X射线与物质的相互作用
X射线与物质相互作用

x射线的性质
穿透性
波长
x射线具有强穿透性,能够穿透一定厚 度的物质。
x射线波长较短,可用于高精度检测和 成像。
能量
x射线具有特定能量,可用于物质成分 分析。
x射线的应用
医学诊断
x射线用于医学影像诊断,如拍片、CT等。
工业检测
x射线用于工业无损检测,如焊接、铸件等。
安全检查
x射线用于机场、海关等安全检查,检测违禁品。
02
03
操作人员培训
采用铅板、铅玻璃等材料对X射 线设备进行屏蔽,减少辐射泄漏。
对操作人员进行专业培训,确保 他们了解安全标准和操作规范, 避免误操作。
操作规范与注意事项
操作前准备
确保X射线设备正常工作,检 查电源、电缆、控制台等是 否完好。
操作过程
按照操作规程进行操作,避 免长时间暴露于X射线辐射下 。
晶体取向
X射线衍射可以用来确定晶体在样品中的取向,有 助于了解晶体生长和排列的规律。
微观结构
结合显微镜技术,X射线可以用来观察样品 的微观结构,如晶粒大小、相分布等,有助 于了解材料的性能和行为。
05
安全与防护
x射线的生物效应
细胞损伤
01
高强度X射线可导致细胞结构损伤,引发DNA断裂和细胞死亡。
这一过程对物质的密度、原子序数和光子能量都有一定影响。
03
x射线衍射
晶体结构与x射线衍射
晶体结构对x射线衍射的影响
晶体结构中的原子或分子的规则排列会对x射线产生衍射现象,通过分析衍射图 谱可以推断晶体的结构特征。
x射线衍射的原理
当x射线通过晶体时,会受到晶体中原子或分子的散射,散射波在某些方向上相 互加强,形成衍射波,通过测量衍射波的方向可以推导出晶体的结构信息。
X射线射线在物质中的衰减规律分析

X射线射线在物质中的衰减规律分析X射线是一种电磁波,具有很高的穿透能力。
当X射线通过物质时,会发生衰减,其衰减规律可以通过对X射线的相互作用、吸收和散射进行分析得出。
X射线在物质中的衰减主要受以下几个因素的影响:1.光子能量:X射线的能量决定了它在物质中的穿透能力。
能量较高的X射线,其穿透能力更强,相对衰减较小。
2.物质的原子序数和密度:物质的原子序数越大,其与X射线的相互作用越强,吸收和散射的几率越大。
此外,物质的密度也会影响到X射线的穿透能力。
3.物质的厚度:物质的厚度越大,X射线在其中的衰减越明显。
衰减规律可以用贝尔-朗伯定律表示:通过一定厚度的物质的射线强度与初始射线强度之比等于e的负一次方。
4.材料的吸收特性:不同的物质对X射线的吸收情况不同,这取决于物质的化学组成和结构。
一些元素(如铅)对X射线有很强的吸收能力,可以用作防护材料。
在实际应用中,通过测量X射线透射或散射的强度,可以对物质进行成分分析和缺陷检测。
常见的X射线衰减规律有:1.能谱吸收规律:当X射线通过物质时,其能量光子被物质吸收,只有剩余能量光子透射。
吸收的能量与物质的厚度成正比。
根据具体的应用需求,可以通过测量透射X射线的能量谱进行物质成分和浓度的分析。
2.指数规律:当X射线通过物质时,其透射强度与物质的厚度呈指数关系。
例如,当X射线通过一定厚度的物质时,其透射强度为初始强度的1/10,再通过同样厚度的物质时,透射强度为初始强度的1/100,以此类推。
具体的指数衰减规律可以通过测量得到。
3.拉伯衰减规律:对于均匀介质,X射线透射强度与厚度的乘积成指数关系。
即透射强度与物质厚度的乘积等于e的负一次方。
这个规律适用于厚度比较小的样品,但不适用于厚度相对较大的样品。
需要注意的是,以上衰减规律是在理想条件下的近似描述,实际情况可能受到多种因素的影响,如能谱漂移、散射、复合效应等。
此外,物质的成分、结构和形态等因素也可能对X射线的吸收和散射产生影响,因此在具体的应用中需要进行更详细的分析和研究。
第一章——第二节_X射线与物质的相互作用

9
X射线的透射/吸收系数
为了更准确的表达物质本质的吸收特性,引入质量吸收系数μm
