电子元器件晶振的检测方法
电子元器件晶振的检测方法
电子元器件在电子设备中被大量使用着，电子元器件种类众多，当设备发生故障时大多是由于电子元器件失效或损坏而引起的。
这时正确检测电子元器件显得尤其重要，这也是电子维修人员必懂技能之一。
下面是总结介绍电子元器件检测经验和技巧，希望可以帮到大家。
1、判断晶振的好坏
先用万用表(R×10k挡)测晶振两端的电阻值，若为无穷大，说明晶振无短路或漏电;再将试电笔插入市电插孔内，用手指捏住晶振的任一引脚，将另一引脚碰触试电笔顶端的金属部分，若试电笔氖泡发红，说明晶振是好的;若氖泡不亮，则说明晶振损坏。
2、测整流电桥各脚的极性
万用表置R×1k挡，黑表笔接桥堆的任意引脚，红表笔先后测其余三只脚，如果读数均为无穷大，则黑表笔所接为桥堆的输出正极，如果读数为4～10kΩ，则黑表笔所接引脚为桥堆的输出负极，其余的两引脚为桥堆的交流输入端。
3、单向晶闸管检测
可用万用表的R×1k或R×100挡测量任意两极之问的正、反向电阻，如果找到一对极的电阻为低阻值(100Ω～lkΩ)，则此时黑表笔所接的为控制极，红表笔所接为阴极，另一个极为阳极。
晶闸管共有3个PN结，我们可以通过测量PN 结正、反向电阻的大小来判别它的好坏。
测量控制极(G)与阴极[C)之间的电阻时，如果正、反向电阻均为零或无穷大，表明控制极短路或断路;测量控制极(G)与阳极(A)之间的电阻时，正、反向电阻读数均应很大;
4、双向晶闸管的极性识别
双向晶闸管有主电极1、主电极2和控制极，如果用万用表R×1k挡测量两个主电极之间的电阻，读数应近似无穷大，而控制极与任一个主电极之间的正、反向电阻读数只有几十欧。
根据这一特性，我们很容易通过测量电极之间电阻大小，识别出双向晶闸管的控制极。
而当黑表笔接主电极1。
红表笔接控制极时所测得的正向电阻总是要比反向电阻小一些，据此我们也很容易通过测量电阻大小来识别主电极1和主电极2。
5、检查发光数码管的好坏
先将万用表置R×10k或R×l00k挡，然后将红表笔与数码管(以共阴数码管为例)的“地”引出端相连，黑表笔依次接数码管其他引出端，七段均应分别发光，否则说明数码管损坏。
6、三极管电极的判别
对于一只型号标示不清或无标志的三极管，要想分辨出它们的三个电极，也可用万用表测试。
先将万用表量程开关拨在R×100或R×1k电阻挡上。
红表笔任意接触三极管的一个电极，黑表笔依次接触另外两个电极，分别测量它们之间的电阻值，若测出均为几百欧低电阻时，则红表笔接触的电极为基极b，此管为PNP管。
若测出均为几十至上百千欧的高电阻时，则红表笔接触的电极也为基极b，此管为NPN管。
7、电位器的好坏判别
先测电位器的标称阻值。
用万用表的欧姆挡测“1”、“3”两端(设“2”端为活动触点)，其读数应为电位器的标称值，如万用表的指针不动、阻值不动或阻值相差很多，则表明该电位器已损坏。
再检查电位器的活动臂与电阻片的接触是否良好。
用万用表的欧姆挡测“1”、“2”或“2”、“3”两端，将电位器的转轴按逆时针方向旋至接近“关”的位置，此时电阻应越小越好，再徐徐顺时钟旋转轴柄，电阻应逐渐增大，旋至极端位置时，阻值应接近电位器的标称值。
如在电位器的轴柄转动过程中万用表指针有跳动瑚象，描踢活动触点接触不良。
8、测量大容量电容的漏电电阻
用500型万用表置于R×10或R×100挡，待指针指向最大值时，再立即改用R×1k挡测量，指针会在较短时间内稳定，从而读出漏电电阻阻值。
9、判断无符号电解电容极性
先将电容短路放电，再将两引线做好A、B标记，万用表置R×100或R×1k挡，黑表笔接A引线，红表笔接B引线，待指针静止不动后读数，测完后短路放电;再将黑表笔接B引线，红表笔接A引线，比较两次读数，阻值较大的一次黑表笔所接为正极，红表笔所接为负极。
聊了这么多了，亲们，有木有发现万用表果然是“人”如其名，在电子元器件的检测方面是首要必备的。
