实验一 超声波探伤仪的使用及其性能测试
超声波探伤仪五大性能测试法
第九部分 实验
实验一 仪器五大性能测试
1． 水平线性
1）测准零点；
2）声程标度设为Y 或S ；总声程范围设为125mm （即每格声程设为12.5mm ）； 3）使25mm 厚试块的一至五次回波依次出现在第二、四、六、八和十格，保持探头不
动，调整增益、进波门位，使进波门内回波高为50%，依次读出一至五次回波声程值（Y 或S ）。
2．分辨力测试
1）用户在CSK-IA 试块上移动直探头，当85mm 和91mm 两处的回波波峰等高且调至50%，记下增益值A 。
2）稳住探头，将85mm 和91mm 两处的回波波谷调至50%，记下增益值B 。
3． 垂直线性
1）在CS-1-5试块上移动直探头，使200mm 深Φ2平底孔处的回波高为100%。
2）增益步长调至2dB ，增益每次比上次减2dB 。
3）每减一次增益记下当前波幅值%。
4． 动态范围
1）在CS-1-5试块上移动直探头，使200mm 深Φ2平底孔处的回波高为100%。
记下增益值A 。
2）使200mm 深Φ2平底孔处的回波高调对刚刚能看到波幅， 记下增益值B 。
3）动态范围=A-B 。
CS —1—5平底孔试块
25mm
4．灵敏度余量测试
1）在CS-1-5试块上移动直探头，使200mm深 2平底孔处的回波高为50%。
记下增益值A。
2）除去探头，增加增益，使噪声电平达10%，记下增益B。
3）灵敏度余量=A-B。
附：性能测试表
一、水平线性
二、垂直线性
三、分辨力
四、动态范围
五、灵敏度余量。
超声波探伤实验报告
超声波探伤实验报告实验目的，通过超声波探伤技术，对不同材料进行探伤实验，分析其内部缺陷情况，探讨超声波探伤技术在材料检测中的应用。
实验材料，本次实验选取了铝合金、钢材和陶瓷材料作为实验对象，这些材料在工业生产中应用广泛，对其质量和内部缺陷的检测具有重要意义。
实验方法，首先，我们使用超声波探伤仪器对不同材料进行了预热处理，以确保实验的准确性和可靠性。
然后，我们将超声波探伤探头与被测材料表面紧密接触，调节超声波探伤仪器的参数，包括频率、幅值等，进行超声波探伤。
最后，我们记录并分析了实验数据，对不同材料的探伤结果进行了比对和总结。
实验结果，通过实验，我们发现在铝合金材料中，超声波探伤显示了一处内部裂纹，这对于铝合金材料的质量评估具有重要意义。
而在钢材中，我们观察到了一处气孔缺陷，这也是超声波探伤技术的优势所在。
在陶瓷材料中，我们成功地检测到了一处微小的内部裂纹，这进一步验证了超声波探伤技术在材料缺陷检测中的高效性和可靠性。
实验结论，超声波探伤技术是一种非破坏性的检测方法，能够对材料的内部缺陷进行精准的检测和定位。
通过本次实验，我们验证了超声波探伤技术在铝合金、钢材和陶瓷材料中的应用效果，并对其在工业生产中的应用前景进行了展望。
总结，超声波探伤技术具有高效、精准、非破坏性等特点，对于材料的质量检测和缺陷分析具有重要意义。
我们相信随着技术的不断进步，超声波探伤技术将在工业生产中发挥越来越重要的作用，为材料质量的提升和生产效率的提高提供有力支持。
通过本次实验，我们对超声波探伤技术有了更深入的了解，也为今后的相关研究和应用提供了有益的参考和借鉴。
希望本实验能够对相关领域的研究和实践工作有所启发，为材料检测技术的发展做出贡献。
超声探伤技术的实验与应用
超声探伤技术的实验与应用超声探伤技术是一种常见的无损检测方法，广泛应用于工业、医学、航空航天等领域。
本文将介绍超声探伤技术的原理和实验过程，并探讨其在应用中的优缺点与前景。
原理超声探伤技术是利用超声波在不同介质中的传播速度差异，来判断材料内部存在的缺陷或变化。
