光刻胶

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光刻胶及光刻工艺流程

光刻胶及光刻工艺流程

光刻工艺流程
前处理
检验
涂胶
硬烘烤
软烘烤
显影
对准曝光
PEB
光刻工艺流程
1.前处理 (1)微粒清除 wafer表面的杂质微粒会影响光刻胶的粘附,且会损坏光刻 的图形,造成成品率的下降,所以必须要清洁掉表面的杂质颗 粒、表面沾污以及自然氧化层等。 微粒清除方法:高压氮气吹除,化学湿法清洗,旋转刷刷洗, 高压水喷溅等。 (2)烘干 经过清洁处理后的晶圆表面会含有一定的水分(亲水性表 面),所以必须将其表面烘烤干燥(干燥的表面为憎水性表 面),以便增加光刻胶和晶圆表面的参数
分辨率(resolution):是指光刻胶可再现图形的最小尺寸。一般用
关键尺寸来(CD,Critical Dimension)衡量分辨率。
对比度(Contrast):指光刻胶从曝光区到非曝光区过渡的陡度。
敏感度(Sensitivity):光刻胶上产生一个良好的图形所需一定波长
根据光刻胶能形成图形的最小光刻尺寸来分:
传统光刻胶(正胶和负胶) 适用于紫外光(UV),I线365nm、H线405nm和G线436nm,关 键尺寸在0.35um及其以上。 化学放大光刻胶(CAR,Chemical Amplified Resist) 适用于深紫外光(DUV),KrF 准分子激光248nm和 ArF准分子激 光193nm。
续的湿刻和干刻中保护衬体表面,这种性质被称为抗蚀性。
表面张力(Surface
Tension):液体中将表面分子拉向液体主体内
的分子间的吸引力。
光刻胶的分类
1.

根据光刻胶按照如何响应紫外光的特性可以分为两类
正胶(Positive Photo Resist):曝光前对显影液不可溶,而曝光 后变成了可溶的,能得到与掩模板遮光区相同的图形。 负胶(Negative Photo Resist):反之。

光刻胶

光刻胶

````4、光刻胶光刻胶主要由树脂(Resin)、感光剂(Sensitizer)、溶剂(Solvent)及添加剂(Additive)等不同得材料按一定比例配制而成。

其中树脂就是粘合剂(Binder),感光剂就是一种光活性(Photoactivity)极强得化合物,它在光刻胶内得含量与树脂相当,两者同时溶解在溶剂中,以液态形式保存,以便于使用.4、1 光刻胶得分类⑴负胶1.特点·曝光部分会产生交联(Cross Linking),使其结构加强而不溶于现像液;·而未曝光部分溶于现像液;·经曝光、现像时,会有膨润现像,导致图形转移不良,故负胶一般不用于特征尺寸小于3um得制作中。

2.分类(按感光性树脂得化学结构分类)常用得负胶主要有以下两类:·聚肉桂酸酯类光刻胶这类光刻胶得特点,就是在感光性树脂分子得侧链上带有肉桂酸基感光性官能团.如聚乙烯醇肉桂酸酯(KPR胶)、聚乙烯氧乙基肉桂酸酯(OSR胶)等。

·聚烃类—双叠氮类光刻胶这种光刻胶又叫环化橡胶系光刻胶。

它由聚烃类树脂(主要就是环化橡胶)、双叠氮型交联剂、增感剂与溶剂配制而成。

3.感光机理①肉桂酸酯类光刻胶KPR胶与OSR胶得感光性树脂分子结构如下:在紫外线作用下,它们侧链上得肉桂酰官能团里得炭-炭双键发生二聚反应,引起聚合物分子间得交联,转变为不溶于现像液得物质。

KPR胶得光化学交联反应式如下:这类光刻胶中得高分子聚合物,不仅能在紫外线作用下发生交联,而且在一定温度以上也会发生交联,从而在现像时留下底膜,所以要严格控制前烘得温度与时间.②聚烃类—双叠氮类光刻胶这类光刻胶得光化学反应机理与前者不同,在紫外线作用下,环化橡胶分子中双键本身不能交联,必须有作为交联剂得双叠氮化合物参加才能发生交联反应.交联剂在紫外线作用下产生双自由基,它与聚烃类树脂相作用,在聚合物分子之间形成桥键,变为三维结构得不溶性物质。

