r射线能谱实验报告
实验报告γ射线能谱测定及γ射线的吸收与物质吸收系数μ的测定
实验报告γ射线能谱测定及γ射线的吸收与物质吸收系数μ的测定γ射线能谱测定以及γ射线的吸收与物质吸收系数μ的测定实验报告摘要原子核的能级跃迁可以产生伽马射线，通过测量γ射线的能量分布，可确定原子核激发态的能级，这对于放射性分析，同位素应用及鉴定核素等都有重要意义。
同时通过学习了解伽马射线与物质相互作用的特性,测定窄束γ射线在不同物质中的吸收系数μ。
本实验通过使用伽马闪烁谱仪测定不同的放射源的γ射线能谱；根据当γ光子穿过吸收物质时，通过与物质原子发生光电效应、康普顿效应和电子对效应损失能量。
闪烁体分子电离和激发，退激时发出大量光子，闪烁光子入射到光阴极上，光电效应产生光电子，电子会在阳极负载上建立起电信号等原理，对γ射线进行研究。
γ射线，又称γ粒子流，是原子核能级跃迁蜕变时释放出的射线，波长短于0.2埃的电磁波，具有很强的穿透性。
本实验将γ射线的次级电子按不同能量分别进行强度测量，通过电子学仪器得到它的能谱图。
实验中使用NaI单晶γ闪烁谱仪对γ的能谱进行测定。
最后得到γ射线在160道数及320道数位置的一些相关数据。
在这些位置它的数量和能量的值都比较合适，有一定数量，又有一定的穿透能力。
实验中将了解NaI(Tl)单晶γ闪烁谱仪是如何测量γ射线的能谱，NaI(Tl)单晶γ闪烁谱仪的结构、原理与特性；掌握NaI(Tl)单晶γ闪烁谱仪整套装置的操作、调整和使用方法。
并通过对137Cs和60Co 放射源γ能谱的测量，加深对γ射线与物质相互作用的理解以及通过该实验了解多道脉冲幅度分析器在NaI(Tl)单晶γ谱测量中的数据采集及其基本功能。
在第一个实验的基础上，采用NaI闪烁谱仪测全能峰的方法测量137Cs的γ射线在铅、铝材料中的吸收系数。
并且通过实验对核试验安全防护的重要性有初步的认识。
关键词γ射线吸收系数μ60Co、137Cs放射源能谱NaI单晶γ闪烁谱仪多道分析器引言γ射线首先由法国科学家P.V.维拉德发现，γ射线是光子，是由原子核的衰变产生的，当原子核从激发态跃迁到较低能态或基态时，就有可能辐射出γ射线。
三级大物实验报告-用闪烁谱仪测γ射线能谱
E cot 1 m c2 0
tan 2
（3）
由式（2）给出，当 180 时，反冲电子的动能 Ee 有最大值，此时
E max E m0 c 2 1 2 E
（4）
这说明康普顿效应产生的反冲电子的能量有一上限最大值，称为康普顿边界 EC。 3．电子对效应： 当 γ 光子能量大于 2m0 c 2 时，γ 光子从原子核旁边经过并受到核的库仑场作用， 可能转化为一个正电子和一个负电子，称为电子对效应。此时光子能量可表示为 两个电子的动能与静止能量之和，如
（3） .实验仪器中测量时间的长短和放射源离接收器的位置的小偏差都会对实验 数据产生影响，由于射线的产生和传播都是随机的，这造成了很多的不确定性， 通过重复一段等长时间的测量取其平均能够减小由此带来的误差。
思考题 用闪烁谱仪测量 γ 射线能谱时，要求在多道分析器的道址范围内能同时测量出
137
Cs 和 60 Co 的光电峰，应如何选择合适的工作条件？在测量过程中该工作条件
60
Co
能量 0.661MeV 的光电峰在 464 道，能量为 1.17MeV 的光电峰在 826 道 能量刻度为 e== 826.2−464 =0.001405MeV
