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【可编辑全文】湖南大学材料分析测试技术试卷答案

可编辑修改精选全文完整版湖南大学课程考试试卷课程名称：；试卷编号：；考试时间：120分钟一、填空题（每空1分，共20分） 1．X 射线的本质是一种电磁辐射，同时具有波动性和粒子性的特征。

2．连续X 射线的短波限取决于管电压。

3．晶体点阵中的一个二维阵点平面在倒易点阵中表示为一个倒易阵点。

4．X 射线衍射仪测定宏观应力是根据它使衍射峰发生位移的原理进行的。

5．劳厄法是采用连续 X 射线照射单晶体。

6．透射电镜中的电磁透镜从电子枪到荧光屏的排列顺序为：聚光镜、物镜、中间镜和投影镜。

7．内应力包括：宏观应力，微观应力，超微观应力。

8．粉末法中影响X 射线强度的因子有，，，，。

二、选择题（单选，每题2分，共40分） 1．布拉格方程是晶体对X 射线衍射的。

………………（ B ） A ．充分条件 B. 必要条件 C. 充要条件 D. A 、B 、C 都不对 2．X 射线测定宏观应力计算公式为 =KM ，其中K 为应力常数，它与有关。

……………………………………………………………………（A）A．试样的力学性能 B. 入射X射线波长C. 所选择的反射晶面D. A、B、C三种因素3．测量Fe基材料最好选作阳极靶。

………………………（C）A．Cu B. Mo C. Co D. Ni4．闪烁计数器是根据X射线的的特性而设计的。

…………（C）A．具有穿透性 B. 能使气体电离C. 使荧光物质发光D. 使照相底片感光5．由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律而造成的像差，称为。

…………………………………（A）A．球差 B. 畸变 C. 色差 D. 象散6．电子束与固体样品相互作用会产生各种信号，下列信号中能量最小的是。

…………………………………………………………（A）A．俄歇电子 B. 二次电子 C. 背散射电子 D. 吸收电子7．质厚衬度与下列无关。

材料科学：材料分析测试技术测考试题.doc

材料科学：材料分析测试技术测考试题考试时间：120分钟考试总分：100分遵守考场纪律，维护知识尊严，杜绝违纪行为，确保考试结果公正。

1、名词解释溅射本题答案： 2、问答题衍射线在空间的方位取决于什么？而衍射线的强度又取决于什么？本题答案： 3、单项选择题透射电镜中电中间镜的作用是（）A 、电子源 B 、会聚电子束 C 、形成第一副高分辨率电子显微图像 D 、进一步放大物镜像本题答案： 4、问答题要观察钢中基体和析出相的组织形态，同时要分析其晶体结构和共格界面的位向关系，如何制备样品？以怎样的电镜操作方式和步骤来进行具体分析？本题答案： 5、单项选择题样品台和测角仪机械连动时，计数器与试样的转速关系是（）A 、1﹕1 B 、2﹕1 C 、1﹕2 D 、没有确定比例姓名：________________ 班级：________________ 学号：________________--------------------密----------------------------------封 ----------------------------------------------线----------------------本题答案：6、名词解释质厚衬度本题答案：7、名词解释伸缩振动本题答案：8、单项选择题菊池线可以帮助（）。

A.估计样品的厚度；B.确定180不唯一性；C.鉴别有序固溶体；D.精确测定晶体取向。

本题答案：9、问答题什么是消光距离？影响晶体消光距离的主要物性参数和外界条件是什么？本题答案：10、问答题制备复型的材料应具备什么条件？本题答案：11、名词解释Hanawalt索引本题答案：12、问答题简述X射线产生的基本条件。

本题答案：13、单项选择题波谱仪与能谱仪相比，能谱仪最大的优点是（）。

A.快速高效；B.精度高；C.没有机械传动部件；D.价格便宜。

本题答案：14、问答题如何用红外光谱跟踪二氧化硅湿凝胶变为干凝胶的过程？本题答案：15、单项选择题当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（）A.短波限0；B.激发限k；C.吸收限；D.特征X射线本题答案：16、单项选择题晶体属于立方晶系，一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4，则该晶面的指标为（）A、（364）B、（234）C、（213）D、（468）本题答案：17、单项选择题透射电镜成形貌像时是将（）A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合C、关闭中间镜D、关闭物镜本题答案：18、问答题试说明菊池线测试样取向关系比斑点花样精确度为高的原因。

