现代材料测试技术整理
现代材料测试技术测试方法1精选全文
4.1差热分析
4.1.1差热分析的基本原理
2、差热分析的基本理论
ΔH=KS
差热曲线的峰谷面积S和 反应热效应△H成正比， 反应热效应越大，峰谷 面积越大。
具有相同热效应的反应， 传热系数K越小，峰谷面 积越大，灵敏度越高。
4.1差热分析
4.1.2差热分析曲线
1、DTA曲线的特征 DTA曲线是将试样和参比物置于
2、DTA曲线的温度测定及标定：外推法（反应起点、转变点、 终点） 外延起始温度——表示反应的起始温度
3、DTA曲线的影响因素 差热分析是一种热动态技术，在测试过程中体系的温度不断变 化，引起物质热性能变化。因此，许多因素都可影响DTA曲 线的基线、峰形和温度。归纳起来，影响DTA曲线的主要因 素有下列几方面：
用相同质量的试样和升温速度对不同粒度的胆矾进 行研究(如图)。说明颗粒大小影响反应产物的扩散 速度，过大的颗粒和过小的颗粒都可能导致反应温 度改变，相邻峰谷合并，分辨率下降。
4.1差热分析
4.1.2差热分析曲线
试样用量的多少与颗粒大 小对DTA曲线有着类似的 影响，试样用量多，放热 效应大，峰顶温度滞后， 容易掩盖邻近小峰谷，特 别是对在反应过程中有气 体放出的热分解反应。
(1)仪器方面的因素：包括加热炉的形状和尺寸，坩埚材料及大 小，热电偶的位置等。
(2)试样因素：包括试样的热容量、热导率和试样的纯度、结晶 度或离子取代以及试样的颗粒度、用量及装填密度等。
(3)实验条件：包括加热速度、气氛、压力和量程、纸速等。
4.1差热分析
4.1.2差热分析曲线
(1)热容和热导率的变化： 试样的热容和热导率的变化会引起 差热曲线的基线变化，一台性能良 好的差热仪的基线应是一条水平直 线，但试样差热曲线的基线在反应 的前后往往不会停留在同一水平上， 这是由于试样在反应前后热容或热 导率变化的缘故。
现代材料检测技术及检测方法复习要点
现代材料检测技术及检测方法复习要点一．热分析定义：热分析是在程序控制温度下，测量物质的物理性质与温度之间关系的一类技术。
1.热重分析（Thermogravimetry，TG）定义：热重法是在程序控温下，测量物质的质量与温度或时间的关系的方法，通常是测量试样的质量变化与温度的关系。
影响因素：升温速度，气氛，样品的粒度和用量，试样皿温度的标定2.差热分析（Differential Thermal Analysis，DTA）定义：差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。
差热分析曲线描述了样品与参比物之间的温差(ΔT)随温度或时间的变化关系。
影响因素：气氛和压力的选择，升温速率的影响和选择，试样的预处理和粒度，参比物的选择，纸速的选择3.差示扫描量热分析（Differential Scanning Calorimetry，DSC）；定义：差示扫描量热法(DSC)是在程序控温下，测量物质和参比物之间的能量差随温度变化关系的一种技术4.差热重分析（Differential Thermogravimetry, DTG）DTG曲线是TG曲线对温度或时间的一阶导数，即质量变化率5.在DTA曲线中，吸热效应用谷来表示，放热效应用峰来表示所不同的是：在DSC曲线中，吸热(endothermic)效应用凸起正向的峰表示凹下的谷表示(热焓增加)，放热(exothermic)效应用凹下的谷表示(热焓减少)。
二．电镜分析1.定义：TEM用聚焦电子束作照明源，使用于对电子束透明的薄膜试样，以透过试样的透射电子束或衍射电子束所形成的图像来分析试样内部的显微组织结构。
2.为什么采用电子束而不用自然光？决定因素1）显微镜的分辨率2）自然光与电子束的波长3）有效放大倍数透射电镜的有效放大倍数M=人眼的分辨率（0.2mm）/投射电镜的分辨率（0.1nm），而光学显微镜的分辨率为200mm。