60 得 Co 右侧光电峰能量为：
1.17 −0.661
e×946.4=0.001405MeV× 946.4=1.329977MeV≈1.330MeV
E 2 (1 cos ) Ee m0 c 2 E (1 cos )
E m0 c 2 1 E (1 cos )
（2）
式中 m0 c 2 为电子静止质量，角度 θ 是 γ 光子的散射角，见图 2.2.1-2 所示。 由图看出反冲电子以角度 φ 出射，φ 与 θ 间有以下关系：
γ射线的能谱测量和吸收测定_实验报告
γ射线能谱的测量【摘要】某些物质的原子核能够发生衰变，放出我们肉眼看不见也感觉不到的射线，γ射线产生的原因正是由于原子核的能级跃迁。
我们通过测量γ射线的能量分布，可确定原子核激发态的能级，这对于放射性分析，同位素应用及鉴定核素等都有重要意义。
因此本实验通过使用γ闪烁谱仪测定不同的放射源的γ射线能谱。
同时学习和掌握γ射线与物质相互作用的特性,并且测定窄束γ射线在不同物质中的吸收系数μ。
【关键词】γ射线能谱γ闪烁谱仪【引言】从1896年的法国科学家贝可勒尔发现放射性现象开始，经过居里夫人等一系列科学家对一些新放射性元素的发现及其性质进行研究的杰出工作后，人类便进入了对原子核能研究、利用的时代。
而原子核衰变能放出α、β、γ三种射线，这些射线可以通过仪器精确测量。
本次实验主要研究γ射线，通过对γ射线谱的研究可了解核的能级结构。
γ射线有很强的穿透力，工业中可用来探伤或流水线的自动控制。
人体受到γ射线照射时，γ射线可以进入到人体的内部，并与体内细胞发生电离作用，电离产生的离子能侵蚀复杂的有机分子，如蛋白质、核酸和酶，它们都是构成活细胞组织的主要成份，一旦它们遭到破坏，就会导致人体内的正常化学过程受到干扰，严重的可以使细胞死亡。
因此本次实验研究了不同材料对于γ射线的吸收情况这是非常具有实际意义的，比如在居民区制造防空洞的时候可以使用一定厚度的抗辐射材料确保安全，而且在核电站、军事防护地以及放射源存放处等地方我们都有必要使用防辐射材料。
γ射线与物质的相互作用主要是光电效应、康普顿散射和正、负电子对产生这三种过程，如下图所示。
本实验主要研究的是窄束γ射线在物质中的吸收规律。
所谓窄束γ射线是指不包括散射成份的射线束，仅由未经相互作用或称为未经碰撞的光子所组成。
窄束γ射线再穿过物质时，由于上述三种效应，其强度就会减弱，这种现象称为γ射线的吸收。
γ射线强度随物质厚度的衰减服从指数规律。
本次实验仪器如下：NaI 闪烁谱仪，γ射线源137Cs 和60Co ，高压电源放大器，Pb,Al 吸收片各四片，计算机NaI(TI)闪烁探测器的结构如下图所示。
r射线能谱图实验报告
N aI（Tl）γ闪烁谱仪器及γ射线能谱的测量γ射线的吸收与物质吸收系数 的测定学院数理与信息工程学院班级姓名学号N aI（Tl）γ闪烁谱仪器及γ射线能谱的测量摘要：闪烁探测器是利用某些物质在射线作用下会发光的特性来探5g射线的仪器。
本实验要利用NaI（Tl）γ闪烁探测仪来测定γ射线能谱分布规律。
然后，通过分析结果，在得出结论,目的是了解NaI(T )闪烁谱仪原理，特性与结构。
掌握NaI(T )闪烁谱仪的使用方法；鉴定谱仪的能量分辩率与线性；并通过对r射线能谱的测量，加深对r射线与物质相互作用的理解。
关键词：γ闪烁谱仪能谱γ射线NaI（Tl）引言：某些物质的原子核能发生衰变，放出我们肉眼看不见也感觉不到的射线，核辐射主要有α、β、γ三种射线。