晶振的检测方法
压控频率线性度的检测
晶振主要技术参数的检测
DAPU 图2中为理想的压控频率曲线，B和C为偏离A的极限曲线(平行于A线），D为实 际的压控频率曲线。
输出信号为方波的检测 a占空比测试 按图1连接，用示波器检测晶振的一个振荡周期，将波形上下半周期所占的时间
波，负载变化波形应无明显变化，测试探头接频率计，频率计读数应稳定不乱
（达到1 x 10-7），而且改变压控电压，频率计读数随压控电压的变化而均匀变
化，压控电压不变时频率也相对稳定，尤其是压控牵引频率的高端不应有跳频、
乱频现象。
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晶振主要技术参数的检测 输出信号为方波的检测： e负载能力的检测 按图1连接，图l中的负载参照图4设置，测试探头接示波器，示波器测得波形为
方波，负载变化波形应无明显变化，测试探头接频率计，频率计读数应稳定不乱 （达到1 x 10-7），而且改变压控电压，频率计读数随压控电压的变化而均匀变
DAPU 化，压控电压不变时频率也相对稳定，尤其是压控牵引频率的高端不应有跳频、
乱频现象。
图4中TTL适用于54/74系列的标准TTL和高速TTL电路，CL为15pF(应包含探头
拉力台
4
振动实验
GJB 360A-电子及电气元件试验方法 方 法 204
振动试验台
5
机械冲击实验
GJB 360A-电子及电气元件试验方法 方 法 213
机械冲击台
6
跌落实验
GB 2423.8 自由跌落试验方法
跌落试验机
7
稳态加速度
GJB 360A-电子及电气元件试验方法 方 法 212
离心机
无源晶振和有源晶振的测试方法
无源晶振和有源晶振的测试方法无源晶振和有源晶振是电子设备中常见的元器件，它们在电子系统中起着关键的作用。
为了确保它们的正常工作和精确性，需要对它们进行测试和验证。
本文将介绍无源晶振和有源晶振的测试方法。
一、无源晶振的测试方法无源晶振是没有内部放大器的晶振，它需要外部的放大器来驱动。
无源晶振的测试方法主要包括以下几个步骤：1. 测试频率范围：首先，确定无源晶振的工作频率范围。
可以使用频谱分析仪或信号发生器来进行测试，逐渐改变频率，观察晶振的输出是否稳定，并记录下频率范围。
2. 测试振幅：将晶振的输出连接到示波器上，观察波形的幅值是否符合要求。
可以通过改变晶振的电源电压来调整振幅。
3. 测试相位噪声：使用频谱分析仪来测试晶振的相位噪声。
相位噪声是指晶振输出信号的相位变化对应于频率变化的度量，它反映了晶振的稳定性。
二、有源晶振的测试方法有源晶振是具有内部放大器的晶振，它可以直接输出信号。
有源晶振的测试方法主要包括以下几个步骤：1. 测试频率精度：使用频率计来测试有源晶振的输出频率，观察其是否与规格书上的频率一致。
可以通过改变晶振的电源电压来调整频率。
2. 测试输出功率：将晶振的输出连接到示波器上，观察波形的幅值是否符合要求。
可以通过改变晶振的电源电压来调整输出功率。
3. 测试谐波失真：使用频谱分析仪来测试晶振的谐波失真。
谐波失真是指晶振输出信号中含有的非基波频率成分的幅值与基波频率成分的幅值之比，它反映了晶振的线性度。
总结：通过对无源晶振和有源晶振的测试，可以验证它们的性能和可靠性。
无源晶振的测试主要包括频率范围、振幅和相位噪声的测试，而有源晶振的测试主要包括频率精度、输出功率和谐波失真的测试。
这些测试方法可以帮助工程师们确保晶振在电子系统中的正常工作和精确性。
晶振最大频率
晶振最大频率
晶振是电子产品中常见的元器件之一，它的作用是产生稳定的时钟信号，为电路提供精确的时间基准。
在实际应用中，晶振的频率是一个非常重要的参数，它直接影响到电路的性能和稳定性。
那么，晶振的最大频率是多少呢？下面从不同角度进行探讨。
一、理论分析
