半导体的基础知识

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半导体基础知识

半导体基础知识
D
G
S 图 P 沟道结型场效应管结构图
S 符号
二、工作原理
N 沟道结型场效应管用改变 UGS 大小来控制漏极电
流 ID 的。
耗尽层
D 漏极
*在栅极和源极之间
加反向电压,耗尽层会变
栅极
G
N
P+ 型 P+
沟 道
N
S 源极
宽,导电沟道宽度减小, 使沟道本身的电阻值增大, 漏极电流 ID 减小,反之, 漏极 ID 电流将增加。
e
e
图 三极管中的两个 PN 结
c
三极管内部结构要求:
N
b
PP
NN
1. 发射区高掺杂。
2. 基区做得很薄。通常只有 几微米到几十微米,而且掺杂较 少。
3. 集电结面积大。
e
三极管放大的外部条件:外加电源的极性应使发射 结处于正向偏置状态,而集电结处于反向偏置状态。
三极管中载流子运动过程
c
Rc
IB
I / mA
60
40 死区 20 电压
0 0.4 0.8 U / V
正向特性
2. 反向特性 二极管加反向电压,反 向电流很小; 当电压超过零点几伏后, 反向电流不随电压增加而增
I / mA
–50 –25
0U / V
击穿 – 0.02 电压 U(BR) – 0.04
反向饱 和电流
大,即饱和;
反向特性
常用的 5 价杂质元素有磷、锑、砷等。
+4
+4
+4
自由电子
+4
+45
+4
施主原子
+4
+4

半导体的基本知识

半导体的基本知识

第1章 半导体的基本知识1.1 半导体及PN 结半导体器件是20世纪中期开始发展起来的,具有体积小、重量轻、使用寿命长、可靠性高、输入功率小和功率转换效率高等优点,因而在现代电子技术中得到广泛的应用。

半导体器件是构成电子电路的基础。

半导体器件和电阻、电容、电感等器件连接起来,可以组成各种电子电路。

顾名思义,半导体器件都是由半导体材料制成的,就必须对半导体材料的特点有一定的了解。

1.1.1 半导体的基本特性在自然界中存在着许多不同的物质,根据其导电性能的不同大体可分为导体、绝缘体和半导体三大类。

通常将很容易导电、电阻率小于410-Ω•cm 的物质,称为导体,例如铜、铝、银等金属材料;将很难导电、电阻率大于1010Ω•cm 的物质,称为绝缘体,例如塑料、橡胶、陶瓷等材料;将导电能力介于导体和绝缘体之间、电阻率在410-Ω•cm ~1010Ω•cm 范围内的物质,称为半导体。

常用的半导体材料是硅(Si)和锗(Ge)。

用半导体材料制作电子元器件,不是因为它的导电能力介于导体和绝缘体之间,而是由于其导电能力会随着温度的变化、光照或掺入杂质的多少发生显著的变化,这就是半导体不同于导体的特殊性质。

