射频可测试性设计规范

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射频测试方案

射频测试方案
2.测试人员:具有相关专业背景和资质的测试工程师;
3.测试场地:符合国家及行业标准的测试实验室。
七、测试流程
1.测试准备:了解被测设备的技术规格,确定测试项目和方法;
2.测试实施:按照测试方案进行各项性能测试;
3.数据分析:对测试数据进行整理、分析,形成测试报告;
4.结果反馈:将测试结果反馈给设备制造商,协助其改进产品性能;
3.评估射频设备的抗干扰能力;
4.检验射频设备在极端环境条件下的可靠性。
三、测试范围
1.射频发射测试;
2.射频接收测试;
3.射频抗干扰测试;
4.射频环境适应性测试。
四、测试依据
1.国家及行业标准:如《无线通信设备射频技术要求》等;
2.设备制造商提供的技术规格书;
3.测试实验室的相关规定。
五、测试项目及方法
5.测试报告:出具符合国家及行业标准的测试报告。
八、测试结果判定
测试结果根据国家及行业标准进行判定,符合标准要求的视为合格,否则为不合格。
九、方案实施与监督
1.本测试方案由测试实验室负责实施;
2.设备制造商应积极配合测试工作,提供必要的技术支持;
3.测试过程中,如有疑问或争议,双方应及时沟通,确保测试工作的顺利进行;
1)使用射频信号发生器产生标准信号,发送至被测设备;
2)使用矢量网络分析仪或其他测试仪器监测被测设备的接收性能;
3)测试结果与标准要求进行比对。
3.射频抗干扰测试
(1)测试内容:邻道干扰抑制、同频干扰抑制、窄带干扰抑制等。
(2)测试方法:
1)使用射频信号发生器产生干扰信号,注入被测设备;
2)观察被测设备在干扰条件下的性能变化;
3)按照国家标准和设备制造商的技术规格要求,对测试结果进行评估。

射频可测试性设计规范

射频可测试性设计规范

Q/SY深圳市远望谷信息技术股份有限公司企业标准Q/SY XXXX–2009射频可测试性设计规范2010-XX-X发布 2010-XX-XX实施深圳市远望谷信息技术股份有限公司发布目录前言本标准的其它系列标准:与对应的国际标准或其它文件的一致性程度:本标准参考内容,结合我司实际制定/修订。

本标准由深圳市远望谷信息技术股份有限公司中试部提出。

本标准由深圳市远望谷信息技术股份有限公司技术部归口。

本标准起草部门:中试部。

本标准主要起草人:彭辉、王文财。

本标准于2010年8月首次发布。

射频可测试性设计规范1范围和简介1.1范围本规范主要规范RF单板ICT DFT 设计和FT DFT 设计,适用于产品设计中的所有成员,特别包括硬件方案设计人员,原理图项目人,RF硬件设计人员,RF 互连设计工程师、ICT 装备工程师。

本规范适用于RF单板ICT 和FT DFT 的设计。

1.2简介本规范规定了RF单板ICT DFT 设计方法和FT DFT 设计方法,适用在RF单板方案设计阶段、PCB 布局阶段和ICT 软件编程阶段。

要求开发工程师和RF CAD 设计工程师在单板方案设计、PCB 布局时遵守此规范进行ICT 测试点和FT可测试性设计,ICT 装备工程师遵守此规范进行ICT 软件编程。

制定本规范的目的之一是收集整理产品设计过程中好的射频FT DFT 设计方法并加以总结、推广,旨在从设计源头加强射频FT DFT 设计的有效性和规范性,帮助DFT 设计人员和产品开发人员更好的实现产品的射频FT DFT 特性。

1.3关键词RF,DFT,ICT,FT,ICT 测试点。

2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。

凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。

凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。

38.104射频测试标准

38.104射频测试标准

38.104射频测试标准
首先,38.104标准覆盖了射频参数的测量,包括发射功率、接收灵敏度、频率误差等。

这些参数的准确性对于设备在无线通信中的稳定性和可靠性至关重要。

通过对这些参数进行测试,可以确保设备在正常工作范围内表现良好。

其次,该标准还涉及到设备在不同工作条件下的性能测试,比如在不同环境温度下的工作情况、在干扰环境下的抗干扰能力等。

这些测试可以帮助评估设备在现实使用场景下的表现,确保设备在各种条件下都能够正常工作。

此外,38.104标准也包括了对设备发射频谱的测试,以确保设备在发射时不会对其他无线设备造成干扰。

这对于保障整个无线通信网络的稳定性至关重要。

总的来说,38.104射频测试标准涵盖了广泛的测试项目,旨在全面评估射频设备的性能。

通过遵循这一标准进行测试,可以确保设备在无线通信中表现良好,同时也有利于保障整个无线通信网络的稳定性和可靠性。

5g射频测试标准

5g射频测试标准

5g射频测试标准
5G射频测试标准主要由国际电信联盟(ITU)和3rd Generation Partnership Project(3GPP)制定,并且还有其他各种标准和规范组织制定的相关标准。