晶振的频率与晶体的厚度、材料、形状等因素有关，一般来说，晶振的频率越高，晶体的厚度就越薄。
根据理论计算，晶振的最大频率与晶体的厚度成反比例关系，即晶体越薄，晶振的最大频率就越高。
同时，晶体的材料也会影响晶振的最大频率，一般来说，石英晶体的最大频率比其他材料要高。
二、实验验证
为了验证理论分析的结论，我们进行了一系列实验。
首先，我们选取了不同厚度的晶体，分别制作成晶振，并测试了它们的最大频率。
实验结果表明，晶体的厚度确实对晶振的最大频率有影响，厚度越薄，晶振的最大频率越高。
其次，我们比较了不同材料的晶体，发现石英晶体的最大频率确实比其他材料要高。
三、应用范围
晶振的最大频率是一个重要的参数，它直接影响到电路的性能和稳定性。
一般来说，晶振的最大频率越高，电路的工作速度就越快，但也会带来一些问题，比如电磁干扰、功耗等。
因此，在实际应用中，需要根据具体情况选择合适的晶振，不能盲目追求最高频率。
总之，晶振的最大频率是一个复杂的问题，需要从理论和实验两个方面进行探讨。
在实际应用中，需要根据具体情况选择合适的晶振，以达到最佳的性能和稳定性。
电子元器件验收标准
电子元器件检验方法元件测试清单元件名称每批次抽检数抽检不合格后措施备注1贴片：电阻、电容、二极管、三极管、TVS管、稳压管、MOS管、电感、晶振、光耦检验方法：封装（按采购单）、外形（与原对照）、脚距（与原对照）、精度（按采购单）、引脚无氧化、生产日期六个月以内，其他免检。
2直插：电阻、电容、二极管、三极管、TVS管、稳压管、MOS管、电感、晶振、各类排针排母、接线端子检验方法：封装（按采购单）、外形（与原对照）、脚距（与原对照）、精度（按采购单）、引脚无氧化、生产日期六个月以内，其他免检。
3光耦PC817B5%要求再检验5%检验方法：1引脚无氧化、生产日期六个月以内。
2在自制工装上检验直插光耦的一致性，一般直插pc817B 的一致性在3.5mV～6mV之间。
4各类直插芯片、贴片芯片检验方法：封装（按采购单）、引脚无氧化、生产日期六个月以内，其他暂时免检。
5各类开关每批次20个要求全检验可向技术部要求技术支持检验方法：1封装（按采购单）、外形（与原对照）、脚距（与原对照）、引脚无氧化、生产日期六个月以内，2快速使劲按100此以上，无异响，无接触不良现象（可用万用表峰鸣当测量）。
3贴片轻触开关热风枪190度吹10S外壳无变形。
6数码管，平面管，发光管10%要求全检验测试方法：封装（按采购单）、外形（与原对照）、脚距（与原对照）、引脚无氧化、生产日期六个月以内，。
2在自制工装里测试每一笔的亮度，测试时每一笔亮度必须一致，不可有明显的亮度不均、不亮、漏光现象。
7各类液晶屏，5块/批次要求全检验检验方法：封装（按采购单）、外形（与原对照）、脚距（与原对照）、有无划痕、引脚无氧化、生产日期六个月以内。
2在自制工装内检查各字符的笔画有无缺失，亮度是否一致。
8各类线路板10块/批次要求全检验检验方法：1观察颜色、外形有无划痕和桥变、焊盘有无氧化现象。
9各类散热器20块/批次检验5%检验方法：1观察规格型号、外形尺寸（与原对照）、孔径（与原对照）、孔距（与原对照）、毛刺、毛边。
晶振-来料检验规范
1 目的
本检验规范的目的是保证本公司所购晶振的质量符合要求。
2 适用范围
本检验规范适用于本公司生产产品无特殊要求的晶振。
3 规范内容：
3.1测试工量具及仪表：示波器，晶振测试工装，游标卡尺，锡炉，测力计，
浓度不低于95%的酒精
3.2缺陷分类及定义：
A类：单位产品的极重要质量特性不符合规定，或者单位产品的质量特性极严重不符合规定。
B类：单位产品的重要质量特性不符合规定，或者单位产品的质量特性严重不符合规定。
C类：单位产品的一般质量特性不符合规定，或者单位产品的质量特性轻微不符合规定。
3.3判定依据：抽样检验依样品为标准：
