ttanβ
式中:P :跨距,mm ; T :母材厚度,mm ;K :探头K 值; β——探头折射角,(o )
41. 为保证直射波与一次反射波能扫查到焊缝整个截面,K 值应满足下式: K
对于单面焊、上述b 可以忽略不计,则:K
42按声程调节扫描速度时: 当仪器接声程1:n 调节扫描速度时,应采用声程定位法来确定缺陷的位置。
用直射法(一次波)检测发现缺陷时:
β
τβsin sin f f f n x l ==
β
τβcos cos f f f n x d ==
用一次反射法(二次波)检测发现缺陷时
β
τβsin sin f f f n x l ==
β
τβcos 2cos 2f f f n T x T d -=-=
f
x :缺陷的横波声程;
f
τ:缺陷波前沿所对的刻度值;β:探头的折射角;T:板厚; f l
:缺陷的水平距离; f d :
缺陷至检测面的深度。
43.按水平调节扫描速度时: 当仪器按水平1:n 调节扫描速度时,应采用水平定位法来确定缺陷的位置。若仪器按水平1:1调节扫描速度时,那么显示屏上缺陷波前沿所对应的水平刻度值
f
τ就是缺陷的水平距离
f
l :
用直射法(一次波)检测发现缺陷时:
f
f n l τ=
K l d f
f =
一次反射法(二次波)检测发现缺陷时: f
f n l τ=
K l T d f
f -
=2
式中 K:探头的K 值,K=βtg
44、按深度调节扫描速度时:当仪器按深度1:n 调节扫描速度时,应采用深度定位法来确定缺陷的位置。若仪器按深度1:1调节扫描速度时,那么显示屏上缺陷波前沿所对应的水平刻度值
f
τ就是缺陷的深度
f
d
用直射法(一次波)检测发现缺陷时:
f f n d τ= f
f f Kn Kh l τ==
用一次反射法(二次波)检测发现缺陷时:
T
d f 2=-
f
n τ
f
f Kn l τ=
1、超声波的特点: 1.方向性好 2.能量高 3.能在界面上产生反射、折射、衍射和波型转换 4.穿透能力强
2、超声波检测:使超声波与工件相互作用,就反射、投射和散射的波进行研究,对工件进行宏观缺陷检测、几何特征测量、组织结构和力学性能变化的检测和表征,并进而对其特定应用性进行评价的技术。
3、超声波检测的优点:1适用于金属、非金属和复合材料等多种制件的无损检测;2穿透能力强,可对较大厚度范围内的工件内部缺陷进行检测; 3、缺陷定位较准确;4对面积型缺陷的检出率较高;5灵敏度高,可检测工件内部很小的缺陷;6检测成本低、速度快,设备轻便,对人体及环境无害,现场使用方便等 缺点:1)对缺陷的定性、定量仍需要作进一步研究;2)对具有复杂形状或不规则外型的工件进行超声波检测有困难;3)缺陷的取向、位置和形状对检测结果有影响;4)工件材质、晶粒度对检测有较大影响, 5)A 型脉冲反射法检测结果是波形显示,不直观,检测结果无直接见证记录。
5、机械波必须具备以下两个条件: 1、 要有作机械振动的波源;2 、能传播机械振动的弹性介质。
6、衰减的原因 扩散衰减、散射衰减、吸收衰减 介质衰减通常是指吸收衰减和散射衰减,而不包括扩散衰减。
7、双晶探头具有以下优点:(1) 灵敏度高 (2)杂波少盲区小 (3) 工件中近场区长度小 (4) 探测范围可调
8、超声波探头对晶片的要求:(1)机电耦合系数K 较大,以便获得较高的转换效率。(2)机械品质因子θm 较小,以便获得较高分辨力和较小的盲区。(3)压电应变常数d33和压电电压常数g33较大,以便获得较高的发射灵敏度和接收灵敏度。(4)频率常数Nt 较大,介电常数ε较小,以便获得较高的频率。(5)居里温度Tc 较高,声阻抗Z 适当。
9、仪器和探头的综合性能:1.灵敏度. 2盲区与始脉冲宽度 3.分辨力 4.信噪比 5.频率
10、双探头法又可根据两个探头排列方式:并列法、交叉法、V 型串列法、K 型串列法、前后串列法等。 11、选择检测仪器1、对于定位要求高的情况,应选择水平线性误差小的仪器。2、对于定量要求高的情况,应选择垂直线性好,衰减器精度高的仪器。3、对于大型零件的检测,应选择灵敏度余量高、信噪比高、功率大的仪器。4、为了有效的发现近表面缺陷和区分相邻缺陷,应选择盲区小、分辨率好的仪器。5、对于室外现场检测,应选择重量轻,示波屏亮度好,抗干扰能力强 便携式仪器。6、对于重要工件应选用可记录式探伤仪。