我们通过不同的实验仪器能够探测到这些肉眼无法看见的射线。
本实验使用的是g闪烁谱仪。
g闪烁谱仪内部含有闪烁体，可以把射线的能量转变成光能。
实验中采用含TI（铊）的NaI晶体作g射线的探测器。
通过查阅相关资料，我了解了g闪烁谱仪的基本工作原理以及整个的工作过程：NaI(TI)闪烁探测器的结构如下图所示。
整个谱仪由探头（包括闪烁体，光电倍增管，射极跟随器），高压电源，线性放大器，多道脉冲幅度分析器等组成。
闪烁探测器由闪烁体、光电倍增管和相应的电子放大器件三个主要部分组成。
（1）闪烁体: 闪烁体是用来把射线的能量转变成光能的。
本实验中采用含TI（铊）的NaI 晶体作射线的探测器。
（2）光电倍增管: 光电倍增管的结构如图2。
它由光阴极K、收集电子的阳极A和在光阴极与阳极之间十个左右能发射二次电子的次阴极D（又称倍增极、打拿极或联极）构成。
在每个电极上加上正电压，相邻的两个电极之间的电位差一般在100V左右。
当闪烁体放出的光子打到光阴极上时，发生光电效应，打出的光电子被加速聚集到第一倍增极D1上，平均每个光电子在D1上打出3～6个次电子，增值后的电子又为D1和D2之间的电场加速，打到第二倍增极D2上，平均每个电子又打出3～6个次级电子，……这样经过n级倍增以后，在阳极上就收集到大量的电子，在负载上形成一个电压脉冲。
能谱
γ射线能谱的测量与吸收系数的测定吕永平 浙江师范大学数理与信息工程学院物理041班摘 要：我们做过能谱分析实验，其中我们研究了γ射线的能量和强度，知道了射线的能量很大的，既然γ射线具有很大的能量和很强的穿透能力，那么当γ射线通过一定物质时，它的能量会不会减少呢？同的物质对γ射线的吸收彼此之间有什么关系？本实验验证γ射线通过物质时其强度减弱遵循指数规律，测量γ射线在不同厚度的铅、铝中的吸收系数。
通过对γ射线的吸收特性，分析与物质的吸收系数与物质的密度，厚度等因素有关。
关键词：γ射线；吸收系数引 言：不同物质对同种射线的吸收系数是不同的，地质学上利用这个性质，实 现矿物质的快速精确勘探，医学上利用癌细胞与正常细胞的不同的吸收特性，来帮助医生诊断癌症。
通过改变吸收物的厚度，控制射线的强度，得到所需的强度。
强度弱射线的应用于杀菌，强度强的射线诱导基因突变育种等。
因此对物质吸收系数的测量的技术有着十分重要的意义现在社会γ-射线技术应用于很多领域，如医学、天文学、生物学、军事等。
γ射线的威力主要表现在以下两个方面：1．γ射线的能量大。
2．γ射线的穿透本领极强。
实验方案：实验目的：1．了解闪烁探测器的结构，原理。
2．掌握NaI 单晶γ闪烁谱仪的几个性能指标和测试方法。
3．了解核电子学仪器的笋据采集，记录方法和数据处理原理。
4．了解γ射线与物质相互作用的特性。
5．了解窄束γ射线在物质中的吸收规律及测量在不同物质中的吸收系数。
实验装置：γ放射源137Cs 和60Co ; 200m μAl 窗(1)NaI T 闪烁探头； 高压电源、放大器、多道脉冲幅度分析器; Pb ,Al 吸收片若干。
实验步骤：1， 连接好实验仪器线路，经老师检查同意后接通电源。
2， 取出放射源Cs 和Co 。
打开电脑预热，准备实验。
3， 了解电脑上软件的使用方法，并了解一些有关物理量的物理意义。
4， 开机预热后，选择合适的工作电压使探头的分辨率和线性都有较好。