由显微镜的分辨率与光源的波长决定了透射电子显微镜的放大倍率远大于普通光学显微镜；3.场深是指在保持象清晰的前提下，试样在物平面上下沿镜轴可移动的距离，或者说试样超越物平面所允许的厚度。
材料现代测试技术内容总结
1. X射线产生的基本条件答：①产生自由电子；②使电子做定向高速运动；③在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。
5. X射线相干散射与非相干散射现象答：相干散射：当X射线与原子中束缚较紧的内层电子相撞时，电子振动时向四周发射电磁波的散射过程。
非相干散射：当X射线光子与束缚不大的外层电子或价电子或金属晶体中的自由电子相撞时的散射过程。
6. 光电子、荧光X射线以及俄歇电子的含义答：光电子：光电效应中由光子激发所产生的电子（或入射光量子与物质原子中电子相互碰撞时被激发的电子）。
荧光X射线：由X射线激发所产生的特征X射线。
俄歇电子：原子外层电子跃迁填补内层空位后释放能量并产生新的空位，这些能量被包括空位层在内的临近原子或较外层电子吸收，受激发逸出原子的电子叫做俄歇电子。
7. X射线吸收规律、线吸收系数答：X射线吸收规律：强度为I的特征X射线在均匀物质内部通过时，强度的衰减与在物质内通过的距离x成比例，即-dI/I=μdx 。
线吸收系数：即为上式中的μ，指在X射线传播方向上，单位长度上的X射线强弱衰减程度。
2、电磁透镜的像差是怎样产生的，如何来消除或减小像差？解：电磁透镜的像差可以分为两类：几何像差和色差。
几何像差是因为投射磁场几何形状上的缺陷造成的，色差是由于电子波的波长或能量发生一定幅度的改变而造成的。
几何像差主要指球差和像散。
球差是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律造成的，像散是由透镜磁场的非旋转对称引起的。
消除或减小的方法：球差：减小孔径半角或缩小焦距均可减小球差，尤其小孔径半角可使球差明显减小。
像散：引入一个强度和方向都可以调节的矫正磁场即消像散器予以补偿。
色差：采用稳定加速电压的方法有效地较小色差。
3、说明影响光学显微镜和电磁透镜分辨率的关键因素是什么？如何提高电磁透镜的分辨率？解：光学显微镜的分辨本领取决于照明光源的波长。
电磁透镜的分辨率由衍射效应和球面像差来决定，球差是限制电磁透镜分辨本领的主要因素。
材料现代分析方法知识点汇总
材料现代分析方法知识点汇总1.基础分析技术：材料现代分析方法常用的基础分析技术包括光学显微镜、电子显微镜、X射线衍射、扫描电子显微镜等。
这些技术可以用于材料样品的形态、结构和成分的分析和表征。
2.元素分析方法：材料中元素的分析是材料研究中的重要内容。
现代元素分析方法包括原子吸收光谱、原子发射光谱、原子荧光光谱、质谱等。
通过这些方法可以获取样品中各个元素的含量和分布情况。
3.表面分析技术：材料的表面性质对其性能有着重要影响。
表面分析技术包括扫描电子显微镜、原子力显微镜、拉曼光谱等。
这些技术可以用于研究材料表面形貌、结构和成分，以及表面与界面的性质。
4.结构分析方法：材料的结构对其性能有着决定性的影响。
结构分析方法包括X射线衍射、中子衍射、电子衍射等。
这些方法可以用于确定材料的晶体结构、非晶态结构和纳米结构，从而揭示材料的物理和化学性质。
5.磁学分析方法：材料的磁性是其重要的性能之一、磁学分析方法包括霍尔效应测量、磁化率测量、磁滞回线测量等。
这些方法可以用于研究材料的磁性基本特性，如磁场效应、磁滞行为和磁相互作用。
6.热学分析方法：材料的热性质对其在高温、低温等条件下的应用具有重要意义。
热学分析方法包括热重分析、差示扫描量热法、热导率测量等。
这些方法可以用于研究材料的热稳定性、相变行为和导热性能。