其光化学反应工程如下:首先,双叠氮交联剂按以下方式进行光化学分解反应:双叠氮交联剂分解后生成得双氮烯自由基极易与环化橡胶分子发生双键交联(加成)与炭氢取代反应,机理如下:⑵正胶1.特点·本身难溶于现像液,曝光后会离解成一种溶于现像液得结构;·解像度高,耐Dry Etch性强等。

光刻胶 概念

光刻胶 概念

光刻胶概念光刻胶是一种化学材料,常用于微电子芯片制造中的图形化处理过程。

光刻胶通过对光线的敏感性,使其可以对光器件中的部分区域进行选择性曝光,并在后续的化学浸润处理中起到控制溶液反应的作用。

这样就能在基片表面限定并形成所需的微细图形结构,从而完成芯片加工的制造工艺。

光刻胶在微电子制造中起到了关键的作用,主要用于制造芯片中的金属导线、半导体器件、光学器件等微型制造技术中。

而在生产过程中,光刻胶的性能会影响到芯片制造的成本、质量、效率等方面。

因此,不同类型的光刻胶的性能和应用范围需要针对不同的制造需求进行选择和调整。

光刻胶的主要成分通常是组成复杂的物质,其中含有一些有机化合物和特殊添加剂,它们的结构与材料的物理、化学性质有着密切的关系。

一般来说,光刻胶的性能因素有:1. 灯光功率:光刻胶对于紫外线的敏感性越高,则需要的紫外线强度便越低,相应的光源也需要具备更高的功率。

2. 曝光时间:曝光时间通常与被制造物的尺寸、形状等有关,不同的光刻胶会选择不同的时间。

3. 显像时间:显像时间通常与光刻胶薄膜的厚度和显像液的性质有关系。

4. 烘烤温度:烘烤温度通常与曝光和显像过程中产生的化学反应和溶液去除有关。

针对不同的制造需求,可以选择不同特性的光刻胶。

其中主要可以分为三类:紫外光刻胶、深紫外光刻胶和电子束光刻胶。

1. 紫外光刻胶紫外光刻胶是在近红外(365nm)波长下进行制造。

它具有高分辨率、快速成像和较低成本的优点。

同时,紫外光刻胶的选择性、敏感度和耐腐蚀性都比较好,通常用来制造较大尺寸的微小器件,如半导体集成电路和场效应管等。

深紫外光刻胶是在254nm波长下制造,通常被称为低基片和裸片制造领域中的中期光刻胶。

深紫外光刻胶具有高分辨率、显影速度快等优点,但成像时间较长、制造条件严格、成本较高。

通常用于制造较小的微型器件。

3. 电子束光刻胶电子束光刻胶是一种新型的微小器件的制造材料,它具有极高的分辨率和控制能力。

光刻胶知识简介

光刻胶知识简介

光刻胶知识简介光刻胶知识简介:一.光刻胶的定义(photoresist)又称光致抗蚀剂,由感光树脂、增感剂(见光谱增感染料)和溶剂三种主要成分组成的对光敏感的混合液体。

感光树脂经光照后,在曝光区能很快地发生光固化反应,使得这种材料的物理性能,特别是溶解性、亲合性等发生明显变化。

经适当的溶剂处理,溶去可溶性部分,得到所需图像(见图光致抗蚀剂成像制版过程)。

二.光刻胶的分类光刻胶的技术复杂,品种较多。

根据其化学反应机理和显影原理,可分负性胶和正性胶两类。

光照后形成不可溶物质的是负性胶;反之,对某些溶剂是不可溶的,经光照后变成可溶物质的即为正性胶。

利用这种性能,将光刻胶作涂层,就能在硅片表面刻蚀所需的电路图形。

基于感光树脂的化学结构,光刻胶可以分为三种类型。

①光聚合型采用烯类单体,在光作用下生成自由基,自由基再进一步引发单体聚合,最后生成聚合物,具有形成正像的特点。

②光分解型采用含有叠氮醌类化合物的材料,经光照后,会发生光分解反应,由油溶性变为水溶性,可以制成正性胶.③光交联型采用聚乙烯醇月桂酸酯等作为光敏材料,在光的作用下,其分子中的双键被打开,并使链及链之间发生交联,形成一种不溶性的网状结构,而起到抗蚀作用,这是一种典型的负性光刻胶。

柯达公司的产品KPR胶即属此类。

三.光刻胶的化学性质a、传统光刻胶:正胶和负胶。

