岩石矿物样品成分分析法
探析利用原子吸收法测定岩石矿物中金成分
管理及其他M anagement and other 探析利用原子吸收法测定岩石矿物中金成分胡 晨摘要：随着浅层矿产储量的减少，深层找矿工作变得越来越困难。
在社会生产过程中，快速、准确地分析和测定矿物中的金成分，能够对工艺指标进行有效控制，并且在调度生产中起着十分重要的作用。
要对岩石矿物中的金成分进行有效测定，就需要重视检测技术的使用并不断完善。
现阶段，随着对矿物中金含量测定方法的研究的不断深入，在金含量测定技术和分析方法上都得到了一定的突破。
在各种测量方法的使用中，分离富集手段不同是测量存在的主要差异，目前，反相萃取色层法、共沉淀、离子交换、活性炭吸附以及溶剂萃取是最常用的分离富集手段。
关键词：岩石矿物；原子吸收法；金成分有效利用矿产资源不仅可以提高生活质量，还可以促进科技生产的进步。
因此，地质地理学界对矿产勘探工作非常重视。
准确而快速地分析不同岩性的岩石矿物组成，明确矿产的数量和质量，是成功进行矿产开发工作的基础。
矿产生产规模和投资规模的开发在社会财富积累和社会生产中具有重要意义。
此外，金元素在日常生活和高端工业领域都有广泛的应用。
近年来，金矿勘查在岩矿勘查领域已经成为一个重要的研究课题。
本文在分析原子吸收法的工作原理的基础上，探讨了矿物中金成分的测定方法。
1 原子吸收法的工作原理及优势1.1 原子吸收法的工作原理原子吸收法（AAS）是一种能够有效测量物体中元素含量的方法，也被称为原子吸收光谱法或原子吸收分光光度法。
在测量过程中，原子中的电子会从基态向较高能态跃迁，在辐射通过自由原子蒸气时，原子会吸收辐射场中的能量。
由于不同原子的结构和能级特性不同，它们对能量的吸收程度也会有所差异。
如果所需的能量频率与入射辐射的频率相同，就会产生原子共振吸收。
这种吸收现象具有一定的规律特征，被称为原子吸收光谱法。
通过测量辐射光强，将标准样品的吸光度与待测试样品的吸光度进行比较，可以准确计算出样品中金、银的含量。
(整理)岩石矿物分析样品制备.
岩石矿物分析样品制备一．理论依据试样制备工作原则就是采用最经济有效的方法，将实验室样品破碎、缩分，制成具有代表性的分析试样。
制备的试样应均匀并达到规定要求的粒度，保证整体原始样品的物质组分及其含量不变，同时便于分解。
根据不同地质目的、不同矿种、不同测试要求，应采取不同的制样方法，确保试样制备的质量。
要从原始大样中取复具有代表性的分析试样，需要对原始样品进行多次破碎和缩分。
缩分目前仍采用最简单的切乔特（qeqo TT）经验公式，即：2KdQ式中：Q――样品最低可靠重量（kg）；d――样品中最大颗粒直径（mm）；K――根据岩样品特性确定的缩分系数。
d)成正比。
样公式的意义是样品的最低可靠重量（Q）与样品中最大颗粒直径的平方(2Kd的数量。
品每次缩分后的重量不能小于2样品的K 值应该由试验确定。
它与岩石矿物种类、待测元素的品位和分布均匀程度以及对分析精密度、准确度的要求等因素有关。
K 值的确定试验：通常从最典型的矿石中取一定量的样品，将其破碎至10mm大小的粒径，缩分成8-16个部分（每部分不小于100kg），然后进一步粉碎，并用不同的K值缩分各部分样品，将每一部分最终制成分析试样，并测定每一部分的主要成分含量（多次测定，取平均值），根据测定结果的平均偏差确定最合理的K值。
元素的品位变化愈大、分布愈不均匀、分析精密度要求越高者，则K 值愈大。
通常加工绝大多数矿石，K值在0.1-0.3之间；K=0.05 为均匀和极均匀的样品；K=0.1 为不均匀的样品；K=0.2 极不均匀的样品；K=0.4-0.8 含中粒金（0.2-0.6mm）的金矿石；K=0.8-1.0含粗粒金（＞0.6mm）的金矿石。
各种主要岩石矿物的K 值见表1，各种筛孔直径（d）及不同K 值情况下的Q 值，参见表2。
