无损检测超声检测公式汇总

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超声波探伤常用计算公式

超声波探伤常用计算公式

一、1、示波屏上的波高与声压成正比。

既:△=20lgP2/P1=20lgH2/H1(1NP= 1dB=2、声压反射率r和投射率t分别为:r=Pr / PO=Z2-Z1/Z2+Z1t=Pt/ PO=2Z2/Z2+Z13、声强反射率R和投射率T分别为:R=r2 =(Z2-Z1/Z2+Z1)2 T=4Z1Z/(Z2+Z1)2由以上几式得:t-r=1 T+R=14、声压往复透射率T往:探头接收到的回波声压Pa与入射波声压PO之比。

既:T往=Pa/PO=4Z1Z/(Z2+Z1)25、反射、折射定律:sinαL /CL1=sinα1L/CL1= sinα1S/CS1=sinβL/CL2=sinβS/CS26、第一临界角。

αⅠ=arcsinCL1/CL2第二临界角。

αⅡ=arcsinCL1/CS2第三临界角:αⅢ=arcsinCS1/CL17、(1)薄板工件的衰减系数测定:α=(20lgBm/Bn-δ)/2x(n-m)对于多次反射:α=[20lgBm/Bn-δ(n-m)]/2x(n-m)(2)厚板工件的衰减系数测定:α=(20lgB1/B2-6-δ)/2x 对于2次波、3次波;α=(20lgB2/δ)/2x。

对于1次波、3次波;α=(20lgB1/δ)/4x。

二1、近场区长度:N=D2S /4λ= R2S/λ= FS/πλ= FS?/Cλ2、圆盘源辐射的纵波声场的第一零值发散角;θ=λ/Ds≈70λ/Ds3、波束未扩散区与扩散区:b=4、矩形波源的近场区长度N=Fs/πλ,未扩散区b=,半扩散角θ=arcsinλ/2a≈57λ/2a,5、近场区在两种介质中的分布;公式N=D2S/4λ只适用均匀介质。

在水、钢两种介质中,当水层厚度较小时,进场区就会分布在水、钢两种介质中,设水层厚度为L,则钢中剩余进场区长度N为:N=N2-LC1/C2= D2S/4λ- LC1/C2,6、横波近场区长度;方形 N=FS /πλs2*cosβ/cosα圆形 N=D2/4λs2*cosβ/cosα横波声场中,第二介质中的近场区长度:N`=N-L2= FS/πλs2*cosβ/cosα-L1tgα/tgβF S -波源面积λs2-介质Ⅱ中横波波 L1-入射点至波源的距离 L2-入射点至假想波源的距离半扩散角;对于圆片形声源:?0=λS2/DS=70λS2/DS对于矩形正方形声源:?0=arcsinλS2/2a=57λS2/2a三1、计算垂直线性误差D=(∣d1∣+∣d2∣)% 。

无损检测超声检测公式汇总

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超声检测公式1.周期和频率的关系,二者互为倒数: T =1/f2.波速、波长和频率的关系:C=f λ 或λ=f c3.C L ∶Cs ∶C R ≈1.8∶1∶0.94.声压: P =P 1-P 0 帕斯卡(Pa )微帕斯卡(μPa )1Pa =1N/m 2 1Pa =106μP 6.声阻抗:Z =p/u =ρcu/u =ρc 单位为克/厘米2·秒(g/cm 2·s )或千克/米2·秒(kg/m 2·s )7.声强;I =21Zu2=Z P 22单位; 瓦/厘米2(W/cm 2)或 焦耳/厘米2·秒(J/cm 2·s )8.声强级贝尔(BeL )。

△=lgI 2/I 1 (BeL )9.声强级即分贝(dB ) △=10lgI 2/I 1 =20lgP 2/P 1 (dB )10.仪器示波屏上的波高与回波声压成正比:△20lgP 2/P 1=20lgH 2/H 1 (dB ) 11.声压反射率、透射率: r=Pr / P0 t =Pt / P0⎩⎨⎧=-=+21//)1(1Z t Z r tr r =12120Z Z Z Z P P r +-= t =12202Z Z Z P P t +=Z 1—第一种介质的声阻抗; Z 2—第二种介质的声阻抗 12.声强反射率: R=2121220⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛+-==Z Z Z Z r I I r声强透射率:T()212214Z Z Z Z +=T+R=1 t -r =1 13.声压往复透射率;T 往=21221)(4Z Z Z Z +14.纵波斜入射: 1sin L L c α=1sin L Lc α'=1n si S S c '=2sin L L c β=2sin S S c β CL1、CS1—第一介质中的纵波、横波波速; C L2、C S2—第二介质中的纵波、横波波速;αL 、α′L—纵波入射角、反射角; βL 、βS —纵波、横波折射角;α′S —横波反射角。

