TMS320F2812芯片ADC模数转换精度的分析
TMS320F2812中文手册
TMS320F2812中文手册第1章芯片结构及性能概述TMS320C2000系列是美国TI公司推出的最佳测控应用的定点DSP芯片，其主流产品分为四个系列：C20x、C24x、C27x和C28x。
C20x可用于通信设备、数字相机、嵌入式家电设备等；C24x主要用于数字马达控制、电机控制、工业自动化、电力转换系统等。
近年来，TI公司又推出了具有更高性能的改进型C27x和C28x系列芯片，进一步增强了芯片的接口能力和嵌入功能，从而拓宽了数字信号处理器的应用领域。
TMS320C28x系列是TI公司最新推出的DSP芯片，是目前国际市场上最先进、功能最强大的32位定点DSP芯片。
它既具有数字信号处理能力，又具有强大的事件管理能力和嵌入式控制功能，特别适用于有大批量数据处理的测控场合，如工业自动化控制、电力电子技术应用、智能化仪器仪表及电机、马达伺服控制系统等。
本章将介绍TMS320C28x系列芯片的结构、性能及特点，并给出该系列芯片的引脚分布及引脚功能。
1.1 TMS320C28x 系列芯片的结构及性能C28x系列的主要片种为TMS320F2810和TMS320F2812。
两种芯片的差别是：F2812内含128K×16位的片内Flash存储器，有外部存储器接口，而F2810仅有64K×16位的片内Flash存储器，且无外部存储器接口。
其硬件特征如表1-1所示。
表1-1 硬件特征特征 F2810 F2812 指令周期（150MHz） 6.67ns 6.67ns SRAM（16位/字）18K 18K 3.3V片内Flash（16位/字） 64K 128K 片内Flash/SRAM的密钥有有有有 Boot ROM掩膜ROM 有有外部存储器接口无有事件管理器A和B（EVA和EVB）EVA、EVB EVA、EVB*通用定时器 4 4*比较寄存器/脉宽调制 16 16*捕获/正交解码脉冲电路 6/2 6/2 看门狗定时器有有 12位的ADC 有有*通道数 16 16TMS320C28x系列DSP的CPU与外设（上） ?2?续表特征 F2810 F2812 32位的CPU定时器 3 3 串行外围接口有有串行通信接口（SCI）A和B SCIA、SCIB SCIA、SCIB 控制器局域网络有有多通道缓冲串行接口有有数字输入/输出引脚（共享）有有外部中断源 3 3 核心电压1.8V 核心电压1.8V 供电电压 I/O电压3.3V I/O电压3.3V 封装128针PBK 179针GHH，176针PGF 温度选择‡ A：-40? ~ +85? PGF和GHH PBK S：-40? ~ +125? 仅适用于TMS 仅适用于TMS 产品状况‡‡产品预览（PP） AI AI 高级信息（AI）（TMP）‡‡‡ （TMP）‡‡‡ 产品数据（PD）注：‡ “S”是温度选择（-40? ~ +125?）的特征化数据，仅对TMS是适用的。
dspAD采样改进方法(精)
TMS320F2812 DSP编程之 AD 采样精度的校准算法摘要F2812内部集成了 ADC 转换模块。
该模块是一个 12位、具有流水线结构的模数转换器,内置双采样保持器(S/H ,可多路选择 16通道输入,快速转换时间运行在25 MHz、 ADC 时钟或 12.5 Msps, 16个转换结果寄存器可工作于连续自动排序模式或启动 /停止模式。
在实际使用中, ADC 的转换结果误差较大,如果直接将此转换结果用于控制回路,必然会降低控制精度。
关键词:TMS320F2812, DSP编程,采样精度F2812内部集成了 ADC 转换模块。
该模块是一个 12位、具有流水线结构的模数转换器, 内置双采样保持器(S/H ,可多路选择 16通道输入,快速转换时间运行在25 MHz、 ADC 时钟或 12.5 Msps, 16个转换结果寄存器可工作于连续自动排序模式或启动 /停止模式。