资料分析试题及答案.doc

资料分析试题练习一、根据以下文字资料，回答以下儿题。

据某市统计，截止到2004年底，全市16岁以下的少年儿童总数是2272194人，其中，学龄前期儿童为739616人，占其总数的33.55%。

另据有关资料显示，在我国目前抚养一个婴儿到16岁，农村平均盂要1600元，城市平均需要6900元，全国平均2200元，2004年该市儿童消费主要体现在吃、穿、玩具等方面，不同年龄消费费用不同：在婴儿期内食品支出占总支出的81.5%,在幼儿期内占81.2%,在学龄前期占77. 9%,在学龄期内占71.4%；在服装方面，学龄前儿童支出人体维持在总消费金额的13%左右，但进入学龄期后，占总体的21.8%。

1）在我国，城市抚养一个婴儿的费用相当于农村抚养一个婴儿的（）A.3倍左右B. 4倍左右C. 5倍左右D. 2倍左右2）该市儿童在食品消费比例支出最人的是：A.婴儿期B.幼儿期C.学龄前期D.学龄期3）该市儿童在服装消费比例支出最人的是：A.婴儿期B.幼儿期C.学龄前期D.学龄期4）该市当年16岁以下，学龄期以上的儿童比例是：A.四分之一左右B.四倍左右C. 33. 55%D. 66. 45%5）该市学龄期儿童的服装消费金额比学龄前儿童高出约（）A. 3. 8%B. 6. 5%C・ 40. 4%D. 67.7%二、根据下而文字所提供的信息回答以下5题。

与全国考研报名情况一样，某省研究牛报名人数增幅大降。

來白该省招办的信息，在该省报名考研的人数的增长率下降了13个百分点，全国报考该省招收单位研究生的人数的增长率下降了7. 7个百分点。

据介绍，2004年该省，21个报名点共有64484名考生报名，考生报考总数比2003年增加6678人，增长11.6%,而2003年研究生报名人数比2002年增长了24. 6%。

2004年该省共有52所高校和科研单位招收攻读硕士学位研究住，全国共有76736名考生报考该省招生单位,比2003年增加10624人，增长16. 1%,而2003年比2002年的报名人数增长23・8 %。

材料分析测试技术试题及答案

材料分析测试技术试题及答案材料分析测试技术试题及答案(一)1、施工时所用的混凝土空心砌块的产品龄期不应小于( D)。

A、14dB、7dC、35dD、28d2、高强度大六角头螺栓连接副和扭剪型高强度螺栓连接副出厂时应分别随箱带有( C )和紧固轴力(预拉力)的检验报告。

A、抗拉强度B、抗剪强度C、扭矩系数D、承载力量3、勘察、设计、施工、监理等单位应将本单位形成的工程文件立卷后向( A )移交。

A、建立单位B、施工单位C、监理单位D、设计单位4、城建档案治理机构应对工程文件的立卷归档工作进展监视、检查、指导。

在工程竣工验收前，应对工程档案进展( C )，验收合格后，须出具工程档案认可文件。

A、检查B、验收C、预验收D、指导5、既有文字材料又有图纸的案卷( A )。

A、文字材料排前，图纸排后B、图纸排前，文字材料排后C、文字材料、图纸按时间挨次排列D、文字材料，图纸材料交叉排列6、建筑与构造工程包括那几个分部( B )。

A、地基与根底、主体、装饰装修、屋面、节能分部B、地基与根底、主体、装饰装修、屋面分部C、地基与根底、主体、装饰装修分部D、地基与根底、主体分部7、在原材料肯定的状况下，打算混凝土强度的最主要因素是( B )。

A、水泥用量B、水灰比C、水含量D、砂率8、数据加密技术从技术上的实现分为在( A )两方面。

A、软件和硬件B、软盘和硬盘C、数据和数字D、技术和治理9、混凝土同条件试件养护：构造部位由监理和施工各方共同选定，同一强度等级不宜少于10组，且不应少于( A )组。

A、3B、10C、14D、2010、不属于统计分析特点的是( D )。

A、数据性B、目的性C、时效性D、准时性11、施工资料治理应建立岗位责任制，进展( C )。

A、全面治理B、全方位掌握C、过程掌握D、全范围掌握12、目前工程文件、资料用得最多的载体形式有( A )。

A、纸质载体B、磁性载体C、光盘载体D、缩微品载体13、施工资料应当根据先后挨次分类，对同一类型的资料应根据其( A )进展排序。

(完整版)材料分析方法试题及答案07

材料现代分析方法试题7（参考答案）一、基本概念题（共10题，每题5分）1．欲用Mo靶X射线管激发Cu的荧光X射线辐射，所需施加的最低管电压是多少？激发出的荧光辐射的波长是多少？答：欲使Cu样品产生荧光X射线辐射,V =1240/λCu=1240/0.15418=8042,V =1240/λCu=1240/0。

