浅谈IC封装材料对产品分层的影响及改善
浅谈IC封装材料对产品分层的影响及改善

框 架 是 模 塑 封 装 的 骨 架 ,它 主 要 由 两 部 分 组 成 :芯 片焊 盘 (die paddle)和 引脚 (1ead finger)。其 l+l芯 片 焊 盘 在 封 装 过 程 中为 芯 片 提 供 机 械 支 撑 , 『 引脚 则是 连 接 芯 片 到 封 装 外 的 电 学通 路 ,就 引 脚 lf1j青 ,每 一个 引脚 末 端 都 与芯 片上 的 一 个 焊 盘 通 过 引线 相 连 接 ,该 端 称 为 内 引脚 (inner finger), 引脚 的 另 一端 就 是所 谓 管 脚 ,它 提 供 与基 板 或 PC 扳 的机 械 和 电学 连 接 。
收 稿 日期 :2013.11—20
圜■豳 (总第226期)①
封装材 料与设备
电 子 工 业 专 用 设 备
-
的 热 应 力集 L}J常 常造 成 封 装 结 构 的分 层 破 坏 ,形 成 界 曲 分层 ,从 而 导 致 封 装 结 构 的 失效 。对 封 装 件 的 应 力 分析 是对 封 装 材 料 、 工 艺和 可靠 性 评 价 的 重 要 内容 之 一 , 因而 分 析 判 断封 装 材 料 在 封装 和 使 片]过 程 中 产 生 应 力 的 影 响具 有 重 要 的 意 义 ,本 文主 要就 引线 框 架 和 环 氧 树 脂 等 主 要封 装 材 料 对 产 品分 层 的影 响进 行 分 析 和 探 讨 。
框架 通 常 都 是 由合 金材 料 制成 ,加 T方 法 为冲 压法 和 蚀刻 法 。通 常 的框架 材 料是 铜合 金 材料 和铁 镍 合 金 (也 称 合 金 42, 一般 情 况 下 镍 的 含 量 为 42%,铁 的含 量 为 58%)。除此 之外 现今 各 种各 样 的 复合 材 料层 出不 穷 ,但 是应 用 的范 围还 比较 狭 窄 , 一 是 由于 技术 上 还不 够 完 善 ,其 次就 是 价格 因素 。 框架 材 料 一一般 是 金属 合 金 ,在 封装 中主 要 是关注 它 们 的粘 接 性 、热 膨 胀 系数 (CET)、强 度 以及 电 导率 。 下 面我 们将 分 别 讨 论框 架材 料 的这些 性 质特 性 ,同 时对 不 同材 料 的这 些特 性 进 行 比较说 明,
从IC封装产品可靠性谈封装冲切模具优化设计

产 品 可靠性 越 来越 高。塑料 封 装 模 具 的冲切 工 艺产 生 的分层 现 象是 影响 产 品 可 靠性 的 主要 原 因
之一。 文章 首 先叙 述 了冲切 过 程产 生 的分 层情 况, 次从 模 具 结构 方 面说 明 冲切 产 生分层 的 原 因, 其
并针 对 产 生分 层 的原 因提 出冲切 模 具 的优 化 设 计,最后 总 结从 实 际生产 过 程 中防分 层要 求设 计
a d u t —ma l t ,a c mp n e y i c e s g d ma d f r p o u tv l me a d i c e sn r d c n nr s l a ,ec c o a i d b n r a i e n o r d c o u n n r a ig p o u t n r l b l y T ep n h p o e sr s l n e a n t n p o u i g i l i g p o e si n f h i ei i t . h u c r c s e u t g d lmi a i r d cn mo dn r c s s o e o e man a i i o n t