m
l
将上式代入 I e u l H I0
I I0emH I0emm
m为单位面积厚度为H的体积中的物质的质量。
μm的物理意义:X射线通过单位面积上单位质量物质后强度的相对 衰减量。
若吸收体为化合物、固溶体或混合物时, μm取决于各组元质量吸 收系数μmi及各组元的质量分数wi。
n
m mi w i (n为组元数) 源自 1 10X射线的透射/吸收系数
对于确定物质, μm取决于吸收物质的原子序数Z和X射线的波长λ。 其关系为:
m K43Z 3 (K4为常数)
由上式可以看出:
12
吸收限的概念
随入射波长变化,会相继出现K、L和M吸收限。描述质量吸收系数 随波长改变的关系曲线称为吸收曲线(谱线)。
13
吸收限的应用
滤波片的选择
在XRD分析中,利用吸收限两侧吸收系数差很大的现象制成滤波 片,用以吸收不需要的辐射,可以获得基本单色的入射X射线。
光电管阳极靶发射的K系X-
射线包括Kα和Kβ,Kα的强
度为x处的dx厚度物质,其强度衰减率dIx/Ix可表示为:
dI x Ix
l dx
强度的衰减dIx/dx与dx成正比。
负号表示随厚度增加时强度降低。
H x dx
μl为常数,称为线吸收系数,是X射线通 过单位厚度(即单位体积)物质的相对 I0 衰减量。表明物质对X射线的吸收特性。
Ix Ix+dx I
3
第二节 X射线与物质的相互作用
当一束X射线通过物质时,其能量可分为三部分,即一部分被散射, 一部分被吸收,其余部分则透过物质继续沿原来的方向传播。
X射线衍射习题

X射线衍射习题X射线衍射分析习题及参考答案一、判断题1、只要原子内层电子被打出核外即产生特征X射线(×)2、在K系辐射线中Kα2波长比Kα1的长(√)3、管电压越高则特征X射线波长越短(×)4、X射线强度总是与管电流成正比(√)5、辐射线波长愈长则物质对X射线的吸收系数愈小(×)6、满足布拉格方程2 d sinθ=λ必然发生X射线反射(×)7、衍射强度实际是大量原子散射强度的叠加(√)8、温度因子是由于原子热振动而偏离平衡位置所致(√)9、结构因子与晶体中原子散射因子有关(√)10、倒易矢量代表对应正空间中的晶面(√)11、大直径德拜相机的衍射线分辨率高但暴光时间长(√)12、标准PDF卡片中数据是绝对可靠的(×)13、定性物相分析中的主要依据是d值和I值(√)14、定量物相分析可以确定样品中的元素含量(×)15、定量物相分析K法优点是不需要掺入内标样品(√)16、利用高温X射线衍射可以测量材料热膨胀系数(√)17、定量物相分析法中必须采用衍射积分强度(√)18、丝织构对称轴总是沿着试样的法线方向(×)19、为获得更多衍射线条须利用短波长X射线进行衍射(√)20、板织构有时也具有一定的对称性(√)21、材料中织构不会影响到各晶面的衍射强度(×)22、粉末样品不存在择优取向即织构问题(×)23、常规衍射仪X射线穿透金属的深度通常在微米数量级(√)24、粉末样品粒度尺寸直接关系到衍射峰形质量(√)25、X射线应力测定方法对非晶材料也有效(×)26、利用谢乐公式D=λ/(βcosθ) 可测得晶粒尺寸(×)27、宏观应力必然造成衍射峰位移动(√)28、微观应力有时也可造成衍射峰位移动(√)29、材料衍射峰几何宽化仅与材料组织结构有关(×)30、实测衍射线形是由几何线形与物理线形的代数叠加(×)二、选择题1、与入射X射线相比相干散射的波长(A)较短,(B)较长,(C)二者相等,(D)不一定2、连续X射线的总强度正比于(A)管电压平方,(B)管电流,(C)靶原子序数,(D)以上都是3、L层电子回迁K层且多余能量将另一L层电子打出核外即产生(A)光电子,(B)二次荧光,(C)俄歇电子,(D) A和B4、多晶样品可采用的X射线衍射方法是(A)德拜-谢乐法,(B)劳厄法,(C)周转晶体法,(D) A和B5、某晶面族X射线衍射强度正比于该晶面的(A)结构因子,(B)多重因子,(C)晶面间距,(D) A和B6、基于X射线衍射峰位的测量项目是(A)结晶度,(B)点阵常数,(C)织构,(D)以上都是7、基于X射线衍射强度的测量项目是(A)定量物相分析,(B)晶块尺寸,(C)内应力,(D)以上都是8、测定钢中奥氏体含量时的X射线定量物相分析方法是(A)外标法,(B)内标法,(C)直接比较法,(D) K值法9、X射线衍射仪的主要部分包括(A)光源,(B)测角仪光路,(C)计数器,(D)以上都是10、Cu靶X射线管的最佳管电压约为(A) 