表2 d、Q 与K 的对应值二．来样验收客户送样时应填写委托书一式两份，委托书内容应包括送样编号、样品名称、样品状态、分析项目、K 值、要求完成日期和其他应明确的约定事项，并有客户签字。
关于地质岩石矿物分析测试技术的探讨
关于地质岩石矿物分析测试技术的探讨摘要：地质岩石矿物分析测试技术在地质学、矿产勘探和资源评估中扮演着重要的角色。
通过对岩石和矿物的分析，我们可以了解地球的演化过程，揭示地质过程和资源形成机制。
本文将探讨几种常用的地质岩石矿物分析测试技术，以供相关人士交流参考。
关键词：地质岩石；矿物；分析测试一、地质岩石矿物分析常见的测试技术（一）光学显微镜测试光学显微镜是地质岩石矿物分析测试中最常用的工具之一。
其原理基于光学的折射和散射特性，通过放大样品的图像以观察和分析其中的岩石和矿物组成。
工作流程通常包括样品制备、加载样品到显微镜平台上并进行调节和对焦，然后使用不同的镜头和光源来观察以获取所需的图像。
在数据分析方面，光学显微镜可以提供详细的形态学信息，如颗粒大小、颜色、晶体形态等，并通过矿物学特征来确定矿物的种类和组合。
此外，利用偏光显微镜和交叉偏光显微镜等技术，还可以观察和分析岩石和矿物组分之间的相互作用，如正交交变和双折射效应。
光学显微镜的数据分析通常涉及图像处理和解释，可以通过比对参考图谱、使用矿物识别软件或进行人工判断来鉴定岩石和矿物种类[1]。
（二）X射线衍射技术X射线衍射技术是地质岩石矿物分析测试中一种重要的手段。
它基于X射线与物质相互作用的原理，通过分析所衍射的X射线的方向和强度，来确定样品中存在的矿物成分。
该技术通常使用X射线衍射仪器进行实验。
在实验过程中，样品会受到X射线的照射，X射线会在不同矿物的晶格中发生衍射现象，并形成衍射图样。
仪器会将衍射图样记录下来，并根据衍射角度和强度来进行解析。
X射线衍射技术在数据解释方面非常重要。
通过对衍射图样的解析，可以确定矿物的晶体结构、晶胞参数等信息。
衍射峰的位置和强度可以用于标识矿物的种类和含量，而峰形和峰宽则提供了矿物晶体结构的信息。
在解析过程中，可以通过与标准参考样品进行比对来确定矿物种类，并利用相对峰强度来计算出样品中各矿物的相对含量。
（三）扫描电子显微镜（SEM）技术及其应用扫描电子显微镜（SEM）技术是地质岩石矿物分析测试中一项非常有用的工具。
浅论岩石矿物的分析鉴定
浅论岩石矿物的分析鉴定岩石是地壳中最基本的构成单元，由矿物颗粒或矿物团组成。
矿物是自然界中无机物质的基本单元，通过对岩石矿物的分析鉴定可以了解岩石的成因、性质以及所属地质时代，对于地质学研究和资源勘探具有重要意义。
本文将从岩石矿物分析的方法和流程、重要的测试技术和鉴定依据等方面进行浅论。
岩石矿物分析的方法主要包括岩石薄片观察和性质测试两个步骤。
岩石薄片观察是通过显微镜对岩石矿物的颗粒形状、颜色、透明度、双折射等进行观察，并同时进行显微照相和制备矿物几何测量图。
性质测试则是通过对岩石的物理特性、化学性质和矿物学特征进行实验和分析。
在岩石薄片观察中，可以对岩石矿物的晶体形态、晶体交联情况和晶体结构进行直接观察和测量，从而获得岩石矿物的形貌特征、晶系和晶胞参数等信息。
还可以通过偏光显微镜观察岩石矿物的双折射、吸收性质以及反射和折射率等。
还可以使用扫描电镜和透射电镜等高清分析仪器对岩石矿物进行微观观察和成分分析。
在性质测试中，可以通过测定岩石的硬度、密度、磁性、化学性质、热力学性质和光学性质等来判断岩石的成分和特性。
可以使用莫氏硬度计对岩石进行硬度测定，通过计量岩石在不同硬度之间的划痕特征来确定岩石的硬度级别。
还可以利用气体质谱仪和X射线荧光光谱仪等现代分析仪器对岩石的元素组成和含量进行分析和检测。
岩石矿物的鉴定依据主要包括形状特征、物理性质、化学性质和光学性质等方面。
