材料的介电常数和磁导率的测量
介电常数的测量
University of Science and Technology of China96 Jinzhai Road, Hefei Anhui 230026,The People ’s Republic of China固体与液体介电常数的测量(以及液体中光速的计算)一、实验目的:(1) 运用比较法粗测固体电介质的介电常数; (2) 运用比较法法测量固体的介电常数;(3) 谐振法测量固体与液体的介电常数(以及液体的磁导率); (4) 学习其测量方法及其物理意义，练习示波器的使用，(并由此推算出光在不同液体中的传播速度。
)二、实验原理：介质材料的介电常数一般采用相对介电常数εr 来表示，通常采用测量样品的电容量，经过计算求出εr ，它们满足如下关系：SCdr 00εεεε==式中ε为绝对介电常数，ε0为真空介电常数，m F /1085.8120-⨯=ε，S 为样品的有效面积，d 为样品的厚度，C 为被测样品的电容量，通常取频率为1kHz 时的电容量C 。
比较法：比较法的电路图如右图图一所示。
此时电路引入的参量少，测量精度与标准电容箱的精度密切相关。
实际测量时，我们用双踪示波器观察信号变化情况，调节电容箱和电阻箱的输出大小,使两路信号相位相同，并且12X V V =，此时标准电容箱的输出电容值即为待测电容的电容大小。
谐振法：1、交流谐振电路：在由电容和电感组成的LC 电路中，若给电容器充电，就可在电路中产生简谐形式的自由电振荡。
若电路中存在交变信号源，不断地给电路补充能量，使振荡得以持续进行，形成受迫振动，则回路中将出现一种新的现象——交流谐振现象。
RL 串联谐振电路如下图图二所示其中电源和电阻两端接双踪示波器。
电阻R、电容C 和电感串联电路中的电流与电阻两端的电压是同相位的，但超前于电容C 两端的电压2π ，落后于电感两端的电压2π，如图三所示。
电路总阻抗：Z回路电流：V I Z==电流与信号源电压之间的位相差：1arctan i L C R ωωϕ⎛⎫- ⎪=- ⎪⎪⎝⎭找到RLC 串联电路的谐振频率，如果已知L 的值，就可以得出C 的大小。
tc4钛合金相对磁导率和介电常数
tc4钛合金相对磁导率和介电常数文章标题：探索钛合金TC4的磁导率和介电常数导言钛合金TC4因其优秀的力学性能和耐腐蚀性能，被广泛应用于航空航天、航空制造、医疗器械等领域。
然而，除了其力学性能之外，TC4的磁导率和介电常数也是其重要的物理特性之一。
本文将从磁导率和介电常数的定义和影响因素入手，深入探讨TC4在这两个方面的表现，并对其应用进行展望。
一、磁导率的定义和影响因素1.1 磁导率的定义磁导率是材料对于磁通量的响应能力的度量，通常用μ表示，单位是H/m。
在外加磁场作用下，材料中会产生磁化现象，而磁导率则反映了材料对外加磁场的响应程度。
1.2 影响磁导率的因素磁导率受到材料本身微观结构、晶粒大小、晶界的影响，同时也受到温度、外加磁场和频率等因素的影响。
二、TC4的磁导率表现及影响因素分析2.1 TC4的磁导率表现在TC4中，由于含有大量的α相和β相，导致了其磁导率较低。
α相为铁素体组织，其内部没有磁畴而β相是自发磁性材料，并且通过金属和非金属元素的合金化可以有效地减小β相的含量，从而减小TC4的磁导率。
2.2 影响TC4磁导率的因素TC4的磁导率受到晶粒大小、热处理工艺、杂质元素等因素的影响。
通过合理控制这些因素，可以有效地调控TC4的磁导率，满足不同应用场景的需求。
三、介电常数的定义和影响因素3.1 介电常数的定义介电常数是材料对电场的响应能力的度量，通常用ε表示。
介电常数是指材料在外加电场下的极化程度，也可以描述材料绝缘性能的好坏。
3.2 影响介电常数的因素介电常数受到材料化学成分、晶体结构、晶界和杂质等因素的影响，同时也受到温度、频率和外加电场强度的影响。
四、TC4的介电常数表现及影响因素分析4.1 TC4的介电常数表现TC4具有优秀的绝缘性能，其介电常数较低，说明TC4在外加电场下的极化程度不高。
4.2 影响TC4介电常数的因素TC4的化学成分、晶界、杂质等因素会对其介电常数产生影响，通过合理控制这些因素，可以调控TC4的介电常数，使其更好地满足特定的工程需求。
南京大学-矢网分析实验报告