在实际使用中, ADC 的转换结果误差较大,如果直接将此转换结果用于控制回路,必然会降低控制精度。
(最大转换误差可以达到 9%左右F2812的 ADC 转换精度较差的主要原因是存在增益误差和失调误差,要提高转换精度就必须对两种误差进行补偿。
对于 ADC 模块采取了如下方法对其进行校正:选用 ADC 的任意两个通道(如 A3, A4作为参考输入通道,并分别提供给它们已知的直流参考电压作为输入(RefHigh 和 RefLow ,通过读取相应的结果寄存器获取转换值,利用两组输入输出值求得 ADC 模块的校正增益和校正失调,然后利用这两个值对其他通道的转换数据进行补偿,从而提高了 ADC 模块转换的准确度。
实现校准的硬件电路在本文中不作描述,在有关资料中可以查到。
下面是该算法的 C 语言实现://首先计算两个通道的参考电压转换后的理想结果// A4 = RefHigh = 2.5V ( 2.5*4095/3.0 = 3413 ideal count// A3 = RefLow = 0.5V ( 0.5*4095/3.0 = 683 ideal count#define REF_HIGH_IDEAL_COUNT 3413#define REF_LOW_IDEAL_COUNT 683#define SAMPLES 63//定义所需的各个变量Uint16 Avg_RefHighActualCount;Uint16 Avg_RefLowActualCount; /Uint16 CalGain; // Calibration Gain Uint16 CalOffset; // Calibration Offset Uint16 SampleCount;Uint16 RefHighActualCount;Uint16 RefLowActualCount;//对各个变量进行初始化void InitCalib({Avg_RefLowActualCount = 0;Avg_RefLowActualCount = 0;Avg_RefHighActualCount = 0;RefHighActualCount = 0;RefLowActualCount = 0;CalGain = 0;CalOffset = 0;SampleCount = 0;}//获得校准增益和校准失调// Algorithm: Calibration formula used is://// ch(n = ADCRESULTn*CalGain - CalOffset// n = 0 to 15 channels// CalGain = (RefHighIdealCount - RefLowIdealCount// -----------------------------------------// (Avg_RefHighActualCount - Avg_RefLowActualCount //// CalOffset = Avg_RefLowActualCount*CalGain - RefLowIdealCount //// A running weighted average is calculated for the reference inputs://// Avg_RefHighActualCount = (Avg_RefHighActualCount*SAMPLES // + RefHighActualCount / (SAMPLES+1//// Avg_RefLowActualCount = (Avg_RefLowActualCount*SAMPLES// + RefLowActualCount / (SAMPLES+1 //void GetCalibParam({RefHighActualCount = AdcRegs.ADCRESULT4 >>4;RefLowActualCount = AdcRegs.ADCRESULT3 >>4;if(SampleCount > SAMPLESSampleCount = SAMPLES;Avg_RefHighActualCount = (Avg_RefHighActualCount * SampleCount + RefHighActualCount / (SampleCount+1;Avg_RefLowActualCount = (Avg_RefLowActualCount * SampleCount + RefLowActualCount / (SampleCount+1;CalGain = (REF_HIGH_IDEAL_COUNT - REF_LOW_IDEAL_COUNT/ (Avg_RefHighActualCount - Avg_RefLowActualCount; CalOffset = Avg_RefLowActualCount*CalGain - RefLowIdealCount;SampleCount++;}//在 ADC_ISR中,对其他各个通道的结果进行修正:interrupt void adc_isr(void{GetCalibParam(;......newResult n= AdcRegs.ADCRESULTn*CalGain - CalOffset;......}通过上面的代码,配合硬件电路改动,可以大幅实现提高 ADC 采样的精度,实现更灵敏、更精确的控制。
TMS320F2812的ADC模块提高精度的采样方法实现
Ｉ ■ Biblioteka Ｃａｉｅｄｃｌ ｊ ｈ ｅ ｈｏＲ ｉｓｎａＴｎｇｅｗ ｎｃｃｎｅｏｙｖ ｅ
Ｔ ３ ０ ２ １ 的 Ａ Ｃ模块提高精度 的采样方法实现 ＭＳ ２Ｆ ８ ２ Ｄ
曹志剑
（ 川省成 都市 电子科技 大学 四 川 成都 四 ６ ０ ７） １０ ３
［ 要 ］ 文针 对 Ｔ Ｓ ２Ｆ ８ ２的片上 Ａ Ｃ 块， 出了几种 可行 的提高 Ａ 摘 本 Ｍ３０２１ Ｄ模 提 Ｄ采样 精度 的方 法， 中着重介 绍 了一种 高精度 的采样 方法， 其 并且给 出了其 ｃ 语 言实现 的程 序清 单 。这个 方法 可 以大 大提 高 Ａ Ｄ模 块 的采样 精 度， 其在 实现 上 面也 比较 容易 。 ［ 关键ｉ］ Ｍ ３０ ２ １ Ａ 采 样 ￣ Ｔ Ｓ２ Ｆ８ ２ Ｄ 中图分 类号 ：Ｐ ７ ＋ ８ Ｔ２ １ ． １ 文 献标识码 ： Ａ 文章编号 ： ０ ９ ９ ４ （０ ０ ０ ０ ２ Ｏ １０ ～ １ Ｘ ２ １） ５ ０ ８ ｌ 这样根据这 两个实 际偏移量和 得到 的输 出数字量， 就可 以根据下式 得到实 际 比较真 实 的输入模 拟量 ｘ 补偿之 后 的数字输 出量 Ｙ 和 ：
｛ 令Ｃ ｌ￣ ｆ ａｃ ｍ：ｔＯｍ ，ｃ ｌ／ ｔ Ｃ ／￣）・ － 一 ＂Ｉ Ｓ ｏ ￣ １ ａｏ ￣ ： ａＧ ｔ Ａ ２ Ｙ’ ２
／ 矫正后 的结 果为Ｎ ｗ ｅ ｕ ｔ ： Ａ ｃ Ｅ Ｕ Ｔ ａ Ｇ ｉ — Ｃ ｌ ｆ ｓ ｔ ／ ｅ Ｒ ｓｌｎ Ｄ Ｒ ｓＬ ｎｃ １ａｎ ａ Ｏｆ ｅ
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基于TMS320F2812的信号处理系统的设计
信 号 电压 的 幅度 调 节 到 ０～３Ｖ范 围 内 ； 外 Ｒ Ｍ 选 片 Ａ 用 ＩＳ ＳＩ公 司 的 Ｉ６Ｌ ５２６ 芯 片 作 数 据 缓 冲 ； Ｓ １Ｖ １１ Ｔ Ｓ ２Ｆ ８２ 输 入 的信 号进 行 采 集 、 理 ， 将 其 Ｍ ３０ ２ １ 对 处 并 处理 结果 通 过 Ｒ ２２总 线 接 口与 Ｐ Ｓ３ ｃ进 行数 据 通 信 ， 通过 串 口调试工具 实 时监 测发 送 和接 收数 据 ； Ｄ Ａ Ｃ模