12、横波斜探头K 值(或折射角)的选择:当工件厚度较小时,应选用较大的K 值,以便增加一次波的声程,避免近场区检测。当工件厚度较大时,应选用较小的K 值,以减少声程过大引起的衰减,便于发现深度较大处的缺陷。在焊缝检测中,还要保证主声束能扫查整个焊缝截面。对于单面焊根部未焊透,还要考虑端角反射问题,应使K=~,因为K<或K>,端角反射率很低,容易引起漏检。
13、焊缝检测时探头K 值的选择应遵循以下三方面原则 1.使声束能扫查到整个焊缝截面;2.使声束中心线尽量与主要缺陷垂直;3.保证有足够的灵敏度
14、探头频率的选择的因素: 1、提高频率,有利于发现更小的缺陷;2频率高,脉冲宽度小,分辨力高;3、频率高,波长短,则半扩散角小,声束指向性好,能量集中;4、频率高,近场区长度大,对检测不利。5、频率增加,衰减越大;6、对面积状缺陷,频率高会形成反射指向性,检出率降低。
15.探头晶片尺寸的选择的影响因素: 1、晶片尺寸增加,半扩散角减少,波束指向性变好,超声波能量集中,对检测有利。 2、晶片尺寸增加,近场区长度迅速增加,对检测不利。3、晶片尺寸大,辐射的超声波能量大,探头未扩散区扫查范围大,远距离扫查范围相对变小,发现远距离缺陷能力增强。
16、影响声耦合的因素主要有:1.耦合层的厚度,2.偶合剂的声阻抗,3.工件表面粗糙度、4.工件表面形状。
17、影响缺陷定位的主要因素;1. 仪器的影响 2. 探头的影响 3. 工件的影响 4.
操作人员的影响 5、试块的影响 18、影响缺陷定量的主要因素
(1).仪器及探头性能的影响1.频率的影响 2.衰减器精度和垂直线性的影响3.晶片尺寸的影响 4、探头K 值
的影响
(2).
耦合与衰减的影响 1、耦合的影响2、衰减的影响 (3).工件几何形状和尺寸的影响 (4).
缺陷的影响 1、缺陷形状的影响 2、缺陷方位的影响 3、缺陷波的指向性 4、缺陷表面粗糙度的影响 5、缺陷性质的影响 6、缺陷位置
19、试块的作用:1、确定检测灵敏度?2、测试仪器和探头的性能 3、调整扫描速度 4、评判缺陷的大小 20.铸件的特点: 1、组织不均匀 2、组织不致密 3、表面粗糙,形状复杂 4、缺陷的种类和形状复杂 21.铸件超声波检测的特点: 1超声波透声性差 2干扰杂波严重 3缺陷检测要求较低 22、检测灵敏度:在确定的声程范围内发现规定大小缺陷的能力。
23、调整检测灵敏度的目的:在于发现工件中规定大小的缺陷,并对缺陷进行定位 24. 检测灵敏度的调节方法: 1、试块调整法 2、工件底波调整法
25、超声探伤仪的几个主要指标,1、水平线性 2、垂直线性 3、动态范围 4.衰减器精度。 例1:示波屏上一波高为80%,另一波高为20%,问前者比后者高多少dB
解:△=20lgH2/H1=20lg80/20=12(dB )答:前者比后者高12dB 。
例2,纵波倾斜入射到有机玻璃/钢界面时,有机玻璃中:CL1=2730m/s ,钢中CL2=5900m/s ,CS2=3230m/s 。则第一、二临界角分别为:
arcsin 2
1
L L c c arcsin 2
1S L c c 钢中近场区长度: 7.155900
1480
2036.24141442122
=?-??=-=
c c L D N
s λ(mm )
例5,试计算、10×12mm 方晶片横波探头,有机玻璃中入射点至晶片的距离为12mm ,求此探头在钢中的近场区长度。
(钢中CS2=3230m/s )
解:)
(29.10
5.210
323022
mm f C s s =??==
λ
α
πλβ
cos cos 2s ab N =
'-βαtg tg L 1 =
58
.01268.029
.114.312
10?-???13=(mm )
例6:用单斜探头直接接触法检测Φ325×40mm 无缝钢管,求探头的最大K 值 已知:D0=325mm T=40mm 求: 最大K 值
解:
20
D R =
5
.1622325
==∴R T R r -= 5.122405.162=-=∴r
R r
=
βsin
满足检测钢管内壁的最大折射角: 92.4875.0arcsin 5.1625
.122arcsin arcsin
====R r β
答:探头的最大K 值为。