20kV,(B) 40kV,(C) 60kV,(D) 80kV11、X射线衍射仪的测量参数不包括(A)管电压,(B)管电流,(C)扫描速度,(D)暴光时间12、实现X射线单色化的器件包括(A)单色器,(B)滤波片,(C)波高分析器,(D)以上都是13、测角仪半径增大则衍射的(A)分辨率增大,(B)强度降低,(C)峰位移,(D) A与B14、宏观应力测定几何关系包括(A)同倾,(B)侧倾,(C) A与B,(D)劳厄背反射15、定性物相分析的主要依据是(A)衍射峰位,(B)积分强度,(C)衍射峰宽,(D)以上都是16、定量物相分析要求采用的扫描方式(A)连续扫描,(B)快速扫描,(C)阶梯扫描,(D) A与B17、描述织构的方法不包括(A)极图,(B)反极图,(C) ODF函数,(D)径向分布函数18、面心立方点阵的消光条件是晶面指数(A)全奇,(B)全偶,(C)奇偶混杂,(D)以上都是19、立方晶体(331)面的多重因子是(A) 6 ,(B) 8 ,(C) 24 ,(D) 4820、哪种靶的临界激发电压最低(A) Cu ,(B) Mo ,(C) Cr ,(D) Fe21、哪种靶的K系特征X射线波长最短(A) Cu ,(B) Mo ,(C) Cr ,(D) Fe22、X射线实测线形与几何线形及物理线形的关系为(A)卷积,(B)代数和,(C)代数积,(D)以上都不是23、与X射线非晶衍射分析无关的是(A)径向分布函数,(B)结晶度,(C)原子配位数,(D)点阵参数24、宏观平面应力测定实质是利用(A)不同方位衍射峰宽差,(B)不同方位衍射峰位差,(C)有无应力衍射峰宽差,(D)有无应力衍射峰位差25、计算立方晶系ODF函数时需要(A)多张极图数据,(B)一张极图数据,(C)多条衍射谱数据,(D)一条衍射谱数据26、衍射峰半高宽与积分宽之关系通常(A)近似相等,(B)半高宽更大,(C)积分宽更大,(D)不一定27、关于厄瓦尔德反射球(A)球心为倒易空间原点,(B)直径即射线波长之倒数,(C)衍射条件是倒易点与该球面相交,(D)以上都是28、Kα双线分离度随2θ增大而(A)减小,(B)增大,(C)不变,(D)不一定29、d值误差随2θ增大而(A)减小,(B)增大,(C)不变,(D)不一定30、衍射谱线物理线形宽度随 2增大而(A)减小,(B)增大,(C)不变,(D)不一定三、填空题1、管电压较低时只产生连续谱,较高时则可能产生连续和特征谱2、K系特征X射线波长λ由短至长依次β、α1 和α23、Cu、Mo及Cr靶特征辐射波长λ由短至长依次Mo 、Cu 和Cr4、特征X射线强度与管电流、管电压及特征激发电压有关5、X射线与物质的相互作用包括散射和真吸收,统称为衰减6、结构振幅符号F,结构因子符号∣F∣2,结构因子等零称为消光7、除结构因子外,影响衍射强度因子包括多重因子、吸收因子和温度因子8、体心立方晶系的低指数衍射晶面为(110) 、(200) 和(211)9、面心立方晶系的低指数衍射晶面为(111) 、(200) 和(220)10、X射线衍射方法包括劳埃法、周转晶体法和粉末法11、衍射仪的主要组成单元包括光源、测角仪光路和计数器12、影响衍射仪精度的因素包括仪器、样品和实验方法13、衍射仪的主要实验参数包括狭缝宽度、扫描范围和扫描速度14、衍射谱线定峰方法包括半高宽中点、顶部抛物线和重心法15、精确测量点阵常数的方法包括图解外推法、最小二乘法和标样校正法16、X射线定量物相分析包括直接对比、内标和K值法17、三类应力衍射效应,衍射峰位移、衍射峰宽化和衍射峰强度降低18、X射线应力常数中包括材料的弹性模量、泊松比和布拉格角19、棒材存在丝织构,板材存在板织构,薄膜存在丝织构20、X射线衍射线形包括实测线形、物理线形和仪器即几何线形四、名词解释1、七大晶系[要点]立方晶系、正方晶系、斜方晶系、菱方晶系、六方晶系、单斜晶系及三斜晶系。