超声波是一种高频声波，其频率通常在1MHz到100MHz之间。
超声波在检测材料中的传播速度与材料的密度和弹性模量相关，材料中存在的缺陷或变化会影响超声波的传播。
实验过程超声探伤的实验过程通常包括四个步骤：1. 准备工作：选择合适的超声探头和仪器，并将其连接好。
清理被测物体表面，消除杂质和污渍。
2. 超声探伤：将超声探头放置在被测物体表面，并由仪器向内发射超声波。
超声波在被测物体内部传播，碰到材料中的缺陷或变化时会反射回来。
这些反射信号会被探头接收并转换成电信号，发送到仪器。
3. 数据处理：仪器会对接收到的信号进行处理，解析出其反射位置和信号强度。
通过这些信息，可以确定被测物体内部的缺陷或变化的位置和大小。
4. 结果分析：根据所得到的反射信号和处理结果，分析被测物体内部存在的缺陷或变化类型和严重程度。
优缺点与前景超声探伤技术具有很多优点，例如：1. 无损检测：超声探伤技术可以在不破坏被测物体的情况下对其进行检测和诊断。
这对于某些特殊材料来说非常重要。
2. 灵敏度高：超声探伤技术可以检测出微小的缺陷或变化，远远超出人类眼睛的可见范围。
3. 准确性高：超声探伤技术可以精确地测量被测物体内部的缺陷或变化，误差很小。
4. 应用范围广：超声探伤技术在不同领域的应用非常广泛，如工业、医学、航空航天等。
它可以用于材料的质量控制、缺陷检测和生产线的监测等方面。
当然，超声探伤技术也有其缺点和局限性，例如：1. 设备价格昂贵：高质量的超声探伤设备价格较高，对于某些预算有限的企业或个人来说不太实用。
2. 操作难度较大：超声探伤技术需要进行专门的培训和学习，操作难度较大，不是每个人都可以上手操作。
超声波探伤仪的使用和性能测试
超声波探伤仪的使用和性能测试Company Document number：WUUT-WUUY-WBBGB-BWYTT-1982GT超声波探伤仪的使用和性能测试一、实验目的1、了解A型超声波探伤仪的简单工作原理。
2、掌握A型超声波探伤仪的使用方法。
3、掌握水平线性、垂直线性和动态范围等主要性能的测试方法。
4、掌握盲区、分辨力和灵敏度余量等综合性能的测试方法。
二、超声波探伤仪的工作原理目前在实际探伤中，广泛应用的是A型脉冲反射式超声波探伤仪。
这种仪器荧光屏横坐标表示超声波在工件中传播时间(或传播距离)，纵坐标表示反射回波波高。
根据荧光屏上缺陷波的位置和高度可以判定缺陷的位置和大小。
A型脉冲超声波探伤仪的型号规格较多，线路各异，但它们的基本电路大体相同。
下面以CTS-22型探伤仪为例说明A型脉冲超声波探伤仪的基本电路。
CTS-22型超声探伤仪主要由同步电路、发射电路、接收放大电路、时基电路(又称扫描电路)、显示电路和电源电路组成，如图所示。
各电路的主要功能如下：(1)同步电路：产生一系列同步脉冲信号，用以控制整台仪器各电路按统一步调进行工作(2)发射电路：在同步脉冲信号触发下，产生高频电脉冲，用以激励探头发射超声波。
(3)接收放大电路：将探头接收到的信号放大检波后加于示波管垂直偏转板上。
(4)时基电路：在同步脉冲信号触发下，产生锯齿波加于示波管水平偏转板上形成时基线。
(5)显示电路：显示时基线与探伤波形。
(6)电源电路：供给仪器各部分所需要的电压。
在实际探伤过程中，各电路按统一步调协调工作。
当电路接通以后，同步电路产生同步脉冲信号，同时触发发射电路和时基电路。
发射电路被触发以后产生高频电脉冲作用于探头，通过探头中压电晶片的逆压电效应将电信号转换为声信号发射超声波。
超声波在传播过程中遇到异质界面(缺陷或底面)反射回来被探头接收，通过探头的正压电效压将声信号转换为电信号送至放大电路被放大检波，然后加到示波管垂直偏转板上，形成重迭的缺陷波F和底波B。