关 键 词 ： Ｓ ； Ｃ ；采 集 ； 息 处 理 ＤＰ ＳＩ 信
中图法分类号 ： ６ １８ ３ Ｐ ３ ， ＋
文献标识码 ： Ｂ
文章编 号：１０ ．１４２ １ ）６０ ６ ．２ ０４９３ （０ ００ ．０ ９０
０ 引ห้องสมุดไป่ตู้言
随着现代 科学 技 术 的发 展 和 计算 机 技术 的普 及 ，
系统结构框 图。
道值就 会 被保 存 到 相 应 的结 果 寄 存 器 （ ｅｕｔｅ０－ Ｒ ｓｌ ｇ－ Ｒ Ｒ ｓｈ ｅ ｌ） ｅｕ Ｒ ｇ５ 中去 。其 Ａ Ｃ模块框 图如 图 ２所示 ［ｌ Ｄ １ 。 本 系统 采 用这 款 Ｄ Ｐ的 片上 Ａ Ｃ模块 对待 处理 的信 Ｓ Ｄ 号进行 模数转 换 。该模 块有 ｌ ６个通道 ， 单通道 转换 的 最小的转换时间是 ８ ｓ 因此 ， Ｓ ０ｎ ， Ｄ Ｐ的最大采样速率
石 ２１ 年 ００
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油
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器
・６ ・ ９
第 ２卷 ４
第 ６期
ＰＴ Ｅ ＲＯＬＥ ＵＭ ＮＳ ＲＵ Ｉ Ｔ ＭＥＮ Ｓ Ｔ
计算机 与通讯 技术 ・
基于 Ｔ Ｓ２ Ｆ ８２的信号处理 系统的设计 Ｍ ３０ ２ １
基于DSPTMS320F2812和DS18B20的温度测量系统设计
基于DSP TMS320F2812和DS18B20的温度测量系统设计摘要:本文介绍了一种基于TI公司DSP TMS320F2812 的高精度温度测量系统的设计。
该系统采用TMS320F2812为微处理器，配合高精度DS18B20数字温度传感器和外部扩展的模数转换器采集温度数据，并经过滤波算法处理控制输出，能够得到比较精确的温度值。
主要介绍了系统的结构、工作原理、软硬件的设计，并对系统设计的特点进行了详细的说明。
关键词: TMS320F2812；DS18B20；温度测量；模数转换1 概述温度在航空、航天领域中是个重要的物理量，由于温度变化对设备可能产生影响，包括降低系统的成像质量，影响分辨率，因此，在这些系统中对温度的实时采集测量十分重要。
以传统的单片机为核心的温度测量控制系统，由于受到处理器自身硬件资源和速度的限制，硬件电路设计复杂，数据实时处理能力差，温度测量时间长。
而随着计算机技术尤其是招超大规模集成电路技术的发展，具有更强处理能力的DSP芯片，以其运算速度快、实时性强、功耗低、抗干扰能力强等特点，越来越多地被应用。
采用了DS18B20数字温度传感器、外部扩展ADC模数转换器，使用内部集成外设功能的DSP TMS320F2812 微处理器作为整个系统的核心控制单元，简化了硬件电路设计；在温度采集控制软件上采用“通道滤波”温度采集控制算法，使得温度采集具有速度快、精度高的特点。
2 系统方案设计温度测量系统设计以DSP TMS320F2812为中央处理器为核心，采用DS18B20型号数字温度传感器为温度传感器，使用AD7892型号的ADC模数转换器进行A/D 转换，并将采集结果代入温度曲线方程计算出当前温度值，并且将温度值通过通信系统发送到上位机。
高精度温度测量控制系统由两大部分组成，第1部分为以DSP TMS320F2812为核心处理器的数据采集及处理部分，主要由产品温度环境、温度传感器、ADC模数转换器、DSP TMS320F2812、电源构成；第2部分由温度采集处理软件构成，完成对DSP采集到的数据进行分析、处理等任务。
单片机ADC模数转换原理及精度提升策略
单片机ADC模数转换原理及精度提升策略概述：单片机中的ADC（Analog to Digital Converter）电路是将模拟信号转换为数字信号的重要组成部分。
ADC模数转换原理是基于采样和量化的原理实现的。