形状特征是指岩石矿物的晶体形态、晶体交联情况和晶体结构等方面的表现，可以通过显微镜观察和测量来进行判断。
物理性质是指岩石矿物的硬度、密度、磁性、光学性质等特征，可以通过实验测试和仪器分析来获得。
化学性质是指岩石矿物的元素组成和含量等特征，可以通过化学试剂和仪器分析来测定。
而光学性质则是指岩石矿物在偏光显微镜下的双折射、吸收性质以及反射和折射率等特征，可以通过显微镜观察和测量来分析。
岩矿分析与鉴定
岩矿分析与鉴定1. 引言岩矿分析与鉴定是地质学中的一个重要研究领域。
它通过对岩石和矿物的物理性质、化学组成以及形态结构等方面的分析和鉴定，可以揭示地球内部的构造和演化过程，为矿产资源的勘探和开发提供科学依据。
本文将介绍岩矿分析与鉴定的基本原理、方法和应用，以及常见的岩矿鉴定技术。
2. 岩矿分析与鉴定的基本原理岩矿分析与鉴定的基本原理是基于岩石和矿物的物理、化学和结构特征进行分析和鉴定。
它利用光学显微镜、电子显微镜、X射线衍射仪等仪器设备，通过观察岩矿的形态结构、颜色、透明度等特征，以及测量其物理性质和进行化学成分分析，来确定岩矿的种类和特征。
3. 岩矿分析与鉴定的方法3.1 光学显微镜观察法光学显微镜观察法是岩矿分析与鉴定中最常用的方法之一。
该方法通过放大岩矿的形态结构细节，观察样品的颜色、晶体形态、结构和纹理等特征，来推断其矿物组成和岩性类型。
该方法适用于对透明或半透明的岩矿样品进行分析和鉴定。
3.2 电子显微镜观察法电子显微镜观察法是一种高分辨率的观察方法，可以观察到更加微小的岩矿颗粒和结构。
电子显微镜可以分为扫描电子显微镜和透射电子显微镜两种类型。
扫描电子显微镜可以观察到表面形态和微观结构，透射电子显微镜可以观察到更细微的结构和晶体缺陷。
电子显微镜观察法对于矿物的颗粒大小、结构形态和晶体结构等特征的分析具有重要意义。
3.3 X射线衍射法X射线衍射法是利用X射线与岩矿样品相互作用产生衍射现象来分析和鉴定岩矿的方法。
通过测量和分析样品的衍射图样，可以确定样品的晶体结构和晶体学参数，从而推断其矿物组成和结构类型。
该方法对于非晶态材料的分析和鉴定也具有一定的应用价值。
3.4 物理性质测量法岩矿的物理性质测量是通过对样品的密度、硬度、磁性、电性等物理性质的测量，来推断其成分和属性。
例如，通过测量岩矿的密度可以推断其成分的含量和类型，通过测量岩矿的硬度和磁性可以推断其矿物的种类和性质等。
4. 岩矿分析与鉴定的应用岩矿分析与鉴定在地质学和矿产资源勘探中具有重要的应用价值。
浅谈岩石矿物分析的基本流程
浅谈岩石矿物分析的基本流程岩石矿物分析是地球科学中的重要研究方法之一，它用于确定岩石的组成、结构和性质，从而帮助地质学家深入了解岩石的形成和变化过程。
下面将给出岩石矿物分析的基本流程。
1.选样：在进行岩石矿物分析之前，首先需要采集合适的岩石样品。
样品应该具有代表性，能够反映整个岩石体的特征。
通常可以通过野外考察或钻探来获得合适的样品。
2.制备标本：采集到的岩石样品需要经过加工和制备，以便于后续的矿物分析。
一般来说，样品需要先破碎成适当的颗粒大小，然后进行均质化处理，以获取具有一定粒度和形状的标本。
3.观察岩石形态：在进一步分析之前，需要首先对岩石的宏观形态进行观察和描述。
包括岩石的颜色、纹理、结构、断口等特征。
这些形态特征能够为矿物分析提供一些重要的线索。
4.根据岩石的颜色、质地等特征初步判断岩石中可能存在的矿物。
5.显微镜下观察：岩石样品经过预处理后，可以使用光学显微镜进行观察。
使用透射光学显微镜能够观察到岩石中的各种矿物颗粒，通过矿物的颜色、形状、折射率等特征，可以初步确定矿物的种类。
6.化学分析：化学分析是确定岩石矿物组成的重要手段。
可以使用化学试剂进行常规的酸解试验，从而确定岩石中矿物的化学成分。
同时，利用电子探针、质谱仪等仪器设备进行进一步的元素分析。