超声波探伤常用计算公式

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超声波探伤常用计算公式Document number:NOCG-YUNOO-BUYTT-UU986-1986UT一、1、示波屏上的波高与声压成正比。

既:△=20lgP2/P1=20lgH2/H1(1NP==2、声压反射率r和投射率t分别为:r=Pr /PO=Z2-Z1/Z2+Z1t=Pt/PO=2Z2/Z2+Z13、声强反射率R和投射率T分别为:R=r2=(Z2-Z1/Z2+Z1)2T=4Z1Z/(Z2+Z1)2由以上几式得:t-r=1T+R=14、声压往复透射率T往:探头接收到的回波声压P a 与入射波声压PO之比。

既:T往=Pa /PO=4Z1Z/(Z2+Z1)25、反射、折射定律:sinαL /CL1=sinα1L/CL1=sinα1S/CS1=sinβL/CL2=sinβS/CS26、第一临界角。

αⅠ=arcsinC L1/CL2第二临界角。

αⅡ=arcsinC L1/CS2第三临界角:αⅢ=arcsinC S1/C L17、(1)薄板工件的衰减系数测定:α=(20lgBm/Bn-δ)/2x(n-m)对于多次反射:α=[20lgBm/Bn-δ(n-m)]/2x(n-m)(2)厚板工件的衰减系数测定:α=(20lgB1/B2-6-δ)/2x 对于2次波、3次波;α=(20lgB2/δ)/2x。

对于1次波、3次波;α=(20lgB1/δ)/4x。

二1、近场区长度:N=D2S /4λ=R2S/λ=FS/πλ=FS/Cλ2、圆盘源辐射的纵波声场的第一零值发散角;θ=λ/Ds≈70λ/Ds3、波束未扩散区与扩散区:b=4、矩形波源的近场区长度N=Fs/πλ,未扩散区b=,半扩散角θ=arcsinλ/2a≈57λ/2a,5、近场区在两种介质中的分布;公式N=D2S/4λ只适用均匀介质。

在水、钢两种介质中,当水层厚度较小时,进场区就会分布在水、钢两种介质中,设水层厚度为L,则钢中剩余进场区长度N 为:N=N2-LC1/C2=D2S/4λ-LC1/C2,6、横波近场区长度;方形N=FS /πλs2*cosβ/cosα圆形N=D2/4λs2*cosβ/cosα横波声场中,第二介质中的近场区长度:N`=N-L2=FS/πλs2*cosβ/cosα-L1tgα/tgβF S-波源面积λs2-介质Ⅱ中横波波L1-入射点至波源的距离L2-入射点至假想波源的距离半扩散角;对于圆片形声源:0=λS2/DS=70λS2/DS对于矩形正方形声源:0=arcsinλS2/2a=57λS2/2a三1、计算垂直线性误差D=(∣d1∣+∣d2∣)%。

超声波探伤常用计算公式

超声波探伤常用计算公式

一、1、示波屏上的波高与声压成正比。

既:△=20lgP2/P1=20lgH2/H1(1NP= 1dB=2、声压反射率r和投射率t分别为:r=P r/ P O=Z2-Z1/Z2+Z1t=P t/ P O =2Z2/Z2+Z13、声强反射率R和投射率T分别为:R=r2 =(Z2-Z1/Z2+Z1)2T=4Z1Z/(Z2+Z1)2由以上几式得:t-r=1 T+R=14、声压往复透射率T往:探头接收到的回波声压P a与入射波声压P O之比。

既:T往=P a/P O=4Z1Z/(Z2+Z1)25、反射、折射定律:sinαL/C L1=sinα¹L/C L1= sinα¹S/C S1=sinβL/C L2=sinβS/C S26、第一临界角。