光刻胶的组成:树脂(resin/polymer),光刻胶中不同材料的粘合剂,给及光刻胶的机械及化学性质(如粘附性、胶膜厚度、热稳定性等);感光剂,感光剂对光能发生光化学反应;溶剂(Solvent),保持光刻胶的液体状态,使之具有良好的流动性;添加剂(Additive),用以改变光刻胶的某些特性,如改善光刻胶发生反射而添加染色剂等。

负性光刻胶。

树脂是聚异戊二烯,一种天然的橡胶;溶剂是二甲苯;感光剂是一种经过曝光后释放出氮气的光敏剂,产生的自由基在橡胶分子间形成交联。

从而变得不溶于显影液。

负性光刻胶在曝光区由溶剂引起泡涨;曝光时光刻胶容易及氮气反应而抑制交联。

光刻胶使用注意事项

光刻胶使用注意事项

光刻胶使用注意事项
以下是 6 条关于光刻胶使用注意事项:
1. 嘿,你可别小看这光刻胶啊!就像做菜时调料不能乱加一样,用光刻胶可得注意保存环境呢!比如说啊,不能把它放在潮湿的地方,不然就可能会失效哟!你想想,要是辛苦准备做一道美味佳肴,结果因为调料坏了影响菜的味道,那不就太可惜了嘛!
2. 哎呀呀,在使用光刻胶的时候,一定要注意它的兼容性呀!这就好比找对象,得找相互合适的呀!如果和一些不相容的材料混用,那可就出大问题啦,不就像不合适的两个人硬凑在一起,肯定会矛盾不断嘛!
3. 喂喂喂,千万别忘了均匀涂抹光刻胶呀!就像给面包涂果酱,得涂得匀匀的才行呀!不然厚一块薄一块的,最后出来的效果能好吗?那肯定不行呀!
4. 嘿,你知道吗?使用光刻胶时清洁超级重要的呀!这就仿佛打扫房间一样,不打扫干净怎么能住得舒服呢!如果不把光刻胶使用的地方清理干净,有杂质什么的,那不是会影响效果嘛!
5. 天呐,操作时别太粗暴对待光刻胶呀!它可不是能随便折腾的哟!这就像对待一个易碎的宝贝,得小心翼翼的呀,不然一不小心弄坏了,那不就糟糕啦!
6. 哟哟哟,一定要注意光刻胶的使用期限啊!过期了可就不好用啦,这跟食物过期一个道理呀!过期的食物你敢吃吗?同理,过期的光刻胶也不能用呀!
结论:务必认真对待光刻胶的使用,注意这些要点,才能发挥它的最佳效果哟!。

光刻胶基本介绍

光刻胶基本介绍

The introduction of Photoresist and Application光刻胶基本介绍主要内容CONTENT☐一,光刻胶基础知识☐二,光刻胶的种类☐三,光刻胶的应用领域☐四,光刻胶的特点☐五,光刻胶的可靠性测试内容☐六,光刻胶的来料要求一、光刻胶基础知识☐光刻胶是一种具有感光性的化学品(混合物)树脂(Resin):10-40% by weight感光剂(PAC)或光致产酸剂(PAG):1-6% by weight溶剂(Solvent):50-90% by weight添加剂(Additive):1-3% by weight单体(Monomer):10-20% by weight二、光刻胶的种类☐依照化学反应和显影原理分类一、正性光刻胶形成的图形与掩膜版相同;二、负性光刻胶形成的图形与掩膜版相反。

SubstratePhotoresistCoating Maskh u TransferEtchStripExposure DevelopPositive Negative☐按照感光树脂的化学结构分类一、光聚合型:1)采用烯类单体,在光作用下生成自由基,进一步引发单体聚合,最后生成聚合物。

2)采用环氧树脂,阳离子开环,引发环氧交联反应,最后生成聚合物。

二、光分解型,采用含有叠氮醌类化合物的材料,其经光照后,发生光分解反应,可以制成正性胶;☐按照曝光波长类一、紫外光刻胶(300~450nm);I-line:365nm;H-line:405nm;G-line:436nm;Broad Band (g+h+i)二、深紫外光刻胶(160~280nm);KrF:248nm;ArF:193nm;F2:157nm;三、极紫外光刻胶(EUV,13.5nm);四、电子束光刻胶、离子束光刻胶、X射线光刻胶等。