以下是一些与5G射频测试相关的主要标准:
1.3GPP标准:3GPP是制定5G技术标准的组织之一。

他们发布了一系列的技术规范,其中包含5G射频测试的要求和指南。

2.ITU标准:国际电信联盟(ITU)发布了一些与5G射频测试有关的推荐标准,这些标准指导了5G网络的规划和部署,以及测试方法。

3.CTIA标准:美国无线电通信产业协会(CTIA)发布了一些与5G射频测试相关的测试计划和要求,这些标准广泛用于无线设备的认证。

4.5G射频测试要求:根据不同国家和地区的监管要求,各地的通信管理机构可能发布了适用于当地市场的5G射频测试要求,供设备制造商和运营商遵循。

需要注意的是,由于技术和标准的不断发展,可能已经有新的5G 射频测试标准出台或旧标准有所修改。

因此,在实际应用中,最好参考最新的3GPP、ITU、CTIA和当地通信管理机构发布的相关标准和指南,以确保测试的准确性和合规性。

1/ 1。

射频测试规范

射频测试规范

规范 WCDMA 射频测试标准,使工程师在作业时有所遵循,特制订本规范。

本规范合用于公司研发的 WCDMA 产品项目。

3GPP TS 34.121《 3rd Generation Partnership Project;Technical Specification Group Radio Access Network User Equipm ent (UE ) radio transmission and reception (FDD ) (Release 9)》 3GPP TS 25.133《3rd Generation Partnership Project;Technical Specification Group Radio Access Network;Requirements for support of radio resource management (FDD) (Release 9)》ACLRACSAWGN BERBLER CPICH CQICWDCHDPCCHDPCH DPDCH DTX Ec EVM FDD Fuw HARQ HS-DPCCH HS-PDSCH HS-SCCH Iblocking IoIoacIoc谱密度 IorAdjacent Channel Leakage power Ratio 邻道泄漏抑制比 邻道选择性 加性高斯白噪声Bit Error Ratio Block Error RatioCommon Pilot ChannelChannel Quality Indicator 误比特率 误块率 公共导频信道 信道质量指示 Continuous Wave (un-modulated signal) 连续波(未调制信号) Dedicated Channel 专用信道(映射到专用物理信道) Dedicated Physical Control Channel 专用物理控制信道 Dedicated Physical Channel 专用物理信道 Dedicated Physical Data Channel 专用物理数据信道Discontinuous Transmission Average energy per PN chip Error Vector MagnitudeFrequency Division Duplex Frequency of unwanted signal 非连续发射每一个伪随机码的平均能量 误差矢量幅度频分复用 非实用信号频率 Hybrid Automatic Repeat Request 自动混合重传请求High Speed Dedicated Physical Control Channel 高速专用物理控制信道 High Speed Physical Downlink Shared Channel 高速物理下行共享信道 High Speed Shared Control Channel 高速共享控制信道 Blocking signal power level 阻塞信号功率电平 The total received power spectral density 总接收功率频谱密度The power spectral density of the adjacent frequency channel 邻信道功 率谱密度 The power spectral density of a band limited white noise source 带 限 白噪声功率The total transmit power spectral density of the downlink signal at the Node B antenna connector 基站发送的总功率谱密度 Îor The received power spectral density of the downlink signal as measured at the UE antenna connector 下行链路所接收的功率谱密度 Iouw Unwantedsignal power level 非实用信号功率电平OCNS Orthogonal Channel Noise Simulator 正交信道噪声摹拟器Adjacent Channel Selectivity Additive White Gaussion NoisePCCPCH PICH PRACH Qqualmin Qrxlevmin <REFÎor>Primary Common Control Physical Channel 主公共控制物理信道 Paging Indicator Channel 寻呼指示信道 Physical Random Access Channel 物理随机接入信道 Minimum Required Quality Level 小区质量最小需求 Minimum Required Rx Level 小区信号电平最小需求Reference orI ˆ<REFSENS> Reference sensitivity 参考灵敏度 RRC Root-Raised Cosine 根升余弦 RSCP Received Signal Code Power 接收信号码功率SCHSFTFCUE UTRAUTRAN Synchronisation Channel Spreading Factor Transport Format Combination 传输格式集合 User Equipment 用户设备UMTS Terrestrial Radio Access 陆地无线接入UMTS Terrestrial Radio Access Network 陆地无线接入网络正常环境: 15℃~35℃ ;湿度控制在 20~75% ;常压。