fo m o d sr c u e n u r r p i z t n d sg f p n h d e b n l zn ea n t n r m l t t r ,a d p t f wad o t u o mia i e i n o u c i y a a y i g d lmi ai o o c u e . e u t t i a e e i n d a p n h d e a d l a a o p e e td lm i ai n i cu l a s s Asa r s l h s p p r d s e u c i n e d f me t r v n e a n t n a t a , g r o
电子封装材料的改进与性能优化

电子封装材料的改进与性能优化随着电子技术的不断发展,电子封装材料在电子产品制造过程中起着至关重要的作用。
电子封装材料是指用于保护电子元器件、提高其可靠性和性能的材料。
随着电子产品的迅猛发展,对电子封装材料的要求也越来越高。
本文将探讨电子封装材料的改进与性能优化。
首先,随着电子产品尺寸的不断缩小,对电子封装材料的要求也越来越高。
传统的封装材料在满足电子产品的基本需求的同时,往往存在着体积大、重量重、导热性能差等问题。
因此,研发具有高密度、轻量化特性的新型封装材料成为了当前的研究热点。
例如,采用纳米材料作为电子封装材料的基础,可以大幅度减小封装材料的体积和重量,提高电子产品的集成度和便携性。
其次,电子封装材料的导热性能是影响电子产品性能的关键因素之一。
电子元器件在工作过程中会产生大量的热量,如果无法及时散热,将会导致电子元器件的温度过高,降低其工作效率和寿命。
因此,研发具有优良导热性能的电子封装材料对于提高电子产品的性能至关重要。
目前,石墨烯等导热材料被广泛应用于电子封装材料中,其高导热性能可以有效地将热量传导到散热器中,提高电子产品的散热效率。
此外,电子封装材料的耐高温性和耐腐蚀性也是电子产品制造过程中需要考虑的重要因素。
电子产品在工作过程中,往往会面临高温环境和腐蚀性气体的侵蚀,因此对于电子封装材料来说,必须具备良好的耐高温性和耐腐蚀性。
传统的封装材料往往存在着耐高温性和耐腐蚀性差的问题,因此研发具有良好耐高温性和耐腐蚀性的新型封装材料成为了当前的研究热点。
例如,采用高温陶瓷材料和耐腐蚀性高分子材料作为电子封装材料的基础,可以有效地提高电子产品的工作稳定性和可靠性。
最后,电子封装材料在环保方面的要求也越来越高。
由于传统的封装材料往往含有有害物质,对环境造成了一定的污染。
因此,研发环保型电子封装材料成为了当前的研究热点。
例如,采用可降解材料作为电子封装材料的基础,可以在电子产品寿命结束后自行降解,减少对环境的污染。
电脑芯片制造中的封装工艺优化与性能改进策略

电脑芯片制造中的封装工艺优化与性能改进策略在现代科技发展中,电脑芯片是计算机的核心组成部分,对计算机的性能及功能发挥至关重要。
而电脑芯片制造中的封装工艺对芯片的可靠性、性能提升等方面起着重要作用。
本文将探讨电脑芯片制造中的封装工艺优化以及性能改进的策略。
一、封装工艺优化1. 封装材料选择封装工艺中使用的材料对芯片的性能以及散热效果具有重要影响。
传统的封装材料如陶瓷和铜等,具有较好的导热性能,但重量较大,对于高性能芯片来说并不理想。
针对这一问题,聚合物材料成为了封装工艺的一种新选择,其具有轻质、导热性能良好等优点,可用于制作轻薄的封装材料,优化封装工艺。
2. 封装工艺流程优化封装工艺流程的优化对提高芯片生产效率和降低成本具有重要作用。
在封装工艺流程中,可以采用先进的自动化设备,实现自动化生产线,减少人为操作和错误,进而提高生产效率。
此外,优化封装工艺流程还包括工艺参数的调整和工艺技术的改进,以适应新一代芯片的制造需求。
3. 封装结构设计封装工艺中的结构设计对芯片的性能和散热效果有直接影响。
传统的封装结构如球栅阵列封装(BGA)等,虽然成熟可靠,但在高功耗芯片中容易出现散热不良的问题。
为了优化封装工艺,需要设计出更有效的封装结构,如多层封装、散热片设计等,以提高芯片的散热效果和性能。