1392218=8907激发出荧光辐射的波长是0。

15418nm激发出荧光辐射的波长是0.15418nm2．判别下列哪些晶面属于［11]晶带：（0），（1），(231），（211）,(01），（13），(12），（12)，（01），(212)。

答：（0）（1）、（211）、（12)、(01)、（01）晶面属于［11]晶带，因为它们符合晶带定律:hu+kv+lw=0。

答：（0）(1）、（211）、(12）、（01）、（01）晶面属于[11］晶带,因为它们符合晶带定律：hu+kv+lw=0。

3．用单色X射线照射圆柱多晶体试样,其衍射线在空间将形成什么图案?为摄取德拜图相,应当采用什么样的底片去记录？答:用单色X射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成一组锥心角不等的圆锥组成的图案；为摄取德拜图相,应当采用带状的照相底片去记录.4．洛伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响？其表达式是综合了哪几方面考虑而得出的？答:洛伦兹因数是表示掠射角对衍射强度的影响。

洛伦兹因数表达式是综合了样品中参与衍射的晶粒大小，晶粒的数目和衍射线位置对衍射强度的影响。

5．给出简单立方、面心立方、体心立方以及密排六方晶体结构电子衍射发生消光的晶面指数规律。

答：常见晶体的结构消光规律简单立方对指数没有限制（不会产生结构消光）f. c. c h。

k. L. 奇偶混合b. c。

c h+k+L=奇数h。

c。

p h+2k=3n, 同时L=奇数体心四方 h+k+L=奇数6．透射电镜的成像系统的主要构成及特点是什么?答：透射电镜的成像系统由物镜、物镜光栏、选区光栏、中间镜（1、2）和投影镜组成。

材料分析测试技术-试卷及答案

制卷人签名：制卷日期：审核人签名：：审核日期： ……………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………装……………………订……………………线…………………………………………………………………得二、名词解释(每题4，共20分) 分1.晶带轴[uvw]和零层倒易截面(uvw)*2.电磁透镜的景深与焦长3.明场像、暗场像和中心暗场像4.物质对X射线的线吸收系数和质量吸收系数5.荧光产额和俄歇产额得三、简答题(每题6分，共30分)分1.高能电子束与固体样品相互作用时将产生那些信号？简述其产生原理，并说明这些信号在材料的性能表征方面有何应用？2.电磁透镜的像差有哪几种，并简述其产生原因及克服方法。

3.分别说明透射电镜中成像操作与衍射操作时各级透镜(像平面与物平面)之间的相对位置关系，并画出光路图。

4.简述用X射线衍射仪对多相物质进行物相定性分析的基本程序。

2. 证明TEM 中的电子衍射基本公式)(hkl g L R L Rd G G λλ==。

3. 证明衍射分析中的厄瓦尔德球图解与布拉格方程等价。

其中包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。

背散射电子的产生范围深，由于背散射电子的产额随原子序数的增加而增加，所以，利用背散射电子作为成像信号不仅能分析形貌特征，也可用来显示原子序数衬度，定性地进行成分分析。

(1分) 二次电子：二次电子是指被入射电子轰击出来的核外电子。

(完整版)材料分析测试技术部分课后答案

材料分析测试技术部分课后答案太原理工大学材料物理0901 除夕月1-1 计算0.071nm(MoKα)和0.154nm(CuKα)的X-射线的振动频率和能量。

ν=c/λ=3*108/(0.071*10-9)=4.23*1018S-1E=hν=6.63*10-34*4.23*1018=2.8*10-15 Jν=c/λ=3*108/(0. 154*10-9)=1.95*1018S-1E=hν=6.63*10-34*2.8*1018=1.29*10-15 J1-2 计算当管电压为50kV时，电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能.E=eV=1.602*10-19*50*103=8.01*10-15 Jλ=1.24/50=0.0248 nm E=8.01*10-15 J(全部转化为光子的能量)V=(2eV/m)1/2=(2*8.01*10-15/9.1*10-31)1/2=1.32*108m/s1-3分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？（1）用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射；（2）用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射；（3）用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。

答：根据经典原子模型，原子内的电子分布在一系列量子化的壳层上，在稳定状态下，每个壳层有一定数量的电子，他们有一定的能量。

最内层能量最低，向外能量依次增加。

根据能量关系，M、K层之间的能量差大于L、K成之间的能量差，K、L层之间的能量差大于M、L层能量差。

由于释放的特征谱线的能量等于壳层间的能量差，所以Kß的能量大于Ka 的能量，Ka能量大于La的能量。

因此在不考虑能量损失的情况下：CuKa能激发CuKa荧光辐射；（能量相同）CuKß能激发CuKa荧光辐射；（Kß>Ka）CuKa能激发CuLa荧光辐射；（Ka>la）1-4 以铅为吸收体，利用MoKα、RhKα、AgKαX射线画图，用图解法证明式（1-16）的正确性。