射频功放设计指南

射频功放设计指南
第一章
射频功率放大器的设计一般分为五个步骤,即制定设计方案、选择确定具体电路形式和关键器件、进行专项实验或单板实验、结构设计和PCB详细设计、可生产性和可测试性设计分析。
一.1
在设计射频功率放大器时,首先要根据给定的(或需要的)技术指标和功能指标做出设计方案。设计方案的主要依据是额定输出功率、线性度(ACPR/IMD)、载波数、功耗/效率等指标。
B=10log[1+10-A/10] (5)
方程式(5)可以表示为图1.6中的曲线。
图1.6级联放大器中驱动级互调系数对末级互调系数的影响曲线
通过相同的公式(5),可以获得不同A值的劣化值B,如表1.2所示。
表1.2和B的对应值
驱动级A优于最后一级的IMD3(dB)
末级交叉调制恶化值(dB)
0


1.2
一.5
在详细设计结构和PCB时,我们应该考虑可生产性和可测试性的设计。这时候生产线技术人员就可以提前介入,从产能和可测性方面指导我们的设计,让产能和可测性的问题在设计初期就得到解决,从而避免二板设计的大变动,尽可能避免三板设计的发生,节省人力、财力和时间,缩短研发周期,及时量产,抢占市场。
简而言之,射频功率放大器的设计步骤可以概括为:首先,根据给定(或要求)的技术和功能指标,制定设计方案;然后根据设计方案选择具体的电路形式和关键器件;具体电路形式和关键器件确定后,在仿真的基础上进行PCB设计(包括结构实验件的设计);在各单元板专项实验的基础上,进行各单元板的详细设计和结构件的详细设计(包括热设计和电磁屏蔽、产能和可测性设计);根据第一块板的调试情况和高低温的结果,进行第二块板的改进设计,解决第二块板的所有问题,尽量避免第三板设计的发生。
一.1.1