二、性能改进策略1. 集成度提升随着科技的进步,芯片的集成度不断提升,芯片内部集成的功能越来越多。
通过在封装工艺中采用先进的集成技术,如三维封装技术等,可以进一步提升芯片的集成度,实现更多功能的集成,从而提高芯片的性能和功能。
2. 芯片散热优化高性能芯片在运行时会产生大量的热量,如不能及时散热,将影响芯片的性能和寿命。
因此,在封装工艺中需要注重芯片的散热设计。
例如,通过在封装结构中设置散热片、散热管等散热元件,提高芯片的散热效果,从而改善芯片的性能。
3. 封装材料应用改进封装材料的应用改进是提高芯片性能的重要策略之一。
通过在封装工艺中采用新型封装材料,如石墨烯、有机硅等,可以改善材料的导热性能、耐高温性能等,有效提升芯片的性能。
封装工艺对芯片性能的影响

封装工艺对芯片性能的影响封装工艺对芯片性能的影响芯片作为现代电子产品的核心组件之一,其性能直接影响着整个电子产品的质量和性能。
而封装工艺作为芯片制造过程中的重要环节之一,对芯片性能也有着重要的影响。
封装工艺的质量和精确度,决定了芯片的可靠性、散热性能和电气性能等方面,因此对于芯片制造过程来说,封装工艺的优劣至关重要。
首先,封装工艺对芯片的可靠性有着直接的影响。
芯片在运行过程中会产生一定的热量,而封装工艺可以影响芯片的散热性能。
如果封装工艺不合理,散热效果不佳,芯片温度过高,容易导致芯片的损坏或寿命缩短。
因此,在设计封装工艺时,需要充分考虑芯片的散热需求,采用合适的散热材料和散热结构,以确保芯片能够稳定运行并延长其使用寿命。
其次,封装工艺对芯片的电气性能也具有重要影响。
芯片的电气性能包括传输速度、信号稳定性等方面。
封装工艺中的电路设计、金属层堆叠方式、焊接工艺等,都会影响芯片的电气性能。
例如,对于高速芯片来说,要求信号传输的速度和稳定性都非常高,因此在封装工艺中需要采用低损耗的材料,合理布局电路,以减小信号传输的延迟和失真,提高芯片的电气性能。
此外,封装工艺还可以影响芯片的尺寸和外观。
随着电子产品的发展,对芯片的尺寸和外观要求也越来越高。
封装工艺可以通过微缩工艺、多层堆叠等方式,使芯片尺寸更小、外观更美观,以满足电子产品的小型化和美观化的要求。
综上所述,封装工艺对芯片性能的影响是多方面的。
它直接影响着芯片的可靠性、散热性能和电气性能等方面。
因此,在芯片的制造过程中,需要重视封装工艺的选择和优化,以提高芯片的整体质量和性能。
只有通过合理的封装工艺,才能生产出更加可靠、高性能的芯片,满足不断发展的电子产品市场的需求。
电子元器件领域中的芯片封装工艺的改进方案

电子元器件领域中的芯片封装工艺的改进方案随着科技的发展和对高性能电子产品需求的增长,电子元器件领域正迅速发展。
芯片作为电子产品的核心,其封装工艺对产品的性能和可靠性起着至关重要的作用。
本文将讨论电子元器件领域中芯片封装工艺的改进方案,以满足不断增长的市场需求。
一、引言芯片封装工艺是将芯片连接到相应的载体上并保护芯片的过程。
它涉及到焊接、封装和测试等环节。
随着电子产品的迅猛发展,芯片的制造工艺也在不断演进。
本文将介绍一些改进方案,以提高芯片封装工艺的效率和可靠性。
二、改进方案一:先进封装材料的应用先进封装材料的应用是改进芯片封装工艺的重要方向之一。
传统封装材料如塑料和陶瓷等在一定程度上无法满足高性能电子产品的需求。
因此,研究人员正在开发一种新型的封装材料,例如高导热材料和高强度材料,以提高芯片的散热性能和抗冲击能力。
三、改进方案二:超声波焊接技术超声波焊接技术是一种利用超声波的振动来使材料发生塑性变形并完成焊接的技术。
相比传统的热压焊接技术,超声波焊接技术具有焊接速度快、焊接强度高、对环境友好等优点。
它在芯片封装工艺中的应用可以显著提高生产效率,降低生产成本。
四、改进方案三:自动化封装设备自动化封装设备是将传统手工操作转变为机械化操作的一种方式。
它能够提高封装的准确性和一致性,同时减少人力资源的消耗。
