march算法原理
excel march 用法
Excel是一款功能强大的电子表格软件，广泛应用于各个行业的数据处理和分析工作中。
在Excel中，March函数是一种用于返回指定日期的月份的函数，可以帮助用户快速准确地处理日期数据。
本文将介绍Excel中March函数的用法，帮助读者更好地掌握这一功能，提高工作效率。
一、March函数的语法在Excel中，March函数的语法如下：=MARCH(serial_number, month, nearest)其中，各参数的含义如下：serial_number：需要处理的日期，可以是一个日期值，也可以是对日期值的引用。
month：指定返回的月份是哪个月，取值范围为1-12。
nearest：指定如果给定日期不在目标月份，返回最接近的日期。
取值为0或1。
0表示返回上一个月，1表示返回下一个月。
二、March函数的用法1. 返回指定日期的月份March函数主要用于返回指定日期的月份。
在实际工作中，我们经常需要处理大量的日期数据，用March函数可以快速准确地提取日期中的月份信息，方便后续的数据分析和统计工作。
我们有一个日期为2022年3月15日的数据，通过March函数可以轻松得到该日期的月份为3。
2. 处理日期不在目标月份的情况在实际数据处理中，有时候给定的日期可能不在目标月份，这时候可以使用March函数的nearest参数来处理。
nearest参数可以指定如果给定日期不在目标月份，返回最接近的日期。
这一特性在一些特定情况下非常有用，可以避免因为日期不在目标月份而导致的数据错误。
给定日期为2022年3月31日，并且指定要返回的月份为4月份，如果nearest参数设为0，那么March函数返回的结果将是2022年2月28日，如果nearest参数设为1，那么返回的结果将是2022年4月30日。
三、案例分析下面通过一个具体的案例来演示March函数的使用方法。
假设现在有一个表格，其中包含了一系列的日期数据，我们需要提取出每个日期的月份信息，并将结果填写在相邻的单元格中。
Marching_Cubes算法
Marching Cubes算法（医学图像三维绘制中的面绘制）2007-08-16 00:50建议要看的资料[1] Lorensen W E, Cline H E .Marching cubes: a high-resoulution 3D suface construction algorithm [J], Computer Graphics,1987, 21(4):163~169[2]集成化医学影像算法平台理论与实践田捷，赵明昌，何晖光清华大学出版社2004年10月[3]Polygonising a scalar field Also known as: "3D Contouring", "Marching Cubes", "Surface Reconstruction".au/~pbourke/geometry/polygonise/Marching Cubes；[4]Marching Cubes算法工作原理Marching Cubes算法是三维数据场等值面生成的经典算法，是体素单元内等值面抽取技术的代表。
等值面是空间中所有具有某个相同值的点的集合。
它可以表示为，，c是常数。
则称F(f)为体数据f中的等值面。
在MC算法中，假定原始数据是离散的三维空间规则数据场。
用于医疗诊断的断层扫描(CT)及核磁共振成像(MRI) 等产生的图像均属于这一类型。
MC算法的基本思想是逐个处理数据场中的体素，分类出与等值面相交的体素，采用插值计算出等值面与体素棱边的交点。
根据体素中每一顶点与等值面的相对位置，将等值面与立方体边的交点按一定方式连接生成等值面，作为等值面在该立方体内的一个逼近表示。
在计算出关于体数据场内等值面的有关参数后山常用的图形软件包或硬件提供的面绘制功能绘制出等值面。
图2.1 离散的三维空间规则数据场中的一个体素2.1.1 MC算法的主要步骤1．确定包含等值面的体素离散的三维空间规则数据场中的一个体素可以用图2.1表示。
基于March C+算法的RAM内建自测试设计
相邻单元其中的一个进行写操作时，导致 ＮＰＳＦ算法可以ｔｉｏｎＤｅｌａｙＦａｕｌｔ，ＴＦ）
临近图形敏感故障 （ＮｅｉｇｈｂｏｒｈｏｏｄＰａｔｔｅｒｎ ＳｅｎｓｉｔｉｖｅＦａｕｌｔｓ，ＮＰＳＦ） 开路故障 （ＳｔｕｃｋＯｐｅｎＦａｕｌｔ，ＳＯＦ）
在随机访问 ＲＡＭ 的时候，存储单元中的 对每个存储单元进行 １－０和 ０－１的读写，并且写入变 数据会从 ０跳变成 １，或者从 １跳变成 ０． 换值的时候要迅速地读出现在的数据，最后检查结果．
１ 故障模型