射频指标及测试方法

射频指标及测试方法

射频指标及测试方法射频指标是指在射频电路设计和测试中用来描述电路性能的参数。

它们包括射频功率、频率、增益、带宽、噪声系数、相位噪声等指标。

下面将介绍几个常见的射频指标及其测试方法。

1.射频功率:射频功率是指射频信号在电路中传输或输出时的功率大小。

常用的射频功率单位有瓦特(W)、分贝毫瓦(dBm)等。

测试射频功率的方法主要有功率计和功率分配器。

-功率计是一种可以测量射频信号功率的仪器。

它通过接收射频信号并测量其功率大小,适用于不同功率级别的测量。

-功率分配器是一种可以将射频信号分配给多个测量点的设备。

它通常包含多个输出端口和一个输入端口,可以将输入信号按照一定的功率比例分配到各个输出端口上,用于同时测量多个信号的功率。

2.频率:频率是指射频信号的振荡频率。

在射频电路设计和测试中,往往需要准确测量射频信号的频率。

常用的测量方法有频谱仪和频率计。

-频谱仪是一种可以将射频信号的频谱显示出来的仪器。

它可以显示出信号的频率分布情况,包括主要的频率成分和谐波成分。

通过观察频谱仪上的显示,可以准确测量射频信号的频率。

-频率计是一种可以直接测量射频信号的频率的仪器。

它可以通过连接到射频电路上,直接读取射频信号的频率值。

3.增益:增益是指射频信号在电路中传输或放大时的信号增强的程度。

在射频电路设计和测试中,测量增益是非常重要的。

常用的测量方法有功率计和射频网络分析仪。

-功率计测量增益的方法是通过测量射频信号的输入功率和输出功率,计算出功率的增益。

-射频网络分析仪是一种可以测量射频电路的传输属性的仪器。

它可以通过测量射频电路的S参数(散射参数),计算出射频信号在电路中的增益。

4.带宽:带宽是指射频信号的频率范围。

在射频电路设计和测试中,测量带宽是评估电路性能的重要指标。

常用的测量方法有频谱仪和网络分析仪。

-频谱仪测量带宽的方法是通过观察频谱仪上的显示,找到射频信号的起始频率和终止频率,计算出频率范围,即为带宽。

-网络分析仪测量带宽的方法是通过测量射频电路的S参数,找到电路的3dB带宽,即为带宽。

5G终端FR1射频测试规范解析

5G终端FR1射频测试规范解析

引言随着移动通信的发展,5G将以可持续发展的方式,逐渐凭借高速率、低时延的体验,海量设备接入能力,高流量密度、高移动性等多种优势,进入社会各个角落,并逐渐实现人与事物的万物互联。

但5G技术越来越复杂化和多样化,超量的设备连接与超高速的速率对频谱资源也提出了更高的要求;未来在2G、3G和4G等模式的长期共存下,5G将不断发展成为一个多空口接入的融合系统。

在通信领域,针对这样一个复杂的射频信号进行测试是当下的热点话题。

本文将从3GPP规范入手,介绍一些关于FR1(Frequency Range 1,也称为sub6G;频率范围为450 MHz~ 6 GHz)的射频测试系列。

其中着重探讨TS 38.101-1/3射频系列测试规范、TS38.508与TS38.521-1/3终端一致性系列规范,并针对重要FR1射频参数进行详细解析。

另外,总结了射频测试的准备与注意事项,供测试工程师参考。

1 射频测试规范3GPP对协议法规都设有相应编码,而5G NR(新空口)系列的法规主要集中在38系列,其中TS为标准协议,TR为技术性报告或学术研究。

各组的标准协议按顺序,可依次分成:38.1系列(射频规范)、38.2系列(物理层规范)、38.3系列(空中接口规范)、38.4系列(接入网网口规范)、38.5系列(终端一致性规范)。

5G FR1射频常规的测试规范如表1 所示。

2 射频测试参数及测试要求除非特殊情况下,FR1的终端射频指标要求符合(在一个或多个)天线连接口的传导功率要求。

3GPP定义了单载波、载波聚合、EN-DC等情况,本节着重分析部分FR1射频参数的定义、测试目的及限值要求[1]。

2.1 输出功率(1)最大输出功率最大输出功率指5G终端在带宽内,发送任意载波的最大输出功率。

目前常见5G综测仪均可直读,测量时间至少为一个子帧。

5G终端支持多个功率等级的发送。

以目前常见的NR频段为例,各UE等级的最大输出功率限值如表2。

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DKBA 华为技术有限公司内部技术规范DKBA4247-2005.8 射频可测试性设计规范2005年9月10日发布2005年9月10日实施华为技术有限公司Huawei Technologies Co., Ltd.版权所有侵权必究All rights reserved修订声明Revision declaration本规范拟制与解释部门:本规范的相关系列规范或文件:《ICT可测试性设计规范》相关国际规范或文件一致性:替代或作废的其它规范或文件:相关规范或文件的相互关系:《射频可测试性设计规范》包括了《ICT可测试性设计规范》中的《射频ICT可测试性设计规范》,并增加了《FT可测试性设计规范》内容,最后合并为统一的《射频可测试性设计规范》,以后《射频ICT可测试性设计规范》将随本规范升级。

本规范版本升级更改主要内容:本规范为最初版本。

本规范主要起草专家:部门:无线装备部无线基站开发管理部本规范主要评审专家:部门:无线装备部总体技术部工艺测试研究部无线基站开发管理部本规范历次修订情况:规范号主要起草专家主要评审专家Doc No.DKBA4247-2005.08目录Table of Contents1射频单板ICT DFT设计 (6)1.1射频单板ICT测试点设计规则 (6)1.2射频器件ICT DFT设计规则 (8)1.2.1射频放大器和场效应管放大器 (8)1.2.2MMIC射频开关 (9)1.2.3MMIC射频衰减器 (10)1.2.4射频VCO (11)1.2.5射频锁相环 (11)1.2.6集成频率综合器 (12)1.2.7滤波器 (12)1.2.8射频调制器 (12)1.2.9隔离器 (12)1.2.10环行器 (12)1.2.11阻抗变换器 (12)1.2.12射频混频器 (13)1.2.13功分器 (13)1.2.14耦合器 (13)1.2.15功放过流告警电路测试 (13)2射频单板、模块FT DFT设计 (14)2.1射频单板连接器归一化 (14)2.2射频单板外接电源插座归一化 (14)2.3基站天馈系统驻波检测设计 (14)2.4基站射频模块对外接口设计 (14)2.5基站双工器可测试性设计 (15)2.6基站功放模块可测试性设计 (15)2.7基站低噪放可测试性设计 (15)2.8基站TRX单板或模块可测试性设计 (16)3参考文献Reference Document (16)表目录List of Tables表1 XX表Table 1 XX......................................................................................错误!未定义书签。