x射线传感器原理

x射线传感器原理
X射线传感器是一种用于检测和测量X射线的设备,常见于医疗成像、安检、工业质检等领域。
这些传感器利用X射线与物质相互作用的原理来获取图像或其他信息。
以下是X射线传感器的原理:
1. X射线的生成:X射线是一种高能电磁辐射,通过X射线管等设备产生。
在X射线管中,电子被加速至高速并撞击金属靶,产生X射线辐射。
2. X射线与物质的相互作用:X射线穿透物质时会发生不同的相互作用,包括吸收、散射和透射。
这些作用取决于物质的密度和成分。
3. 传感器结构:X射线传感器通常包括X射线探测器和信号处理系统。
X射线探测器可以是闪烁体探测器、半导体探测器等,用于捕获X射线与物质相互作用后的信号。
4. 信号检测:当X射线通过被检测物质时,探测器会记录X射线的吸收量或散射情况,并将这些信息转换为电信号。
5. 图像重建:通过测量X射线的吸收量或散射情况,可以重建出被检测物质的内部结构或密度分布,形成X射线影像。
6. 应用:X射线传感器在医学影像学中用于诊断和治
疗、在工业中用于质量控制和安全检测、在安全领域用于安检等。
7. 安全性:在使用X射线传感器时,需要遵循安全操作规程,以避免X射线辐射对人体和设备造成伤害。
X射线传感器通过检测X射线与物质的相互作用,可以获得有关被检测物质内部结构和密度的信息,为医学、工业和安全领域提供重要的辅助诊断和检测手段。
x射线衍射仪的工作原理

x射线衍射仪的工作原理X射线衍射仪的工作原理是基于X射线的散射现象。
当X射线通过物质时,会与物质的原子产生相互作用,通过散射来改变其传播方向和能量。
具体工作原理如下:1. 产生X射线:X射线衍射仪使用X射线管产生X射线。
X射线管中有一个阴极和阳极,当高压施加在两个电极之间时,阴极上的电子会被加速,击中阳极,从而产生X射线。
2. 照射样品:产生的X射线通过选择性选择性照射到待测样品上。
样品中的原子核和电子会与X射线发生相互作用。
3. 散射现象:当X射线与样品中的原子相互作用时,会发生散射现象。
主要有两种类型的散射,即弹性散射和无弹性散射。
- 弹性散射(Rayleigh散射):在弹性散射中,X射线与样品中的原子表面相互作用,改变传播方向,但不改变能量。
这种散射通常被忽略,因为它对X射线衍射仪的结果没有贡献。
- 无弹性散射(Compton散射):在无弹性散射中,X射线与样品中的原子内部相互作用,改变了X射线的能量。
这种散射是X射线衍射仪中非常重要的现象,因为它提供了有关样品内部结构和晶体学信息的重要数据。
4. 衍射现象:当经过样品后的X射线进入到探测器时,会发生衍射现象。
衍射是由于入射X射线在样品中被散射后,不同方向上的散射波相互叠加形成的相干波的干涉现象。
5. 探测与记录:探测器将衍射产生的干涉图案转化为电信号,并通过信号处理和记录设备将其转化为可见图像或X射线衍射图谱。
这些图像或图谱可以用于分析样品的晶体结构、晶胞参数、晶体定向和有序结构等信息。
总的来说,X射线衍射仪的工作原理是通过利用X射线与样品中原子的相互作用和散射现象,来获取样品的晶体学信息和结构参数。
衍射图案的形状和强度可以提供关于样品原子排列和晶格结构的重要信息。
第3章 X射线与物质的作用

2、电子对效应的概率
t nZ ln E
2
高能量的光子和大原子序数的介质对电子对效应 的发生是有利的。 由于医学成像的射线能量不会超过200KeV,故电 子对效应在医学成像领域不会出现。
