存储器实验实验报告1
存储器管理实验实验报告
存储器管理实验实验报告一、实验目的存储器管理是操作系统的重要组成部分，本次实验的目的在于深入理解存储器管理的基本原理和方法，通过实际操作和观察，掌握存储器分配与回收的算法，以及页面置换算法的实现和性能评估。
二、实验环境本次实验使用的操作系统为 Windows 10，编程语言为 C+＋，开发工具为 Visual Studio 2019。
三、实验内容与步骤（一）存储器分配与回收算法实现1、首次适应算法（1）原理：从空闲分区链的首地址开始查找，找到第一个满足需求的空闲分区进行分配。
（2）实现步骤：建立空闲分区链表，每个节点包含分区的起始地址、大小和状态（已分配或空闲）。
当有分配请求时，从链表头部开始遍历，找到第一个大小满足需求的空闲分区。
将该分区进行分割，一部分分配给请求，剩余部分仍作为空闲分区留在链表中。
若找不到满足需求的空闲分区，则返回分配失败。
2、最佳适应算法（1）原理：从空闲分区链中选择与需求大小最接近的空闲分区进行分配。
（2）实现步骤：建立空闲分区链表，每个节点包含分区的起始地址、大小和状态。
当有分配请求时，遍历整个链表，计算每个空闲分区与需求大小的差值。
选择差值最小的空闲分区进行分配，若有多个差值相同且最小的分区，选择其中起始地址最小的分区。
对选中的分区进行分割和处理，与首次适应算法类似。
3、最坏适应算法（1）原理：选择空闲分区链中最大的空闲分区进行分配。
（2）实现步骤：建立空闲分区链表，每个节点包含分区的起始地址、大小和状态。
当有分配请求时，遍历链表，找到最大的空闲分区。
对该分区进行分配和处理。
（二）页面置换算法实现1、先进先出（FIFO）页面置换算法（1）原理：选择在内存中驻留时间最久的页面进行置换。
（2）实现步骤：建立页面访问序列。
为每个页面设置一个进入内存的时间戳。
当发生缺页中断时，选择时间戳最早的页面进行置换。
2、最近最久未使用（LRU）页面置换算法（1）原理：选择最近一段时间内最长时间未被访问的页面进行置换。
随机存储器实验报告
一、实验目的1. 掌握随机存储器（RAM）的工作原理及特性。
2. 熟悉RAM的读写操作过程。
3. 了解RAM在计算机系统中的应用。
二、实验原理随机存储器（RAM）是一种易失性存储器，其特点是读写速度快、价格低廉。
RAM 中的数据在断电后会被丢失，因此常用于存储临时数据和程序。
RAM的基本结构由存储单元、地址译码器、读写控制电路和数据总线组成。
地址译码器根据地址信号选择相应的存储单元，读写控制电路控制数据的读写操作，数据总线用于数据的传输。
三、实验仪器与设备1. 计算机一台2. 随机存储器芯片（如6116）3. 数据开关4. 信号灯5. 逻辑分析仪（可选）四、实验内容与步骤1. 搭建实验电路（1）将随机存储器芯片插入计算机扩展槽或使用实验箱。
（2）连接数据开关、信号灯和逻辑分析仪（如有）。
（3）根据实验要求连接地址译码器和读写控制电路。
2. 读写操作（1）编写程序，向RAM中写入数据。
（2）观察信号灯或使用逻辑分析仪查看写入数据的过程。
（3）读取RAM中的数据，观察信号灯或使用逻辑分析仪查看读取数据的过程。
3. 实验验证（1）验证RAM的读写速度。
（2）验证RAM的数据是否正确。
（3）验证RAM的容量。
五、实验结果与分析1. 读写速度通过实验验证，RAM的读写速度较快，满足计算机系统对数据传输速度的要求。
2. 数据正确性通过观察信号灯或使用逻辑分析仪，验证RAM写入和读取的数据一致，说明数据正确。
3. 容量通过实验验证，RAM的容量与芯片标称容量一致。
六、实验总结本次实验成功实现了随机存储器的读写操作，验证了RAM的工作原理和特性。
通过实验，我们掌握了以下知识点：1. 随机存储器（RAM）的工作原理及特性。
2. RAM的读写操作过程。
3. RAM在计算机系统中的应用。
七、思考与改进1. 可以尝试使用不同类型的RAM芯片，比较其性能差异。
2. 可以研究RAM的优化设计，提高读写速度和容量。
3. 可以将实验扩展到其他类型的存储器，如只读存储器（ROM）和闪存（Flash）。
存储器和总线实验报告
存储器和总线实验报告一、实验目的：1.了解存储器和总线的基本概念和原理；2.学习存储器和总线的组成和工作方式；3.掌握存储器和总线在计算机系统中的应用。
二、实验仪器及材料：1.计算机实验箱；2.存储器芯片；3.总线驱动芯片；4.示波器；5.万用表等。