3.4检验项目、标准、缺陷分类一览表
4 参照文件：
《来料检验控制程序》
《可焊性、耐焊接热实验规范》
《电子产品（包括元器件）
5相关记录与表格
《来料检验报告》
《品质异常联络单》-。
晶振好坏的判定方法
晶振好坏的判定方法晶振是现代电子设备中常用的一种元器件，它具有稳定输出频率的特点，因此在数字电路、计算机、通信等领域得到广泛应用。
那么如何判定一个晶振的好坏呢？下面就介绍几种晶振好坏的判定方法。
1. 观察晶振外观和标识晶振一般有明显的型号、频率等标识，这些标识应清晰可见，没有模糊或掉色现象。
此外，晶振的体积、形状、引脚排列等方面也应符合规格要求。
如果外观和标识存在问题，那么很可能是质量不好的产品。
2. 用万用表测试参数用万用表测试晶振的参数如频率、阻抗、寄生电容等，这些参数的测量值应该在规定范围内。
如果测量值过大或过小，就说明晶振质量有问题。
特别注意的是，万用表测试时应选择合适的档位防止烧毁。
3. 应用软件测试在实际应用中，可以使用适当的测试软件对晶振进行测试。
例如，可以用示波器观察晶振产生的波形是否稳定、周期是否准确；也可以使用频率计测量晶振输出的频率是否稳定等。
如果测试结果不符合要求，说明晶振有问题。
4. 参考经验在行业内，有一些经验可以用来判断晶振的好坏。
例如，看晶振品牌是否有口碑，看晶振的产地和生产厂家是否有认证等。
这些信息可以从官方网站、相关论坛等渠道获取。
总之，判断晶振是否好坏需要综合考虑多方面因素，同时需要具备一定的专业知识和实践经验。
如果不确定自己的判断结果，可以向专业人士咨询。
晶振的好坏直接影响到整个电路的稳定性，因此在使用晶振时需要对其质量进行判断。
以下详细介绍几种判断方法：1. 观察晶振外观和标识在购买晶振时，首先要仔细观察晶振的外观和标识。
晶振一般有明显的型号、频率等标识，这些标识应清晰可见，没有模糊或掉色现象。
此外，晶振的体积、形状、引脚排列等方面也应符合规格要求。
如果外观和标识存在问题，那么很可能是质量不好的产品。
2. 用万用表测试参数用万用表测试晶振的参数也是一种常见的判断方法。
万用表测试时可以选择阻抗档、电容档或者电压档进行测试。
测试晶振的频率、阻抗、寄生电容等，这些参数的测量值应该在规定范围内。
晶振检验作业指导
晶振检验作业指导引言概述：晶振是电子设备中常见的一种元器件，它在电路中起到提供稳定的时钟信号的作用。
为了确保电子设备的正常运行，对晶振的质量进行检验是非常重要的。
本文将为大家介绍晶振检验的作业指导，帮助大家了解晶振检验的流程和注意事项。
一、外观检验1.1 外观检查首先，对晶振的外观进行检查。
检查晶振是否有明显的损伤、变形、划痕等情况。
同时，还要检查晶振的引脚是否完好，是否有松动、变形等问题。
1.2 标识检查接下来，对晶振的标识进行检查。
检查晶振上的标识是否清晰可见，包括型号、生产厂商、生产日期等信息。
同时，还要核对标识信息是否与产品规格书上的要求一致。
1.3 温度特性检查最后，对晶振的温度特性进行检查。
将晶振放置在不同的温度环境下，观察其频率变化情况。
晶振的频率应在一定温度范围内保持稳定，温度特性合格的晶振才能被认定为合格产品。
二、电性能检验2.1 频率测量首先，使用频率计对晶振的频率进行测量。
将晶振连接到频率计上，观察频率计显示的数值。
晶振的频率应该与产品规格书中的要求一致，并且在一定的误差范围内。
2.2 驱动能力检查接下来，对晶振的驱动能力进行检查。
将晶振连接到驱动电路中，观察晶振是否能够正常振荡，并且输出的信号幅度是否符合要求。
驱动能力强的晶振能够提供更稳定的时钟信号。
2.3 温度漂移检查最后，对晶振的温度漂移进行检查。
将晶振放置在不同的温度环境下，观察晶振的频率变化情况。
温度漂移应在一定范围内，以保证晶振在不同温度下的工作稳定性。
三、电气性能检验3.1 静态电流检查首先，对晶振的静态电流进行检查。