7.衍射分析：衍射分析是岩石矿物分析中常用的手段之一、通过X射线衍射或电子衍射技术，可以确定岩石中矿物的晶体结构和取向。
衍射分析可以提供矿物晶体学参数的精确数据，帮助深入理解岩石的形成过程。
8.特殊测试：除了常规的方法外，有时还需要进行一些特殊测试来确定岩石中的特殊矿物。
例如，电子显微镜和能谱仪联用可以用于确定微量和次微量元素，扫描电镜则可以观察到岩石中的微细构造。
9.数据处理和解释：在进行了以上分析后，需要对所得到的数据进行处理和解释。
这些数据可以被用来确定岩石的成因、变质和变形等地质事件的发生和过程。
10.形成结论：最后，在将所有数据进行综合、对比和分析之后，可以得出关于岩石样品的结论。
岩石矿物的化学成分分析
岩石矿物的化学成分分析经济的发展必然带动很多行业以及领域的发展，其中矿业的发展就是一个显著的体现。
由于当前时期，矿业不断发展，此时矿物分析工作开始被人们广泛关注。
通过开展矿物分析活动，我们能够明确其中的矿物成分，能够明确元素的比例等，对于我们开展后续的开采工作有着非常显著的意义。
当前时期我们常用的矿物分析措施类型很多，它们的特点也不一样。
作者具体阐述了目前常用的化学分析措施以及它们的特征等，目的是为了更好的促进国家的矿业工作的开展。
标签：岩石矿物；化学分析；成果1 岩石矿物定义以及类型简述矿物是由地质反应生成的，它们是由单一或是多个元素组合得到的一种物质，同时将其组合到一起就得到了岩石。
由于大自然中有很多的化学物质，如果将它们按照不一样的形式配比，再加以复杂的地质反应，就会导致矿物类型多样。
目前，人们已经得知的矿物类型超过了四千种。
最为常见的也有超过百种。
在分析矿物时，必须认真判定其化学成分以及物化特性。
2 岩石矿物分析方法概述2.1 滴定法与重量法通过分析我们发现，滴定法的准确性非常高。
常见的实验室使用的主要是人工滴定措施，它是结合指示剂的色泽改变颜色滴定在终点，进而通过目测标准溶液分析其消耗情况，最终得知分析结果。
该措施被大量的应用到矿物分析测定工作之中。
应用此方法的前提，工作者积极研究创新，获取了很多显著的发展。
比如有的工作者创新了原钒酸铵微量滴定法，创新之后更加简洁，而且速度更快。
而重量分析措施，主要是通过分析物质的重量来判定组分的比例的。
该措施在应用的时候会受到精确性等因素干扰，故此，通常和滴定措施组合运用。
2.2 光度法最近几年，该措施被大量的应用到矿物分析工作之中。
最常见的措施是分光光度法，此外还有荧光光度法、化学分光法等。
所谓的分光光度法，具体的说是经由测试样品在特殊波长范围之内的吸光度，来分析它的定性以及定量的一种措施。
光度法应用于岩石矿物方面在已有的文献报道中：陈文宾等学者合成并鉴定了两种三氮烯类试剂，分别建立了铅锌矿中Hg2+和金矿石中Au3+的光度分析新方法；还有研究人员从紫甘蓝中提取的花青素与Al3+进行络合反应，从来测定土壤中的微量Al3+，通过不断的测试我们得出了一个结论，即光度法非常环保。
k值法计算矿土样品矿物组成含量
k值法计算矿土样品矿物组成含量矿物组成含量是描述矿物在矿土中所占比例的重要参数，它对于矿物学和岩石学研究以及矿产资源开发具有重要意义。
k值法是一种常用的计算矿土样品矿物组成含量的方法。
本文将详细介绍k值法的原理、计算步骤以及应用范围。
一、k值法的原理k值法是一种基于X射线衍射（XRD）分析数据计算矿物组成含量的方法。
其基本原理是根据矿物的晶胞参数和XRD图谱中各峰的强度比值，计算出每种矿物在样品中所占的体积百分比。
具体来说，k值法的原理可以概括为以下几个步骤：1. 根据样品的XRD图谱，确定各峰的位置和强度。
2. 根据各峰的位置和强度，计算出每种矿物的k值。
3. 根据每种矿物的k值，计算出每种矿物在样品中所占的体积百分比。