图目录List of Figures图1某公司功放模块单板微带线上ICT测试点设置方法 (6)图2某公司频率综合源RF通路微带线分支ICT测试点设置方法 (7)图3某公司数字衰减器AT-210控制端ICT测试点设置方法(表贴式) (7)图4ICT测试点设置在扼流线圈和限流电阻之间 (8)图5ICT测试点设置输出微带线上 (8)图6放大器前直接是耦合电容ICT设置方法 (9)图7射频开关电源端ICT测试点设置方法 (9)图8射频开关控制端ICT测试点设置方法 (10)图9射频衰减器电源端ICT测试点设置方法 (10)图10射频衰减器电源端ICT测试点设置方法 (11)图11射频衰减器控制端和射频输入输出端ICT测试点设置方法 (11)图12功放电流检测电路部分ICT测试点设计 (14)射频可测试性设计规范范围本规范主要规范RF单板ICT DFT设计和FT DFT设计,适用于产品设计中的所有成员,特别包括硬件方案设计人员,原理图项目人,RF硬件设计人员,RF CAD设计工程师、ICT装备工程师。

本规范适用于RF单板ICT和FT DFT的设计。

简介本规范规定了RF单板ICT DFT设计方法和FT DFT设计方法,适用在RF单板方案设计阶段、PCB布局阶段和ICT软件编程阶段。

要求开发工程师和RF CAD设计工程师在单板方案设计、PCB布局时遵守此规范进行ICT测试点和FT可测试性设计,ICT装备工程师遵守此规范进行ICT软件编程。

制定本规范的目的之一是收集整理产品设计过程中好的射频FT DFT设计方法并加以总结、推广,旨在从设计源头加强射频FT DFT设计的有效性和规范性,帮助DFT设计人员和产品开发人员更好的实现产品的射频FT DFT特性。

关键词RF,DFT,ICT,FT,ICT测试点。

规范性引用文件无。

术语和定义RF:Radio Frequency,无线电频率。

ICT:In- Circuit Test,在线测试BUT:Board Under Test,被测单板DFT:Design- for- Test,可测试性设计FT:Function Test,功能测试MMIC:Microwave Monolithic Integrated Circuit,微波单片集成电路缩略语Abbreviations 英文全名Full spelling 中文解释Chinese explanation RF Radio Frequency 无线电频率ICT In- Circuit Test 在线测试DFT Design- for- Test 可测试性设计FT Function Test 功能测试MMIC Microwave Monolithic Integrated微波单片集成电路Circuit1 射频单板ICT DFT设计1.1射频单板ICT测试点设计规则规则1.1.1:射频微带线上的ICT测试点的直径设置为40mil,特殊情况下最小可允许为32mil(需要与ICT工程师确认)。

所以PCB设计时,微带线线宽最好设置在30mil以上,尽量减小测试点阻抗的不连续性。

说明1:如果射频微带线上有过孔,过孔直径设置为40mil,特殊情况下最小可允许为32mil (需要与ICT工程师确认),仿真通过后,将该过孔属性设置成ICT测试点属性,则该过孔可以直接作为ICT测试点。

说明2:如果射频微带线上没有过孔,则微带线上ICT测试点类型选用表贴式,直径设置为40mil,特殊情况下最小可允许为32mil(需要与ICT工程师确认),仿真通过后,将表贴式测试点属性设置成ICT测试点属性。

规则1.1.2:射频微带线上的ICT测试点尽量放在微带线上,见图1。

对于1GHz以下的信号,如果布局紧密,微带线上的ICT测试点也可以适当设置在分支线上,见图2;对于1GHz以上的信号,微带线上的测试点要求放在微带线上,如果空间局限必须设置在分支线上,可以最后进行防真,将ICT测试点的影响降低到最小。