1、热敏性所谓热敏性就是半导体的导电能力随着温度的升高而迅速增加。

半导体的电阻率对温度的变化十分敏感。

例如纯净的锗从20℃升高到30℃时,它的电阻率几乎减小为原来的1/2。

而一般的金属导体的电阻率则变化较小,比如铜,当温度同样升高10℃时,它的电阻率几乎不变。

2、光敏性半导体的导电能力随光照的变化有显著改变的特性叫做光敏性。

一种硫化铜薄膜在暗处其电阻为几十兆欧姆,受光照后,电阻可以下降到几十千欧姆,只有原来的1%。

自动控制中用的光电二极管和光敏电阻,就是利用光敏特性制成的。

而金属导体在阳光下或在暗处其电阻率一般没有什么变化。

3、杂敏性所谓杂敏性就是半导体的导电能力因掺入适量杂质而发生很大的变化。

在半导体硅中,只要掺入亿分之一的硼,电阻率就会下降到原来的几万分之—。

半导体基础知识

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设VCC = 5V 加到A,B的 VIH=3V
VIL=0V 二极管导通时 VDF=0.7V
A BY 0V 0V 0V 0V 3V 2.3V 3V 0V 2.3V 3V 3V 2.3V
规定2.3V以上为1 0V以下为0
A BY 0 00 0 11 1 01 1 11
二极管构成的门电路的缺点
• 电平有偏移 • 带负载能力差
第三章 门电路
3.1 概述 • 门电路:实现基本运算、复合运算的单元电路,如
与门、与非门、或门 ······
门电路中以高/低电平表 示逻辑状态的1/0
获得高、低电平的基本原理
高/低电平都允许有 一定的变化范围
正逻辑:高电平表示1,低电平表示0 负逻辑:高电平表示0,低电平表示1
3.2半导体二极管门电路
T1 , T2同时导通
若T1 , T2参数完全对称,VI
1 2
VDD时,VO
1 2 VDD
三、输入噪声容限
在VI 偏离VIH 和VIL的一定范围内,VO 基本不变; 在输出变化允许范围内,允许输入的变化范围称为输入噪声容限
VNH VOH(min) VIH (min) VNL VIL(max) VOL(max)
• 硅管,0.5 ~ 0.7V • 锗管,0.2 ~ 0.3V
• 近似认为:
• VBE < VON iB = 0 • VBE ≥ VON iB 的大小由外电路电压,电阻决定
iB
VBB VBE Rb
三极管的输出特性
• 固定一个IB值,即得一条曲线, 在VCE > 0.7V以后,基本为水平直线
iC f (VCE )
iC f (VCE )
三、双极型三极管的基本开关电路

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第一章、半导体器件
1、为什么将自然界导电性能中等的半导体材料制成本征半导体,导电性能极差,又将其掺杂,改善导电性能?
制成本征半导体是为了讲自然界中的半导体材料进行提纯,然后人工掺杂,通过控制掺杂的浓度就可以控制半导体的导电性,以达到人们的需求
2、为什么半导体器件的温度稳定性差?是多子还是少子是影响温度稳定性的主要因素?
导致半导体性能温度稳定性差的主要原因有二:β
(1)禁带宽度与温度有关(一般,随着温度的升高而变窄);(2)少数载流子浓度与温度有关(随着温度的升高而指数式增加)。

多子。

3、为什么半导体器件有最高工作频率?
这是因为半导体器件的主要组成单元是PN结,PN结的显著特征是单向导电性,因为PN结的反向截止区是由耗尽层变宽导致截止,而这个过程是需要一定的时间的,如果频率太高导致时间周期小于截止时间就可能造成PN结失去单向导电性,导致半导体器件不能正常工作,所以半导体器件有最高工作频率的限制。

4、整流,是指将交流电变换为直流电称为AC/DC变换,这正变换的功率流向是由电源传向负载,称之为整流。

5、为什么基极开路集电极回路会有穿透电流?
虽然集电结是反偏的,虽然基极是开路的,但是,晶体管芯,是块半导体材料。

半导体材料,又不是绝缘体,加上电压,就有微弱的电流,这很正常。

从集电区向基区出现的“反向饱和电流Icbo”,在基极没有出路,就流向发射极了。

这一流动,就形成了一个Ib。

这个Ib,就引出了一个贝塔倍的Ic; 这个Ib和Ic之和,就是穿透电流Iceo,等于(1+贝塔)Icbo。

6、
展开。

半导体的基本知识

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半导体的基本知识半导体是一种电导率介于导体和绝缘体之间的材料。