实验报告(超声波)
超声波探伤实验一、实验目的1、掌握TUD210手持式超声波探伤仪的使用方法；2、掌握仪器的性能指标及仪器各个按钮之间的关系；3、掌握纵波探伤的基本方法。
二、基本原理脉冲反射法—利用超声波脉冲在试件的传播过程中，遇到声阻抗相差较大的两种介质界面时，将发生发射的原理进行检测的方法。
采用一个探头兼做发射和接受器件，接收信号在探伤仪的屏幕上显示，并根据缺陷及地面发射波的有无、大小及其在时间轴上的位置来判断缺陷的有无及其方位。
三、实验装置及物品TUD210手持式超声波探伤仪，耦合剂，实验试件（钢），游标卡尺。
四、实验步骤1、打开TUD210手持式超声波探伤仪开关；2、将试件表面清洗干净，涂上耦合剂，抹匀；3、调节TUD210手持式超声波探伤仪的各个方向键，设定材料（钢）声速为5920m/s，脉冲移位0.0µ m，探头零点0.00 µ m；4、进行单探头校准。
声速校准：先设定一大概的声速值（5920），同时探头延时设置为0；调节闸门逻辑为双闸门方式；将探头耦合到一与被测材料相同且厚度已知的试块上；移动闸门A 的起点到一次回波并与之相交，调节闸门A 的高度低于一次回波最高幅值至适当位置，闸门A 不能与二次回波相交；移动闸门B 的起点到二次回波并与之相交，调节闸门B 的高度低于二次回波最高幅值至适当位置，闸门B 不能与一次回波相交；然后调节声速，使得状态行显示的声程与试块实际厚度相同；探头延时校准：设定闸门逻辑为单闸门方式，即设为正或负逻辑，此时声程测量的就是一次回波处的声程；调节探头延时，使得状态行的声程测量值与试块的已知厚度相同。
此时所得到的探头延时就是该探头的准确探头延时。
5、将超声波探头置于试件缺陷回波处，调节增益步长键和增益加减键，使超声波回波高度为慢刻度的60%，记录显示声程；6、移动超声波探头，找到缺陷回波最大处，调节增益步长键和增益加减键使缺陷回波值为满刻度的60%，记录显示的声程；7、误差对比：将试件翻转过来，用游标卡尺测量小孔的深度；8、实验完毕，关闭TUD210手持式超声波探伤仪，将试件整理好。
超声波探伤实验报告
超声波探伤实验报告超声波探伤实验报告超声波是一种频率高于20000赫兹的声波，它的方向性好，穿透能力强，易于获得较集中的声能，在水中传播距离远，可用于测距、测速、清洗、焊接、碎石、杀菌消毒等。
在医学、军事、工业、农业上有很多的应用。
超声波因其频率下限大于人的听觉上限而得名。
超声波探伤实验报告范文一：一、实验目的1.通过实验了解超声波探伤的基本原理;2.掌握超声波探伤仪器的各个旋钮的名称、功能和使用方法。
3.了解超声检测仪的使用规范。
二、实验设备和器材1.超声检测仪2.直探头和斜探头3.耦合剂：甘油4.试块和试件三、实验内容超声波探伤是利用探头发射超声波扫描试件内部，在荧光屏上可得到工件两界面(表面及底面)的反射波，如工件内部有缺陷，则缺陷将产生缺陷反射回波并显示在两界面波之间。
缺陷波峰距两界面波之间的距离即缺陷至两界面之间的距离，缺陷大小及性质可按相关标准确定。
1、超声波探伤原理(1)超声波的传播特性声波是由物体的机械振动所发出的波动，它在均匀弹性介质中匀速传播，其传播距离与时间成正比。
当声波的频率超过20000赫时，人耳已不能感受，即为超声波。
声波的频率、波长和声速间的关系是 ??c (1) f式中λ——波长;c——波速;f——频率。
由公式可见，声波的波长与频率成反比，超声波则具有很短的波长。
超声波探伤技术，就是利用超声波的高频率和短波长所决定的传播特性。
即：1)具有束射性(又叫指向性)，如同一束光在介质中是直线传播的，可以定向控制。