三、实验原理及过程：存储器是计算机系统中的重要组成部分，用于存储数据和指令。
总线是计算机系统中的信息传输通道，用于连接各个硬件设备。
本实验通过实际操作和观察，深入理解存储器和总线的原理与应用。
1.存储器实验：将存储器芯片插入计算机实验箱的指定插槽，并连接好电源和控制线。
打开计算机实验箱的电源，通过示波器和万用表，观察存储器的读写操作。
2.总线实验：将总线驱动芯片插入计算机实验箱的指定插槽，并连接好电源和控制线。
打开计算机实验箱的电源，并连接外部硬件设备，如打印机、显示器等，通过控制总线，进行数据传输和设备控制。
四、实验结果及分析：在存储器实验中，通过示波器和万用表观察到了存储器的读写操作，可以看到存储器的读取速度相对较快，写入速度较慢。
这是因为存储器的读取是通过直接寻址方式，直接获取指定地址上的数据，速度较快；而写入需要进行写入操作，写入数据需要经过一系列的控制和验证步骤，速度较慢。
在总线实验中，通过控制总线进行数据传输和设备控制，可以实现设备间的数据共享和信息传递。
例如，将计算机连接到打印机，通过总线进行数据传输，可以将计算机上的文件直接打印出来。
通过总线还可以连接各种外部设备，如键盘、鼠标、显示器等，实现设备的控制和数据输入输出。
通过本次实验，加深了对存储器和总线的理解和认识。
存储器是计算机系统中重要的存储单元，用于存储数据和指令；总线是计算机系统中的信息传输通道，用于连接各个硬件设备。
存储器和总线的性能对计算机的运行速度和稳定性有重要影响，因此，合理使用和优化存储器和总线是提高计算机系统性能的关键。
五、实验总结：本次实验通过实际操作和观察，加深了对存储器和总线的理解和认识。
实验1 存储器读写实验-实验报告
信息与机电工程学院
实验报告
（20—20学年第1学期）
课程名称微机原理与接口技术
实验名称实验1存储器读写实验
专业
年级
组号1
成员1学号成员1姓名张XX
成员2学号成员2姓名
指导教师
实验日期
实验目的与要求：
1.掌握PC机外存扩展的方法。
2.熟悉6264芯片的接口方法。
3.掌握8086十六位数据存储的方法。
实验设备（环境）：
MUT—Ⅲ型实验箱、8086CPU模块。
实验内容：
向02000～020FFH单元的偶地址送入AAH，奇地址送入55H。
实验步骤：
1、程序源码
2、
3、
实验结果分析
实验总结（包括过程总结、心得体会及实验改进意见等）：
1、ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ程总结：
2、心得体会：
指导教师评语：
成绩评定
教师签字
年月日
备注：
注：1、报告内的项目或设置，可根据实际情况加以补充和调整
储存器实验报告
储存器实验报告储存器实验报告一、引言储存器是计算机中重要的组成部分，它用于存储和读取数据。
在计算机科学领域，储存器的设计和性能对计算机的运行速度和效率有着重要的影响。
本实验旨在通过设计和实现一个简单的储存器，来深入了解储存器的工作原理和性能指标。
二、实验目的1. 了解储存器的基本概念和分类；2. 掌握储存器的存储原理和读写操作；3. 分析和评估储存器的性能指标。
三、实验过程1. 储存器的分类储存器按照存储介质的不同可以分为随机存储器（RAM）和只读存储器（ROM）。
RAM是一种易失性存储器，它可以随机读写数据。
ROM则是一种非易失性存储器，主要用于存储固定的程序和数据。
2. 储存器的存储原理储存器的存储原理是通过电子元件的状态来表示数据的存储状态。
在RAM中，每个存储单元由一个电容和一个晶体管组成。
当电容充电时表示存储单元存储的是1，当电容放电时表示存储单元存储的是0。
在ROM中，存储单元由一组可编程的开关组成，每个开关的状态决定了存储单元存储的数据。
3. 储存器的读写操作储存器的读操作是通过将地址信号传递给储存器来选择要读取的存储单元，然后将存储单元的数据输出。
储存器的写操作是通过将地址信号传递给储存器来选择要写入的存储单元，然后将要写入的数据输入。
四、实验结果在实验中，我们设计并实现了一个8位的RAM储存器。
通过对储存器进行读写操作，我们成功地将数据存储到储存器中，并成功地从储存器中读取数据。
实验结果表明，储存器的读写操作是可靠和有效的。
五、实验分析1. 储存器的性能指标储存器的性能指标包括存储容量、存取时间和存储器的可靠性。
存储容量是指储存器可以存储的数据量，通常以位或字节为单位。
存取时间是指从发出读写指令到数据可以被读取或写入的时间间隔。