r射线能谱实验报告
实验报告_____ 系_______ 级姓名___________ 日期______________________ No. _______________ 评分： _________________实验题目：丫能谱及丫射线的吸收实验目的：学习闪烁丫谱仪的工作原理和实验方法，研究吸收片对丫射线的吸收规律实验原理：1. Y能谱的形状闪烁丫能谱仪可测得丫能谱的形状，下图所示是典型137CS的丫射线能谱图。
图的纵轴代表单位时间的脉冲数目即射线强度，横轴代表脉冲幅度即反映粒子的能量值。
J iA能址图2.1A6川。
的T能请图从能谱图上看，有几个较为明显的峰，光电峰E e,又称全能峰，其能量就对应丫射线的能量E。
这是由于丫射线进入闪烁体后，由于光电效应产生光电子，能量关系见式(1 )，如果闪烁体大小合适，光电子停留在其中，可使光电子的全部能量被闪烁体吸收。
光电子逸岀原子会留下空位，必然有外壳层上的电子跃入填充，同时放岀能量E z B i的X射线，一般来说，闪烁体对低能X射线有很强的吸收作用，这样闪烁体就吸收了E e E z的全部能量，所以光电峰的能量就代表丫射线的能量，对137Cs，此能量为0.661 Me VoE C即为康普顿边界，对应反冲电子的最大能量。
背散射峰E b是由射线与闪烁体屏蔽层等物质发生反向散射后进入闪烁体，形成的光电峰，一般峰很小。
2 •谱仪的能量刻度和分辨率(1 )谱仪的能量刻度闪烁谱仪测得的丫射线能谱的形状及其各峰对应的能量值由核素的蜕变纲图所决定，是各核素的特征反映。
但测得的光电峰所对应的脉冲幅度（即峰值在横轴上所处的位置）是与工作条件有关系的。
如光电倍增管高压改 变、线性放大器放大倍数不同等，都会改变各峰位在横轴上的位置，也即改变了能量轴的刻度。
因此，应用 丫谱仪测定未知射线能谱时，必须先用已知能量的核素能谱来标定谱仪的能量刻度，即给岀每道所对应的能量增值E 。
例如选择137Cs 的光电峰E = 0.661 M e V 和60Co 的光电峰E i 1.17MeV 、E 21.33MeV 等能量值，先分别测量两核素的 丫能谱，得到光电峰所对应的多道分析器上的道址（若不用多道分析器，可给岀各峰位所为应 的单道分析器上的阈值）。
利用磁谱仪测量90Sr-90Y放射源的β衰变能谱
ｏ ｎ ｒ ｙ ｌ ｖ ｌａ ｅ ａ ｒ ｅ ｂ ｅ ｗｉ ａ ａ ｏ ｈ ａ ｉ ａ ｔ ｅ ｓ ｕ ｃ ．ｌ ｔ ｄ ｔ ｆｔ ｅ ｒ ｄ ｏ ｃ ｉ ｏ ｒ ｅ ｔ ｉ ｈ ｗｎ ｔ ａ ｎ ｔ ｅ ｍｏ ｈ ｖ
现在 知 道 ， 许 多 天 然 的和 人 工 生 产 的核 素 有
都 能 自发地发 射各 种射线 ， ａ ｌ ７射线 等 ．ｐ 有 、、 ３ 粒 子有 电子和 正 电 子 ， 们 质 量相 同 ， 电荷 相 反 ． 它 但
１ 实 验 原 理
Ａｂ ｔａ ｔ Ｔｈ ｎ ｒ ｙ ｓ ｅ ｔ ａ ｏ ｅ ａ ｏ ∞Ｓ 一 Ｙ ａ ｉ ａ ｔｖ ｏ ｒ ｅ ｗｅ ｅ ｍｅ ｓ ｒ ｄ ｂ ｓｒ ｃ ｅ ｅ ｅｇ ｐ ｃｒ ｆ８ ｄ ｃ ｙ ｆ ｒ ｒ。 。 ｒ ｄｏ ｃｉｅ ｓ ｕ ｃ ｒ ａ ｕ ｅ ｙ ｕ ｉ ｇ ｔ ｅ ｍａ ｎ ｔｃ ｓ ｅ ｔ ｏ ｔ ｒ ｉ ｈ ｓｎ ｈ ｇ ｅ ｉ ｐ ｃ ｒ ｍｅ ｅ ｎ ｔ ｅ ｍｏ ｅ ｎ ｐ ｙ ｉｓ ｅ ｐ ｒｍｅ ｔ Ｔｈ ａ ｕ ｅ ｎ ｒ ｙ ｄ ｒ ｈ ｓｃ ｘ ｅ ｉ ｎ ． ｅ ｍｅ ｓ ｒ ｄ ｅ ｅ ｇ