将晶振连接到电流表上，观察电流表的读数。
晶振的静态电流应在一定范围内，过高或过低的静态电流都可能影响晶振的正常工作。
3.2 相位噪声检查接下来，对晶振的相位噪声进行检查。
使用频谱仪对晶振输出的信号进行分析，观察频谱仪显示的相位噪声水平。
相位噪声应在一定范围内，以保证晶振输出的时钟信号稳定。
3.3 耐压检查最后，对晶振的耐压能力进行检查。
判断晶振好坏的简单方法
判断晶振好坏的简单方法晶振是现代电子设备中常见的一种元器件，它的主要作用是提供稳定的时钟信号，使设备能够准确地进行计时、计数等操作。
然而，在使用晶振的过程中，我们有时会遇到一些问题，比如设备无法启动、运行不稳定等，这很可能是由于晶振出现了问题所致。
那么，如何判断晶振的好坏呢？本文将介绍一种简单易行的方法，帮助大家快速准确地判断晶振的质量。
第一步：检查晶振的外观首先，我们需要检查晶振的外观。
正常的晶振应该是一个小巧玲珑的金属盒子，外表光滑、无划痕、无变形、无氧化等痕迹，如果出现了这些问题，那么很可能是晶振已经损坏了。
此外，我们还需要检查晶振的引脚是否有松动、断裂等现象，这也会影响晶振的使用效果。
第二步：测量晶振的频率如果晶振的外观没有问题，那么我们就需要测量它的频率了。
这个过程需要用到一个频率计，它可以帮助我们准确地测量晶振的频率。
首先，我们需要将晶振的引脚连接到频率计的输入端口上，然后将频率计调至合适的测量范围，开始测量晶振的频率。
正常的晶振频率应该在指定的范围内，如果频率偏高或偏低，那么就说明晶振存在问题。
第三步：检查晶振的质量等级除了测量晶振的频率，我们还可以查看晶振的质量等级。
晶振的质量等级通常用字母来表示，如A、B、C、D等。
其中，A等级晶振的质量最好，而D等级晶振的质量相对较差。
在购买晶振时，我们应该尽量选择质量等级较高的产品，以保证设备的稳定性和可靠性。
第四步：使用示波器检测晶振波形最后，我们可以使用示波器来检测晶振的波形。
示波器可以显示晶振输出的波形，从而帮助我们判断晶振是否正常工作。
正常的晶振波形应该是稳定的正弦波，如果波形出现了明显的扭曲、变形等现象，那么就说明晶振存在问题。
总结通过以上几个步骤，我们可以快速准确地判断晶振的好坏。
在实际应用中，我们应该尽量选择质量好、性能稳定的晶振产品，并严格按照使用说明进行操作，以确保设备的正常运行。
同时，我们也需要定期检查晶振的状态，及时更换损坏的晶振，以保证设备的长期稳定性和可靠性。
晶振基础知识
4.晶振的应用 并联电路：
(a)串联共振振荡器 (b)并联共振振荡器 1)：如何选择晶体？ 对于一个高可靠性的系统设计，晶体的选择非常重要，尤其设计带有睡眠唤醒(往往用低电压以求低功 耗)的系统。这是因为低供电电压使提供给晶体的激励功率减少，造成晶体起振很慢或根本就不能起振 。这一现象在上电复位时并不特别明显，原因时上电时电路有足够的扰动，很容易建立振荡。在睡眠 唤醒时，电路的扰动要比上电时小得多，起振变得很不容易。在振荡回路中，晶体既不能过激励(容易 振到高次谐波上)也不能欠激励(不容易起振)。晶体的选择至少必须考虑：谐振频点，负载电容，激励 功率，温度特性，长期稳定性。 2)：晶振驱动 电阻RS常用来防止晶振被过分驱动。过分驱动晶振会渐渐损耗减少晶振的接触电镀，这将引起频率的 上升。可用一台示波器检测OSC输出脚，如果检测一非常清晰的正弦波，且正弦波的上限值和下限值 都符合时钟输入需要，则晶振未被过分驱动；相反，如果正弦波形的波峰，波谷两端被削平，而使波 形成为方形，则晶振被过分驱动。这时就需要用电阻RS来防止晶振被过分驱动。判断电阻RS值大小的 最简单的方法就是串联一个5k或10k的微调电阻，从0开始慢慢调高，一直到正弦波不再被削平为止。 通过此办法就可以找到最接近的电阻RS值。