矢量网络分析仪测量微波材料的介电常数和磁导率摘要：矢量网络分析仪能够对网络参数进行全面测量，它既可测量网络的幅频特性，又可测量网络的相频特性和群延迟特性。
本实验用矢量网络分析仪测量装有微波材料样品的二端口网络散射系数（s 参量），反推出待测样品的介电常数和磁导率。
关键词：矢量网络分析仪；s 参量；介电常数；磁导率一、实验目的1. 了解矢量网络分析仪额操作和使用。
2. 掌握矢量网络分析仪测量s 参量的原理和方法。
3. 掌握由s 参量计算介电常数的计算过程和方法。
二、实验原理矢量网络分析仪能够对网络参数进行全面测量，它既可测量网络的幅频特性，又可测量网络的相频特性和群延迟特性。
可广泛应用于天线和雷达散射截面RCS 测量，发射/接收（T/R ）模块测量，介质材料特性测量，微波脉冲特性测量，光电特性测量和低温电子测量等领域，是相控阵雷达、精密制导、电子对抗、隐身和反隐身技术、微波通信和卫星等电子系统的科研、生产过程中必不可少的测试设备。
矢量网络分析仪的工作原理：矢量网络分析仪的信号源产生测试信号输入到被测件，当测试信号通过被测件时，一部分信号被反射，另一部分信号则被传输，那么反射和传输信号就携带了被测件的一些特性。
矢量网络分析仪A V3629用于测量器件和网络的反射和传输特性。
整机主要包括45MHz —40GHz 合成信号源、53MHz —24GHz 本振源、ｓ参数测试装置模块、幅相接收模块、数字信号处理与嵌入式计算机模块和液晶显示模块。
合成信号源产生45MHz —40GHz 的测试激励信号，此信号通过整机锁相电路与本振源同步扫描。
ｓ参数测试装置模块用于分离被测件的入射信号、反射信号和传输信号。
当源在端口１时，产生入射信号Ｒ１、反射信号Ａ和传输信号Ｂ；当源在端口２时，产生入射信号Ｒ２、反射信号Ｂ和传输信号Ａ。
幅相接收模块将射频信号转换成固定频率的中频信号，由于采用系统锁相技术，本振源和信号源锁相在同一个参考时基上，保证在频率变换过程中，被测件的幅度和相位信息不丢失。
材料的介电常数和磁导率的测量
无机材料的介电常数及磁导率的测定一、实验目的1.掌握无机材料介电常数及磁导率的测试原理及测试方法。
2.学会使用Agilent4991A 射频阻抗分析仪的各种功能及操作方法。
3.分析影响介电常数和磁导率的的因素。
二、实验原理1.介电性能介电材料（又称电介质）是一类具有电极化能力的功能材料，它是以正负电荷重心不重合的电极化方式来传递和储存电的作用。
极化指在外加电场作用下，构成电介质材料的内部微观粒子，如原子，离子和分子这些微观粒子的正负电荷中心发生分离，并沿着外部电场的方向在一定的范围内做短距离移动，从而形成偶极子的过程。
极化现象和频率密切相关，在特定的的频率范围主要有四种极化机制：电子极化(electronicpolarization ，1015Hz)，离子极化(ionicpolarization ，1012～1013Hz)，转向极化(orientationpolarization ，1011～1012Hz)和空间电荷极化(spacechargepolarization ，103Hz)。
这些极化的基本形式又分为位移极化和松弛极化，位移极化是弹性的，不需要消耗时间，也无能量消耗，如电子位移极化和离子位移极化。
而松弛极化与质点的热运动密切相关，极化的建立需要消耗一定的时间，也通常伴随有能量的消耗，如电子松弛极化和离子松弛极化。
相对介电常数（ε），简称为介电常数，是表征电介质材料介电性能的最重要的基本参数，它反映了电介质材料在电场作用下的极化程度。
ε的数值等于以该材料为介质所作的电容器的电容量与以真空为介质所作的同样形状的电容器的电容量之比值。
表达式如下：ACd C C ⨯==001εε（1） 式中C 为含有电介质材料的电容器的电容量；C 0为相同情况下真空电容器的电容量；A 为电极极板面积；d 为电极间距离；ε0为真空介电常数，等于8.85×10-12F/m 。
另外一个表征材料的介电性能的重要参数是介电损耗，一般用损耗角的正切（tanδ）表示。
磁导率 介电常数 电导率
磁导率介电常数电导率
磁导率是描述物质在磁场中响应的能力的物理量。
常见的磁性材料如铁、镍、钴等具有较高的磁导率，而非磁性材料如木材、塑料等则具有较低的磁导率。