7.分子分析技术：材料中分子结构的分析对于研究其化学性质具有重要意义。
分子分析技术包括红外光谱、拉曼光谱、核磁共振等。
通过这些技术可以确定材料的分子结构、键合方式和功能性分子的存在情况。
8.表征方法：材料的表征是指对其特定性能的评估和描述。
表征方法包括电阻率测量、粘度测量、硬度测量等。
这些方法可以用于研究材料的电学、力学和流变学性质。
总之，材料现代分析方法是一门综合应用各种科学技术手段对材料样品进行分析与表征的学科。
掌握这些现代分析方法的知识，可以帮助科学家和工程师更好地了解材料的性质和特点，为材料设计和应用提供科学依据。
材料现代测试分析技术
材料分析是如何实现的？
通过对表征材料的物理性质参数及其变化 （称为测量信号或特征信息）的检测实现 的。即，材料分析的基本原理是指测量信 号与材料成分、结构等的特征关系 采用各种不同的测量信号（相应地具有与 材料的不同特征关系）形成了各种不同的 材料分析方法
能级跃迁类型
吸收或发射 辐射种类
原子核能级
γ 射线
电子能级跃迁 (低能级到高能级)
X射线
价电子能级跃迁 (低能级到高能级)
紫外线、可见光
分子电子能级跃迁 (低能级到高能级)
紫外线、可见光
分子振动能级跃迁 (低能级到高能级)
红外线
电子自旋能级（磁能级） 微波 跃迁
原子核磁能级跃迁
射频
电子能级跃迁
荧光
价电子能级跃迁 (高能级到低能级)
四、光谱的分类
按辐射与物质相互作用性质
吸收光谱
发射光谱
散射光谱
…….. X
按的 发物
按谱域
生质
作微
红
用粒
外
光
原子光谱 分子光谱 谱
紫 外 光 谱
可 见 光 谱
射 线 谱
按强度对波长的分布特点
钠蒸气吸收光谱 苯蒸气吸收光谱
氢原子发射光谱 氰分子发射光谱
线光谱 带光谱
连续光谱
吸收与发射光谱分类
光谱分类名称
紫外线、可见光
价电子能级跃迁 (高能级到低能级)
紫外线、可见光 (原子荧光)
分子能级
紫外线、可见光 (分子荧光)
分子能级
紫外线、可见光 (分子磷光)
备注
材料分析测试技术
材料分析测试技术第一篇：材料分析测试技术一、引言材料分析测试技术是现代材料科学领域中非常重要的一部分，涵盖了材料结构、材料性能以及材料组成等方面的研究。
通过对材料进行分析测试，能够为材料的合理设计、精细加工、可靠使用以及环境保护等方面提供科学依据。
二、主要内容1.材料结构分析测试：此项测试主要是通过对材料的原位形貌、拉伸或压缩变形过程以及破坏机理的观察和分析，来揭示材料微结构的特征和结构与性能之间的关系。
2.材料物理性质测试：此项测试主要包括材料的热学性能、电学性能、光学性能等各个方面。
其中，热学性能测试包括热膨胀系数、热导率、比热等；电学性能测试包括电导率、介电常数、磁导率等；光学性能测试包括透过率、反射率、吸收率等。
3.材料化学成分测试：此项测试主要是通过对材料中各种元素化学量的测定，来确定材料的组成及其含量范围。
其中，常用的测试方法有荧光光谱法、原子吸收光谱法、质谱法等。
4.材料力学性能测试：此项测试主要是通过对材料的受力响应、变形、破坏等参数的测定，来评估材料的强度、韧性、脆性、疲劳性等力学特性。
其中，常用的测试方法有拉伸试验、压缩试验、硬度测试等。
三、测试技术优化为了提高材料分析测试的准确性和可靠性，需要注重以下几个方面：1.测试设备的选用和改进：从设备的选型、使用、维护等多方面考虑，提高设备的测试精度、可靠性和稳定性，并为特定的测试任务提供更优化的测试方法。
2.测试方法的优化：对测试方法的有效性、精度和可重复性进行评估和提高，并根据实际测试情况不断优化测试方法。
3.测试样品的处理：要注重对测试样品的处理和制备，避免样品的变形、损伤、干扰等因素对测试结果的影响。
4.测试人员的素质提高：对测试人员必须进行专业知识的培训和技能的提高，使其具备独立进行测试的能力和科学分析测试结果的能力。