自动化封装设备可以实现芯片的精确定位、可靠焊接和高效测试,从而提高工艺的稳定性和产品的可靠性。
五、改进方案四:先进测试技术在芯片封装工艺中,测试是保证产品质量的关键环节。
传统的测试方法可能无法满足新型芯片的测试需求。
因此,开发先进的测试技术对于改进芯片封装工艺至关重要。
例如,无损测试技术和高速测试技术能够提高测试的准确性和效率。
六、总结电子元器件领域中的芯片封装工艺改进方案是满足市场需求和提高产品性能的重要手段。
本文讨论了封装材料的应用、超声波焊接技术、自动化封装设备和先进测试技术等方面的改进方案。
我们相信,通过不断推进这些方案的发展和应用,将能够有效改进芯片封装工艺,满足不断增长的市场需求,推动电子元器件领域的进一步发展。
IC卡封装中的ESD影响及对策

IC卡封装中的ESD影响及对策1、引言ESD对整个半导体产业具有非常大的影响,每年半导体工业因为ESD造成的经济损失以数十亿美元计。
随着金卡工程和IC卡国产化在中国的逐步深入推广,ESD对IC卡模块封装这种集成电路封装形式的影响成为一个研究课题。
ESD的产生机理是什么?它对IC卡模块封装的影响体现在哪些方面?对这些影响应该采取什么措施去改善或消除?本文对上述问题进行了初步的探讨,并结合上海斯伦贝谢智能卡技术有限公司的实际例子提出了几点控制ESD影响的简单措施。
2、ESD及产生原因组成物质的原子包含电子和质子。
物质获得或者损失电子时,物质表现为带有正电或负电。
静电是正电荷或负电荷在物质表面积累的结果。
电荷积累通常由物质的接触、分离或者摩擦引起,通常称为摩擦生电。
影响电荷积累的因素很多,包括物体的接触程度、摩擦系数和分离速率等。
在影响因素消除之前,电荷会持续积累,随后释放,或者一直积累到周围物质的绝缘属性或绝缘保护失效为止。
一旦绝缘属性被改变,会迅速实现静电平衡。
ESD(Electrostatic Storage Deflection,静电积聚转移)是电荷的快速平衡,电荷的迅速平衡被称为静电放电。
研究表明,人走在地毯上由于摩擦产生的电荷,可引发高达20KV的静电压。
由于电荷是在阻力很小的情况下迅速释放的,因此释放时的等效电流可以超过20安培。
如果是通过集成电路或者其它对ESD敏感的元器件放电,那么大电流很可能会严重损坏原本只能传导微安级或毫安级电流的线路。
3、ESD对IC卡模块封装的影响ESD的影响存在于晶圆片生产、集成电路封装、器件测试、装配和使用的集成电路整个生命周期。
不管什么原因,只要在器件表面或周围区域积累电荷,就会产生ESD。
ESD每年造成的半导体工业经济损失高达数十亿美元。
集成电路器件对ESD非常敏感。
集成电路器件应该工作在一定的电压、电流和功耗限定范围内。
大量聚集的静电荷在条件适宜时就会产生高压放电(如空气湿度高于65%,或操作人员的接触等),静电放电通过器件引线的高压瞬时传送,可能会使氧化层(即绝缘体)断开,造成器件功能失常。
封装材料的选择对产品性能的影响

封装材料的选择对产品性能的影响嘿,咱们今天来好好聊聊封装材料的选择对产品性能的影响。
你知道吗,就像我之前去一家电子厂参观的时候,看到工人师傅们在生产线上忙碌的场景。
有个师傅正在给一批新的电子元件进行封装,他那专注的神情让我印象特别深刻。
他就像一位精细的厨师,在为自己的“美味佳肴”挑选最合适的“食材”,而这些“食材”就是封装材料。
封装材料可不是随便选选就行的。
比如说,如果选择了不合适的封装材料,就可能会出现像手机在高温环境下突然死机的情况。
这就好比给一个怕热的人穿上了厚厚的棉袄,能不难受嘛!先来说说塑料封装材料吧。
这玩意价格相对便宜,加工也容易。
但是呢,它的耐热性和防潮性就有点不太够意思啦。
要是把它用在那些对工作环境要求比较高的电子产品上,比如说在高温高湿的工厂车间里使用的设备,那可就容易出问题喽。
想象一下,一台在车间里运行的控制机器,因为封装材料不给力,突然“撂挑子”,那整个生产线都得跟着停摆,损失可就大了去了。