介电常数则是描述物质在电场中响应的能力的物理量。
它是衡量物质绝缘性能的重要参数，一般情况下绝缘材料的介电常数都比较大。
而电容器中的介质层也是通过介电常数来起到隔离电荷的作用。
电导率则是描述物质导电能力的物理量。
金属等导电性良好的材料具有较高的电导率，而绝缘材料则具有较低的电导率。
电导率的大小与物质内部的电子浓度和电子自由度等因素有关。
这些物理量在工程和科学研究中都有广泛应用，对于材料的选择和设计具有重要意义。
- 1 -。
吸波材料的介电常数和磁导率
吸波材料的介电常数和磁导率引言吸波材料是一种能够吸收电磁波的材料，广泛应用于电磁波隔离、电磁波吸收和电磁波衍射等领域。
吸波材料的性能主要由其介电常数和磁导率决定。
本文将详细介绍吸波材料的介电常数和磁导率的概念、性质、测量方法以及对吸波性能的影响。
介电常数概念介电常数是描述介质对电场响应的物理量，表示了介质中电场强度与电极板间电压的比例关系。
介电常数可以分为静态介电常数和频率相关的复介电常数。
物理性质介电常数是一个复数，其实部表示介质对电场的吸收和储存能力，虚部表示介质中电荷的损耗。
介电常数的大小决定了电磁波在介质中传播的速度和方向。
测量方法常见的测量介电常数的方法有静电法、射频法和微波法等。
静电法是通过测量电容器中的电容来确定介电常数；射频法是利用射频电桥测量介质中的电容和电感来计算介电常数；微波法是利用微波谐振腔或传输线的特性来测量介质的介电常数。
对吸波性能的影响介电常数的大小和频率特性直接影响吸波材料对电磁波的吸收能力。
一般来说，介电常数越大，吸波材料对电磁波的吸收能力越强。
此外，介电常数的频率特性也会影响吸波材料的吸收能力，不同频率下的介电常数不同，吸波材料在不同频段的吸收能力也不同。
磁导率概念磁导率是描述介质对磁场响应的物理量，表示了介质中磁感应强度与磁场强度的比例关系。
磁导率可以分为静态磁导率和频率相关的复磁导率。
物理性质磁导率是一个复数，其实部表示介质对磁场的吸收和储存能力，虚部表示介质中磁荷的损耗。
磁导率的大小决定了电磁波在介质中传播的速度和方向。
测量方法常见的测量磁导率的方法有磁力法、霍尔效应法和磁化率法等。
磁力法是通过测量磁场中的力来计算磁导率；霍尔效应法是利用磁场中电荷运动的特性来测量磁导率；磁化率法是通过测量材料的磁化特性来计算磁导率。
对吸波性能的影响磁导率的大小和频率特性直接影响吸波材料对电磁波的吸收能力。
一般来说，磁导率越大，吸波材料对电磁波的吸收能力越强。
此外，磁导率的频率特性也会影响吸波材料的吸收能力，不同频率下的磁导率不同，吸波材料在不同频段的吸收能力也不同。
使用 LCR 表和阻抗分析仪测量介电常数和导磁率的决方案
– 频率范围宽: 从 20 Hz 到 1 GHz – 测量精度高 – 测量的准备工作非常简单 (材料制
备、测量设置)
本指南首先在第 2 部分介绍介电常数的 测量方法、测量系统和解决方案，而 后在第 3 部分介绍导磁率的测量方法、 系统和解决方案，最后在附录中说明 适用于液体的电阻率测量系统和导磁 率测量系统。
1. 引言
近年来，电子设备技术获得了蓬勃发 展，而这也使得电子元器件的材料特征 成为决定电路特性的关键因素。例如， 在制造数字 (媒体) 设备中常用的高容量 多层片式陶瓷电容器 (MLCC) 时，必须 要采用高 κ 值 (介电常数) 材料。此外， 在选择材料之前还必须执行各项电气性 能验证，例如频率和温度响应。
3.2. 电感测量法 ......................................................................................................... 17
3.3. 导磁率测量系统 .................................................................................................. 18
表 1. 介电常数和导磁率参数的测量技术和测量方法
测量参数
测量技术
阻抗分析
介电常数
导磁率
阻抗分析 网络分析
测量方法 平行板法 S 参数 腔体 真空 电感 反射波 S 参数 腔体