αⅠ=arcsinC L1/C L2第二临界角。

αⅡ=arcsinC L1/C S2第三临界角:αⅢ=arcsinC S1/C L17、(1)薄板工件的衰减系数测定:α=(20lgBm/Bn-δ)/2x(n-m)对于多次反射:α=[20lgBm/Bn-δ(n-m)]/2x(n-m)(2)厚板工件的衰减系数测定:α=(20lgB1/B2-6-δ)/2x对于2次波、3次波;α=(20lgB2/δ)/2x。

对于1次波、3次波;α=(20lgB1/δ)/4x。

二1、近场区长度:N=D2S/4λ= R2S/λ= F S/πλ= F Sƒ/Cλ2、圆盘源辐射的纵波声场的第一零值发散角;θ0=λ/Ds≈70λ/Ds3、波束未扩散区与扩散区:b=4、矩形波源的近场区长度N=Fs/πλ,未扩散区b=,半扩散角θ0=arcsinλ/2a≈57λ/2a,5、近场区在两种介质中的分布;公式N=D2S/4λ只适用均匀介质。

在水、钢两种介质中,当水层厚度较小时,进场区就会分布在水、钢两种介质中,设水层厚度为L,则钢中剩余进场区长度N为:N=N2-LC1/C2= D2S/4λ- LC1/C2,6、横波近场区长度;方形N=F S/πλs2*cosβ/cosα圆形N=D2/4λs2*cosβ/cosα横波声场中,第二介质中的近场区长度:N`=N-L2= F S/πλs2*cosβ/cosα-L1tgα/tgβF S-波源面积λs2-介质Ⅱ中横波波L1-入射点至波源的距离L2-入射点至假想波源的距离半扩散角;对于圆片形声源:Ø0=λS2/D S=70λS2/D S对于矩形正方形声源:Ø0=arcsinλS2/2a=57λS2/2a三1、计算垂直线性误差D=(∣d1∣+∣d2∣)% 。

超声波探伤常用计算公式

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超声波探伤常用计算公式(总3页)--本页仅作为文档封面,使用时请直接删除即可----内页可以根据需求调整合适字体及大小--一、1、示波屏上的波高与声压成正比。

既:△=20lgP2/P1=20lgH2/H1 (1NP= 1dB=2、声压反射率r和投射率t分别为:r=P r/ P O=Z2-Z1/Z2+Z1 t=P t/ P O =2Z2/Z2+Z13、声强反射率R和投射率T分别为:R=r2 =(Z2-Z1/Z2+Z1)2 T=4Z1Z/(Z2+Z1)2由以上几式得:t-r=1 T+R=14、声压往复透射率T往:探头接收到的回波声压P a与入射波声压P O之比。

既:T往=P a/P O=4Z1Z/(Z2+Z1)25、反射、折射定律:sinαL/C L1=sinα1L/C L1= sinα1S/C S1=sinβL/C L2=sinβS/C S26、第一临界角。

αⅠ=arcsinC L1/C L2第二临界角。

αⅡ=arcsinC L1/C S2第三临界角:αⅢ=arcsinC S1/C L17、(1)薄板工件的衰减系数测定:α=(20lgBm/Bn-δ)/2x(n-m)对于多次反射:α=[20lgBm/Bn-δ(n-m)]/2x(n-m)(2)厚板工件的衰减系数测定:α=(20lgB1/B2-6-δ)/2x对于2次波、3次波;α=(20lgB2/δ)/2x。

对于1次波、3次波;α=(20lgB1/δ)/4x。

二1、近场区长度:N=D2S/4λ= R2S/λ= F S/πλ= F S/Cλ2、圆盘源辐射的纵波声场的第一零值发散角;θ0=λ/Ds≈70λ/Ds3、波束未扩散区与扩散区:b=4、矩形波源的近场区长度N=Fs/πλ,未扩散区b=,半扩散角θ0=arcsinλ/2a≈57λ/2a,5、近场区在两种介质中的分布;公式N=D2S/4λ只适用均匀介质。