半导体的电性质可以通过施加电场或光照来改变,这使得半导体在电子学和光电子学等领域有广泛的应用。

以下是关于半导体的一些基本知识:1. 基本概念:导体、绝缘体和半导体:导体(Conductor):电导率很高,电子容易通过的材料,如金属。

绝缘体(Insulator):电导率很低,电子很难通过的材料,如橡胶、玻璃。

半导体(Semiconductor):电导率介于导体和绝缘体之间的材料,如硅、锗。

2. 晶体结构:半导体通常以晶体结构存在,常见的半导体材料有硅(Si)、锗(Ge)、砷化镓(GaAs)等。

3. 电子能带:价带和导带:半导体中的电子能带分为价带和导带。

电子在价带中,但在施加电场或光照的作用下,电子可以跃迁到导带中,形成电流。

能隙:价带和导带之间的能量差称为能隙。

半导体的能隙通常较小,这使得它在室温下就能够被外部能量激发。

4. 本征半导体和杂质半导体:本征半导体:纯净的半导体材料,如纯硅。

杂质半导体:在半导体中引入少量杂质(掺杂)以改变其导电性质。

掺入五价元素(如磷、砷)形成n型半导体,而掺入三价元素(如硼、铝)形成p型半导体。

5. p-n 结:p-n 结:将p型半导体和n型半导体通过特定工艺连接在一起形成p-n 结。

这是许多半导体器件的基础,如二极管和晶体管。

6. 半导体器件:二极管(Diode):由p-n 结构构成,具有整流特性。

晶体管(Transistor):由多个p-n 结构组成,可以放大和控制电流。

集成电路(Integrated Circuit,IC):在半导体上制造出许多微小的电子器件,形成集成电路,实现多种功能。

7. 半导体的应用:电子学:微电子器件、逻辑电路、存储器件等。

光电子学:光电二极管、激光二极管等。

太阳能电池:利用半导体材料的光伏效应。

这些是半导体的一些基本知识,半导体技术的不断发展推动了现代电子、通信和计算机等领域的快速进步。

半导体器件的基础知识

半导体器件的基础知识

向电压—V(BR)CBO。 当集电极开路时,发射极与基极之间所能承受的最高反
向电压—V(BR)EBO。
精选课件
28
1.2 半导体三极管
③ 集电极最大允许耗散功率 PCM 在三极管因温度升高而引起的参数变化不超过允许值时, 集电极所消耗的最大功率称集电极最大允许耗散功率。
三极管应工作在三极 管最大损耗曲线图中的安 全工作区。三极管最大损 耗曲线如图所示。
热击穿:若反向电流增大并超过允许值,会使 PN 结烧 坏,称为热击穿。
结电容:PN 结存在着电容,该电容为 PN 结的结电容。
精选课件
5
1.1 半导体二极管
1.1.3 半导体二极管
1.半导体二极管的结构和符号 利用 PN 结的单向导电性,可以用来制造一种半导体器 件 —— 半导体二极管。 电路符号如图所示。
将两个 NPN 管接入判断 三极管 C 脚和 E 脚的测试电 路,如图所示,万用表显示阻
值小的管子的 值大。
4.判断三极管 ICEO 的大小 以 NPN 型为例,用万用 表测试 C、E 间的阻值,阻值 越大,表示 ICEO 越小。
精选课件
33
1.2 半导体三极管
1.2.6 片状三极管
1.片状三极管的封装 小功率三极管:额定功率在 100 mW ~ 200 mW 的小功率 三极管,一般采用 SOT-23形式封装。如图所示。
精选课件
21
1.2 半导体三极管
由图可见: (1)当 V CE ≥ 1 V 时,特性曲线基本重合。 (2)当 VBE 很小时,IB 等于零,三极管处于截止状态。
精选课件
22
1.2 半导体三极管
(3)当 VBE 大于门槛电压(硅管约 0.5 V,锗管约 0.2 V) 时,IB 逐渐增大,三极管开始导通。