04 | Keysight | 使用 LCR 表和阻抗分析仪测量介电常数和导磁率的解决方案－应用指南
2. 介电常数测试
2.1. 介电常数的定义
3.4. 使用 16454A 磁性材料测试夹具的测量系统 ..................................................... 18
材料介电常数和磁导率测试
材料介电常数和磁导率测试材料的介电常数和磁导率是材料的重要物理性质，对于电磁波的传播和材料的电磁性能有着重要影响。
本文将介绍介电常数和磁导率的定义、测量方法以及其在材料科学与工程中的应用。
一、介电常数的定义和测量方法介电常数是描述材料对电场响应的物理量，通常用ε来表示。
介电常数可以分为静态介电常数和复介电常数两种。
静态介电常数（ε0）是指在频率为零的情况下材料对电场的响应。
它是介电常数在低频时的极限值，通常用εr来表示。
静态介电常数可以通过测量材料在直流电场下的电容来得到。
实验中，通过将材料制成平行板电容器，测量电容C，再根据电容与介电常数之间的关系C=ε0S/d（其中S为电容板的面积，d为电容板间的距离），计算出静态介电常数。
复介电常数（ε*）是介电常数随频率变化的情况。
它可以分为实部ε'和虚部ε''两部分，分别表示介质的电容和电阻。
复介电常数可以通过测量材料在不同频率下的电容和介电损耗角正切（tanδ）来得到。
实验中，通过在交流电场下测量电容C和材料中的电导率σ，再根据复介电常数与电容、电导率之间的关系ε* = ε0(ε' - jε'') = ε0(1 + jσ/ωε0)（其中j为虚数单位，ω为角频率），计算出复介电常数。
二、磁导率的定义和测量方法磁导率是描述材料对磁场响应的物理量，通常用μ来表示。
磁导率可以分为静态磁导率和复磁导率两种。
静态磁导率（μ0）是指在频率为零的情况下材料对磁场的响应。
它是磁导率在低频时的极限值，通常用μr来表示。
静态磁导率可以通过测量材料在直流磁场下的磁感应强度和磁场强度之间的关系来得到。
实验中，通过将材料制成螺线管，测量磁感应强度B和电流I，再根据磁感应强度和磁场强度之间的关系 B = μ0μrI，计算出静态磁导率。
复磁导率（μ*）是磁导率随频率变化的情况。
它可以分为实部μ'和虚部μ''两部分，分别表示材料的磁感应强度和磁阻。
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无机材料的介电常数及磁导率的测定一、实验目的1. 掌握无机材料介电常数及磁导率的测试原理及测试方法。
2. 学会使用Agilent4991A 射频阻抗分析仪的各种功能及操作方法。
3. 分析影响介电常数和磁导率的的因素。
二、实验原理1.介电性能介电材料（又称电介质）是一类具有电极化能力的功能材料，它是以正负电荷重心不重合的电极化方式来传递和储存电的作用。
极化指在外加电场作用下，构成电介质材料的内部微观粒子，如原子，离子和分子这些微观粒子的正负电荷中心发生分离，并沿着外部电场的方向在一定的范围内做短距离移动，从而形成偶极子的过程。
极化现象和频率密切相关，在特定的的频率范围主要有四种极化机制：电子极化 (electronic polarization ，1015Hz)，离子极化 (ionicpolarization ，1012～1013Hz)，转向极化 (orientation polarization ，1011～1012Hz)和空间电荷极化 (space charge polarization ，103Hz)。
这些极化的基本形式又分为位移极化和松弛极化，位移极化是弹性的，不需要消耗时间，也无能量消耗，如电子位移极化和离子位移极化。
而松弛极化与质点的热运动密切相关，极化的建立需要消耗一定的时间，也通常伴随有能量的消耗，如电子松弛极化和离子松弛极化。
相对介电常数（ε），简称为介电常数，是表征电介质材料介电性能的最重要的基本参数，它反映了电介质材料在电场作用下的极化程度。
ε的数值等于以该材料为介质所作的电容器的电容量与以真空为介质所作的同样形状的电容器的电容量之比值。
表达式如下：ACd C C ⨯==001εε （1） 式中C 为含有电介质材料的电容器的电容量；C 0为相同情况下真空电容器的电容量；A 为电极极板面积；d 为电极间距离；ε0为真空介电常数，等于8.85×10-12 F/m 。