四、应用前景目前，材料分析测试技术已经广泛应用于材料科学领域中的各个方面，如材料设计、加工制造、环境保护、矿产资源开发等。
现代材料测试技术整理
一衍射2、衍射的基本要素只有三个：即衍射线的峰位、线形、强度。
3、在X射线衍射仪法中，对光源的基本要求是稳定、强度大、光谱纯洁。
4、利用吸收限两边质量吸收系数相差十分悬殊的特点，可制作滤波片。
5、测量X射线衍射线峰位的方法有七种，它们分别是7/8高度法、峰巅法、切线法、弦中点法、中线峰法、重心法、抛物线法。
7、特征X射线产生的根本原因是原子内层电子的跃迁。
8、X射线衍射仪扫描方式可分连续扫描、步进扫描、跳跃步进扫描三种。
9、X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类：连续X射线光谱和特征X射线光谱。
10、当X射线穿过物质时，由于受到散射，光电效应等的影响，强度会减弱，这种现象称为X射线的吸收。
11、用于X射线衍射仪的探测器主要有盖革-弥勒计数管、闪烁计数管、正比计数管、固体计数管，其中闪烁计数管和正比计数管应用较为普遍。
15、当X射线照射到物体上时，一部分光子由于和原子碰撞而改变了前进的方向，造成散射线；另一部分光子可能被原子吸收，产生光电效应；再有部分光子的能量可能在与原子碰撞过程中传递给了原子，成为热振动能量。
2、产生特征X射线的根本原因是什么？内层电子跃迁：阴极发出的电子动能足够大，轰击靶，使靶原子中的某个内层电子打出，使它脱离原来的能级，致使靶原子处于受激态。
此时，原子中较高能级上的电子自发跃迁到该内层空位上，多余的能量变为X射线辐射出。
由于任一原子各个能级间的能量差值都是某些不连续的确定值，该差值转变为X射线的波长必为确定值，即产生特征X射线。
3、简述特征X-射线谱的特点。
特征X-射线谱有称作标识射线，它具有特定的波长，且波长取决于阳极靶元素的原子序数。
5、X射线连续光谱产生的机理。
答：当X射线管中高速电子和阳极靶碰撞时，产生极大的速度变化，就要辐射出电磁波。
由于大量电子轰击阳极靶的时间和条件不完全相同，辐射出的电磁波具有各种不同波长，因而形成了连续X射线谱。
6、X射线所必须具备的条件。
材料现代分析与测试技术资料
X射线衍射分析（基础与应用）一?X射线的特性人的肉眼看不见X射线，但X射线能使气体电离，使照相底片感光，能穿过不透明的物体，还能使荧光物质发出荧光。
? X射线呈直线传播，在电场和磁场中不发生偏转；当穿过物体时仅部分被散射。
? X射线对动物有机体（其中包括对人体）能产生巨大的生理上的影响，能杀伤生物细胞。
二.X射线具有波粒二相性1. X射线的本质是电磁辐射，与可见光完全相同，仅是波长短而已，因此其同样具有波粒二象性。
波动性：? 硬X射线：波长较短的硬X射线能量较高，穿透性较强，适用于金属部件的无损探伤及金属物相分析。
? 软X射线：波长较长的软X射线能量较低，穿透性弱，可用于非金属的分析。
? 三.X光与可见光的区别? 1） X光不折射，因为所有物质对X光的折光指数都接近1。
因此无X光透镜或X光显微镜。
? 2） X光无反射? 3） X光可为重元素所吸收，故可用于医学造影。
1.3 X射线的产生及X射线管X射线的产生：X射线是高速运动的粒子（一般用电子）与某种物质相撞击后猝然减速，且与该物质中的内层电子相互作用而产生的。
产生原理X射线是高速运动的粒子（一般用电子）与某种物质邙日极靶）相撞击后猝然减速，且与该物质中的内层电子相互作用而产生的。
高速运动的电子与物体碰撞时，发生能量转换，电子的运动受阻失去动能，其中一小部分（ 1 %左右）能量转变为X射线，而绝大部分（99 %左右）能量转变成热能使物体温度升高。