不同曝光波长的光刻胶,其适用的光刻极限分辨率不同,通常来说,在使用工艺方法一致的情况下,波长越小,加工分辨率越佳。

光刻胶

光刻胶

抗蚀性(Anti-etching; Etching resistance)即光刻胶材料在刻蚀过程中的抵抗力。在图形从光刻胶转 移到晶片的过程中,光刻胶材料必须能够抵抗高能和高温(>150℃)而不改变其原有特性 。在后续的刻蚀工序 中保护衬底表面。耐热稳定性、抗刻蚀能力和抗离子轰击能力 。在湿法刻蚀中,印有电路图形的光刻胶需要连 同硅片一同置入化学刻蚀液中,进行很多次的湿法腐蚀。只有光刻胶具有很强的抗蚀性,才能保证刻蚀液按照所 希望的选择比刻蚀出曝光所得图形,更好体现器件性能。在干法刻蚀中,例如集成电路工艺中在进行阱区和源漏 区离子注入时,需要有较好的保护电路图形的能力,否则光刻胶会因为在注入环境中挥发而影响到注入腔的真空 度。此时注入的离子将不会起到其在电路制造工艺中应起到的作用,器件的电路性能受阻 。
1890年。德国人格林(Green)和格罗斯(Gross)等人将重氮化的混合物制成感光材料。取得了第一个重氮 感光材料的专利。不久,德国的卡勒(Kalle)公司推出了重氮印相纸,从而使重氮感光材料商品化,并逐渐代 替了铁印相技术。
工作原理
辐射线
光学
纳米压印技术
光刻胶类型及应用制程
紫外光刻胶
紫外光刻胶适用于g线(436 nm)与i线(365 nm)光刻技术。
2.紫外压印光刻胶:使用透明的模板,将预先制作好的带有微图形特征的硬模版压入常温下液态光刻胶中, 用紫外光将光刻胶固化后抬起模板,从而将模板上的微特征转移到光刻胶上。按照光引发反应机理,可分为自由 基聚合和阳离子聚合两大体系 。光刻胶材料主要有甲基丙烯酸酯体系、有机硅改性的丙烯酸或甲基丙烯酸酯体 系、乙烯基醚体系、环氧树脂体系等。
1.
热压印与紫外压印原理示意图纳米压印技术是通过压模来制作微纳特征的一种图形转移技术,其最明显的优 势是高产能、高分辨率、低成本,主要工艺流程:模板制作、硅衬底滴胶、压印、曝光、脱模、离子刻蚀,图像 精度可以达到5 nm。使用的光刻胶种类主要分为两种:

光刻胶是什么材料

光刻胶是什么材料

光刻胶是什么材料光刻胶是一种在半导体工艺中广泛应用的材料,它在集成电路制造中扮演着非常重要的角色。

光刻胶是一种光敏材料,它能够在受到紫外光照射后发生化学变化,从而形成所需的图案。

下面我们将详细介绍光刻胶的组成、工作原理以及在半导体制造中的应用。

首先,我们来了解一下光刻胶的组成。

光刻胶通常由聚合物、溶剂和光敏剂组成。

其中,聚合物是光刻胶的主体,它确定了光刻胶的力学性能和化学稳定性。

溶剂的作用是溶解聚合物和光敏剂,使光刻胶具有一定的黏度和流动性。

光敏剂是光刻胶的关键成分,它能够吸收紫外光并引发化学反应,从而使光刻胶发生凝固或溶解的变化。

其次,让我们来了解光刻胶的工作原理。

在光刻工艺中,光刻胶首先被涂覆在半导体晶圆表面,然后通过紫外光刻蚀机或激光器照射所需的图案。

在照射过程中,光敏剂吸收紫外光并发生化学反应,使光刻胶在受光区域发生物理或化学变化,形成所需的图案。

接着,经过显影、清洗等工艺步骤,最终形成了半导体器件所需的图案结构。

最后,让我们来看一下光刻胶在半导体制造中的应用。

光刻胶在半导体工艺中扮演着非常重要的角色,它被广泛应用于半导体器件的制造过程中。

通过光刻工艺,可以实现微米级甚至纳米级的精密图案制作,从而实现集成电路器件的微细加工和制造。

光刻胶的选择和使用对半导体器件的性能和可靠性有着重要的影响,因此在半导体工艺中需要严格控制光刻胶的配方、涂覆工艺和光刻参数,以确保器件的质量和稳定性。