故障模型对于测试来说非常重要，一般故障模型与电路设计息息相关 故障模型主要分为六 类，分别是：单元固定故障、单元耦合故障、状态跳变故障、临近图形敏感故障、开路故障、地址译码故 障．故障模型的描述以及故障检测方法如表 １所示：
表 １ 故障分类
故障名称
故障介绍
检测方法
单元固定故障 （ＳｔｕｃｋＡｔＦａｕｌｔ，ＳＡＦ）
Ｋｅｙｗｏｒｄｓ： Ｐｅｒｌｌａｎｇｕａｇｅ；ＭａｒｃｈＣ＋ ａｌｇｏｒｉｔｈｍ；ＨＳＣ３２Ｋ１ｃｈｉｐ；ＢｕｉｌｔＩｎＳｅｌｆＴｅｓｔ
０ 引言
随着集成电路产业的飞速发展，片上系统（ＳｏＣ，Ｓｙｓｔｅｍｏｎｃｈｉｐ）的集成度变得越来越高，电路设
收稿日期：２０１８－０３－２１ 基金资助：辽宁省教育厅研究生教育教学改革项目（辽教函［２０１７］２４号） 作者简介：孙守英（１９９２－），辽宁东港人，硕士研究生，从事集成电路测试研究．
Ａｂｓｔｒａｃｔ： ＩｎｏｒｄｅｒｔｏｓｏｌｖｅｔｈｅｓｈｏｒｔｃｏｍｉｎｇｓｏｆｔｒａｄｉｔｉｏｎａｌｔｅｓｔｉｎＨＳＣ３２Ｋ１ｃｈｉｐ，ｔｈｉｓｐａｐｅｒ
ａｄｏｐｔｓＢｕｉｌｔＩｎＳｅｌｆＴｅｓｔ（ＢＩＳＴ）ｍｅｔｈｏｄｂａｓｅｄｏｎＭａｒｃｈＣ＋ａｌｇｏｒｉｔｈｍ，ａｎｄｃａｌｌｓＭｂｉｓｔＡｒｃｈｉｔｅｃｔ ｔｏｏｌｗｉｔｈｐｅｒｌｌａｎｇｕａｇｅ．ＴｈｅＭａｒｃｈＣ＋ ａｌｇｏｒｉｔｈｍ ｉｓａｕｔｏｍａｔｉｃａｌｌｙｇｅｎｅｒａｔｅｄ．Ｔｈｅｇｅｎｅｒａｔｉｏｎｔｉｍｅ ｉｓｏｎｌｙ３．５ｓｅｃｏｎｄｓ，ｗｈｉｃｈｓｈｏｒｔｅｎｓｔｈｅｔｅｓｔｔｉｍｅａｎｄｉｍｐｒｏｖｅｓｔｈｅｔｅｓｔｅｆｆｉｃｉｅｎｃｙｃｏｍｐａｒｅｄｔｏ ｍａｎｕａｌｌｙｗｒｉｔｉｎｇｔｈｅａｌｇｏｒｉｔｈｍ ｃｏｄｅｆｏｒｓｃｏｒｅｓｏｆｍｉｎｕｔｅｓｏｒｅｖｅｎｈｏｕｒｓ．Ｓｉｍｕｌａｔｉｏｎｒｅｓｕｌｔｓｓｈｏｗ ｔｈａｔｔｈｅｔｅｓｔｍｅｔｈｏｄｐｒｏｐｏｓｅｄｉｎｔｈｉｓｐａｐｅｒｃａｎｅｆｆｅｃｔｉｖｅｌｙａｃｈｉｅｖｅｔｈｅｔｅｓｔｒｅｓｕｌｔｓ．Ｔｈｉｓｍｅｔｈｏｄｃａｎ ｂｅｅｘｔｅｎｄｅｄｔｏｏｔｈｅｒｃｈｉｐｓｔｅｓｔａｎｄｈａｓｓｔｒｏｎｇａｐｐｌｉｃａｂｉｌｉｔｙ．
fastmarching算法原理
fastmarching算法原理Fast marching algorithm (FMA) is a numerical technique used for solving the Eikonal equation, which describes the propagation of wavefronts. This algorithm is widely used in various fields such as computer graphics, medical imaging, and computational physics.The basic principle of the fast marching algorithm is to iteratively update the travel time (or distance) from a given starting point to all other points in the computational domain. This is done by considering the local characteristics of the wavefront and updating the travel time based on the minimum arrival time from neighboring points.The algorithm starts by initializing the travel time at the starting point to zero and setting the travel time at all other points to infinity. Then, it iteratively updates the travel time at each grid point based on the neighboring points, ensuring that the travel time decreasesmonotonically as the wavefront propagates outward.At each iteration, the algorithm selects the grid point with the minimum travel time among the