3).如何选择电容C1，C2？ （1）：因为每一种晶振都有各自的特性，所以最好按制造厂商所提供的数值选择外部元器件。 （2）： 在许可范围内，C1,C2值越低越好。应该试用电容将他的振荡频率调到IC所需要的频率，越准确越好， C值偏大虽有利于振荡器的稳定，但将会增加起振时间。 （3）：应使C2值大于C1值，这样可使上电时，加快晶振起振。
2.晶振的基本原理
2.1. 晶振的原理
石英晶体之所以可以作为谐振器，是由于它具有正（机械能→电能）、反（电能→机械能）压电效应。沿 石英晶片的电轴或机械轴施加压力，则在晶片的电轴两面三刀个表面产生正、负电荷，呈现出电压，其 大小与所加力产生的形变成正比；若施加张力，则产生反向电压，这种现象称为正电效应。当沿石英晶 片的电轴方向加电场，则晶片在电轴和机械轴方向将延伸或压缩，发生形变，这种现象称为反压电效应。 因此，在晶体两面三刀端加上交流电压时，晶片会随电压的变化产生机械振动，机械振动又会在晶片内 表面产生交变电荷。由于晶体是有弹性的固体，对于某一振动方式，有一个固有的机械谐振频率。当外 加交流电压等于晶片的固有机械谐振频率时，晶片的机械振动幅度最大，流过晶片的电流最大，产生了 共振现象。石英晶片的共振具有多谐性，即除可以基频共振外，还可以谐频共振，通常把利用晶片的基 频共振的谐振器，利用晶片谐频共振的谐振器称为泛音谐振器，一般能利用的是3、5、7之类的奇次泛音。 晶片的振动频率与厚度成反比，工作频率越高，要求晶片越薄（尺寸越大，频率越低），，这样的晶片 其机械强度就越差，加工越困难，而且容易振碎，因此在工作频率较高时常采用泛音晶体。一般地，在 工作频率小于20MHZ时采用基频晶体，在工作频率大于20MHZ时采用泛音晶体。
万用表检测电子元件经验技巧
8.电位器的好坏判别
先测电位器的标称阻值。用万用表的欧姆挡测“1”、“3”两端(设“2”端为活动触点)，其读数应为电位器的标称值，如万用表的指针不动、阻值不动或阻值相差很多，则表明该电位器已损坏。再检查电位器的活动臂与电阻片的接触是否良好。用万用表的欧姆挡测“1”、“2”或“2”、“3”两端，将电位器的转轴按逆时针方向旋至接近“关”的位置，此时电阻应越小越好，再徐徐顺时钟旋转轴柄，电阻应逐渐增大，旋至极端位置时，阻值应接近电位器的标称值。如在电位器的轴柄转动过程中万用表指针有跳动瑚象，描踢活动触』点接触不良。
电解电容器极性的判断方法：指针万用表测量电解电容器的漏电电阻，并记下这个阻值的大小，然后将表笔对调，在测电容器的漏电电阻，将两次所测的阻值对比，漏电电阻小的一次黑表笔所接触的就是正极。
10.判别红外接收头引脚
万用表置R×1k挡，先假设接收头的某脚为接地端，将其与黑表笔相接，用红表笔分别测量另两脚电阻，对比两次所测阻值(一般在4～7k Q范围)，电阻较小的一次其红表笔所接为+5V电源引脚，另一阻值较大的则为信号引脚。反之，若用红表笔接已知地脚，黑表笔分别测已知电源脚及信号脚，则阻值都在15kΩ以上，阻值小的引脚为+5V端，阻值偏大的引脚为信号端。如果测量结果符合上述阻值则可判断该接收头完好。
万用表检测常见电子元器件经验技巧
1.测整流电桥各脚的极性
万用表置R×1k挡，黑表笔接桥堆的任意引脚，红表笔先后测其余三只脚，如果读数均为无穷大，则黑表笔所接为桥堆的输出正极，如果读数为4～10kΩ，则黑表笔所接引脚为桥堆的输出负极，其余的两引脚为桥堆的交流输入端。
2.判断晶振的好坏
取一个容量大于100“F的电解电容器(容量越大，现象越明显)，先用万用表R×100挡对其充电，黑表笔接电容正极，红表笔接负极，充电完毕后，黑表笔改接电容负极，将被测发光二极管接于红表笔和电容正极之间。如果发光二极管亮后逐渐熄灭，表明它是好的。此时红表笔接的是发光二极管的负极，电容正极接的是发光二极管的正极。如果发光二极管不亮，将其两端对调重新接上测试，还不亮，表明发光二极管已损坏。