半导体基础知识

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PN结外加的正向电压变化时,在扩散路程中载流子 的浓度及其梯度均有变化,也有电荷的积累和释放的 过程,其等效电容称为扩散电容Cd。
结电容: C j Cb Cd
清华大学 华成英 hchya@
§2 半导体二极管
一、二极管的组成 二、二极管的伏安特性及电流方程 三、二极管的等效电路 四、二极管的主要参数 五、稳压二极管
导通电压
0.6~0.8V 0.1~0.3V
反向饱 和电流
开启 电压
温度的 电压当量
开启电压
0.5V 0.1V
反向饱和电流
1µA以下 几十µA
从二极管的伏安特性可以反映出: 1. 单向导电性 u i IS (eU T 1) 正向特性为
指数曲线
若正向电压 UT,则i ISe u
u UT
3、本征半导体中的两种载流子
运载电荷的粒子称为载流子。 外加电场时,带负电的自由电 子和带正电的空穴均参与导电, 且运动方向相反。由于载流子数 目很少,故导电性很差。 温度升高,热运动加剧,载 流子浓度增大,导电性增强。 热力学温度0K时不导电。 两种载流子
二、杂质半导体
1. N型半导体
多数载流子 杂质半导体主要靠多数载流 子导电。掺入杂质越多,多子 浓度越高,导电性越强,实现 导电性可控。
一、二极管的组成
将PN结封装,引出两个电极,就构成了二极管。
小功率 二极管
大功率 二极管
稳压 二极管
发光 二极管
二、二极管的伏安特性及电流方程
二极管的电流与其端电压的关系称为伏安特性。
i f (u )
i IS (e
u UT
1)
(常温下 UT 26m ) V
材料
硅Si 锗Ge

半导体基础知识

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符号
1
+ W78XX +
2
_
3
_
W79XX
1 2
3
1.6.3 W78XX、W79XX系列 集成稳压器的使用方法
一、 组成输出固定电压的稳压电路
1. W78XX系列
+
1
W78XX
Co
2
+
Uo = 12V
改善负载 的暂态响 应,消除 高频噪声
注意 3 Ui 输入 Ci 电压 极性 抵消输入 长接线的 电感效, 防止自激 Ci : 0.1~1F
IR + +
R UR
IL

IZ RL
2、引起电压不 稳定的原因
UI
电源电压的波动 负载电流的变化
DZ
稳压二极管
+ UL

将微小的电压变化转 换成较大的电流变化
三端稳压器封装及电路符号
封装
塑料封装
金属封装
79LXX
W7805 1 3 2
W7905 1 3 2
78LXX
1
2
3
UI GND UO GND UI UO
空穴
负离子
电子
正离子
一、载流子的浓度差引 N型材料 起多子的扩散扩散使 交界面处形成空间电 荷区(也称耗尽层)
内电场方向
二、空间电荷区特点
基本无无载流子,仅 有不能移动的离子
三、扩散和漂移达到动态平衡
扩散电流= 漂移电流 总电流=0 利于少子的漂移
形成内电场
阻止多子扩散进行
1.2.2 PN结的单向导电性
外界条件决定半导体内部 载流子数量
三、本征半导体: 纯净的半导体
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图1. 6 PN结的形成过程
(动画1-3)






2.PN结的单向导电性
PN结具有单向导电性,若外加电压使电流从P 区流到N区, PN结呈低阻性,所以电流大;反之
是高阻性,电流小。
如果外加电压使PN结中:
P区的电位高于N区的电位,称为加正向电压
,简称正偏;
P区的电位低于N区的电位,称为加反向电压,






一、本征半导体
1、本征半导体的共价键结构 2、电子空穴对
3、空穴的移动
本征半导体——化学成分纯净的半导体。 制造半导体器件的半导体材料的纯度要达到 99.9999999%,常称为“九个9”。 它在物理结构上呈单晶体形态。






1、本征半导体的共价键结构
硅和锗是四价元素,在原子最外层轨道上的四个电 子称为价电子。它们分别与周围的四个原子的价电子形 成共价键。共价键中的价电子为这些原子所共有,并为 它们所束缚,在空间形成排列有序的晶体(单晶体)。 这种结构的立体和平面示意图见图1.1。