在水、钢两种介质中,当水层厚度较小时,进场区就会分布在水、钢两种介质中,设水层厚度为L,则钢中剩余进场区长度N为:N=N2-LC1/C2= D2S/4λ- LC1/C2,6、横波近场区长度;方形 N=F S/πλs2*cosβ/cosα圆形 N=D2/4λs2*cosβ/cosα横波声场中,第二介质中的近场区长度:N`=N-L2= F S/πλs2*cosβ/cosα-L1tgα/tgβF S-波源面积λs2-介质Ⅱ中横波波 L1-入射点至波源的距离 L2-入射点至假想波源的距离半扩散角;对于圆片形声源:0=λS2/D S=70λS2/D S对于矩形正方形声源:0=arcsinλS2/2a=57λS2/2a三1、计算垂直线性误差D=(∣d1∣+∣d2∣)% 。

超声波探伤常用计算公式

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一、1、示波屏上的波高与声压成正比。

既:△=20lgP2/P1=20lgH2/H1(1NP=8.68dB 1dB=0.115NP)2、声压反射率r和投射率t分别为:r=P r/ P O=Z2-Z1/Z2+Z1t=P t/ P O =2Z2/Z2+Z13、声强反射率R和投射率T分别为:R=r2 =(Z2-Z1/Z2+Z1)2T=4Z1Z/(Z2+Z1)2由以上几式得:t-r=1 T+R=14、声压往复透射率T往:探头接收到的回波声压P a与入射波声压P O之比。

既:T往=P a/P O=4Z1Z /(Z2+Z1)25、反射、折射定律:sinαL/C L1=sinα¹L/C L1= sinα¹S/C S1=sinβL/C L2=sinβS/C S26、第一临界角。

αⅠ=arcsinC L1/C L2第二临界角。

αⅡ=arcsinC L1/C S2第三临界角:αⅢ=arcsinC S1/C L17、(1)薄板工件的衰减系数测定:α=(20lgBm/Bn-δ)/2x(n-m)对于多次反射:α=[20lgBm/Bn-δ(n-m)]/2x(n-m)(2)厚板工件的衰减系数测定:α=(20lgB1/B2-6-δ)/2x对于2次波、3次波;α=(20lgB2/B3-3.5-δ)/2x。

对于1次波、3次波;α=(20lgB1/B3-9.5-δ)/4x。

二1、近场区长度:N=D2S/4λ= R2S/λ= F S/πλ= F Sƒ/Cλ2、圆盘源辐射的纵波声场的第一零值发散角;θ0=arcsin1.22λ/Ds≈70λ/Ds3、波束未扩散区与扩散区:b=1.64N4、矩形波源的近场区长度N=Fs/πλ,未扩散区b=1.64N,半扩散角θ0=arcsinλ/2a≈57λ/2a,5、近场区在两种介质中的分布;公式N=D2S/4λ只适用均匀介质。

在水、钢两种介质中,当水层厚度较小时,进场区就会分布在水、钢两种介质中,设水层厚度为L,则钢中剩余进场区长度N 为:N=N2-LC1/C2= D2S/4λ- LC1/C2,6、横波近场区长度;方形N=F S/πλs2*cosβ/cosα圆形N=D2/4λs2*cosβ/cosα横波声场中,第二介质中的近场区长度:N`=N-L2= F S/πλs2*cosβ/cosα-L1tgα/tgβF S-波源面积λs2-介质Ⅱ中横波波L1-入射点至波源的距离L2-入射点至假想波源的距离半扩散角;对于圆片形声源:Ø0=arcsin1.22λS2/D S=70λS2/D S对于矩形正方形声源:Ø0=arcsinλS2/2a=57λS2/2a三1、计算垂直线性误差D=(∣d1∣+∣d2∣)% 。

超声波探伤常用计算公式

超声波探伤常用计算公式

一、1、示波屏上的波高与声压成正比。

既:△=20lgP2/P1=20lgH2/H1(1NP=8.68dB1dB=0.115NP)2、声压反射率r和投射率t分别为:r=Pr /PO=Z2-Z1/Z2+Z1t=Pt/PO=2Z2/Z2+Z13、声强反射率R和投射率T分别为:R=r2=(Z2-Z1/Z2+Z1)2T=4Z1Z/(Z2+Z1)2由以上几式得:t-r=1T+R=14、声压往复透射率T往:探头接收到的回波声压Pa与入射波声压PO之比。