本文将介绍单片机ADC模数转换的原理，并探讨提高转换精度的策略。
1. ADC模数转换原理：ADC模数转换原理分为三个步骤：采样、量化和编码。
首先，采样器将输入的模拟信号按照一定频率进行采样，得到一系列离散的采样值。
然后，量化器将采样值按照一定的精度进行量化，将连续的模拟信号转换为离散的数字信号。
最后，编码器将量化后的数字信号编码为二进制码，以便单片机进行处理。
2. 提高ADC转换精度的策略：（1）增加采样频率：采样频率越高，获得的采样值越多，可以更准确地还原原始的模拟信号。
因此，可以通过提高ADC的采样频率来提高转换精度。
（2）优化参考电压：ADC的转换精度受到参考电压的影响。
参考电压应为稳定、精确的电压源，以确保ADC转换的准确性。
可以通过使用参考电压源或外部参考电压电路来提高转换精度。
（3）降低噪声：噪声会影响ADC的转换精度。
噪声可以来自电源、引脚等，因此需要采取措施来降低噪声水平。
例如，使用滤波电路和屏蔽措施来降低噪声对ADC转换的干扰。
（4）校准和校正：由于元件参数的不均匀性和时间漂移等原因，ADC的转换精度可能会发生偏差。
因此，需要进行校准和校正，以提高转换精度。
可以使用校准电路或软件校准的方法来进行校准。
（5）增加分辨率和位数：增加ADC的分辨率和位数可以提高转换精度。
分辨率是指ADC可以分辨的最小电压变化量，位数则代表了ADC转换结果的位数。
增加分辨率和位数可以获得更准确的转换结果。
（6）差分输入：使用差分输入可以减少共模噪声对ADC转换精度的影响。
差分输入可以通过采取差分双终端输入的方式来实现，将信号的差值作为转换信号输入。
3. 总结：单片机ADC模数转换原理是通过采样、量化和编码实现了模拟信号向数字信号的转换。
单片机ADC技术原理及精度提升方法探讨
单片机ADC技术原理及精度提升方法探讨摘要：本文首先介绍了单片机ADC技术的原理和基本概念，然后探讨了提高ADC精度的常用方法，包括增加参考电压精度、降低噪声干扰、使用运算放大器和滤波器等。
通过深入研究和分析这些方法，可以帮助工程师们更好地理解和应用单片机ADC技术，提升系统的测量精度。
1. 引言ADC（Analog-to-Digital Converter）是将模拟信号转换为数字信号的核心器件，广泛应用于通信、仪器仪表、工业自动化等领域。
单片机ADC技术在嵌入式系统中发挥着重要作用，因其集成度高、成本低、功耗小、易于编程等特点而备受工程师们的青睐。
2. 单片机ADC原理单片机ADC的基本原理是通过采样和量化过程将连续模拟信号转换为离散数字信号。
首先，外部模拟信号经过模拟开关传递给采样电容，然后经过采样保持电路固定时间后，再由电压比较器比较采样保持电压与参考电压的大小，进而产生一个数字输出。
通常情况下，单片机ADC的参考电压是一个固定值，其精度对于整个系统的准确度至关重要。
3. 单片机ADC精度的影响因素在实际应用中，单片机ADC的精度会受到多种因素的影响。
以下是几个常见的影响因素：3.1 参考电压的精度参考电压的精度直接影响着ADC转换结果的准确度。
如果参考电压精度较低，那么ADC的测量结果会存在较大的误差。
因此，为了提高ADC精度，可以选择高稳定性、高准确度的参考电压源。
3.2 噪声干扰噪声干扰是影响ADC转换精度的另一个主要因素。
噪声可以来自各种源，包括电源噪声、地线噪声、射频干扰等。
为了降低噪声干扰对ADC性能的影响，可以采取一系列措施，如提高电源滤波能力、合理布线、使用屏蔽罩等。
3.3 电源稳定性供电电源的稳定性对于ADC的精度有着重要影响。
当供电电压波动较大时，ADC的参考电压和转换结果都会受到影响，导致转换精度下降。
因此，应该尽量保证供电电源的稳定性，如使用稳压器或电池供电。
4. 提高ADC精度的方法为了提高单片机ADC的精度，工程师们可以采取以下几种常用方法：4.1 增加参考电压精度参考电压的精度直接影响ADC转换结果的准确度。