综上所述,光刻胶作为一种在半导体工艺中广泛应用的材料,具有重要的意义。

它的组成、工作原理和在半导体制造中的应用都是非常值得深入研究和了解的。

只有深入理解光刻胶的特性和工艺,才能更好地应用于半导体器件的制造和加工中,从而推动半导体工艺的发展和进步。

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光刻胶的入门知识
2009-2-7 13:05:00来源: 不详作者:佚名访问:0次字号:【小】
作为图案复制用的光刻胶,主要的指标有光反应速度、光分辨率、光反应波长、针孔度、粘度等。

自97年后,普通的lcd制作用光刻胶基本上都已经把光反应速度提高了一倍以上,使定向层制作前的生产能力大大提升。

现在市面上的lcd制作用光刻胶光反应时间几乎都可以在10秒以下。

光分辨率在近几年也有了很大进展,现市面上的lcd制作用光刻胶都可以做到pitch在18微米水平。

光反应波长在前几年如果要做到pitch28微米的水平,波长还得在275纳米以下,经过这几年的发展,现在在400纳米可以反应的光刻胶也可以做到pitch18微米的水平。

光刻胶的技术由于改良发展较快的缘故,基本上已经解决了针孔率偏高的问题,现在大家几乎都不再考虑针孔率对lcd制作的影响了。

粘度的调整要视各家的习惯,一般是50cp的产品由于使用时添加了一定的稀释剂,可以比较好调整涂覆效果,成本也可以降低,但是由于大量使用稀释剂,也使光刻胶的一些性能受到影响,在作比较高档的产品时会有分辨率下降的趋势。

而30cp的产品,在涂覆效果上,控制稍显困难,但性能比较稳定,比较适合制作精细度高的产品。

光刻胶的保存条件比较严格,在光线、温度、湿度上都有限制,特别是开瓶使用后的光刻胶和稀释剂,一旦吸潮,其物理化学性能均下降很快。

现在光刻胶涂覆工段一般都与自动纯水清洗线连在一起,很多时候都只考虑此段的洁净度,而疏忽了该段的湿度控制,使得光刻胶涂覆的良品率比较低,在显影时光刻胶脱落严重,起不到保护阻蚀的效果。

1、光刻胶的特性:
光刻胶的组成:
lcd使用的光刻胶一般为正性光刻胶,由光敏剂、填料和添加剂混和而成。

光刻胶的特性:
正性光刻胶中的的填料让光刻胶有一定的粘性,加温固化后能得到一定的初始硬度。

而正性光刻胶中的光敏剂中一种溶于弱碱的小分子化学品,它在紫外线的作用下聚合成一种不溶于强酸和弱碱的比较致密大分子化合物,但它在强碱中依然可以溶解。

光刻胶的分类:
电子类产品光刻胶分为高感光度光刻胶和低感光度光刻胶。

高感光度光刻胶可以制作10μm 以内的高精密线路,一般用于ic和lcd微显示器制作,低感光度光刻胶制作精度在10μm以上,一般用于普通lcd产品制作和线路板制作。

影响光刻胶性能的主要参数:
固含量;感光度;粘度;固化温度;针孔率;分辨率
2、光刻胶常用规格表:
3、光刻胶工厂自适应测试方法及判定标准:
粘度:
a、测试方法:用粘度计测试待测光刻胶的粘度。

b、判定标准:测试结果粘度值与供应商提供参数一致。

添加剂干燥性能(预烘性能)
a、测试方法:按生产工艺厚度要求,把光刻胶涂覆在ito导电玻璃上,按供应商提供的温度和时间参数加热烘烤。

b、判定标准:在参数温度时间下,光刻胶完全烘干。

显影性能:
a、测试方法:将已烘干光刻胶的ito导电玻璃按生产工艺要求和供应商提供的参数要求分别进行显影。

b、判定标准:显影完全,针孔比例在要求范围内。

固化阻蚀性能:
a、测试方法:将已显影光刻胶的ito导电玻璃按生产工艺要求和供应商提供的参数要求分别进行固化、蚀刻脱胶去膜。

b、判定标准:固化完全,蚀刻后针孔比例在要求范围内,蚀刻后去胶干净无残留
本文来自湖南阳光电子技术学校,原文地址:。

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