set of points that have not been updated yet. It then updates the travel time at this point based on the local wavefront characteristics and the travel times of its neighboring points. This process is repeated until the travel times at all points have been computed.One of the key advantages of the fast marching algorithm is its computational efficiency. By exploiting the properties of the Eikonal equation and the characteristics of the wavefront, the algorithm can compute the travel times in a relatively short amount of time, making it suitable for real-time or interactive applications.In conclusion, the fast marching algorithm is a powerful numerical technique for solving the Eikonal equation and computing wavefront propagation. Itsefficiency and versatility make it a valuable tool invarious fields, enabling the simulation and analysis of wave propagation phenomena in a wide range of applications.。
March算法在BIST电路设计中的作用机制
０ 引 言
随着 Ｓ ｏＣ技术 的发 展 ， 了弥 补传 统 电路 测 为
试 扫描 技 术效 率低 的 不 足 ， 生 了一 种 能够 快 速 产 并 有效 地对 数 字 系统进 行测 试 与诊 断 的方法 ， ： 即 白测试 技 术 ． 自测 试 技 术 常 常 是 在 软 件 中 实现 但
１ ２ Ｂ Ｓ 电路设 计 与 Ｍａ ｃ ． ＩＴ ｒ ｈ算 法 的作 用机 制
现 的 复杂 度 两 方 面 进 行 综 合 考 虑 ， 选 择 Ｍａｃ 来 ｒｈ 算法 的故 障覆 盖率 高于 ８％ ， 杂 度 只有 ６． ０ 复 ｎ
Ｍａｃ 法如 下 ： ｒｈ算 （ ） ｎ（０， １ ； （１ Ｏ ；ｌ ｒ ）（ ） Ｏ ； ｒ ｏ ） ｒ ， ） Ｉ（０ １ Ｊ 图 ２电路设 计 图 中原 理 主要 是 依 据式 （ ） １ 的
对 集成 电路 的测 试 技术 应运 而生 ， 就 是 内建 自 这 测 试 （ ＩＴ） 术 ． 技 术具 有 结 构 简 单 、 效 测 ＢＳ 技 该 有
试时 间短 、 测试 灵 活性 强 、 以实现 在线 经 常性测 可 试 等优 点 ． 本 文 基 于 Ｍａｃ Ｅ算 法 ， 计 了 一 种 基 于 ｒｈ Ｃ 设 Ｈ Ｎ Ｃ０ １ ｍ 的多 片 单 、 口 Ｒ Ｍ 为 测 试 对 Ｈ Ｅ ．３ 双 Ａ 象 的串行 “ ＩＴ 电路 ． 电路 内部 自身 生 成测 试 ＢＳ ” 在
嵌 入式存 储 器 的 测 试需 求 ， 现 对存 储 器 的准 确 实
检 验 和故 障定 位 ．
Ｒ Ｍ 的地址 序列 ； 数 据 生 成 器 ： 生 数 据 及 其 Ａ ③ 产 “ 反” 取 的值 ； ④控 制生 成 器 ： ＢＳ 在 ＩＴ控 制 器 测 试
常用的单片机系统RAM测试方法
常用的单片机系统RAM测试方法在各种单片机应用系统中，存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。
为了提高系统的可靠性，对系统的可靠性进行测试是十分必要的。
通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。
本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM 测试方法，并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM 故障测试方法。