产生X射线条件? 1•产生自由电子；? 2•使电子作定向的高速运动（阴极阳极间加高电压）；? 3•在其运动的路径上设置一个障碍物（阳极靶）使电子突然减速或停止。
? 阴极一一发射电子。
一般由钨丝制成，通电加热后释放出热辐射电子。
? 阳极一一靶，使电子突然减速并发出X射线。
窗口一一X射线出射通道。
既能让X射线出射，又能使管密封。
窗口材料用金属铍或硼酸铍锂构成的林德曼玻璃。
窗口与靶面常成3-6 °的斜角，以减少靶面对出射X射线的阻碍。
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一衍射2、衍射的基本要素只有三个：即衍射线的峰位、线形、强度。
3、在X射线衍射仪法中，对光源的基本要求是稳定、强度大、光谱纯洁。
4、利用吸收限两边质量吸收系数相差十分悬殊的特点，可制作滤波片。
5、测量X射线衍射线峰位的方法有七种，它们分别是7/8高度法、峰巅法、切线法、弦中点法、中线峰法、重心法、抛物线法。
7、特征X射线产生的根本原因是原子内层电子的跃迁。
8、X射线衍射仪扫描方式可分连续扫描、步进扫描、跳跃步进扫描三种。
9、X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类：连续X射线光谱和特征X射线光谱。
10、当X射线穿过物质时，由于受到散射，光电效应等的影响，强度会减弱，这种现象称为X射线的吸收。
11、用于X射线衍射仪的探测器主要有盖革-弥勒计数管、闪烁计数管、正比计数管、固体计数管，其中闪烁计数管和正比计数管应用较为普遍。
15、当X射线照射到物体上时，一部分光子由于和原子碰撞而改变了前进的方向，造成散射线；另一部分光子可能被原子吸收，产生光电效应；再有部分光子的能量可能在与原子碰撞过程中传递给了原子，成为热振动能量。
2、产生特征X射线的根本原因是什么？内层电子跃迁：阴极发出的电子动能足够大，轰击靶，使靶原子中的某个内层电子打出，使它脱离原来的能级，致使靶原子处于受激态。
此时，原子中较高能级上的电子自发跃迁到该内层空位上，多余的能量变为X射线辐射出。
由于任一原子各个能级间的能量差值都是某些不连续的确定值，该差值转变为X射线的波长必为确定值，即产生特征X射线。
3、简述特征X-射线谱的特点。
特征X-射线谱有称作标识射线，它具有特定的波长，且波长取决于阳极靶元素的原子序数。
5、X射线连续光谱产生的机理。
答：当X射线管中高速电子和阳极靶碰撞时，产生极大的速度变化，就要辐射出电磁波。
由于大量电子轰击阳极靶的时间和条件不完全相同，辐射出的电磁波具有各种不同波长，因而形成了连续X射线谱。
6、X射线所必须具备的条件。
（1）产生自由电子的电子源（2）设置自由电子撞击靶子，用以产生X射线（3）施加在阳极和阴极间的高压（4）将阴阳极封闭在高真空中，保持两极纯洁7、简述连续X射线谱的特征（1）当增加X射线管时，各种波长射线的相对强度一致增高，最大强度波长λm和短波线λo变小(2)当管压保持恒定，增加管流是，各种波长的X射线相对强度一致增高。
但λm和λo数值大小不变。
（3）当改变阳极靶元素时，各种波长的相对强度随靶元素的原子序数增加。
二、热分析1、差热分析法、热重分析法、差示扫描量热分析法和热机械分析法是热分析的四大支柱。
2、热分析法是所有在高温过程中测量物质热性能技术的总称。
特征X射线产生的根本原因是内层电子的跃迁。
3、热重分析法包括：静态法和动态法两种类型。
4、热膨胀仪按照位移检测方法可分为：差动变压器检测、光电检测、激光干涉条纹检测三种类型。
三①第一个峰谷可能是脱水反应-吸热反应②第二个峰谷可能是分解反应或脱水反应-吸热反应6、简述热重分析的主要应用。
答：热重分析法的最大特点是定量性强，可以精确地分析出二元或三元混合物各组分的量。