例7,用探头径向检测Φ500mm 的实心圆柱体锻件,CL=5900m/s ,问如何利用底波调节500/Φ2灵敏度 解:由题意得:)(36.210
5.2109.566
mm f C =??==
λ
①计算:500mm 处底波与Φ2平底孔反射波分贝差为:)(5.452
14.350036.22lg 202lg 202
2dB D x f
=???==?πλ
2调节:探头对准工件完好区圆柱底面,找出反射最高回波,调“增益或衰减器”使底波B1达基准80%高,
然后用“衰减器”增益46dB ,这时Φ2灵敏度就调节好了。
例8,用探头径向检测外径为Φ1000mm ,内径为Φ100mm 的空心圆柱体锻件,CL=5900m/s 问如何利用内孔回波调节450/Φ2灵敏度 解:由题意得:)(36.2105.2109.56
6
mm f C =??==
λ
mm d D x mm d mm D 4502
100
10002,100,1000=-=-=
==
①计算:450mm 处内孔反射波与Φ2平底孔反射波分贝差为
)(5.341000100
lg 102
14.345036.22lg 20lg 102lg
202
2dB D d D x f =+???=+=?πλ 2调节:探头对准完好的内孔表面,找出最高反射波,调“增益”使底波B1达基准50%高,然后用“衰减器”
增益35dB 作为检测灵敏度,此时,450/Φ2的检测灵敏度的调节就完成了。必要时再增益6dB 作为扫查灵敏度。
例9,用探头检测厚度为50mm 的小锻件,采用CS Ⅰ系列试块调节50/Φ2灵敏度,试块与锻件表面耦合差3dB ,问如何调节灵敏度
解:利用CS Ⅰ系列试块调节灵敏度的方法如下:
将探头对准CS Ⅰ-1试块Φ2平底孔距离为50mm ,调“增益”使Φ2回波达50%高,然后再用“衰减器”增益3dB ,这时50/Φ2灵敏度就调节好了。
例10,用探头检测底面粗糙,厚度为400mm 的锻件,问如何利用100/Φ4平底孔试块调节400/Φ2灵敏度试块与工件表面耦合差6dB 。
解:①计算:100/Φ4与400/Φ2回波分贝差:
)
(36100
24004lg 40lg 40lg 202
2112
1dB x x P P f f =??===?φφ ② 调节:探头对准100/Φ4平底孔,找到最高回波后,然后用“衰减器”增益42dB ,这时400/Φ2灵敏度就
调节好了。这时工件上400/Φ2平底孔缺陷反射波正好达基准高50%。
例11,用探头检测φ600的实心圆柱体锻件, C L =5900m/s ,α=mm 。利用锻件底波调节600/φ2灵敏度,底波达基准高时衰减读数为50dB ,检测中在400mm 处发现一缺陷,缺陷波达基准高时衰减器读数为30dB ,求此缺陷的当量平底孔直径为多少
解:由题意得:)(36.210
5.2109.56
6mm f C
=??==λ, N=D 2/4λ=202/4×=(mm)
3N =3×=127(mm)≤400(mm),可进行计算;)(22lg
202
2B f B f
f
Bf x x x D x -+=?απλ
mm
dB dB mm x mm x Bf f B /005.0,203050,400,600==-=?==α,代入公式得:
22200005.0220)(22lg
202
2=??+=--?=B f Bf B f
f
x x x D x απλ
B f f
x D x 222lg πλ=2022=; B
f f x D x 2
22πλ=1110。 ∴)(6.510
60014.340036.221021
.12
1
.12mm x x D
B f
f
=????=
?=
πλ 答:此缺陷的当量平底孔直径为φmm 。
例12,用探头沿外圆径向检测外径为φ1000mm ,内径为φ100mm 的空心圆柱体锻件,C L =5900m/s , α=mm ,检测中在200mm 处发现一缺陷,其反射波比内孔反射波低12dB ,求此缺陷的当量大小
解:由题意得:)(36.2105.2109.56
6mm f C =??==
λ
,N =D 2/4λ=202/4×=(mm) 3N =3×=127(mm)≤200(mm),可进行计算;
)
(2lg
102lg
2022
B f B
f f
Bf x x D
d
x D x -++=?απλ ,4502
100