二、k值法的计算步骤k值法的计算步骤可以分为以下几个部分：1. 确定样品的XRD图谱，并标注各峰的位置和强度。
2. 计算各峰的相对强度（I/Ic），其中I为各峰的实际强度，Ic 为基线上对应位置的强度。
3. 根据各峰的相对强度，计算出每种矿物的k值。
k值可以通过以下公式计算：k = (I/Ic) / (V/Vc)其中，V为各矿物的晶胞体积，Vc为标准矿物的晶胞体积。
标准矿物是指已知成分和晶胞参数的矿物，常用的标准矿物包括铝土矿、方解石、二氧化硅等。
4. 计算出每种矿物在样品中所占的体积百分比。
可以通过以下公式计算：Vp = (k / Σk) × 100%其中，Σk为所有矿物的k值之和。
三、k值法的应用范围k值法适用于各种矿物组成复杂的矿土样品，例如粘土、泥岩、沉积物等。
它具有以下优点：1. 不需要知道各种矿物的化学成分和结构信息，只需要知道其晶胞参数即可。
2. 可以同时计算出多种矿物在样品中所占比例，具有高效性和可靠性。
3. 可以通过与标准矿物进行比较，确定样品中存在的各种矿物。
总之，k值法是一种简单、快速、准确的计算矿土样品矿物组成含量的方法，具有广泛的应用前景。
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岩石礦物樣品成分分析法
主要元素（major elements）
X-ray fluorescence spectrometry－X光螢光分析（XRF）
微量元素（trace elements）
Activation analysis－活化分析
Emission spectrometry－發射光譜
Flame emission, absorption or fluorescence photometry－
火焰吸收光譜
Chromatometer －層析儀
Mass spectrometry－質譜儀
Polarography and coulometry－電極、電量分析法
Spectrophotometry－分光光譜儀
X-ray fluorescence spectrometry－X光螢光分析（XRF）
礦物鑑定、礦物化學
X-ray diffractometer－X光繞射分析（XRD）
Electron probe microanalysis－電子微探分析（EPMA）
X-射線分析法
原理：
當原子接受外界能量後，原子成為激發態。
當能量不大時，原子中最外層的價電子會躍升到較高的能階去；但當能量極大時，原子內層穩定的電子也會因吸收能量而移向外層或放射出去。
當原子內層失去電子後，外層電子就會移向內層，填補空軌，當原子外層電子移向內層電子空軌道時，放出的能量是移動兩個能階的能量差，這個能量差所形成射線，就是X-射線。
X-射線分析儀器：
常用的X-射線分析儀器有：
(1) X-射線光譜儀(X-ray sepctrometer)
(2) X-射線繞射儀(X-ray diffratometer)：XRD
(3) X-射線螢光儀(X-ray fluorescence spectrometer)：XRF
(4)電子微探儀(Electron microprobe)
通常X-射線分析儀器，一定包括以下部分：
(1)高電壓發生器（High-voltage generator）
(2) X-射線管（X-ray tube）
(3)分光晶體（Analyzer crystal）
(4)偵檢器（Detector）
X-射線的繞射現象和布拉格定律：
當X-射線被一晶體內的規則環境散射，散射的光線間即產生干涉（建設性或破壞性都有），因為散射中心之間的距離與輻射波長長短相近，即為繞射。
繞射的條件：(1)原子層之間的間隔必須與輻射的波長大約相同；(2)散射中心的空間分佈必須有高度規則性。
