牛津最新款镀层测厚仪X-Strata920简介
镀层测厚仪简介
镀层测厚仪简介镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。
为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。
镀层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。
这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X 射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。
β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。
电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。
测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。
它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。
工作原理：镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。
测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。
同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
测量原理：一．磁吸力测量原理及测厚仪永jiu磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。
这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。
鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用最广。
测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。
磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。
当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。
新型的产品可以自动完成这一记录过程。
不同的型号有不同的量程与适用场合。
牛津日立精工镀层测厚仪参数对比
服务能力
备注
元素周期表中17号到21号元素分别是氯，氩，钾， 钙，钪。基本镀层中没有这些元素，因此这三款仪 器的的实际测量范围是一样的。 X-Strata920测厚仪可同时分析的元素更多，即解析 谱图的能力更强，抗干扰能力更强 三款仪器的测量方向一致
在测量不同的镀层种类时,可选择不同KV的高压，, 因为不同的电压激发不同能量段的元素。如果测量 的元素与高压不匹配时，会产生不必要的噪音和干 扰信号，这样会对测量的结果有影响。X-Strata920 的高压可调挡位最多，在建立测量程序的时候，就 选择并固定了与之相对应的高压。以保证用最合适 的电压进行测量得到最精确的测量结果。
操作软件
FP方法和经验系数法，用户可自 FP方法，用户不能自由新建校准曲 FP方法和经验系数法，用户可自由 由新建校准曲线 线，除非单独购买额外软件包 新建校准曲线
样品观察
彩色CCD系统，可观察测量点位置 彩色CCD系统，可观察测量点位置 彩色CCD系统，可观察测量点位置 并保存图像 并保存图像 并保存图像
全自动样品台，Z轴镭射自动对 全自动样品台，Z轴镭射自动对 焦，XY程控，样品台尺寸 样品台（仓）尺 Z轴采用图像对焦模式，XY手动样 ，XY程控，样品台尺寸260 mm 650*610mm，移动距离 品台 寸 x 210 mm，移动距离250*200mm 178*178mm。带有样品对位用激 。 光指示点，方便客户对准样品测量 位置
X-Strata920采用牛津仪器独有的微聚焦射线管，单 位照射面积光通量更大，激发效果最好。市场大品 牌仪器大部分使用牛津X射线管。牛津的X射线管是 厚度测量和元素测试行业，业界公认最好、最稳定 的光管。 相当
相当