三种作用方式的总结
1) 光子能量一般在 0.01-10MeV 范围。 2) 0.01-0.8MeV时,光电效应占主导。 0.8-4.0MeV时,康普顿散射占主导。 4.0-10..MeV时,电子对效应占主导。 3) 医学影像中X线不超过 0.3 MeV,故电子 对效应不可能发生。
康普顿散射的次级粒子
运动的自由电子 (反冲电子) 散射光子 hv散 新的标识光子
2、康普顿散射发生的概率
N e t C1
E
与介质的原子序数关系不大, 与介质的密度成正比, 与光子能量成反比。
3、康普顿散射对医学成像的影响
是X射线成像的最大散射线来源,影响成像 质量。 散射到各个方向,须加强防护。
3.1.2 光电效应
1、光电吸收现象 光电作用过程是光致电离的过程,一个 辐射光子使原子的一个壳层电子脱离原子, 变成光电子。 光子的能量用来克服电子的结合能使原 子电离,剩余部分能量变为光电子的动能。 这一现象就叫光电效应。 如果光电子来自较低能级的壳层(如K、 L层),那么留出的空位在被更高能级的电 子填充时会产生标识辐射光子。这个过程 与高速电子轰击阳极靶产生标识辐射X线光 子的过程类似。
能量较高的辐射光子在与物质相互作 用时,光子方向发生偏离,能量(频率、 波长)也发生变化。这一现象由A H Compton首先发现,他把这一现象解释为 辐射光子与“自由”电子非弹性碰撞的结 果。
图解康普顿散射
x射线显微镜成像原理

x射线显微镜成像原理
X射线显微镜是一种利用X射线进行成像的仪器。
它的成像原理主要基于材料对X射线的衍射、散射和吸收特性。
1. 衍射原理:材料的晶体结构会对入射的X射线产生衍射现象。
X射线衍射图样可以提供有关材料中原子位置和晶体结构的信息。
X射线显微镜使用高能X射线通过材料,观察并收集它们衍射的图样,从而获得有关材料内部结构的信息。
2. 散射原理:当X射线通过物质时,它们会与物质中的原子相互作用,并发生散射。
X射线显微镜利用这种散射现象来获取样品的成像。
主要有两种类型的散射:弹性散射和非弹性散射。
弹性散射是X 射线与样品中的原子相互作用,然后以同样的能量返回,提供了有关材料表面和内部结构的信息。
非弹性散射则在X射线与物质原子相互作用后,能量发生改变,提供了有关材料中电子和元激发态的信息。
3. 吸收原理:材料对不同能量的X射线有不同的吸收特性。
X射线显微镜利用这种吸收特性对材料进行成像。
被物质吸收的X射线会被探测器捕捉到,形成成像。
综上所述,X射线显微镜通过观察材料的X射线衍射图样、散射和吸收特性来获得有关材料内部结构和成分的信息,从而实现成像。
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其释放的美丽X射线 星云的直径长达150 光年。
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Coolige(库利)
Moseley(莫塞莱) Debye(德拜) Scherrer(谢乐) Scherrer(谢乐) Barrett(巴悦特) Wever(韦佛) Geiger(盖革) Mǔller(弥勒)
内 ν1/2=K(Z -σ)
发明粉末法
容
发明热阴极X射线管
提出测定微粒大小的方法 提出了测定宏观应力的方法 进行了晶粒取向的研究 发明了Geiger—Mǔller计数器
二、粒子性
① X射线是由大量以光速运动的粒子组成的不连续粒子流, 这些粒子称为光量子。每个光量子的能量:
ε=h· ν
h—普朗克常数,6.63×10-34J· s;
ν—X射线频率,ν=c/λ,λ—X射线波长
由于X射线的波长很短,所以X射线的能量很大。
② X射线可以与原子、电子相互作用,产生光电效应、荧光
成分分析