利用脱羟基水的失重量测定氢氧化钙的含量，进而研究水泥水化的速度问题；利用脱碳失重测定碳酸盐的含量或脱硫失重测定硫酸盐的含量；利用脱水失重测定含水矿物的数量。
7、在差热曲线上如何确定反应起始点温度答:作峰的外延起始便陡峭部分的切线与外延基线的交点为外延起始点，从外延起始点引横坐标温度轴的垂线，在温度轴上的交点即为反应起始点温度。
9、影响热重曲线的主要因素有哪些？（1）仪器因素：浮力与对流的影响；挥发物冷凝的影响；温度测量的影响（2）室验因素：升温速率；气氛；纸速（3）试样因素：试样的用量和粒度12、简述影响差热曲线的因素。
（1）仪器方面的因素：包括加热炉的形状和尺寸、坩埚材料及大小、热电偶位置（2）试样因素：包括试样的热容量、热导率和试样的纯度、结晶度或离子取代以及试样的颗粒度用量及装填密度（3）室验条件：包括加热速度、气氛、压力和量程、纸速14、某物质的DTA曲线上出现吸热峰，简要说明其可能发生的热效应。
1）含水矿物的脱水- 几乎所有的矿物都有脱水现象，脱水是产生吸热效应，在DTA曲线上为吸热峰2）矿物分解放出气体 - 硫酸盐、碳酸盐及硫化物等物质，在加热的过称中由于CO2、SO2等气体的放出而产生吸热效应，在DTA曲线上表现为吸热峰3)氧化反应–试样或者分解产物中含有变价元素，当加热到一定温度时会发生由低价元素变为高价元素的氧化反应，同时放出热量，在差热曲线上表现为放热峰4）：非晶态物质转变为晶态物质- 非晶态物质在加热的过程中伴随有重结晶或不同物质在加热的过程中互相化合成新物质时均会放热5）：晶形转变–有些晶态物质在加热过程中发生晶体结构变化，并伴随有热效应。
通常在加热的过程中晶体由低温变体向高温变体转化产生吸热效应。
此外，固体物质的熔化升华、液体的气化、玻璃化转变等在加热过程中都产生吸热，在差热曲线上表现为吸热峰。
15、简述综合热分析方法的优越性。
综合热分析方法是指在同一时间对同一样品使用两种或两种以上的热分析效果，因此可以在相同的实验条件下获得尽可能多的表征材料特性的多种信息且更全面可靠。
三、晶体光学1 光率体的种类有均质体的光率体, 一轴晶的光率体, 二轴晶的光率体; 其形态分别为圆球体, 以Z轴为旋转轴的椭球体 ,三轴椭球体。
2．光显微镜的调节与校正的内容主要有对光, 准焦, 确定下偏光镜的振动方向且将其平行东西方向十字丝，中心校正。
3．干涉色级序的测定方法有边缘色带法 ,补偿法。
4．晶体在单偏光镜下可以观察和测定的主要内容有晶体的外表特征，如形状，解理与晶体对无波吸收有光的光学性质，如颜色、多色性, 与晶体折射率有关的光学性质，如轮廓、糙面、突起、贝克线、色散效应等。
5．影响光程差的因素有矿物切片方向, 薄片厚度, 矿物本身性质。
6．锥光镜下研究矿物晶体时，可观察和测定的内容有晶体的轴性, 光性符号，切面位置, 光轴角大小，晶体的光性方位等。
7．一轴晶主要切面垂直光轴的切面, 平行光轴的切面, 斜交光轴的切面三种。
8．二轴晶光率体的主要切面有⊥OA切面, 平行AP切面, 垂直Bxa的切面，垂直Bxo的切面，任意斜交切面五种。
9．根据晶体颗粒边棱的规则程度，将晶体分为自形晶, 半自形晶, 他形晶三类。
11．根据薄片中晶体与树胶相对折射率的大小，将晶体的突起分为负高突起, 负低突起, 正低突起，正中突起, 正高突起, 正极高突起六个等级。
12．在正交偏光镜下，矿物的消光类型有平行消光, 对称消光, 斜消光三种。
13．干涉色级序的测定方法有目测法, 边缘色带法, 补偿法三种。
1.同一晶体的不同颗粒为何干涉色不同？晶体在什么切面上干涉色最高？答：○1干涉色的不同是由光程差的不同而导致的，而光程差不仅受到薄片的影响，还受到晶体双折射率的影响，对同一晶体切面方向不同，双折射率也不同，因而产生不同的干涉色。
○2当平行光轴或平行光轴面的切面双折射率最大，干涉色最高。
因为这是一轴晶双折射率为：N e ---Nc,是一轴晶矿物的最大折射率。