2)具有穿透性，频率越高，波长越短，穿透能力越强，因此可以探测很深(尺寸大)的零件。
穿透的介质超致密，能量衰减越小，所以可用于探测金属零件的缺陷。
3)具有界面反射性、折射性，对质量稀疏的空气将发生全反射。
声波频率越高，它的传播特性越和光的传播特性接近。
如超声波的反射、折射规律完全符合光的反射、折射规律。
利用超声波在零件中的匀速传播以及在传播中遇到界面时发生反射、折射等特性，即可以发现工件中的缺陷。
超生波探伤实验报告(3篇)
第1篇一、实验目的1. 理解超声波探伤的基本原理和操作流程。
2. 掌握超声波探伤仪器的使用方法和操作技巧。
3. 通过实际操作，了解超声波探伤在检测金属缺陷中的应用。
4. 分析超声波探伤结果的准确性和可靠性。
二、实验背景超声波探伤是一种利用超声波在材料中传播的特性，对材料内部缺陷进行检测的技术。
由于超声波具有穿透能力强、方向性好、无损检测等优点，因此在工业、军事、医学等领域得到广泛应用。
三、实验原理超声波探伤的基本原理是利用超声波在材料中传播时，遇到缺陷会发生反射、折射、散射等现象。
通过分析反射波的特征，可以判断材料内部的缺陷位置、大小和性质。
四、实验器材1. 超声波探伤仪：用于发射和接收超声波信号。
2. 探头：用于发射和接收超声波。
3. 试块：用于模拟实际材料的缺陷。
4. 耦合剂：用于改善探头与试块之间的耦合效果。
5. 记录仪：用于记录实验数据。
五、实验步骤1. 将探头安装到超声波探伤仪上，调整探头频率和探头间距。
2. 将耦合剂均匀涂抹在试块表面，确保探头与试块之间良好耦合。
3. 将探头放置在试块表面，开始发射超声波。
4. 分析接收到的超声波信号，判断材料内部的缺陷。
5. 记录实验数据，包括缺陷位置、大小和性质。
六、实验结果与分析1. 通过实验，成功检测到试块内部的缺陷，包括裂纹、气孔等。
2. 分析缺陷反射波的特征，可以判断缺陷的位置、大小和性质。
3. 实验结果表明，超声波探伤具有较高的检测准确性和可靠性。
七、实验总结1. 超声波探伤是一种有效的无损检测技术，可以用于检测金属材料内部的缺陷。
2. 掌握超声波探伤仪器的使用方法和操作技巧，可以提高检测准确性和可靠性。
3. 实验结果表明，超声波探伤在检测金属缺陷方面具有较高的应用价值。
八、实验建议1. 在实际应用中，应根据被检测材料的特性选择合适的探头频率和探头间距。
2. 注意耦合剂的选择和涂抹，确保探头与试块之间良好耦合。
3. 分析反射波特征时，应注意缺陷定位、大小和性质的判断。
超声波探测实验实验报告(3篇)
第1篇一、实验目的1. 了解超声波的基本原理及其在探测中的应用。
2. 掌握超声波探测仪器的操作方法和使用技巧。
3. 通过实验，验证超声波探测技术在实际测量中的应用效果。
二、实验原理超声波探测技术是利用超声波在介质中传播的特性，通过发射、接收和反射等过程来获取被测物体内部结构信息的一种非接触式检测方法。
超声波探测的原理如下：1. 超声波的产生：利用压电换能器将电能转换为超声波能量。
2. 超声波的传播：超声波在介质中传播，遇到不同介质的界面时会发生反射、折射和透射等现象。
3. 超声波的接收：接收换能器接收反射回来的超声波信号。
4. 信号处理：通过信号处理技术，提取出有用的信息，如距离、速度、厚度等。
三、实验设备1. 超声波探测仪2. 超声波发射器3. 超声波接收器4. 试块（用于模拟被测物体）5. 计时器6. 示波器7. 数据采集器四、实验步骤1. 连接设备：将超声波发射器、接收器、探测仪和试块连接好。
2. 调整参数：根据实验要求，设置探测仪的频率、灵敏度等参数。
3. 放置试块：将试块放置在实验台上，确保其稳定。