既:T往=Pa/PO=4Z1Z/(Z2+Z1)25、反射、折射定律:sinαL /CL1=sinα1L/CL1=sinα1S/CS1=sinβL/CL2=sinβS/CS26、第一临界角。

αⅠ=arcsinCL1/CL2第二临界角。

αⅡ=arcsinCL1/CS2第三临界角:αⅢ=arcsinCS1/CL17、(1)薄板工件的衰减系数测定:α=(20lgBm/Bn-δ)/2x(n-m)对于多次反射:α=[20lgBm/Bn-δ(n-m)]/2x(n-m)(2)厚板工件的衰减系数测定:α=(20lgB1/B2-6-δ)/2x对于2次波、3次波;α=(20lgB2/B3-3.5-δ)/2x。

对于1次波、3次波;α=(20lgB1/B3-9.5-δ)/4x。

二1、近场区长度:N=D2S /4λ=R2S/λ=FS/πλ=FS?/Cλ2、圆盘源辐射的纵波声场的第一零值发散角;θ=arcsin1.22λ/Ds≈70λ/Ds3、波束未扩散区与扩散区:b=1.64N4、矩形波源的近场区长度N=Fs/πλ,未扩散区b=1.64N,半扩散角θ=arcsinλ/2a≈57λ/2a,5、近场区在两种介质中的分布;公式N=D2S/4λ只适用均匀介质。

在水、钢两种介质中,当水层厚度较小时,进场区就会分布在水、钢两种介质中,设水层厚度为L,则钢中剩余进场区长度N为:N=N2-LC1/C2=D2S/4λ-LC1/C2,6、横波近场区长度;方形N=FS /πλs2*cosβ/cosα圆形N=D2/4λs2*cosβ/cosα横波声场中,第二介质中的近场区长度:N`=N-L2=FS/πλs2*cosβ/cosα-L1tgα/tgβF S-波源面积λs2-介质Ⅱ中横波波L1-入射点至波源的距离L2-入射点至假想波源的距离半扩散角;对于圆片形声源:?0=arcsin1.22λS2/DS=70λS2/DS对于矩形正方形声源:?0=arcsinλS2/2a=57λS2/2a三1、计算垂直线性误差D=(∣d1∣+∣d2∣)%。

超声波探伤常用计算公式

超声波探伤常用计算公式

1、示波屏上的波高与声压成正比。

既:△ =20lgP2/P i=20lgH2/H i (1NP=8.68dB 1dB=0.115NP)2、声压反射率r和投射率t分别为:r=P r/ P 0=乙-Z1/Z2+Z1 t=P t/ P O =2Z2/Z2+乙3、声强反射率R和投射率T分别为:2 2 2R=r =(Z2-Z 1/Z2+Z1) T=4Z 亿/(Z 2+Z1)由以上几式得:t-r=1 T+R=14、声压往复透射率T往:探头接收到的回波声压P a与入射波声压P O之比。

既:T往=P/P O=4Z1Z/(Z 2+乙)1 2 3 4 55、反射、折射定律:sin a L/C L1=S in al』C L1= sin alJ C sF sin B L/C L2=S in B S/C S2& 第一临界角。

a i =arcsinC L〃C L2第二临界角。

a n =arcsinC L1C S2第三临界角:a m =arcsinC S/C L17、(1)薄板工件的衰减系数测定:a =(20lgBm/Bn- S )/2x(n-m)对于多次反射:a =[20lgBm/Bn- S (n-m)]/2x(n-m)(2)厚板工件的衰减系数测定:a =(20lgB1/B2-6- S )/2x对于 2 次波、3 次波;a =(20lgB2/B3-3.5- S )/2x。

对于 1 次波、3 次波;a =(20lgB1/B3-9.5- S )/4x。

1、近场区长度:N=D s/4入=R2s/入=F s/ n入=F s?/C入3、波束未扩散区与扩散区:b=1.64N4、矩形波源的近场区长度N=Fs/nX,未扩散区b=1.64N,半扩散角0 0=arcsin X /2a ~ 57 X /2a ,5、近场区在两种介质中的分布;公式N=D/4 X只适用均匀介质。