DSP-AD校正篇(word文档良心出品)
32位高性能数字信号处理器内部AD的精度校正方法TMS 320F2812是TI公司设计的一款用于工业控制、机床控制等高精度应用领域的DSP。
它是一款最高主频可达150ＭＨZ的32位高性能数字信号处理器（DSP）,内部集成了16路12位ADC转换模块。
该模块内置两个采样保持器（S/H-A、S/H-B）,有自动排序功能，且其转换时间最短可在100ns以内进行过采样处理。
但在实际应用中发现，即使使用了过采样处理，TMS 320F2812内部ADC转换器的转换结果仍存在较大误差，在测控系统中，这会降低控制回路的控制精度，导致运行结果出现一定的偏差。
本文提出一种提高ADC转换精度的方法，使得TMS 320F2812的ADC转换精度得到有效提高，能让TMS 320F2812更好的满足高精度控制系统的需要。
适用于控制领域的TMS320C2000系列DSP内部集成了ADC转换模块，为进一步提高其转换精度，实现更精确控制，提出对ADC转换模块存在的增益误差和偏移误差采用加参考信号与编程算法结合的方法进行校正偿，给出了具体的校正方案。
并在F2812芯片上进行了验证。
实验结果表明，此方法起到了补偿误差的作用，能够大幅度提高转换精度。
1、ADC转换器的误差分析计算机测控系统在测量数据时不可避免的会有随机误差和系统误差，其中随机误差一般是由各种干扰引入的，可通过统计的方法在数据处理中消除，系统误差一般在数值上较大，对测量正确度影响较大，且不能在数据处理中消除，必须要找出来并通过一定的方法进行消除。
对于线性系统，常用的Ａ／Ｄ转换器主要存在偏移误差和增益误差，这两种误差都属于系统误差。
首先我们介绍一下什么偏移误差？什么是增益误差？增益误差是指从负满量程转为正满量程输入时实际斜率与理想斜率之差。
偏移误差是指对AD转换器采用零伏差动输入时实际值与理想值之间的差异。
增益和偏移增益误差通常是AD转换器中主要的误差源。
为了减小增益误差和偏移误差，可采取检测其值，然后对其进行修正的方法。
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TMS320F2812芯片ADC模数转换精度的分析
摘要： TMS320F2812是高集成、高性能指令控制应用芯片，但其ADC模数转换单元易受干扰，精度差。
本文从实际应用的角度出发，通过比较硬件滤波、电源滤波、软件滤波、工作时钟频率、ADC转换窗口、外部RAM等外围设计因素，提出了电源、软硬件滤波综合方案，以提高ADC模数转换精度。
关键词：模数转换；硬件滤波；软件滤波；电源滤波
TMS320F2812是高精度的DSP，其运算速度快，工作时钟频率达150 MHz，指令周期可达6.67 ns以内，低功耗(核心电压1.8 V，I/O口电压3.3 V)。
采用哈佛总线结构，具有强大的操作能力、迅速的中断响应和处理能力以及统一的寄存器编程模式。
并且在片上集成了Flash存储器，可实现外部存储器的扩展。
外部扩展模块(PIE)可支持96个外部中断，45个可用。
两个增强的事件管理器模块(EVA、EVB)，提供了一整套用于运动控制和电机控制的功能和特性。
每个事件管理模块包括通用定时器(GP)、比较单元、捕获单元以及正交编码脉冲电路。
外围设备包括3个32 bit的CPU定时器，16通道12 bit ADC(单个转换时间为200 ns，单路转换时间为60 ns)，它不仅具有串行外围接口(SPI)和两个串行通信接口(SCI)，还有改进的局域网络(eCAN)、多通道缓冲串行接口(McBSP)和串行外围接口模式[1]。
28X核提供了高达400 MIPS的计算带宽，它能够满足大多数经典实时控制算法，在工业自动化、光传输网络和自动控制等领域拥有应用前景。