1 RAM 测试方法回顾(1)方法1 参考文献中给出了一种测试系统RAM 的方法。
该方法是分两步来检查，先后向整个数据区送入#00H 和#FFH，再先后读出进行比较，若不一样，则说明出错。
(2)方法2 方法1 并不能完全检查出RAM 的错误，在参考文献中分析介绍了一种进行RAM 检测的标准算法MARCHG。
MARCH 一G 算法能够提供非常出色的故障覆盖率，但是所需要的测试时间是很大的。
MARCHG 算法需要对全地址空间遍历3 次。
设地址线为根，则CPU 需对RAM 访问6 乘以2n 次。
(3)方法3 参考文献中给出了一种通过地址信号移位来完成测试的方法。
在地址信号为全O 的基础上，每次只使地址线Ai 的信号取反一次，同时保持其他非检测地址线Aj(i≠j)的信号维持0 不变，这样从低位向高位逐位进行；接着在地址信号为全1 的基础上，每次只使地址线Ai 的信号取反一次，同时保持其他非检测地址线Aj(i≠j)的信号维持1 不变，同样从低位向高位逐位进行。
因此地址信号的移位其实就是按照2K(K 为整数，最大值为地址总线的宽度)非线性寻址，整个所需的地址范围可以看成是以全0 和全1 为背景再通过移位产生的。
在地址变化的同时给相应的存储单元写入不同的伪随机数据。
在以上的写单元操作完成后，再倒序地将地址信号移位读出所写入的伪随机数据并进行检测。
设地址线为n 根，则CPU 只对系统RAM 中的2n+2 个存储单元进行访问。
2 基于种子和逐位倒转的RAM 测试方法基于种子和逐位倒转的测试方法。
基于march c-算法的sram bist电路的设计
基于march c-算法的sram bist电路的设计SRAM BIST（Built-In Self-Test）电路是在静态随机存储器（SRAM）中集成的一个用于自测试的电路。
它可以在不需要外部测试设备的情况下对SRAM进行测试和诊断。
在设计SRAM BIST电路时，可以采用March C算法。
March C算法是SRAM 测试中经常使用的一种算法，它可以实现全面的SRAM测试和故障诊断。
以下是基于March C算法设计SRAM BIST电路的步骤：
1.确定SRAM的大小和位宽。
这将决定BIST电路的复杂度和测试时间。
2.根据SRAM的大小和位宽，设计SRAM测试模式生成器。
该模块生成March C测试序列，包括读取、写入和比较操作。
3.设计比较器模块，用于比较读取的SRAM数据和预期结果。
比较器可以使用位宽和诊断能力进行自定义。
4.设计控制器模块，用于控制测试模式和测试结果的生成。
该模块还可以包括故障诊断和报告功能。
5.验证SRAM BIST电路设计的正确性，并进行仿真和模拟。
6.将SRAM BIST电路集成到目标系统中进行测试。
总的来说，基于March C算法的SRAM BIST电路设计需要进行多方面的考虑和测试，以确保其正确性和可靠性。
基于March C-算法的单片机存储器测试
基于March C-算法的单片机存储器测试作者：于文考高成张栋来源：《现代电子技术》2010年第06期摘要:为了保证单片机系统的可靠性,对单片机内嵌存储器的测试显得尤为重要。
根据MCS-51系列单片机系统内嵌存储器的结构特点和故障模型,研究了测试算法的选择、数据背景的产生等问题,首次提出将March C-算法用于单片机内嵌存储器的用户级测试程序编写。
该测试程序对SAF,TF,AF,CF的故障覆盖率可达到100%,并且能够检测部分NPSF故障,具有较高的故障覆盖率,适合于对用户级MCS-51系列单片机存储器的测试。
关键词:单片机;March C-算法;存储器测试;故障覆盖率中图分类号:TP333文献标识码:B文章编号:1004-373X(2010)06-019-03Test of Single Chip Microcomputer′s Memory Based on March C- AlgorithmYU Wenkao,GAO Cheng,ZHANG Dong(Beihang University,Beijing,100191,China)Abstract:In order to ensure thereliability of single chip microcomputer system,test of the single chip microcomputer embedded memory is particularly important.In accordance with characteristics and fault model of MCS-51 embedded memory,selection of the