《材料分析测试技术》课程试卷答案

一、选择题：（8分/每题1分）1. .当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（D）。

A. 光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C）2. 有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生（B）衍射线。

A. 三条；B .四条；C. 五条；D. 六条。

3. .最常用的X射线衍射方法是（B）。

A. 劳厄法；B. 粉末多晶法；C. 周转晶体法；D. 德拜法。

4. .测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（C ）。

A. 外标法；B. 内标法；C. 直接比较法；D. K值法。

5. 可以提高TEM的衬度的光栏是（B ）。

A. 第二聚光镜光栏；B. 物镜光栏；C. 选区光栏；D. 其它光栏。

6. 如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是（D）。

A. 六方结构；B. 立方结构；C. 四方结构；D. A或B。

7. .将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（C）。

A. 明场像；B. 暗场像；C. 中心暗场像；D.弱束暗场像。

8. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（B）。

A. 背散射电子；B. 二次电子；C. 吸收电子；D.透射电子。

一、判断题：（8分/每题1分）1.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。

（√）2.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。

（√）3.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率，缩短暴光时间。

（×）4.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有什么成分。

（×）5.有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同，前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率，后者仅仅是仪器的制造水平。

（√）6.电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。

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理学院形式开卷闭卷2013级研究生密编号：
考试日期：5月日
印刷份数：1份
上海理工大学
研究生试题
2013 / 2014学年第二学期
课程名称：现代材料分析技术
教师签章：年月日教研室主任审查意见：
签章：年月日
1.编号栏由研究生部填写。

上海理工大学研究生课程试题*
共 5 页2013 /2014 学年第学期考试课程现代材料分析技术
学号姓名得分
1.试述原子散射因数 f 和结构因数F HKL2的物理意义，结构因数和哪些因素有关系？
答：原子散射因数 :f=A a/A e = 一个原子所有电子相干散射波的合成振幅 / 一个电子相干散射波的振幅，它反映的是一个原子中所有电子散射波的合成振幅。

结构因数：
式中结构振幅 F HKL =A b/A e = 一个晶胞的相干散射振幅 / 一个电子的相干散射振幅。

结构因数表征了单胞的衍射强度，反映了单胞中原子种类，原子数目，位置对（ HKL ）晶面方向上衍射强度的影响。

结构因数只与原子的种类以及在单胞中的位置有关，而不受单胞的形状和大小的影响。

2.分析电子衍射和X 射线衍射有何异同？
* 注：考题全部写在框内，不要超出边界。

内容一律用黑色墨水书写或计算机打印，以便复印。

3.试计算简单晶胞和底心立方晶胞的结构因子，并分析其消光情况。

4.分别计算体心立方晶胞和面心立方晶胞的结构因子。

5.体心立方晶体点阵常数 a=0.2866nm ，用波长λ =0.2291nm 照射，试计算 (110) 、(200) 及 (211) 晶面可能发生的衍射角。

6.试计算出金刚石晶体的消光规律（F2的表达式）。

该晶体为立方晶体，单胞中有 8 个 C 原子分别位于以下位置：
解：
7.CuK α射线的波长为0.154nm ，用它照射铜样品，已知铜的点阵常数a=0.361nm，试用布拉格方程求（200）面反射的θ 角。

8.已知衍射峰积分宽度为β=0.25 度，X 射线波长λ =0.154nm ，布拉
格角 =19.23 °，试根据谢乐公式计算亚晶粒尺寸。

[ 假定 cos(19.23) ≈0.94 ，计算结果取整数 ]
9.CuK α辐射（λ=0.154nm ）照射银（ f.c.c ）样品，测得第一衍射峰位置2θ=38 °，试求银的点阵常数。

答：由 sin θ2= λ（h 2+k 2+l 2）/4a 2
查表由 Ag 面心立方得第一衍射峰（ h2 +k 2 +l 2）=3 ，
所以代入数据 2θ=38 °，解得点阵常数 a=0.671nm
10.对于晶粒直径分别为 100 、75 、50 、25nm 的粉末衍射图形，请计算由晶粒细化引起的衍射线条宽化幅度 B（设θ=45°，λ =0.15nm）。

对于晶粒直径为 25nm 的粉末，试计算θ=10 °、45 °、80 °时的B 值。

答案：。