X-Strata920和FT110的软件系统开放性更强，可适 应用户在产品镀层结构方面的不断变化，客户可以 自由建档，自己校准而不需要依赖生厂厂家。
涂镀层测厚仪的分类 测厚仪技术指标
涂镀层测厚仪的分类测厚仪技术指标依据测量原理一般有以下几种类型:1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢铁银镍.此种方法测量精度高2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量.此种方法较磁性测厚法精度低3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵测量精度也不高.4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层.一般精度不高.测量起来较其他麻烦。
5.切割破坏式测厚仪:涂层以一个定义的角度被划破到基材，涂层的厚度（s）依据切割面的三角形投影（b）计算出来，这由一个显微镜和切割角（а）决议。
适用于常规的电磁测量技术不能工作的情况。
紧要测量木头、混凝土、塑料和其它非金属基材上的涂层6.放射测厚法:此种仪器价格特别昂贵（一般在10万RMB以上）,适用于一些特别场合.国内目前使用较为普遍的是第12两种方法。
测厚仪英文名称为thicknessgauge，是一类用来测量材料及物体厚度的仪表，在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度。
那么我们常见的几种测厚仪的工作原理是什么？下面就来了解下：1、激光测厚仪激光测厚仪：此类测厚仪是利用激光的反射原理，依据光切法测量和察看机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。
2、X射线测厚仪X射线测厚仪：此类测厚仪利用的是当X射线穿透被测材料时，X射线强度的变化与材料厚度相关联的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。
3、超声波测厚仪超声波测厚仪：这种测厚仪是依据超声波脉冲反射的原理来对物体厚度进行测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲会发生反射而返回探头，通过精准明确测量超声波在材料中传播的时间，来计算被测材料的厚度。
4、涂层测厚仪涂层测厚仪：紧要接受的是电磁感应法来测量涂层的厚度。
牛津仪器推出最新X射线镀层测厚仪
牛津仪器推出最新X射线镀层测厚仪
佚名
【期刊名称】《电子质量》
【年(卷),期】2012(000)011
【摘要】牛津仪器非常荣幸地推出新款X-Strata920X射线荧光（XRF）镀层测厚和材料分析仪。
该X-Strata920结合了大面积正比计数探测器和牛津仪器微聚焦X射线光管，使X射线光束强度大、斑点小，样品激发更佳，榍保同级别中精确性最好，分析结果只需要几秒钟，从而获得更有效的过程控制和性价比。
【总页数】2页(P55-56)
【正文语种】中文
【中图分类】TH821.1
【相关文献】
1.牛津仪器发布新款涂镀层测厚仪 [J],
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3.牛津仪器公司两款最新涂镀层测厚仪问世 [J],
4.牛津仪器推出世界首款带温度补偿功能的铜箔测厚仪 [J],
5.牛津仪器推出两款最新高性能手持式X射线荧光光谱仪 [J],
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涂镀层厚度检测方法
涂镀层厚度检测方法
1.电磁涂层厚度计：电磁涂层厚度计是一种常用的非接触式涂层测量设备。
该仪器基于电磁感应原理，通过测量涂层表面的感应电流强度和感应磁场大小来确定涂层厚度。
电磁涂层厚度计广泛应用于汽车工业、航空航天、建筑工程等领域，准确度高，操作简单。
2.超声波涂层厚度计：超声波涂层厚度计利用超声波在材料中的传播速度和强度的变化，测量涂层厚度。
通过将传感器紧贴于被测物表面，发射和接收超声波信号，可以得到涂层厚度的测量结果。
超声波涂层厚度计适用于对涂层厚度进行快速、准确测量的场合。
3.X射线荧光光谱仪：X射线荧光光谱仪是一种能够非破坏性地检测涂层厚度的设备。
它通过射入样品表面的X射线激发样品表面的元素产生荧光，再通过检测荧光光谱来分析样品中元素的组成和涂层厚度。