在水、钢两种介质中,当水层厚度较小时,进场区就会分布在水、钢两种介质中,设水层厚度为L,则钢中剩余进场区长度N为:2N=ZLC1/C2= D s/4 X - LC 1/C2,&横波近场区长度;方形N=F s/ nX s2*cos B /cos a圆形N=D 2/4 X s2*COS B /cos a横波声场中,第二介质中的近场区长度:N'=N-L2= F s/ nX s2*cos B /cos a 丄的a /tg BF s-波源面积X s2-介质n中横波波L1-入射点至波源的距离L2-入射点至假想波源的距离半扩散角;对于圆片形声源:?0=arcsin1.22 X sJ D s=70X sJ D s对于矩形正方形声源:?0=arcsin X s2/2a=57 X s2/2a2计算垂直线性误差D=(l d1 I + I d2 I) %。

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超声检测公式1、周期与频率得关系,二者互为倒数:T=1/f2、波速、波长与频率得关系:C=或λ=3。

CL ∶Cs∶CR≈1、8∶1∶0。

94。

声压: P=P1-P帕斯卡(Pa)微帕斯卡(μPa)1Pa=1N/m21Pa=106μP6、声阻抗:Z=p/u=cu/u=c 单位为克/厘米2·秒(g/cm2·s)或千克/米2·秒(kg/m2·s)7、声强;I=Zu2= 单位; 瓦/厘米2(W/cm2)或焦耳/厘米2·秒(J/cm2·s)8、声强级贝尔(BeL)。

△=lgI2/I1(BeL)9.声强级即分贝(dB) △=10lgI2/I1=20lgP2/P1(dB)10。

仪器示波屏上得波高与回波声压成正比:△20lgP2/P1=20lgH2/H1(dB)11。

声压反射率、透射率: r=Pr/P0 =Pt / P0 = =Z1—第一种介质得声阻抗; Z2-第二种介质得声阻抗12、声强反射率: R= 声强透射率:TT+R=1 -=113。

声压往复透射率;T往=14.纵波斜入射: ====CL1、CS1—第一介质中得纵波、横波波速; CL2、CS2—第二介质中得纵波、横波波速;αL 、α´L—纵波入射角、反射角; βL、βS-纵波、横波折射角;α´S—横波反射角、15。

纵波入射时:第一临界角α: βL =90°时αⅠ= 第二临界角α:βS=90°时αⅡ=16、有机玻璃横波探头αL =27、6°~57。

7°, 有机玻璃表面波探头αL≥57。

7°水钢界面横波αL=14、5°~27、27°17.横波入射:第三临界角:当α´L=90°时αⅢ==33.2°当αS≥33、2°时,钢中横波全反射、有机玻璃横波入射角αS(等于横波探头得折射角βS)=35°~55°,即K=tgβS=0、7~1.43时,检测灵敏度最高。

18、衰减系数得计算 1。

薄板: α=(Bn—Bm-20lg n/m)/2x(m-n)-衰减系数,dB/m(单程); —两次底波分贝值之差,dB;δ为反射损失,每次反射损失约为(0。

5~1)dB; X 为薄板得厚度:工件检测厚度,mm;:单直探头近场区长度,mm;、—底波反射次数2、厚板或粗圆柱体: α=(Bn-Bm-6)/2x—两次底波分贝值之差,dB; 19、圆盘波源辐射得纵波声场声压为:20.近场区得长度:21。

圆晶片辐射得声束半扩散角为:22、波束未扩散区:23.矩形波源辐射得纵波声场:波束轴线上得声压:≥3N时,24.矩形波源得近场区得长度为:25、矩形波源得半扩散角:X方向得半扩散角为: Y方向得半扩散角为:26。

近场区在两种介质中得分布: 1基于钢中得近场区2、基于水中得近场区—介质Ⅱ钢中波长-只有介质Ⅱ时,钢中近场长度; —介质Ⅰ水中波速; —介质Ⅱ钢中波速27。

横波轴线上得声压; —系数; —波源得面积;—第二介质中横波波长;—轴线上某点至假想波源得距离28.横波声场近场区长度为:29、横波声场中,第二介质中得近场区长度为:-—波源得面积;—第二介质中横波波长; —入射点至波源得距离—入射点至假想波源得距离30。