布拉格定律（Bragg's Law）：有一窄光束以θ角打在結晶表面，射線與O,P,R處的原子作用而產生散射。
如果距離：
AP+PC=nλ
其中n為整數，則散射的輻射會在OCD同相，晶體看起來像是反射X-射線。
又知道
AP=PC=d sinθ
其中d為結晶的平面距離，因此可得出光束在θ角的建設性干涉條件為：
nλ=2d sinθ(Bragg diffraction law)
只有在入射角滿足sinθ= nλ/2d時，X-射線像是被晶體反射，其他角度都是破壞性干涉。
X-射線繞射分析：
將物質研磨成細粉，測定此細粉的X-射線繞射情形，鑑定物質結晶型態的簡便方法，稱為粉末繞射。
根據粉末繞射光譜，可以鑑定結晶性物質。
由光譜上之各繞射角，就可以根據Bragg diffraction law，算出結晶中所有組面的垂直距離。
再者，結晶上各面原子密度不同，則各面繞射時的強度也就不同，因此由一粉末繞射光譜中，各光譜線的強弱和位置，就可以鑑定某一結晶物質的存在。
若樣品是很多種結晶性物質的混合物，各成分的繞射光譜均可觀察的到。
光譜線的強度，大致
與各成分的含量成正比。
因此，X-射線粉末繞射光譜也可以作各結晶成分的定量分析；不過精確度不高。
應用：
(1) 判別結晶物質中原子的間隔與排列，對金屬、高分子物質和
其他固體物理性質有更清晰的聊解。
(2) 定性鑑定結晶化合物（因為每種物質的X-射線繞射線都很
特別，如果一未知樣品的繞射線與已知標樣相符，就可認定
它們化學成分上相同）。
以X-射線繞射鑑定結晶化合物
X-射線螢光分析：
用強度很高的X-射線照射樣品，樣品會因吸收X-射線的能量而激發，放出所含元素本身特有的X-射線光譜。
這種方式產生的X-射線是為螢光。
將樣品放射出來的螢光，利用分光晶體分光後，偵檢各不同波長的強度，就可以分析樣品中所含的元素種類，也可更進一步定出含量。
注意在使用X-射線螢光儀時，必須慎選所用的X-光管。
其靶極
的元素不能是欲分析的樣品中所含的元素。
因為激發螢光的原X-射線，自X-光管發射照射樣品時，必有部分會被反射經分光晶體而被偵檢到若樣品中有靶極元素，其發射的螢光就與原發的X-射線相同，就不能分析。
可用在定性與定量分析。
質譜分析法
將樣品中的化合物離子化，變成快速移動的離子（常帶正電），然後根據其質量電荷比（質荷比）解析得到一質譜。
質譜分析法的應用是根據各物種經游離化所產生的正電粒子，有不同的質量分佈。
所以，質譜提供的資料可以用在解析化學結構上。
原理：
1). 樣品揮發後慢慢滲入游離室，此游離室的壓力保持約在10-5
torr。
2). 樣品的分子被一電子流所游離；撞擊後會產生正離子與負離
子，前者占多數，且分析時是用正粒子。
3). 在狹縫A的小負電位會將正離子與負離子分開，且被數百到
數千伏特的電位加速。
平行的正離子束通過狹縫B進入分
離區域。
4). 進入分析管中，壓力保持在大約10-7 torr，快速移動的離子被強烈的磁
場作用造成彎曲的路徑，此彎曲路徑的半徑依其速度、質量，以及磁
場強度而定；所以改變加速電位或磁場強度可以將不同質量的粒子集
中到出口狹縫。
5). 通過出口狹縫的離子落在收集電極上，所得到的離子電流放
大後，用記錄器記錄下來。
質譜分析法的應用：
1). 分子量的決定
2). 分子式的決定
3). 鑑定化合物
4). 成分分析
5). 元素含量分析
6). 同位素含量量測
四極質譜儀（Quadrupole mass spectrometer，QMS）
原理：
四極質譜儀主要是由四根短而平行的金屬棒，以四方形之對角線對稱排列而成。
相對的金屬棒一對接到直流電的正極，另一對接到負極；另外還加了一電壓在這兩對電極棒上。
這樣組合的電場不會使通過的粒子加速，但是卻會使粒子繞行進的中心軸振動。
只有某種質荷比的粒子才能通過而不會與金屬棒相撞而除去。
感應耦合電漿質譜儀(ICP-MS)。