存储器的可靠性是指储存器的故障率和故障恢复能力。
2. 储存器的应用储存器广泛应用于计算机、手机、平板电脑等电子设备中。
在计算机中，储存器用于存储程序和数据，是计算机的核心组件之一。
储存器实验报告
一、实验目的1. 了解储存器的基本概念和分类。
2. 掌握储存器的读写原理和操作方法。
3. 学会使用常用储存器芯片，如RAM、ROM等。
4. 熟悉储存器的扩展方法，如字扩展、位扩展等。
二、实验仪器与设备1. 实验台2. 信号发生器3. 数字示波器4. 静态随机存储器（RAM）芯片5. 只读存储器（ROM）芯片6. 译码器7. 74LS系列集成电路芯片8. 连接线三、实验原理1. 储存器的基本概念：储存器是计算机系统中用于存放数据和指令的设备，分为内存储器和外存储器。
内存储器包括RAM和ROM，外存储器包括硬盘、光盘等。
2. 储存器的读写原理：储存器的读写操作主要依靠控制电路来实现。
控制电路根据地址信号选择相应的存储单元，并根据读写信号决定是读取数据还是写入数据。
3. 常用储存器芯片：（1）RAM：随机存取存储器，具有读写速度快、存储容量大、价格低等特点。
RAM 分为静态RAM（SRAM）和动态RAM（DRAM）两种类型。
（2）ROM：只读存储器，只能读取数据，不能写入数据。
ROM分为掩模ROM、可编程ROM（PROM）、可擦写可编程ROM（EPROM）和闪存（Flash）等类型。
四、实验步骤1. 储存器读写原理实验：（1）搭建实验电路，包括RAM芯片、地址译码器、控制电路等。
（2）使用信号发生器产生地址信号、读写信号和控制信号。
（3）观察数字示波器上的波形，分析读写操作过程。
2. 储存器扩展实验：（1）字扩展：使用多个RAM芯片扩展存储容量。
将多个RAM芯片的地址线和控制线连接在一起，数据线分别连接。
（2）位扩展：使用译码器将地址信号转换为片选信号，控制多个RAM芯片的读写操作。
将译码器的输出端连接到RAM芯片的片选端，地址信号连接到译码器的输入端。
3. 基于AT89C51的RAM扩展实验：（1）搭建实验电路，包括AT89C51单片机、RAM芯片、译码器等。
（2）编写程序，设置RAM芯片的地址、读写信号和控制信号。
内存储器部件实验报告
内存储器部件实验报告实验名称：内存存储器部件实验实验目的：通过本实验，熟悉内存存储器的原理和部件，掌握内存存储器的组成结构和工作原理，能够进行内存存储器的基本操作和测试。
实验器材：内存存储器、多媒体教学台、计算机、数据线实验原理：内存存储器是计算机中用于临时存储数据和程序的部件。
内存存储器的主要作用是为CPU提供数据和程序，并且数据的读写速度比硬盘快得多。
内存存储器的工作原理是通过将数据和程序存储在内存芯片中，CPU根据需要从内存中读取数据和程序，处理后再将结果写入内存。
实验内容：1.内存存储器的组成结构：内存存储器主要由存储单元、地址译码器、数据线和控制线等部件组成。
存储单元是内存中存储数据和程序的最基本单元，地址译码器负责将CPU发送的地址信号翻译成内存中的存储单元地址，数据线用于传输数据，控制线用于控制内存的读写操作。
2.内存存储器的工作原理：内存存储器的工作原理是通过地址信号和控制信号控制内存的读写操作。
当CPU需要访问内存中的数据或程序时，会发送地址信号给内存，地址译码器根据地址信号确定要访问的存储单元，数据线用于传输数据，控制线用于控制读写操作。
3.内存存储器的基本操作：内存存储器的基本操作包括读操作和写操作。
读操作是指CPU从内存中读取数据或程序到CPU中进行处理，写操作是指CPU将处理后的数据或程序写入内存中。
内存存储器的读写速度很快，可以满足CPU的数据读写需求。
实验步骤：1.将内存存储器安装在多媒体教学台上，并连接数据线和控制线。
2.打开计算机，进入系统。
3.运行内存存储器测试程序，测试内存存储器的读写速度和容量。
4.对内存存储器进行读操作和写操作，观察内存存储器的工作状态。
5.测试不同大小和型号的内存存储器，比较它们的读写速度和性能。
实验结果：1.经过测试，内存存储器的读写速度在20GB/s以上，容量为8GB。
2.内存存储器的读写速度快，可以满足CPU的数据读写需求。
3.不同大小和型号的内存存储器性能有所差异，需要根据具体需求选择适合的内存存储器。
存储器实验报告总结
存储器实验报告总结存储器实验报告一、实验设计方案实验框图文字说明实验原理：实验原理框图如图实验原理图所示，原理框图中的地址计数器PC可以接收数据开关产生数据，该数据作为地址信息发送到总线；也可以自动加1计数（用于连续读/写操作）产生地址信息。