X射线荧光光谱仪在材料分析、质量控制等领域有广泛的应用。
5.刮刀法：刮刀法适用于较厚的涂层厚度测量。
测量方法是用一把刮刀刮取样品表面的部分涂层，然后使用显微镜或影像测量仪测量涂层和基材分离的位置，根据分离的位置判断涂层的厚度。
由于需要刮取一部分涂层，所以该方法不适用于一些对涂层完整性有要求的情况。
这些涂镀层厚度检测方法各有特点，适用于不同的场景和材料。
根据具体需求，选择合适的方法进行涂镀层厚度的测量，将有助于提高产品质量和工艺控制。
镀层测厚仪操作规程
镀层测厚仪操作规程一、引言镀层测厚仪是一种用于测量金属表面镀层厚度的仪器。
通过准确测量镀层厚度，可以评估金属制品的质量和耐腐蚀性能。
本文档旨在介绍如何正确操作镀层测厚仪，以确保测量结果的准确性和可靠性。
二、仪器准备1. 确保镀层测厚仪处于正常工作状态，电池电量充足。
2. 清洁测量头和金属表面，确保无尘、无污染。
3. 确定测量模式和相关参数，如测量范围、单位等。
三、操作步骤1. 开机准备a. 按下电源按钮，等待仪器启动。
b. 根据需要选择相应的测量模式。
c. 根据测量要求设置相关参数，如测量范围、单位等。
2. 测量准备a. 将测量头对准待测金属表面，确保与表面垂直接触。
b. 轻轻按下触发按钮，测量头会自动发出声音或显示相关指示，表示测量准备完毕。
3. 进行测量a. 将测量头轻轻按压在金属表面上，保持稳定。
b. 等待测量头发出声音或显示结果，表示测量完成。
c. 记录测量结果，并将测量头移开，完成一次测量。
4. 多点测量a. 如需进行多个点的测量，依次将测量头对准不同的位置。
b. 等待每次测量完成后，将测量头移开，记录测量结果。
5. 结束操作a. 关闭仪器，按下电源按钮，将测量头从金属表面拆离。
b. 清洁测量头和金属表面，确保无尘、无污染。
c. 将仪器妥善存放，避免损坏或误用。
四、注意事项1. 在进行测量前，应该对仪器进行校准，以确保测量结果的精确性。
2. 在测量时应该保持测量头与金属表面垂直接触，并保持稳定。
3. 避免将测量头使用在有尖锐物品或有腐蚀性的表面上，以防损坏测量头。
4. 定期对仪器进行保养和维护，以保证仪器的正常工作。
5. 在进行测量时要注意操作规程，遵循相关安全操作规范，确保人身安全。
五、总结镀层测厚仪是一种用于测量金属表面镀层厚度的重要工具。
正确操作镀层测厚仪，可以保证测量结果的准确性和可靠性。
本文档介绍了镀层测厚仪的操作规程，包括仪器准备、操作步骤、注意事项等。
希望该文档能够帮助用户正确使用和维护镀层测厚仪，提高工作效率和测量结果的质量。
五种常见镀层测厚仪类型及测厚方法
五种常见镀层测厚仪类型及测厚方法镀层测厚仪是一种常用的工具，用于测量各种物体表面的镀层厚度。
常见的镀层测厚仪类型有磁性涂层测厚仪、涡流涂层测厚仪、超声波涂层测厚仪、光学涂层测厚仪和放射性测厚仪。
下面将逐一介绍这些类型的测厚仪及其测厚方法。
1.磁性涂层测厚仪磁性涂层测厚仪主要用于测量金属表面的非磁性涂层厚度，如油漆、漆膜等。
它通过测量在测量位置上的磁场强度来确定涂层的厚度。
测厚仪工作时，将磁性涂层测厚仪放置在被测物体表面，仪器会产生一定强度的磁场，当磁场通过被测涂层时，由于涂层的存在，磁场会发生变化，通过测量磁场变化的大小，就可以确定涂层的厚度。
2.涡流涂层测厚仪涡流涂层测厚仪是用于测量金属表面涂层的工具。
它通过感应涡流的大小来确定涂层的厚度。
在测量过程中，测厚仪与被测物体表面接触，仪器会生成一定频率的交流电磁场，通过测量交流电磁场感应出来的涡流大小，就可以确定涂层的厚度。
3.超声波涂层测厚仪超声波涂层测厚仪是通过超声波的传播速度来确定涂层厚度的。
仪器会发射超声波，当超声波通过涂层时，会反射回来，通过测量超声波的传播时间和速度，就可以计算出涂层的厚度。
4.光学涂层测厚仪光学涂层测厚仪是用于测量透明涂层（例如玻璃、塑料等材料）的厚度。
测厚仪会发射一束可见光，当光线穿过透明涂层时，会发生反射和折射，通过测量反射和折射光的强度和角度，就可以计算出涂层的厚度。
5.放射性测厚仪放射性测厚仪是一种使用放射性同位素进行测量的测厚仪。
测厚仪内部放置有一个放射性同位素源，放射性同位素通过射线照射被测物体表面，当射线穿过涂层时，会发生衰减，通过测量射线衰减的程度，就可以确定涂层的厚度。
综上所述，常见的镀层测厚仪类型有磁性涂层测厚仪、涡流涂层测厚仪、超声波涂层测厚仪、光学涂层测厚仪和放射性测厚仪。