图1某公司功放模块单板微带线上ICT测试点设置方法图2某公司频率综合源RF通路微带线分支ICT测试点设置方法规则1.1.3:其它非微带线上的ICT测试点设计规则见《ICT可测试性设计规范》中第四章ICT机械设计规范。

说明:非微带线上的ICT测试点可以是过孔型式,也可以是表贴式。

见图3,某公司单板AT-210数字衰减器控制端ICT测试点为表贴式。

图3某公司数字衰减器AT-210控制端ICT测试点设置方法(表贴式)1.2 射频器件ICT DFT设计规则1.2.1 射频放大器和场效应管放大器规则1.2.1.1:放大器直流工作点设置ICT测试点,可以检测放大器直流工作点电压是否正常。

说明1:如果放大器输出端直接与扼流电感相接,则放大器直流工作点测试点设置在扼流电感与限流电阻之间,见图4;如果放大器输出端直接与限流电阻相接,则放大器直流工作点测试点直接设置在放大器输出端,见图5。

具体应按实际电路及布线情况确定。

图4ICT测试点设置在扼流线圈和限流电阻之间图5ICT测试点设置输出微带线上建议1.2.1.1:如果空间布局允许,建议在放大器输入端的微带线上也设置ICT测试点,可以检测放大器输入工作点电压是否正常。

说明1:射频放大器输入端ICT测试点的设置在放大器输入管脚附近,见图6。

图6放大器前直接是耦合电容ICT设置方法1.2.2 MMIC射频开关规则1.2.2.1:射频开关电源端设置ICT测试点,可以检测射频开关电源端电压是否正常,进一步判断器件电源端工作电流的大小,筛选出电源端漏电偏大的失效器件。

说明1:电源端ICT测试点设置在器件管脚附近,见图7,可以直接检测器件的工作电压。

为达到筛选出漏电流偏大的器件,电源端限流电阻不能低于2.2K。

图7射频开关电源端ICT测试点设置方法规则1.2.2.2:射频开关控制端设置ICT测试点,可以检测射频开关控制电压状态,进一步判断器件控制端工作电流的大小,筛选出控制端漏电偏大的失效器件。

说明1:射频开关控制端ICT测试点设置在器件控制端管脚附近,见图8。

可以直接检测器件控制端工作电压。

为达到筛选出漏电流偏大的器件,控制端限流电阻不能低于2.2K。

图8射频开关控制端ICT测试点设置方法1.2.3 MMIC射频衰减器规则1.2.3.1:射频衰减器电源端设置ICT测试点,可以检测射频衰减器电源端电压是否正常,进一步判断器件电源端工作电流的大小,筛选出电源端漏电偏大的失效器件。

说明1:射频衰减器电源端ICT测试点设置在器件电源端管脚附近,见图9,可以直接检测器件的电源电压。

有些射衰减器电源端和射频端口是同一端口,则只加一个ICT测试点即可,见图10。

为达到筛选出电源端漏电流偏大的器件,电源端限流电阻不能低于2.2K。

图9射频衰减器电源端ICT测试点设置方法图10射频衰减器电源端ICT测试点设置方法规则1.2.3.2:射频数字衰减器控制端口设置ICT测试点,可以检测射频衰减器控制电压状态,进一步判断器件控制端工作电流的大小,筛选出控制端漏电偏大的失效器件。

说明1:射频数字衰减器控制端ICT测试点设置在器件控制端管脚附近,见图11。

可以直接检测器件控制端工作电压。

为达到筛选出漏电流偏大的器件,控制端限流电阻不能低于2.2K。

图11射频衰减器控制端和射频输入输出端ICT测试点设置方法1.2.4 射频VCO规则1.2.4.1:VCO电源端设置ICT测试点,可以检测VCO电源工作电压是否正常。

规则1.2.4.2:VCO模拟电压控制端设置ICT测试点,可以检测控制电压初始电压范围。

1.2.5 射频锁相环规则1.2.5.1:锁相环电源端设置ICT测试点,可以检测集成锁相环电源工作状态。

建议1.2.5.1:锁相环失锁指示端设置ICT测试点,检测锁相环失锁状态。

1.2.6 集成频率综合器规则1.2.6.1:集成频率合成器VCO电源端设置ICT测试点,检测VCO电源电压供电是否正常。

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