另外一个表征材料的介电性能的重要参数是介电损耗，一般用损耗角的正切（tanδ）表示。
它是指材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应而引起的能量损耗。
材料的介电常数和介电损耗取决于材料结构和极化机理。
除此之外，还与工作频率、环境温度、湿度有关。
在交变电场作用下，材料的介电常数常用复介电常数表达：εεε''-'=i （2）式中ε'和ε''都是与频率相关的量，二者的比值为tanδωεσεεδ='''=tan （3） 则介质电导率δωεσtan = （4）式中ω为交变电压的角频率。
δεtan 仅与介质有关，称为介质损耗因子，其大小可以作为绝缘材料的判据。
此外，还有一个表征介电材料耐压性能的物理量——介电强度。
当外加电场强度逐渐增大，超过电介质材料所能承受的临界值时，电介质材料从介电状态向导电状态转变，这一临界电场强度即为介电强度。
2. 磁导率（Magnetic Permeability ）任何介质处于磁场中，均会使其所在空间的磁场发生变化，这种现象称为磁化。
在磁场强度为H 0的外加磁场中，介质被磁化后会反过来影响所在的磁场，使其发生变化，即产生一个附加磁场H′，此时介质所处磁场的总磁场强度H 总为H'H H 0+=总 （5）单位为安/米（A/m ）。
无外加磁场时，材料中原子固有磁矩的矢量总和为零，宏观上不呈现磁性。
外加磁场时，物质被磁化，但是不改变其固有磁矩大小，只改变其取向。
因此物质的磁化程度可以用单位体积的磁矩大小来表示，即磁化强度M ，其单位为A/mVP M m ∑= （6） 式中m P ∑表示体积为V 磁介质中磁矩矢量和。
M 即上述的附加磁场，它与磁场强度的关系为H M χ= （7）式中χ为单位体积的磁化率，量纲为1。
通过垂直磁场方向单位面积的磁力线束称为磁感应强度，用B 表示，其单位为T （特斯拉），它与磁场强度H 的关系为)(0M H B +=μ （8）式中0μ=4π×10-7，单位为H/m(亨/米)，称为真空磁导率。
将式(7)代入式(5)代入可得：H H H B r μμμμ==+=00)1(χ （9）式中r μ为相对磁导率；μ为物质磁导率，它反映磁感应强度B 随外磁场强度H 变化的速率。
通常使用的是磁介质的相对磁导率，其定义为物质磁导率μ与真空磁导率0μ的比值，即：μμμ=r （10） 类似的，在交变磁场中，相对磁导率是一个复数，即'''r r r i μμμ+= （11）'r μ表示在磁场作用下产生的磁化程度，反映材料对电磁波能量的存储能力；''r μ表示外加磁场作用下材料磁偶矩重排引起的损耗，反映材料对电磁波产生损耗的能力。
磁性损耗介质对电磁波的衰减能力通常用损耗正切'''tan μμδ=来表示，其值越大，衰减能力越强。
3. 阻抗分析仪测量介电常数和磁导率的原理本实验中使用的仪器是Agilent Technologies 公司的生产的E4991A 型射频阻抗分析仪。
它采用射频电流-电压（RF-IV ）测量技术，依据被测件终端电流和电压来直接测量1MHz ～3GHz 频率范围内的阻抗。
通过测定的高精度的阻抗值，自动计算试样的介电常数或磁导率，可直接在显示器上读取结果。
测量介电常数时需将E4991A 与夹具16453A 配套使用，测量磁导率时需将E4991A 与夹具16454A 配套使用。
三. 实验仪器及试样制备1.实验仪器仪器：Agilent4991A 射频阻抗分析仪、16453A 夹具、16454A 夹具，见图1。
规格：内置等效电路分析能对被测件的多元件模型进行计算，在扫描频率范围1MHz-3GHz 内方便的获取测试数据，彩色LCD/CRT 可以同时显示多组测量曲线；先进的校正和补偿方法降低了测量误差。
测量频率范围：1MHz ～3GHz ，分辨率：1mHz ；震荡器水平：40dBm ～1dBm ，分辨率：0.1dBm ；输出阻抗：50Ω；直流偏压：0～±40 V ，分辨率：1 mV ；直流偏流：100μA ～50mA, –100μA ～–50mA ，分辨率：0.01mA 。