再看看陶瓷封装材料,这可是个“厉害角色”。
它的耐热性和机械强度那是杠杠的。
不过,价格嘛,也相对较高。
就好像是奢侈品店里的高级货,品质一流,但不是谁都能轻松拿下。
如果把它用在一些高端的军工或者航天设备上,那是再合适不过了。
但要是用在普通的消费电子产品上,可能会让产品的成本飙升,消费者可就不一定愿意买单啦。
金属封装材料呢,它的散热性能特别好。
就像是给产品装了一台强力的“空调”,能快速把热量散发出去。
但是,它的重量往往比较大,对于那些追求轻薄便携的产品,比如超薄笔记本电脑,可能就不是最佳选择了。
不然,带着个“铁疙瘩”到处跑,得多累呀!还有一种新兴的封装材料,叫复合材料。
它结合了多种材料的优点,就像一个“全能选手”。
但新东西往往也意味着技术还不够成熟,可能在稳定性和可靠性方面还需要时间来检验。
所以说啊,选择封装材料可真是个技术活。
得综合考虑产品的使用环境、性能要求、成本预算等等因素。
这就像是给孩子选衣服,既要考虑舒适保暖,又要考虑价格款式,还得适合孩子活动玩耍,一个不小心选错了,孩子穿着不舒服,家长也闹心。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
浅谈IC封装材料对产品分层的影响及改善蔺兴江;张宏杰;张易勒【摘要】IC封装不仅要求封装材料具有优良的导电性能、导热性能以及机械性能,还要求具有高可靠性、低成本和环保性,这也是引线框架、环氧树脂成为现代电子封装主流材料的主要原因,其市场份额约占整个封装材料市场的95%以上.由于环氧树脂封装是非气密性封装,对外界环境的耐受能力较差,尤其是受到湿气侵入时,产品会出现一些可靠性问题,最容易发生的现象是分层.简要分析了框架和环氧树脂对产品可靠性的影响,在此基础上提出一些改善措施.【期刊名称】《电子工业专用设备》【年(卷),期】2013(042)012【总页数】6页(P1-5,30)【关键词】环氧树脂;封装;分层【作者】蔺兴江;张宏杰;张易勒【作者单位】天水华天科技股份有限公司,甘肃天水741000;天水华天科技股份有限公司,甘肃天水741000;天水华天科技股份有限公司,甘肃天水741000【正文语种】中文【中图分类】TN604微电子器件封装中往往都要使用多种不同热膨胀系数的材料,由于材料间的热失配及制造和使用过程中的温度变化,使得各种材料及界面都将承受不同的热应力。
层间界面热应力和端部处的热应力集中常常造成封装结构的分层破坏,形成界面分层,从而导致封装结构的失效。
对封装件的应力分析是对封装材料、工艺和可靠性评价的重要内容之一,因而分析判断封装材料在封装和使用过程中产生应力的影响具有重要的意义,本文主要就引线框架和环氧树脂等主要封装材料对产品分层的影响进行分析和探讨。
框架是模塑封装的骨架,它主要由两部分组成:芯片焊盘(die paddle)和引脚(lead finger)。
其中芯片焊盘在封装过程中为芯片提供机械支撑,而引脚则是连接芯片到封装外的电学通路,就引脚而言,每一个引脚末端都与芯片上的一个焊盘通过引线相连接,该端称为内引脚(inner finger),引脚的另一端就是所谓管脚,它提供与基板或PC板的机械和电学连接。
框架通常都是由合金材料制成,加工方法为冲压法和蚀刻法。
通常的框架材料是铜合金材料和铁镍合金(也称合金42,一般情况下镍的含量为42%,铁的含量为58%)。
除此之外现今各种各样的复合材料层出不穷,但是应用的范围还比较狭窄,一是由于技术上还不够完善,其次就是价格因素。
框架材料一般是金属合金,在封装中主要是关注它们的粘接性、热膨胀系数(CET)、强度以及电导率。
下面我们将分别讨论框架材料的这些性质特性,同时对不同材料的这些特性进行比较说明,表1为铜材料分类,表2为铜材料特性,表3为铜材料的组成成分。
环氧树脂是一种多组分的高分子复合材料,其中包括多种有机成分和无机成分。
环氧树脂的基本组分以及各组分的主要作用见表4。