4. 发射超声波：打开超声波发射器，向试块发射超声波。
5. 接收反射波：打开超声波接收器，接收试块反射回来的超声波信号。
6. 观察波形：使用示波器观察反射波波形，记录反射波的时间、幅度等信息。
7. 数据处理：根据反射波的时间和幅度，计算出被测物体的厚度、距离等参数。
8. 重复实验：改变试块的位置和角度，重复实验步骤，验证实验结果的准确性。
五、实验结果与分析1. 反射波时间：通过实验，我们得到了不同位置和角度下反射波的时间。
根据反射波时间和超声波在介质中的传播速度，可以计算出被测物体的厚度。
2. 反射波幅度：反射波幅度反映了超声波在试块中的衰减程度，从而可以判断试块内部是否存在缺陷。
3. 实验误差：实验过程中，由于设备精度、环境因素等原因，可能会产生一定的误差。
通过多次实验，我们可以分析误差产生的原因，并采取措施减小误差。
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武汉大学实验报告超声波探伤仪的使用及其性能测试院系名称：动力与机械学院专业名称：材料类实验一超声波探伤仪的使用及其性能测试一、实验目的1、熟悉脉冲反射式超声波探伤仪的使用方法。
2、掌握超声波探伤仪主要性能及探头主要综合性能的测试方法。
二、实验原理1、超声探伤仪简介目前在实际探伤中，广泛应用的是A型脉冲反射式超声波探伤仪。
这种仪器荧光屏横坐标表示超声波在工作中的传播时间（或传播距离），纵坐标表示反射回波波高。
根据荧光屏上缺陷波的位置和高度可以判定缺陷的位置和大小。
A型脉冲反射式超声波探伤仪由同步电路、发射电路、接受放大电路、扫描电路（又称时基电路），显示电路和电源电路等部分组成。
其工作原理如图1所示。
图1 A型脉冲反射式超声波探伤仪的电路方型图仪器的工作过程为：电路接通以后，同步电路产生脉冲信号，同时触发发射电路、扫描电路。
发射电路被触发以后高频脉冲作用于探头，通过探头的逆电压效应将信号转换为声信号，发射超声波。
超声波在传播过程中遇到异质界面（缺陷或底面）反射回来被探头接受。
通过探头的正压电效应将声信号转换为电信号送至放大电路被放大检波，然后加到荧光屏垂直偏转板上，形成重叠的缺陷波F 和底波D。
扫描电路被触发以后产生锯齿波，加到荧光屏水平偏转板上，形成一条扫描亮线，将缺陷波F和底波D按时间展开完整的显示在荧光屏上。
脉冲反射式超声波探伤仪具有以下特点（1）、以荧光屏横坐标表示传播距离，以纵坐标表示回波高度。
（2）、可做单探头或双探头探伤。
（3）、在声束覆盖区，可以同时显示不同声程上的多个缺陷。
（4）、适应性较广，可以不同探头进行纵波、横波、表面波、板波等多种波型探伤。
（5）、只能以回波高度来表示反射量，因此缺陷量值显示不直观，结果判断受人为因素影响较多。
2、仪器各旋钮的调节（1）、扫描基线的显示与调节【电源开关】－置“开”时，仪器电源接通，面板上电压指示红区，约1分钟后，荧光屏上显示扫描基线。
【辉度】－调节扫描基线的明亮程度。
【聚焦】与【辅助聚焦】－调节扫描基线的清晰程度。
【垂直】－调节扫描基线在垂直方向的位置。
【水平】－调节扫描基线在水平的位置，可以在不改变扫面比例的情况下使整个时间轴左右移动。
此旋钮与调节探测范围的【粗调】、【微调】配合，用于直探头和斜探头扫描比例的调整。
CTS-22型仪器的【脉冲位移】具有一般仪器的“水平位移”功能。
CTS-22型仪器的【辅助聚焦】、【辅助聚焦】、【垂直】、【水平】旋钮为内调式，出厂时已调好，使用时一般不必再调，如需调节则打开仪器上盖板按说明书调节好。
（2）、工作方式的选择单探头－一只探头兼作发射和接收。
双探头－一只探头发射，另一只探头接收。