横波半扩散角1. 对于圆片形声源: 2。

对于矩形正方形声源:31。

规则反射体得反射波声压公式: X≥3N1、平底孔回波声压; 任意两个距离与直径不同得平底孔反射波声压之比为:2、长横孔回波声压; 任意两个距离、直径不同得长横孔回波分贝差为:3、短横孔回波声压;任意两个距离、长度与直径不同得短横孔回波分贝差为:4。

球孔回波声压: 任意两个距离度与直径不同得球孔回波分贝差为:5。

大平底面或实心圆柱体回波声压: 两个不同距离得大平底回波分贝差为:6.空心圆柱体1。

外柱面径向检测空心圆柱体: 2。

内孔检测圆柱体:注意:以上各种规则反射体得反射波声压公式均未考虑介质衰减,如果考虑介质衰减,则所有公式均应增加:波源得起始声压;:探头波源得面积,: :反射体至波源得距离。

:平底孔缺陷得面积, :波长, :长横孔得直径, Lf:短横孔长度 D:空心圆柱体外经d:空心圆柱体内径 :介质单程衰减系数,dB/mm32、同距离得大平底与平底孔反射波dB差:33。

当用平底面得与实心圆柱体曲底面调节灵敏度时,不同距离处得大平底与平底孔回波分贝差为::平底孔缺陷至检测面得距离;:锻件底面至检测面得距离 :材质衰减系数; λ:波长;:平底孔缺陷得当量直径;:底波与平底孔缺陷得反射波分贝差34. 不同平底孔回波分贝差为:35.当用空心圆柱体内孔或外圆曲底面调节平底孔灵敏度时: —空心圆柱体得内径;-空心圆柱体得外径; “+"—外圆径向探测,内孔凸柱面反射; “—"—内孔径向探测,外圆凹柱面反射; -圆柱曲底面与平底孔缺陷得回波分贝差。

36.水浸法波型分析,水层厚度37. 管材周向检测纯横波检测条件:38. 纯横波到达内壁条件:〈 2。

横波检测到管材内壁39、水浸法: ① 声透镜: ②偏心距: 0、251R≤X〈0、458r③ 水层厚度:H>(-管中横波声程) ④焦距: ⑤40、采用一次反射法检测时,探头移动区应大于或等于1。

25P(即2、5KT):1)采用直射法时,探头移动区应大于或等于0。

75P(即1。

5KT)。

P=2KT 或P=2Ttanβ式中:P:跨距,mm; T:母材厚度,mm;K:探头K值; β—-探头折射角,(º)41、为保证直射波与一次反射波能扫查到焊缝整个截面,K值应满足下式: K≥对于单面焊、上述b 可以忽略不计,则:K≥42按声程调节扫描速度时: 当仪器接声程1:n调节扫描速度时,应采用声程定位法来确定缺陷得位置、用直射法(一次波)检测发现缺陷时: 用一次反射法(二次波)检测发现缺陷时:缺陷得横波声程;:缺陷波前沿所对得刻度值;:探头得折射角;T:板厚; :缺陷得水平距离; :缺陷至检测面得深度、43。

按水平调节扫描速度时: 当仪器按水平1:n调节扫描速度时,应采用水平定位法来确定缺陷得位置。

若仪器按水平1:1调节扫描速度时,那么显示屏上缺陷波前沿所对应得水平刻度值就就是缺陷得水平距离: 用直射法(一次波)检测发现缺陷时:一次反射法(二次波)检测发现缺陷时:式中 K:探头得K值,K=44、按深度调节扫描速度时:当仪器按深度1:n调节扫描速度时,应采用深度定位法来确定缺陷得位置。

若仪器按深度1:1调节扫描速度时,那么显示屏上缺陷波前沿所对应得水平刻度值就就是缺陷得深度用直射法(一次波)检测发现缺陷时:用一次反射法(二次波)检测发现缺陷时: —1、超声波得特点: 1。

方向性好2.能量高3。

能在界面上产生反射、折射、衍射与波型转换4、穿透能力强2、超声波检测:使超声波与工件相互作用,就反射、投射与散射得波进行研究,对工件进行宏观缺陷检测、几何特征测量、组织结构与力学性能变化得检测与表征,并进而对其特定应用性进行评价得技术。