在电子封装中,分层是可靠性评价的一个主要方面。
分层是产品塑封体内部各界面之间发生了微小的剥离或裂缝,一般在1~2 μm以上,主要发生的区域包括:环氧树脂与芯片界面、环氧树脂与载片界面、环氧树脂与引线框架界面、芯片与银浆界面、银浆与引线框架界面之间,如图1所示。
导致分层的因素很多,从环氧树脂的角度来说,一般认为主要是由于内部应力变化和内部水分的蒸汽压力造成的[1]。
当封装体在环境温度变化时,内部应力和水分的蒸汽压力之和大于环氧树脂与芯片、载片以及框架表面之间的粘接力,以致于使它们的界面之间出现剥离现象,严重时还会导致环氧树脂或芯片出现裂纹,如图2所示。
在塑封体内部产生分层的原因中,一般认为框架、环氧树脂的特性是导致塑封体内部分层的主要原因。
在封装中,我们主要注意框架的粘接性、热膨胀系数(CET)、强度以及电导率等性能对塑封体内部分层影响,同时环氧树脂的延展率、环氧树脂的吸湿性和环氧树脂的粘接性也是对分层影响较大的因素,当然还有导电胶,芯片等。
在考虑选择材料时,最重要的是框架与塑封材料的粘合性。
这种粘合性仅靠物理键合是不够的,化学的键合也非常必要。
一般认为,铁镍合金与环氧塑封材料的粘合性比铜合金要好一些,是因为在其表面不易生成起钝化作用的氧化层。
但是事实上,铜合金的微氧化促进了铜与塑封材料的粘接性,氧化铜结构比较疏松,影响了机械强度,导致在铜与氧化铜之间容易产生断裂,而不是铜与环氧树脂之间。
所以在选择材料的时候,要充分对比其优缺点,选择更为合适的材料。
框架与塑料材料的粘接性之所以如此重要,原因在于如果其粘接失效,就会在界面上发生分层现象(delamination),这样,空气中的水分、各种离子以及塑封材料表面的离子杂质就会直接进入封装模块,从而影响到引线键合处,引起引线键合锈蚀失效等问题,所以粘接性是考虑框架材料选择的一个很重要因素。
在上文中我们已经提到,就塑封材料的粘接性而言铜合金要优于铁镍合金。
由于现在铜合金框架材料的应用越来越广泛,所以对铜合金表面的改进也越来越多。
研究表明,在铜框架表面涂一层聚合物,这种聚合物与铜合金和环氧塑封材料都有良好的粘合作用,这样可以大大提高铜框架的粘接性。
不同的材料的热膨胀系数是有一定差别的,硅的热膨胀系数是(2.3~2.6)×10-6,而环氧树脂的热膨胀系数为(16~20)×10-6。
由以上数据可看出,硅的热膨胀系数和环氧塑封料的热膨胀系数相差甚多,CET失配就会引起封装模块开裂、分层等问题,因此,根据器件的性能仔细挑选具有合适热膨胀系数的框架材料是极为重要的。
合金 42(铁镍合金)的 CET 为(4.0~4.7)×10-6,铜合金的CET在(17~18)×10-6。
从上面的数据可看出,合金42的CET与芯片(表面为硅材料)的CET较为匹配,而铜合金的CET与环氧塑封料的CET较为接近。
在解决了框架的粘接性问题之后,为了降低由于热膨胀系数失配所引起的热应力,通常行业内更倾向于选择铜合金作为框架材料。
框架的功能之一就是散热,芯片在工作过程中会产生一定的热量,其中大部分是通过框架散发出去的,这是因为塑封料的导热能力相当差。
在热学性能方面,铜合金的优势显得极为明显,要比铁镍合金的导热能力高10倍以上,这也是现在铜合金框架材料使用的越来越广泛的原因之一。
由于构成集成电路的材料很多,包括芯片、引线框架、金丝、载片、导电胶等,它们与环氧树脂的热膨胀系数相差很大,在环境温度变化时,因它们热膨胀系数的差异而使塑封体内部产生应力,应力的产生会引起界面分层、胶体翘曲、表面钝化膜开裂、铝布线滑动等不良现象。
环氧树脂的应力计算为:式中:K1、K2是常数,a1、a2是环氧树脂的热膨胀系数,E是环氧树脂的弹性模量,dT是温度变化,从公式可以看出,影响环氧树脂的应力因素有:环氧树脂的热膨胀系数、环氧树脂的弹性模量和环氧树脂的玻璃化温度,但是降低环氧树脂的玻璃化温度会降低材料的机械性能,所以降低环氧树脂的热膨胀系数和弹性模量是降低环氧树脂应力的有效方法。