（3）、探测范围的调节【粗调】或【深度范围】－根据工件厚度粗调探测范围。
【微调】－微调探测范围，微调与【脉冲移位】（CTS-22）配合使用，可按一定比例调节扫描基线。
（4）、显示选择【检波】荧光屏上显示的是检波后的单向波形，是一种常用波形。
（5）、扫描选择【同步】同步电路同时触发扫描电路和发射电路，扫描与发射高频脉冲同时开始，同步扫描，荧光屏上可完整显示始波、伤波和底波。
【延迟】扫描延迟电路加在同步电路与扫描电路之间，讲同步脉冲触发扫描电路的时间延长，即扫描迟于发射以后进行，CTS-22型仪器的脉冲【脉冲位移】旋钮同时具有“扫描延迟”的作用，与【深度范围】配合可使波形放大。
（6）、仪器灵敏度的调节仪器灵敏度是指仪器输出功率的大小，输出功率大，灵敏度高，反之灵敏度低。
仪器灵敏度可以通过【增益】、【衰减器】、【抑制】、【发射强度】等旋钮来调节。
【增益】－通过调节接收放大器的放大倍数来调节荧光屏上的波高使之准确达到规定高。
增益大，灵敏度高。
【衰减器】－定量地调节荧光屏上的波高，常用于比较某回波高与基准波高的相对高度，单位为dB。
衰减器分粗调与细调，均为步进式调节。
【抑制】－限制检波后信号的输出幅度。
抑制杂波，提高信噪比。
使用【抑制】，将使仪器的垂直线性变坏，动态范围变小。
因此当使用荧光屏面板对缺陷定量时，不得使用（抑制）。
抑制增加，灵敏度降低。
【发射强度】－调节发射脉冲的输出的功率。
发射强度强，灵敏度高。
但这时脉冲宽度增大，分辨力降低。
3、仪器的主要性能及仪器与探头主要综合性能仪器性能仅与仪器有关。
仪器主要性能有水平线性、垂直线性和动态范围。
（1）、水平线性仪器荧光屏上时基线水平刻度值与实际声程成正比的程度，称为仪器的水平线性或时基线性。
水平线性主要取决于扫描锯齿波的线性。
仪器水平线性的好坏直接影响测距精度，进而影响缺陷定位。
（2）、垂直线性仪器荧光屏上的波高与输入信号幅度成正比的程度称为垂直线性或放大线性。
垂直线性主要取决于放大器的性能。
垂直线性的好坏影响应用面板曲线对缺陷定量的精度。
（3）、动态范围仪器的动态范围是指反射信号从垂直极限衰减到消失时所需的衰减量，也就是仪器荧光屏容纳信号的能力。
影响动态范围的主要因素的仪器的线性范围和荧光屏的大小。
仪器与探头的主要综合性能不仅与仪器有关，而且与探头有关。
主要综合性能有盲区、分辨力、灵敏度余量等。
（1）、盲区从探测面到能发现缺陷的最小距离，称为盲区。
盲区内缺陷一概不能发现。
盲区与放大器的阻塞时间和始脉冲宽度有关，阻塞时间长，始脉冲宽，盲区大。
（2）、分辨力在荧光屏上区分距离不同的相邻两缺陷的能力称为分辨力。
能区分的两缺陷的距离愈小，分辨力就愈高。
分辨力与脉冲宽度有关，脉冲宽度小，，分辨力高。
（3）、灵敏度余量灵敏度余量是指仪器与探头组合后，在一定的探测范围内发现微小缺陷的能力。
具体指从一个规定测距孔径的人工试块上获得规定波高时仪器所保留的dB数。
保留的dB数愈高，说明综合灵敏度愈高。
三、实验器材1.、仪器：CTS-22。
2.、探头： 2.5MHz 20的直探头。
3.、试块：CSK-IA、IIW。
4.、耦合剂：机油。
5.其他：压块，坐标纸等。
四、实验步骤1、水平线性的测试(1)调有关旋钮时基线清晰明亮，并与水平刻度线重合。
(2)将探头通过耦合剂置于CSK-IA或IIW试块上，如图2的A处。
(3) 调【微调】、【水平】或【脉冲移位】等按钮，使荧光屏上出现六次底波B1-B6,且使B1，B6前沿分别对准水平刻度值0和100，如图3。
(4) 观察记录B2、B3、B4、B5与水平刻度值20，40，60，80的偏差值a2 ,a3 ,a4，a5∆S=∣amax∣b×100%(5)计算水平线性误差：式中a max为a2、a3、a4、a5中最大者，b——荧光屏水平满刻度值。