ｒ９ ￣ 摘 要 利用 近代 物理 实验 中 的磁 谱仪 测量 了∞Ｓ－ Ｙ 放 射源 的 Ｂ衰 变能 谱．得 到 的能谱 和 普
遍 的 ｐ衰 变能谱相 似 ； 得到 的 ｐ射 线最大 能量 与平均 能量 比值 和 文 献 中给 出 的一些 放
射 源 的比值接 近 ， 些都说 明 了该 实验测 量 数据 的可靠 性．运用 库 里厄 （ ｒ ） 研 这 Ｋｕｉ 图， ｅ 究 了此放 射 源 的 ８ 变能谱 ， 到 的跃迁 性质和 能级 自旋 宇称 与此 放射 源 已有 的数 据 衰 得 相 吻合 ， 明在近代 物理 实验 中能够 利 用 磁谱 仪 测 量原 子 核 的 ｐ衰 变 能 谱 、 究原 子 说 研
能谱材料实验报告(3篇)
第1篇一、实验目的1. 了解能谱材料的基本原理和应用。
2. 掌握能谱分析的基本方法和技术。
3. 学习如何通过能谱分析确定材料中的元素成分及其化学状态。
4. 提高对材料科学实验操作技能的掌握。
二、实验原理能谱分析是一种利用高能电子或X射线照射材料，激发出光电子或俄歇电子，通过分析这些电子的能量分布来获取材料表面或内部元素成分和化学状态的方法。
常见的能谱分析技术包括X射线光电子能谱（XPS）和俄歇电子能谱（AES）。
X射线光电子能谱（XPS）原理：当X射线照射到材料表面时，会激发出光电子。
这些光电子的能量与其所对应的原子轨道中的电子结合能有关，通过测量光电子的能量，可以确定材料表面的元素成分及其化学状态。
俄歇电子能谱（AES）原理：当材料表面受到电子或X射线的激发时，会发射出俄歇电子。
俄歇电子的能量与其所对应的原子轨道中的电子结合能有关，通过测量俄歇电子的能量，可以确定材料中的元素成分及其化学状态。
三、实验仪器与材料1. 仪器：- X射线光电子能谱仪- 俄歇电子能谱仪- 样品台- 样品夹具- 计算机及数据采集系统2. 材料：- 待测样品- 标准样品四、实验步骤1. 准备样品：将待测样品固定在样品台上，确保样品表面平整、干净。
2. XPS分析：- 对样品进行X射线照射，激发出光电子。
- 测量光电子的能量分布，通过对比标准样品的能谱，确定样品中的元素成分及其化学状态。
3. AES分析：- 对样品进行电子或X射线照射，激发出俄歇电子。
- 测量俄歇电子的能量分布，通过对比标准样品的能谱，确定样品中的元素成分及其化学状态。
4. 数据处理与分析：- 对采集到的数据进行分析，包括能谱拟合、峰面积计算等。
- 将分析结果与标准样品进行对比，确定样品中的元素成分及其化学状态。
五、实验结果与分析1. XPS分析结果：- 样品表面元素成分：X、Y、Z等。
- 元素化学状态：X2p、Y3d、Z4f等。
2. AES分析结果：- 样品表面元素成分：X、Y、Z等。
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实验报告 系 级 姓名 日期 No. 评分：
实验题目：γ能谱及γ射线的吸收
实验目的： 学习闪烁γ谱仪的工作原理和实验方法，研究吸收片对γ射线的吸收规律 实验原理：
1.γ能谱的形状
闪烁γ能谱仪可测得γ能谱的形状，下图所示是典型
Cs 137
的γ射线能谱图。
图的纵轴代表单位时间内的脉