(1)加大环氧树脂填充材料的含量,可以降低热膨胀系数。
填料不仅能够起增加导热、支撑的作用,而且还能降低环氧树脂的热膨胀系数和封装成本。
目前所使用的填充材料主要是二氧化硅,其热膨胀系数为6×10-7℃-1,而环氧树脂的热膨胀系数大约是6×10-5℃-1,两者相差100倍。
所以要降低环氧树脂的热膨胀系数,必须加大填充材料的含量(见表5)。
(2)添加应力吸收剂,可以有效降低环氧树脂的弹性模量。
研究表明使用一种添加剂既可以降低热应力,又可以有效降低环氧树脂的弹性模量,所以也称为应力吸收剂。
目前所使用的应力吸收剂主要是一种硅油或硅橡胶,它可以有效降低这种热应力和环氧树脂的弹性模量,另外,研究发现使用角形填料也会使应力集中,而形成一种角应力,所以球形填料比角形填料有更低的应力表现,使用应力吸收剂也会有效地降低这种角应力。
应力吸收剂对环氧树脂的应力和分层的影响情况列于表6。
总之,降低环氧树脂的热膨胀系数和弹性模量,可以有效降低环氧树脂内部应力,从而改善因应力而产生的分层现象。
环氧树脂是一种多组分的高分子材料,其中环氧树脂的分子间距为50~200 nm,这种间距足可以让水分子渗透进去,树脂封装是一种非气密性的封装,水分可以不同程度地进入塑封体内部,进入塑封体内部的途径主要是环氧树脂本身的渗透和环氧树脂与引线框架界面之间的侵入,在塑封体内部中,水分会因环境温度升高而产生蒸汽压,当这种蒸汽压力大于环氧树脂、芯片、框架、载片等表面之间的粘接力时,就会形成分层现象。
改善这种环氧树脂的吸湿性能的方法主要有:(1)选择低吸湿的环氧树脂;(2)加大环氧树脂的填料含量;(3)提高环氧树脂内部的交联密度。
可以通过对二氧化硅表面进行改性处理,常用偶联剂来改善无机二氧化硅表面与其他有机材料表面的相容性,有利于阻止水分的侵入,还可以选择一些多功能团的环氧树脂和固化剂体系,来提高交联反应的密度,改善环氧树脂防止水分侵入的能力,以降低环氧树脂的吸湿性能。
偶联剂主要作用就是通过化学反应或者化学吸附的办法(如图3)来改变填料表面的物理化学性能,提高其在树脂和有机物中的分散性增进填料与树脂等基体界面的相容性,进而提高材料的力学性能,提高材料之间的结合。
在高温的情况下,水分会形成水汽膨胀而导致分层、断线、颈部裂纹,甚至造成胶体或芯片开裂,以致于集成电路或器件失效,如图4所示。
在塑封体内部,环氧树脂与芯片、引线框架、载片等表面之间都存在界面粘接问题,如果粘接不良就会出现所谓的分层现象。
因此,提高环氧树脂的粘接性能对改善塑封体内部分层现象是非常重要的。
从本质上讲,提高粘接性就是提高界面层反应的牢固程度。
研究表明不同种类的环氧树脂与树脂的含量对环氧树脂的粘接强度有很大的影响,一般来说软质结构的环氧树脂比硬质结构的环氧树脂更容易与固体表面结合,联苯型环氧树脂是一种较好的选择。
联苯型环氧树脂由于处于单分子的结晶态,熔融黏度极低,可以大量填充球形硅微粉填料,可以使环氧树脂的热膨胀系数极大地降低。
联苯型环氧树脂是超低应力、低膨胀型树脂的首选基体树脂,缺点是价格昂贵,储存期较短,容易发生溢料。
另外,提高环氧树脂粘接性很重要的一方面,就是微量成分中偶联剂的使用。
在环氧树脂中,一般使用硅烷类偶联剂,其种类及配比是生产研制单位的一项核心技术,偶联剂的作用,就是改善界面的相容性,主要表现在以下两个方面:(1)二氧化硅与环氧树脂等有机界面。
实验数据也表明,偶联剂的加入与否,所形成的复合材料界面层是截然不同的,直接影响着环氧树脂的密封及粘接性能。
(2)环氧树脂与金属、芯片等界面。
此界面内(包含脱模剂及偶联剂,而脱模剂对环氧树脂与芯片及引线框架的粘接强度有很大的影响。
由于脱模剂在环氧树脂流动的同时,因其分子量小易流动,比其他树脂移动得快,能很快吸附在芯片及引线框架的表面从而影响环氧树脂与其表面的正常粘接,脱模剂量越大,其覆盖界面的面积越大,会严重影响环氧树脂与其他界面之间的粘接性。