test algorithm and the data background are researched,and the test program which based on March C- algorithm for MCS-51 single chip microcomputer embedded memory for the first time in user-level is presented.The test program can reach all of the SAF,TF,AF,CF failure and some of NPSF failure,has a high fault coverage,suitable for test of MCS-51 single chip microcomputer embedded memory in user-level.Keywords:single chip microcomputer;March C- algorithm;memory test;fault coverage0 引言存储器是单片机系统中的重要组成部分,其功能的正确性直接影响到单片机的可靠性。
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march算法原理
MaRCH算法是一种用于解决大规模图上最短路径问题的算法，它是基
于A*算法的改进版本。
MaRCH算法引入了路由选择模型、速度模型和分段
模型，以实现更高效的路径规划。
在本文中，将详细介绍MaRCH算法的原
理和具体实现。
1.引言
在大规模图上求解最短路径是计算机科学中的一个经典问题。
传统的Dijkstra算法和A*算法在小规模图上表现出色，但对于大规模图则效率
较低。
MaRCH算法通过引入路由选择模型、速度模型和分段模型，提高了
路径规划的效率。
2.路由选择模型
MaRCH算法使用了一种新颖的路由选择模型，该模型能够根据交通状
况和用户需求，动态地选择最优路径。
路由选择模型包括路由选择策略和
路由选择图。
路由选择策略定义了在每个节点上选择下一跳的规则。
它基于用户需
求（例如，最短路径、最快路径）和交通状况（例如，路况、拥堵程度）
来决定路由。
通过灵活调整路由选择策略，用户可以优化路径规划的性能。
路由选择图是一个预处理的网络图，其顶点和边上存储了路径规划所
需的信息。
MaRCH算法使用一个分层图结构来表示路由选择图，不同层次
的节点表示不同的路径选择策略。
这种分层结构可以大大减少的空间，提
高路径规划的效率。
3.速度模型
MaRCH算法引入了速度模型来估计节点之间的行驶时间。
速度模型将路网中的每条边进行分段建模，并估计每段上的平均行驶速度。
通过将边分段，可以更准确地估计路径的行驶时间，并能够考虑到路况的变化。
速度模型的建立涉及到大量的历史行驶数据，包括交通状况、时间和位置等信息。
MaRCH算法使用机器学习的方法来建立速度模型，通过训练一个神经网络，可以从历史数据中学习出路段的行驶速度模式。
4.分段模型
MaRCH算法还引入了分段模型来解决节点之间的行驶时间不连续的问题。
由于交通状况的变化，同一条路段上的行驶速度可能不同。
分段模型将每条边细分为多个子边，每个子边代表一段相对稳定的行驶速度。
分段模型的建立需要考虑到交通状况的变化，例如，高峰期和低峰期的行驶速度差异。
MaRCH算法根据历史数据的统计信息，将每条边细分为多个子边，并估计每个子边上的平均行驶时间。
5.算法流程
MaRCH算法的主要流程包括图的预处理、排序、选择、估计和路径规划。
图的预处理阶段主要是构建路由选择图、速度模型和分段模型。
通过处理历史数据和网络拓扑，构建出用于路径规划的数据结构。
排序阶段是为了选择最合适的路径选择策略。
基于路由选择图的层次结构和用户需求，选择一个最优的路径选择策略。
选择阶段是为了在每个节点上选择下一跳节点。
根据路由选择策略和节点上的路由选择图，选择一个最优的下一跳节点。
估计阶段是为了估计节点之间的行驶时间。
基于速度模型和分段模型，估计节点之间的行驶时间，用于优化的路径规划。
路径规划阶段是为了确定最短路径。
通过贪心的方法，在图中逐步选
择最短路径，并不断更新路径的总行驶时间，直到到达目标节点。
6.总结
MaRCH算法通过引入路由选择模型、速度模型和分段模型，实现了高
效的路径规划。
该算法使用了灵活的路由选择策略，根据用户需求和交通
状况，动态地选择最优路径。
速度模型和分段模型能够更准确地估计路径
的行驶时间，考虑到交通状况的变化。
通过实际测试，MaRCH算法在大规
模图上表现出了较高的性能和效率。