围绕X射线的性质和应用的研究,除伦琴外, 还有15项获诺贝尔奖的课题与X射线有关。
获奖 年代 1914
人物
成 就 提出了用天然晶体的晶格作为衍射 光栅,观察到了X射线的衍射现象, 证明X射线是电磁波 康普顿散射,揭示了X射线光子的 粒子性
劳厄
1915 布拉格父子 利用X射线衍射进行晶体结构分析 1927 康普顿
注意:公式的单位:λ0:nm;
3、X—ray的强度(Intensity)
X—ray的强度是指单位时间内,通过与X—ray传播方向
垂直的单位面积上的光量子数。 库伦坎普弗(Kulenkampff)经验公式: Iλdλ=αI(1/λ2)(1/λ0-1/λ) dλ Iλdλ表示波长在
λ与λ+dλ之间X—ray的强度,
1.1.2 X射线的本质
所在电磁波段
一、波动性
① X射线以光速直线传播,c=2.998×108m/s。
② X射线的波长范围是:λ=10~0.001nm。
在材料研究中,用于晶体结构分析时,X射 线的波长范围一般在0.25~0.05 nm之间,若用 于探伤,其波长一般取0.1~0.005 nm。 ③ X射线之间可以相互作用,产生干涉、衍射等 现象。
⑤若改变阳极靶元素
则X—ray谱形式不变,上述规律也不变,但谱线位置变化。
通常,随着原子序数增大,各种波长的相对强度增大。
连续谱线的产生原因:
因为不同的电子,就不同。
由于存在大量电子,故可以得到各种波长的
X—ray,从而形成连续X—ray谱。
2、短波限λ0
根据原子模型定义各种谱线: 如果是K层电子被外来的高能粒子轰击出去,则称为K系 激发,随之进行的电子跃迁引起的辐射就称为K系辐射, 所产生的特征X射线就称为K系谱线;
同理,把L层电子被击出的过程称为L系激发,随之的电子 跃迁引起的辐射称为L系辐射,所产生的特征X射线就称 为L系谱线。
…等等。
在一种谱系中,按照电子跃迁时所跨越的能
Iλ称为波长λ处的X—ray强度密度, α为常数, α≈1.1~1.5×10-9, I为管电流。
I 连= I d=IZV
0
2
Z —— 阳极靶的原子序数 V—— 管电压 I —— 管电流 X—ray的强度与I、Z、V2成正比.
4、X—ray管的效率(efficiency)
X—ray管的效率是指:
特征X射线的产 生过程: 原子激发→ 电子跃迁→ 释放能量→ 产生特征X射线
二、产生装置
热阴极X射线管(也称电子式X射线管)
X射线管
阴极射线管显示器发出电磁场和辐射: X射线、紫外线、可见光、红外线、微 波、射频、VLF场(甚低频场)和ELF 场(极低频场)。
上 海 大 光 源 同步辐射 XRD装置
按n次方规律增大。
I特=c I(V-V激)n
c —比例常数,
n=1.5~2,也是常数。
④ (特征X射线) / (连续X射线) 强度的比值,
称为特征谱线的峰背比。
在X射线管的工作电压为激发电压的3~5
倍时最大,即:
V=(3~5)V激时,I特/ I连最大。 →工作电压的选择原则。
2、特征谱线产生机理(原子模型)
元素 原子序数
Ag
47
Mo
42
Cu
29
Ni
28
Co
27
Fe
26
Cr
24
V激,kV
波长 Kα1
× 10-2 Kα2 nm
25.52
20.00
8.98
8.33
16.5791 16.6175 15.6919 15.0014
7.71
17.8897 17.9285 17.9026 16.2079
7.11
19.3604 19.3998 19.3735 17.5661
辐射等现象。
三、穿透能力强
X射线穿透能力强。它能够穿透木块、玻璃, 甚至金属(“铅”除外)。 伽玛射线、微中子(中微子)穿透力更强。
这个50,000吨的巨 型圆柱中微子探测 器,座落在日本 kamioka mozumi矿 山的地下1,000米深 处,用来做探测中 微子、质子衰变、 宇宙射线等等研究。 它的“超净化注水 墙壁”上安装了大 约12,000个超敏感 的光电倍增管,这 使它看上去带有科 幻电影般的恐怖美 丽。