图2 水平、垂直线性测试图3 水平线性测试波形2、垂直线性的测试(1) 【抑制】至“0”，【衰减器】保留30dB 衰减余量。
(2) 探头通过耦合剂置于Z20-4，如图3(3) 调【增益】使底波达荧光屏满幅度100％，但不饱和，作为0dB 。
(4) 固定【增益】，调【衰减器】，每次衰减2dB ，并记下相应回波高度打，填入表1表中：相对波高％＝iidb H 100%db H ∆⨯衰减波高衰减0波高理想相对波高Hs=10−∆i 20 ╳100%(5) 计算垂直线性误差D=(d1d2)%+d1 ——实测值与理想值的最大正偏差； d2 ——实测值与理想值的最大负偏差；3. 动态范围的测试(1) 【抑制】至“0”，【衰减器】保留30dB 。
(2) 探头置于图3，调【增益】使孔波达荧光屏满幅度100％但不饱和。
(3) 固定【增益】，记录这时衰减余量N1，调【衰减器】使孔波降到刚好分辨,记下这时的衰减余量N2。
(4) 计算动态范围：△＝N2-N1 (db)4、盲区的测定(1) 【抑制】至“0.(2) 调节仪器的有关灵敏度旋钮，使其符合探伤规范要求。
(3) 探头通过耦合剂恒定与II-W 型试块上，如图4I 和II 。
(4) 如荧光屏上始波之后出现一个独立的回波，则盲区大于测试位置厚度。
图3 Z20-45、 分辨率的测定(1) 【抑制】至“0”，其它旋钮位置适当。
(2) 探头置于图4 所示的CSK-IA 的III 处，前后左右移动探头，使荧光屏出现声程为85，91，100的三个反射波。
(3) 当A,B,C 不能分开时，如图5（a ），则分辨率为F 1= (91-85) a 6a(mm)a b a b =--(4) 当A,B,C 能分开时，如图5（b ），则分辨率为 F 1= (91-85)ca mm6、 灵敏度余量的测试图4 分辨率测试(b) A 、B 不能分开(a) A 、B 能分开图5 测分辨率波形(1)【抑制】至“0”，【增益】最大，【发射强度】至强。
(2)连接探头，调节【衰减器】使仪器噪声电子为满幅度10％，记录这时【衰减器】的读数N1。
(3)探头置于图6所示的灵敏度余量试块上（200∕ 2平底孔试块），调【衰减器】使平底孔回波达满幅度80％，这时【衰减器】的读数N2。
(4)计算：灵敏度余量△N＝N2-N1 (db)图6 灵敏度余量五、实验结果及结果分析1、水平线性测试结果实验结果图像实验结果数据水平线性误差计算∆S=∣amax∣b ×100%=0.0410×100%=0.4%2、垂直线性测试比例调节1：40.6 -0.9 -0.10.21.4 1.91.20.4 垂直线性误差计算D=(d1d2)%=（1.9+∣-0.9∣）%=2.8%3、动态范围测试图像孔波高度100% 刚好可见衰减器读数N1=38 N2=68动态范围计算ΔN=N2-N1=68-38=304、盲区的测定确定1:1比例在5mm 与10mm 处测试位置5mm 10mm图像独立底波无无结论：此台仪器盲区大于10mm5、分辨率测试图像由图可知：c=6：a=2则分辨率为：F 1= (91-85)acmm=（91-85）26=2mm6、灵敏度余量测试灵敏度余量计算：N=（Ni -N）dB=26dB六、实验结论通过对CTS-22的测试，与仪器性能参数对比，其性能为 0.4%的水平线性误差，其水平线性很好；2.8%的垂直线性误差，其垂直线性很好：30dB的动态范围，动态范围符合要求；盲区大于10mm，盲区较大；分辨力为2mm，分辨力良好；灵敏度余量为26dB，灵敏度余量小于其标准参数；。