10002,100,1000mm d D x mm d mm D B =-=-=
== dB mm dB mm x Bf f 12,/005.0,200=?==α ; 代入公式得:
5.2412250005.02100
1000lg 10)(2lg
102lg
2022=+??+=?+-+=Bf f B B
f f
x x d D x D x απλ B
f f
x D x
22
2lg
πλ=20
5
.24=;
B
f f
x D x 222πλ=225.110
∴)(8.210
45014.320036.22102225
.12
225
.12mm x x D B f
f
=????=
?=
πλ 答:此缺陷的当量平底孔直径为φmm 。
例13,用探头检测400mm 厚的钢锻件,钢中 CL=5900m/s ,衰减系数α=mm ,检测灵敏度为400mm 处Φ4为0dB 。检测中在250mm 处发现一缺陷,其波高比基准波高20dB ,求250mm 处φ4当量的dB 值。并试根据JB/—2005标准评定该锻件的质量级别。
解:⑴ 条件判别
)(36.2105.2109.56
6mm f C =??==λ
4.42)36.24/(204/22=?==λs D N (mm); 1274.4233=?=N <250mm ∴符合当量计算的条件。
⑵ 求250mm 处φ4当量的dB 值
)(2lg 40lg 201
21
22112
x x a x x P P f f -+==?
)
250400(005.02250
400lg 40-??+=)(5.9dB =
⑶ 求该缺陷的当量并评级 缺陷当量:φ4+()dB =φ4+ 缺陷评级:该锻件评为Ⅲ级。
例14:用β=40o 的探头检测T=30mm 的对接焊缝,仪器接声程1:1调节扫描速度,检测中在示波屏水平刻度60处出现一缺陷波,求此缺陷在焊缝中的位置
解:由已知得一、二次波的声程为:1x =T/βcos =30/040cos = 2x =21x =2×=
<(f x =60)< 因此此缺陷是二次波发现的,所以有
βτsin f f n l ==1×60×040sin ≈(mm) βτcos 2f f n T d -==2×30-040cos ≈14(mm)
答:此缺陷的水平距离为38.6mm ,深度为14mm 。
例15:用K 2探头检测T=15mm 的对接焊缝,仪器按水平1:1调节扫描速度,检测中示波屏上水平刻度50处发现一缺陷波,求此缺陷的位置
解:由已知可得一、二次波的水平距离为:KT
l =1
=2×15=30 122l l ==2×2×15=60
30<(f l =50)<60 因此此缺陷是二次波发现的,它的水平距离和深度分别为
f f n l τ==1×50=50(mm ) K
l T d f f -
=2=2×15-50/2=5(mm )
答:水平距离为50mm ,深度为5mm 。
例16:用K 2探头检测T=40mm 的焊缝,仪器按深度1:1调节扫描速度,检测中在示波屏水平刻度30和60处各出现一个缺陷波,求这个缺陷的位置
解:由已知条件可知:一、二次波的位置分别为:
404011=?==nT d 80402212=?==h d
因此,301=f τ<40,为一次波发现的 40<(602=f τ)<80,为二次波发现的 30处缺陷的深度和水平距离分别为:
1
1f f n d τ
==1×30=30(mm ) 1
11
f f f Kn Kh l τ
===2×1×30=60(mm )
60处缺陷的深度和水平距离分别为:
T
d f 2=-f n τ=2×40-1×60=20(mm ) f f Kn l τ==2×1×60=120(mm )
答:30处缺陷水平距离为60mm ,深度为30mm 。60处缺陷水平距离为120mm ,深度为20mm 。
例17:水侵聚焦检测φ60mm*8mm 小径管,声透镜曲率半径r '=36mm ,求偏心距x 和水层厚度H 。 解:偏心距x :R=60/2=30mm r=30-8=22mm
2
458.0251.0r
R X +=
=(×30+×22)/2=8.8mm
焦距F: F= r '=×36=79.2mm
水层厚度: 22F H X R --==22.8830-=50.5mm 答:偏心距为8.8mm 和水层厚度为50.5mm