二轴晶双折射率为Ng—Np是二轴晶矿物的最大折射率。
所以光程差最大，干涉色最高。
3．矿物薄片中晶体的颜色和干涉色在成因上有何不同？影响干涉色的因素有？○1：矿物对白光的不等量吸收呈现颜色。
矿物改变光的振动方向，及折射率的不同形成光程差，从而形成干涉色。
○2影响干涉色的因素，因为干涉色是由光程差决定的，即影响光程差的因素：矿物本身性质，晶体的双折射率，薄片厚度4．矿物薄片中晶体的边缘、糙面、突起和贝克线是怎样形成的？在偏光显微镜下观测矿物晶体时，它们有何用途？答：○1边缘，贝克线：主要是由于相邻二物质折射率不等，光通过接触面时，发生折射，反射作用所引起的。
○2糙面：矿物薄片表面具有一些纤维状的凹凸不平，覆盖在矿片之上的加拿大树胶折射率又与矿片的折射率不同，光线通过二者之间的界面，将发生折射，甚至全发射作用，至使矿物表面的光线集散不一而显得明暗程度不同，给人以粗糙的感觉。
○3突起：主要是又与矿物折射率与加拿大树胶折射率不同引起的。
○4通过对在偏光显微镜下观测矿物晶体的现象分析矿物折射率的大致范围。
5．通常都是用什么方法测定矿物的干涉色级序？简述其测定方法。
答：补偿法1、电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号，分析试样物质的微区形貌、晶体结构和化学组成。
2、电子显微镜可分为：透射电子显微镜、扫描电子显微镜等几类。
3、电镜中，用静电透镜作电子枪，发射电子束；用磁透镜做会聚透镜，起成像和放大作用。
4、磁透镜和玻璃透镜一样具有很多缺陷，因此会造成像差，像差包括：球差色差、像散、和畸变。
5。
在非弹性散射过程中，电子不但改变方向，能量也有不同程度的减少，转变为热、光和 X射线和二次电子发射等。
6、电子与固体物质相互作用过程中产生的各种电子信号，包括二次电子、背散射电子、_ 透射电子和吸收电子等。
7、块状材料是通过减薄的方法（需要先进行机械或化学方法的预减薄）制备成对电子束透明的薄膜样品。
减薄的方法有超薄切片、电解抛光、化学抛光和离子轰击等。
8、扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。
9、能谱分析有四种基本方法：定点定性分析、线扫描分析、面扫描分析、和定点定量分析。
10、能谱分析要得到准确的分析结果，需选择适宜的工作条件包括加速电压、计数率、计数时间和X射线出射角等。
11、透射电子显微镜中高分辨率像有晶格条纹像和结构像。
三、简答题1、为什么现代的透射电镜除电子光源处都用磁透镜做会聚镜？（1）磁透镜的焦距可以做的很短，获得高的放大倍数和较小的球差。
（2）静电透镜要求过高的电压，使仪器的绝缘问题难以解决2、为什么电子显微镜镜筒必须具有高真空？（1）若镜筒中有气体，会产生电离和放电现象。
（2）电子枪灯丝被氧化而烧断（3）高速电子与气体分子碰撞而散射，降低成像衬度及污染样品3、扫描电镜在探测二次电子时，为何要在栅网上加250V电压？而在探测背散射电子时在栅网上加—50V电压？在探测二次电子时，在栅网上加250V电压是为了会聚二次电子。
在探测背散射电子时，加电压是为了阻挡二次电子4、扫描电镜的衬度有那些？各种衬度的典型衬度像是什么？（1）形貌衬度二次电子像（2）原子序数衬度背散射电子像或特征X射线像（3）电压衬度二次电子像5、分析电子波与加速电压的关系。
答：一个初速度为零的电子，在电场中从电位为零的点受到电位为V的作用，其获得的动能和运动速度v之间的关系为：E=Ev=1/2mv²当加速电压较低时，v<<c(光速)，电子质量近似于静止质量m.，由E=hγ P=h/γλ=h/p=h/mv得：λ=h/(2em.v)½=(150/γ)½=12.5/v½电子波长与其加速电压平方根成反比，加速电压越高，电子波长越短。