由高速运动的粒子与某种物质相撞击后 猝然减速,释放大量的动能,从而激发
物质中的内层电子发生跳越,而产生的
一种电磁波。
连续谱
不同电子,损耗不
同,转变的X—ray 光子能量不同,其 波长就不同。由于 存在大量电子,故 可以得到各种波长 的X—ray,从而形 成连续X—ray谱。
标识谱 – 能级跃迁
第一节 X射线的物理基础
1.1.1
1.1.2
1.1.3 1.1.4 1.1.5
X射线的发现与应用 X射线的本质 X射线的产生及X射线管 X射线谱(X—ray line) X射线与物质的相互作用
1.1.4 X射线谱(X—ray line)
X射线谱是指X—ray强度I随波长λ而变化的关系曲线。
短波限的存在原因: 由灯丝发射出的电子经高压电场加速,电场的位能将转化
为电子的动能:
(1/2)mυ2=e V V-管电压,e -电子的负荷
当一个电子的动能毫无损失地全部转化为一个X—ray光子
时,光子将达到最高的能量:εmax=hνmax, 此时,X射线就具有了最大的频率νmax和最短的波长λ0。
短波限λ0的推导与计算 :
两种类型:
①连续X—ray谱
是从某一短波限λ0开始,直到波长等于无穷大λ∞的一系 列波长构成,也称为白色X—ray。
②特征X—ray谱:
是具有一定波长的若干特强的X—ray,叠加在强度连续平 滑变化的连续谱之上,也叫标识X—ray。
一、连续X—ray谱 1、实验规律
连续X—ray谱具有下述规律:
电子 储存 环旁 实验 站
三、X射线的产生条件 ①能产生自由电子的电子源(阴极); ②能阻碍自由电子运动的障碍(阳极靶); ③能够使自由电子高速定向运动(加高压); ④能够保持电子流稳定(加高真空)。
冷阴极X射线管(离子式X射线管):
先通过电离,产生正离子;
然后用正离子撞击阴极,放出电子; 再让电子高速运动,撞击阳极,产生X射线。
钱德拉太空望远镜
§1.1 X射线的物理基础
一、X射线学发展简史
伦 琴
W.K.Röntgen
(1845-1923)
1895年发现X射线 1910年第一张诺贝尔物理学奖
1912年劳厄:劳埃方程 1914年获诺贝尔奖
1913年布拉格父子:布拉格方程 1915年获诺贝尔奖
时 间
1913年
1914年 1916年 1918年 1925年 1926年 1928年
级数目的不同,又可以将同一辐射线系分成
若干小类。 分类的原则是: 对跨越1、2、3、…个能级所引起的辐射分
别标以α、β、γ、…等符号。
这样就出现了Kα、Kβ、Lα、Lβ等谱线。
hc E光子 WK WL
hc WK WL
3、莫塞莱定律(Moseley) ν1/2=K΄(Z-σ) or (1/λ)1/2=K(Z-σ) Z—阳极靶元素的原子序数; K΄、K、σ均为常数。 应用: ①是波谱分析的基本依据; 式中:ν、λ分别为特征X射线的频率和波长;
随管电压V增大——
① 各种波长射线的相对强度I(λ)一致增高。 ② 最高强度X—ray的波长λm变短。 ③ 短波限λ0 变小,即λ0向左方移动,同时,波 谱变宽。
可见:管电压既影响X—ray的强度,也影响 X—ray的波长范围。
④若管电压V保持恒定
增大管电流I,则强度一致增高;但波长λm、λ0数值大小不 变,即管电流不影响波长。
5.99
22.8971 22.9361 22.9100 20.8487
5.5941 7.0930 15.4056 5.6380 7.1359 15.4439 5.6084 7.1073 15.4184 4.9709 6.3229 13.9222
Kα Kβ1
③当管电压超过激发电压而进一步升高时,
特征X射线的波长不变,仅强度升高,且
(X—ray的强度) / (X—ray管功率)比值.
η= I连/P = αIZV 2/IV = αZV ∴ η 主要与Z、V呈正比.