3.杂质对半导体导电性的影响
掺入杂 质对本征半导体的导电性有很大 的影响,一些典型的数据如下:
1
T=300 K室温下,本征硅的电子和空穴浓度: n = p =1.4×1110/cm3 2 掺杂后 N 型半导体中的自由电子浓度: n=5×1116/cm3
3 本征硅的原子浓度: 4.96×1022/cm3






第1讲
1.1 半导体的基础知识
教学目标
知识目标: 1.了解半导体的分类; 2.掌握P、N型半导体的性质; 3.重点掌握PN结的性质。 能力目标:会检测PN结的性质。
教学重点
PN结的性质 PN结的形成原理
教学难点

拟Leabharlann 电子技术
半导体的基础知识
一、本征半导体 二、杂质半导体 三、PN结








(1) 势垒电容CB
势垒电容是由空间电荷区的离子薄层形成的。 当外加电压使PN结上压降发生变化时,离子薄层的 厚度也相应地随之改变,这相当PN结中存储的电荷 量也随之变化,犹如电容的充放电。势垒电容的示 意图见图1.9。
图 1.9 势垒电容示意图






(2) 扩散电容CD
扩散电容是由多子扩散后,在PN结的另一侧面 积累而形成的。因PN结正偏时,由N区扩散到P区 的电子,与外电源提供的空穴相复合,形成正向电 流。刚扩散过来的电子就堆积在 P 区内紧靠PN结 的附近,形成一定的多子浓度梯度分布曲线。 反之,由P区扩散到N区的空穴,在N区内也形 成类似的浓度梯度分布曲线。扩散电容的示意图 如图1.10所示。
(c)
(a) 硅晶体的空间排列 (b) 共价键结构平面示意图
图1.1 硅原子空间排列及共价键结构平面示意图






2、电子空穴对
当导体处于热力学温度 0K 时,导体中没有 自由电子。当温度升高或受到光的照射时,价 电子能量增高,有的价电子可以挣脱原子核的 束缚,而参与导电,成为自由电子。 这一现象称为本征激发,也称热激发。 自由电子产生的同时,在其原来的共价键中 就出现了一个空位,原子的电中性被破坏,呈 现出正电性,其正电量与电子的负电量相等, 人们常称呈现正电性的这个空位为空穴。
★N型半导体中自由电子是多数载流子, 主要由杂质原子提供;
空穴是少数载流子, 由热激发产生。 提供自由电子的五价杂质原子因失去一个电子带正电 荷而成为正离子,因此五价杂质原子也称为施主杂质。N 型半导体的结构示意图如图1. 4所示。






2.P型半导体
在本征半导体中掺入三价杂质元素,如硼、镓、铟等形成 了P型半导体,也称为空穴型半导体。 因三价杂质原子在与硅原子形成共价键时,缺少一个价电 子而在共价键中留下一个空穴。 ★P型半导体中空穴是多数载流子,主要由掺杂形成; 图1.5 P型半导体的结构示意图 电子是少数载流子,由热激发形成。 空穴很容易俘获电子,使杂质原子因得到一个电子成 为负离子。三价杂质 因而也称为受主杂质。P型半导体的 结构示意图如图1. 5所示。 图1.5 P型半导体的结构示意图




半导体的基础知识
根据物体导电能力(电阻率)的不同,物体分为导 体、绝缘体和半导体。 半导体是导电能力介于导体和绝缘体之间的物体。 半导体的电阻率为10-3~109 cm。典型的半导体 有硅Si和锗Ge以及砷化镓GaAs等。 半导体的特性: 光敏特性(用于制作光敏电阻、二极管、三极管等) 热敏特性(用于制作电阻) 掺杂特性(用于制作半导体器件)。






当外加正向电压 不同时,扩散电流即 外电路电流的大小也 就不同。所以PN结两 侧堆积的多子的浓度 梯度分布也不同,这 就相当电容的充放电 过程。势垒电容和扩 散电容均是非线性电 容。
图 1.10 扩散电容示意图