3、超声波检测得优点:1适用于金属、非金属与复合材料等多种制件得无损检测;2穿透能力强,可对较大厚度范围内得工件内部缺陷进行检测; 3、缺陷定位较准确;4对面积型缺陷得检出率较高;5灵敏度高,可检测工件内部很小得缺陷;6检测成本低、速度快,设备轻便,对人体及环境无害,现场使用方便等缺点:1)对缺陷得定性、定量仍需要作进一步研究;2)对具有复杂形状或不规则外型得工件进行超声波检测有困难;3)缺陷得取向、位置与形状对检测结果有影响;4)工件材质、晶粒度对检测有较大影响, 5)A型脉冲反射法检测结果就是波形显示,不直观,检测结果无直接见证记录。

5、机械波必须具备以下两个条件: 1、要有作机械振动得波源;2 、能传播机械振动得弹性介质。

6、衰减得原因扩散衰减、散射衰减、吸收衰减介质衰减通常就是指吸收衰减与散射衰减,而不包括扩散衰减。

7、双晶探头具有以下优点:(1) 灵敏度高(2)杂波少盲区小 (3) 工件中近场区长度小(4) 探测范围可调8、超声波探头对晶片得要求:(1)机电耦合系数K较大,以便获得较高得转换效率。

(2)机械品质因子θm较小,以便获得较高分辨力与较小得盲区。

(3)压电应变常数d33与压电电压常数g33较大,以便获得较高得发射灵敏度与接收灵敏度、(4)频率常数Nt较大,介电常数ε较小,以便获得较高得频率。

(5)居里温度Tc 较高,声阻抗Z适当。

9、仪器与探头得综合性能: 1. 灵敏度、 2 盲区与始脉冲宽度3。

分辨力 4. 信噪比 5.频率10、双探头法又可根据两个探头排列方式:并列法、交叉法、V型串列法、K型串列法、前后串列法等。

11、选择检测仪器1、对于定位要求高得情况,应选择水平线性误差小得仪器、2、对于定量要求高得情况,应选择垂直线性好,衰减器精度高得仪器。

3、对于大型零件得检测,应选择灵敏度余量高、信噪比高、功率大得仪器。

4、为了有效得发现近表面缺陷与区分相邻缺陷,应选择盲区小、分辨率好得仪器、5、对于室外现场检测,应选择重量轻,示波屏亮度好,抗干扰能力强便携式仪器。

6、对于重要工件应选用可记录式探伤仪。

12、横波斜探头K值(或折射角)得选择:当工件厚度较小时,应选用较大得K值,以便增加一次波得声程,避免近场区检测。

当工件厚度较大时,应选用较小得K值,以减少声程过大引起得衰减,便于发现深度较大处得缺陷。

在焊缝检测中,还要保证主声束能扫查整个焊缝截面。

对于单面焊根部未焊透,还要考虑端角反射问题,应使K=0、7~1、5,因为K<0、7或K〉1。

5,端角反射率很低,容易引起漏检。

13、焊缝检测时探头K值得选择应遵循以下三方面原则 1、使声束能扫查到整个焊缝截面;2。

使声束中心线尽量与主要缺陷垂直;3。

保证有足够得灵敏度14、探头频率得选择得因素: 1、提高频率,有利于发现更小得缺陷;2频率高,脉冲宽度小,分辨力高;3、频率高,波长短,则半扩散角小,声束指向性好,能量集中;4、频率高,近场区长度大,对检测不利。

5、频率增加,衰减越大;6、对面积状缺陷,频率高会形成反射指向性,检出率降低。

15.探头晶片尺寸得选择得影响因素: 1、晶片尺寸增加,半扩散角减少,波束指向性变好,超声波能量集中,对检测有利、2、晶片尺寸增加,近场区长度迅速增加,对检测不利、3、晶片尺寸大,辐射得超声波能量大,探头未扩散区扫查范围大,远距离扫查范围相对变小,发现远距离缺陷能力增强。

16、影响声耦合得因素主要有:1。

耦合层得厚度,2。

偶合剂得声阻抗,3、工件表面粗糙度、4.工件表面形状、17、影响缺陷定位得主要因素;1。

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