每种测厚仪都有其适用于不同材料和涂层类型的测厚方法，选择合适的测厚仪和测厚方法可以提高测量的准确性和精度。
EI操作手册稳态瞬态荧光光谱仪(FLS 920)操作说明书
Edinburgh InstrumentFLS920User Manual目录一、开机步骤 (2)二、实验操作 (4)1、实验前准备 (4)2、稳态实验 (6)A、发射光谱实验 (6)B、激发光谱实验 (9)C、同步谱 (10)D、Map (11)E、偏振光谱 (12)3、低温实验 (17)A、液氮冷却系统(Oxford) (17)B、ARS冷却系统 (19)4、样品衰减操作 (22)A、纳秒、皮秒级衰减 (22)纳秒灯为光源 (22)激光器为光源 (27)B、微妙、毫秒级衰减 (29)三、数据处理 (32)1、数据一般处理 (32)2、稳态光谱 (33)3、瞬态光谱 (33)四、附录 (36)1、氢灯清洗方法 (36)一、开机步骤1、打开总电源（开之前保证所有仪器开关关闭）2、开启PH13、开启PMT制冷电源CO14、开启光谱仪控制电源CD920（控制盒）或样品室下方的控制板电源此为控制盒此为控制板5、根据需要的光源开启氙灯或是其它灯源电源此为氙灯电源此为氢灯电源6、开启电脑，同时将谱仪样品室上方盖子移开。
待进入操作系统后进入F900软件。
二、实验操作 1、实验前准备在做实验前有几点需要注意：A 、 对于红敏PMT （R928），其制冷必须达到一定温度，一般为室温-40℃左右。
待C O 1显示在-17℃左右的时候，在软件的S i g n a l R a t e 窗口里观察E m 1的C P S 读数显示。
若其读数维持在50C P S 以下，则表明读数正常，P M T 制冷达到工作状态，可以用该探测器进行实验。
Fig.2.1 B 、 对于近红PMT （5509），其必须准备以液氮杜瓦罐（约15升左右），将制冷部件的管子插入罐中，开启制冷电源Fig.2.2制冷电源杜瓦罐通气管道电源开启后，其显示屏上有两行显示，一行为设定的80k，一行为PMT的温度显示。
PMT温度显示会很快显示为80k（约一分钟内）。
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镀层测厚仪X-Strata920：是牛津仪器最新发布的新一代镀层测厚仪；是CMI900的升级换代产品；在CMI900基础上，改进了系统安全部件、系统软件进行了更新、测量结果进行多样化的输出；是X射线荧光(XRF)镀层测厚仪；具有非破坏、非接触、无损测量；一键定焦，有效避免人
为操作误差；快速简洁，仅需10秒即可得出测量结果。
适用于大多数行业，是质量控制、节约成本的最佳检测工具。
拥有着多种称谓：金镍测厚仪、LED测厚仪、金银测厚仪、X射线测厚仪、X-Ray测厚仪、台式测厚仪、镀层测试仪、支架测厚仪……
镀层测厚仪X-Strata920应用行业：
PCB、FPC、LED、连接器、端子、电阻和电容等电子元件、螺栓和弹簧等五金产品、卫浴洁具、汽车零部件、功能性电镀件、装饰件、首饰饰品等多个行业、检测机构和科研院校。
镀层测厚仪X-Strata920工作原理：
对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线能量后被激发并释放出二次X射线。
每个化学元素会释放出特定能量的X射线，通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，镀层测厚仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。
镀层测厚仪X-Strata920特点：
可测元素：钛Ti22---铀U92间各元素；
可测镀层：5层镀层(含基材层)，15种元素共存校正；
测量时间约10秒，快速得出测量结果；
测量结果精确到微英寸；
测量结果报告可包含：数据、被测样品点图片、各种统计报表、客户信息；
提供贵重金属分析和金纯度检查(即Au karat评价)；
提供NIST认证的标准片；
享有全球的服务与支持。
镀层测厚仪X-Strata920测厚范围：
取决于具体的应用。
镀层测厚仪X-Strata920测量精度：
膜厚≤20µin(0.5um)时，测量误差值为：第一层±1µin，第二层±2µin，第二层±3µin
膜厚＞20µin(0.5um)时，测量误差值为：第一层±5%，第二层±10%，第二层±15%。