冲数目即射线强度，横轴代表脉冲幅度即反映粒子的能量值。
从能谱图上看，有几个较为明显的峰，光电峰e E ，又称全能峰，其能量就对应γ射线的能量γE 。
这是由于γ射线进入闪烁体后，由于光电效应产生光电子，能量关系见式（1），如果闪烁体大小合适，光电子停留在其中，可使光电子的全部能量被闪烁体吸收。
光电子逸出原子会留下空位，必然有外壳层上的电子跃入填充，同时放出能量i z
B E =的X 射线，一般来说，闪烁体对低能Ｘ射线有很强的吸收作用，这样闪烁体就吸收了z e E E +的全
部能量，所以光电峰的能量就代表γ射线的能量，对
Cs 137
，此能量为0.661Ｍe Ｖ。
C E 即为康普顿边界，对应反冲电子的最大能量。
背散射峰b E 是由射线与闪烁体屏蔽层等物质发生反向散射后进入闪烁体内，形成的光电峰，一般峰很小。
2．谱仪的能量刻度和分辨率 （1）谱仪的能量刻度
闪烁谱仪测得的γ射线能谱的形状及其各峰对应的能量值由核素的蜕变纲图所决定，是各核素的特征反映。
但测得的光电峰所对应的脉冲幅度（即峰值在横轴上所处的位置）是与工作条件有关系的。
如光电倍增管高压改
变、线性放大器放大倍数不同等，都会改变各峰位在横轴上的位置，也即改变了能量轴的刻度。
因此，应用γ谱仪测定未知射线能谱时，必须先用已知能量的核素能谱来标定谱仪的能量刻度，即给出每道所对应的能量增值Ｅ。
例如选择
Cs 137
的光电峰γE ＝0.661Ｍe Ｖ和Co 60的光电峰MeV E 17.11=γ、MeV E 33.12=γ等能量值，先
分别测量两核素的γ能谱，得到光电峰所对应的多道分析器上的道址（若不用多道分析器，可给出各峰位所为应的单道分析器上的阈值）。
可以认为能量与峰值脉冲的幅度是线性的，因此根据已知能量值，就可以计算出多道分析器的能量刻度值Ｅ。
如果对应MeV E 661.01=的光电峰位于Ａ道，对应MeV E 17.12=的光电峰位于Ｂ
道，则有能量刻度
MeV A
B e --=
661
.017.1 （1）
测得未知光电峰对应的道址再乘以e 值即为其能量值。
（2）谱仪分辨率
γ能谱仪的一个重要指标是能量分辨率。
由于闪烁谱仪测量粒子能量过程中，伴随着一系列统计涨落因素，如γ光子进入闪烁体内损失能量、产生荧光光子、荧光光子进入光电倍增管后，在阴极上打出光电子、光电子在倍增极上逐级打出光电子而使数目倍增，最后在阳极上形成电流脉冲等，脉冲的高度是服从统计规律而有一定分布的。
光电峰的宽窄反映着谱仪对能量分辨的能力。
如图2.2.1-7中所示的光电峰的描绘，定义谱仪能量分辨率η为
%100⨯∆=∆=
V
V
E E 光电峰脉冲幅度半高度η （2） η表示闪烁谱仪在测量能量时能够分辨两条靠近的谱线的本领。
目前一般的闪烁谱仪分辨率在10%左右。
对η的影响因素很多，如闪烁体、光电倍增管等等。
(3)物质对γ射线的吸收
当γ射线穿过物质时，一旦与物质中的原子发生三种相互作用，原来的光子就消失或通过散射改变入射方向。
通常把通过物质且未经相互作用的光子所组成的射线称为窄束γ射线（或良好几何条件下的射线束）。
实验表明，单能窄束γ射线的衰减遵循指数规律：
（8）
其中、分别是通过物质前、后的γ射线强度，在本实验中可用全能峰的峰面积表示，是γ射线通过物质的厚度，
是三种作用截面之和，N 是吸收物质单位体积的原子数，μ是物质的线性吸收系数，表示单位路程上γ射