但是，在获得其较高工作时钟频率150 MHz、低功耗的I/O口3.3 V电压的同时，对其在电磁兼容和ADC模数转换单元等实际应用提出了更高的要求。
特别是ADC模数转换单元，受到了众多使用者的诟病，称其实测的精度甚至低于TMS320F2407的10 bit ADC模数转换精度。
有人怀疑TMS320F2812核内数字地和模拟地连接设计有缺陷，但尚未得到TI公司的证实。
TI公司发布了SPRA989[2]的ADC校准文档，仅修正了模数转换的增益和偏移，与完全实用的要求尚有一定差距。
本文从实际应用的角度出发，考虑其外围设计因素，提高ADC模数转换精度。
1 ADC模数转换精度分析以及测试方法影响ADC模数转换最终结果精度的原因很多，诸如芯片内部模数转换、模数转换的增益和偏移引起的误差，这些都是生产厂商控制和研究的领域，本文不作讨论。
本文只考虑用户可以修改和控制的范畴，如修改外围硬件设计减少输入误差、调节芯片参数减少输入和转换误差、软件滤波减少输出误差。
围绕这3个环节可细化分解为：硬件RC滤波输入信号的影响、供电电源滤波的影响、芯片工作时钟频率的影响、芯片的ADC转换窗口大小的影响、使用外部RAM 的影响、输出信号软件滤波的影响以及上述方法的组合等[3，4]。
使用DH1718D－2双路跟踪稳压稳流电源提供测试的输入电压信号，通过TDS2014数字存储示波器测量输入电压信号，用含TMS320F2812的最小系统板IMEZ2812V3.4板进行模数转换，最后通过SEED－XDSPP 仿真器，在计算机仿真软件上监测并记录输出电压信号。
将上述设备按以下步骤进行连接测试： (1)将计算机和SEED－XDSPP仿真器通过并口连接。
(2)将SEED－XDSPP仿真器和IMEZ2812V3.4板通过JTAG口连接。
(3)将DH1718D－2双路跟踪稳压稳流电源电压调至0～3 V，并连接至IMEZ2812V3.4板的JP4口的R_ADCINA6脚和DSP_VSSA(ADCLO)脚。
(4)用TDS2014数字存储示波器测试输入电压信号，并用计算机仿真软件观测仿真测试结果曲线。
(5)分别增加输入信号硬件滤波、电源滤波和软件信号滤波及改变相关ADC寄存器值，并重复以上步骤测试。
先使用恒定电压输入信号比较不同设定方案的效果，然后对选定方案进行全量程校核。
2 ADC模数转换精度测试过程及状态描述取基准状态为：测试直连输入信号，外部RAM，PLL=0x0A，HSPCLK=1，ADCCLKPS=2，CPS=1，ACQPS=0。
其余状态未加说明的均为基准状态＋变化状态。
分别进行ADC模数转换精度测试。
2.1 恒定电压模数转换测试比较图1恒定电压模数转换测试比较的12幅图对应测试状态及结果如表1。
2.2 全量程电压模数转换校验通过以上测试恒定电压模数转换测试比较，综合考虑转换精度和转换时间，采用以下方案：硬件滤波输入信号，软件信号滤波10x10，电源滤波100 u，内部RAM，PLL=0x0A，HSPCLK=1，ADCCLKPS=2，CPS=1，ACQPS=0。
在上述状态，ADC全量程转换测试结果如表2。
通过图2可以看出，上述方案不仅在恒定电压 2 V时可以提高ADC转换精度，在TMS320F2812的ADC全量程范围内，均可以获得较好的转换精度。
通过以上ADC模数转换测试结果，可以得出以下结论： (1)在外部RAM中运行程序ADC转换误差较大。
(2)降低芯片主频可以提高ADC转换精度。
(3)增大采样窗口可以提高ADC转换精度，但转换时间相应延长。
(4)电源滤波可以提高ADC转换精度。
(5)输入信号硬件RC滤波可以大幅度提高ADC转换精度。
(6)软件滤波可以大幅度提高ADC 转换精度，但转换时间相应延长。
综合考虑上述结论，可以采用2.2中建议的电源滤波＋硬件RC滤波＋软件滤波方案来解决TMS320F2812的ADC模数转换测量精度差的问题。