图1 Agilent4991A 射频阻抗分析仪2.试样制备①环状试样：外环直径φ外≤20.0mm ，内环直径φ内≥3.1mm ，厚度h≤8.5 mm ；②圆柱或块状试样：最大外径φ大≥15mm ，0.3mm≤厚度h≤3mm 。
四. 实验步骤1.测试前准备：连接主机各种组件，包括电源线，键盘，鼠标，测试端头等，然后开机，预热0.5h 以上。
2. 选择测试模式：① E4991A 状态初始化：“system”→“preset”② 设置测量模式：“Utility”→“Utility”→“Material Option Menu”→“Material Type”→“选择测试参数：Permittivity （介电常数）/Permeability （磁导率）”3. 设置测试条件：① 设置显示方式：“Display”→“Display” →“Num of Traces ：3 Scalar” ② 设置测试参数：“Meas/Format”→“Meas/Format”→“MeasParameter”→“Format :Lin Y-Axis”③ 设置扫描参数：“Stimulus”→“Sweep Setup/Parameter”→设置扫描点数(201)及方式(Log)④ 设置振荡水平：“Stimulus”→“Source”→“Osc Unit” 选择电流(磁导率)或电压(介电常数)⑤ 设置扫描幅度：“Stimulus”→“Start/Stop”→ “Start”或“Stop”设置相应的频率范围4. 校正测试端头（7mm 端）：①校正准备：“Stimulus”→“Cal/Comp” →“Cal Meun[Uncal]” →“CalType：Fixed Freq&Pwr”②开路校正：“连接0S到7mm端”→“Meas Open”→“√Meas Open”→“逆时针卸载0S ”③短路校正：“连接0Ω到7mm端”→“Meas Short”→“√Meas Short”→“逆时针卸载0Ω ”④负载校正：“连接50Ω到7mm端”→“Meas Load”→“√Meas Loadt”→“逆时针卸载50Ω ”⑤低损耗电容校正：“连接‘低损耗电容’到7mm端”→“Meas Low Loss C”→“√Meas L-L”→“逆时针卸载低损耗电容”→“Done”→屏幕底端状态Uncal 显示为Cal Fix，校正完毕。
5. 补偿测试夹具：16453A的补偿：①将16453A连接到7mm端，输入标准负载厚度0.78mm：“Stimulus”→ “Cal/Comp”→“Cal Kit Meun”→“Thickness”②选择夹具模式：“Stimulus”→“Cal/Comp”→ “Fixture Type” → “16453A”③选择校正的测试点类型：“Cal Meun[Uncal]”→“Cal Type: Fixed Freq&Pwr”④短路校正：调节释放/提升按钮，使夹具上下电极接触，Meas Short”→“√MeasShort”⑤开路校正：调节释放/提升按钮，使夹具上下电极分开，Meas Open”→“√MeasOpent”⑥负载校正：将标准负载置于上下电极之间，“Meas Load”→“√MeasLoad”→“Done”确认→屏幕底端状态栏中Uncal变为Cal Fix，校正完毕。
16454A的补偿：①将16453A/16454A连接到7mm端②选择夹具模式：“Stimulus”→“Cal/Comp”→“Fixture Type” →选择“16454S或16454L”③补偿：“Stimulus”→“Cal/Comp”→“Comp Meun”→将样品托置于测量夹具上→Meas Open”→ “√MeasOpent”；“Meas Short”→“√Meas Short”；“MeasLoad”→“√Meas Load” →“Done”→确认屏幕底端状态中Uncal变为Cal Fix，补偿完毕。
6. 测试与保存：①测试准备：“Utility”→“Utility”→“Material Option Menu”→“输入样品实际尺寸”②测试：安装试验试样，然后“Scale”→“Autoscale all”，开始自动测试。
③保存数据：“Save/Recall”→“Save Data”→“AscⅡ”→“File name”→“OK”④关机：“开始菜单”→“Shut down”→关机并卸载测试夹具及测试端头等。