4.PN结的击穿特性
当加于PN结两端的反向电压增大到一定值(击 穿电压)时,二极管的反向电流将随反向电压的增 加而急剧增大,这种现象称为反向击穿。反向击穿 后,只要反向电流和反向电压的乘积不超过PN结容 许的耗散功率, PN结一般不会损坏。 电击穿(可恢复) 击穿 热击穿(不可恢复) 击穿 齐纳击穿(<6V),具有负温度系数 雪崩击穿(>6V),具有正温度系数






图1.2 本征激发和复合的过程(动画1-1)
可见因热激发而出现的自由电子和空穴是同时 成对出现的,称为电子空穴对。游离的部分自由电 子也可能回到空穴中去,称为复合,如图1.2所示 。本征激发和复合在一定温度下会达到动态平衡。






3、 空穴的移动
自由电子的定向 运动形成了电子电流 ,空穴的定向运动也 可形成空穴电流,它 们的方向相反。只不 过空穴的运动是靠相 邻共价键中的价电子 依次充填空穴来实现 的 。 见 图 1.3 的 动 画 演示。
简称反偏。






(1) PN结加正向电压时的导电情况
PN结加正向电压时的导电情况如图1.7所示。 外加的正向电压有 一部分降落在PN结区, 方向与PN结内电场方向 相反,削弱了内电场。 于是,内电场对多子扩散 运动的阻碍减弱,扩散 电流加大。扩散电流远 大于漂移电流,可忽略 图1.7 PN结加正向电压 漂移电流的影响,PN结 时的导电情况 呈现低阻性。
以上三个浓度基本上依次相差106/cm3 。






三、PN结
1.PN结的形成 2.PN结的单向导电性 3.PN结的电容效应
4.PN结的击穿特性






1.PN结的形成
在一块本征半导体的两侧通过扩散不同的杂质, 分别形成N型半导体和P型半导体。此时将在N型半 导体和P型半导体的结合面上形成如下物理过程:






本节小结
学完本节内容后需要掌握以下内容: 1.半导体的分类及特性; 2.两种杂质半导体的形成及性质 3.PN结的形成原理 4.PN结的特性-------单向导电性 5.PN结的击穿特性 两种击穿:齐纳击穿(击穿电压小于6伏) 雪崩击穿(击穿电压大于6伏)






PN结加正向电压
时,呈现低电阻,具
有较大的正向扩散电
流;PN结加反向电压
时,呈现高电阻,具 有很小的反向漂移电
图 1.8 PN结加反向电压时 的导电情况
(动画1-5)
流。由此可以得出结 论:PN结具有单向导
电性。






#3.PN结的电容效应
PN结具有一定的电容效应,它由两方面的 因素决定。 一是势垒电容CB , 二是扩散电容CD 。
(动画1-4)






(2) PN结加反向电压时的导电情况
PN结加反向电压时的导电情况如图1. 8所示。 外加的反向电压有一部分降落在PN结区,方向与 在一定的温度条件 PN结内电场方向相同,加强了内电场。内电场对多子 下,由本征激发决定的 扩散运动的阻碍增强, 少子浓度是一定的,故 扩散电流大大减小。此时 少子形成的漂移电流是 PN 结区的少子在内电场的 恒定的,基本上与所加 作用下形成的漂移电流大 反向电压的大小无关, 于扩散电流,可忽略扩散 这个电流也称为反向饱 电流, PN结呈现高阻性。 图 1.8 PN结加反向电压时的 和电流。 导电情况
因浓度差 在交界处电子和空穴相符合形 多子的扩散运动 成由杂质离子形成空间电荷区 空间电荷区形成内电场
内电场促使少子漂移
内电场阻止多子扩散






最后,多子的扩散和少子的漂移达到动态平衡。在 P型半导体和N型 半导体结合面, 由离子薄层形成 的空间电荷区称 为PN结。在空间 电荷区,由于缺 少多子,所以也 称为耗尽层。 PN 结形成 的过程可参阅图1.6。
图1.3 空穴在晶格中的移动
(动画1-2)






二、杂质半导体
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