地址寄存器AR，存放即将访问的存储单元的地址。
两组发光二极管显示灯中一组显示存储单元地址；另一组显示写入存储单元的数据或从存储单元读出的数据。
写入存储器的数据是由二进制开关设置并发送到总线上的。
存储器芯片中有片选信号menmenab，其值为1时则RAM被选中，可以对其进行读/写操作，反之则RAM未被选中，不能对其进行读写操作。
存储器芯片还有两个读/写控制端（RD、WE）；片选信号有效（menmenab=1）以及时钟信号到达的情况下，WE=1，RD=0，则存储器进行写操作；反之，WE=0，RD=1，则存储器进行读操作。
一、功能验证1:a)实验仿真波形图：b)参数设置End Time: 2usGrid Time: 40nsc)初始数值设置sw_bus：1Pc_bus：1menmenab:1we: 0rd:0Ldar:0Pcclr:1Pcld|pcen:00input[7..0]:00Arout[7..0]:00d)信号功能描述及属性sw_bus：作为使能端控制数据的输入。
Pc_bus：控制地址数据输出到总线和地址寄存器。
menmenab:存储芯片的片选信号。
we: 写操作控制信号。
rd:读操作控制信号。
Ldar:控制地址寄存器中的数据传入RAM的控制信号。
Pcclr:地址数据的清零信号，当其值为0时地址清零。
Pcld|pcen:01时，将总线上的数据传入PC，11时，pc=pc+1;地址计数自动加1。
input[7..0]:地址数据输入端。
Arout[7..0]:寄存器输入RAM的地址数据。
e)波形说明和操作步骤1)0-80ns：进行初始化Sw|pc_bus:11:数据输入到总线的开关关闭，进入地址寄存器的控制开关关闭。
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存储器实验实验报告
一、实验目的
练习使用STEP开关
了解地址寄存器（AR）中地址的读入
了解STOP和STEP开关的状态设置
了解向存储器RAM中存入数据的方法
了解从存储器RAM中读出数据的
二、实验设备
1、TDN－CM＋组成原理实验仪一台
2、导线若干
3、静态存储器：一片6116（2K*8）芯片
地址锁存器（74LS273）
地址灯AD0－AD7
三态门（74LS245）
三、实验原理
实验所用的半导体静态存储器电路原理如图所示，
实验中的静态存储器由一片6116（2K*8）芯片构成，其数据
线接至数据总线，地址线由地址锁存器（74LS273）给出。
地址灯AD0－AD7与地址线相连，显示地址线状况。
数据开关
经一个三态门（74LS245）连至数据总线，分时给出地址和
数据。
实验时将T3脉冲接至实验板上时序电路模块的TS3相应插孔中，在时序电路模块中有两个二进制开关“STOP”和“STEP”，将
“STOP”开关置为“RUN”状态、“STEP”开关置为“EXEC”状态时，按动微动开关START，则TS3端输出连续的方波信号当“STOP”开
关置为RUN状态，“STEP”开关置为“STEP”状态时，每按动一次
微动开关“start”，则TS3输出一个单脉冲，脉冲宽度与连续
方式相同。
四、实验内容
如下图
存储器实验接线图
（一）
练习使用STEP开关
往地址寄存器（AR）中存入地址
设置STOP和STEP开关的状态：
从数据开关送地址给总线：SW-B=___
打开AR，关闭存储器：LDAR=___、CE=___
按下Start产生T3脉冲
关闭AR，关闭数据开关：LDAR=__、SW-B=__
（二）
往存储器RAM中存入数据
1.设定好要访问的存储器单元地址
2.从数据开关送数给总线：SW-B=___
3.选择存储器片选信号：CE=___
4.选择读或写：WE=____
5.按下Start产生T3脉冲
6.关闭存储器片选信号：CE=___
7.关闭数据开关：SW-B=___
（三）
从存储器RAM中读出数据
1.设定好要访问的存储器单元地址
2.选择存储器片选信号：CE=___
3.选择读或写：WE=____
4.按下Start产生T3脉冲
5.关闭存储器片选信号：CE=___
五、实验结果总结
六、思考题
在进行存储器操作（写/读）是不是必须先往地址寄存器（AR）存入所访问的存储器单元地址？
T3在本实验中起了哪些作用，如何区分它们？
在进行存储器读写操作时，CE和WE信号有没有先后顺序？为什么？。