线与物质发生三种相互作用的总几率，其大小反映了物质吸收γ射线能力的大小。
可见，如果在半对数坐标图上绘制吸收曲线，那么这条曲线就是一条直线，直线的斜率的绝对值就是线性吸收系数μ。
γ射线强度减弱一半所需的吸收层厚度称为半吸收厚度12
d ，从（8）式可知：
12
ln 2
0.693
d μ
μ
=
=
（9）
实验内容：
１． 熟悉仪器，开启高压电源，预热20分钟； ２．
用多道分析器测量并观察
Cs 137
和Co 60的γ能谱的形状，截取能谱图，在图上指出光电峰、康普
顿边界、电子对峰、背散射峰等峰位；
３．
137
Cs 的光电峰对应能量为0.661MeV ，60
Co 的左侧光电峰能量为1.17MeV ，请对谱仪进行能量刻度、
作图，并测量60
Co 的右侧光电峰能量
４． 确定
137
Cs 光电峰的能量分辨率η（不扣本底）
５．
选择良好的实验条件，测量
Cs 137
的γ射线在紫铜吸收片中的吸收曲线（要求至少10个点，各点
统计误差小于2%），求出相应的线性吸收系数和半吸收厚度。
实验数据：
1.
Cs 137
和Co 60的γ能谱图
Cs 137
的能谱图
Co 60
的能谱图：
2.能谱仪的能量刻度并测量
Co 60
右侧光电峰的值
实验测得：
Cs 137
：峰值道址：454
Co 60
：右光电峰道址：938，左光电峰道址：817
已知
Cs 137
的光电峰Mev E 661.01=，Co 60左光电峰道址Mev E 17.12=
有能量刻度道/104.1454
817661
.017.1312Mev A B E E e -⨯=--=--=
根据测得的
Co 60
右光电峰的道址，有Co 60右光电峰能量Mev C e E 32.1938104.133=⨯⨯=⨯=-
已知
Co 60
右光电峰能量为Mev E 33.12=λ
相对误差%75.033
.132
.133.1=-=
∆，与理论值吻合得较好
通过作图也可以发现，
Co 60
的右光电峰确实落在Cs 137光电峰和Co 60左光电峰形成的直线上
3.能谱仪的能量分辨率
测得的
Cs 137
光电峰半高宽39.1道，Mev e E 0548
.0104.11.391.393=⨯⨯=⨯=∆- 能量分辨率%3.8661
.00548
.01==∆=
E E η 由于未扣本底，与计算机得出的结果%6.8有一定误差
4.
Cs 137
的γ射线的线性吸收系数和半吸收厚度
穿透的铜片厚度
按顺序每次叠加一个铜片，那么穿透厚度x 为
每次穿透过后的光强，即光电峰的面积为
在半对数坐标纸上作图，得到
线性拟合得到直线斜率k=-0.5567，又吸收系数μ=-k 故吸收系数μ=0.5567
半吸收厚度cm d 245.15567
.06931
.02
ln 2
1==
=
μ
思考题：
1、 用闪烁谱仪测量γ射线能谱时，要求在多道分析器的道址范围内能同时测量出
Cs 137
和Co 60的光电峰，应如
何选择合适的工作条件？在测量过程中该工作条件可否改变？
答：合适的工作条件，要求能够充分利用多道分析器的道址范围，具体来说，就是要求Co 60
的右光电峰恰
好能够完全显示，因为Co 60
的右光电峰能量最大，为Mev E 33.12=λ
试验中的工作条件即为500V 左右
在测量过程中，此条件不可改变。
若改变，将道址能谱图整体平移。
如果在测量能量刻度是发生平移，将造
成实验结果的错误。